JPS6157095A - 磁気バブルメモリ装置 - Google Patents

磁気バブルメモリ装置

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Publication number
JPS6157095A
JPS6157095A JP59178251A JP17825184A JPS6157095A JP S6157095 A JPS6157095 A JP S6157095A JP 59178251 A JP59178251 A JP 59178251A JP 17825184 A JP17825184 A JP 17825184A JP S6157095 A JPS6157095 A JP S6157095A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chip
magnetic bubble
defective
loop
boot
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP59178251A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasufumi Katsura
勝楽 靖文
Keiichi Kaneko
金子 啓一
Masashi Irie
入江 正志
Katsunori Tanaka
克憲 田中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP59178251A priority Critical patent/JPS6157095A/ja
Publication of JPS6157095A publication Critical patent/JPS6157095A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は磁気バブルメモリ装置に関するものであり・、
特に1つの制御装置を介しで複数の磁気バブルチップを
作動させる場合不良磁気バブルチップを作動させないよ
うにした磁気バブルメモリ装置に関する。
〔従来の技術〕
1.9の磁気バブルチップ内のマイナーループに不良の
ものがある場合、良又は不良状態をブートループに予め
記憶せしめ、マイナーループをアク      。
セスする前に先ずブートループを読み出し、不良マイナ
ーループについてはアクセスさせないようにした磁気バ
ブルメモリ装置についてはすでに知られている。この:
ように不良マイナーループをアクセスさせないようにす
ることにより、不良マイナーループをアクナスしてシス
テムが停止することを防止している。
1個の磁気ノ々プルチップには複数のマイナーループが
あり一定以上不良ループが存在する場合、通常不良チ、
デとしてその磁気バブルチップは使用したくない場・合
が多い。
〔発明が解決しよう6とする問題点〕 従来の磁気バブルメモリ装置においては、例えば・lチ
、プの全てのマイナーループが不良だとしても一旦その
チップ内のブートループを読出し゛(ブートループは正
常で・あるとする)。読出した時点で不良マイナールー
プのアクセスをスキップしていくという方法が採られる
こととなシ、無駄な処理を行なっている。また一定収上
不良のマイナーループがある場合、ホスト側で判断して
アクセスしないようにしているが、上記同様、ブートル
ープの読出しという不必要な動作が必要とされる。
特にブートループ自体が不良になると、ブートループの
読出動作に伴ってシステムが停止するという問題がある
〔問題を解決するための手段〕
本発明においては、チップ単位の良又は不良を判断して
磁気バブルメモリ・装置全体としての有効化を図らんと
するものであシ、本発明によれば、少くとも1つの磁気
バブルチップにブートルニブを備えた複数の磁気バブル
チップを有する磁気’:+      ′47”、z 
% v“tKbv私1記′−“″−″′複数の磁気バブ
ルチップの良否を記憶させ、不良の磁気バブルチップを
作動させないようにしたことを特徴とする磁気バブルメ
モリ装置が提供される。
〔作用〕
本発明においては、正常な磁気バブルチップのブートル
ープに他の磁気バブルチップの良又は不良状態を記憶せ
しめ、かかるブートループの記憶状態を予め読出し、不
良チップについてはアクセス動作を行なわない。
〔実施例〕
添付図面を参照して本発明の実施例について述べろ。
第1図は本発明の一実施例としての磁気バブルメモリ装
置の構成図を示す。第1図において、1はホストコンピ
ュータ(CPU)、 2は制御回路、11はファンクシ
璽ンドライバ群、12は磁気バブルチップ群、134−
j駆動コイルドライバ、14はセンスアンプ群を示す。
各チップ121〜124にはそれぞれファンクシ曹ンド
ライバ111〜      1114及びセンスアンプ
141〜144が図示の如く接続されておシ、各々のチ
ップは互いに独立に作動する。
制御回路2は、発振器、タイミングジェネレータ等は図
示していないがいわゆる間接周辺回路と呼ばれるもので
、バブルコントロールレジスターレジスタコントローラ
、DMAコントローラ等から成るいわゆるコントローラ
とシーケンサとをシーケンサ・コントローラとして符号
21で示している・これらは従来のものと同様であるが
本発明においては更に、チップ情報記憶回路22とチッ
プスキ、ゾ回路23とを設けている。
また本発明においては間接周辺回路2とファンクション
ドライバ111〜114の間にAND )la−)Gl
l−G41から成るダート回路6を設けている。
第2図に第1図に図示のチップ121のメジャーループ
21、ダート部22、複数のマイナーループ23及びブ
ートループ24を概略的に示す。
ブートループ24には、他のチップ122〜124の正
常又は不良の状態が記憶されている。この実施例におい
ては正常=「1」、不良=「0」である。勿論ブートル
ープ24にはチ・、プ121のマイナーループ23の各
々についての正常又は不良についても記憶されている。
第1図装置の動作について下記に述べる。
チップ3が不良でアクセスできない場合について第3図
を参照して下記に述べる。
先ずチップ121のブートループを読出し、センスアン
プ141を介して各チップの正常又は不良の情報をチッ
プ情報記憶回路22に入力する。
チップ情報記憶回路2′2はラッチ回路、例えばフリッ
プフロップで各ビットが構成されてお夛、その出力(Q
出力)が図示の如くダート回路6及びスキップ回路23
に印加されている。この実施例においては、チップ12
3が不良であるから、チ、デ情報記憶回路22の出力は
チップに対応して@1101”となる、この情報はホス
ト側1にも印加される。
先ず第1のチップ121は正常であシ、スキップ回路2
3はスキップ信号をコントローラ21に出力しない。ま
た前述のブートループ読込によシチッゾ121のマイナ
ーループの良、不良状態が図示しない回路に記憶されて
おシ、その正常ループに対するアクセス指令がコントロ
ーラ21から出力されるとグー)Gllを介してファン
クションドライバ111に印加され、正常ループに対す
るアクセスが行なわれる。チップ121について例えば
読出処理が行なわれた場合、制御回路2のDMAコント
ローラ(図示せず)を介してCPU側のメモリ(第3図
、MAMAP)の第1の領域λ仏1に読出した情報の書
込みが行なわれる。
次に第2のチップ122についてそのブートループの読
出しが行なわれ、そのブートループの記憶されたチップ
122のマイナーループの正常なものについて読出しが
行なわれ、上記同様、CPU側の第2の領域MA2に読
出した情報の書込みが行なわれる。
第3のチップ123は不良である。従ってr−トG31
はインヒビットされると同時にスキップ゛°     
回路23からスキ・プ信号が出力され、次の第4のチッ
プの処理に移る。
第4のチップのアクセス動作は第1及び第2のチップの
アクセス動作と同様であるが、第3のチ、プがアクセス
されなかったので、その読出データは、第3のチップが
正常な轡合は第4のメモリ領域MA4に入るのであるが
、この場合には第3のメモリ領域λ仏3に入るようにD
MAコントローラによシ制御される。
以上読出動作について述べたが書込動作につい    
  (ても同様である。
また以上の実施例においては、第1のチップのブートル
ープに各チップの良、不良状態及び第1のチップのマイ
ナーループの良、不良状態が記憶され、他のチップのブ
ートループには自己のチップ内のマイナーループの良、
不良状態が記憶されておジ、各チップのアクセスがシー
ケンシャル且つ、そのチップのブートループの情報を読
出して行う場合について述べた。しかしながら本発明は
これに限定されることなく種々の変形形態を採る   
   1ことができる。
例えば第1の形態としては第1のチップ121のブート
ループに各チップの良、不良状態の外に各チップのマイ
ナーループの良、不良状態を記憶させておき、第1のチ
ップ121のブートループを読出すことによシ、各チッ
プのアクセス可能なマイナーループに対して、複数のチ
ップを並列動作させることができる。
また以上の実施例においては、第1のチップ121のブ
ートループにのみ各チップの良、不良状態を記憶させる
場合について述べたが、他の正常なチップのブートルー
プに同じようにチップの良、不良の状態を記憶させてお
き、ブートループを読出す度にチップの良、不良状態が
チップ情報記憶回路22にセットされるようにしても良
い。
このようにすれば、第1のチ・シのブートループの読出
しであるか否か判別する必要がなくなるので回路は簡単
となる。すなわち第1のチップ121が常に正常である
とは限らず、第1のチップ121が不良の場合は第2の
チップ122が正常なチップの第1番目にアクセス可能
層ものとなシ、このようにアクセス可能な第1のチップ
は固定していないのでその判別回路を組込むと複雑とな
るのを回避するためである。
第3図を参照した実施例においては、アクセスさせない
チップに相当するCPUI側のメモリ領域は次のチップ
の読出内容がつめて書込れるような場合について述べた
が、アクセスのみがスキップされ、メモリ領域はつめな
いようにすることができる。むしろこのようにつめない
ようにすることがCPU側としては便利な場合が多い。
第1図のダート回路6は誤ってアクセスすべきでないチ
ップにアクセス信号が出力された場合に、これを阻止す
るために設けたものである。従って上述の如く不良、チ
ップをスキップさせる場合には必ずしも必要とはならな
い。
〔発明の効果:〕
以上に述べた″ように本発明によれば、複数のチップの
うち任意のものに不良がある場合そのチップについてア
クセスを行なわずに済みシステム動作の無駄を防止する
ことができると共に、不用意な動作をさせることによシ
ステム動作となることが防止できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例としての磁気バブルメモリ装
置の構成図、第2図は第1図装置のチップの概略構成図
、第3図は第1図装置の読出動作を説明する図である。 (符号の説明) 1・・・ホストコンピュータ、2・・・制御回路、21
・・・コントローラ、22・・・チップ情報記憶回路、
23・・・チップスキ、デ回路、6・・・f−)回路、
11・・・ファンクションドライバ、12・・・磁気バ
フルチップ、13・・・コイルドライバ、14・・・セ
ンスアンプ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、少くとも1つの磁気バブルチップにブートループを
    備えた複数の磁気バブルチップを有する磁気バブルメモ
    リ装置において、前記ブートループに複数の磁気バブル
    チップの良否を記憶させ、不良の磁気バブルチップを作
    動させないようにしたことを特徴とする磁気バブルメモ
    リ装置。 2、前記ブートループを備えた磁気バブルチップは最初
    に作動され且つ良チップである、特許請求の範囲第1項
    に記載の磁気バブルメモリ装置。
JP59178251A 1984-08-29 1984-08-29 磁気バブルメモリ装置 Pending JPS6157095A (ja)

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JP59178251A JPS6157095A (ja) 1984-08-29 1984-08-29 磁気バブルメモリ装置

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JP59178251A JPS6157095A (ja) 1984-08-29 1984-08-29 磁気バブルメモリ装置

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JPS6157095A true JPS6157095A (ja) 1986-03-22

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JP59178251A Pending JPS6157095A (ja) 1984-08-29 1984-08-29 磁気バブルメモリ装置

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