JPS5920665Y2 - 原子吸光分析装置 - Google Patents
原子吸光分析装置Info
- Publication number
- JPS5920665Y2 JPS5920665Y2 JP12124679U JP12124679U JPS5920665Y2 JP S5920665 Y2 JPS5920665 Y2 JP S5920665Y2 JP 12124679 U JP12124679 U JP 12124679U JP 12124679 U JP12124679 U JP 12124679U JP S5920665 Y2 JPS5920665 Y2 JP S5920665Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- time
- analysis
- standard sample
- analysis result
- calibration curve
- Prior art date
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- Expired
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は検量線補正装置を備えた原子吸光分析装置に関
する。
する。
原子吸光分析で定量分析をするには通常、予め標準試料
を用いて検量線を作っておき、これによって未知試料の
濃度を求める。
を用いて検量線を作っておき、これによって未知試料の
濃度を求める。
しかし光源ランプの温度変化とか試料原子化部における
原子化効率の変動により長時間にわたって同じ検量線を
使うことか゛できなかった。
原子化効率の変動により長時間にわたって同じ検量線を
使うことか゛できなかった。
本考案は相当時間にわたって同一検量線を用いしかも正
しい定量分析が行えるようにするため検量線の補正装置
を備えた原子吸光分析装置を提供しようとするものであ
る。
しい定量分析が行えるようにするため検量線の補正装置
を備えた原子吸光分析装置を提供しようとするものであ
る。
原子吸光分析における検量線の変動は成る時間幅をとっ
てみると時間的変化率が一定とみなすことができる。
てみると時間的変化率が一定とみなすことができる。
即ち検量線の時間的変化は直線的である。
本考案はこのことを利用して適宜時間間隔で標準試料を
測定して検量線の時間的変化の勾配を求め、始めの標準
試料の測定の時点から以後次回の標準試料測定までの間
の分析に対してその分析を行った時刻と測定値とを記憶
しておき、２回目の標準試料測定後、前後の標準試料の
測定値を用いて内挿演算によって正しい濃度値を算出す
る記憶演算装置を主体とする検量線補正装置を備えた原
子吸光分析装置を提供するものである。
測定して検量線の時間的変化の勾配を求め、始めの標準
試料の測定の時点から以後次回の標準試料測定までの間
の分析に対してその分析を行った時刻と測定値とを記憶
しておき、２回目の標準試料測定後、前後の標準試料の
測定値を用いて内挿演算によって正しい濃度値を算出す
る記憶演算装置を主体とする検量線補正装置を備えた原
子吸光分析装置を提供するものである。
以下実施例によって本考案を説明する。
第１図は本考案の一実施例を示す。
１は光検出器で図外の試料原子化部を透過して来た光を
受光して電気信号に変える。
受光して電気信号に変える。
２はその電気信号を増幅する増幅器、３は増幅器２の出
力を対数変換して吸光度に比例した信号にする吸光度変
換器であり、その出力はＡ−Ｄ変換器４でテ゛イジタル
信号に変換されて通常の分析モードにおいてはメモリＭ
１に記憶せしめられる。
力を対数変換して吸光度に比例した信号にする吸光度変
換器であり、その出力はＡ−Ｄ変換器４でテ゛イジタル
信号に変換されて通常の分析モードにおいてはメモリＭ
１に記憶せしめられる。
５は計時装置で時刻信号を出しており、Ａ−Ｄ変換器４
の出力がメモリＭ１に記憶せしめられるとき、そのとき
の計時装置出力か゛同時にメモリＭ１に記憶せしめられ
る。
の出力がメモリＭ１に記憶せしめられるとき、そのとき
の計時装置出力か゛同時にメモリＭ１に記憶せしめられ
る。
このようにしてメモリＭ１には各分析の時刻と吸光度値
とが記憶せしめられる。
とが記憶せしめられる。
Ｓｌは初回の標準試料測定結果を記憶させておくもので
、装置を検量線設定モードに設定すると、スイッチＷが
Ｓｌに切換わり、標準試料に対する吸光度値がＳｌに記
憶せしめられる。
、装置を検量線設定モードに設定すると、スイッチＷが
Ｓｌに切換わり、標準試料に対する吸光度値がＳｌに記
憶せしめられる。
計時装置５は検量線設定モードに切換えるとリセットさ
れ、試料原子化部に標準試料を注入し測定結果をメモＩ
Ｊ Ｓ １に記憶させる時点で始動せしめられる。
れ、試料原子化部に標準試料を注入し測定結果をメモＩ
Ｊ Ｓ １に記憶させる時点で始動せしめられる。
従ってメモ’ＪＭ１に記憶されている各データはこの時
点を起点とした時刻と共に記憶されている。
点を起点とした時刻と共に記憶されている。
検量線の設定動作は標準試料に対する吸光度値がＳｌに
記憶せしめられ・ば終了であるから、以後任意にスイッ
チＷをＭｌの側に設定して通常の分析を行う。
記憶せしめられ・ば終了であるから、以後任意にスイッ
チＷをＭｌの側に設定して通常の分析を行う。
適宜回数分析を行った後、装置を補正モードにするとス
イッチＷがメモリＳ２に切換えられる。
イッチＷがメモリＳ２に切換えられる。
こ・で一般試料の代りに再び標準試料を用いて分析動作
を行うとメモリＳ２には標準試料の２回目の分析におけ
る吸光度値及びその測定時刻がメモリＳ２に記憶せしめ
られる。
を行うとメモリＳ２には標準試料の２回目の分析におけ
る吸光度値及びその測定時刻がメモリＳ２に記憶せしめ
られる。
その後演算装置６を作動せしめると演算装置はメモリＭ
１内のテ゛−夕を順時読出し次の演算を行って各試料の
濃度を算出し、印字機等の表示装置７によってその濃度
値を表示する。
１内のテ゛−夕を順時読出し次の演算を行って各試料の
濃度を算出し、印字機等の表示装置７によってその濃度
値を表示する。
今２回目の標準試料測定を行った時点を初回の標準試料
測定を起点として測った値をＴとする。
測定を起点として測った値をＴとする。
これはＳｌに記憶されている。
一般分析の測定時刻はメモリＭ１に記憶されており、そ
の一つをｔとする。
の一つをｔとする。
メモリＳ１とＳｌとにおける吸光度値の記憶を読出して
夫々をＡＩ、Ａ２としくＡ１−Ａ２）／Ｔを算出すると
これは検量線の単位時間当りの変化率である。
夫々をＡＩ、Ａ２としくＡ１−Ａ２）／Ｔを算出すると
これは検量線の単位時間当りの変化率である。
メモリＭ１から読出されたｔ時点の分析による吸光度値
をＡとすると、このときの標準試料の吸光度値は、 であるから標準試料の既知濃度をＤｏとするとき、時刻
ｔに分析した試料の濃度値りは、 によって求められる。
をＡとすると、このときの標準試料の吸光度値は、 であるから標準試料の既知濃度をＤｏとするとき、時刻
ｔに分析した試料の濃度値りは、 によって求められる。
以上の実施例ではスイッチＷは手動的に切換えるように
なっているか゛、マイクロプロセッサを用いテンキーの
操作によって検量線設定、一般分析。
なっているか゛、マイクロプロセッサを用いテンキーの
操作によって検量線設定、一般分析。
２回目の標準試料測定等の指示を入力するだけでメモリ
の切換、計時装置のリセット、始動等のシーケンスを自
動的に行わせることもできる。
の切換、計時装置のリセット、始動等のシーケンスを自
動的に行わせることもできる。
第２図は本考案の他の実施例でメモＩＪ Ｓ １を不要
にするものである。
にするものである。
光検出器１の出力は増幅器２、吸光度変換器３を経て可
変定倍数回路８に入力される。
変定倍数回路８に入力される。
回路８の出力がＡ−Ｄ変換器４でディジタル化され数字
表示器９で表示される。
表示器９で表示される。
１回目の標準試料測定で表示器９の表示が標準試料の既
知濃度の値と一致するように可変定倍数回路８の帰還用
可変抵抗を調節する。
知濃度の値と一致するように可変定倍数回路８の帰還用
可変抵抗を調節する。
調節を終った所で計時装置をスタートさせる。
この構成によると初回の標準試料のデータは可変定倍数
回路８の可変抵抗によってメモリされたことになり、第
１図のＳｌは不要となる。
回路８の可変抵抗によってメモリされたことになり、第
１図のＳｌは不要となる。
その他の構成及び動作は第１図の例と同じで゛ある。
２回目の標準試料測定を行うべき時点は一般論として決
められず測定者が経験的に定めればよいが例えば１０分
或は１時間と云った時間間隔が一般的と思われる。
められず測定者が経験的に定めればよいが例えば１０分
或は１時間と云った時間間隔が一般的と思われる。
本考案原子吸光分析装置は上述したような構成で前後２
回の標準試料の測定によりその間の分析結果を内挿的に
補正するから、単に一々検量線を作り直す手間が省ける
と云うだけでなく、成る期間同一検量線を用いて濃度値
を求める従来方法よりも精度の良い分析値が得られる効
果がある。
回の標準試料の測定によりその間の分析結果を内挿的に
補正するから、単に一々検量線を作り直す手間が省ける
と云うだけでなく、成る期間同一検量線を用いて濃度値
を求める従来方法よりも精度の良い分析値が得られる効
果がある。
第１図は本考案の一実施例装置の構成を示すブロック図
、第２図は他の実施例の構成を示すブロック図である。 １・・・・・・光検出器、８・・・・・・可変定倍数回
路。
、第２図は他の実施例の構成を示すブロック図である。 １・・・・・・光検出器、８・・・・・・可変定倍数回
路。
Claims (1)
- 標準試料の１回目の分析結果を記憶する手段と、２回目
の分析結果及び分析時刻を記憶する手段と、通常の分析
の分析時刻及び分析結果を記憶する手段と、上記標準試
料の１回目と２回目の分析結果の差とその間の時間とか
ら分析結果の時間的変化率を求め、この変化率によって
上記通常の分析時刻及び分析結果の記憶手段から読出し
た分析結果に補正を施す演算装置とを備えた原子吸光分
析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12124679U JPS5920665Y2 (ja) | 1979-08-31 | 1979-08-31 | 原子吸光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12124679U JPS5920665Y2 (ja) | 1979-08-31 | 1979-08-31 | 原子吸光分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5638859U JPS5638859U (ja) | 1981-04-11 |
| JPS5920665Y2 true JPS5920665Y2 (ja) | 1984-06-15 |
Family
ID=29353400
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12124679U Expired JPS5920665Y2 (ja) | 1979-08-31 | 1979-08-31 | 原子吸光分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5920665Y2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60154161A (ja) * | 1984-01-24 | 1985-08-13 | Shimadzu Corp | 免疫反応測定に使用する検量線の作成方法 |
| JPH0692969B2 (ja) * | 1986-07-30 | 1994-11-16 | 株式会社シノテスト | 免疫的測定方法 |
| JP2795403B2 (ja) * | 1986-07-30 | 1998-09-10 | 株式会社 シノテスト | 免疫的測定方法及び装置 |
| JPS6382360A (ja) * | 1986-09-26 | 1988-04-13 | Agency Of Ind Science & Technol | 陶石の化学組成による耐火度測定法 |
-
1979
- 1979-08-31 JP JP12124679U patent/JPS5920665Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5638859U (ja) | 1981-04-11 |
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