JPS60257417A - 光ビ−ム走査装置 - Google Patents
光ビ−ム走査装置Info
- Publication number
- JPS60257417A JPS60257417A JP59114046A JP11404684A JPS60257417A JP S60257417 A JPS60257417 A JP S60257417A JP 59114046 A JP59114046 A JP 59114046A JP 11404684 A JP11404684 A JP 11404684A JP S60257417 A JPS60257417 A JP S60257417A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- scanning
- scanning direction
- concave mirror
- polygon scanner
- light beam
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
し産業上の利用分野〕
本発明はレーザプリンタ等に用いられる光ビーム走査装
置に関する。
置に関する。
第1図はレーザプリンタ等ζこおける従来の光ビーム走
亜装置の構成例を示す斜視図であり光ビーム発生器1、
コリメータレンズ2、ポリゴンスキャナ3、凹面鏡4、
感光体5を具備している。第1図に於いて光ビーム発生
器1は半導体レーザ等を光源ζこ持ち画情報に応じて発
振された光ビームI4)を射出する。該光ビーム発生器
1から射出された光ビームLbはコリメータレンズ2に
よって平行光束化されポリゴンスキャナ3の多数の偏向
面を有する多面走査鏡の回転に応じ当該走査面上に等角
速度的に偏向される。該偏向された光ビームLbは次に
凹面鏡4に入射し当該凹面鏡4により感光体5上に集束
結像されるとともに該感光体5上を前記各偏向回毎の偏
向に応じ一定方向に繰り返し走査される。係る光ビーム
Ll)の走査によって前記感光体5上には上記画情報の
光学的な静電潜像が形成されこれが所定トナーによる現
像を経て上述した画情報の記録が行われる。周知の如く
この凹面鏡4は上述した記録画像の印字品質を高めるう
えで上記走査中に前記光ビームLbを感光体5上で非点
収差なく像面湾曲の小さい光点として結像させ得る特性
と前記ポリコンスキャナ3による等角速度的な偏向に応
じて当該光点を前記感光体5上で等速度で移動さぜ得る
いわゆるf・0特性とを合せ持つように形成することが
必要であった。しかしながらこの場合の凹面鏡4は上述
した像面湾曲を小さくするとf・0特性が悪くなりまた
当該f−o%性を良好にすると像面湾曲が大きくなると
いう%性上相反する性質を持ちこのため従来のように単
一の凹面鏡4のみを用いて構成した光ビーム走査装置で
はこれらの特性を同時に満たずのは困難であり印字品質
の低下を免かれなかった。
亜装置の構成例を示す斜視図であり光ビーム発生器1、
コリメータレンズ2、ポリゴンスキャナ3、凹面鏡4、
感光体5を具備している。第1図に於いて光ビーム発生
器1は半導体レーザ等を光源ζこ持ち画情報に応じて発
振された光ビームI4)を射出する。該光ビーム発生器
1から射出された光ビームLbはコリメータレンズ2に
よって平行光束化されポリゴンスキャナ3の多数の偏向
面を有する多面走査鏡の回転に応じ当該走査面上に等角
速度的に偏向される。該偏向された光ビームLbは次に
凹面鏡4に入射し当該凹面鏡4により感光体5上に集束
結像されるとともに該感光体5上を前記各偏向回毎の偏
向に応じ一定方向に繰り返し走査される。係る光ビーム
Ll)の走査によって前記感光体5上には上記画情報の
光学的な静電潜像が形成されこれが所定トナーによる現
像を経て上述した画情報の記録が行われる。周知の如く
この凹面鏡4は上述した記録画像の印字品質を高めるう
えで上記走査中に前記光ビームLbを感光体5上で非点
収差なく像面湾曲の小さい光点として結像させ得る特性
と前記ポリコンスキャナ3による等角速度的な偏向に応
じて当該光点を前記感光体5上で等速度で移動さぜ得る
いわゆるf・0特性とを合せ持つように形成することが
必要であった。しかしながらこの場合の凹面鏡4は上述
した像面湾曲を小さくするとf・0特性が悪くなりまた
当該f−o%性を良好にすると像面湾曲が大きくなると
いう%性上相反する性質を持ちこのため従来のように単
一の凹面鏡4のみを用いて構成した光ビーム走査装置で
はこれらの特性を同時に満たずのは困難であり印字品質
の低下を免かれなかった。
またこれに加え前記ポリゴンスキャナ3の回転軸に対す
る各偏向面の平行度のバラツキによって・□i は前記
感光体5上における光ヒームLbの走査か非走査方向に
スレるため更に印字品質の低下を助長するという問題も
あった。
る各偏向面の平行度のバラツキによって・□i は前記
感光体5上における光ヒームLbの走査か非走査方向に
スレるため更に印字品質の低下を助長するという問題も
あった。
本発明は上記実状に鑑みてなされたものであり、f・0
特性、像面湾曲特性ともに良好でありしかも非走査方向
にズレのない走査によって高品質の記録画像を得ること
のできる光ビーム走査装置を提供することを目的とする
。
特性、像面湾曲特性ともに良好でありしかも非走査方向
にズレのない走査によって高品質の記録画像を得ること
のできる光ビーム走査装置を提供することを目的とする
。
し発明の構成〕
そこで本発明では前記凹面鏡の両特性のうぢf・0特性
が良好となるように当該凹面鏡と前記ポリゴンスキャナ
間の距離を設定するとともに当該設定に7…反して増大
する像面湾曲のうち特に非走査方向の正の像面湾曲と、
前記ポリゴンスキャナの回転軸に対する各偏向面の平行
度のバラツキに起因する非走査方向への走査ズレとは前
記ポリゴンスキャナと感光体間のこれら両者が共役なる
関係となる位置に設けた非走査方向にパワー有する円筒
鏡1こより補正することによってf−o特性に優れ、像
面湾曲が小さくしかも非走査方向にズレのない走査を可
能にしている。
が良好となるように当該凹面鏡と前記ポリゴンスキャナ
間の距離を設定するとともに当該設定に7…反して増大
する像面湾曲のうち特に非走査方向の正の像面湾曲と、
前記ポリゴンスキャナの回転軸に対する各偏向面の平行
度のバラツキに起因する非走査方向への走査ズレとは前
記ポリゴンスキャナと感光体間のこれら両者が共役なる
関係となる位置に設けた非走査方向にパワー有する円筒
鏡1こより補正することによってf−o特性に優れ、像
面湾曲が小さくしかも非走査方向にズレのない走査を可
能にしている。
以下本発明の実施例を添伺図面にもとづいて詳細に説明
する。第2図は本発明の一実施例を示す光ビーム走査装
置の斜視図であり、第1図に示した従来装置と同様の機
能を果すものについては同一の符号を符している。第2
図に於いてコリメータレンズ2とポリコンスキャナ3と
の間には、当該コリメ・−タレンズ2により平行光束化
された光ビームLl)の非走査方向へのズレ補正精度を
高めるために当該非走査方向にパワーを有する円筒レン
ズ6が設けられている。また感光体5は凹面鏡4から当
該凹面鏡4の焦点距離fにほぼ等しい距離を離間して配
置され更に当該感光体5と前記ポリゴンスキャナ3間に
は当該感光体5と前記ポリゴンスキャナ3の偏向面さが
側面光路的に観て前記凹面鏡4を挾んで互いに共役とな
る位置にやはり非走査方向にパワーを有する円筒鏡7が
配設されている。
する。第2図は本発明の一実施例を示す光ビーム走査装
置の斜視図であり、第1図に示した従来装置と同様の機
能を果すものについては同一の符号を符している。第2
図に於いてコリメータレンズ2とポリコンスキャナ3と
の間には、当該コリメ・−タレンズ2により平行光束化
された光ビームLl)の非走査方向へのズレ補正精度を
高めるために当該非走査方向にパワーを有する円筒レン
ズ6が設けられている。また感光体5は凹面鏡4から当
該凹面鏡4の焦点距離fにほぼ等しい距離を離間して配
置され更に当該感光体5と前記ポリゴンスキャナ3間に
は当該感光体5と前記ポリゴンスキャナ3の偏向面さが
側面光路的に観て前記凹面鏡4を挾んで互いに共役とな
る位置にやはり非走査方向にパワーを有する円筒鏡7が
配設されている。
係る構成tこおいて光ヒーム発生器1から射出される光
ビームLbは前記コリメータレンズ2により平行光束化
され更に前記円筒レンズ6により非走査方向へのズレ補
正がなされてポリゴンスキャナ3の1偏向面に入射する
。このポリコンスキャナ3で;ま図示しないモータ等に
よる多面走査鏡の回転に応じ各偏向回毎に前記光ビーム
Lbを等角速度的lこ偏向しこれを凹面鏡4に入射さぜ
る。ここで崩該凹面鏡4はこの入射した光ビームLbを
前記円筒鏡7を介して感光体5上に光点として集束させ
るとともに上述したf・0特性により前記ポリコンスキ
ャナ3による等角速度的な偏向に応じ当該光点が前記感
光体5上を等速度で移動するように走査する。一般に前
記凹面鏡4に最良のf・0特性を与えるためには当該凹
面鏡4の焦点距離fに対し前記ポリゴンスキャナ3の偏
向面が当該凹面@4から0.5fだけ離間されるように
配設すれば良く本発明では係る条件により前記ポリゴン
スキャナ3を配置した。
ビームLbは前記コリメータレンズ2により平行光束化
され更に前記円筒レンズ6により非走査方向へのズレ補
正がなされてポリゴンスキャナ3の1偏向面に入射する
。このポリコンスキャナ3で;ま図示しないモータ等に
よる多面走査鏡の回転に応じ各偏向回毎に前記光ビーム
Lbを等角速度的lこ偏向しこれを凹面鏡4に入射さぜ
る。ここで崩該凹面鏡4はこの入射した光ビームLbを
前記円筒鏡7を介して感光体5上に光点として集束させ
るとともに上述したf・0特性により前記ポリコンスキ
ャナ3による等角速度的な偏向に応じ当該光点が前記感
光体5上を等速度で移動するように走査する。一般に前
記凹面鏡4に最良のf・0特性を与えるためには当該凹
面鏡4の焦点距離fに対し前記ポリゴンスキャナ3の偏
向面が当該凹面@4から0.5fだけ離間されるように
配設すれば良く本発明では係る条件により前記ポリゴン
スキャナ3を配置した。
このとき前記光ビームLbは上述したf−o特性の最良
設定に相反して前記感光体5上で非点収差を持ち走査方
向の像面湾曲は負・、非走査方向の像面湾曲は正さなる
。このうち上記非走査方向の正の像面湾曲は前記凹面鏡
イと感光体5間の光路中に設けた非走査方向にパワーを
持つ円筒鏡7により補正されて当該感光体5上に結像さ
れる。またこの円筒鏡7は上述の陵、明と第3図(a)
および(1))に概念的に示す当該光ビーム走査装置の
側面展開図および平面展開図からも明らかであるように
前記ポリゴンスキャナ3の偏向面と感光体5間に当該両
者が共役関係を有するべく配設されており、上述した如
く当該ポリゴンスキャナ3の回転軸に対する偏向面の平
行度のバラツキによって非走査方向へのズレが生じた光
ビームI4.)およびLb2ともに同図(b)に示す如
くその非走査方向へのズレが補正されそれぞれ実線光路
および点線光路を通り前記感光体5上の同一走査線上に
集束される。
設定に相反して前記感光体5上で非点収差を持ち走査方
向の像面湾曲は負・、非走査方向の像面湾曲は正さなる
。このうち上記非走査方向の正の像面湾曲は前記凹面鏡
イと感光体5間の光路中に設けた非走査方向にパワーを
持つ円筒鏡7により補正されて当該感光体5上に結像さ
れる。またこの円筒鏡7は上述の陵、明と第3図(a)
および(1))に概念的に示す当該光ビーム走査装置の
側面展開図および平面展開図からも明らかであるように
前記ポリゴンスキャナ3の偏向面と感光体5間に当該両
者が共役関係を有するべく配設されており、上述した如
く当該ポリゴンスキャナ3の回転軸に対する偏向面の平
行度のバラツキによって非走査方向へのズレが生じた光
ビームI4.)およびLb2ともに同図(b)に示す如
くその非走査方向へのズレが補正されそれぞれ実線光路
および点線光路を通り前記感光体5上の同一走査線上に
集束される。
一方、このような構成によっても前記凹面鏡4のf−o
特性を最良にしたときに生ずる走査方向における負の像
面湾曲は残されるがこれは前記光f 5 ’ A発生、
と、21.−。アユ・2間。距離お、:′□ よrJa
、l !J i −1’ tzyX 2よ、15 ))
、、78、.13間の距離を微調整し焦点位置を適宜
に移動することにより印字品質に支障のないような極小
状態に丈で補正することができる。
特性を最良にしたときに生ずる走査方向における負の像
面湾曲は残されるがこれは前記光f 5 ’ A発生、
と、21.−。アユ・2間。距離お、:′□ よrJa
、l !J i −1’ tzyX 2よ、15 ))
、、78、.13間の距離を微調整し焦点位置を適宜
に移動することにより印字品質に支障のないような極小
状態に丈で補正することができる。
尚、本実施例においてはポリゴンスキャナ3をその偏向
面が凹面鏡4から0.5fの離間距離となるように配置
しf、o特性を最良に設定した時に印字品質が向上され
る様子を説明したが、更に本発明の種々の実験結果によ
って前記ポリゴンスキャナ3の偏向面の前記凹面鏡4か
らの離間距離を0.25 f〜0.7f内tこ保っよう
にすれば必ずしもf・0特性が最良でなくとも実用に充
分な印字品質を確保できることを確認した。また第2図
において前記ポリゴンスキャナ3の偏向面と感光体5と
の共役関係が維持でき、当該ポリゴンスキャナ3と凹面
鏡4間の距離を上述した0、25f〜0.75fの離間
距離内に保つことができれば前記凹面鏡4と円筒鏡7と
を入換配置しても上記同様の効果が期待できる。
面が凹面鏡4から0.5fの離間距離となるように配置
しf、o特性を最良に設定した時に印字品質が向上され
る様子を説明したが、更に本発明の種々の実験結果によ
って前記ポリゴンスキャナ3の偏向面の前記凹面鏡4か
らの離間距離を0.25 f〜0.7f内tこ保っよう
にすれば必ずしもf・0特性が最良でなくとも実用に充
分な印字品質を確保できることを確認した。また第2図
において前記ポリゴンスキャナ3の偏向面と感光体5と
の共役関係が維持でき、当該ポリゴンスキャナ3と凹面
鏡4間の距離を上述した0、25f〜0.75fの離間
距離内に保つことができれば前記凹面鏡4と円筒鏡7と
を入換配置しても上記同様の効果が期待できる。
以上説明したように本発明の元ビーム走査装置によれは
、前記凹面鏡のf−o特性を良好に保ったうえでポリゴ
ンスキャナと感光体間に当該両者が共役関係となるよう
に設けた非走査方向にパワーを持つ円筒鏡により非走査
方向の正の像面湾曲および走査のズレを補正するように
したため極めて簡単な構成によりf・0特性に優れ像面
湾曲か小さくしかも非走査方向にズレのない走査を行う
ことができもって印字品質の大幅な向上に寄与できるさ
いう優れた効果を奏する。
、前記凹面鏡のf−o特性を良好に保ったうえでポリゴ
ンスキャナと感光体間に当該両者が共役関係となるよう
に設けた非走査方向にパワーを持つ円筒鏡により非走査
方向の正の像面湾曲および走査のズレを補正するように
したため極めて簡単な構成によりf・0特性に優れ像面
湾曲か小さくしかも非走査方向にズレのない走査を行う
ことができもって印字品質の大幅な向上に寄与できるさ
いう優れた効果を奏する。
第1図は従来の光ヒーム走査装置の構成を示す斜視図、
第2図は本発明の光ビーム走査装置の一実施例を示す斜
視図、第3図(a)および(1))はそれぞれ本発明の
光ビーム走査装置の側面展開図および平面展開図を概念
的ζこ示したものである。 ■ 光ビーム発生器、2・・コリメータレンズ、3・ポ
リゴンスキャナ、4・・凹面鏡、5−感光体、6・円筒
レンズ、7・円筒鏡、Lb、Lbl、Lb2゜光ビーム 第2図 4 第3図
第2図は本発明の光ビーム走査装置の一実施例を示す斜
視図、第3図(a)および(1))はそれぞれ本発明の
光ビーム走査装置の側面展開図および平面展開図を概念
的ζこ示したものである。 ■ 光ビーム発生器、2・・コリメータレンズ、3・ポ
リゴンスキャナ、4・・凹面鏡、5−感光体、6・円筒
レンズ、7・円筒鏡、Lb、Lbl、Lb2゜光ビーム 第2図 4 第3図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1ン 光ビームを偏向する手段と、該偏向された光ビ
ームを走査面上屹集束するとともに前記偏向に応じて当
該走査面上を等速度で走査する凹面鏡とを少なくとも具
えた元ビーム走査装置において、前記偏向手段と前記走
査面間の当該両者が互いに共役関係を有する位置に非走
査方向にパワーを有する円筒鏡を配設したことを特徴と
する光ビーム走査装置。 (2)前記偏向手段は前記凹面鏡の焦点距離をfとする
とき当該凹面鏡から0.25f〜0.75fの離間距離
内に配設されることを特徴とする特許請求の範囲第(1
)項記載の光ヒーム走査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59114046A JPS60257417A (ja) | 1984-06-04 | 1984-06-04 | 光ビ−ム走査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59114046A JPS60257417A (ja) | 1984-06-04 | 1984-06-04 | 光ビ−ム走査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60257417A true JPS60257417A (ja) | 1985-12-19 |
Family
ID=14627672
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59114046A Pending JPS60257417A (ja) | 1984-06-04 | 1984-06-04 | 光ビ−ム走査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60257417A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01500777A (ja) * | 1986-03-21 | 1989-03-16 | イーストマン・コダック・カンパニー | 高解像度光学スキャナ |
JPH01188820A (ja) * | 1988-01-25 | 1989-07-28 | Tokyo Electric Co Ltd | 光偏向器 |
JPH0284612A (ja) * | 1988-07-15 | 1990-03-26 | Philips Gloeilampenfab:Nv | 光学式走査装置 |
US5751464A (en) * | 1995-02-20 | 1998-05-12 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical scanner, image forming apparatus and image reading apparatus |
US6504639B1 (en) | 1999-09-29 | 2003-01-07 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical scanner |
JP2007041513A (ja) * | 2005-08-02 | 2007-02-15 | Toshiba Corp | 光走査装置 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS522783A (en) * | 1975-06-25 | 1977-01-10 | Yaskawa Electric Mfg Co Ltd | Defect detecting device |
JPS5227646A (en) * | 1975-08-27 | 1977-03-02 | Hitachi Ltd | Optical device |
JPS5814004A (ja) * | 1981-07-17 | 1983-01-26 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | レ−ザビ−ム走査方法 |
JPS5872120A (ja) * | 1981-10-23 | 1983-04-30 | Ricoh Co Ltd | 走査光学系 |
-
1984
- 1984-06-04 JP JP59114046A patent/JPS60257417A/ja active Pending
Patent Citations (4)
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JPS522783A (en) * | 1975-06-25 | 1977-01-10 | Yaskawa Electric Mfg Co Ltd | Defect detecting device |
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Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH01500777A (ja) * | 1986-03-21 | 1989-03-16 | イーストマン・コダック・カンパニー | 高解像度光学スキャナ |
JPH01188820A (ja) * | 1988-01-25 | 1989-07-28 | Tokyo Electric Co Ltd | 光偏向器 |
JPH0284612A (ja) * | 1988-07-15 | 1990-03-26 | Philips Gloeilampenfab:Nv | 光学式走査装置 |
US5751464A (en) * | 1995-02-20 | 1998-05-12 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical scanner, image forming apparatus and image reading apparatus |
US5801869A (en) * | 1995-02-20 | 1998-09-01 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical scanner, image forming apparatus and image reading apparatus |
US6504639B1 (en) | 1999-09-29 | 2003-01-07 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical scanner |
JP2007041513A (ja) * | 2005-08-02 | 2007-02-15 | Toshiba Corp | 光走査装置 |
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