JP2803427B2 - 表面実装ｉｃリードずれ検査装置 - Google Patents
表面実装ｉｃリードずれ検査装置Info
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- JP2803427B2 JP2803427B2 JP4026340A JP2634092A JP2803427B2 JP 2803427 B2 JP2803427 B2 JP 2803427B2 JP 4026340 A JP4026340 A JP 4026340A JP 2634092 A JP2634092 A JP 2634092A JP 2803427 B2 JP2803427 B2 JP 2803427B2
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は表面実装ＩＣずれ検査装
置、特に、プリント基板にはんだ付けされた表面実装Ｉ
Ｃのリードのずれを検査する表面実装ＩＣリードずれ検
査装置に関する。
置、特に、プリント基板にはんだ付けされた表面実装Ｉ
Ｃのリードのずれを検査する表面実装ＩＣリードずれ検
査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のリードずれ検査装置は検査対象部
品の隣接するリード間に斜め上方から光を照射する照明
と、検査対象部品の画像を取り込む上方に取り付けられ
たカメラと、該カメラから取り込んだ濃淡画像の明るい
部分は“１”に、暗い部分は“０”の二値化画像に変換
する二値化回路と、検査対象部品の一本のリードの両側
にリードずれの許容できる限界の座標に発生させる二つ
の検査領域を記憶する検査領域記憶回路と、前記二値化
回路より出力される二値化画像に前記検査領域記憶回路
に記憶されている検査領域を発生させる検査領域発生回
路と、該検査領域発生回路より出力される検査領域内二
値化画像より、検査領域内に“１”のエリアがあるか判
定する判定回路とを含んで構成される。
品の隣接するリード間に斜め上方から光を照射する照明
と、検査対象部品の画像を取り込む上方に取り付けられ
たカメラと、該カメラから取り込んだ濃淡画像の明るい
部分は“１”に、暗い部分は“０”の二値化画像に変換
する二値化回路と、検査対象部品の一本のリードの両側
にリードずれの許容できる限界の座標に発生させる二つ
の検査領域を記憶する検査領域記憶回路と、前記二値化
回路より出力される二値化画像に前記検査領域記憶回路
に記憶されている検査領域を発生させる検査領域発生回
路と、該検査領域発生回路より出力される検査領域内二
値化画像より、検査領域内に“１”のエリアがあるか判
定する判定回路とを含んで構成される。
【０００３】次に従来のリードずれ検査装置について図
面を参照して詳細に説明する。図３は従来の一例を示す
ブロック図であり、図４はＩＣリードがパッドに実装さ
れた状態を示すＩＣの部分平面図である。図３の照明２
１は検査対象部品に斜め上方から光を照射する。カメラ
２２は検査対象部品の上方に取り付けられ検査対象部品
の画像を取り込み濃淡画像信号ｆを出力する。二値化回
路２３は前記濃淡画像信号ｆを入力しあらかじめ設定し
た二値化レベルにより明るい部分に対応した“１”と暗
い部分に対応した“０”に変換し、二値化画像信号ｇを
出力する。
面を参照して詳細に説明する。図３は従来の一例を示す
ブロック図であり、図４はＩＣリードがパッドに実装さ
れた状態を示すＩＣの部分平面図である。図３の照明２
１は検査対象部品に斜め上方から光を照射する。カメラ
２２は検査対象部品の上方に取り付けられ検査対象部品
の画像を取り込み濃淡画像信号ｆを出力する。二値化回
路２３は前記濃淡画像信号ｆを入力しあらかじめ設定し
た二値化レベルにより明るい部分に対応した“１”と暗
い部分に対応した“０”に変換し、二値化画像信号ｇを
出力する。
【０００４】検査領域発生回路２４では、二値化画像信
号ｇを入力し検査領域記憶回路２５に記憶されている検
査領域信号ｈにより設定される検査領域２９をパッド２
７に実装されたリード２８の両側にリードずれの許容で
きる限界の座標に発生させ、該検査領域内の二値化画像
のみを抽出した検査領域内二値化画像信号ｉを出力す
る。判定回路２６では、検査領域内二値化画像信号ｉを
入力し、“１”のエリア３０があればリードずれと判定
する。
号ｇを入力し検査領域記憶回路２５に記憶されている検
査領域信号ｈにより設定される検査領域２９をパッド２
７に実装されたリード２８の両側にリードずれの許容で
きる限界の座標に発生させ、該検査領域内の二値化画像
のみを抽出した検査領域内二値化画像信号ｉを出力す
る。判定回路２６では、検査領域内二値化画像信号ｉを
入力し、“１”のエリア３０があればリードずれと判定
する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の技術
は、検査領域を計算上リードずれが許容できる限界の座
標に発生させ、該検査領域内にリードからの反射光があ
るとリードずれと判定していたので、検査領域の座標発
生精度の影響を受けリードずれを精度よく検出できない
という欠点があった。
は、検査領域を計算上リードずれが許容できる限界の座
標に発生させ、該検査領域内にリードからの反射光があ
るとリードずれと判定していたので、検査領域の座標発
生精度の影響を受けリードずれを精度よく検出できない
という欠点があった。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の表面実装ＩＣリ
ードずれ実装装置は、検査対象部品の斜め上方から光を
照射する照明と、検査対象部品の画像を取り込む情報に
取り付けられたカメラと、該カメラから取り込んだ濃淡
画像の明るい部分は“１”に、暗い部分は“０”の二値
化画像に変換する二値化回路と、検査対象リードを含む
検査領域を記憶する第一の検査領域記憶回路と、検査対
象リードより先のパッド部分の検査領域を記憶する第二
の検査領域記憶回路と、前記二値化回路より出力される
二値化画像に前記第一の検査領域記憶回路に記憶されて
いる検査領域を発生させる第一の検査領域発生回路と、
該第一の検査領域発生回路より出力される第一の検査領
域内二値化画像信号より前記検査領域内のリードからの
反射光による“１”のエリアを検出し、該エリアのリー
ドと直角の方向の“１”の範囲の中心座標を計測する第
一の計測回路と、前記二値化回路より出力される二値化
画像に前記第二の検査領域記憶回路に記憶されている検
査領域を発生させる第二の検査領域発生回路と、該第二
の検査領域発生回路より出力される第二の検査領域内二
値化画像信号より前記検査領域内のパッドからの反射光
により“１”のエリアを検出し該エリアのリードと直角
の方向の“１”の範囲の中心座標を計測する第二の計測
回路と、前記第一の計測回路からの第一の計測値と第二
の計測回路からの第二の計測値との差をとりリードずれ
量を算出しあらかじめ設定した判定値より大きければリ
ードずれと判定する判定回路とを含んで構成される。
ードずれ実装装置は、検査対象部品の斜め上方から光を
照射する照明と、検査対象部品の画像を取り込む情報に
取り付けられたカメラと、該カメラから取り込んだ濃淡
画像の明るい部分は“１”に、暗い部分は“０”の二値
化画像に変換する二値化回路と、検査対象リードを含む
検査領域を記憶する第一の検査領域記憶回路と、検査対
象リードより先のパッド部分の検査領域を記憶する第二
の検査領域記憶回路と、前記二値化回路より出力される
二値化画像に前記第一の検査領域記憶回路に記憶されて
いる検査領域を発生させる第一の検査領域発生回路と、
該第一の検査領域発生回路より出力される第一の検査領
域内二値化画像信号より前記検査領域内のリードからの
反射光による“１”のエリアを検出し、該エリアのリー
ドと直角の方向の“１”の範囲の中心座標を計測する第
一の計測回路と、前記二値化回路より出力される二値化
画像に前記第二の検査領域記憶回路に記憶されている検
査領域を発生させる第二の検査領域発生回路と、該第二
の検査領域発生回路より出力される第二の検査領域内二
値化画像信号より前記検査領域内のパッドからの反射光
により“１”のエリアを検出し該エリアのリードと直角
の方向の“１”の範囲の中心座標を計測する第二の計測
回路と、前記第一の計測回路からの第一の計測値と第二
の計測回路からの第二の計測値との差をとりリードずれ
量を算出しあらかじめ設定した判定値より大きければリ
ードずれと判定する判定回路とを含んで構成される。
【０００７】
【実施例】次に、本発明の実施例について、図面を参照
して詳細に説明する。
して詳細に説明する。
【０００８】図１は本発明の一実施例を示すブロック図
である。図１の照明１は検査対象部品に斜め上方から光
を照射する。カメラ２は検査対象部品の上方に取り付け
られ検査対象部品の画像を取り込み濃淡画像信号ａを出
力する。二値化回路３は前記濃淡画像信号ａを入力しあ
らかじめ設定した二値化レベルにより明るい部分に対応
した“１”と暗い部分に対応した“０”に変換し、二値
化画像信号ｂ，ｂｂを出力する。
である。図１の照明１は検査対象部品に斜め上方から光
を照射する。カメラ２は検査対象部品の上方に取り付け
られ検査対象部品の画像を取り込み濃淡画像信号ａを出
力する。二値化回路３は前記濃淡画像信号ａを入力しあ
らかじめ設定した二値化レベルにより明るい部分に対応
した“１”と暗い部分に対応した“０”に変換し、二値
化画像信号ｂ，ｂｂを出力する。
【０００９】第一の検査領域発生回路４では、前記二値
化画像信号ｂを入力し第一の検査領域記憶回路５に記憶
されている第一の検査領域信号ｃにより設定される検査
対象リードを含む検査領域を発生させ、該第一の検査領
域内の二値化画像のみを抽出した第一の検査領域内二値
化画像信号ｄを出力する。第一の計測回路６では、該第
一の検査領域内二値化画像信号ｄを入力し、リードと直
角な方向（以下Ｘ方向と呼ぶ）の“１”の範囲の中心座
標Ｘ１を“１”を最大座標と最小座標の平均より求め第
一の中心座標信号ｅを出力する。
化画像信号ｂを入力し第一の検査領域記憶回路５に記憶
されている第一の検査領域信号ｃにより設定される検査
対象リードを含む検査領域を発生させ、該第一の検査領
域内の二値化画像のみを抽出した第一の検査領域内二値
化画像信号ｄを出力する。第一の計測回路６では、該第
一の検査領域内二値化画像信号ｄを入力し、リードと直
角な方向（以下Ｘ方向と呼ぶ）の“１”の範囲の中心座
標Ｘ１を“１”を最大座標と最小座標の平均より求め第
一の中心座標信号ｅを出力する。
【００１０】第二の検査領域発生回路７では、前記二値
化画像信号ｂｂを入力し第二の検査領域記憶回路８に記
憶されている第二の検査領域信号ｃｃにより設定される
検査対象リードより先のパッド部分を含む検査領域を発
生させ、該第二の検査領域内の二値化画像のみを抽出し
た第二の検査領域内二値化画像信号ｄｄを出力する。第
二の計測回路９では、該第二の検査領域内二値化画像信
号ｄｄを入力し、Ｘ方向の“１”の範囲の中心座標Ｘ２
を“１”の最大座標と最小座標の平均より求め第二の中
心座標信号ｅｅを出力する。
化画像信号ｂｂを入力し第二の検査領域記憶回路８に記
憶されている第二の検査領域信号ｃｃにより設定される
検査対象リードより先のパッド部分を含む検査領域を発
生させ、該第二の検査領域内の二値化画像のみを抽出し
た第二の検査領域内二値化画像信号ｄｄを出力する。第
二の計測回路９では、該第二の検査領域内二値化画像信
号ｄｄを入力し、Ｘ方向の“１”の範囲の中心座標Ｘ２
を“１”の最大座標と最小座標の平均より求め第二の中
心座標信号ｅｅを出力する。
【００１１】判定回路１０では、前記中心座標信号ｅ，
ｅｅを入力し、Ｘ方向の座標Ｘ１とＸ２との差をとり、
該値があらかじめ設定した判定値より長ければ、リード
ずれと判定する。
ｅｅを入力し、Ｘ方向の座標Ｘ１とＸ２との差をとり、
該値があらかじめ設定した判定値より長ければ、リード
ずれと判定する。
【００１２】リードずれ検出の原理を説明する。
【００１３】図２は二値化画像信号のパターン図であ
る。点線部はパッド１１上のリード１２を含む第一の検
査領域１３と、リード１２より先のリード１２を含む第
一の検査領域１３と、リード１２より先のリード１２を
含まない第二の検査領域１４である。照明１はパッド１
１とリード１２からの反射光がカメラ２に入射する角度
に取り付けられており、反射率の高いパッド１１とリー
ド１２からの反射光が強いため二値化画像信号“１”の
エリアを示す斜線部はリード部分のエリア１５とパッド
部分のエリア１６となる。ただしリーダ１２の側面のパ
ッド１１上にははんだフィレットが形成されているた
め、上方に取り付けられた照明１からの照明光は斜め方
向へ反射し、上方に取り付けられたカメラ２へは入射し
ない。従って、第一の計測回路６により計測されるＸ１
はリードの中心座標となり、第二の計測回路９により計
測されるＸ２はパッドの中心座標となる。
る。点線部はパッド１１上のリード１２を含む第一の検
査領域１３と、リード１２より先のリード１２を含む第
一の検査領域１３と、リード１２より先のリード１２を
含まない第二の検査領域１４である。照明１はパッド１
１とリード１２からの反射光がカメラ２に入射する角度
に取り付けられており、反射率の高いパッド１１とリー
ド１２からの反射光が強いため二値化画像信号“１”の
エリアを示す斜線部はリード部分のエリア１５とパッド
部分のエリア１６となる。ただしリーダ１２の側面のパ
ッド１１上にははんだフィレットが形成されているた
め、上方に取り付けられた照明１からの照明光は斜め方
向へ反射し、上方に取り付けられたカメラ２へは入射し
ない。従って、第一の計測回路６により計測されるＸ１
はリードの中心座標となり、第二の計測回路９により計
測されるＸ２はパッドの中心座標となる。
【００１４】従って判定値をリード中心とパッド中心と
のずれの許容限界長さに設定しておくことで、許容され
る以上ずれたリードをリードずれと検出することができ
る。
のずれの許容限界長さに設定しておくことで、許容され
る以上ずれたリードをリードずれと検出することができ
る。
【００１５】
【発明の効果】本発明の表面実装ＩＣリードずれ検査装
置は、検査領域を検査対象部品のリードの両側にリード
ずれの許容できる限界の座標に発生させ検査領域内にリ
ードからの反射光が入ったら欠陥と判定していたかわり
に、リードとパッドを含んで発生させる検査領域から求
めるリード中心のＸ方向座標と、パッドのみを含んで発
生させる検査領域から求めるパッド中心のＸ方向座標と
の差から、パッド中心ととリード中心のずれ量を求め判
定するので、検査領域の座標発生制度に影響を受けずに
精度よくリードずれを検出することができるという効果
がある。
置は、検査領域を検査対象部品のリードの両側にリード
ずれの許容できる限界の座標に発生させ検査領域内にリ
ードからの反射光が入ったら欠陥と判定していたかわり
に、リードとパッドを含んで発生させる検査領域から求
めるリード中心のＸ方向座標と、パッドのみを含んで発
生させる検査領域から求めるパッド中心のＸ方向座標と
の差から、パッド中心ととリード中心のずれ量を求め判
定するので、検査領域の座標発生制度に影響を受けずに
精度よくリードずれを検出することができるという効果
がある。
【図１】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【図２】本発明の原理を説明するためのパターン図であ
る。
る。
【図３】従来の一例を示すブロック図である。
【図４】従来例の原理を説明するためのパターン図であ
る。
る。
１ 照明 ２ カメラ ３ 二値化回路 ４ 第一の検査領域発生回路 ５ 第一の検査領域記憶回路 ６ 第一の計測回路 ７ 第二の検査領域発生回路 ８ 第二の検査領域発生回路 ９ 第二の計測回路 １０ 判定回路 １１ パッド １２ リード １３ 第一の検査領域 １４ 第二の検査領域 １５ リード部分のエリア １６ パッド部分のエリア ２１ 照明 ２２ カメラ ２３ 二値化回路 ２４ 検査領域発生回路 ２５ 検査領域記憶回路 ２６ 判定回路 ２７ パッド ２８ 検査領域 ３０ “１”のエリア ａ，ｆ 濃淡画像信号 ｂ，ｂｂ，ｇ 二値化画像信号 ｃ，ｃｃ，ｈ 検査領域信号 ｄ，ｄｄ，ｉ 検査領域内二値化画像信号 ｅ，ｅｅ 中心座標信号
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 ＦＩ Ｈ０５Ｋ 13/08 Ｈ０５Ｋ 13/08 Ａ // Ｈ０１Ｌ 23/50 Ｈ０１Ｌ 23/50 Ｎ (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01B 11/24 G01N 21/88 H05K 13/08 H01L 23/50
Claims (1)
- 【請求項１】 検査対象部品の斜め上方から光を照射す
る照明と、検査対象部品の画像を取り込む情報に取り付
けられたカメラと、該カメラから取り込んだ濃淡画像の
明るい部分は“１”に、暗い部分は“０”の二値化画像
に変換する二値化回路と、検査対象リードを含む検査領
域を記憶する第一の検査領域記憶回路と、検査対象リー
ドより先のパッド部分の検査領域を記憶する第二の検査
領域記憶回路と、前記二値化回路より出力される二値化
画像に前記第一の検査領域記憶回路に記憶されている検
査領域を発生させる第一の検査領域発生回路と、該第一
の検査領域発生回路より出力される第一の検査領域内二
値化画像信号より前記検査領域内のリードからの反射光
による“１”のエリアを検出し、該エリアのリードと直
角の方向の“１”の範囲の中心座標を計測する第一の計
測回路と、前記二値化回路より出力される二値化画像に
前記第二の検査領域記憶回路に記憶されている検査領域
を発生させる第二の検査領域発生回路と、該第二の検査
領域発生回路より出力される第二の検査領域内二値化画
像信号より前記検査領域内のパッドからの反射光により
“１”のエリアを検出し該エリアのリードと直角の方向
の“１”の範囲の中心座標を計測する第二の計測回路
と、前記第一の計測回路からの第一の計測値と第二の計
測回路からの第二の計測値との差をとりリードずれ量を
算出しあらかじめ設定した判定値より大きければリード
ずれと判定する判定回路とを含むことを特徴とする表面
実装ＩＣリードずれ検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4026340A JP2803427B2 (ja) | 1992-02-13 | 1992-02-13 | 表面実装ｉｃリードずれ検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4026340A JP2803427B2 (ja) | 1992-02-13 | 1992-02-13 | 表面実装ｉｃリードずれ検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05256622A JPH05256622A (ja) | 1993-10-05 |
| JP2803427B2 true JP2803427B2 (ja) | 1998-09-24 |
Family
ID=12190712
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4026340A Expired - Lifetime JP2803427B2 (ja) | 1992-02-13 | 1992-02-13 | 表面実装ｉｃリードずれ検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2803427B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10354036B2 (en) * | 2015-07-15 | 2019-07-16 | Yamaha Hatsudoki Kabushiki Kaisha | Model data generation device, method of generating model data, mounting reference point determination device, and method of determining mounting reference point |
-
1992
- 1992-02-13 JP JP4026340A patent/JP2803427B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05256622A (ja) | 1993-10-05 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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