JPS59169123A - 化合物半導体のエピタキシヤル成長法 - Google Patents

化合物半導体のエピタキシヤル成長法

Info

Publication number
JPS59169123A
JPS59169123A JP58042397A JP4239783A JPS59169123A JP S59169123 A JPS59169123 A JP S59169123A JP 58042397 A JP58042397 A JP 58042397A JP 4239783 A JP4239783 A JP 4239783A JP S59169123 A JPS59169123 A JP S59169123A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
alkoxide
vanadium
reaction system
gas
semi
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP58042397A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS64809B2 (ja
Inventor
Masahiro Akiyama
秋山 正博
Yoshihiro Kawarada
河原田 美裕
Hiroshi Nakamura
浩 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
Agency of Industrial Science and Technology
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Agency of Industrial Science and Technology filed Critical Agency of Industrial Science and Technology
Priority to JP58042397A priority Critical patent/JPS59169123A/ja
Publication of JPS59169123A publication Critical patent/JPS59169123A/ja
Publication of JPS64809B2 publication Critical patent/JPS64809B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/448Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for generating reactive gas streams, e.g. by evaporation or sublimation of precursor materials
    • C23C16/4485Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for generating reactive gas streams, e.g. by evaporation or sublimation of precursor materials by evaporation without using carrier gas in contact with the source material

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (技術分野) この発明は化合物半導一体のエピタキシャル成長法に関
するもので、詳しくは、III族の有機金属と■族の水
素化物を用いる気相成長法(以下MO−CVD法という
)において、半絶縁性結晶を成長させる方法に関するも
のである。
(従来技術) GaAsなどの■−V族化合物半導体は、Cr 。
Fe 、 V 、 Oなどの深い準位をつくる原子を結
晶中に添加すると、電子または正孔が補償されて半絶縁
性の結晶が得られる。GaAsの基板では、Cr。
Cr(!:Oなとの添加による半絶縁性基板が、−11
販されている。AsCt3tたはHCt(!:ASH3
’c用いグ:従来のハライド系の気相成長においても、
反応系内の基板の上流にFe 、 V  などの金属を
おいて、これ?塩化物の形で基板1で輸送して添加し1
こり、Cr02Ct2  を系に導入することな七によ
って半絶縁性の成長層を得ている。しかしなから、M 
O−CVD法による場合は、一般に系内にCtを導入し
ないために、Fe、Vなとの金属を系内に入れ/Yjl
も塩化物となって基板丑で達して添加ぜれ槓1岡1はな
く、シたかつて、添加原子は気相Φ状矧でもし系内に導
入しなけれはならない。
MO−CVD法による場合、ヘキサカーポ゛ニールクロ
ミウムを昇華させて反応系内に導入することにより、C
rを添加した半絶縁性のエビタキンヤル層を得た例はあ
る。
しかし、Crは、添加された結晶中で熱処J′’3など
によって動きやすい性質がある。そこで、IすいCVD
法においても、比較的動きにくいV′yまたは■とOな
どの添加が望丑しいが、これ11こついては行われてい
ない。
1 〕 (発明の目的・構成) そこで、本発明者は上記の要望全満足するために多数の
試験研究を行った結果、■のアルコオキサイドを気相で
反応系に導入することにより、MO−CVD法によって
も■とOの添加が可能に々ることを見出し、この発明に
至った。
すなわち、この発明は、川原の有機全灯(とV族の水素
化物全原料として用いる気相成長に2いて、バナノウム
(V)のアルコオキサイドを反応系に導入することによ
り、■とCI成長層に添加して’F絶縁性の成長層′f
f:得ることを特徴とする化合物半1叫によってもVと
Oの添加を可能1(シて、高品質ゐ1半絶縁性工ビタキ
/ヤル成長層を得るとさを目)とする。
(実施例) 以下この発明の詳細な説明する。
■のアルコオキサイドはトリノトキノパナソル(VO(
OCH3)’3 ) 、トリエトキンハナノル(VO(
OC2H5)3 )  など何種類あり、常温近傍で固
体才たは液体である。固体の場合(才昇華により、舊だ
液体の場合は第1図に示ずような通常の気化器を用いて
気相で反応系に導入する。
第1図において、1は容器、2はキャリア、リスの人口
、3は液体の■のアルコオキサイド(たとえ61 VO
(OC2H5)3 )、4は■のア/L、 ’jオキサ
イドを含む気体の出口であり、この出口4からの気体を
M O−CV D法の反応系に導入する。すると、結晶
成長を行っている高温部で分解して、■と一部のOが結
晶中に添加され、他はメタン、エヅノなどの気体となっ
て反応系から排気されa0常昌近傍で固体の■のアルコ
オキサイトノ場合(たとえばVO(OCH3)3 ) 
 は昇華によって反応系に導入するが、このためには第
1図に示す気化器の液体のVのアルコオキサイドのがわ
りに固体1嶽■のアルコオキサイド゛全入れるか、寸た
、′ま第21#ト示すように、容器5の中に、固体のV
・′・)アル1オキザイド6をフィルタ7でとじ込め、
入口8ン喝キヤリアガスを導入して出口9がらVのアル
コオキサイドを含む気体を反応系に導入する。
なお、常温近傍で液体の場合も、固体の場合も、■のア
ルコオキサイドの導入量を制御するには、これらの容器
の温度および容器を通すキャリアカスの量を制御すれは
よい。
以」二説明したように一実施例では、■のアルコオキザ
イド’tMO−CVD法の反応系に導入することにより
、成長中の化合物半導体中へV(!:ol添加すること
かできる。これらの原子はGaAsなどの川−V族化合
物半導体中で深い準位全形成して、伝導度をlJ・さく
する。このため、もとの結晶の伝導を補償するに充分な
だけの深い準位を形成する量のVのアルコオキサイドを
添加すれ(d、半絶縁性エピタキシャル成長層を得るこ
とができる。
また、GaAsの」場合は、MO−CVDによる何も添
加していない結晶中のドナとアクセプタの和が10  
cm   程度の高純度結晶が得られるので、これを補
償するにはわず力・な量のVのアルコオキサイドを添加
すればよく、不純物の少い高品質の半絶縁性結晶を得る
ととがてきるという利点かある。
qづ!尉1明の効果) i+fifアルコオキサイドを気相で反応系に導入する
ことにより、MO−CVD法によってもVと0■添加を
可能にして、高品質の半絶縁件エビタ・で/マル成長層
を得ることができる。この発明の方法は、FETのバッ
ファ層、イオン打込み用基板などの製造方法にflj用
することかできる。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図はこの発明の化合物半樽体のエピタ
キシャル成長法の一実施例を説明するための図で、第1
図は常温近傍で液体のV一つアルコオキサイドを導入す
るための気化器ヲ示す4、第2図は常温近傍で固体のア
ルコオキサイドを導入するための気化器を示す図である
。 1・・・容器、2・・・キャリアガスの入口、3・液体
のVのアルコオキサイド、4・・・出口、5・容器、6
 固体のVのアルコオキサイド、7 フィルタ。 8・・入口、9・・出口。 特許出願人 工業技術院長

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ■族の有機金属と■族の水素化物を原料として用いる気
    相成長において、バナジウム(V)のアルコオキサイド
    を反応系に導入することにより、V)翰pを成長層に添
    加して半絶縁性の成長層を得るflitとを特徴とする
    化合物半導体のエピタ斗ンヤル訓長法。
JP58042397A 1983-03-16 1983-03-16 化合物半導体のエピタキシヤル成長法 Granted JPS59169123A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58042397A JPS59169123A (ja) 1983-03-16 1983-03-16 化合物半導体のエピタキシヤル成長法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58042397A JPS59169123A (ja) 1983-03-16 1983-03-16 化合物半導体のエピタキシヤル成長法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS59169123A true JPS59169123A (ja) 1984-09-25
JPS64809B2 JPS64809B2 (ja) 1989-01-09

Family

ID=12634928

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58042397A Granted JPS59169123A (ja) 1983-03-16 1983-03-16 化合物半導体のエピタキシヤル成長法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS59169123A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015038252A (ja) * 2012-05-27 2015-02-26 エア プロダクツ アンド ケミカルズ インコーポレイテッドAir Products And Chemicals Incorporated フィルタを有する容器

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015038252A (ja) * 2012-05-27 2015-02-26 エア プロダクツ アンド ケミカルズ インコーポレイテッドAir Products And Chemicals Incorporated フィルタを有する容器
EP2677061A3 (en) * 2012-05-27 2015-11-11 Air Products And Chemicals, Inc. Vessel with Filter
US9598766B2 (en) 2012-05-27 2017-03-21 Air Products And Chemicals, Inc. Vessel with filter

Also Published As

Publication number Publication date
JPS64809B2 (ja) 1989-01-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Vook et al. Growth of GaAs by metalorganic chemical vapor deposition using thermally decomposed trimethylarsenic
JPS634625A (ja) 第2−6族半導体材料の低温金属有機物質化学蒸着
US4253887A (en) Method of depositing layers of semi-insulating gallium arsenide
JPS59169123A (ja) 化合物半導体のエピタキシヤル成長法
US4238252A (en) Process for growing indium phosphide of controlled purity
IE59894B1 (en) Metalorganic vapor phase epitaxial growth of group II-VI semiconductor materials
JPS6153197A (ja) 結晶成長装置
JPS6071596A (ja) 気相成長装置
JPS63119521A (ja) 有機金属気相成長装置
JPH01205518A (ja) 結晶成長方法
JPS6297323A (ja) 半導体結晶の製造装置
JP2753832B2 (ja) 第▲iii▼・v族化合物半導体の気相成長法
JPS60113420A (ja) 半導体結晶の製造装置
JPS61151093A (ja) 3−5族化合物半導体の気相エピタキシヤル成長方法
JPH01259524A (ja) 化合物半導体の気相成長方法
JPH04130625A (ja) 気相結晶成長装置
Takahashi et al. Vapor-solid distribution in In1− xGaxAs and In1− xGaxP alloys grown by atomic layer epitaxy
JPS59156997A (ja) 化合物半導体のエピタキシヤル成長法
Okada et al. Kinetics of Vapor Growth in the System GaAs-I2
JPS639742B2 (ja)
JPH07335566A (ja) 気相成長方法
JPS5946096B2 (ja) 液相エピタキシヤル成長装置
JPS62119919A (ja) 化合物半導体の結晶成長装置
JPS62214626A (ja) 気相エピタキシヤル成長方法
JPS5826655B2 (ja) ケツシヨウセイチヨウホウ