JP3244095B2 - 高距離分解能光パルス試験器 - Google Patents
高距離分解能光パルス試験器Info
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- JP3244095B2 JP3244095B2 JP00162994A JP162994A JP3244095B2 JP 3244095 B2 JP3244095 B2 JP 3244095B2 JP 00162994 A JP00162994 A JP 00162994A JP 162994 A JP162994 A JP 162994A JP 3244095 B2 JP3244095 B2 JP 3244095B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、通信用光ファイバの保
守試験用光パルス試験器に関するものである。
守試験用光パルス試験器に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】通信用光ファイバの保守試験装置として
は、光パルスを被試験光ファイバに入射し、その光ファ
イバ中からの後方散乱光の時間変化を測定することによ
り、被試験光ファイバの長手方向の光損失分布を知るこ
とができる光パルス試験器（ＯＴＤＲ）がある。このＯ
ＴＤＲを改善したものとして、 １）長尺な光ファイバの試験を可能にするため検波方式
を改善したコヒーレントＯＴＤＲ、 ２）試験光パルスのパワーを増大させた光増幅ＯＴＤ
Ｒ、 ３）微小な部品などを試験するための高距離分解能化を
図ったＯＴＤＲ などがある。しかしながら、数キロメートル或いは数十
キロメートルの長尺の光ファイバが使用できるようにな
り、これに伴なって、このように長い被試験体について
も数ミリメートル単位の高距離分解能で試験できる実用
的な光パルス試験器が要求されて来たが、未だこのよう
な装置は実現されていなかった。
は、光パルスを被試験光ファイバに入射し、その光ファ
イバ中からの後方散乱光の時間変化を測定することによ
り、被試験光ファイバの長手方向の光損失分布を知るこ
とができる光パルス試験器（ＯＴＤＲ）がある。このＯ
ＴＤＲを改善したものとして、 １）長尺な光ファイバの試験を可能にするため検波方式
を改善したコヒーレントＯＴＤＲ、 ２）試験光パルスのパワーを増大させた光増幅ＯＴＤ
Ｒ、 ３）微小な部品などを試験するための高距離分解能化を
図ったＯＴＤＲ などがある。しかしながら、数キロメートル或いは数十
キロメートルの長尺の光ファイバが使用できるようにな
り、これに伴なって、このように長い被試験体について
も数ミリメートル単位の高距離分解能で試験できる実用
的な光パルス試験器が要求されて来たが、未だこのよう
な装置は実現されていなかった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、光フ
ァイバの光パルス試験において、入射試験パルス光のパ
ルス幅を狭くすることなく、即ち全入射光エネルギーを
減らすことなく、距離分解能を改善できる光パルス試験
器を提供することにある。この結果、距離分解能を改善
しても後方散乱光のパワーが弱くなることを防ぐことが
できるため、より長尺の光ファイバを高い距離分解能で
試験することが可能になる。
ァイバの光パルス試験において、入射試験パルス光のパ
ルス幅を狭くすることなく、即ち全入射光エネルギーを
減らすことなく、距離分解能を改善できる光パルス試験
器を提供することにある。この結果、距離分解能を改善
しても後方散乱光のパワーが弱くなることを防ぐことが
できるため、より長尺の光ファイバを高い距離分解能で
試験することが可能になる。
【０００４】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明の光パルス試験器は、試験光を波長或いは周
波数掃引された光パルスとし、被試験光ファイバと光結
合部との間又は光結合部と前記受光部との間に、被試験
光ファイバからの後方散乱光のうちの同一点からの成分
から成るパルスを圧縮させる距離分解能改善部を設ける
構成とする。
め、本発明の光パルス試験器は、試験光を波長或いは周
波数掃引された光パルスとし、被試験光ファイバと光結
合部との間又は光結合部と前記受光部との間に、被試験
光ファイバからの後方散乱光のうちの同一点からの成分
から成るパルスを圧縮させる距離分解能改善部を設ける
構成とする。
【０００５】図１及び図２は、本発明の構成を説明する
ための図である。図１の構成では、光結合部Ｂと受光部
Ｄとの間に被試験光ファイバからの後方散乱光のうちの
同一点からの成分から成るパルスを圧縮させる距離分解
能改善部を設けている。図２の構成では、被試験光ファ
イバと光結合部Ｂとの間に距離分解能改善部を設けてい
る。両者ともその効果は同じである。試験光源部Ａから
出射する試験光は、連続的に或いはステップ関数状に波
長（周波数）掃引した幅Ｗの光パルスである。この様子
を図４に示した。図４でαは連続的に波長（周波数）掃
引した幅Ｗの光パルスにおける波長分布を、βはステッ
プ関数状に波長（周波数）掃引した幅Ｗの光パルスにお
ける波長分布を示している。
ための図である。図１の構成では、光結合部Ｂと受光部
Ｄとの間に被試験光ファイバからの後方散乱光のうちの
同一点からの成分から成るパルスを圧縮させる距離分解
能改善部を設けている。図２の構成では、被試験光ファ
イバと光結合部Ｂとの間に距離分解能改善部を設けてい
る。両者ともその効果は同じである。試験光源部Ａから
出射する試験光は、連続的に或いはステップ関数状に波
長（周波数）掃引した幅Ｗの光パルスである。この様子
を図４に示した。図４でαは連続的に波長（周波数）掃
引した幅Ｗの光パルスにおける波長分布を、βはステッ
プ関数状に波長（周波数）掃引した幅Ｗの光パルスにお
ける波長分布を示している。
【０００６】図１に示した構成では、試験パルス光は、
光結合部Ｂを介して被試験光ファイバに入射され、この
試験パルス光に対する被試験光ファイバからの後方散乱
光は、再び光結合部Ｂを介して距離分解能改善部Ｃに導
かれる。試験光に対する被試験光ファイバからの後方散
乱光のうち同一点からの成分（以下これを後方散乱光パ
ルスと呼ぶ）に注目すると、この後方散乱光パルスは光
強度が非常に弱くなっていることを除けば、試験パルス
光と同じ構造になっている。距離分解能改善部Ｃは、図
５に示すような群速度遅延を持つ高分散光ファイバから
成る。後方散乱光の光パルス幅Ｗと群速度遅延時間の差
ｄ1 −ｄ2 とがＷ≒ｄ1 −ｄ2 の関係を満足するように
設定すると、距離分解能改善部Ｃにより後方散乱光パル
スは図６に示すように圧縮される。
光結合部Ｂを介して被試験光ファイバに入射され、この
試験パルス光に対する被試験光ファイバからの後方散乱
光は、再び光結合部Ｂを介して距離分解能改善部Ｃに導
かれる。試験光に対する被試験光ファイバからの後方散
乱光のうち同一点からの成分（以下これを後方散乱光パ
ルスと呼ぶ）に注目すると、この後方散乱光パルスは光
強度が非常に弱くなっていることを除けば、試験パルス
光と同じ構造になっている。距離分解能改善部Ｃは、図
５に示すような群速度遅延を持つ高分散光ファイバから
成る。後方散乱光の光パルス幅Ｗと群速度遅延時間の差
ｄ1 −ｄ2 とがＷ≒ｄ1 −ｄ2 の関係を満足するように
設定すると、距離分解能改善部Ｃにより後方散乱光パル
スは図６に示すように圧縮される。
【０００７】被試験光ファイバのあらゆる点からの後方
散乱光パルスが同様に圧縮され、後方散乱光全体ではい
わば光ファイバ長手方向に焦点合わせされたような形に
なる。この様子を図７に示す。図７では、試験光は波長
がλ1 からλ10まで等間隔でステップ関数状に変わるパ
ルス光の例を説明している。被試験光ファイバの或る一
点からの反射光、例えば光ファイバの終端からのフレネ
ル反射等は、図左下に示す反射光パルスに示すように、
試験パルス光と同じ構造を持っている。この場合距離分
解能改善部における群速度分散の効果により、受光部で
波長λ1 からλ10までの小パルス光が同時に受光される
こととなり、図右下の受信反射光パルスに示すように、
反射光パルスはちょうど小パルス光のパルス幅まで圧縮
されたこととなる。
散乱光パルスが同様に圧縮され、後方散乱光全体ではい
わば光ファイバ長手方向に焦点合わせされたような形に
なる。この様子を図７に示す。図７では、試験光は波長
がλ1 からλ10まで等間隔でステップ関数状に変わるパ
ルス光の例を説明している。被試験光ファイバの或る一
点からの反射光、例えば光ファイバの終端からのフレネ
ル反射等は、図左下に示す反射光パルスに示すように、
試験パルス光と同じ構造を持っている。この場合距離分
解能改善部における群速度分散の効果により、受光部で
波長λ1 からλ10までの小パルス光が同時に受光される
こととなり、図右下の受信反射光パルスに示すように、
反射光パルスはちょうど小パルス光のパルス幅まで圧縮
されたこととなる。
【０００８】実際の光ファイバの後方散乱光は、長尺の
光ファイバの全ての位置からの反射光の総和であり、図
左上の後方散乱光信号に示すように、試験光パルスに比
べて非常に長く、波長λ1 からλ10までの小パルス光に
対しての後方散乱光が時間的に重なってしまう。このよ
うな後方散乱光信号を距離分解能改善部を通すと、小パ
ルス光のパルス幅だけそれぞれの信号がずれるので、図
右上の受信後方散乱光のように、光ファイバの同一点か
らの反射光が揃った形で受光されることとなる。これは
ちょうど時間軸上で焦点合わせをしたような形になり、
距離分解能が改善されたことになる。
光ファイバの全ての位置からの反射光の総和であり、図
左上の後方散乱光信号に示すように、試験光パルスに比
べて非常に長く、波長λ1 からλ10までの小パルス光に
対しての後方散乱光が時間的に重なってしまう。このよ
うな後方散乱光信号を距離分解能改善部を通すと、小パ
ルス光のパルス幅だけそれぞれの信号がずれるので、図
右上の受信後方散乱光のように、光ファイバの同一点か
らの反射光が揃った形で受光されることとなる。これは
ちょうど時間軸上で焦点合わせをしたような形になり、
距離分解能が改善されたことになる。
【０００９】この結果、同一点からの後方散乱光が同時
に受光部に到達するようになり、入射試験パルス光のパ
ルス幅を狭くする方法に依らずに距離分解能を改善する
ことができる。従来のＯＴＤＲでは、距離分解能を高め
る場合はパルス幅を狭くする必要があるために後方散乱
光のパワーが減少していたが、本発明によれば、後方散
乱光のパワーが損なわれることがなく、従来に比べてよ
り長い光ファイバの試験が可能になる。
に受光部に到達するようになり、入射試験パルス光のパ
ルス幅を狭くする方法に依らずに距離分解能を改善する
ことができる。従来のＯＴＤＲでは、距離分解能を高め
る場合はパルス幅を狭くする必要があるために後方散乱
光のパワーが減少していたが、本発明によれば、後方散
乱光のパワーが損なわれることがなく、従来に比べてよ
り長い光ファイバの試験が可能になる。
【００１０】
【実施例】図３に本発明の実施例を示す。それぞれ発振
波長が異なるレーザーダイオード（ＬＤ）１及び２を連
続発振させ、このＬＤ１及び２のそれぞれの連続光から
強度変調器（ＥＯスイッチなど）３及び４でそれぞれの
光パルスを切り出し、両方の光パルスを波長合波カプラ
５で合波する。このとき、時間をずらした２つのパルス
列となるように同期信号発生部６からの信号で強度変調
器３及び４を制御する。このパルス列が光源部の出力で
ある波長掃引された試験光となる。次いで、光結合部で
ある音響光学（ＡＯ）スイッチ７を介して試験光を被試
験光ファイバに入射する。被試験光ファイバからの後方
散乱光を、再びＡＯスイッチ７を介して距離分解能改善
部である高分散光ファイバ８に導く。この高分散光ファ
イバ８の群速度分散の効果によって、２つのパルス列が
同時に受光部であるアバランシェフォトダイオード９に
到達して電気信号に変換される。このとき、前置増幅器
を用いて後方散乱光信号を増幅することにより、更なる
性能の改善を行うこともできる。
波長が異なるレーザーダイオード（ＬＤ）１及び２を連
続発振させ、このＬＤ１及び２のそれぞれの連続光から
強度変調器（ＥＯスイッチなど）３及び４でそれぞれの
光パルスを切り出し、両方の光パルスを波長合波カプラ
５で合波する。このとき、時間をずらした２つのパルス
列となるように同期信号発生部６からの信号で強度変調
器３及び４を制御する。このパルス列が光源部の出力で
ある波長掃引された試験光となる。次いで、光結合部で
ある音響光学（ＡＯ）スイッチ７を介して試験光を被試
験光ファイバに入射する。被試験光ファイバからの後方
散乱光を、再びＡＯスイッチ７を介して距離分解能改善
部である高分散光ファイバ８に導く。この高分散光ファ
イバ８の群速度分散の効果によって、２つのパルス列が
同時に受光部であるアバランシェフォトダイオード９に
到達して電気信号に変換される。このとき、前置増幅器
を用いて後方散乱光信号を増幅することにより、更なる
性能の改善を行うこともできる。
【００１１】この実施例においては、波長が異なる２つ
の光パルスから成る波長掃引試験光を用いたので、それ
ぞれの光パルスのパルス幅を等しくすると、この１つ分
のパルス幅による距離分解能で、後方散乱光パワーは２
つのパルスの光パワーを合わせたものになる。アバラン
シェフォトダイオード９から出力される電気信号をＡ／
Ｄ変換部10でディジタル信号に変換し、ディジタルプロ
セシングシステム（ＤＰＳ）11で信号処理を行ってＳ／
Ｎ比を改善する。この実施例において、図８に示すよう
に、ＬＤの数を増やしてより滑らかに波長掃引できるよ
うな構成とすれば、尚一層の改善を図ることができる。
の光パルスから成る波長掃引試験光を用いたので、それ
ぞれの光パルスのパルス幅を等しくすると、この１つ分
のパルス幅による距離分解能で、後方散乱光パワーは２
つのパルスの光パワーを合わせたものになる。アバラン
シェフォトダイオード９から出力される電気信号をＡ／
Ｄ変換部10でディジタル信号に変換し、ディジタルプロ
セシングシステム（ＤＰＳ）11で信号処理を行ってＳ／
Ｎ比を改善する。この実施例において、図８に示すよう
に、ＬＤの数を増やしてより滑らかに波長掃引できるよ
うな構成とすれば、尚一層の改善を図ることができる。
【００１２】更にこの実施例では距離分解能改善部であ
る高分散光ファイバ８をＡＯスイッチ７とアバランシェ
フォトダイオード９との間に置いたが、これを被試験光
ファイバとＡＯスイッチ７との間に置いても同様に動作
し、同じ効果を奏する。
る高分散光ファイバ８をＡＯスイッチ７とアバランシェ
フォトダイオード９との間に置いたが、これを被試験光
ファイバとＡＯスイッチ７との間に置いても同様に動作
し、同じ効果を奏する。
【００１３】試験光源において、例えば通信波長帯であ
る1530nmから1580nmまでを連続的に波長掃引できる光源
を用いて全体のパルス幅を５０nsとして、距離分解能改
善部の分散が５０ps/nm/kmの光ファイバを用いた場合に
は、簡単な計算から、この光ファイバの長さをおよそ２
０kmにしたとき、受光部に入射する後方散乱光パルスの
幅は原理的にはフーリェ変換限界まで圧縮される。ここ
で、光検出器の応答速度を２０ps程度と仮定すると、距
離分解能は受光部の光検出器の応答速度によって制限さ
れ、距離分解能は２mm程度になる。このときの後方散乱
光パワーは入射パルス幅が５０nsであった場合と等しい
ので、従来の試験光パルス幅を狭くする方法に比べて後
方散乱光パワーにして５０n/２０p ＝2500倍の改善がで
きることになる。
る1530nmから1580nmまでを連続的に波長掃引できる光源
を用いて全体のパルス幅を５０nsとして、距離分解能改
善部の分散が５０ps/nm/kmの光ファイバを用いた場合に
は、簡単な計算から、この光ファイバの長さをおよそ２
０kmにしたとき、受光部に入射する後方散乱光パルスの
幅は原理的にはフーリェ変換限界まで圧縮される。ここ
で、光検出器の応答速度を２０ps程度と仮定すると、距
離分解能は受光部の光検出器の応答速度によって制限さ
れ、距離分解能は２mm程度になる。このときの後方散乱
光パワーは入射パルス幅が５０nsであった場合と等しい
ので、従来の試験光パルス幅を狭くする方法に比べて後
方散乱光パワーにして５０n/２０p ＝2500倍の改善がで
きることになる。
【００１４】更に、光検出器として更に高速な光検出器
を用いると、用いた試験パルスのフーリェ変換限界によ
って距離分解能が制限されるようになる。例えば、後方
散乱光パルスを１００fsまで圧縮できたとすると、５０
n/１００f ＝500,000 倍の改善ができることになる。
を用いると、用いた試験パルスのフーリェ変換限界によ
って距離分解能が制限されるようになる。例えば、後方
散乱光パルスを１００fsまで圧縮できたとすると、５０
n/１００f ＝500,000 倍の改善ができることになる。
【００１５】
【発明の効果】詳細に説明したように、本発明によれ
ば、数キロメートルの長尺の通信用光ファイバを数ミリ
メートルの高距離分解能で光パルス試験を行うことが始
めて可能になり、その実用上の効果は極めて大きいもの
である。
ば、数キロメートルの長尺の通信用光ファイバを数ミリ
メートルの高距離分解能で光パルス試験を行うことが始
めて可能になり、その実用上の効果は極めて大きいもの
である。
【図１】図１は、本発明の高距離分解能光パルス試験器
の構成を示すブロック図である。
の構成を示すブロック図である。
【図２】図２は、本発明の高距離分解能光パルス試験器
の他の構成を示すブロック図である。
の他の構成を示すブロック図である。
【図３】図３は、本発明の高距離分解能光パルス試験器
の実施例を示すブロック図である。
の実施例を示すブロック図である。
【図４】図４は、波長掃引試験光パルスの波形と波長変
化を示す図である。
化を示す図である。
【図５】図５は、距離分解能改善部に用いられる高分散
光ファイバの波長分散を説明する図である。
光ファイバの波長分散を説明する図である。
【図６】図６は、パルス圧縮を受けた試験光パルスの波
形と波長変化を示す図である。
形と波長変化を示す図である。
【図７】図７は、群速度分散によるパルス圧縮と後方散
乱光の焦点合わせの概念を説明する図である。
乱光の焦点合わせの概念を説明する図である。
【図８】図８は、波長掃引パルス光源の他の構成を示す
図である。
図である。
Ａ 波長掃引試験パルス光源部 Ｂ 光結合部 Ｃ 距離分解能改善部 Ｄ 受光部 Ｅ Ａ／Ｄ変換部 Ｆ ディジタルプロセシングシステム（ＤＰＳ） １、２ レーザーダイオード ３、４ ＥＯスイッチ ５ 波長合波カプラ ６ 同期信号発生部 ７ ＡＯスイッチ ８ 高分散光ファイバ ９ アバランシェフォトダイオード １０ Ａ／Ｄコンバータ １１ ＤＰＳ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平４−357892（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−282344（ＪＰ，Ａ) 特表 平５−502724（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01M 11/00 - 11/08
Claims (3)
- 【請求項１】 光パルスの試験光を発生する試験光源部
と、該試験光源部から出射する試験光を被試験光ファイ
バに導き且つ該被試験光ファイバからの後方散乱光を出
力することができる光結合部と、該光結合部から出力さ
れる被試験光ファイバからの後方散乱光をアナログ電気
信号に変換する受光部と、該受光部からのアナログ電気
信号をディジタル信号に変換するＡ/Ｄ変換部と、該デ
ィジタル信号のＳ/Ｎ比を改善するための処理を行うデ
ィジタルプロセッシングシステムとを具えた光パルス試
験器において、前記試験光を波長或いは周波数掃引され
た光パルスとし、前記被試験光ファイバと前記光結合部
との間又は前記光結合部と前記受光部との間に、前記被
試験光ファイバからの後方散乱光のうちの同一点からの
成分から成るパルスを圧縮させる距離分解能改善部を設
けたことを特徴とする高距離分解能光パルス試験器。 - 【請求項２】 試験光が連続的に波長（周波数）掃引さ
れた光パルスよりなることを特徴とする請求項１に記載
の高距離分解能光パルス試験器。 - 【請求項３】 試験光がステップ関数状に波長（周波
数）掃引された光パルスよりなることを特徴とする請求
項１に記載の高距離分解能光パルス試験器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00162994A JP3244095B2 (ja) | 1994-01-12 | 1994-01-12 | 高距離分解能光パルス試験器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00162994A JP3244095B2 (ja) | 1994-01-12 | 1994-01-12 | 高距離分解能光パルス試験器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07209138A JPH07209138A (ja) | 1995-08-11 |
| JP3244095B2 true JP3244095B2 (ja) | 2002-01-07 |
Family
ID=11506834
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP00162994A Expired - Lifetime JP3244095B2 (ja) | 1994-01-12 | 1994-01-12 | 高距離分解能光パルス試験器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3244095B2 (ja) |
-
1994
- 1994-01-12 JP JP00162994A patent/JP3244095B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07209138A (ja) | 1995-08-11 |
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