JPS59193349A - 溶接位置検出装置 - Google Patents
溶接位置検出装置Info
- Publication number
- JPS59193349A JPS59193349A JP58068687A JP6868783A JPS59193349A JP S59193349 A JPS59193349 A JP S59193349A JP 58068687 A JP58068687 A JP 58068687A JP 6868783 A JP6868783 A JP 6868783A JP S59193349 A JPS59193349 A JP S59193349A
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- JP
- Japan
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- bead
- added
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- adder
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
- G01N29/30—Arrangements for calibrating or comparing, e.g. with standard objects
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/02—Indexing codes associated with the analysed material
- G01N2291/028—Material parameters
- G01N2291/02854—Length, thickness
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は電縫管などの溶接部（ビード部）への良否を
検査するときに用いる超音波探傷装置の探触子の位置決
めをするために必要な溶接部の位置検出装置に関するも
のである。
検査するときに用いる超音波探傷装置の探触子の位置決
めをするために必要な溶接部の位置検出装置に関するも
のである。
従来の溶接部の良否を検出する方法として目でビード部
を検出して手で探触子を位置決めしていた。ここで、従
来のビード部の検出法を第１図を用ｂて説明する。第１
図にお因で（１）は電縫管，（２）はビード部，（３）
は超音波探触子群，（４）は検査点群である。
を検出して手で探触子を位置決めしていた。ここで、従
来のビード部の検出法を第１図を用ｂて説明する。第１
図にお因で（１）は電縫管，（２）はビード部，（３）
は超音波探触子群，（４）は検査点群である。
従来，電縫管（１）のビード部（２）の良否を検査する
方法として，ビード部（２）を目で確認し，手動操作で
超音波探触子群（３）をビード部（２）に対して、適当
な位置に移動させて探傷を行っていた。
方法として，ビード部（２）を目で確認し，手動操作で
超音波探触子群（３）をビード部（２）に対して、適当
な位置に移動させて探傷を行っていた。
そのため、本来，ビード部（２）の中心の位置の検査点
群（４）を検査できるように超音波探触子（３）を位置
決めしなければならないが，目で確認のために正確に位
置決めすることが難しくその上。
群（４）を検査できるように超音波探触子（３）を位置
決めしなければならないが，目で確認のために正確に位
置決めすることが難しくその上。
検査忙手間と時間を要していた●
この発明はこれらの欠点を除去するために機械的にビー
ド部の良否を判定するもので，超音波探傷装置の探触子
をビード部から一定の距離に位置決めしようとするビー
ド部の検出装置に関するものである。
ド部の良否を判定するもので，超音波探傷装置の探触子
をビード部から一定の距離に位置決めしようとするビー
ド部の検出装置に関するものである。
以下１図面により、この発明の実施例について説明する
。第２図において、（１）は電縫管、（２）はビード部
、（５）及び（６）は投光器、（７）及び（８）は集光
レンズ、（９）及び顛はフォト・ダイオードアレイ受光
素子、（以下受光素子と略す）、（３）は超音波探傷素
子群である。第３図は第２図をより詳細に説明するため
に第２図の矢印の方向から見た図である。第２図におい
て電縫管（１）のビード部（２）のビードを投光器（３
）及び（４）が照明し、その反射光が輝線として集光レ
ンズ（５）及び（６）を通過して受光素子（９）及び（
８）に結像してｂる。この過程で、左右の照射光は一定
方向であるが反射光はビード部（２）が溶接状態により
左右に種々の凹凸を生じているため１反射光の輝線はビ
ード部の凹凸によって変化して、受光素子（７）及び（
８）の受光素子各位置に結像される。受光素子（７）及
び（８）の配列は第３図に示すように電縫管（１）のビ
ー ド部（２）と直角になるような位置に並べられてお
り、電縫管（１）を長さ方向に移動させるとビード部（
２）の凹凸に対応して反射光の輝線が左右の受光素子（
７）及び（８）の配列上を移動していくことになる。そ
こで、受光素子（７）及び（８）を位置センナとして働
かせ２反射光のｊ４線の結像した位置を左右の受光素子
から読みとり、左右の位置の平均をとり超音波探触子群
（３）の位置決め点を算出している。以下２位置決め点
質出回路について述べる。左右の受光素子（７）及び（
８）に結像した反射光はある巾を持っており、その「１
〕全Δ石Δ１２とする。位置決め点の算出においては、
まず基準点をｉｔ及び１２と定め、基準点を０として△
１１及びΔｅ２の受光の中心位置Ｘ及びＸを求める。求
めた中心点の位置を右側を＋、左側を−として左右の和
の平均値１゜ ５ｏ＝＝ （’ ｘ十又）／２ を求める。ここで求まった値がビード部の中心値ｌｏで
ある。超音波探触子群（３）の位置はｔｏに探ん点（４
）の位置が定まるようにＫだけ加算した位置に決めてお
く。すなわちビードの中心位置に追従するように超音波
探触子群は移動する。以下、上述上た位置決め算出の例
を図４のプロン、嘱１１□１ り図によシ説明する。図４ブロックにおいて（１１ａ）
〜（１ｔｉ）と（１１ａ′）〜（１１１′）は同一回路
で構成されている。フォト・ダイオードアレイ受光素子
（ｈａ）に受光した反射光は電気信号に変換され、転送
ゲート回路（１ｔｂ）を経由してシフトレジスタ（ＩＩ
Ｃ）に移される。シフトレジスタに移されたデータはタ
イミング−パルス（Ｔｐ）によってシリアルに条件付ゲ
ート（１１ｇ）を経由して読み出されていくと共にカウ
ンタ（ｌｉｄ）にはタイミング・パルスをカウントとし
ていく。
。第２図において、（１）は電縫管、（２）はビード部
、（５）及び（６）は投光器、（７）及び（８）は集光
レンズ、（９）及び顛はフォト・ダイオードアレイ受光
素子、（以下受光素子と略す）、（３）は超音波探傷素
子群である。第３図は第２図をより詳細に説明するため
に第２図の矢印の方向から見た図である。第２図におい
て電縫管（１）のビード部（２）のビードを投光器（３
）及び（４）が照明し、その反射光が輝線として集光レ
ンズ（５）及び（６）を通過して受光素子（９）及び（
８）に結像してｂる。この過程で、左右の照射光は一定
方向であるが反射光はビード部（２）が溶接状態により
左右に種々の凹凸を生じているため１反射光の輝線はビ
ード部の凹凸によって変化して、受光素子（７）及び（
８）の受光素子各位置に結像される。受光素子（７）及
び（８）の配列は第３図に示すように電縫管（１）のビ
ー ド部（２）と直角になるような位置に並べられてお
り、電縫管（１）を長さ方向に移動させるとビード部（
２）の凹凸に対応して反射光の輝線が左右の受光素子（
７）及び（８）の配列上を移動していくことになる。そ
こで、受光素子（７）及び（８）を位置センナとして働
かせ２反射光のｊ４線の結像した位置を左右の受光素子
から読みとり、左右の位置の平均をとり超音波探触子群
（３）の位置決め点を算出している。以下２位置決め点
質出回路について述べる。左右の受光素子（７）及び（
８）に結像した反射光はある巾を持っており、その「１
〕全Δ石Δ１２とする。位置決め点の算出においては、
まず基準点をｉｔ及び１２と定め、基準点を０として△
１１及びΔｅ２の受光の中心位置Ｘ及びＸを求める。求
めた中心点の位置を右側を＋、左側を−として左右の和
の平均値１゜ ５ｏ＝＝ （’ ｘ十又）／２ を求める。ここで求まった値がビード部の中心値ｌｏで
ある。超音波探触子群（３）の位置はｔｏに探ん点（４
）の位置が定まるようにＫだけ加算した位置に決めてお
く。すなわちビードの中心位置に追従するように超音波
探触子群は移動する。以下、上述上た位置決め算出の例
を図４のプロン、嘱１１□１ り図によシ説明する。図４ブロックにおいて（１１ａ）
〜（１ｔｉ）と（１１ａ′）〜（１１１′）は同一回路
で構成されている。フォト・ダイオードアレイ受光素子
（ｈａ）に受光した反射光は電気信号に変換され、転送
ゲート回路（１ｔｂ）を経由してシフトレジスタ（ＩＩ
Ｃ）に移される。シフトレジスタに移されたデータはタ
イミング−パルス（Ｔｐ）によってシリアルに条件付ゲ
ート（１１ｇ）を経由して読み出されていくと共にカウ
ンタ（ｌｉｄ）にはタイミング・パルスをカウントとし
ていく。
条件付ゲート（ｌ１ｇ）より出力される信号は受光しな
い部分を”Ｏ”、受光した部分を”１・とすると”１”
が２回以上連続した場合にシフトレジスタ（ＩＩＣ）の
データを加算器（１１ｅ）により加算値レジスタ（ｏｆ
）に加算していく。さらに加算回数を加算回数カウンタ
（ｌｌｈ）にカウントしていく。受光素子（ｈａ）の一
連の配列の読み出しが完了すると完了パルス（図中省略
）で加算値レジスタ（ｏｆ）を加算回数カウンタの値で
除算する―この処理を除算器（１ｔｉ）で行う。すなわ
ちフォトダイオードアレイ受光素子（Ｘｔａ）の受光部
分の基準点からの中心位置を求めることになる。上述し
た算出処理は右側について説明したが左側についても同
様な処理である。左右から。
い部分を”Ｏ”、受光した部分を”１・とすると”１”
が２回以上連続した場合にシフトレジスタ（ＩＩＣ）の
データを加算器（１１ｅ）により加算値レジスタ（ｏｆ
）に加算していく。さらに加算回数を加算回数カウンタ
（ｌｌｈ）にカウントしていく。受光素子（ｈａ）の一
連の配列の読み出しが完了すると完了パルス（図中省略
）で加算値レジスタ（ｏｆ）を加算回数カウンタの値で
除算する―この処理を除算器（１ｔｉ）で行う。すなわ
ちフォトダイオードアレイ受光素子（Ｘｔａ）の受光部
分の基準点からの中心位置を求めることになる。上述し
た算出処理は右側について説明したが左側についても同
様な処理である。左右から。
もとまった値を左右値加算器（Ｉｌｊ）で加算し。
それに平均１ｏを除算器（ｕｊ）でもとめ探傷子位置加
算器（ｘｔｊ）で探傷位置Ｋを加算し超音波探傷子群（
３）の位置決め点とする。
算器（ｘｔｊ）で探傷位置Ｋを加算し超音波探傷子群（
３）の位置決め点とする。
本例では説明の都合で検査する超音波探傷子群（３）は
１個で説明しているが実際には電縫管（１）ビード部（
２）の厚さ方向の成否状態をより高密度に精度よく検査
するためビード部（２）をはさんで、左右の位置に多数
個の組合せだ超音波探傷子群を構成している。
１個で説明しているが実際には電縫管（１）ビード部（
２）の厚さ方向の成否状態をより高密度に精度よく検査
するためビード部（２）をはさんで、左右の位置に多数
個の組合せだ超音波探傷子群を構成している。
なお９以上は電縫管（１）について説明していたが、こ
の発明の原理はこれに限らず、平板同志の溶接部の位置
決めにも可能である。
の発明の原理はこれに限らず、平板同志の溶接部の位置
決めにも可能である。
以上のように、この発明に係る溶接位置検出方法は溶接
部のビードを検出することによって行っていることから
溶接部の真の位置を検出できるので、溶接位置と超音波
探傷素子との位置関係を一定に保つことができるので、
溶接部の深さ方向に対して正確に探傷することができる
部のビードを検出することによって行っていることから
溶接部の真の位置を検出できるので、溶接位置と超音波
探傷素子との位置関係を一定に保つことができるので、
溶接部の深さ方向に対して正確に探傷することができる
第１図は従来の溶接部の位置検出方法を示す図、第２図
はこの発明の実施例を示す図、第３図はこの発明の詳細
な説明するだめの図である、第４図はこの発明、の位置
決め算出の例をブロック図で示した図である。図中、（
１）は電縫管、（２）は溶接部（ビード部）、＋３）は
超音波探傷素子、（５）及び（６）は投光器、（７）及
び（８）は集光レンズ、（９）及び（ＩＧは７オトダイ
オードアレイ受光素子である。 なお２図中、同一あるいは相当部分には同一符号を付し
て示しである。 代理人 大岩増雄 第１図 第２図
はこの発明の実施例を示す図、第３図はこの発明の詳細
な説明するだめの図である、第４図はこの発明、の位置
決め算出の例をブロック図で示した図である。図中、（
１）は電縫管、（２）は溶接部（ビード部）、＋３）は
超音波探傷素子、（５）及び（６）は投光器、（７）及
び（８）は集光レンズ、（９）及び（ＩＧは７オトダイ
オードアレイ受光素子である。 なお２図中、同一あるいは相当部分には同一符号を付し
て示しである。 代理人 大岩増雄 第１図 第２図
Claims (1)
- 電縫管等の溶接位置を検出する装置において、溶接部（
ビード部）に、左右より照明する照明装置と、照明によ
って生ずるビード部の輝線の反射光を受けるために、溶
接方向と垂直位置の位置に左右にもうけた。フォトダイ
オードアレイ受光素子と７オトダイオードアレイ受光素
子と、前記受光素子に前記反射光を結像させるレンズと
、前記反射光を受光した左右の７オトダイオードアレイ
受光素子より超音波探傷素子の位置決め点を決める算出
回路とから構成される装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58068687A JPS59193349A (ja) | 1983-04-19 | 1983-04-19 | 溶接位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58068687A JPS59193349A (ja) | 1983-04-19 | 1983-04-19 | 溶接位置検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59193349A true JPS59193349A (ja) | 1984-11-01 |
Family
ID=13380899
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58068687A Pending JPS59193349A (ja) | 1983-04-19 | 1983-04-19 | 溶接位置検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59193349A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2018040117A1 (zh) * | 2016-08-30 | 2018-03-08 | 广东汕头超声电子股份有限公司 | 一种基于双阵列探头的钢轨焊缝超声波成像检测方法及*** |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4928051B1 (ja) * | 1966-11-14 | 1974-07-23 | ||
| JPS5244656A (en) * | 1975-10-06 | 1977-04-07 | Nippon Steel Corp | Method of measuring camber of steel plates |
-
1983
- 1983-04-19 JP JP58068687A patent/JPS59193349A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4928051B1 (ja) * | 1966-11-14 | 1974-07-23 | ||
| JPS5244656A (en) * | 1975-10-06 | 1977-04-07 | Nippon Steel Corp | Method of measuring camber of steel plates |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2018040117A1 (zh) * | 2016-08-30 | 2018-03-08 | 广东汕头超声电子股份有限公司 | 一种基于双阵列探头的钢轨焊缝超声波成像检测方法及*** |
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