JPS6092672A - 加速度センサの製造方法 - Google Patents

加速度センサの製造方法

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Publication number
JPS6092672A
JPS6092672A JP58201197A JP20119783A JPS6092672A JP S6092672 A JPS6092672 A JP S6092672A JP 58201197 A JP58201197 A JP 58201197A JP 20119783 A JP20119783 A JP 20119783A JP S6092672 A JPS6092672 A JP S6092672A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
porous silicon
substrate
cavity
film
silicon
Prior art date
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Pending
Application number
JP58201197A
Other languages
English (en)
Inventor
Akinobu Satou
佐藤 倬暢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toko Inc
Original Assignee
Toko Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by Toko Inc filed Critical Toko Inc
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Publication of JPS6092672A publication Critical patent/JPS6092672A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/84Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by variation of applied mechanical force, e.g. of pressure

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Pressure Sensors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、半導体基板に圧電膜を形成して成る加速度セ
ンサの製造方法に関するもので、特にそのカンチレバー
の部分の製造方法に特徴を有するものである。
圧電体を用いた圧力センサ、加速度センサに9いて多く
の種類が考えられている。これらはいずれも、圧電素子
に加わった圧フハ加速度によってEEX素子に生じた歪
みを電気的な信号に変換するもので委る。したがって、
圧電素子が圧力、加速度によって変位を生じるように、
圧電素子をカンチレバー部分に形成することが必要とな
る。
カンチレバー部分が圧力、加速度によって変位を生じる
ためには、それに接する部分に空洞を設ける必要がある
。半導体基板と圧電素子を組み合わせた加速度センナで
は、半導体基板をエツチングして空洞を形成することが
一般に行われているが、異方性エツチングによるだめに
使用する単結晶シリコン基板の結晶面が制約されたシ、
エツチングの時間が長くなるといった問題が生じる。
本発明は、上記のような問題を解決して、カンチレバー
部分の空洞を短時間で形成できる加速度センサの製造方
法を提供することを目的とする。
また、使用する半導体基板も制約されず、信頼性の高い
加速度センナを得ることを目的とする。
本発明による加速度センサの製造方法においては、多孔
質シリコンの酸化、エツチングによってカンチレバーの
部分の空洞を形成することによって上記の目的を達成す
るものでめる。すなわち、単結晶シリコンを陽極化成す
ることによって多孔質化させ、この多孔質シリコンが酸
化し易いことを利用して短時間で酸化し、この部分を除
去することによって空洞を形成するものである。また、
カンチレバー部分は、スパッタなどの方法によって圧電
薄膜を形成してこれに電極を形成した構造とするもので
ある。
以下、本発明の実施例につき、図面を参照して説明する
第1図は、本発明の実施例を示す正面断面図で、工程順
にA−Fに分けて示したものである。
単結晶シリコン基板100表面の所定の部分に窒化シリ
コンtillを形成し、フッ化水素(HF)20〜50
%溶沿中で陽極化成する。♀化シリコン模11で秒われ
でいない単結晶シリコン基板100表面から内部に向か
って多孔5fシリコン層12が形成される(A)。ここ
で単結晶シリコン基板IOはP型導電性であると陽極化
成が容易である。
単結晶シリコン基板lOの表面に窒化シリコン膜14を
形成し、多孔質シリコン層12の一部を露出させるよう
にエツチングする。多孔質シリコン層12の表面がコの
字形となるように露出させ、多孔質シリコン層12を覆
う窒化シリコン@14の部分がカンチレバー部分となる
ようにすると良い。そして、単結晶シリコン基板10を
高圧酸化ザ 修で酸化して、多孔質シリコン層12を二酸化シリコン
12’ とする(B)。
窒化シリコytl14の上にアルミニウムの下部電極パ
ターン15を形成する(C)。この下部4it。
極パターン15は、カンチレノ(一部分の圧電11kが
形成される部分とその引き出し電極仁なる部分に形成さ
れる。
続いて、カンチレノく一部分に圧%膜16を形成する(
D)。圧[嗅16は酸化」1鉛などの圧電薄膜をスパッ
タリングなどの方法によって形成すると良い。もちろん
、その池の材料を用いても良く、また、蒸着などの方法
によっても良い。
圧電嗅16の表面にアルミニウムの上部[愼17を形成
する(E)。このE部電極17は図示しないが、配線パ
ターンが引き出されるように形成される。
最後に、多孔質シリコンが酸化された二酸化シリコン層
12′をフッ化水素溶液でエツチングして除去し、カン
チレバー部分の下に空洞18を形成する(F)。
以上のようにして、単結晶゛シリコン基板上に窒化シリ
コン膵を介してFE電電子子具えたカンチレバーが形成
され、かつカンチレバーの下に空洞の形成された加速度
センサが得られる。
なお、力/チレバ一部分の形状はシリコン窒化膜のパタ
ーンによって種々変形することができ、それによって感
度を上げたシすることができる。
カンチレバーに加速度が加−わるとカンチレバーに変化
が生じ、それによって圧電素子にも歪みが生じる。そし
て、加速用に応じた格子振動(共振)が現われ、これを
周波数の位相差として加速度を検出することができる。
本発明によれば、カンチレバー部分の空洞の形成が短時
間でできる。したがって、加速度゛センサの製造の工数
を大幅に低減することができる。
また、使用する半導体基板を任意に選択できるので、池
の素子とともに同一基板内に形成したりすることも容易
となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例を示す正面断面図1である。 1’l、14・・・・・・シリコン窒化膜12・・・・
・・多孔質シリコン層 16・・・・・・圧lit@ 特許出願人 東光株式会社

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 単結晶シリコン基板の表面の一部を陽極化成して多孔質
    シリコン層を形成し、核表面にシリコ/窒化模を該多孔
    質シリコン層の一部が露出するように形成し、該多孔質
    シリコン層を酸化し、肢シリコン窒化模上に二つの電極
    層に挾まれた圧電膜を形成し、核酸化された多孔質シリ
    コン層を除去することを特徴とする加速度センナの製造
    方法。
JP58201197A 1983-10-27 1983-10-27 加速度センサの製造方法 Pending JPS6092672A (ja)

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JPS6092672A true JPS6092672A (ja) 1985-05-24

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63177872A (ja) * 1986-09-12 1988-07-22 インターメディクス インコーポレーテッド 速度応答式心臓ペースメーカー
US5801069A (en) * 1995-09-11 1998-09-01 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Method of fabricating thin film piezoelectric device
KR100479687B1 (ko) * 2002-05-30 2005-03-30 한국과학기술연구원 캔틸레버 센서 및 그 제조 방법
JP2007222990A (ja) * 2006-02-23 2007-09-06 Matsushita Electric Works Ltd 梁部を備えた構造体の製造方法およびmemsデバイス

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57115887A (en) * 1981-01-09 1982-07-19 Omron Tateisi Electronics Co Piezoelectric thin film type electro-mechanical displacement transducing element
JPS5837159B2 (ja) * 1974-11-29 1983-08-13 富士通株式会社 ラインプリンタ

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5837159B2 (ja) * 1974-11-29 1983-08-13 富士通株式会社 ラインプリンタ
JPS57115887A (en) * 1981-01-09 1982-07-19 Omron Tateisi Electronics Co Piezoelectric thin film type electro-mechanical displacement transducing element

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63177872A (ja) * 1986-09-12 1988-07-22 インターメディクス インコーポレーテッド 速度応答式心臓ペースメーカー
US5801069A (en) * 1995-09-11 1998-09-01 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Method of fabricating thin film piezoelectric device
KR100479687B1 (ko) * 2002-05-30 2005-03-30 한국과학기술연구원 캔틸레버 센서 및 그 제조 방법
JP2007222990A (ja) * 2006-02-23 2007-09-06 Matsushita Electric Works Ltd 梁部を備えた構造体の製造方法およびmemsデバイス

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