JPS61116634A - 光フアイバの伝送特性を計測する装置 - Google Patents
光フアイバの伝送特性を計測する装置Info
- Publication number
- JPS61116634A JPS61116634A JP59237348A JP23734884A JPS61116634A JP S61116634 A JPS61116634 A JP S61116634A JP 59237348 A JP59237348 A JP 59237348A JP 23734884 A JP23734884 A JP 23734884A JP S61116634 A JPS61116634 A JP S61116634A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical fiber
- compared
- streak
- light
- photocathode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
- G01M11/332—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face using discrete input signals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
- G01M11/335—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face using two or more input wavelengths
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は光ファイバの伝送特性を計測する装置に関する
。
。
（従来の技術）
光ファイバの伝送特性、特に伝送波形歪の測定をする装
置が市販されている。
置が市販されている。
そのような装置の一例を第６図を参照して説明する。レ
ーザダイオードＬＤをレーザダイオード駆動回路により
駆動してパルス状の発光をさせる。
ーザダイオードＬＤをレーザダイオード駆動回路により
駆動してパルス状の発光をさせる。
このパルス状の発光を測定対象である光ファイバの一方
端から入射して、他方端からの出射光をホトダイオード
ＰＤで光電変換する。この光電変換出力を増幅器Ａ ｍ
ｐで増幅してオシロスコープＭ等でモニタする。
端から入射して、他方端からの出射光をホトダイオード
ＰＤで光電変換する。この光電変換出力を増幅器Ａ ｍ
ｐで増幅してオシロスコープＭ等でモニタする。
このブラウン管上の波形により、およその特性を推定で
きる。
きる。
さらに正確なデータを得るために増幅器Ａ ｍ ｐの出
力をＡＤ変換器Ａ／Ｄでディジタル変換して記憶装置に
記憶しておいて種々の解析を行うことも可能である。
力をＡＤ変換器Ａ／Ｄでディジタル変換して記憶装置に
記憶しておいて種々の解析を行うことも可能である。
従来のこの種の装置の時間分解能は最大で数百ピコ秒で
あるから、波形歪の分解能が低い。
あるから、波形歪の分解能が低い。
時間分解能が悪いため、波形歪を大きくさせるために、
光ファイバの長さをｌｋｍ程度として測定することが推
奨されている。
光ファイバの長さをｌｋｍ程度として測定することが推
奨されている。
しかしながら、ｌｋｍの光ファイバの内の部分的な歪も
Ｌｋｍに平均化されて出力されてしまい、正確な測定を
望めないと言う問題がある。
Ｌｋｍに平均化されて出力されてしまい、正確な測定を
望めないと言う問題がある。
（発明の目的）
本発明の目的は前記のような装置よりもより分解を大き
くしかつ、多岐にわたる各種の特性の測定を行うことの
できる光ファイバの伝送特性を計測する装置を提供する
ことにある。
くしかつ、多岐にわたる各種の特性の測定を行うことの
できる光ファイバの伝送特性を計測する装置を提供する
ことにある。
（発明の構成）
前記目的を達成するために本発明による光ファイバの伝
送特性を計測する装置は基本的には、光電面に入射した
光の強度の変化を時間軸上の輝度の変化に変換して出力
するストリーク装置と、高速光パルスを発生する光源装
置と、出力端が前記ストリーク装置の光電面に接続され
ている基準光ファイバと、出力端が前記ストリーク装置
の光電面に接続されている比較対象の光ファイバと、前
記光源装置の出力を前記各光ファイバに同時に接続する
接続手段からなり、前記ストリーク装置の出力像により
比較対象の光ファイバの特性を計測するように構成され
ている。
送特性を計測する装置は基本的には、光電面に入射した
光の強度の変化を時間軸上の輝度の変化に変換して出力
するストリーク装置と、高速光パルスを発生する光源装
置と、出力端が前記ストリーク装置の光電面に接続され
ている基準光ファイバと、出力端が前記ストリーク装置
の光電面に接続されている比較対象の光ファイバと、前
記光源装置の出力を前記各光ファイバに同時に接続する
接続手段からなり、前記ストリーク装置の出力像により
比較対象の光ファイバの特性を計測するように構成され
ている。
さらに前記各光ファイバの出力端を分光器を介して前記
ストリーク管の光電面に接続すると波長ごとの伝送特性
を比較することができる。
ストリーク管の光電面に接続すると波長ごとの伝送特性
を比較することができる。
さらに前記ストリーク装置の出力像を撮像装置により撮
像し、これを記憶装置により記録しておけばそれらのデ
ータにより正確な特性の比較が可能であり、それ等のデ
ータまたはデータ間で種々の演算を行い分析をすること
ができる。
像し、これを記憶装置により記録しておけばそれらのデ
ータにより正確な特性の比較が可能であり、それ等のデ
ータまたはデータ間で種々の演算を行い分析をすること
ができる。
（実施例）
以下、図面等を参照して本発明をさらに詳しく説明する
。
。
第１図は本発明による光ファイバの伝送特性を計測する
装置の第１の実施例を示すブロック図である。
装置の第１の実施例を示すブロック図である。
本発明では、高い時間分解を得るために光電面に入射し
た光の強度の変化を時間軸上の輝度の変化に変換して出
力するストリーク装置を使用する。
た光の強度の変化を時間軸上の輝度の変化に変換して出
力するストリーク装置を使用する。
ストリーク装置は、ストリーク管７とこのストリ−り管
７に動作電圧と掃引電圧を印加するストリーク管駆動装
置１５から構成されている。
７に動作電圧と掃引電圧を印加するストリーク管駆動装
置１５から構成されている。
ストリーク管７を使用することにより、最高２ｐＳまで
の時間分解を得ることができる。
の時間分解を得ることができる。
高速光パルスを発生する光源装置１ｏはＧａＡｊ！Ａｓ
、またはＩ ｎ Ｇ ａ Ａ ｓ Ｐのレーザダイオー
ド１２を使用している。
、またはＩ ｎ Ｇ ａ Ａ ｓ Ｐのレーザダイオー
ド１２を使用している。
このレーザダイオード１２は、レーザダイオード駆動装
置１１により駆動されてレーザパルスを発生する。
置１１により駆動されてレーザパルスを発生する。
この実施例ではレーザダイオード１２として波長が８０
０ｎｍ−１，５μｍのレーザダイオードを用いている。
０ｎｍ−１，５μｍのレーザダイオードを用いている。
このレーザパルスの一部はモニタダイオード１４により
モニタされ、モニタ出力がレーザダイオード駆動装置１
１に帰還され、常に出力が一定になるように制御されて
いる。モニタダイオード１４も高速応答をするように前
記レーザダイオード１２と同様にＧａＡｓ、またはＧａ
ＡＩＡＳのホトダイオードが用いられている。
モニタされ、モニタ出力がレーザダイオード駆動装置１
１に帰還され、常に出力が一定になるように制御されて
いる。モニタダイオード１４も高速応答をするように前
記レーザダイオード１２と同様にＧａＡｓ、またはＧａ
ＡＩＡＳのホトダイオードが用いられている。
前記レーザダイオード駆動装置１１の起動の制御等は後
述するコントローラ１９からの出力により、行われてい
る。
述するコントローラ１９からの出力により、行われてい
る。
レーザダイオード１２の大部分の出力は、モードスクラ
ンブラ１３を介してガラスビームスプリッタにより構成
されたレーザビーム分岐装置９に接続されている。
ンブラ１３を介してガラスビームスプリッタにより構成
されたレーザビーム分岐装置９に接続されている。
モードスクランブラ１３は直径３０ｍｍの芯材に光ファ
イバを数回巻き付けたものである。
イバを数回巻き付けたものである。
レーザダイオードから発生するレーザパルスは、発振時
にレーザ光の空間的強度分布と空間的波長分布を生ずる
。そのため、モードスクランブラ１３を用いて、光フア
イバ断面全体にわたって強度。
にレーザ光の空間的強度分布と空間的波長分布を生ずる
。そのため、モードスクランブラ１３を用いて、光フア
イバ断面全体にわたって強度。
波長を均一化する。
レーザビーム分岐装置９により分岐されたレーザビーム
の一方は、出力端が前記ストリーク管７の光電面にコネ
クタ４を介して接続されている基準光ファイバ１に接続
されている。また分岐されたレーザビームの他方は、同
様に出力端がストリーク管７の光電面にコネクタ３を介
して接続されている比較対象の光ファイバ２に接続され
ている。
の一方は、出力端が前記ストリーク管７の光電面にコネ
クタ４を介して接続されている基準光ファイバ１に接続
されている。また分岐されたレーザビームの他方は、同
様に出力端がストリーク管７の光電面にコネクタ３を介
して接続されている比較対象の光ファイバ２に接続され
ている。
この実施例は前記基準光ファイバ１として、長さ１ｍの
石英ファイバで、グレーデッド・インデックス形のコア
径５０μｍ、クラツド径１２５μｍのマルチモード光フ
ァイバを用いる。
石英ファイバで、グレーデッド・インデックス形のコア
径５０μｍ、クラツド径１２５μｍのマルチモード光フ
ァイバを用いる。
例えば、藤倉電線のｃ、５０／１２５−２５１０等を用
いる。この形の光ファイバは、高速光伝送用として広く
用いられており、汎用の光ファイバの比較検査には適当
である。
いる。この形の光ファイバは、高速光伝送用として広く
用いられており、汎用の光ファイバの比較検査には適当
である。
他に、藤倉電線のＳＭ、６／１２５・３０のような石英
ガラスの単一モード光ファイバで、コア径が６μｍ、ク
ラツド径が１２５μｍが、さらに高速の伝送用の基準と
して通している。この光ファイバを用いた場合、これに
応じて光コネクタも単一モード用とする必要がある。
ガラスの単一モード光ファイバで、コア径が６μｍ、ク
ラツド径が１２５μｍが、さらに高速の伝送用の基準と
して通している。この光ファイバを用いた場合、これに
応じて光コネクタも単一モード用とする必要がある。
前記各光ファイバは前記各コネクタを介して前記ストリ
ーク管７の掃引方向に直交する直線上に結合される。
ーク管７の掃引方向に直交する直線上に結合される。
ス１−リーク管７の螢光面７ａにはｆｉｌ像装置８が対
面させられており、ストリーク像が撮像される。
面させられており、ストリーク像が撮像される。
撮像装置８の出力は増幅器１６により増幅され、モニタ
駆動装置１７を介してテレビジョンモニタ２１により表
示される。
駆動装置１７を介してテレビジョンモニタ２１により表
示される。
撮像装置８として高い感度をもつＳＩＴカメラを使用す
る。
る。
一方前記増幅器１６の出力は記憶装置１日に蓄積される
。
。
コントローラ１９には必要な制御情報（例えばレーザパ
ルスの長さ、ストリーク管の掃引速度等）が外部から入
力されており、前述した各部の動作順序や同期信号を発
生する。
ルスの長さ、ストリーク管の掃引速度等）が外部から入
力されており、前述した各部の動作順序や同期信号を発
生する。
前記記憶装置１８に蓄積されたデータはアナライザ２０
により解析され適当な出力装置（図示せず）により出力
される。
により解析され適当な出力装置（図示せず）により出力
される。
次に前記実施例装置による光ファイバの伝送特性の測定
について説明する。
について説明する。
（光ファイバの長さまたは伝播速度の測定）高速光パル
スを発生する光源装置ＩＯによりｌ０ｐｓの光ハルスを
発生して光ファイバの長さまたは伝播速度の測定をする
ことができる。
スを発生する光源装置ＩＯによりｌ０ｐｓの光ハルスを
発生して光ファイバの長さまたは伝播速度の測定をする
ことができる。
基準光ファイバｌの長さおよび材質が既知であるときは
、比較対象の光ファイバ２の長さまたは遅延時間の測定
をすることができる。
、比較対象の光ファイバ２の長さまたは遅延時間の測定
をすることができる。
第３図に示すようにストリーク管７の螢光面７ａに基準
光ファイバｌからの光による像■と比較対象の光ファイ
バ２からの光による像■が現れたとする。
光ファイバｌからの光による像■と比較対象の光ファイ
バ２からの光による像■が現れたとする。
基準光ファイバ１と比較対象の光ファイバ２の材質およ
び断面形状が同一であるとき、光フアイバ中の光速度を
Ｃとすると光ファイバの長さの差ΔｌはＣ・Δｔで与え
られる。
び断面形状が同一であるとき、光フアイバ中の光速度を
Ｃとすると光ファイバの長さの差ΔｌはＣ・Δｔで与え
られる。
材質が異なる場合は屈折率または伝播速度を測定するこ
とができる。
とができる。
（光ファイバの伝送歪の測定）
基準光ファイバ１と比較対象の光ファイバ２の断面形状
を同一にして、比較対象の光ファイバ２の伝送歪を測定
する。
を同一にして、比較対象の光ファイバ２の伝送歪を測定
する。
第４図に示すストリーク管７の螢光面７ａに基準光ファ
イバ１からの光による像■と比較対象の光ファイバ２か
らの光による像■が現れたとする。
イバ１からの光による像■と比較対象の光ファイバ２か
らの光による像■が現れたとする。
その時間軸方向の強度分布を比較することにより比較対
象の光ファイバ２の伝送歪を測定することができる。
象の光ファイバ２の伝送歪を測定することができる。
この測定例においては、高速光パルスを発生する光源装
置１０により１０ｐｓの光パルスを発生し螢光面７ａの
有効時間軸の長さを３００ｐ３にした。
置１０により１０ｐｓの光パルスを発生し螢光面７ａの
有効時間軸の長さを３００ｐ３にした。
出力波形を解析することにより減衰率、時間分散、伝送
歪を知ることができる。
歪を知ることができる。
第２図は本発明による光ファイバの伝送特性を計測する
装置の第２の実施例を示すブロック図である。前述した
実施例と異なる部分のみを取り出して示しである。
装置の第２の実施例を示すブロック図である。前述した
実施例と異なる部分のみを取り出して示しである。
この実施例は基準光ファイバ１と比較対象の光ファイバ
２をコネクタ３．４を介して分光器６に接続しである。
２をコネクタ３．４を介して分光器６に接続しである。
分光器６は前記ストリーク管７の光電面に前記ストリー
ク装置の掃引方向に直角方向に波長ごとの強度分布が発
生するように分光する。
ク装置の掃引方向に直角方向に波長ごとの強度分布が発
生するように分光する。
また光源１０は分光された微弱光成分を充分にヰ★出で
きるように光パルスを繰返し発生する。ストリーク装置
のストリーク管駆動装置１５は前記繰返しパルス光に同
期した掃引を行い螢光面７ａに繰返しストリーク像が重
られるようにする。
きるように光パルスを繰返し発生する。ストリーク装置
のストリーク管駆動装置１５は前記繰返しパルス光に同
期した掃引を行い螢光面７ａに繰返しストリーク像が重
られるようにする。
第５図を参照してこの実施例装置の動作を説明する。
（波長ごとの伝送特性の測定）
分光器１５により分光された光により、第５図に示すよ
うなストリーク像が螢光面７ａに現れる。
うなストリーク像が螢光面７ａに現れる。
基準光ファイバ１により伝送された光に原因するストリ
ーク像■と比較対象の光ファイバ２により伝送された光
に原因するストリーク像■を比較することにより、各波
長ごとの伝送特性の比較をすることができる。第５図に
示すようにストリーク像■の波長λ５による像が現れな
いときは、比較対象の光ファイバ２の遮断周波数は波長
λ４と波長λ５の間に存在することになる。
ーク像■と比較対象の光ファイバ２により伝送された光
に原因するストリーク像■を比較することにより、各波
長ごとの伝送特性の比較をすることができる。第５図に
示すようにストリーク像■の波長λ５による像が現れな
いときは、比較対象の光ファイバ２の遮断周波数は波長
λ４と波長λ５の間に存在することになる。
（光フアイバ内で発生するラマン分散等の測定）光フア
イバ内で生ずるラマン分散は、光ファイバを構成する分
子と入射光との相互作用により生ずるため、どの光フア
イバ内でも生ずる。
イバ内で生ずるラマン分散は、光ファイバを構成する分
子と入射光との相互作用により生ずるため、どの光フア
イバ内でも生ずる。
このラマン光は、入射光強度に比例して発生し、ファイ
バの伝送損失の影響を受ける。ラマン光の波長は、入射
光の波長に対して数１０ナノ （〜５０ｎｍ）長い方に
生ずるため、前記分光器を用いて分光し、強度および時
間分布計測を行うことで、ラマン分散を定量的に評価で
きる。
バの伝送損失の影響を受ける。ラマン光の波長は、入射
光の波長に対して数１０ナノ （〜５０ｎｍ）長い方に
生ずるため、前記分光器を用いて分光し、強度および時
間分布計測を行うことで、ラマン分散を定量的に評価で
きる。
（変形例）
以上詳しく説明した各実施例について本発明の範囲内で
種々の変形を施すことができる。
種々の変形を施すことができる。
撮１象装置としてＳＩＴカメラの例を示したがＣＯＤ等
の固体撮像装置も同様に利用することができる。
の固体撮像装置も同様に利用することができる。
（発明の効果）
以上説明したように、本発明は基準光ファイバと比較対
象の光ファイバに同時にパルス光を接続して、ストリー
ク管で検出するように構成しであるから、従来不可能で
あった短い光ファイバの伝送特性を計測することができ
る。
象の光ファイバに同時にパルス光を接続して、ストリー
ク管で検出するように構成しであるから、従来不可能で
あった短い光ファイバの伝送特性を計測することができ
る。
さらにまた分光器を使用することにより、波長毎の伝送
特性を計測することができる。
特性を計測することができる。
分光器を使用する計測においては光源に種々の波長成分
が存在することが前提であり、レーザダイオードの単色
性は問題にならないので、光源用のレーザダイオードの
入手が一層容易となる。
が存在することが前提であり、レーザダイオードの単色
性は問題にならないので、光源用のレーザダイオードの
入手が一層容易となる。
第１図は本発明による光ファイバの伝送特性を計測する
装置の第１の実施例を示すブロック図である。 第２図は本発明による光ファイバの伝送特性を計測する
装置の第２の実施例を示すブロック図であって前記実施
例と異なる部分のみを示しである。 第３図および第４図は前記第１の実施例装置の動作を示
す説明図である。 第５図は前記第２の実施例の動作を説明するためのブロ
ック図である。 第６図は従来の光ファイバの伝送特性測定装置の例を示
すブロック図である。 １・・・基準光ファイバ ２・・・比較対象の光ファイバ ３．４．５・・・光フアイバコネクタ ６・・・分光器 ７・・・ストリーク管 ８・・・撮像装置 ９・・・レーザビーム分岐装置（ガラスビームスプリン
タ） １０・・・光源装置 １１・・・レーザダイオード駆動装置 １２・・・レーザダイオード １３・・・モードスクランブラ １４・・・モニタホトダイオード １５・・・ストリーク管駆動装置 １６・・・増幅器 １７・・・モニタ駆動装置 １８・・・メモリ １９・・・制御装置 ２０・・・アナライザ
装置の第１の実施例を示すブロック図である。 第２図は本発明による光ファイバの伝送特性を計測する
装置の第２の実施例を示すブロック図であって前記実施
例と異なる部分のみを示しである。 第３図および第４図は前記第１の実施例装置の動作を示
す説明図である。 第５図は前記第２の実施例の動作を説明するためのブロ
ック図である。 第６図は従来の光ファイバの伝送特性測定装置の例を示
すブロック図である。 １・・・基準光ファイバ ２・・・比較対象の光ファイバ ３．４．５・・・光フアイバコネクタ ６・・・分光器 ７・・・ストリーク管 ８・・・撮像装置 ９・・・レーザビーム分岐装置（ガラスビームスプリン
タ） １０・・・光源装置 １１・・・レーザダイオード駆動装置 １２・・・レーザダイオード １３・・・モードスクランブラ １４・・・モニタホトダイオード １５・・・ストリーク管駆動装置 １６・・・増幅器 １７・・・モニタ駆動装置 １８・・・メモリ １９・・・制御装置 ２０・・・アナライザ
Claims (7)
- （１）光電面に入射した光の強度の変化を時間軸上の輝
度の変化に変換して出力するストリーク装置と、高速光
パルスを発生する光源装置と、出力端が前記ストリーク
装置の光電面に接続されている基準光ファイバと、出力
端が前記ストリーク装置の光電面に接続されている比較
対象の光ファイバと、前記光源装置の出力を前記各光フ
ァイバに同時に接続する接続手段からなり、前記ストリ
ーク装置の出力像により比較対象の光ファイバの特性を
計測するように構成した光ファイバの伝送特性を計測す
る装置。 - （２）前記接続手段はビームスプリッタである特許請求
の範囲第１項記載の光ファイバの伝送特性を計測する装
置。 - （３）前記比較対象の光ファイバは伝送による時間分散
、または伝送歪が比較される特許請求の範囲第１項記載
の光ファイバの伝送特性を計測する装置。 - （４）光電面に入射した光の強度の変化を時間軸上の輝
度の変化に変換して出力するストリーク装置と、高速光
パルスを発生する光源装置と、前記ストリーク装置の光
電面に前記ストリーク装置の掃引方向に直角方向に波長
ごとの強度分布が発生するように分光する分光器と、出
力端が前記分光器に接続されている基準光ファイバと、
出力端が前記分光器に接続されている比較対象の光ファ
イバと、前記光源装置の出力を前記各光ファイバに同時
に接続する接続手段からなり、前記ストリーク装置の出
力像により比較対象の光ファイバの特性を計測するよう
に構成した光ファイバの伝送特性を計測する装置。 - （５）前記比較対象の光ファイバは波長ごとの伝送によ
る時間分散、または伝送歪が比較される特許請求の範囲
第４項記載の光ファイバの伝送特性を計測する装置。 - （６）前記比較対象の光ファイバは遮断周波数が比較さ
れる特許請求の範囲第４項記載の光ファイバの伝送特性
を計測する装置。 - （７）光電面に入射した光の強度の変化を時間軸上の輝
度の変化に変換して出力するストリーク装置と、高速光
パルスを発生する光源装置と、出力端が前記ストリーク
装置の光電面に接続されている基準光ファイバと、出力
端が前記ストリーク装置の光電面に接続されている比較
対象の光ファイバと、前記光源装置の出力を前記各光フ
ァイバに同時に接続する接続手段と、前記ストリーク装
置の出力像を撮像する撮像装置と、前記撮像装置の出力
像を記録する記録装置からなり、前記記録装置の内容か
ら比較対象の光ファイバの伝送特性を計測するように構
成した光ファイバの伝送特性を計測する装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59237348A JPS61116634A (ja) | 1984-11-09 | 1984-11-09 | 光フアイバの伝送特性を計測する装置 |
| US06/796,206 US4767207A (en) | 1984-11-09 | 1985-11-08 | Apparatus for measuring transmission characteristics of an optical fiber |
| GB08527606A GB2168804B (en) | 1984-11-09 | 1985-11-08 | Apparatus for measuring transmission characteristics of an optical fibre |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59237348A JPS61116634A (ja) | 1984-11-09 | 1984-11-09 | 光フアイバの伝送特性を計測する装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61116634A true JPS61116634A (ja) | 1986-06-04 |
| JPH0354776B2 JPH0354776B2 (ja) | 1991-08-21 |
Family
ID=17014055
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59237348A Granted JPS61116634A (ja) | 1984-11-09 | 1984-11-09 | 光フアイバの伝送特性を計測する装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4767207A (ja) |
| JP (1) | JPS61116634A (ja) |
| GB (1) | GB2168804B (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013083460A (ja) * | 2011-10-06 | 2013-05-09 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 分光計測装置 |
Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0281795A1 (de) * | 1987-02-25 | 1988-09-14 | BBC Brown Boveri AG | Verfahren zum Abtasten eines zeitlich veränderlichen elektrischen Signals sowie Vorrichtung zur Durchführung und Anwendung des Verfahrens |
| FR2627294B1 (fr) * | 1988-02-17 | 1990-06-01 | Commissariat Energie Atomique | Camera electronique ultra rapide a commande numerique, pour l'etude de phenomenes lumineux tres brefs |
| US4868380A (en) * | 1988-03-02 | 1989-09-19 | Tektronix, Inc. | Optical waveguide photocathode |
| JP2709135B2 (ja) * | 1989-04-11 | 1998-02-04 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光信号検出装置 |
| US5369496A (en) * | 1989-11-13 | 1994-11-29 | Research Foundation Of City College Of New York | Noninvasive method and apparatus for characterizing biological materials |
| US5103083A (en) * | 1990-02-15 | 1992-04-07 | Charles Evans & Associates | Position sensitive detector and method using successive interdigitated electrodes with different patterns |
| US5223715A (en) * | 1991-09-20 | 1993-06-29 | Amoco Corporation | Process for spectrophotometric analysis |
| US5712709A (en) * | 1996-04-08 | 1998-01-27 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Haze and transmissivity measurements |
| WO2000021756A1 (fr) * | 1998-10-13 | 2000-04-20 | Seiko Epson Corporation | Dispositif d'enregistrement relatif au jet d'encre |
| JP3957136B2 (ja) * | 2001-10-16 | 2007-08-15 | 富士通株式会社 | 波長分散量の測定方法及び光伝送システム |
| EP2237010B8 (en) * | 2009-03-30 | 2018-02-14 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Cutoff wavelength measuring method and optical communication system |
| CN102809477A (zh) * | 2012-08-23 | 2012-12-05 | 昆山迈致治具科技有限公司 | 光纤感光度测试治具 |
| CN113701996A (zh) * | 2021-07-16 | 2021-11-26 | 河北汉光重工有限责任公司 | 一种用于光纤模式精确表征的测量装置 |
| WO2023055617A1 (en) * | 2021-09-29 | 2023-04-06 | Corning Research & Development Corporation | Relative mode transmission loss measurement of a connectorized fiber optic cable |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58148934A (ja) * | 1982-03-02 | 1983-09-05 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | 光伝送路の伝送特性測定方式 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5590191A (en) * | 1978-12-27 | 1980-07-08 | Hamamatsu Tv Kk | Streak image analyzer |
| US4309105A (en) * | 1980-03-03 | 1982-01-05 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Method and apparatus for testing performance of fiber optic cable components and assemblies |
| JPS56137247A (en) * | 1980-03-31 | 1981-10-27 | Japan Atom Energy Res Inst | Multipoint simultaneous measuring instrument |
| JPS5958745A (ja) * | 1982-09-28 | 1984-04-04 | Hamamatsu Tv Kk | 微弱発光現象の観測装置 |
| US4630925A (en) * | 1982-11-01 | 1986-12-23 | Hamamatsu Corp. | Compact temporal spectral photometer |
-
1984
- 1984-11-09 JP JP59237348A patent/JPS61116634A/ja active Granted
-
1985
- 1985-11-08 US US06/796,206 patent/US4767207A/en not_active Expired - Fee Related
- 1985-11-08 GB GB08527606A patent/GB2168804B/en not_active Expired
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58148934A (ja) * | 1982-03-02 | 1983-09-05 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | 光伝送路の伝送特性測定方式 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013083460A (ja) * | 2011-10-06 | 2013-05-09 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 分光計測装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB2168804B (en) | 1988-08-03 |
| GB8527606D0 (en) | 1985-12-11 |
| GB2168804A (en) | 1986-06-25 |
| JPH0354776B2 (ja) | 1991-08-21 |
| US4767207A (en) | 1988-08-30 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS61116634A (ja) | 光フアイバの伝送特性を計測する装置 | |
| US4012149A (en) | Measuring method and equipment for locating a break in an optical cable | |
| US5144374A (en) | Optical spectroscopy system | |
| US4958231A (en) | Electro-optical streak camera | |
| EP0187091A1 (fr) | Système analyseur de transitoires | |
| US6801306B2 (en) | Streak camera system for measuring fiber bandwidth and differential mode delay | |
| JP2665231B2 (ja) | 光波形測定装置 | |
| JPH0543983B2 (ja) | ||
| JP2659554B2 (ja) | 光強度相関装置 | |
| US4864522A (en) | Process for the sampling of an electric signal varying over time and apparatus for the implementation and application of this process | |
| JPS62204130A (ja) | ストリ−クカメラ装置 | |
| JP2923770B2 (ja) | 光ファイバー構成要素での反射損失を測定する方法及び装置 | |
| US6912046B2 (en) | Instrument measuring chromatic dispersion in optical fibers | |
| JPS61269037A (ja) | 光ファイバの分散特性測定装置 | |
| JP2763586B2 (ja) | 光ファイバ障害点探索方法および装置 | |
| JPH0769351B2 (ja) | 電気信号観測装置 | |
| JPH0814522B2 (ja) | 光ファイバ障害点探索方法および装置 | |
| JP2972973B2 (ja) | 光パルス試験器 | |
| WO2022162718A1 (ja) | ブリルアン利得スペクトル分布測定方法および装置 | |
| JP3344877B2 (ja) | パルスレーザ装置及びｏｔｄｒ装置 | |
| Mochizuki et al. | Optical fiber dispersion measurement technique using a streak camera | |
| JPS5831083Y2 (ja) | 光ファイバの遮断波長測定装置 | |
| JP3244095B2 (ja) | 高距離分解能光パルス試験器 | |
| JPS6147534A (ja) | 光フアイバの光損失特性測定方法および装置 | |
| JP2705837B2 (ja) | 分布型光温度センサ |