JPS5948160A - Correction for running position of printed matter - Google Patents

Abstract

PURPOSE:To correct the maloperation due to deviation between a printed matter and a feeder by a method in which by utilizing a printing pattern of the printed matter to be inspected, characteristic parts are detected after detecting edge signals and during the inspecting operation, address is corrected to right value at least one time. CONSTITUTION:A pattern part X is detected by a reference detector 9 and a reference signal (e) is generated at a timing that correcting reference position (x) is passed. An address (d) is generated at an address correcting circuit 10 with a pulse signal (b) from a pulse generator 4 and an edge signal (c) from an edge detector 7, and when the reference signal (e) is supplied, an address (d'') is generated. Since slippage occurs between a printed matter 1 and a feeding roller 3, resulting in address (d''), and inspection is made by the address (d'), maloperations take place, but when the pattern part X is detected by the reference detector 9 and the reference signal (e) is generated at the reference position (x), an action to displace the value of address (d') then is made. The occurrence of maloperations can thus be sufficiently suppressed.

Description

【発明の詳細な説明】 印刷物を走行状態のままで印刷の良否判定を行なうため
の検査工程において、印刷物と搬送装置との間で発生す
るずれによる誤動作を補正する方法に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a method for correcting malfunctions caused by misalignment between a printed material and a conveying device in an inspection process for determining the quality of printing while the printed material is in a running state.

画像信号処理技術が一般化するにつれて印刷物の検査に
もこのような技法を採り入れ、それにより１般送中の印
刷物を走行状態の土まで止確処、しかも高速で検査する
ことができる走行印刷物の検査装置が広（用いられるよ
うになってきたＯそして、このような検査装置の一例と
して、従来から第１図１示す装置が知られている。As image signal processing technology has become more common, such techniques have been adopted for the inspection of printed matter, and as a result, it has become possible to inspect moving printed matter at high speed while still being able to inspect printed matter while it is in transit. Inspection devices are becoming widely used, and as an example of such inspection devices, the device shown in FIG. 1 has been known.

図において、１は被検査印刷物（検査対象物）。In the figure, 1 is a printed matter to be inspected (an object to be inspected).

２はコンベア，３は送りローラ，４はパルス発生器，５
は光学センサ，６はパターン検査装置，１はエッジ検出
器，８はアドレス発生回路である。2 is a conveyor, 3 is a feed roller, 4 is a pulse generator, 5
1 is an optical sensor, 6 is a pattern inspection device, 1 is an edge detector, and 8 is an address generation circuit.

被検査印刷物１はコンベア２によって矢印方向に搬送さ
れ、エツジ検出器７と光学センサ５の下を通過してから
次の工程に送られるようになっている。The printed matter 1 to be inspected is conveyed by a conveyor 2 in the direction of the arrow, passes under an edge detector 7 and an optical sensor 5, and then is sent to the next process.

パルス発生器４はコンベア２の送りローラ３に設けられ
たロータリーエンコーダなどがらなり、このローラ３の
回転に応じてパルス信号ｂを発生する働きをする。従っ
て、このパルス信号ｂはコンベア２０走行距離に比例し
た数のパルスとなる。The pulse generator 4 includes a rotary encoder provided on the feed roller 3 of the conveyor 2, and functions to generate a pulse signal b in accordance with the rotation of the roller 3. Therefore, this pulse signal b has a number of pulses proportional to the travel distance of the conveyor 20.

光学センサ５は被検査印刷物１の表面に施こされている
印刷パターンを検出し、それに応じたレベルの検出信号
ａを発生する働きをする。The optical sensor 5 functions to detect a print pattern formed on the surface of the printed material 1 to be inspected and generate a detection signal a of a level corresponding to the print pattern.

パターン検査装置６は光学センサ５からの検出信号ａを
アドレス発生回路８からのアドレスｄに従って区分しな
がら取り込み、パターンとして処理するＤぞして、この
パターンを予め６１シ憶しである標準パターンの対応す
る区分のパターンと１１次比較し、両者の一致、不一致
により被検査印刷物１の印刷の良否側５〆を行なう働き
をする。The pattern inspection device 6 takes in the detection signal a from the optical sensor 5 while classifying it according to the address d from the address generation circuit 8, and processes it as a pattern. It performs an 11th comparison with the pattern of the corresponding classification, and depending on whether they match or do not match, determines whether the printing of the printed matter 1 to be inspected is good or bad.

エツジ検出器γは被検査印刷物６の搬送方向の前方にあ
る端部を例えば光学的に検出し、エツジ信号Ｃを発生す
る働きをする。The edge detector γ functions to detect, for example optically, the front end of the printed matter 6 to be inspected in the transport direction, and to generate an edge signal C.

アドレス発生回路８はパルス信号ｂ’＞カウント入力と
し、エツジ信号Ｃをリセット人力とするカウンタなどを
備え、エツジ検出器ｌにより被検査印刷物１の’ｉ４＋
Ｔ端が検出されたあとのパルス信号ｂをカウントするこ
とにより印刷物１０位１ｈ：を表わすアドレスｄを発生
する働きをーｊ−る〇従って、この検査軸−１によ２ｔ
は、被検査印刷物１がかなり高速で走行していても、そ
のままで検査を行ｙｚ　５ことができる。The address generation circuit 8 has a pulse signal b'>count input, and is equipped with a counter that resets the edge signal C manually, and detects the 'i4+' of the printed matter 1 to be inspected by the edge detector l.
By counting the pulse signal b after the T end is detected, the function of generating the address d representing the 10th place of printed matter 1h: -j-ru〇Therefore, this inspection axis -1 generates 2t.
In this case, even if the printed matter 1 to be inspected is running at a fairly high speed, it can be inspected as it is.

ところで、この第１図に示した従来の検査装置において
は、被検査印刷物１とコンベア２との間、或いはコンベ
ア２と送りローラ３との間などにスリップを生じると、
搬送中の被検査印刷物１０位館とパルス発生器４から発
生さ扛るパルス信号ｂのパルス数とが対応しｌよ（ｌよ
つ、アドレスｄ［誤差を生じ、この結果、検査積度の低
下や倶動作を生じ易くなるといり欠点があった。By the way, in the conventional inspection apparatus shown in FIG. 1, if a slip occurs between the printed matter to be inspected 1 and the conveyor 2, or between the conveyor 2 and the feed roller 3,
The number of pulses of the pulse signal b generated from the pulse generator 4 corresponds to the number of 10 printed matter to be inspected during transportation. This has the disadvantage that it tends to deteriorate and cause friction.

こｎを第２図，第３図及び第４図で説明する。This will be explained with reference to FIGS. 2, 3, and 4.

まず、被検査印刷物１から光学センサ５によって読取っ
た検出信号ａが第２図Ｕ）のようになっていたとし、こ
れに対応してパルス発生器４から発生されているパルス
信号ｂは同図（口）に示すようＫなり、この結果、アド
レスｄは同図に）に示すような関係になっていたとする
。First, it is assumed that the detection signal a read by the optical sensor 5 from the printed matter 1 to be inspected is as shown in FIG. Assume that the address d becomes K as shown in (), and as a result, the address d has a relationship as shown in ().

しかして、このとき、被検査印刷物１の前端がエツジ検
出器Ｉで検出さ牡たあとで被検査印刷物１とコンベア２
の間で、或いはコンベア２と送り四−ラ３の間でスリッ
プを生じ、こｔによりパルス発生器４から発生されてい
るパルス信号ｂに位相ずｎを生じて第２図（ハ）に示す
パルス信号ｂ′のようになったとする。そうすると、ア
ドレスｄも同図（ホ）にｄ′で示すようになり、同図Ｈ
）に示した検出信号ａとの相対位散が変化してしまう。At this time, after the front end of the printed material 1 to be inspected is detected by the edge detector I, the printed material 1 to be inspected and the conveyor 2
A slip occurs between the conveyor 2 and the feed roller 3, and this causes a phase shift n in the pulse signal b generated from the pulse generator 4, as shown in FIG. 2 (c). Assume that the pulse signal b' becomes like this. Then, the address d will also be shown as d' in the same figure (E), and
) will change the relative phase with the detection signal a shown in FIG.

一方、既に説明したように、この第１図の検査装置では
、検出信号ａをアドレスｄＫ征って区分し、対応すく）
標準パターンの同じ１区分ごとに比較して良否判にを行
なっているのであるから、第２図（イ）に示す検出信号
ａに対して同図に）に示すよう１、Ｃ正しいアドレスｄ
が対応し、たときに始めて正確な動作が期待できるので
あり、こオ′シが同図０９に示すようＶＣずれたのでは
動作が不正確になったり、誤動作を生じるようにＩＬつ
たりしてしまうのであるＯ これを８１′！３図によって更に詳しく説明ｊる。On the other hand, as already explained, in the inspection apparatus shown in FIG. 1, the detection signal a is divided into addresses dK,
Since the same standard pattern is compared for each division to determine whether it is good or bad, the detection signal a shown in Fig. 2 (a) is corrected by 1, C, and the correct address d as shown in the same figure).
Accurate operation can only be expected when the VC corresponds to the current value, and as shown in Fig. This is 81'! This will be explained in more detail with reference to Figure 3.

いま、パターン検査装置６によるデータの取り込みをア
ドレスｄによって区分されたパターンの前端で検出信号
ａを゛サンプリングして行なうようになっていたとする
。そして、第：３図に示すような検出信号ａに対してア
ドレスｄが対応していたとすれば、アドレスｄがｎの区
分で取り込まｎるデータは１、ｎｉｌの区分でのデータ
は９、ＩＩ　＋２では同じ（９と１求ろ。Assume now that the pattern inspection device 6 takes in data by sampling the detection signal a at the front end of the pattern divided by the address d. If the address d corresponds to the detection signal a as shown in Figure 3, then the data n that the address d takes in in the n section is 1, the data in the nil section is 9, and II +2 is the same (find 9 and 1.

従って、パターン検査装置６に記憶しである標準パター
ンによるデータも当然、区分ｎでは１．１＋ｌでは９、
ｎ＋２でも９となっている。Therefore, the data according to the standard pattern stored in the pattern inspection device 6 is naturally 1.1+l in the category n, 9,
Even n+2 is 9.

ここで、被検査印刷物１がスリップするなどしてアドレ
スｄがｄ′のようにずれたとすれば、同じ検出信号ａに
対してアドレスｄ′による区分ｎでのデータは４、ｎｉ
ｌでは９、ｎ＋２では８となり、このときＫは被検査印
刷物１からのデータと標準パターンのデータとに不一致
を生じ、被検査印刷物１の印刷パターンに誤りがないの
にもかかわらず、不良と判定されてしまうことＫなるＯ
なお、第２図においては、アドレスｄとｄ′の間に１区
分の長さのＨのずれを生じた場合を示し、同じ（第３図
では％のずれを生じた場合につ（・て示したが、実際に
生じるずれの大きさは極めて不規則で、かつ量的なバラ
ツキもかなり大曇なものを示すのが一般的であり、いず
れの場合でも検査性能の低下や誤動作の原因となるのは
いうまでもない。Here, if the address d deviates as d' due to slipping of the printed matter 1 to be inspected, the data in the division n by the address d' for the same detection signal a is 4, ni
1 is 9, and n+2 is 8. At this time, K causes a discrepancy between the data from inspected print 1 and the standard pattern data, and even though there is no error in the print pattern of inspected print 1, it is determined to be defective. I will be judged.
In addition, Fig. 2 shows the case where a deviation of the length H of one section occurs between addresses d and d', and the same case (Fig. 3 shows the case where a deviation of % occurs). However, the size of the deviation that actually occurs is extremely irregular, and the quantitative variation is generally quite large. In either case, it may cause a decline in inspection performance or malfunction. Needless to say, it will happen.

次に、第４図は検出信号ａを］（ターンの各区分範囲ご
とに積分し、この積分値を各区分ごとのデータとして取
り込むようにした場合について示したもので、検出信号
ａに対して正しいアドレスｄＫよろ区分ｎでのデータは
０．５、ｎｉｌでは１．０、ｎ＋２では０．８になる。Next, Fig. 4 shows the case where the detection signal a is integrated for each section range of the turn, and this integrated value is taken in as data for each section. The data at the correct address dK wobble section n is 0.5, at nil it is 1.0, and at n+2 it is 0.8.

しかして、ずれを生じたときのアドレスｄ′による区分
ｎでは０．６８、ｎｉｌでは１．０、ｎ＋２では０．６
９となり、この場合には検出信号ａの傾斜の大きなとこ
ろでデータの差が太き（なるっこの第４図の場合には、
区分ｎにおける誤差が一番大きり１．ｒ、す、全振幅に
対して約１８％の誤差となっている。また、この場合に
は、区分ｎから明らかなよ５に、積分値０．５が真の値
である場合、位置ずれの割合（１区分に対するパーセン
テージ）と、積分値の誤差の割合（最大値を１．０とし
たときの真値との差のパーセンテージ）とは、誤差があ
まり大きくならない範囲ではほぼ係数１の比例状態とな
っている。Therefore, when a shift occurs, 0.68 for the division n by address d', 1.0 for nil, and 0.6 for n+2.
9, and in this case, the data difference is large where the slope of the detection signal a is large (in the case of Narukko's Fig. 4,
The error in section n is the largest 1. The error is about 18% for the total amplitude. In addition, in this case, as is clear from the division n, if the integral value 0.5 is the true value, the ratio of positional deviation (percentage to 1 division) and the ratio of error of the integral value (maximum value (percentage of difference from the true value when 1.0) is approximately proportional to the coefficient 1 within a range where the error does not become too large.

従って、第１図に示した従来の検査装置６：では、被検
査印刷物１によるデータと標準パターンによるデータと
の差が１．５４以上になったとき不良判定を行なうよう
に設定されていたどすれば、第３図、第４図いずれの場
合にも区分ｎで誤動作してしまうことになる。Therefore, the conventional inspection apparatus 6 shown in FIG. If this happens, a malfunction will occur in category n in both cases of FIGS. 3 and 4.

なお、第４図の場合、光学センサ５の被検査印刷物１の
搬送方向における視野長と、各区分の長さ、つまりデー
タサンプリング長とが等しい場合には、光学センサ５か
ら出力される検出信号ａがそのままで各区分ごとの積分
値となるから、特別な信号処理は不要である０ ところで、この第１因に示すような検査装置の欠点を除
（目的で、従来からパターン検査装置の、データ取り込
み用光学センサの解像力を低下させることに依って、位
置ずｒしに対する感度を減少させる方法（特公昭５５−
４５９４９　）や、標本ノくターンと試料パターンを比
較する際に、試料ノくターンの一区分と、この区分に対
応する標本ノくターンの区分の、周辺の複数の区分とを
比較し、データ内容が一致する区分が、上記複数の区分
内に含まれていれば王宮であると判断することに依って
、位置ずれに対して一種の許容値を設けろ方法（特公昭
５５−４５９４８．５５−４５９４９　）　７よどが提
案されている。In the case of FIG. 4, if the visual field length of the optical sensor 5 in the transport direction of the inspected printed matter 1 is equal to the length of each section, that is, the data sampling length, the detection signal output from the optical sensor 5 Since a is the integral value for each section as it is, no special signal processing is required. A method of reducing sensitivity to positional displacement by lowering the resolution of an optical sensor for data capture
45949), or when comparing a sample turn and a sample pattern, compare one section of the sample turn with multiple surrounding sections of the sample turn corresponding to this section, and compare the data. A method to set a kind of tolerance value for positional deviation by determining that it is a royal palace if a division with the same content is included in the above plurality of divisions (Special Publication No. 55-45948.55- 45949) 7 has been proposed.

しか′して、こ′れら提案されている方法によＩｔ、げ
、とＫかく上記した位圓ずれによる検査の誤判定は少な
くすることができるものの、同時に検査精度の低下を伴
ｌよい、検査すべき印刷パターンの微小欠陥や、正常な
パターンに類似した異常パターンを見逃す傾向が強くな
ってしまうという欠点があった。However, although these proposed methods can reduce the number of misjudgments due to the above-mentioned misalignment, they also reduce the accuracy of the test. However, there is a drawback that there is a strong tendency to overlook minute defects in the printed pattern to be inspected or abnormal patterns similar to normal patterns.

本発明の目的は、上記した従来技術の欠点を除き、検出
装置の検出精度を低下させることな（、位置ずれによる
誤動作の発生を充分に抑えることができるようにした印
刷物の走行位置補正方法を提供することにある。An object of the present invention is to provide a method for correcting the running position of a printed matter that eliminates the drawbacks of the prior art described above, does not reduce the detection accuracy of the detection device (and sufficiently suppresses the occurrence of malfunctions due to positional deviation). It is about providing.

この目的を達成するため、本発明は、被検査印刷物の印
刷パターンを利用し、エツジ信号検出後、上記印刷パタ
ーンの特徴部分を検出して検査動作中に少なくとも１回
、アドレスを正しい値に補正ｊろようにした点を特徴と
する。To achieve this objective, the present invention utilizes a print pattern of a printed matter to be inspected, detects a characteristic part of the print pattern after detecting an edge signal, and corrects the address to a correct value at least once during an inspection operation. It is characterized by a rounded shape.

以下、本発明による印刷物の走行位置補正方法を実施例
によって説明する。Hereinafter, the method for correcting the traveling position of a printed matter according to the present invention will be explained using examples.

第５図は本発明の一実施例を示″′ｆ概略構成図で、第
１図に示した従来例と同一もしくは同等の部分には同じ
符号を付してあり、さらに、９は基準検出器、１０はア
ドレス補正回路であり、なお、Ｘは被検査印刷物１の印
刷パターン中に存在Ｊる絵柄のうちで特に選定した少な
（とも１つの絵柄部分χ表わし、Ｘはそれらによる補正
基準位置を表わしたものである。FIG. 5 is a schematic configuration diagram showing an embodiment of the present invention, in which the same or equivalent parts as in the conventional example shown in FIG. 10 is an address correction circuit; It represents.

基準検出器９は絵柄部分Ｘを検出し、補正基準位置Ｘが
基準検出器９の直下を通過したタイミングで基準信号ｅ
を発生する働きをｊる。The reference detector 9 detects the pattern portion X, and at the timing when the corrected reference position
It has the function of generating.

アドレス補正回路１０は第１図の従来例におけるアドレ
ス発生回路８と同様に、パルス発生器４からのパルス信
号すと、エツジ検出器７からのエツジ信号Ｃによってア
ドレスｄを発生する働きをすると共に、検査すべき印刷
パターン中に選定した絵柄部分Ｘの基準位置ｘＫ対応し
たアドレスを予め記憶しておき、基準検出器９から基準
信号ｅが供給されたときに対応したアドレスを読出し、
そｎによりアドレスｄを置換えてアドレスｄ“を発生す
る働きをするＤ 次に、この実施例の動作を第６図によって説明する。The address correction circuit 10, like the address generation circuit 8 in the conventional example shown in FIG. , store in advance an address corresponding to the reference position xK of the picture portion X selected in the print pattern to be inspected, and read the corresponding address when the reference signal e is supplied from the reference detector 9;
Then, the operation of this embodiment will be explained with reference to FIG. 6.

この＠６図において、（ロ）は印刷物１を搬送方向圧引
延ばして示したもので、その一部に予め選定ｌ〜である
絵柄部分Ｘを有し、その他の印刷パターンは省略しであ
る。そして、アドレス補正回路１０のメモリには、この
絵柄部分Ｘの前端部を基準位１Ｍ、Ｘとし、そ扛に対応
してアドレスｄで表わされている区分の番号ｎ＋２を記
憶しである。なお、この絵柄部分Ｘとしては、印刷パタ
ーンの中で他の絵柄部分から容易に識別して検出し得る
よりな、例えば濃度が太き（変化している部分などを予
め選定し、基準検出器９により他の絵柄部分から分離し
て當に確実に検出し得るような絵柄部分に選戻してお（
必ν〕があるのはいうまでもない。In this @6 figure, (b) shows the printed matter 1 stretched out in the transport direction, and a part of it has a pattern part . The memory of the address correction circuit 10 stores the front end of the picture portion X as a reference position 1M,X, and stores the number n+2 of the section represented by the address d corresponding to the front end of the picture portion X. Note that this pattern portion 9, select the part of the picture that can be separated from other parts and be detected reliably (
Needless to say, there is a necessity.

いま、第６図（イ）に示すよう１工バルス信号すに対し
て印刷物１の位置が同図（ロ）に示すような対応関係に
あり、この結果、アドレスｄは同図（ハ）に示すように
対応し、この関係が保たれたままで検査が行なわれたと
する。Now, as shown in Fig. 6 (a), the position of printed matter 1 corresponds to the 1st pulse signal as shown in Fig. 6 (b), and as a result, the address d is as shown in Fig. 6 (c). Assume that the relationship is maintained as shown and the test is performed.

そうすると、基準検出器９により絵柄部分Ｘが検出され
、基準位置Ｘで基準信号ｅが発生ｆると、この時点でア
ドレス補正回路１０はメモリから区分１＋２を表わすア
ドレスを読出し、それによりアドレスｄのその時点にお
けるアドレスの値を酸換える動作を行なう。しかし１よ
がら、このときには、アドレスｄの値は区分ｎ＋２を表
わすものとなっているから、これを置換えても見掛は上
は何らの変化をも生ぜず、アドレスｄＫよる検査が引続
いて行なわれるだけとなっている。Then, when the reference detector 9 detects the picture part X and the reference signal e is generated at the reference position An operation is performed to change the value of the address at that point. However, as shown in Figure 1, at this time, the value of address d represents the division n+2, so even if it is replaced, there will be no apparent change, and the check using address dK will continue. It is only possible to do so.

しかして、次に、印刷物１と送りローラ３との間でスリ
ップを生じ、印刷物１の位置とパルス発生器４によるパ
ルス信号すとにずれが発生し、そのため第６図（ハ）に
示すような関係にあったアドレスｄが同図に）に示すア
ドレスｄ′のようになったとする。なお、この第５図の
実施例では印刷物１を送りローラ３で直接搬送するよう
になっているが、上記したずれの発生については第１図
の従来例と同じであることはいうまでもな（・。Then, a slip occurs between the printed material 1 and the feed roller 3, and a deviation occurs between the position of the printed material 1 and the pulse signal from the pulse generator 4, as shown in FIG. 6(C). Suppose that address d, which had a similar relationship, becomes address d' shown in () in the same figure. In the embodiment shown in FIG. 5, the printed matter 1 is directly conveyed by the feed roller 3, but it goes without saying that the occurrence of the above-mentioned deviation is the same as in the conventional example shown in FIG. (・.

そうすると、このときには、第６図（ロ）、（ハ）に示
すように、本来、印刷物１に対してアドレスｄの関係が
保たれているべきなのに同図に）Ｋ示すような関係のア
ドレスｄ′によって検査が行１より第１．て１−ま５た
め、ル１ル〃作を生じるようになってしまうが、やがて
絵柄部分Ｘが基準検出器９によって検出さ号口＋２を表
わすアドレス値がメモリから読出され、それにより、こ
のときのアドレス（１′の値を置換える動作が行なわれ
るため、結局、この実施例ではアドレス補正回路１０か
らパターン検査装い′６に入力されるアドレスは第６図
（ホ）に示すアドレスｄ“となり、たとえ上記したず扛
を生じても絵柄部分Ｘが検出された時点で正しいアドレ
スｄに補正されてしまうため、誤動作の発生を充分に抑
えることができることになる。In this case, as shown in FIG. 6 (B) and (C), the relationship between address d and printed matter 1 should originally be maintained, but address d has a relationship as shown in FIG. ' checks the first row from row 1. As a result, the picture part Since the operation of replacing the value of the address (1') is performed, in the end, in this embodiment, the address input from the address correction circuit 10 to the pattern inspection device '6 is the address d" shown in FIG. 6(E). Therefore, even if the above-described error occurs, the address is corrected to the correct address d at the time the picture portion X is detected, so that the occurrence of malfunction can be sufficiently suppressed.

なお、このとき、第５図に示１よ５に絵柄部分Ｘを印刷
物１の搬送方向に沿って１個以上選短しておき、それぞ
れに対応したアドレスを記憶しておいて、これらを絵柄
部分Ｘが検出されるごと罠順番に読出して上記したアド
レスの置換えを行なうようにすれば、第６図の０１と（
ホ）におけるアドレスｄとｄ″とのずれがさらに短かい
期間で１１１次行なわれるから、はとんどずれを生じＩ
Ｌいようにすることができ、誤動作の発生は実用上はと
んど完全に抑えることができる、 ところで、上記したように、絵柄部分Ｘとしては、印刷
パターンの絵柄の中から基準検出器９によって、仙の絵
柄部分とは明瞭に区別して検出可能な絵柄部分を選定す
る必要があるため、それによる基準位置ｘが第６図に示
すように区分と区分の境界線に丁度一致するものを選定
することは必ずしも容易ではない。At this time, select one or more of the pattern portions X along the transport direction of the printed matter 1 as shown in FIG. If part X is read out in order every time it is detected and the address is replaced as described above, 01 and (
Since the deviation between the addresses d and d'' in e) is carried out 111 times in an even shorter period, it causes a deviation and I
By the way, as mentioned above, the reference detector 9 can be selected from among the patterns of the printed pattern as the pattern portion Therefore, it is necessary to select a part of the picture that can be clearly distinguished from the part of the picture of the immortal and can be detected. It is not always easy to choose.

従って、実用上は、第７図に示すように、絵柄部分Ｘと
してその基準位置Ｘが区分と区分の境界線と一致してい
ないものを選定せざるを得ない場合が多い。なお、この
第７図の０）〜（ホ）は第６図の（イ）〜（ホ）と同じ
である。Therefore, in practice, as shown in FIG. 7, it is often necessary to select a pattern portion X whose reference position X does not coincide with the boundary line between the sections. Note that 0) to (E) in FIG. 7 are the same as (A) to (E) in FIG.

しかして、−この場合には、第７図から明らかなように
、絵柄部分Ｘの基準位置Ｘが検出されたタイミングでア
ドレスｄ′の区分ｎ　＋ｌカ区分ｎ＋２で置換されるた
め、補正されたアドレスｄ′にはｙで示した誤差が残っ
て完全な補正が得られなくなってしまう。そして、この
残留誤差ｙの最大値は区分の長さに等しく７ヨっている
。In this case, as is clear from FIG. 7, at the timing when the reference position X of the picture part An error indicated by y remains at address d', making it impossible to obtain complete correction. The maximum value of this residual error y is equal to the length of the segment and is 7 yo.

一方、この区分の長さは、パターン検査装置６における
データの取り込み能力やメモリ容量などに！、９制限を
受け、位置補正圧必要な精度の面だけから短かくするの
は困難である。On the other hand, the length of this division depends on the data acquisition capacity and memory capacity of the pattern inspection device 6! , 9, and it is difficult to shorten the position correction pressure solely from the viewpoint of required accuracy.

そこで、この区分の長さを短かくしないで上記した位置
補正に生じる残留誤差を充分に少な（するようＫした実
施例を第８図に示す。FIG. 8 shows an embodiment in which the residual error caused by the above-mentioned position correction is sufficiently reduced without shortening the length of this section.

この実施例の場合−は、まず、パルス発生器４（第５図
）として送りローラ３が１回転するごとに発生するパル
ス数の多いものを用い、第８図（イ）に示すようなパル
ス信号すが得られるようにする。In the case of this embodiment, first, a pulse generator 4 (Fig. 5) that generates a large number of pulses each time the feed roller 3 rotates once is used, and a pulse generator as shown in Fig. 8 (A) is used. Make sure you get a signal.

そして、このパルス信号すを入力とするカウンタを用い
、同図（ロ）に示すパルス信号ｂ′を得、このパルス信
号ｂ’により同図（ホ）に示すアドレスｄを発生するよ
うにしている。従って、この第８図（ロ）に示すパルス
信号ｂ′が第６図及び第７図の（イ）Ｋ示したパルス信
号すに相当するものとなっている。ｌヨお、このとき、
送りローラ３が一定角度回転したときに得られるパルス
信号すとｂ′のパルス数の関係は整数比をなすようにし
、図の場合にはその比が８に設定しである。Then, using a counter that receives this pulse signal S as an input, a pulse signal b' shown in the figure (b) is obtained, and an address d shown in the figure (e) is generated by this pulse signal b' . Therefore, the pulse signal b' shown in FIG. 8(b) corresponds to the pulse signal b' shown in FIG. 6 and FIG. 7(a) K. Oh, at this time,
The relationship between the pulse numbers of the pulse signals and b' obtained when the feed roller 3 rotates by a certain angle is made to form an integer ratio, and in the case of the figure, the ratio is set to 8.

従って、この実施例においては、被検査印刷物６が走行
するにつれて第８図に）に示すようにパルス信号ｂ（同
図（イ））のカウント値ｆが増加し、このカウント値ｆ
の所定カウントごとに（この場合には８カウントごとに
）アドレスｄＫよる区分の数が同図（ホ）に示すように
発生させられ、これを基にして検査が行なわｔてゆくこ
とＫなる。Therefore, in this embodiment, as the printed matter 6 to be inspected runs, the count value f of the pulse signal b (FIG. 8A) increases as shown in FIG.
At every predetermined count (in this case, every 8 counts), the number of divisions based on the address dK is generated as shown in FIG.

一方、予め選定した絵柄部分Ｘに対しては、その基準位
置Ｘに対応して、そのときの区分の数値ｎ＋２をメモリ
に記憶するのではな（て、パルス信号すのカウント値ｆ
の数値ｍ＋１９をメモリに記憶しておき、これに加えて
、基準検出器９（第５肉）が絵柄部分Ｘを検出して基準
位置Ｘで基準信号ｅが発生したときにはメモリから読出
した数値によりカウント値ｆが置換されるようにしてお
く。On the other hand, for a pre-selected picture area
In addition to this, when the reference detector 9 (fifth part) detects the pattern part X and the reference signal e is generated at the reference position X, the value m+19 of The count value f is set to be replaced.

そうすると、被検査印刷物６の搬送にずれを生じ、印刷
物６に対してカウント値ｆとアドレスｄが第８図の（ハ
）、に）、（ホ）に示すような関係にあるべきものが、
同図（へ）、（ト）に示すカウント値ｆ′とアドレスｄ
′のよ５に変化し、検査に誤動作を生じるようになるが
、絵柄部分Ｘの基準位＠Ｘが検出されると、このタイミ
ングでカウント値ｆ’　％＠　ｒｎ　＋　１ｇに置換さ
れ、第８図σ）のカウント値ｆ“で示したようになる。In this case, a deviation occurs in the conveyance of the printed matter 6 to be inspected, and the counted value f and address d of the printed matter 6 should be in the relationship as shown in (C), 2), and (E) of FIG.
Count value f′ and address d shown in (f) and (g) of the same figure
', which causes a malfunction in the inspection, but when the reference position @X of the picture part The result is as shown by the count value f" in the figure σ).

これによりアドレスｄも同図（男に示したよ５　Ｋ変化
し、この基準位置Ｘでアドレスｄに等しい区分ｎ＋２に
補正さオしてしまうことになり、誤動作のなし・正しい
検査を行なうことができる。As a result, the address d changes by 5K as shown in the figure, and at this reference position .

そして、このとき、第８図から明らかなよ５に、アドレ
スｄ′からアドレスｄ“への変化は、区分単位で行なわ
れるのではな（て、カウント値ｆの数値即位で行プＬわ
れるため、絵柄部分Ｘの基準位置Ｘが区分と区分の境界
線と一致していないことによる残留誤差はパルス信号す
とｂ′との整数比分の−に減少（この場合には％）する
ことになり、充分な精度を保った位置補正を行なうこと
ができることになる。At this time, as is clear from FIG. , the residual error due to the fact that the reference position X of the picture part , position correction can be performed with sufficient accuracy.

次に、第５図の実施例による第６図及び第７図に示した
動作をさらに詳しく説明する。Next, the operations shown in FIGS. 6 and 7 according to the embodiment of FIG. 5 will be explained in more detail.

既に１簡単に説明したように、光学センサ５は被検査印
刷物１かもの反射光、又は透過光を受光し、受光量に比
例した信号ａを出力し、パターン検査装置６はこの信号
ａを標準パターン又は被検査パターンとして入力する。As already briefly explained in 1, the optical sensor 5 receives reflected light or transmitted light from the printed matter 1 to be inspected and outputs a signal a proportional to the amount of received light, and the pattern inspection device 6 converts this signal a into a standard Input as a pattern or pattern to be inspected.

また、パルス発生器４は送りローラ３０回転に伴なって
パルス信号すを発生するから、このパルス信号すは被検
査印刷物１の搬送量に比例したパルス数を有するものと
なっている。Further, since the pulse generator 4 generates a pulse signal as the feed roller 30 rotates, this pulse signal has a number of pulses proportional to the amount of conveyance of the printed matter 1 to be inspected.

従って、エツジ検出器７（例えば、ビームスイッチなど
からなるもの）によって、被検査印刷物１の前端を検出
した時点から、パルス発生器４の出力すをカウンタにて
計数すれば、上記前端を検出した時点、即ち、被検査印
刷物１がエツジ検出器Ｉの直Ｔ［ある時点での６７置を
零として、被検査印刷物１の前端の相対位置を決定する
ことかできる。Therefore, if the output of the pulse generator 4 is counted by the counter from the time when the front edge of the printed matter 1 to be inspected is detected by the edge detector 7 (for example, one consisting of a beam switch, etc.), the front edge is detected. The relative position of the front edge of the printed material 1 to be inspected can be determined by setting the point in time, that is, the 67 position at which the printed material 1 to be inspected is directly at the edge detector I as zero.

また、この被検査印刷物１の前端の相対位置を示す計数
イ１４は、被検査印刷物１をその搬送方向に沿って細か
（区分し、番地付けした時の番地に相等し７、上記割数
値によってエツジ検出器７の直下に、被検査印刷物１の
どの部位、即ち、何番目の区分があるかを知ることがで
きる。In addition, the count 14 indicating the relative position of the front end of the printed material 1 to be inspected is equivalent to the address when the printed material 1 to be inspected is divided (divided and numbered) along the transport direction, and is calculated by the above-mentioned divisor value. It is possible to know which part of the printed matter 1 to be inspected, that is, which section is located directly below the edge detector 7.

この割数値を、アドレスｄとして、パターン検査装置６
に出力すれば、パターン検査装置６は光学センサ５から
の信号ａを、細かく区分したパターンとして処理するこ
とができる。なお、このとき、パルス発生器４の出力信
号すの割数値にゴ、ツジ検出器７と光学セン世５の間の
距離に相当するパルス数を差し引き、アドレスｄとする
ような簡単な処理を施せば、被検査印刷物１が、光学セ
ンサ５の直下を通ｊすした時点のアドレスｄの値を零番
地とすることができる。The pattern inspection device 6 uses this divisor value as address d.
By outputting the signal a to the optical sensor 5, the pattern inspection device 6 can process the signal a from the optical sensor 5 as a finely divided pattern. At this time, a simple process such as subtracting the number of pulses corresponding to the distance between the optical sensor 7 and the optical sensor 5 from the output signal value of the pulse generator 4 to obtain the address d is performed. By doing so, the value of the address d at the time when the printed matter 1 to be inspected passes directly under the optical sensor 5 can be set to zero.

ここで、まず、標準的な印刷物を用意し、そ２ｔを搬送
させることによりパターン検査装置６が、標準パターン
（基準データ）を上記アドレスｄの区分に従って光学セ
ンサ５から入力し、メモリに記憶したものとする。Here, first, a standard printed matter is prepared, and by transporting the standard printed matter 2t, the pattern inspection device 6 inputs the standard pattern (reference data) from the optical sensor 5 according to the classification of the address d, and stores it in the memory. shall be taken as a thing.

次に、被検査パターン（被検査データ）を同様に光学セ
ンサ５より入力し、被検査パターンの各区分と、メモリ
に記憶しである標準パターンの対応する区分とを順次比
較して、パターン検査を行プ【５のであるが、ここで、
被検査印刷物１と搬送装置の間にスリップなどにより位
置ずれが生ずると、第２図、第３図それに第４図で説明
したようにパターン検査装置６では、標準パターンと被
検査パターンの真に７１応じた区分を比較できなくなり
、位置ず牡によって、標準パターンと被検査パターンと
で異１ぶった部分の情報が入っている区分どうしを比較
し又、パターン検査装置６は誤判定をしＣＡ、！、　５
ことになる。Next, the pattern to be inspected (data to be inspected) is similarly inputted from the optical sensor 5, and each division of the pattern to be inspected is sequentially compared with the corresponding division of the standard pattern stored in the memory, and the pattern is inspected. The line is [5, but here,
If a misalignment occurs between the printed matter 1 to be inspected and the conveyance device due to a slip or the like, the pattern inspection device 6 will detect the true difference between the standard pattern and the pattern to be inspected, as explained in FIGS. 2, 3, and 4. 71, and the pattern inspection device 6 makes an erroneous judgment and CA ,! , 5
It turns out.

そこで、この第５図に示す実施例では、被検査印刷物界
面に施こされている印刷パターンの濃度変化の大きい特
定の絵柄部分Ｘを、この位置ず牡を補ｊＦする為の補正
基準点に選び、この補正基準点を検出する為の基準検出
器９（例えば、ビームスイッチなどからなるもの）を有
し、これをエツジ検出器γＫ　７１　ｔ、て被検査印刷
物１の搬送方向と直角の方向に掃身て設置しておく。Therefore, in the embodiment shown in FIG. 5, a specific pattern portion X where the density variation of the print pattern applied on the interface of the printed matter to be inspected is large is set as a correction reference point for correcting this position. It has a reference detector 9 (for example, made of a beam switch, etc.) for detecting this corrected reference point. Clean it and set it up.

ここで、前述のように、正常ブイハターンを不する標準
的な印刷物を搬送させ、その印刷物の前端をエツジ検出
器７で検出し、アドレス補正回路１０は、エツジ検出信
号Ｃを入力した時点から、パルス発生器４の出力パルス
信号すの言１萎夕を内蔵するカウンタによって開始する
。Here, as described above, a standard printed matter that does not make a normal buoy turn is conveyed, the leading edge of the printed matter is detected by the edge detector 7, and the address correction circuit 10 starts from the time when the edge detection signal C is input. It is started by a counter containing the output pulse signal of the pulse generator 4.

四時傾、アドレス補正回路１０は、上記カウンタのパル
ス計数値からアドレス（１を発生し、パターン検査装＄
６へ出力する１、 パターン検査装置６は、被検査印刷物１０前端が光学セ
ンサ５の直下を通過した時点から、光学センサ５の出力
信号ａを、アドレスｄに従って区分（２ながら標準パタ
ーン（基準デー　タ）として処理し２、パターン検査装
置、６の内部のメモリに記憶する。The four-hour tilt address correction circuit 10 generates an address (1) from the pulse count value of the counter, and outputs an address (1) to the pattern inspection device.
1. The pattern inspection device 6 divides the output signal a of the optical sensor 5 into a standard pattern (reference data 2 and stored in the internal memory of the pattern inspection device 6.

この操作期間中に、基準検出器９は、少なくとも１つの
絵柄部分Ｘを検出し、基準位置Ｘごとのタイミングで基
準信号ｅを発生ずる。During this operation period, the reference detector 9 detects at least one picture portion X and generates a reference signal e at a timing for each reference position X.

アドレス補正回路１０は、基準信号ｅを入力すると、補
正基準位置Ｘの番号付けを行ｌよい、基準信号ｅを入力
した時点の上記カウンタ出力値を、補正基準位置Ｘの番
号別にアドレス補正回路１０の内蔵メモリへ標準値（真
値ンとして記憶する。When the address correction circuit 10 receives the reference signal e, it numbers the correction reference positions Stored in the built-in memory as a standard value (true value).

アドレス補正回路１０のカウンタは、被検査印刷物１の
後端を検出した時点、又は上記カウンタのパルス計数値
が任意に設定した値に達した時点で、出力をクリアした
状態で計数を停止するようにしても良いし、計数を停止
する代９に１上記の時点で検査終了信号をパターン検査
装置６に与え、次の被検査印刷物の前端が、エツジ検出
器Ｉに達する直前で上記カウンタがクリアされるように
しても良い。The counter of the address correction circuit 10 is configured to stop counting with the output cleared when the trailing edge of the printed matter 1 to be inspected is detected or when the pulse count value of the counter reaches an arbitrarily set value. Alternatively, an inspection completion signal may be given to the pattern inspection device 6 at the time 9 to 1 above to stop counting, and the counter may be cleared just before the front edge of the next printed matter to be inspected reaches the edge detector I. It is also possible to do so.

その後、被検査印刷物１が搬送されてくると、パターン
検査装置６は、被検査パターンを入力し、パターンの比
較による検査を開始する。このとき、アドレス補正回路
１０は、被検査印刷物１の前端を検出した時点から、パ
ルス信号すのカウンタによる計数及びアドレ艮“ｄの発
生を上述した場合と同様に行なうが、基準検出器９が補
正基準位置Ｘを検出すると、既にアドレス補正回路１０
の内蔵メモリに記憶しである対応する補正基準位置の標
準値（Ｘ値）を、」二記カウンタにロードする。Thereafter, when the printed matter 1 to be inspected is conveyed, the pattern inspection device 6 inputs the pattern to be inspected and starts inspection by comparing the patterns. At this time, the address correction circuit 10 performs counting by the pulse signal counter and generation of the address "d" from the time when the front end of the printed matter 1 to be inspected is detected in the same manner as described above, but the reference detector 9 When the correction reference position X is detected, the address correction circuit 10
Load the standard value (X value) of the corresponding correction reference position stored in the built-in memory into the counter.

従って、アドレスｄ“は、さきにパターン検査装＠６が
標準パターンを入力したときのアドレスｄの部分に修正
され、第６図又は第８図で説明したように、パターン検
査装置６は、標本パターンと試料パターンとの真に対応
する区分を比較すること蹟より、正しいパターン比較を
行なうことができる。Therefore, the address d" is corrected to the part of the address d when the pattern inspection device @6 inputted the standard pattern earlier, and as explained in FIG. 6 or FIG. 8, the pattern inspection device 6 Correct pattern comparison can be performed by comparing truly corresponding sections between the pattern and the sample pattern.

ところで、このような検査装置においては、上記アドレ
スの補正はいつ行なわれても良いというわけにはいかず
、パターン検査装置６によっては、一般に、アドレスが
変更されてはいけ１．Ｃい期間、即ち、アドレスが安定
していなくてはならない期間が存在する場合がある。By the way, in such an inspection apparatus, it is not possible to correct the address at any time, and depending on the pattern inspection apparatus 6, in general, the address must not be changed.1. There may be a period during which the address must be stable.

従って、このような場合には、補正基準位置Ｘが基準検
出器９によって検出され、パルス発生器４の出力パルス
信号すを計数しているアドレス補正回路１０に内蔵のカ
ウンタの出力が補正される時点と、パターン検査装置６
に与えるアドレスｄを補正する時点とに適切なタイミン
グをとる必要がある。Therefore, in such a case, the correction reference position time and pattern inspection device 6
It is necessary to take appropriate timing for correcting the address d given to the address d.

そこで、このタイミングをとる方法の一実施例を示すと
、上記パルス発生器４の出力信号すを計数するカウンタ
として、パターン検査装置６にアドレスｄを出力するカ
ウンタ（カウンタＡ）と、出力しないカウンタ（カウン
タＢ）との２系統のカウンタを設ける。Therefore, an example of a method for taking this timing is shown below. As a counter for counting the output signal of the pulse generator 4, there is a counter (counter A) that outputs the address d to the pattern inspection device 6, and a counter that does not output the address d. (Counter B) and two systems of counters are provided.

示すが、補正基準位置が検出されると、上記アドレス補
正回路１０内蔵のメモリに記憶された対応する補正基準
位置Ｘの標準値（真値）がカウンタＢのみにロードされ
、カウンタＡ、Ｂはそのままパルスの計数を続けるよう
にしてお（。As shown in the figure, when the correction reference position is detected, the standard value (true value) of the corresponding correction reference position Just keep counting the pulses (.

その後、パターン検査装置６が、補正基準位置Ｘを検出
する前の、アドレスｄにおける処理と、その次のアドレ
スｄに於ける処理との間の期１＃４ノ、即ち、アドレス
ｄが変史されても良い期間となった時点で、カウンタＢ
の出力値をカウンタＡにロードする。Thereafter, the pattern inspection device 6 detects the correction reference position Counter B
Load the output value into counter A.

そうすれば、この時点でカウンタＡとカウンタ１３のパ
ルス計数値は再び等しくなり、アドレスｄが補正さｎた
ことになる。Then, at this point, the pulse count values of counter A and counter 13 become equal again, and address d has been corrected n.

このとき、一般にパターン検査装置６は、与えられたク
ロックパルスに従って処理を開始し、一定の時間をもっ
て処理を終了する。At this time, the pattern inspection device 6 generally starts processing according to the applied clock pulse and ends the processing after a certain period of time.

そこで、このようなパターン検査装置では、処理が終了
すると、次のクロックパルスを受けるまでがアドレスを
変更しても良い期間となる。Therefore, in such a pattern inspection apparatus, after the processing is completed, the period during which the address may be changed is until the next clock pulse is received.

従って、アドレス補正回路１ｏでパターン検査装置ｗ、
　６　Ｋ与えるクロックパルスを元年させ、それにより
上記−足時間の遅殆をもって、カウンタＢの出力１直を
カウンタＡにロードするよプにしても良いし、パターン
検査装置６から上記補正基準位置Ｘが検出される前のア
ドレスｄに於ける処理が終了したことを知らせる信号を
発生させ、その時点で、カウンタＢの出力値をカウンタ
ＡＫロードするようにしても良い。Therefore, in the address correction circuit 1o, the pattern inspection device w,
6. The clock pulse given by K may be delayed for the first year, thereby loading the first output of counter B into counter A with the delay of the above-mentioned time, or the pattern inspection device 6 may load the above-mentioned correction reference position A signal may be generated to notify that the processing at address d before X is detected has been completed, and at that point, the output value of counter B may be loaded into counter AK.

搬送系駆動部の走行距離に比例したパルス数を発生する
ためのロータリーエンコーダなどからなるパルス発生器
４としては、送りローラ３の１回転に対する出力パルス
数の大きいものを選択すればする程被検育印刷物１０区
分数も多（することができ、従って、＃１かいアドレス
補正、＃ＩＪち、精密な位置ずれ補正を行なうことがで
きるから、パルス発生器４０１回転当りのパルス数は、
この検査装置全体として要求される位置ずれ補正の精度
によって任意に選足す牡ばよい。なお、このとき、既に
説明したようにこのパルス数はパターン検査装［６で要
求される被検査印刷物の区分数に依っても制約を受ける
が、一般に、この区分に必要なパルス数よりも、補正に
必要なパルス数の方がはるか忙大きくなるから、このと
きには第８図で説明した方法を用いるようにすればよい
。As for the pulse generator 4, which is composed of a rotary encoder or the like, for generating the number of pulses proportional to the traveling distance of the conveyance system drive section, the higher the number of output pulses per one rotation of the feed roller 3, the more likely the test object will be. Since the number of 10 divisions of the nucleating material can be large (accordingly, #1 address correction, #IJ, and precise positional deviation correction can be performed), the number of pulses per rotation of the pulse generator 40 is as follows.
The number may be arbitrarily selected depending on the accuracy of positional deviation correction required for the inspection apparatus as a whole. At this time, as already explained, the number of pulses is also limited by the number of divisions of the printed matter to be inspected required by the pattern inspection system [6, but generally speaking, the number of pulses required for this division is Since the number of pulses required for correction is much larger, the method explained in FIG. 8 may be used in this case.

次に、パターン検糞装艮６が必要とするアドレスのビッ
ト数を〜１と慣れは、このビット数Ｍは、パターン検査
装置６に内蔵のメモリが要求するアドレスのビット数、
又はパターン処理に必要な被検査印刷物１０区分数（パ
ターンの区分数又は１区分の移動方向に対する長さ）に
よって決定される。Next, the number of address bits required by the pattern test device 6 is ~1, and this number of bits M is the number of address bits required by the built-in memory of the pattern test device 6.
Alternatively, it is determined by the number of 10 sections of the printed matter to be inspected (the number of sections of the pattern or the length of one section in the moving direction) required for pattern processing.

従って、アドレス補正回路１０がパターン検査装置ｉｔ
　６へ力えるアドレスｄのビット数はＭビットとなり、
パルス発生器４の出力パルス信号すを言１数するカウン
タのビット数をＮ１そしてＮ＝Ｍ＋Ａとすると、アドレ
スｄは、上記カウンタの最下位ビット（Ｌ　Ｓ　１３　
）より”β″番目から、最上位ビット（ＭＳＢ）より”
α“番目、つまり、カウンタ出力の最下位ビット（ＬＳ
Ｂ）より゛β″ビット目からｌｌＮ−ｉｔ　＋　１　＃
　ビット目までとなる。Therefore, the address correction circuit 10 is connected to the pattern inspection device it.
The number of bits of address d input to 6 is M bits,
Assuming that the number of bits of the counter that counts the output pulse signal of the pulse generator 4 is N1 and N=M+A, the address d is the least significant bit (LS13) of the counter.
), from the “β”th bit, from the most significant bit (MSB)”
α“th, that is, the least significant bit of the counter output (LS
llN-it + 1 # from the ``β'' bit from B)
Up to the first bit.

ここで、Ｎ、Ｍ、Ａ、α、βは、α＋β−２＝Ａ＝Ｎ−
Ｍ　　、　　α≧１．β≧１１よる正の整数で、αノ値
ハ、パターン検査装置６がパターン処理に必要な、パタ
ーン（被検査印刷物１）の区分間隔によって決定さ２′
１．る。Here, N, M, A, α, β are α+β-2=A=N-
M, α≧1. A positive integer satisfying β≧11, and the value of α is determined by the separation interval of the pattern (printed matter 1 to be inspected) required for pattern processing by the pattern inspection device 6.
1. Ru.

また、Ｍの値はミパターン検査装置６が必要とするアド
レスのビット数によって決定され、同様Ｋ、Ｎ（１）値
に−Ｌ、アドレス補正回路１ｏのカウンタのビット数に
よって決定されるので、結局、β、への値は、自動的に
決定されることＫなる。Furthermore, the value of M is determined by the number of address bits required by the mi-pattern inspection device 6, and is similarly determined by the K, N(1) value, -L, and the number of bits of the counter of the address correction circuit 1o. In the end, the value for β will be determined automatically.

尚、アドレス補正回路１ｏのカウンタのビット数（Ｎ）
は、このカウンタがパターン検査装置摩６の検査中にパ
ルス発生器４の出力パルスｂを計数している間、オーバ
ーフローしない様妊選ぶ必要がある。In addition, the number of bits (N) of the counter of the address correction circuit 1o
must be carefully selected so that this counter does not overflow while counting the output pulses b of the pulse generator 4 during the inspection of the pattern inspection device 6.

ところで、以上の実施例では、検査対象を印刷物に限定
していた。By the way, in the above embodiments, the inspection object was limited to printed matter.

従って、上記した補正のための基準位＠Ｘを印刷パター
ンの特定の絵柄部分Ｘに求めていた。Therefore, the reference position @X for the above-mentioned correction has been determined at a specific picture portion X of the print pattern.

しかして、このため、印刷パターンによっては特定の絵
柄部分Ｘの選定が難しく、その付近から独立して充分確
実に検出可能な絵柄部分が得られない場合があり、この
ようなときには基準検出器９が予め選定しである絵柄部
分Ｘ以外の部分で動作し、基準信号ｅを検出してし才う
て誤動作を起こすＪＲれが生じるようになる。Therefore, depending on the printing pattern, it may be difficult to select a specific picture part The JR controller operates in a portion other than the preselected picture portion X, detects the reference signal e, and causes a malfunction.

そこで、このよ５な虞ｒしのある場合には、基準検出器
９の出力である基準信号ｅに何らかのゲートを掛け、被
検査印刷物１が搬送中、その絵柄部分Ｘの前後の所定の
範囲内でだけ基準信号ｅが取り出されるようにしてやれ
ばよい。そして、そのためには、例えば、パルス発生器
４の出カイｎ号すを開数するカウンタの出力値と、予め
上記した所定範囲忙対応して設定しておいた数値との比
較によって開閉制御さ２’Ｌるゲート回路を用意し、こ
のゲート回路を基準検出器９とアドレス補正回路１０と
の間に設けてやればよく、こｎもまた本発明の一実施例
である。Therefore, if there is such a risk, some kind of gate is applied to the reference signal e, which is the output of the reference detector 9, and a predetermined range before and after the pattern portion The reference signal e may be taken out only within the range. To do this, for example, opening/closing control is performed by comparing the output value of a counter that calculates the output number n of the pulse generator 4 with a value set in advance corresponding to the above-mentioned predetermined range. 2'L gate circuit may be prepared and this gate circuit may be provided between the reference detector 9 and the address correction circuit 10, which is also an embodiment of the present invention.

なオＪ１　このことは、エツジ検出器７についても同様
で、必要に応じ゛Ｃゲート回路を設けるようにしてやれ
ばよい。This also applies to the edge detector 7, and a C gate circuit may be provided as required.

次に、アドレス補正回路１０の具体的１よ一実施例を第
９図によって説明する。なお、この第９図にはパルス発
生器４、光学センサ５、エツジ検出器７、基準検出器９
も一緒に示してあり、それらの信号については第５肉の
実施例と同じ符号を用いている。Next, a concrete example of the address correction circuit 10 will be described with reference to FIG. Note that FIG. 9 shows a pulse generator 4, an optical sensor 5, an edge detector 7, and a reference detector 9.
are also shown together, and the same symbols as in the fifth embodiment are used for those signals.

第９図において、２０．２１．２２はゲート回路、２３
　、２４　、２５　）−Ｊ−アップ・ダウン・カウンタ
、２６は検査開始信号発生器、２７は検査終了信号発生
器、２８は検査再開信号発生器、２９はクロック発生回
路、３０は補正データ設定回路、３Ｌ３２はラッチ回路
、３３はメモリ、３４は比較器、３５は基準ゲート設定
回路、３６はアドレス補正タイミング設定回路、３７は
補正データ照会回路である。In Figure 9, 20, 21, 22 are gate circuits, 23
, 24, 25)-J-up/down counter, 26 is a test start signal generator, 27 is a test end signal generator, 28 is a test restart signal generator, 29 is a clock generation circuit, and 30 is a correction data setting circuit. , 3L32 is a latch circuit, 33 is a memory, 34 is a comparator, 35 is a reference gate setting circuit, 36 is an address correction timing setting circuit, and 37 is a correction data inquiry circuit.

次に、動作について説明する。Next, the operation will be explained.

検査動作が開始すると、パルス発生器４は送りローラ３
（第５図）の回転に応じてパルス信号すを発生し、それ
をクロック発生回路２９に供給する。When the inspection operation starts, the pulse generator 4
A pulse signal is generated in accordance with the rotation of the clock (FIG. 5) and is supplied to the clock generation circuit 29.

これによりクロック発生回路２９は送９０−ラ３の正方
向回転（第５図の矢印方向）と逆方向回転の判別が可能
なりロック信号Ｇ１を発生し、これをカウンタ２３，２
４．２５のカウント大刀に供給する、 を通過してアップ・ダウン・カウンタ２３に計数開始信
号ｃｂを力える（ゲート回路１６を通過したエツジ検出
信号Ｃを計数開始信号ｃｂと呼ぷ）。As a result, the clock generation circuit 29 can distinguish between forward rotation (in the direction of the arrow in FIG. 5) and reverse rotation of the feeder 90-ra 3, and generates a lock signal G1, which is sent to the counters 23 and 2.
4. A count start signal cb is applied to the up/down counter 23 through the counter 25 (the edge detection signal C that has passed through the gate circuit 16 is referred to as the count start signal cb).

すると、そｔ″Ｌまでｅ［数値”苓”のまま停止してい
たアップ・ダウンψカウンタ２３が、クロック信号Ｃ１
をＭｔ数し始める。Then, the up/down ψ counter 23, which had stopped at e [value "蓓" until t''L, receives the clock signal C1.
Start counting Mt.

検査開始信号発生器２６、検査終了信号発生器２７、そ
れに検査再開信号発生器２８は、外部のデジタルスイッ
チなどによりそれぞｉｔ任意の数値をあらかじめ設定す
ることができ、アップ−ダウン・カウンタ２３の出力値
（計数値）ｃａが上記のそれぞれの設定値に達すると、
検査開始信号発生器２６からは検査開始信号りが、検査
終了信号発生器２３からは検査終了信号Ｉが、そして検
査再開信号発生器２４からは検査再開信号ｇがそ３それ
出力さｎる。The test start signal generator 26, the test end signal generator 27, and the test restart signal generator 28 can each be set to arbitrary numerical values by external digital switches, etc. When the output value (count value) ca reaches each of the above set values,
The test start signal generator 26 outputs a test start signal, the test end signal generator 23 outputs a test end signal I, and the test restart signal generator 24 outputs a test restart signal g.

なお、上記デジタルスイッチなどによる設定値は、検査
開始信号発生器２６では、エツジ検出器７と光学センサ
５の距離、又は、これに被検査印刷物１の前端からパタ
ーン検査装置６がパターン検査を開始する部位までの、
被検査印刷物表面上の間隔（エツジのマスク部分、つま
りパターンの境界部分）を加えた距離に相当する、パル
ス発生器４の出力パルス信号すのパルス数に設定さｎ、
同様に検査終了信号発生器２７では、被検査印刷物１の
長さ、又は、被検査印刷物前端からパターン検査装置６
がパターン検査を終了する部位までの被検査印刷物表面
上の間隔に相当する、出力パルス信号すのパルス数に設
定され、同゛じく検査再開信号発生器２８では、被検査
印刷物１の前端からこの被検査印刷物の後端と、次に搬
送されてくる被検査印刷物前端の間の任意の部位までの
長さく搬送系の構造によっては時開）Ｋ相当する、出力
パルス信号すのパルス数に設定される。Note that the setting value by the digital switch or the like is determined by the inspection start signal generator 26 based on the distance between the edge detector 7 and the optical sensor 5, or the distance between the edge detector 7 and the optical sensor 5, or the distance from which the pattern inspection device 6 starts pattern inspection from the front edge of the printed matter 1 to be inspected. up to the part to be
set to the number of pulses of the output pulse signal of the pulse generator 4, which corresponds to the distance plus the distance on the surface of the printed matter to be inspected (the edge mask portion, that is, the pattern boundary portion);
Similarly, the inspection completion signal generator 27 determines the length of the printed matter 1 to be inspected or the pattern inspection device 6 from the front end of the printed matter to be inspected.
is set to the number of pulses of the output pulse signal corresponding to the interval on the surface of the printed matter to be inspected up to the part where the pattern inspection ends, and similarly, the inspection restart signal generator 28 is set to Depending on the structure of the conveyance system, the length of the output pulse signal is equivalent to the number of pulses of the output pulse signal S, which can extend to any part between the rear end of this inspected print and the front edge of the next inspected print. Set.

さて、検査開始信号りが出力さ１すると、常にクロック
信号ｃＪ−を計数しているアップ・ダウン・カウンタ２
４．２５＋−ｔ−一旦クリア（出力を零に戻ず）され、
そ７ｔと共に、パターン検査装置６には検査開始が指令
される。従って、アップ・り゛ラン・カウンタ２４．２
５は、この後、再び零からの引数を続ける。Now, when the test start signal 1 is output, the up/down counter 2 which always counts the clock signal cJ-
4.25+-t- is cleared once (without returning the output to zero),
At the same time, the pattern inspection device 6 is commanded to start inspection. Therefore, the up rerun counter 24.2
5 then continues the argument from zero again.

また、パターン検査装置６は、検査開始信号りを受ける
と、アドレスｄ”に従って光学センサ５かもの信号ａを
区分しながら入力し始めるっ一方、検査終了信号ｉが出
力されると、パターン検査装置６は検査停止を指令され
る。When the pattern inspection device 6 receives the inspection start signal, it starts inputting the signals a from the optical sensor 5 while classifying them according to the address d'', while when the inspection end signal i is output, the pattern inspection device 6 is ordered to stop the inspection.

そこで、パターン検査装置６は光学センサ５からの信号
ａの入力を停止し、この時点で、１個の被検査印刷物に
対するパターン処理を終了する。Therefore, the pattern inspection device 6 stops inputting the signal a from the optical sensor 5, and at this point, the pattern processing for one printed matter to be inspected ends.

さらに、検査再開信号ｇが出力されると、アップ・ダウ
ンｅカウンタ２３はクリアさｔし、計数を停止すると共
にゲート回路２１が開放さ扛る。Furthermore, when the test restart signal g is output, the up/down e counter 23 is cleared and stops counting, and the gate circuit 21 is opened.

そこで、アップ・ダウン・カウンタ２３は、次に計数開
始信号ｃｂを受けるまでは出力値を°゛零”に保ったま
ま計数を停止し、他方、ゲート回路２１は、エツジ検出
器Ｉの出力信号Ｃを１回通過させると直ちにゲートを閉
じ、次の検査再開信号ｇを受けるまでは開放されない（
但し、電源投入時には、開放されている）。Therefore, the up/down counter 23 stops counting while keeping the output value at zero until it receives the next counting start signal cb, while the gate circuit 21 receives the output signal of the edge detector I. The gate closes immediately after passing C once, and is not opened until the next test restart signal g is received (
However, it is open when the power is turned on).

この実施例では、アドレスｄ′（第６図）に対して位置
ずれの補正を行う為に、予め補正基準位置に対するゲー
トの設定、及び、補正基準位置の標準値（真値）のメモ
リ書き込みを、初期データの設定として行な５必要があ
る。In this embodiment, in order to correct the positional deviation with respect to address d' (Fig. 6), a gate is set for the correction reference position and a standard value (true value) of the correction reference position is written in the memory in advance. , it is necessary to perform 5 steps to set the initial data.

この補正基準位置に対するゲートを設定するには、まず
、被検査対象物表面上の補正基準位置が基準検出器９の
直前に到達した時点で、基準ゲート設定回路３５に基準
ゲート設定信号ａｃを入力する。To set the gate for this correction reference position, first, when the correction reference position on the surface of the object to be inspected reaches just before the reference detector 9, a reference gate setting signal ac is input to the reference gate setting circuit 35. do.

これにより、基準ゲート設定回路３５は、この信号ａｃ
を計数することに依り、補正基準位置に対するゲートに
番号を付け、メモリ３３に記憶命令信号ａｄを、ゲート
回路２２にゲート開放信号ｐを与える。As a result, the reference gate setting circuit 35 uses this signal ac
By counting , a number is assigned to the gate corresponding to the correction reference position, and a storage command signal ad is given to the memory 33 and a gate opening signal p is given to the gate circuit 22.

すると、記憶命令信号ａｄが示すメモリ３３の所定の記
憶箇所に、クロック信号ｃＪ−の計数値である、アップ
・ダウン・カウンタ２４の出力ａａが信号経路ｔを通っ
て供給され、そこにゲート位置データとしてｄ１２憶さ
才１．る。Then, the output aa of the up/down counter 24, which is the counted value of the clock signal cJ-, is supplied to a predetermined storage location in the memory 33 indicated by the storage command signal ad through the signal path t, and the gate position As data, d12 is stored as 1. Ru.

一方、ゲート回路２２はメモリ３３への記憶が終わると
直ちに閉じ、再びゲート開放（Ｆｉｒ号ｐ５又はゲート
開放信号ｋが入力さｎるまで開放さ２ｔない。On the other hand, the gate circuit 22 is closed immediately after the storage in the memory 33 is completed, and is not opened again until the gate is opened again (Fir number p5 or gate open signal k is input n).

こうして、基準補正点の数だレナ、上記のゲートの設定
が行なわれる。In this way, the number of reference correction points and the above-mentioned gates are set.

なお、ゲートを設定する為援、基準ゲート設定信号ａｃ
を人力する際、基準検出器９の直下と対応する補正基準
位置との間に、基準検出器９が誤まって検出してしまう
ような絵柄部分が存在しない位置で入力する必要がある
。In addition, in order to set the gate, the reference gate setting signal ac
When manually inputting the image, it is necessary to enter the image at a position where there is no picture part that would be detected incorrectly by the reference detector 9 between directly below the reference detector 9 and the corresponding correction reference position.

この基準補正位ｈ″に対するゲートの設定がすべて終了
するまでは、補止データ照会回路３７、補正データ設定
回路３０、そ７１．にアドレス補正タイミング設定回路
３６はすべて動作を県止さ扛ている。The supplementary data inquiry circuit 37, the correction data setting circuit 30, and the address correction timing setting circuit 36 are all stopped from operating until all gate settings for this reference correction position h'' are completed. .

上記のゲートの設定がすべて終了すると、次に、補正基
準位置の標準値のメモリ書き込みを行１よ５為に、補正
データ照会回路３７及び、補正データ設定回路３０が動
作を許さｎ、同時に基準ゲート股足回路３５は動作を禁
止される。When all of the gate settings described above are completed, the correction data inquiry circuit 37 and the correction data setting circuit 30 allow operation in order to write the standard value of the correction reference position into the memory in rows 1 to 5. The gate leg circuit 35 is prohibited from operating.

なお、この標準値訃き込みの間も、アドレス補正タイミ
ング設定回路３６は動作を禁止されている為、アップ・
ダウン・カウンタ２４と２５の出力ａａ及びｄｎは、常
に等しい値となっている。Note that even during this period when the standard value has fallen, the address correction timing setting circuit 36 is prohibited from operating.
The outputs aa and dn of the down counters 24 and 25 are always equal values.

エツジ検出器Ｔが被検査印刷物の前端を検出し、計数開
始信号ｃｂが補正データ照会回路３７に力えられると、
データ照会信号ａｆがメモリ３３に力えらｔ、メモリ３
３からは先に設定した、１個目の補正基準位置に対する
ゲート位置データが経路Ｕを経てラッチ回路３２に出力
される。When the edge detector T detects the front edge of the printed matter to be inspected and the counting start signal cb is input to the correction data inquiry circuit 37,
The data inquiry signal af is input to the memory 33, and the memory 3
3, the gate position data for the first correction reference position previously set is output to the latch circuit 32 via path U.

同時に、ラッチ回路３２はデータ・ロード信号ｊを受け
、上記のデータを次に再びデータ・ロード信号ｊを受け
るまで出力ｒに保持する。At the same time, the latch circuit 32 receives the data load signal j and holds the above data at the output r until it receives the data load signal j again next time.

アップ・ダウン書カウンタ２５の出力ｄｎがラッチ回路
３２の出力ｒと等しくなると、比較器３４はゲート開放
信号１を出力し、ゲート回路２０を開放する。When the output dn of the up/down write counter 25 becomes equal to the output r of the latch circuit 32, the comparator 34 outputs the gate open signal 1 and opens the gate circuit 20.

ここで、基準検出器９が補正基準位置を検出すると、基
準信号ｅがゲー　ト回路２０を通過し、基準検出信号ｅ
；Ｉが補正データＩＩＣ’会回路３７、及び補正データ
設定回路３０に与えられる（ゲート回路２０を通過した
基準信号ｅを基準検出信号ｅａと叶ぶ）。Here, when the reference detector 9 detects the corrected reference position, the reference signal e passes through the gate circuit 20, and the reference detection signal e
; I is given to the correction data IIC' circuit 37 and the correction data setting circuit 30 (the reference signal e passed through the gate circuit 20 is treated as the reference detection signal ea).

ゲート回路２０は基準検出イイ号ｅを通過させると直ち
に閉じ、次に再びゲート開放信号ｌを受けるまでは開放
しない。The gate circuit 20 closes immediately upon passing the reference detection signal e, and does not open until it receives the gate opening signal l again.

補正データ設定回路３０は、基準検出信号ｅａを受ける
と記憶命令１６号ａｅ及び、ゲート開放信号ｋを出力す
る。すると、アップ・ダウン拳カウンタ２４の出力ａａ
がゲート回路２２を通Ｊ）　Ｌ、経路ｔを経てデータ照
会信号ｓｆが示す、メモリ３３内の所定のＨ１シ憶箇所
へ送られ、そオ（が補正基準位１ｈ゛の標準値（ＪＣ値
）として記憶される。、このゲート回路２２はメモリ３
３への記憶が終わると直ちに閉じ、次に再びゲート開放
信号ｋを受けるまで開放さｎない。When the correction data setting circuit 30 receives the reference detection signal ea, it outputs a storage command No. 16 ae and a gate opening signal k. Then, the output aa of the up/down fist counter 24
is sent to the predetermined H1 storage location in the memory 33 indicated by the data inquiry signal sf via the gate circuit 22 (J)L and the path t, where (is the standard value (JC value) of the correction reference position 1h). ), this gate circuit 22 is stored in the memory 3
It closes as soon as the storage to 3 is completed, and does not open until it receives the gate open signal k again.

補正データ照会回路３Ｔは基準検出信号ｅａを同時に受
け、データ照会信号ａｆ及びデータロード信号ｊを出力
し、メモリ３３よりラッチ回路３２へ、今度は２番目の
補正基準位置に対応するゲート位置データを出力する。The correction data inquiry circuit 3T simultaneously receives the reference detection signal ea, outputs the data inquiry signal af and the data load signal j, and sends the gate position data corresponding to the second correction reference position from the memory 33 to the latch circuit 32. Output.

このようにして、補正基準位置の数だけ、補正基準位置
の標準値のメモリ書き込み、及び、次の補正基準点に対
応するゲート位置データの読み出しを繰り返し、これに
より補正基準位置の標準値の設定を終了する。In this way, writing the standard value of the correction reference position into the memory and reading the gate position data corresponding to the next correction reference point are repeated as many times as the number of correction reference positions, thereby setting the standard value of the correction reference position. end.

なお、実際には、信号ｊ及び信号訂が信号ａｅなどと競
合しない様に、補正データ照会回路３Ｔは基準検出信号
ｅａを受けてから、出力信号ｊ　、　ａｆを発生するま
でに、公知の方法を用いて適切な時間間隔を置く必要が
ある。In fact, in order to prevent the signal j and the signal correction from competing with the signal ae, the correction data inquiry circuit 3T uses a known method after receiving the reference detection signal ea and before generating the output signals j and af. It is necessary to use appropriate time intervals.

上記の、補正基準位置の標準値の設定は、パターン検査
装置６が、光学センサ５からの信号ａを、標準パターン
（基準データ）として入力している期間に行なわれる。The above-mentioned setting of the standard value of the correction reference position is performed during a period in which the pattern inspection device 6 is inputting the signal a from the optical sensor 5 as the standard pattern (reference data).

こプして、補正基準位置に対するゲートの設定及び標準
値の設定、即ち初期データの設定が終了すると、補正デ
ータ設定回路３０及び基準ゲート設定回路３５は動作を
禁止さ才ｔ、アドレス補正タイミング設定回路３６が動
作を許され、アドレスｄ’ｌｃ対して位置ずｎの補正を
行なうことができるようになる。この補正動作に、以下
の様にして行なわれる。After completing the gate setting and standard value setting for the correction reference position, that is, the initial data setting, the correction data setting circuit 30 and the reference gate setting circuit 35 are prohibited from operating. The circuit 36 is allowed to operate and can now correct the position n for the address d'lc. This correction operation is performed as follows.

エツジ検出器７が被検査印刷物の前端を検出し、エツジ
検出信号Ｃがゲート回路２１を通過して計数開始信号ｃ
ｂとなり、これが補正データ照会回路３７に与えられ、
補正データ照会回路３１はデータ照会信号ａｆ及び、デ
ータロード信号ｊを出力する。The edge detector 7 detects the front edge of the printed matter to be inspected, and the edge detection signal C passes through the gate circuit 21 and the counting start signal c
b, which is given to the correction data inquiry circuit 37,
The correction data inquiry circuit 31 outputs a data inquiry signal af and a data load signal j.

すると、メモリ３３は、１個目の補正基準位１偵対する
ゲート位置データを、信号経路Ｕを経てラッチ回路３２
へ、そして１個目の補正基準位置に対する標準値を、信
号経路Ｓを経てラッチ回路３１へそれぞ１１出力し、ラ
ッチ回路３２及び３１は、このメモリ３３から力えられ
た偵号値を、出力【及びｑへ、次に再びデータロード信
号ｊを受けるまで保持する。Then, the memory 33 transfers the gate position data for the first correction reference position to the latch circuit 32 via the signal path U.
Then, the standard value for the first correction reference position is outputted to the latch circuit 31 via the signal path S, and the latch circuits 32 and 31 receive the reconnaissance value inputted from the memory 33. Output [and q, and hold until receiving data load signal j again.

アップ・ダウン・カウンタ２５の出力値ｄｎカラッチ回
路３２の出力値ｒに達すると、比較器３４はゲート開放
信号１を出方し、ゲート回路２ｏを開放する。When the output value dn of the up-down counter 25 reaches the output value r of the car latch circuit 32, the comparator 34 outputs the gate open signal 1 and opens the gate circuit 2o.

基準検出器９が１個目の補正基準位置を検出し、基準検
出信号ｅがゲート回路２ｏを通過して基準検出信号ｅａ
となり、こわが、アドレス補正タイミング設定回路３６
に与えらｎ、これによりアドレス補正タイミング設定回
路３６は標準値ロード信号ａｈを出力する。The reference detector 9 detects the first corrected reference position, and the reference detection signal e passes through the gate circuit 2o to become the reference detection signal ea.
The problem is that the address correction timing setting circuit 36
n, thereby causing the address correction timing setting circuit 36 to output the standard value load signal ah.

また、アップ・ダウン中カウンタ２４は、標準値ロード
信号ａｈを受け、ラッチ回路３１が、その出力ｑに保持
している、１個目の補正基準位１偵の（位置を示す）標
準値（真値）をロードする。Further, the up/down counter 24 receives the standard value load signal ah, and the latch circuit 31 outputs the standard value (indicating the position) of the first correction reference position 1 held at its output q. true value).

一方、アップ”龜ダウン・カウンタ２４は、そのままク
ロック信号ｏＪ−を標準ｎＫ加算する形で計数するが、
ここで、初期データ設定の際と異なる位置ずれが発生し
ていると、この時点でのアップ・ダウン・カウンタ２４
と２５の出力値ａａとｄｎは異なる値と１．ｃつている
。On the other hand, the up/down counter 24 counts the clock signal oJ- by adding it to the standard nK.
Here, if a positional shift different from that at the time of initial data setting has occurred, the up/down counter 24 at this point
and 25 output values aa and dn are different values and 1. c is on.

アドレス補正タイミング設定回路３６は、標準値ロード
信号ａｈを出力したり（第５図で説明したように）、パ
ターン検査装置６がアドレスｄ′を変更されても良い期
間になると、補正値ロード信号ａｇをアッフ゛拳ダウン
・カウンタ２５に力える。The address correction timing setting circuit 36 outputs a standard value load signal ah (as explained in FIG. 5), and outputs a correction value load signal when a period during which the pattern inspection device 6 is allowed to change the address d' is reached. Force ag to up-fist down counter 25.

すると、アップ・ダウンＱカウンタ２５は、アップ・ダ
ウン・カウンタ２４の出力ａａをロードし、この時点で
、アップ・ダウン・カウンタ２４　、２５の出力ａａと
ｄｎは等しい値となり、アドレスｄは位置ずれの補正を
されたことになる。Then, the up/down Q counter 25 loads the output aa of the up/down counter 24, and at this point, the outputs aa and dn of the up/down counters 24 and 25 become equal values, and the address d is shifted. This means that the correction has been made.

なお、標準値ロード信号ａｈは、基準検出信号ｅａが出
力さ扛ると直ちに出力されるが、これに対して補正値ロ
ード信号ａｇを出力するタイミングは、パターン検査装
置６より得ても良いし、或いはノ（ターン検査装置６の
、各パターン区分に対する処理を行７．ｃ　５タイミン
グを示すクロック信号を、アドレスＣと共にパターン検
査装置ｉｆ＋′６へ与え、このクロック信号（図示せず
）とアドレスｄ＃などの関係から演算して得るようにし
ても良い。Note that the standard value load signal ah is output immediately after the reference detection signal ea is output, but the timing for outputting the correction value load signal ag may be obtained from the pattern inspection device 6. , or () A clock signal indicating the timing of turn inspection device 6 for each pattern section is given to pattern inspection device if+'6 along with address C, and this clock signal (not shown) and address It may also be obtained by calculating from a relationship such as d#.

また、この時点では、１個目の補正基準位置に対応する
基準検出信号ｅａを受けた補正データ照会回路３Ｔが、
データ照会信号ａｆ及びデータロード信号ｊを出力し、
今度は、２番目の補正基準位置に対するゲート位置デー
タ及び標準値をメモリ３３より出力させ、それぞれ、ラ
ッチ回路３２及びラッチ回路３１に保持させる。Furthermore, at this point, the correction data inquiry circuit 3T that has received the reference detection signal ea corresponding to the first correction reference position,
outputting a data inquiry signal af and a data load signal j;
This time, the gate position data and standard value for the second correction reference position are outputted from the memory 33 and held in the latch circuits 32 and 31, respectively.

なお、実際には、このデータ照会信号ａｆ及び、データ
ロード信号ｊは、標準値ロード信号ａｈと競合しないよ
うに、アップ中ダウン・カウンタ２４が１個目の標準値
をロードし終えた後に出力される。Note that, in reality, the data inquiry signal af and the data load signal j are output after the down counter 24 finishes loading the first standard value in order to avoid conflict with the standard value load signal ah. be done.

このように、アップ櫓ダウンｅカウンタ２５は、補正基
準位置を検出するたびＫその補正基準位置の標準値をロ
ードし、ラッチ回路３１及び３２は、次の補正基準位置
のゲート位置データ及び標準値をそれぞわ取り込む。そ
して、適切な変更タイミングでアドレスｄ′を補正する
。In this way, the up-turret-down e-counter 25 loads the standard value of the correction reference position every time it detects the correction reference position, and the latch circuits 31 and 32 load the gate position data and standard value of the next correction reference position. Incorporate each. Then, the address d' is corrected at an appropriate change timing.

従って、アドレスｄ“は、補正基準点が検出されるたび
に位置ずれの補正を受けることＫなる。Therefore, the address d" undergoes positional deviation correction every time the correction reference point is detected.

なお、アドレスｄ“は、アップ・ダウン・カウンタ２５
のＮビットの出力ｄｎの一部のビットを、第５図で説明
ｌ−だ方法で選んだもので、パターン検査装置６へ与え
らオＬる。Note that the address d" is the up/down counter 25
Some bits of the N-bit output dn are selected using the method described in FIG. 5 and are applied to the pattern inspection device 6.

また、ゲート回路２０及び２１に簡単な変更を施すだけ
で、エツジ検出器Ｔと基準検出器９を一つの検出器で済
ますこともできる。Furthermore, by simply modifying the gate circuits 20 and 21, the edge detector T and the reference detector 9 can be replaced by one detector.

さらに、被検査印刷物のエツジに代わる適切な部位を決
定すれば、シート状の印刷物に限らず、連続した印刷物
を対象とした検査を行なうよう圧することもできる。Furthermore, by determining an appropriate part to replace the edge of the printed matter to be inspected, it is possible to perform inspection not only on sheet-like printed matter but also on continuous printed matter.

次Ｋ、以上の実施例による位伝補正効果について説明す
る。Next, the position transmission correction effect according to the above embodiment will be explained.

既に簡単に説明したように、このような検査装置におい
ては、一般に、搬送装置と被検査印刷物間のスリップ、
搬送装置の送りローラと、その他の駆動機構間のスリッ
プ等による位置ずれは、被検査印刷物の移動方向に対し
て一方向に発生する。As already briefly explained, in such an inspection device, there is generally no slip between the conveyance device and the printed matter to be inspected.
Misalignment due to slip between the feed roller of the conveyance device and other drive mechanisms occurs in one direction with respect to the moving direction of the printed matter to be inspected.

つまり、被検査印刷物が移動方向に対し、後にずれる形
で位置ずれが発生ずる場合が多い。In other words, in many cases, the printed matter to be inspected is displaced backward in the direction of movement.

これを第１０図で説明すると、この図は横軸に搬送量Ｚ
を、そして縦軸に位置ずれの量Ｙをとったものであり、
これにより上記した位置ずれは直線へのような特性を示
すことになり、このときの直線Ａの傾きは搬送機構や印
刷物の状態によって定まって（る。This will be explained with reference to Fig. 10. In this figure, the horizontal axis shows the conveyance amount Z.
, and the amount of positional deviation Y is taken on the vertical axis,
As a result, the above-mentioned positional deviation exhibits a straight line characteristic, and the inclination of the straight line A at this time is determined by the conveying mechanism and the state of the printed matter.

そこで、印刷物の搬送方向の長さをＬとすれば、この長
さＬの間に位置ずれの量が累積されるため、何も補正を
行なわ１Ｌいとす肚ば、この間にｙ。という大きな位置
ずれを生じ、検査装置は当然誤判定してしまうことにな
る。Therefore, if the length of the printed material in the transport direction is L, the amount of positional deviation is accumulated during this length L, so if no correction is made and it is 1L, y will be generated during this length. This causes a large positional shift, and the inspection device naturally makes an erroneous determination.

一方、一点鎖線Ｂで示した特性は本発明の実施例によっ
た場合のもので％　ｉｌｌ　７２１　Ｊ３は補正基準位
置を表わし、この位置に達するごとに位置ずれの量Ｙは
”零”に戻され、この結果、位置ずれ量の最大値をｙｌ
に抑えることができるのが判る。On the other hand, the characteristic shown by the dashed line B is based on the embodiment of the present invention, and % ill 721 J3 represents the correction reference position, and the amount of positional deviation Y returns to "zero" every time this position is reached. As a result, the maximum value of the positional deviation amount is yl
It turns out that it can be suppressed to .

なおく以上の実施例では、印刷に欠陥のない標準的な印
刷物を搬送させ、それにより取り込んだ標準パターンの
アドレスを位置すれか“零″のものとして補正を行なう
ようＫなっている。従って、この標準パターンを取り込
んだときにもスリップなどＫよる位置ずれ発生が当然予
想される為、第ｗ図における特性Ａは図示のように単純
な右上りのものとなるとは限らない。しかしながら、縦
軸Ｙを位置ずれのバラツキ量とすれば、はぼ第１０図で
示すような、特性Ａと考えることができる。In the embodiments described above, a standard printed matter with no printing defects is conveyed, and the address of the standard pattern taken in is corrected by setting it as a "zero" address. Therefore, even when this standard pattern is taken in, it is naturally expected that positional deviations due to K such as slips will occur, so the characteristic A in FIG. w is not necessarily a simple upward slope as shown. However, if the vertical axis Y is the amount of variation in positional deviation, then it can be considered to be characteristic A as shown in FIG.

そこで、補正を行なわないときに生じる最大の位置ずれ
葉をｙ。５．補正基準位置の数をｎとし、さら忙、この
ｎ個の補正基準位置を被検査印刷物の各印刷パターンの
長さに対して等間隔に設定して補正を行なった場合に残
留する位置ずれの量ν１は、９まぼ次式で表わされる。Therefore, the maximum misaligned leaf that occurs when no correction is performed is y. 5. The number of correction reference positions is n, and the remaining positional deviation is calculated by setting these n correction reference positions at equal intervals with respect to the length of each print pattern of the printed matter to be inspected. The quantity ν1 is expressed by the following equation.

Ｏ ｙｌ　： ｎ＋１ 従って、この実施例によれば、充分な位置ずれ補正が得
られ、誤判定の発生を実用上完全に除（ことができるこ
とになる。O yl : n+1 Therefore, according to this embodiment, sufficient positional deviation correction can be obtained, and the occurrence of misjudgment can be practically completely eliminated.

なお、以上の実施例では、検査対象物を印刷物に限って
説明したが、本発明は印刷物に限ることな（、一般罠同
じパターンが施こさｎている物体も適用可能なことはい
うまでもな（、従って、以上の説明における被検査印刷
物もそのよ５に解すべきであることはいうまでもないと
ころである。In the above embodiments, the object to be inspected was limited to printed matter, but the present invention is not limited to printed matter (it goes without saying that it is also applicable to objects on which the same pattern is applied). (Accordingly, it goes without saying that the printed material to be inspected in the above explanation should also be interpreted as such.

以上説明したよ５に、本発明によれば、位置ずれによる
標準パターンと被検査パターンの対応ずれの発生を最少
限度に抑えることができるから、従来技術の欠点を除き
、被検査パターンの微小な欠陥にも正確に応動し、しか
も誤判定が発生する虞れのない検査装置を得ることがで
きる印刷物の走行位置補正方式を容易に提供することが
できる。As explained above, according to the present invention, the occurrence of mismatch between the standard pattern and the pattern to be inspected due to positional deviation can be suppressed to a minimum, thereby eliminating the shortcomings of the prior art It is possible to easily provide a printed matter traveling position correction method that can provide an inspection device that accurately responds to defects and is free from the possibility of misjudgment.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第１図は走行印刷物検査装置の従来例を示す概略構成図
、第２図（イ）〜（ホ）は第１図の従来例における位置
ずれによる問題点を示す説明図、第３図及び第４図は同
じ（位置ずれによる誤判定の発生を示す説明図、第５図
は本発明による印刷物の走行位置補正方法の一実施例を
示す概略構成図、第６図（イ）〜（ホ）及び第７図（イ
）〜（ホ）はそれぞれ第５図の実施例における補正動作
の一実施例を示す説明図、第８図（イ）〜（す）は同じ
く第５図の実施例忙よる補正動作の他の一実施例を示す
説明図、第９図は第５図の実施例におけるアドレス補正
回路の具体的な一実施例を示すブロック図、＠１（）図
は本発明による効果を示す説明図である。 １・・・・・・被検査印刷物（検査対象物）、３・・団
・送りローラ、４・・・・・・パルス発生＊Ｌ５・・・
・・・光学センサ、６・・・・・・パターン検査装置、
７・・・・・・エツジ検出器、９・・・・・・基準検出
器、１０・・・・・・アドレス補正回路 第１図 第５図 ！Fig. 1 is a schematic configuration diagram showing a conventional example of a running print inspection device, Figs. 2 (A) to (E) are explanatory diagrams showing problems caused by positional deviation in the conventional example of Fig. Figure 4 is the same (an explanatory diagram showing the occurrence of misjudgment due to positional deviation, Figure 5 is a schematic configuration diagram showing an example of the method for correcting the traveling position of printed matter according to the present invention, and Figures 6 (A) to (E)). and FIGS. 7(A) to 7(E) are explanatory diagrams showing an example of the correction operation in the embodiment of FIG. 5, respectively, and FIGS. FIG. 9 is a block diagram showing a specific example of the address correction circuit in the embodiment shown in FIG. It is an explanatory diagram showing the following. 1... Printed matter to be inspected (inspected object), 3... Group/feed roller, 4... Pulse generation *L5...
...Optical sensor, 6...Pattern inspection device,
7...Edge detector, 9...Reference detector, 10...Address correction circuit Figure 1 Figure 5!

Claims (1)

【特許請求の範囲】 （１）搬送装置により走行する被検査印刷物の印刷パタ
ーンの境界部分が所定位置に達したときを初期値とし、
上記搬送装置が一定距離走行するごとに歩進するｉｔ数
値を求め、この創数値により上記印刷パターンの搬送方
向に沿って複数に分割された各領域ごとのアドレスを検
出し、上記被検査印刷物の印刷パターンから上記各領域
ととに読取ったデータを上記アドレスにより標準印刷パ
ターンの対応する領域ごとのデータと順次比較して印刷
の長比判定を行なう方式の走行印刷物の検査装ｆｔにお
いて、上記印刷パターンの境界部分から搬送方向に沿っ
た特定の位置の検出が可能な少（とも一つの絵柄部分を
選定してそのアドレスを表わす数値を記憶させ、印刷物
の検査中、上記絵柄部分が検出されるごとにそのアドレ
スに対応した数イ１０の読出しを行ない、この読出した
数値で上記計数値を置換することにより上記搬送装置と
被検査印刷物との位置ずれＫよって発生する良否判定の
誤動作を補正するようＫしたことを特徴とする印刷物の
走行位置補正方法。 （２ン　　特許請求の範囲第１項において、上Ｎｒ２印
刷パターンの中で上記絵柄部分を含む所定範囲を選定し
、この所定範囲の中でだけ上記絵柄部分に対する検出動
作を行なうことにより上記絵柄部分の検出動作が正確に
行なえるようにしたことを特徴とする印刷物の走行位置
補正方法。 （３）特許請求の範囲第１項又は第２項において、上記
各領域ごとのアドレスを細分化し、この細分化したアド
レスに対応して上記計数値及び上記数値を発生させるこ
とにより上、記補正の精度を上げるようにしたことを特
徴とする印刷物の走行位置補正方法。 （４）％許請求の範囲第１項ないし第３項のし・ずれか
において、上記計数値を求めるための手段として、上記
各領域のアドレス検出用の計数値を発生させるだめの第
１の手段と、上記絵柄部分が検出されるごとに行なわれ
る数個による置換動作の対象となる計数値を発生するた
めの第２の手段との２系統の手段を用い、−Ｆ配給柄部
分が検出されたときのタイミングとは異なる所定のタイ
ミングにおいて上記第２の手段によって得られている計
数値で上記第１の手段によって得られている引数値を置
換することにより、上記補正が行なわれるタイミングを
任意に選定し得ろよつにしたこ七を特徴とする印刷物の
走行位置補正方法。[Scope of Claims] (1) The initial value is set when the boundary part of the print pattern of the printed matter to be inspected traveling by the conveyance device reaches a predetermined position,
An IT value that is incremented each time the conveyance device travels a certain distance is determined, and an address for each area divided into a plurality of areas along the conveyance direction of the print pattern is detected using this value, and the address of each area of the print pattern to be inspected is detected. In the inspection device ft for running printed matter that uses the method of determining the length ratio of printing by sequentially comparing the data read in each of the above areas from the print pattern with the data for each corresponding area of the standard print pattern using the above address, the above printing It is possible to detect a specific position along the conveyance direction from the boundary of the pattern (at least one picture part is selected and a numerical value representing its address is memorized, and the said picture part is detected during the inspection of the printed matter). By reading out the number 10 corresponding to that address and replacing the above-mentioned count value with this read-out value, malfunctions in pass/fail judgment caused by the positional deviation K between the above-mentioned conveying device and the printed matter to be inspected are corrected. (2) In claim 1, a predetermined range including the above picture part is selected in the upper Nr2 printing pattern, and within this predetermined range A method for correcting the traveling position of a printed matter, characterized in that the detection operation for the pattern portion can be accurately performed by performing the detection operation for the pattern portion only with the following. In item 2, the accuracy of the above correction is improved by subdividing the address for each area and generating the counted value and the numerical value corresponding to the subdivided addresses. A method for correcting the traveling position of a printed matter. (4) Permitted Claims In any one of paragraphs 1 to 3, the count value for address detection in each area is used as a means for determining the count value. Using two systems of means: a first means for generating a count value, and a second means for generating a count value to be subjected to a replacement operation by several pieces, which is performed every time the picture part is detected, - By replacing the argument value obtained by the first means with the count value obtained by the second means at a predetermined timing different from the timing when the F ration pattern portion is detected, A method for correcting the running position of a printed matter, characterized in that the timing at which the above correction is performed can be arbitrarily selected.