JPS6042885B2 - Ｉｃリ−ド曲り検査装置 - Google Patents
Ｉｃリ−ド曲り検査装置Info
- Publication number
- JPS6042885B2 JPS6042885B2 JP53059579A JP5957978A JPS6042885B2 JP S6042885 B2 JPS6042885 B2 JP S6042885B2 JP 53059579 A JP53059579 A JP 53059579A JP 5957978 A JP5957978 A JP 5957978A JP S6042885 B2 JPS6042885 B2 JP S6042885B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lead
- circuit
- tip
- image
- glass plate
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- Expired
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はＩＣのリードの曲りを検査する装置、さらに詳
しく言えば主にＤＩＰプラスチックモールドＩＣの外部
リードの先端がプリント板等への自動挿入が可能な範囲
の曲り以内に入つているか否かを検査する装置に関する
。
しく言えば主にＤＩＰプラスチックモールドＩＣの外部
リードの先端がプリント板等への自動挿入が可能な範囲
の曲り以内に入つているか否かを検査する装置に関する
。
従来ＩＣの外部リードの曲り検査は、機械的なゲージを
各各のリードの隙間に通しリードの曲りを検査する限界
ゲージ方式が考えられるが、ＩＣＩ個単位の処理のため
検査時間が長いこと、あるいはＩＣの位値決めを正確に
しなければならないことなどの理由から、作業者の目視
検査による場合が多かつた。
各各のリードの隙間に通しリードの曲りを検査する限界
ゲージ方式が考えられるが、ＩＣＩ個単位の処理のため
検査時間が長いこと、あるいはＩＣの位値決めを正確に
しなければならないことなどの理由から、作業者の目視
検査による場合が多かつた。
近年ＩＣ製造工程の自動化、省力化への技術の発展は目
覚しく、拡散工程、組立工程など無人化工場になりつつ
ある中で、最終工程である出荷前のＩＣリード曲り検査
のみが人手に頼る目視検査を行なつておりライン全体の
完全自動化のネックになつている。
覚しく、拡散工程、組立工程など無人化工場になりつつ
ある中で、最終工程である出荷前のＩＣリード曲り検査
のみが人手に頼る目視検査を行なつておりライン全体の
完全自動化のネックになつている。
本発明の目的はＩＣＩＪ−ドの先端の位置を迅速に検査
することができるＩＣリード曲り検査装置を提供するこ
とにある。
することができるＩＣリード曲り検査装置を提供するこ
とにある。
前記目的を達成するために本発明によるＩＣリード曲り
検査装置は、ＩＣＩ個を保持し半透明ガラス板面にＩＣ
リード先端を軽く押し当てる接触機構と、半透明ガラス
板を透してリード先端像を走査撮像する撮像装置と、前
記撮像管出力を増幅する増幅回路と、増幅された信号を
適当な閾値で２値化する２値化回路と、基準のＩＣリー
ド先端位置情報を記憶する記憶回路と、リード先端像の
２値化後の信号から各各のリード先端位置を抽出しさら
に前記記憶回路の基準のリード先端位置情報と比較演算
し合否を判定する判定回路と、前記撮・像装置に対し同
期信号を接触機構に対し駆動信号を送出する制御回路か
ら構成されている。
検査装置は、ＩＣＩ個を保持し半透明ガラス板面にＩＣ
リード先端を軽く押し当てる接触機構と、半透明ガラス
板を透してリード先端像を走査撮像する撮像装置と、前
記撮像管出力を増幅する増幅回路と、増幅された信号を
適当な閾値で２値化する２値化回路と、基準のＩＣリー
ド先端位置情報を記憶する記憶回路と、リード先端像の
２値化後の信号から各各のリード先端位置を抽出しさら
に前記記憶回路の基準のリード先端位置情報と比較演算
し合否を判定する判定回路と、前記撮・像装置に対し同
期信号を接触機構に対し駆動信号を送出する制御回路か
ら構成されている。
本発明の構成によれば、半透明ガラス板面には曲りのな
いリード先端像のみのが写し出され、その像を撮像管で
読み取り基準のＩＣリードのピッチと比較演算すること
により全リードの曲りをチェックできる。
いリード先端像のみのが写し出され、その像を撮像管で
読み取り基準のＩＣリードのピッチと比較演算すること
により全リードの曲りをチェックできる。
しかも処理すべき情報量は比較的少なくてすみ迅速な処
理が可能となる。以下図面を参照して本発明をさらに詳
しく説明する。
理が可能となる。以下図面を参照して本発明をさらに詳
しく説明する。
第１図は被検査対象のＩＣリードの曲り状態を示す図で
、ａはＩＣを側面からみて一列状のリードに対し直角方
向の曲り方を示し、ｂは一列状のリードに対し同方向の
曲り方を示す図である。
、ａはＩＣを側面からみて一列状のリードに対し直角方
向の曲り方を示し、ｂは一列状のリードに対し同方向の
曲り方を示す図である。
ＩＣリードの曲り形態はＡ，ｂの他ａｌ：ニ．ｂが複合
した形状のもの、さらに極端な場合は完全に押しつぶさ
れたり切断されてリードの欠けているものである。これ
らのＩＣリードの曲りの一般的な許容範囲は使用するプ
リント板の穴径により異なるが、インサーシヨンマシン
等により自動供給、自動挿入するには規定の寸法に対し
約０．２〜０．３ｗｍ程度と言われている。第２図はＩ
Ｃｌを半透明ガラス板４に平行に押し上げリード２の先
端を接触させたときの半透明ガラス板４にに結像するリ
ード２の像を示すもので、曲りのないものは３のように
リード先端のみの像が忠実に結像するが、規定のピッチ
Ｐ２に対し内側または外側に曲つているものは３″のよ
うにやや小さな点として写す。
した形状のもの、さらに極端な場合は完全に押しつぶさ
れたり切断されてリードの欠けているものである。これ
らのＩＣリードの曲りの一般的な許容範囲は使用するプ
リント板の穴径により異なるが、インサーシヨンマシン
等により自動供給、自動挿入するには規定の寸法に対し
約０．２〜０．３ｗｍ程度と言われている。第２図はＩ
Ｃｌを半透明ガラス板４に平行に押し上げリード２の先
端を接触させたときの半透明ガラス板４にに結像するリ
ード２の像を示すもので、曲りのないものは３のように
リード先端のみの像が忠実に結像するが、規定のピッチ
Ｐ２に対し内側または外側に曲つているものは３″のよ
うにやや小さな点として写す。
同様に規定のピッチＰ１に対し曲つたりねじれているも
のは３″に示すようにやや小さな点としてそれぞれの先
端の位置で結像する。さらに極端に曲つたリードは半透
明ガラス板には結像しない。この半透明ガラス板４を使
うことにより、必要な情報のみを読み取ることが可能で
、不必要なリード先端以外の像やノイズ等の情報が極端
に少くなる。第３図は本発明による装置の構成を示すブ
ロック図である。ＩＣｌは制御回路１７からの信号によ
り接触機構１０で半透明ガラス板４の面にリード２の先
端が軽く押し当てられる。半透明ガラス板４のリード２
と反対側面にはリード２の先端が接触している部分のみ
が明確に写し出される。この像はＩＴ■などの撮像装置
１１により撮像される。必要に応じて適当な照明手段１
２を設ければより鮮明な像が得られる。撮像装置１１か
ら直列的に送出されてくる信号は増幅回路１３により増
幅されさらに２値化回路１４により適当なレベルで゜゜
１゛または“０゛に２値化される。一方記憶回路１５に
はＩＣｌＪ−ドの基準寸法および寸法誤差の許容範囲が
記憶されている。判定回路１６では、前記２値化後の信
号からＩＣリード２の先端位置を抽出し記憶回路１５の
基準寸法と比較演算し各各のリード２のすべてについて
合否を判定する。本発明による装置は以上のように構成
されているから、半透明ガラス板に結像したＩＣリード
先端像を撮像装置で読み取り基準の寸法ど比較演算する
ことにより被検査対象の良否の判定を迅速に行なうこと
ができ、ＩＣなどの多量生産品の足曲り検査に最適であ
る。
のは３″に示すようにやや小さな点としてそれぞれの先
端の位置で結像する。さらに極端に曲つたリードは半透
明ガラス板には結像しない。この半透明ガラス板４を使
うことにより、必要な情報のみを読み取ることが可能で
、不必要なリード先端以外の像やノイズ等の情報が極端
に少くなる。第３図は本発明による装置の構成を示すブ
ロック図である。ＩＣｌは制御回路１７からの信号によ
り接触機構１０で半透明ガラス板４の面にリード２の先
端が軽く押し当てられる。半透明ガラス板４のリード２
と反対側面にはリード２の先端が接触している部分のみ
が明確に写し出される。この像はＩＴ■などの撮像装置
１１により撮像される。必要に応じて適当な照明手段１
２を設ければより鮮明な像が得られる。撮像装置１１か
ら直列的に送出されてくる信号は増幅回路１３により増
幅されさらに２値化回路１４により適当なレベルで゜゜
１゛または“０゛に２値化される。一方記憶回路１５に
はＩＣｌＪ−ドの基準寸法および寸法誤差の許容範囲が
記憶されている。判定回路１６では、前記２値化後の信
号からＩＣリード２の先端位置を抽出し記憶回路１５の
基準寸法と比較演算し各各のリード２のすべてについて
合否を判定する。本発明による装置は以上のように構成
されているから、半透明ガラス板に結像したＩＣリード
先端像を撮像装置で読み取り基準の寸法ど比較演算する
ことにより被検査対象の良否の判定を迅速に行なうこと
ができ、ＩＣなどの多量生産品の足曲り検査に最適であ
る。
第１図は被検査対象のＩＣのリード曲り状態を説明する
ための図、第２図は半透明ガラス板に写し出されたＩＣ
リード先端の像を示す図、第３図は本発明の一実施例を
示すブロック図である。 １・・・・・・ＩＣｌ２・・・・・・リード、３・・・
・・・リード先端の投影像、４・・・・・・半透明ガラ
ス板、１０・・・・・・接触機構、１１・・・・・・撮
像装置、１２・・・・・・照明手段、１３・・・・・・
増幅回路、１４・・・・・・信号２値化回路、１５・・
・記憶回路、１６・・・・・・判定回路、１７・・・・
・制御回路。
ための図、第２図は半透明ガラス板に写し出されたＩＣ
リード先端の像を示す図、第３図は本発明の一実施例を
示すブロック図である。 １・・・・・・ＩＣｌ２・・・・・・リード、３・・・
・・・リード先端の投影像、４・・・・・・半透明ガラ
ス板、１０・・・・・・接触機構、１１・・・・・・撮
像装置、１２・・・・・・照明手段、１３・・・・・・
増幅回路、１４・・・・・・信号２値化回路、１５・・
・記憶回路、１６・・・・・・判定回路、１７・・・・
・制御回路。
Claims (1)
- １ ＩＣを保持し半透明ガラス板にＩＣリード先端を軽
く押し当てる接触機構と、前記半透明ガラス板を透して
リード先端像を走査撮像する撮像装置と、前記撮像装置
の出力を増幅する増幅回路と、増幅された信号を適当な
閾値で２値化する２値化回路と、基準のＩＣリード先端
情報を記憶しておく記憶回路と、リード先端像の２値化
後の信号から各各のリード先端位置を抽出しさらに前記
基準のリード位置情報と比較演算し合否を伴定する判定
回路と、前記撮像装置に対し同期信号を前記接触機構に
対し動作信号を送出する制御回路とから構成したことを
特徴とするＩＣリード曲り検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53059579A JPS6042885B2 (ja) | 1978-05-18 | 1978-05-18 | Ｉｃリ−ド曲り検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53059579A JPS6042885B2 (ja) | 1978-05-18 | 1978-05-18 | Ｉｃリ−ド曲り検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS54150089A JPS54150089A (en) | 1979-11-24 |
| JPS6042885B2 true JPS6042885B2 (ja) | 1985-09-25 |
Family
ID=13117273
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP53059579A Expired JPS6042885B2 (ja) | 1978-05-18 | 1978-05-18 | Ｉｃリ−ド曲り検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6042885B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58135406A (ja) * | 1982-02-05 | 1983-08-12 | Kinji Kitada | 断面形状計測装置 |
| JPS59111001A (ja) * | 1982-12-16 | 1984-06-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 部品リ−ド線曲がり判定装置 |
| JPS6076134A (ja) * | 1983-09-30 | 1985-04-30 | Nec Kansai Ltd | 軸状部材の外観検査装置 |
| JPH0756446B2 (ja) * | 1985-02-22 | 1995-06-14 | 株式会社日立製作所 | 棒状突起物体の検査方法 |
| US4696047A (en) * | 1985-02-28 | 1987-09-22 | Texas Instruments Incorporated | Apparatus for automatically inspecting electrical connecting pins |
| JPS6280506A (ja) * | 1985-10-03 | 1987-04-14 | Fuji Electric Co Ltd | 複数のピンをもつ物品のピン曲がり検査方式 |
| JPH07104136B2 (ja) * | 1990-03-27 | 1995-11-13 | 松下電工株式会社 | 端子の傾き検出方法 |
-
1978
- 1978-05-18 JP JP53059579A patent/JPS6042885B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS54150089A (en) | 1979-11-24 |
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