JPS5948160A - 印刷物の走行位置補正方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 印刷物を走行状態のままで印刷の良否判定を行なうため
の検査工程において、印刷物と搬送装置との間で発生す
るずれによる誤動作を補正する方法に関する。

画像信号処理技術が一般化するにつれて印刷物の検査に
もこのような技法を採り入れ、それにより１般送中の印
刷物を走行状態の土まで止確処、しかも高速で検査する
ことができる走行印刷物の検査装置が広（用いられるよ
うになってきたＯそして、このような検査装置の一例と
して、従来から第１図１示す装置が知られている。

図において、１は被検査印刷物（検査対象物）。

２はコンベア，３は送りローラ，４はパルス発生器，５
は光学センサ，６はパターン検査装置，１はエッジ検出
器，８はアドレス発生回路である。

被検査印刷物１はコンベア２によって矢印方向に搬送さ
れ、エツジ検出器７と光学センサ５の下を通過してから
次の工程に送られるようになっている。

パルス発生器４はコンベア２の送りローラ３に設けられ
たロータリーエンコーダなどがらなり、このローラ３の
回転に応じてパルス信号ｂを発生する働きをする。従っ
て、このパルス信号ｂはコンベア２０走行距離に比例し
た数のパルスとなる。

光学センサ５は被検査印刷物１の表面に施こされている
印刷パターンを検出し、それに応じたレベルの検出信号
ａを発生する働きをする。

パターン検査装置６は光学センサ５からの検出信号ａを
アドレス発生回路８からのアドレスｄに従って区分しな
がら取り込み、パターンとして処理するＤぞして、この
パターンを予め６１シ憶しである標準パターンの対応す
る区分のパターンと１１次比較し、両者の一致、不一致
により被検査印刷物１の印刷の良否側５〆を行なう働き
をする。

エツジ検出器γは被検査印刷物６の搬送方向の前方にあ
る端部を例えば光学的に検出し、エツジ信号Ｃを発生す
る働きをする。

アドレス発生回路８はパルス信号ｂ’＞カウント入力と
し、エツジ信号Ｃをリセット人力とするカウンタなどを
備え、エツジ検出器ｌにより被検査印刷物１の’ｉ４＋
Ｔ端が検出されたあとのパルス信号ｂをカウントするこ
とにより印刷物１０位１ｈ：を表わすアドレスｄを発生
する働きをーｊ−る〇従って、この検査軸−１によ２ｔ
は、被検査印刷物１がかなり高速で走行していても、そ
のままで検査を行ｙｚ　５ことができる。

ところで、この第１図に示した従来の検査装置において
は、被検査印刷物１とコンベア２との間、或いはコンベ
ア２と送りローラ３との間などにスリップを生じると、
搬送中の被検査印刷物１０位館とパルス発生器４から発
生さ扛るパルス信号ｂのパルス数とが対応しｌよ（ｌよ
つ、アドレスｄ［誤差を生じ、この結果、検査積度の低
下や倶動作を生じ易くなるといり欠点があった。

こｎを第２図，第３図及び第４図で説明する。

まず、被検査印刷物１から光学センサ５によって読取っ
た検出信号ａが第２図Ｕ）のようになっていたとし、こ
れに対応してパルス発生器４から発生されているパルス
信号ｂは同図（口）に示すようＫなり、この結果、アド
レスｄは同図に）に示すような関係になっていたとする
。

しかして、このとき、被検査印刷物１の前端がエツジ検
出器Ｉで検出さ牡たあとで被検査印刷物１とコンベア２
の間で、或いはコンベア２と送り四−ラ３の間でスリッ
プを生じ、こｔによりパルス発生器４から発生されてい
るパルス信号ｂに位相ずｎを生じて第２図（ハ）に示す
パルス信号ｂ′のようになったとする。そうすると、ア
ドレスｄも同図（ホ）にｄ′で示すようになり、同図Ｈ
）に示した検出信号ａとの相対位散が変化してしまう。

一方、既に説明したように、この第１図の検査装置では
、検出信号ａをアドレスｄＫ征って区分し、対応すく）
標準パターンの同じ１区分ごとに比較して良否判にを行
なっているのであるから、第２図（イ）に示す検出信号
ａに対して同図に）に示すよう１、Ｃ正しいアドレスｄ
が対応し、たときに始めて正確な動作が期待できるので
あり、こオ′シが同図０９に示すようＶＣずれたのでは
動作が不正確になったり、誤動作を生じるようにＩＬつ
たりしてしまうのであるＯ これを８１′！３図によって更に詳しく説明ｊる。

いま、パターン検査装置６によるデータの取り込みをア
ドレスｄによって区分されたパターンの前端で検出信号
ａを゛サンプリングして行なうようになっていたとする
。そして、第：３図に示すような検出信号ａに対してア
ドレスｄが対応していたとすれば、アドレスｄがｎの区
分で取り込まｎるデータは１、ｎｉｌの区分でのデータ
は９、ＩＩ　＋２では同じ（９と１求ろ。

従って、パターン検査装置６に記憶しである標準パター
ンによるデータも当然、区分ｎでは１．１＋ｌでは９、
ｎ＋２でも９となっている。

ここで、被検査印刷物１がスリップするなどしてアドレ
スｄがｄ′のようにずれたとすれば、同じ検出信号ａに
対してアドレスｄ′による区分ｎでのデータは４、ｎｉ
ｌでは９、ｎ＋２では８となり、このときＫは被検査印
刷物１からのデータと標準パターンのデータとに不一致
を生じ、被検査印刷物１の印刷パターンに誤りがないの
にもかかわらず、不良と判定されてしまうことＫなるＯ
なお、第２図においては、アドレスｄとｄ′の間に１区
分の長さのＨのずれを生じた場合を示し、同じ（第３図
では％のずれを生じた場合につ（・て示したが、実際に
生じるずれの大きさは極めて不規則で、かつ量的なバラ
ツキもかなり大曇なものを示すのが一般的であり、いず
れの場合でも検査性能の低下や誤動作の原因となるのは
いうまでもない。

次に、第４図は検出信号ａを］（ターンの各区分範囲ご
とに積分し、この積分値を各区分ごとのデータとして取
り込むようにした場合について示したもので、検出信号
ａに対して正しいアドレスｄＫよろ区分ｎでのデータは
０．５、ｎｉｌでは１．０、ｎ＋２では０．８になる。

しかして、ずれを生じたときのアドレスｄ′による区分
ｎでは０．６８、ｎｉｌでは１．０、ｎ＋２では０．６
９となり、この場合には検出信号ａの傾斜の大きなとこ
ろでデータの差が太き（なるっこの第４図の場合には、
区分ｎにおける誤差が一番大きり１．ｒ、す、全振幅に
対して約１８％の誤差となっている。また、この場合に
は、区分ｎから明らかなよ５に、積分値０．５が真の値
である場合、位置ずれの割合（１区分に対するパーセン
テージ）と、積分値の誤差の割合（最大値を１．０とし
たときの真値との差のパーセンテージ）とは、誤差があ
まり大きくならない範囲ではほぼ係数１の比例状態とな
っている。

従って、第１図に示した従来の検査装置６：では、被検
査印刷物１によるデータと標準パターンによるデータと
の差が１．５４以上になったとき不良判定を行なうよう
に設定されていたどすれば、第３図、第４図いずれの場
合にも区分ｎで誤動作してしまうことになる。

なお、第４図の場合、光学センサ５の被検査印刷物１の
搬送方向における視野長と、各区分の長さ、つまりデー
タサンプリング長とが等しい場合には、光学センサ５か
ら出力される検出信号ａがそのままで各区分ごとの積分
値となるから、特別な信号処理は不要である０ ところで、この第１因に示すような検査装置の欠点を除
（目的で、従来からパターン検査装置の、データ取り込
み用光学センサの解像力を低下させることに依って、位
置ずｒしに対する感度を減少させる方法（特公昭５５−
４５９４９　）や、標本ノくターンと試料パターンを比
較する際に、試料ノくターンの一区分と、この区分に対
応する標本ノくターンの区分の、周辺の複数の区分とを
比較し、データ内容が一致する区分が、上記複数の区分
内に含まれていれば王宮であると判断することに依って
、位置ずれに対して一種の許容値を設けろ方法（特公昭
５５−４５９４８．５５−４５９４９　）　７よどが提
案されている。

しか′して、こ′れら提案されている方法によＩｔ、げ
、とＫかく上記した位圓ずれによる検査の誤判定は少な
くすることができるものの、同時に検査精度の低下を伴
ｌよい、検査すべき印刷パターンの微小欠陥や、正常な
パターンに類似した異常パターンを見逃す傾向が強くな
ってしまうという欠点があった。

本発明の目的は、上記した従来技術の欠点を除き、検出
装置の検出精度を低下させることな（、位置ずれによる
誤動作の発生を充分に抑えることができるようにした印
刷物の走行位置補正方法を提供することにある。

この目的を達成するため、本発明は、被検査印刷物の印
刷パターンを利用し、エツジ信号検出後、上記印刷パタ
ーンの特徴部分を検出して検査動作中に少なくとも１回
、アドレスを正しい値に補正ｊろようにした点を特徴と
する。

以下、本発明による印刷物の走行位置補正方法を実施例
によって説明する。

第５図は本発明の一実施例を示″′ｆ概略構成図で、第
１図に示した従来例と同一もしくは同等の部分には同じ
符号を付してあり、さらに、９は基準検出器、１０はア
ドレス補正回路であり、なお、Ｘは被検査印刷物１の印
刷パターン中に存在Ｊる絵柄のうちで特に選定した少な
（とも１つの絵柄部分χ表わし、Ｘはそれらによる補正
基準位置を表わしたものである。

基準検出器９は絵柄部分Ｘを検出し、補正基準位置Ｘが
基準検出器９の直下を通過したタイミングで基準信号ｅ
を発生する働きをｊる。

アドレス補正回路１０は第１図の従来例におけるアドレ
ス発生回路８と同様に、パルス発生器４からのパルス信
号すと、エツジ検出器７からのエツジ信号Ｃによってア
ドレスｄを発生する働きをすると共に、検査すべき印刷
パターン中に選定した絵柄部分Ｘの基準位置ｘＫ対応し
たアドレスを予め記憶しておき、基準検出器９から基準
信号ｅが供給されたときに対応したアドレスを読出し、
そｎによりアドレスｄを置換えてアドレスｄ“を発生す
る働きをするＤ 次に、この実施例の動作を第６図によって説明する。

この＠６図において、（ロ）は印刷物１を搬送方向圧引
延ばして示したもので、その一部に予め選定ｌ〜である
絵柄部分Ｘを有し、その他の印刷パターンは省略しであ
る。そして、アドレス補正回路１０のメモリには、この
絵柄部分Ｘの前端部を基準位１Ｍ、Ｘとし、そ扛に対応
してアドレスｄで表わされている区分の番号ｎ＋２を記
憶しである。なお、この絵柄部分Ｘとしては、印刷パタ
ーンの中で他の絵柄部分から容易に識別して検出し得る
よりな、例えば濃度が太き（変化している部分などを予
め選定し、基準検出器９により他の絵柄部分から分離し
て當に確実に検出し得るような絵柄部分に選戻してお（
必ν〕があるのはいうまでもない。

いま、第６図（イ）に示すよう１工バルス信号すに対し
て印刷物１の位置が同図（ロ）に示すような対応関係に
あり、この結果、アドレスｄは同図（ハ）に示すように
対応し、この関係が保たれたままで検査が行なわれたと
する。

そうすると、基準検出器９により絵柄部分Ｘが検出され
、基準位置Ｘで基準信号ｅが発生ｆると、この時点でア
ドレス補正回路１０はメモリから区分１＋２を表わすア
ドレスを読出し、それによりアドレスｄのその時点にお
けるアドレスの値を酸換える動作を行なう。しかし１よ
がら、このときには、アドレスｄの値は区分ｎ＋２を表
わすものとなっているから、これを置換えても見掛は上
は何らの変化をも生ぜず、アドレスｄＫよる検査が引続
いて行なわれるだけとなっている。

しかして、次に、印刷物１と送りローラ３との間でスリ
ップを生じ、印刷物１の位置とパルス発生器４によるパ
ルス信号すとにずれが発生し、そのため第６図（ハ）に
示すような関係にあったアドレスｄが同図に）に示すア
ドレスｄ′のようになったとする。なお、この第５図の
実施例では印刷物１を送りローラ３で直接搬送するよう
になっているが、上記したずれの発生については第１図
の従来例と同じであることはいうまでもな（・。

そうすると、このときには、第６図（ロ）、（ハ）に示
すように、本来、印刷物１に対してアドレスｄの関係が
保たれているべきなのに同図に）Ｋ示すような関係のア
ドレスｄ′によって検査が行１より第１．て１−ま５た
め、ル１ル〃作を生じるようになってしまうが、やがて
絵柄部分Ｘが基準検出器９によって検出さ号口＋２を表
わすアドレス値がメモリから読出され、それにより、こ
のときのアドレス（１′の値を置換える動作が行なわれ
るため、結局、この実施例ではアドレス補正回路１０か
らパターン検査装い′６に入力されるアドレスは第６図
（ホ）に示すアドレスｄ“となり、たとえ上記したず扛
を生じても絵柄部分Ｘが検出された時点で正しいアドレ
スｄに補正されてしまうため、誤動作の発生を充分に抑
えることができることになる。

なお、このとき、第５図に示１よ５に絵柄部分Ｘを印刷
物１の搬送方向に沿って１個以上選短しておき、それぞ
れに対応したアドレスを記憶しておいて、これらを絵柄
部分Ｘが検出されるごと罠順番に読出して上記したアド
レスの置換えを行なうようにすれば、第６図の０１と（
ホ）におけるアドレスｄとｄ″とのずれがさらに短かい
期間で１１１次行なわれるから、はとんどずれを生じＩ
Ｌいようにすることができ、誤動作の発生は実用上はと
んど完全に抑えることができる、 ところで、上記したように、絵柄部分Ｘとしては、印刷
パターンの絵柄の中から基準検出器９によって、仙の絵
柄部分とは明瞭に区別して検出可能な絵柄部分を選定す
る必要があるため、それによる基準位置ｘが第６図に示
すように区分と区分の境界線に丁度一致するものを選定
することは必ずしも容易ではない。

従って、実用上は、第７図に示すように、絵柄部分Ｘと
してその基準位置Ｘが区分と区分の境界線と一致してい
ないものを選定せざるを得ない場合が多い。なお、この
第７図の０）〜（ホ）は第６図の（イ）〜（ホ）と同じ
である。

しかして、−この場合には、第７図から明らかなように
、絵柄部分Ｘの基準位置Ｘが検出されたタイミングでア
ドレスｄ′の区分ｎ　＋ｌカ区分ｎ＋２で置換されるた
め、補正されたアドレスｄ′にはｙで示した誤差が残っ
て完全な補正が得られなくなってしまう。そして、この
残留誤差ｙの最大値は区分の長さに等しく７ヨっている
。

一方、この区分の長さは、パターン検査装置６における
データの取り込み能力やメモリ容量などに！、９制限を
受け、位置補正圧必要な精度の面だけから短かくするの
は困難である。

そこで、この区分の長さを短かくしないで上記した位置
補正に生じる残留誤差を充分に少な（するようＫした実
施例を第８図に示す。

この実施例の場合−は、まず、パルス発生器４（第５図
）として送りローラ３が１回転するごとに発生するパル
ス数の多いものを用い、第８図（イ）に示すようなパル
ス信号すが得られるようにする。

そして、このパルス信号すを入力とするカウンタを用い
、同図（ロ）に示すパルス信号ｂ′を得、このパルス信
号ｂ’により同図（ホ）に示すアドレスｄを発生するよ
うにしている。従って、この第８図（ロ）に示すパルス
信号ｂ′が第６図及び第７図の（イ）Ｋ示したパルス信
号すに相当するものとなっている。ｌヨお、このとき、
送りローラ３が一定角度回転したときに得られるパルス
信号すとｂ′のパルス数の関係は整数比をなすようにし
、図の場合にはその比が８に設定しである。

従って、この実施例においては、被検査印刷物６が走行
するにつれて第８図に）に示すようにパルス信号ｂ（同
図（イ））のカウント値ｆが増加し、このカウント値ｆ
の所定カウントごとに（この場合には８カウントごとに
）アドレスｄＫよる区分の数が同図（ホ）に示すように
発生させられ、これを基にして検査が行なわｔてゆくこ
とＫなる。

一方、予め選定した絵柄部分Ｘに対しては、その基準位
置Ｘに対応して、そのときの区分の数値ｎ＋２をメモリ
に記憶するのではな（て、パルス信号すのカウント値ｆ
の数値ｍ＋１９をメモリに記憶しておき、これに加えて
、基準検出器９（第５肉）が絵柄部分Ｘを検出して基準
位置Ｘで基準信号ｅが発生したときにはメモリから読出
した数値によりカウント値ｆが置換されるようにしてお
く。

そうすると、被検査印刷物６の搬送にずれを生じ、印刷
物６に対してカウント値ｆとアドレスｄが第８図の（ハ
）、に）、（ホ）に示すような関係にあるべきものが、
同図（へ）、（ト）に示すカウント値ｆ′とアドレスｄ
′のよ５に変化し、検査に誤動作を生じるようになるが
、絵柄部分Ｘの基準位＠Ｘが検出されると、このタイミ
ングでカウント値ｆ’　％＠　ｒｎ　＋　１ｇに置換さ
れ、第８図σ）のカウント値ｆ“で示したようになる。

これによりアドレスｄも同図（男に示したよ５　Ｋ変化
し、この基準位置Ｘでアドレスｄに等しい区分ｎ＋２に
補正さオしてしまうことになり、誤動作のなし・正しい
検査を行なうことができる。

そして、このとき、第８図から明らかなよ５に、アドレ
スｄ′からアドレスｄ“への変化は、区分単位で行なわ
れるのではな（て、カウント値ｆの数値即位で行プＬわ
れるため、絵柄部分Ｘの基準位置Ｘが区分と区分の境界
線と一致していないことによる残留誤差はパルス信号す
とｂ′との整数比分の−に減少（この場合には％）する
ことになり、充分な精度を保った位置補正を行なうこと
ができることになる。

次に、第５図の実施例による第６図及び第７図に示した
動作をさらに詳しく説明する。

既に１簡単に説明したように、光学センサ５は被検査印
刷物１かもの反射光、又は透過光を受光し、受光量に比
例した信号ａを出力し、パターン検査装置６はこの信号
ａを標準パターン又は被検査パターンとして入力する。

また、パルス発生器４は送りローラ３０回転に伴なって
パルス信号すを発生するから、このパルス信号すは被検
査印刷物１の搬送量に比例したパルス数を有するものと
なっている。

従って、エツジ検出器７（例えば、ビームスイッチなど
からなるもの）によって、被検査印刷物１の前端を検出
した時点から、パルス発生器４の出力すをカウンタにて
計数すれば、上記前端を検出した時点、即ち、被検査印
刷物１がエツジ検出器Ｉの直Ｔ［ある時点での６７置を
零として、被検査印刷物１の前端の相対位置を決定する
ことかできる。

また、この被検査印刷物１の前端の相対位置を示す計数
イ１４は、被検査印刷物１をその搬送方向に沿って細か
（区分し、番地付けした時の番地に相等し７、上記割数
値によってエツジ検出器７の直下に、被検査印刷物１の
どの部位、即ち、何番目の区分があるかを知ることがで
きる。

この割数値を、アドレスｄとして、パターン検査装置６
に出力すれば、パターン検査装置６は光学センサ５から
の信号ａを、細かく区分したパターンとして処理するこ
とができる。なお、このとき、パルス発生器４の出力信
号すの割数値にゴ、ツジ検出器７と光学セン世５の間の
距離に相当するパルス数を差し引き、アドレスｄとする
ような簡単な処理を施せば、被検査印刷物１が、光学セ
ンサ５の直下を通ｊすした時点のアドレスｄの値を零番
地とすることができる。

ここで、まず、標準的な印刷物を用意し、そ２ｔを搬送
させることによりパターン検査装置６が、標準パターン
（基準データ）を上記アドレスｄの区分に従って光学セ
ンサ５から入力し、メモリに記憶したものとする。

次に、被検査パターン（被検査データ）を同様に光学セ
ンサ５より入力し、被検査パターンの各区分と、メモリ
に記憶しである標準パターンの対応する区分とを順次比
較して、パターン検査を行プ【５のであるが、ここで、
被検査印刷物１と搬送装置の間にスリップなどにより位
置ずれが生ずると、第２図、第３図それに第４図で説明
したようにパターン検査装置６では、標準パターンと被
検査パターンの真に７１応じた区分を比較できなくなり
、位置ず牡によって、標準パターンと被検査パターンと
で異１ぶった部分の情報が入っている区分どうしを比較
し又、パターン検査装置６は誤判定をしＣＡ、！、　５
ことになる。

そこで、この第５図に示す実施例では、被検査印刷物界
面に施こされている印刷パターンの濃度変化の大きい特
定の絵柄部分Ｘを、この位置ず牡を補ｊＦする為の補正
基準点に選び、この補正基準点を検出する為の基準検出
器９（例えば、ビームスイッチなどからなるもの）を有
し、これをエツジ検出器γＫ　７１　ｔ、て被検査印刷
物１の搬送方向と直角の方向に掃身て設置しておく。

ここで、前述のように、正常ブイハターンを不する標準
的な印刷物を搬送させ、その印刷物の前端をエツジ検出
器７で検出し、アドレス補正回路１０は、エツジ検出信
号Ｃを入力した時点から、パルス発生器４の出力パルス
信号すの言１萎夕を内蔵するカウンタによって開始する
。

四時傾、アドレス補正回路１０は、上記カウンタのパル
ス計数値からアドレス（１を発生し、パターン検査装＄
６へ出力する１、 パターン検査装置６は、被検査印刷物１０前端が光学セ
ンサ５の直下を通過した時点から、光学センサ５の出力
信号ａを、アドレスｄに従って区分（２ながら標準パタ
ーン（基準デー　タ）として処理し２、パターン検査装
置、６の内部のメモリに記憶する。

この操作期間中に、基準検出器９は、少なくとも１つの
絵柄部分Ｘを検出し、基準位置Ｘごとのタイミングで基
準信号ｅを発生ずる。

アドレス補正回路１０は、基準信号ｅを入力すると、補
正基準位置Ｘの番号付けを行ｌよい、基準信号ｅを入力
した時点の上記カウンタ出力値を、補正基準位置Ｘの番
号別にアドレス補正回路１０の内蔵メモリへ標準値（真
値ンとして記憶する。

アドレス補正回路１０のカウンタは、被検査印刷物１の
後端を検出した時点、又は上記カウンタのパルス計数値
が任意に設定した値に達した時点で、出力をクリアした
状態で計数を停止するようにしても良いし、計数を停止
する代９に１上記の時点で検査終了信号をパターン検査
装置６に与え、次の被検査印刷物の前端が、エツジ検出
器Ｉに達する直前で上記カウンタがクリアされるように
しても良い。

その後、被検査印刷物１が搬送されてくると、パターン
検査装置６は、被検査パターンを入力し、パターンの比
較による検査を開始する。このとき、アドレス補正回路
１０は、被検査印刷物１の前端を検出した時点から、パ
ルス信号すのカウンタによる計数及びアドレ艮“ｄの発
生を上述した場合と同様に行なうが、基準検出器９が補
正基準位置Ｘを検出すると、既にアドレス補正回路１０
の内蔵メモリに記憶しである対応する補正基準位置の標
準値（Ｘ値）を、」二記カウンタにロードする。

従って、アドレスｄ“は、さきにパターン検査装＠６が
標準パターンを入力したときのアドレスｄの部分に修正
され、第６図又は第８図で説明したように、パターン検
査装置６は、標本パターンと試料パターンとの真に対応
する区分を比較すること蹟より、正しいパターン比較を
行なうことができる。

ところで、このような検査装置においては、上記アドレ
スの補正はいつ行なわれても良いというわけにはいかず
、パターン検査装置６によっては、一般に、アドレスが
変更されてはいけ１．Ｃい期間、即ち、アドレスが安定
していなくてはならない期間が存在する場合がある。

従って、このような場合には、補正基準位置Ｘが基準検
出器９によって検出され、パルス発生器４の出力パルス
信号すを計数しているアドレス補正回路１０に内蔵のカ
ウンタの出力が補正される時点と、パターン検査装置６
に与えるアドレスｄを補正する時点とに適切なタイミン
グをとる必要がある。

そこで、このタイミングをとる方法の一実施例を示すと
、上記パルス発生器４の出力信号すを計数するカウンタ
として、パターン検査装置６にアドレスｄを出力するカ
ウンタ（カウンタＡ）と、出力しないカウンタ（カウン
タＢ）との２系統のカウンタを設ける。

示すが、補正基準位置が検出されると、上記アドレス補
正回路１０内蔵のメモリに記憶された対応する補正基準
位置Ｘの標準値（真値）がカウンタＢのみにロードされ
、カウンタＡ、Ｂはそのままパルスの計数を続けるよう
にしてお（。

その後、パターン検査装置６が、補正基準位置Ｘを検出
する前の、アドレスｄにおける処理と、その次のアドレ
スｄに於ける処理との間の期１＃４ノ、即ち、アドレス
ｄが変史されても良い期間となった時点で、カウンタＢ
の出力値をカウンタＡにロードする。

そうすれば、この時点でカウンタＡとカウンタ１３のパ
ルス計数値は再び等しくなり、アドレスｄが補正さｎた
ことになる。

このとき、一般にパターン検査装置６は、与えられたク
ロックパルスに従って処理を開始し、一定の時間をもっ
て処理を終了する。

そこで、このようなパターン検査装置では、処理が終了
すると、次のクロックパルスを受けるまでがアドレスを
変更しても良い期間となる。

従って、アドレス補正回路１ｏでパターン検査装置ｗ、
　６　Ｋ与えるクロックパルスを元年させ、それにより
上記−足時間の遅殆をもって、カウンタＢの出力１直を
カウンタＡにロードするよプにしても良いし、パターン
検査装置６から上記補正基準位置Ｘが検出される前のア
ドレスｄに於ける処理が終了したことを知らせる信号を
発生させ、その時点で、カウンタＢの出力値をカウンタ
ＡＫロードするようにしても良い。

搬送系駆動部の走行距離に比例したパルス数を発生する
ためのロータリーエンコーダなどからなるパルス発生器
４としては、送りローラ３の１回転に対する出力パルス
数の大きいものを選択すればする程被検育印刷物１０区
分数も多（することができ、従って、＃１かいアドレス
補正、＃ＩＪち、精密な位置ずれ補正を行なうことがで
きるから、パルス発生器４０１回転当りのパルス数は、
この検査装置全体として要求される位置ずれ補正の精度
によって任意に選足す牡ばよい。なお、このとき、既に
説明したようにこのパルス数はパターン検査装［６で要
求される被検査印刷物の区分数に依っても制約を受ける
が、一般に、この区分に必要なパルス数よりも、補正に
必要なパルス数の方がはるか忙大きくなるから、このと
きには第８図で説明した方法を用いるようにすればよい
。

次に、パターン検糞装艮６が必要とするアドレスのビッ
ト数を〜１と慣れは、このビット数Ｍは、パターン検査
装置６に内蔵のメモリが要求するアドレスのビット数、
又はパターン処理に必要な被検査印刷物１０区分数（パ
ターンの区分数又は１区分の移動方向に対する長さ）に
よって決定される。

従って、アドレス補正回路１０がパターン検査装置ｉｔ
　６へ力えるアドレスｄのビット数はＭビットとなり、
パルス発生器４の出力パルス信号すを言１数するカウン
タのビット数をＮ１そしてＮ＝Ｍ＋Ａとすると、アドレ
スｄは、上記カウンタの最下位ビット（Ｌ　Ｓ　１３　
）より”β″番目から、最上位ビット（ＭＳＢ）より”
α“番目、つまり、カウンタ出力の最下位ビット（ＬＳ
Ｂ）より゛β″ビット目からｌｌＮ−ｉｔ　＋　１　＃
　ビット目までとなる。

ここで、Ｎ、Ｍ、Ａ、α、βは、α＋β−２＝Ａ＝Ｎ−
Ｍ　　、　　α≧１．β≧１１よる正の整数で、αノ値
ハ、パターン検査装置６がパターン処理に必要な、パタ
ーン（被検査印刷物１）の区分間隔によって決定さ２′
１．る。

また、Ｍの値はミパターン検査装置６が必要とするアド
レスのビット数によって決定され、同様Ｋ、Ｎ（１）値
に−Ｌ、アドレス補正回路１ｏのカウンタのビット数に
よって決定されるので、結局、β、への値は、自動的に
決定されることＫなる。

尚、アドレス補正回路１ｏのカウンタのビット数（Ｎ）
は、このカウンタがパターン検査装置摩６の検査中にパ
ルス発生器４の出力パルスｂを計数している間、オーバ
ーフローしない様妊選ぶ必要がある。

ところで、以上の実施例では、検査対象を印刷物に限定
していた。

従って、上記した補正のための基準位＠Ｘを印刷パター
ンの特定の絵柄部分Ｘに求めていた。

しかして、このため、印刷パターンによっては特定の絵
柄部分Ｘの選定が難しく、その付近から独立して充分確
実に検出可能な絵柄部分が得られない場合があり、この
ようなときには基準検出器９が予め選定しである絵柄部
分Ｘ以外の部分で動作し、基準信号ｅを検出してし才う
て誤動作を起こすＪＲれが生じるようになる。

そこで、このよ５な虞ｒしのある場合には、基準検出器
９の出力である基準信号ｅに何らかのゲートを掛け、被
検査印刷物１が搬送中、その絵柄部分Ｘの前後の所定の
範囲内でだけ基準信号ｅが取り出されるようにしてやれ
ばよい。そして、そのためには、例えば、パルス発生器
４の出カイｎ号すを開数するカウンタの出力値と、予め
上記した所定範囲忙対応して設定しておいた数値との比
較によって開閉制御さ２’Ｌるゲート回路を用意し、こ
のゲート回路を基準検出器９とアドレス補正回路１０と
の間に設けてやればよく、こｎもまた本発明の一実施例
である。

なオＪ１　このことは、エツジ検出器７についても同様
で、必要に応じ゛Ｃゲート回路を設けるようにしてやれ
ばよい。

次に、アドレス補正回路１０の具体的１よ一実施例を第
９図によって説明する。なお、この第９図にはパルス発
生器４、光学センサ５、エツジ検出器７、基準検出器９
も一緒に示してあり、それらの信号については第５肉の
実施例と同じ符号を用いている。

第９図において、２０．２１．２２はゲート回路、２３
　、２４　、２５　）−Ｊ−アップ・ダウン・カウンタ
、２６は検査開始信号発生器、２７は検査終了信号発生
器、２８は検査再開信号発生器、２９はクロック発生回
路、３０は補正データ設定回路、３Ｌ３２はラッチ回路
、３３はメモリ、３４は比較器、３５は基準ゲート設定
回路、３６はアドレス補正タイミング設定回路、３７は
補正データ照会回路である。

次に、動作について説明する。

検査動作が開始すると、パルス発生器４は送りローラ３
（第５図）の回転に応じてパルス信号すを発生し、それ
をクロック発生回路２９に供給する。

これによりクロック発生回路２９は送９０−ラ３の正方
向回転（第５図の矢印方向）と逆方向回転の判別が可能
なりロック信号Ｇ１を発生し、これをカウンタ２３，２
４．２５のカウント大刀に供給する、 を通過してアップ・ダウン・カウンタ２３に計数開始信
号ｃｂを力える（ゲート回路１６を通過したエツジ検出
信号Ｃを計数開始信号ｃｂと呼ぷ）。

すると、そｔ″Ｌまでｅ［数値”苓”のまま停止してい
たアップ・ダウンψカウンタ２３が、クロック信号Ｃ１
をＭｔ数し始める。

検査開始信号発生器２６、検査終了信号発生器２７、そ
れに検査再開信号発生器２８は、外部のデジタルスイッ
チなどによりそれぞｉｔ任意の数値をあらかじめ設定す
ることができ、アップ−ダウン・カウンタ２３の出力値
（計数値）ｃａが上記のそれぞれの設定値に達すると、
検査開始信号発生器２６からは検査開始信号りが、検査
終了信号発生器２３からは検査終了信号Ｉが、そして検
査再開信号発生器２４からは検査再開信号ｇがそ３それ
出力さｎる。

なお、上記デジタルスイッチなどによる設定値は、検査
開始信号発生器２６では、エツジ検出器７と光学センサ
５の距離、又は、これに被検査印刷物１の前端からパタ
ーン検査装置６がパターン検査を開始する部位までの、
被検査印刷物表面上の間隔（エツジのマスク部分、つま
りパターンの境界部分）を加えた距離に相当する、パル
ス発生器４の出力パルス信号すのパルス数に設定さｎ、
同様に検査終了信号発生器２７では、被検査印刷物１の
長さ、又は、被検査印刷物前端からパターン検査装置６
がパターン検査を終了する部位までの被検査印刷物表面
上の間隔に相当する、出力パルス信号すのパルス数に設
定され、同゛じく検査再開信号発生器２８では、被検査
印刷物１の前端からこの被検査印刷物の後端と、次に搬
送されてくる被検査印刷物前端の間の任意の部位までの
長さく搬送系の構造によっては時開）Ｋ相当する、出力
パルス信号すのパルス数に設定される。

さて、検査開始信号りが出力さ１すると、常にクロック
信号ｃＪ−を計数しているアップ・ダウン・カウンタ２
４．２５＋−ｔ−一旦クリア（出力を零に戻ず）され、
そ７ｔと共に、パターン検査装置６には検査開始が指令
される。従って、アップ・り゛ラン・カウンタ２４．２
５は、この後、再び零からの引数を続ける。

また、パターン検査装置６は、検査開始信号りを受ける
と、アドレスｄ”に従って光学センサ５かもの信号ａを
区分しながら入力し始めるっ一方、検査終了信号ｉが出
力されると、パターン検査装置６は検査停止を指令され
る。

そこで、パターン検査装置６は光学センサ５からの信号
ａの入力を停止し、この時点で、１個の被検査印刷物に
対するパターン処理を終了する。

さらに、検査再開信号ｇが出力されると、アップ・ダウ
ンｅカウンタ２３はクリアさｔし、計数を停止すると共
にゲート回路２１が開放さ扛る。

そこで、アップ・ダウン・カウンタ２３は、次に計数開
始信号ｃｂを受けるまでは出力値を°゛零”に保ったま
ま計数を停止し、他方、ゲート回路２１は、エツジ検出
器Ｉの出力信号Ｃを１回通過させると直ちにゲートを閉
じ、次の検査再開信号ｇを受けるまでは開放されない（
但し、電源投入時には、開放されている）。

この実施例では、アドレスｄ′（第６図）に対して位置
ずれの補正を行う為に、予め補正基準位置に対するゲー
トの設定、及び、補正基準位置の標準値（真値）のメモ
リ書き込みを、初期データの設定として行な５必要があ
る。

この補正基準位置に対するゲートを設定するには、まず
、被検査対象物表面上の補正基準位置が基準検出器９の
直前に到達した時点で、基準ゲート設定回路３５に基準
ゲート設定信号ａｃを入力する。

これにより、基準ゲート設定回路３５は、この信号ａｃ
を計数することに依り、補正基準位置に対するゲートに
番号を付け、メモリ３３に記憶命令信号ａｄを、ゲート
回路２２にゲート開放信号ｐを与える。

すると、記憶命令信号ａｄが示すメモリ３３の所定の記
憶箇所に、クロック信号ｃＪ−の計数値である、アップ
・ダウン・カウンタ２４の出力ａａが信号経路ｔを通っ
て供給され、そこにゲート位置データとしてｄ１２憶さ
才１．る。

一方、ゲート回路２２はメモリ３３への記憶が終わると
直ちに閉じ、再びゲート開放（Ｆｉｒ号ｐ５又はゲート
開放信号ｋが入力さｎるまで開放さ２ｔない。

こうして、基準補正点の数だレナ、上記のゲートの設定
が行なわれる。

なお、ゲートを設定する為援、基準ゲート設定信号ａｃ
を人力する際、基準検出器９の直下と対応する補正基準
位置との間に、基準検出器９が誤まって検出してしまう
ような絵柄部分が存在しない位置で入力する必要がある
。

この基準補正位ｈ″に対するゲートの設定がすべて終了
するまでは、補止データ照会回路３７、補正データ設定
回路３０、そ７１．にアドレス補正タイミング設定回路
３６はすべて動作を県止さ扛ている。

上記のゲートの設定がすべて終了すると、次に、補正基
準位置の標準値のメモリ書き込みを行１よ５為に、補正
データ照会回路３７及び、補正データ設定回路３０が動
作を許さｎ、同時に基準ゲート股足回路３５は動作を禁
止される。

なお、この標準値訃き込みの間も、アドレス補正タイミ
ング設定回路３６は動作を禁止されている為、アップ・
ダウン・カウンタ２４と２５の出力ａａ及びｄｎは、常
に等しい値となっている。

エツジ検出器Ｔが被検査印刷物の前端を検出し、計数開
始信号ｃｂが補正データ照会回路３７に力えられると、
データ照会信号ａｆがメモリ３３に力えらｔ、メモリ３
３からは先に設定した、１個目の補正基準位置に対する
ゲート位置データが経路Ｕを経てラッチ回路３２に出力
される。

同時に、ラッチ回路３２はデータ・ロード信号ｊを受け
、上記のデータを次に再びデータ・ロード信号ｊを受け
るまで出力ｒに保持する。

アップ・ダウン書カウンタ２５の出力ｄｎがラッチ回路
３２の出力ｒと等しくなると、比較器３４はゲート開放
信号１を出力し、ゲート回路２０を開放する。

ここで、基準検出器９が補正基準位置を検出すると、基
準信号ｅがゲー　ト回路２０を通過し、基準検出信号ｅ
；Ｉが補正データＩＩＣ’会回路３７、及び補正データ
設定回路３０に与えられる（ゲート回路２０を通過した
基準信号ｅを基準検出信号ｅａと叶ぶ）。

ゲート回路２０は基準検出イイ号ｅを通過させると直ち
に閉じ、次に再びゲート開放信号ｌを受けるまでは開放
しない。

補正データ設定回路３０は、基準検出信号ｅａを受ける
と記憶命令１６号ａｅ及び、ゲート開放信号ｋを出力す
る。すると、アップ・ダウン拳カウンタ２４の出力ａａ
がゲート回路２２を通Ｊ）　Ｌ、経路ｔを経てデータ照
会信号ｓｆが示す、メモリ３３内の所定のＨ１シ憶箇所
へ送られ、そオ（が補正基準位１ｈ゛の標準値（ＪＣ値
）として記憶される。、このゲート回路２２はメモリ３
３への記憶が終わると直ちに閉じ、次に再びゲート開放
信号ｋを受けるまで開放さｎない。

補正データ照会回路３Ｔは基準検出信号ｅａを同時に受
け、データ照会信号ａｆ及びデータロード信号ｊを出力
し、メモリ３３よりラッチ回路３２へ、今度は２番目の
補正基準位置に対応するゲート位置データを出力する。

このようにして、補正基準位置の数だけ、補正基準位置
の標準値のメモリ書き込み、及び、次の補正基準点に対
応するゲート位置データの読み出しを繰り返し、これに
より補正基準位置の標準値の設定を終了する。

なお、実際には、信号ｊ及び信号訂が信号ａｅなどと競
合しない様に、補正データ照会回路３Ｔは基準検出信号
ｅａを受けてから、出力信号ｊ　、　ａｆを発生するま
でに、公知の方法を用いて適切な時間間隔を置く必要が
ある。

上記の、補正基準位置の標準値の設定は、パターン検査
装置６が、光学センサ５からの信号ａを、標準パターン
（基準データ）として入力している期間に行なわれる。

こプして、補正基準位置に対するゲートの設定及び標準
値の設定、即ち初期データの設定が終了すると、補正デ
ータ設定回路３０及び基準ゲート設定回路３５は動作を
禁止さ才ｔ、アドレス補正タイミング設定回路３６が動
作を許され、アドレスｄ’ｌｃ対して位置ずｎの補正を
行なうことができるようになる。この補正動作に、以下
の様にして行なわれる。

エツジ検出器７が被検査印刷物の前端を検出し、エツジ
検出信号Ｃがゲート回路２１を通過して計数開始信号ｃ
ｂとなり、これが補正データ照会回路３７に与えられ、
補正データ照会回路３１はデータ照会信号ａｆ及び、デ
ータロード信号ｊを出力する。

すると、メモリ３３は、１個目の補正基準位１偵対する
ゲート位置データを、信号経路Ｕを経てラッチ回路３２
へ、そして１個目の補正基準位置に対する標準値を、信
号経路Ｓを経てラッチ回路３１へそれぞ１１出力し、ラ
ッチ回路３２及び３１は、このメモリ３３から力えられ
た偵号値を、出力【及びｑへ、次に再びデータロード信
号ｊを受けるまで保持する。

アップ・ダウン・カウンタ２５の出力値ｄｎカラッチ回
路３２の出力値ｒに達すると、比較器３４はゲート開放
信号１を出方し、ゲート回路２ｏを開放する。

基準検出器９が１個目の補正基準位置を検出し、基準検
出信号ｅがゲート回路２ｏを通過して基準検出信号ｅａ
となり、こわが、アドレス補正タイミング設定回路３６
に与えらｎ、これによりアドレス補正タイミング設定回
路３６は標準値ロード信号ａｈを出力する。

また、アップ・ダウン中カウンタ２４は、標準値ロード
信号ａｈを受け、ラッチ回路３１が、その出力ｑに保持
している、１個目の補正基準位１偵の（位置を示す）標
準値（真値）をロードする。

一方、アップ”龜ダウン・カウンタ２４は、そのままク
ロック信号ｏＪ−を標準ｎＫ加算する形で計数するが、
ここで、初期データ設定の際と異なる位置ずれが発生し
ていると、この時点でのアップ・ダウン・カウンタ２４
と２５の出力値ａａとｄｎは異なる値と１．ｃつている
。

アドレス補正タイミング設定回路３６は、標準値ロード
信号ａｈを出力したり（第５図で説明したように）、パ
ターン検査装置６がアドレスｄ′を変更されても良い期
間になると、補正値ロード信号ａｇをアッフ゛拳ダウン
・カウンタ２５に力える。

すると、アップ・ダウンＱカウンタ２５は、アップ・ダ
ウン・カウンタ２４の出力ａａをロードし、この時点で
、アップ・ダウン・カウンタ２４　、２５の出力ａａと
ｄｎは等しい値となり、アドレスｄは位置ずれの補正を
されたことになる。

なお、標準値ロード信号ａｈは、基準検出信号ｅａが出
力さ扛ると直ちに出力されるが、これに対して補正値ロ
ード信号ａｇを出力するタイミングは、パターン検査装
置６より得ても良いし、或いはノ（ターン検査装置６の
、各パターン区分に対する処理を行７．ｃ　５タイミン
グを示すクロック信号を、アドレスＣと共にパターン検
査装置ｉｆ＋′６へ与え、このクロック信号（図示せず
）とアドレスｄ＃などの関係から演算して得るようにし
ても良い。

また、この時点では、１個目の補正基準位置に対応する
基準検出信号ｅａを受けた補正データ照会回路３Ｔが、
データ照会信号ａｆ及びデータロード信号ｊを出力し、
今度は、２番目の補正基準位置に対するゲート位置デー
タ及び標準値をメモリ３３より出力させ、それぞれ、ラ
ッチ回路３２及びラッチ回路３１に保持させる。

なお、実際には、このデータ照会信号ａｆ及び、データ
ロード信号ｊは、標準値ロード信号ａｈと競合しないよ
うに、アップ中ダウン・カウンタ２４が１個目の標準値
をロードし終えた後に出力される。

このように、アップ櫓ダウンｅカウンタ２５は、補正基
準位置を検出するたびＫその補正基準位置の標準値をロ
ードし、ラッチ回路３１及び３２は、次の補正基準位置
のゲート位置データ及び標準値をそれぞわ取り込む。そ
して、適切な変更タイミングでアドレスｄ′を補正する
。

従って、アドレスｄ“は、補正基準点が検出されるたび
に位置ずれの補正を受けることＫなる。

なお、アドレスｄ“は、アップ・ダウン・カウンタ２５
のＮビットの出力ｄｎの一部のビットを、第５図で説明
ｌ−だ方法で選んだもので、パターン検査装置６へ与え
らオＬる。

また、ゲート回路２０及び２１に簡単な変更を施すだけ
で、エツジ検出器Ｔと基準検出器９を一つの検出器で済
ますこともできる。

さらに、被検査印刷物のエツジに代わる適切な部位を決
定すれば、シート状の印刷物に限らず、連続した印刷物
を対象とした検査を行なうよう圧することもできる。

次Ｋ、以上の実施例による位伝補正効果について説明す
る。

既に簡単に説明したように、このような検査装置におい
ては、一般に、搬送装置と被検査印刷物間のスリップ、
搬送装置の送りローラと、その他の駆動機構間のスリッ
プ等による位置ずれは、被検査印刷物の移動方向に対し
て一方向に発生する。

つまり、被検査印刷物が移動方向に対し、後にずれる形
で位置ずれが発生ずる場合が多い。

これを第１０図で説明すると、この図は横軸に搬送量Ｚ
を、そして縦軸に位置ずれの量Ｙをとったものであり、
これにより上記した位置ずれは直線へのような特性を示
すことになり、このときの直線Ａの傾きは搬送機構や印
刷物の状態によって定まって（る。

そこで、印刷物の搬送方向の長さをＬとすれば、この長
さＬの間に位置ずれの量が累積されるため、何も補正を
行なわ１Ｌいとす肚ば、この間にｙ。という大きな位置
ずれを生じ、検査装置は当然誤判定してしまうことにな
る。

一方、一点鎖線Ｂで示した特性は本発明の実施例によっ
た場合のもので％　ｉｌｌ　７２１　Ｊ３は補正基準位
置を表わし、この位置に達するごとに位置ずれの量Ｙは
”零”に戻され、この結果、位置ずれ量の最大値をｙｌ
に抑えることができるのが判る。

なおく以上の実施例では、印刷に欠陥のない標準的な印
刷物を搬送させ、それにより取り込んだ標準パターンの
アドレスを位置すれか“零″のものとして補正を行なう
ようＫなっている。従って、この標準パターンを取り込
んだときにもスリップなどＫよる位置ずれ発生が当然予
想される為、第ｗ図における特性Ａは図示のように単純
な右上りのものとなるとは限らない。しかしながら、縦
軸Ｙを位置ずれのバラツキ量とすれば、はぼ第１０図で
示すような、特性Ａと考えることができる。

そこで、補正を行なわないときに生じる最大の位置ずれ
葉をｙ。５．補正基準位置の数をｎとし、さら忙、この
ｎ個の補正基準位置を被検査印刷物の各印刷パターンの
長さに対して等間隔に設定して補正を行なった場合に残
留する位置ずれの量ν１は、９まぼ次式で表わされる。

Ｏ ｙｌ　： ｎ＋１ 従って、この実施例によれば、充分な位置ずれ補正が得
られ、誤判定の発生を実用上完全に除（ことができるこ
とになる。

なお、以上の実施例では、検査対象物を印刷物に限って
説明したが、本発明は印刷物に限ることな（、一般罠同
じパターンが施こさｎている物体も適用可能なことはい
うまでもな（、従って、以上の説明における被検査印刷
物もそのよ５に解すべきであることはいうまでもないと
ころである。

以上説明したよ５に、本発明によれば、位置ずれによる
標準パターンと被検査パターンの対応ずれの発生を最少
限度に抑えることができるから、従来技術の欠点を除き
、被検査パターンの微小な欠陥にも正確に応動し、しか
も誤判定が発生する虞れのない検査装置を得ることがで
きる印刷物の走行位置補正方式を容易に提供することが
できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は走行印刷物検査装置の従来例を示す概略構成図
、第２図（イ）〜（ホ）は第１図の従来例における位置
ずれによる問題点を示す説明図、第３図及び第４図は同
じ（位置ずれによる誤判定の発生を示す説明図、第５図
は本発明による印刷物の走行位置補正方法の一実施例を
示す概略構成図、第６図（イ）〜（ホ）及び第７図（イ
）〜（ホ）はそれぞれ第５図の実施例における補正動作
の一実施例を示す説明図、第８図（イ）〜（す）は同じ
く第５図の実施例忙よる補正動作の他の一実施例を示す
説明図、第９図は第５図の実施例におけるアドレス補正
回路の具体的な一実施例を示すブロック図、＠１（）図
は本発明による効果を示す説明図である。 １・・・・・・被検査印刷物（検査対象物）、３・・団
・送りローラ、４・・・・・・パルス発生＊Ｌ５・・・
・・・光学センサ、６・・・・・・パターン検査装置、
７・・・・・・エツジ検出器、９・・・・・・基準検出
器、１０・・・・・・アドレス補正回路 第１図 第５図 ！

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （１）搬送装置により走行する被検査印刷物の印刷パタ
   ーンの境界部分が所定位置に達したときを初期値とし、
   上記搬送装置が一定距離走行するごとに歩進するｉｔ数
   値を求め、この創数値により上記印刷パターンの搬送方
   向に沿って複数に分割された各領域ごとのアドレスを検
   出し、上記被検査印刷物の印刷パターンから上記各領域
   ととに読取ったデータを上記アドレスにより標準印刷パ
   ターンの対応する領域ごとのデータと順次比較して印刷
   の長比判定を行なう方式の走行印刷物の検査装ｆｔにお
   いて、上記印刷パターンの境界部分から搬送方向に沿っ
   た特定の位置の検出が可能な少（とも一つの絵柄部分を
   選定してそのアドレスを表わす数値を記憶させ、印刷物
   の検査中、上記絵柄部分が検出されるごとにそのアドレ
   スに対応した数イ１０の読出しを行ない、この読出した
   数値で上記計数値を置換することにより上記搬送装置と
   被検査印刷物との位置ずれＫよって発生する良否判定の
   誤動作を補正するようＫしたことを特徴とする印刷物の
   走行位置補正方法。 （２ン　　特許請求の範囲第１項において、上Ｎｒ２印
   刷パターンの中で上記絵柄部分を含む所定範囲を選定し
   、この所定範囲の中でだけ上記絵柄部分に対する検出動
   作を行なうことにより上記絵柄部分の検出動作が正確に
   行なえるようにしたことを特徴とする印刷物の走行位置
   補正方法。 （３）特許請求の範囲第１項又は第２項において、上記
   各領域ごとのアドレスを細分化し、この細分化したアド
   レスに対応して上記計数値及び上記数値を発生させるこ
   とにより上、記補正の精度を上げるようにしたことを特
   徴とする印刷物の走行位置補正方法。 （４）％許請求の範囲第１項ないし第３項のし・ずれか
   において、上記計数値を求めるための手段として、上記
   各領域のアドレス検出用の計数値を発生させるだめの第
   １の手段と、上記絵柄部分が検出されるごとに行なわれ
   る数個による置換動作の対象となる計数値を発生するた
   めの第２の手段との２系統の手段を用い、−Ｆ配給柄部
   分が検出されたときのタイミングとは異なる所定のタイ
   ミングにおいて上記第２の手段によって得られている計
   数値で上記第１の手段によって得られている引数値を置
   換することにより、上記補正が行なわれるタイミングを
   任意に選定し得ろよつにしたこ七を特徴とする印刷物の
   走行位置補正方法。