JPS5916642B2 - 変位測定器 - Google Patents

変位測定器

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Publication number
JPS5916642B2
JPS5916642B2 JP53012755A JP1275578A JPS5916642B2 JP S5916642 B2 JPS5916642 B2 JP S5916642B2 JP 53012755 A JP53012755 A JP 53012755A JP 1275578 A JP1275578 A JP 1275578A JP S5916642 B2 JPS5916642 B2 JP S5916642B2
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JP
Japan
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spring
slider
scale
main scale
arm
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Application number
JP53012755A
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English (en)
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JPS54104868A (en
Inventor
透 五十嵐
勝士 吉池
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Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
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Publication date
Application filed by Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd filed Critical Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Optical Transform (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、透光性のメインスケールとこのメインスケー
ルに対向されたインデックススケールとの相対的な動き
を発光素子と受光素子とにより読みとシ計測する変位測
定器に関する。
従来のこの種測定器は、冷間引抜きにより形成された中
空細長ケース内にガラスなどからなるメインスケールを
長手方向に沿つて配置し、このメインスケールに対向し
てインデックススケールを配置し、このインデックスス
ケールを前記ケースの長手方向に沿つて形成された開口
から挿入された検出機構の腕部にスライダーを介して取
付け、このスライダーに発光素子および受光素子を設け
て検出機構とケースとの相対移動を両スケール間で形成
される明暗として受光素子で検出して測定するものであ
る。
また前記スライダーは検出機構の腕部に移動自在に設け
られるとともに、ばねによシー側に付勢され、該スライ
ダーに設けた摺動子がメインスケールのスケール面およ
びスケール面と直交した側面に当接されるようになつて
いる。これによりスライダーはメインスケールのスケー
ル面と側面とに案内されて移動することとなわ、メイン
スケールのスケール部とインデックススケールのスケー
ル部とが対向した状態で移動できるようにされている。
第1図は、従来のこの種測定器におけるスライダーの付
勢手段を示すものである。
図において、二股伏に分れた腕部5の先端には、それぞ
れ貫通孔5Aが設けられ、この貫通孔5A内には一本の
線状ばねからなるばね12の両端部が嵌挿され、その一
端の折曲部がねじ5Bによサ固定されている。スライダ
ー13はメインスケール10の上辺を跨いだ状態で配置
される側面L字状の摺動子取付部材13A、この摺動子
取付部材13A(7)L字の短辺すなわち図示しない紙
面裏側に位置する辺に固着された発光素子取付部材(図
示せず)および摺動子取付部材13A(7)L字の長辺
に固着された正面T字状の受光素子取付部材13Cとか
ら構成されている。この受光素子取付部材13Cは、受
光素子16を有するとともに、T字の下端部に貫通孔1
3Dを有し、この貫通孔13D内には前記ばね12の途
中が挿通されてねじ13Eにより固定されている。この
際、ばね12は、自由伏態で前記貫通孔5Aを結ぶ直線
伏とされるとともに、ばね力を与えた組立伏態では第1
図に示されるように土方に彎曲した形伏とされている。
これによジ、スライダー13はメインスケール10側に
付勢され、該スライダー13の摺動子取付部材13Aの
内側面に取付けられた樹脂製摺動子17が、メインスケ
ール10のスケール面およびこのスケール面に直交した
側面に当接するようにされている。しかし、このような
一本の線ばねからなるばね12を用いて腕部5とスライ
ダー13とを連結した場合、次のような不都合がある。
すなわち、ばね12はたとえば直径0.41L1L程度
と細いため、構造的にばね12と腕部5}よびスライダ
ー13との固定が不安定で、ねじ5B、13Eを用いた
場合には各ねじ5B、13Eの締付力が小さくなるとと
もに、ゆるみ易くなり、一方、接着剤で固定しようとし
ても接着面積が少ないため強力な接着力は期待できず、
いずれにしても使用中にばね12のばね力が変化しやす
い。また、0.41W!程度の線を入れる孔径も小さく
、腕部5への孔明けが斜めにされた場合には、最初から
ばね12は曲つた伏態でセツトされ、ばね力のバラツキ
の原因となつていた。さらに、ばね12の線径が細いた
め、スライダー13とメインスケール10との摺接時に
ばね12が形伏変形をきたし、圧接力が変化してスライ
ダー13がメインスケール10に対して.片側が浮き上
がる場合があり、このようにメインスケール10との当
接が不確実になると、メインスケール10の竪縞伏のス
ケール部とスライダー13に取付けられたインデツクス
スケール(図示せず)の竪縞伏のスケール部とが平行で
なくなシ、ミスカウントの原因となつている。このスラ
イダー13の浮上ジ現象は、線伏ばねからなるばね12
がねじり方向の力に弱い点にも起因していると考えられ
る。本発明の目的は、スライダーとメインスケールとが
相対移動しても均一な圧接力でスライダーとメインスケ
ールとが当接し、ミスカウントのない変位測定器を提供
するにある。
本発明は、特にスライダーをメインスケールとインデツ
クススケールとを近接させる方向に付勢する線伏ばねと
、この線伏ばねに被嵌され該線伏ばねの軸線を略中心と
して前記スライダーの回動を許容するとともに前記線伏
ばねと独立してばね作用をなすコイルばねとからなるば
ね構造体を設け、前記コイルばねをスライダーと腕部と
に掛け渡して取付けるように構成し、前記目的を達成し
ようとするものである。
以下、本発明の一実施例を第2図訃よび第3図に基づい
て説明する。
冷間引抜き加工により形成されたケース1はほぼ方形の
中空断面を有するとともに、細長に形成され、さらに長
手方向の一側面に沿つて開口2を有している。
前記ケース1の開口側の端面には検出機構3が摺動部材
4を介して当接され、ケース1の長手方向に沿つて移動
可能とされている。
この検出機構3の下面に形成された腕部5は前記開口2
からケース1内に延設されている。また、前記開口2の
近傍のケース1の外側面にはケース1の長手方向に沿つ
て一対のマグネツト6が設けられ、このマグネツト6に
該開口2を覆うように薄肉の鉄板からなる閉塞部材7が
吸着され、該開口2からケース1内へ塵埃等が侵入する
のが防止されている。この際、検出機構3の腕部5が挿
入される部分の閉塞部材7は、該検出機構3に設けられ
、両端が検出機構3の下面に開口された側面山形の溝8
内に挿入され、この溝8により跨がれた伏態の腕部5は
ケース1内への挿入が可能となるようにされている。前
記ケース1内の長手方向に設けられた溝9内には、ガラ
スなどからなジ、一側面に縦縞伏の目盛を形成されたメ
インスケール10の下端辺が挿入され、接着剤11など
により固定されている。
前記検出機構3の腕部5は前記メインスケール10の近
傍まで延長され、この先端部にばね構造体12を介して
スライダー13が移動可能に取付けられている。このば
ね構造体12は、第3図に示されるように、支持部材と
しての密着巻きされたコイルばね12Aと、このコイル
ばね12A内に遊動可能に貫通挿入され、両端を抜止め
のため折曲された一本の線伏ばね12Bとから構成され
ている。また、このばね構造体12は、自由伏態におい
てはほぼ直線伏とされ、ばね力を与えた組立伏態では第
3図に示されるようにゆるい曲率をもつて上方に彎曲し
た形伏とされている。これによりスライダー13が所定
方向すなわち前記メインスケール10の方向に付勢され
るようになつている。また、ばね構造体12と腕部5と
の取付けは、腕部5の二股伏となつた先端部にそれぞれ
設けられた貫通孔5A内にばね構浩体12の両端がそれ
ぞれ挿入されるとともに、一方の端部がねじ5Bによ9
固定されて行なわれている。さらにばね構造体12とス
ライダー13との取付けは、側面L字伏の摺動子取付部
材13Aに固着されて肉厚の発光素子取付部材13Bと
ともに該スライダー13を構成する正面T字状の受光素
子取付部材13Cに設けられた貫通孔13D内にばね構
造体12の途中が挿入されるとともに、ねじ13Eによ
シ固定されて行なわれている。前記スライダー13の摺
動子取付部材13Aの前記メインスケール10に対向し
た面にはメインスケール10と同様な縦縞伏の目盛を有
するインデツクススケール14が固定されている。
このインデツクススケール14とメインスケール10と
を挟んだ伏態で発光素子15と受光素子16とが配置さ
れている。この際、発光素子15は前記摺動子取付部材
13A(7)L字の短辺に固着された発光素子取付部材
13Bに、また、受光素子16は前記摺動子取付部材1
3A(7)L字の長辺に固着された受光素子取付部材1
3Cに各2個固着されている。前記摺動子取付部材13
A(7)L字の内面すなわち前記メインスケール10の
スケール面およびこのスケール面に直交した側面に対向
した面には、それぞれ低摩擦係数の樹脂からなる摺動子
17が複数個固定され、これらの摺動子17は前記ばね
構造体12の付勢力によりメインスケール10のスケー
ル面およびこのスケール面に直交した側面に当接するよ
うにされている。
このような構成において、ケース1訃よび検出機構3の
いずれか一方を被測定物に取付け、他力を固定して被測
定物を移動すると、メインスケーノレ10の目盛とイン
デツクススケーノレ14の目盛との間で明暗の縞模様が
発生し、この縞模様を発光素子15と受光素子16とで
読み取つて被測定物の移動量を読み取シ、測定を行なう
ものである。
この際、スライダー13は、直接的にはばね構造体12
のコイルばね12Aに支持されているから、スライダー
13の移動に伴なうねじれ力は、該コイルばね12Aに
より吸収され、線伏ばね12Bを変形させることがなく
、従つて安定した圧接力でスライダー13の摺動子17
とメインスケール10とが接触しつつ摺動できる。上述
のように、本実施例によれば、検出機構3の腕部5とス
ライダー13とを、支持部材としての密着巻きされたコ
イルばね12Aとこのコイルばね12A内に挿入支持さ
れた線伏ばね12Bとで構成されたばね構造体12によ
シ取付けたから、スライダー13のメインスケール10
との圧接力を安定させることができ、メインスケール1
0とインデツクススケール14との目盛の傾きによるカ
ウントミスを防止できる。
また、ばね構造体12は線伏ばね12Bがコイルばね1
2A内に遊挿されているから、線伏ばね12Bにねじシ
方向など無理な力が咋用することがなく、線伏ばね12
Bを変形させず、従つて線伏ばね12B延いてはばね構
造体12のヘタリを生じさせず寿命を長くできる。さら
に、ばね構造体12を取付けるために明ける貫通孔5A
,13Dが大径となるため、従来の0.4m7!L程度
のものと比べその加工件が良好となり、また、ばね構造
体12のねじ5B,13Eによる固定も安定化でき、ね
じ5B,13Eを用いずに接着剤によつても確実に固定
できる。なお、実施にあたり、支持部材としての密着巻
きされたコイルばね12Aは、可撓性を有する合成樹脂
製チユーブなど他の部材でもよいが、コイルばね12A
を用いれば、線伏ばね12Bに加わる変形力が少なく、
かつ腕部5、スライダー13への固定も容易であるとい
う利点がある。
また、摺動子17はボールベアリングでもよい。上述の
ように、本発明によれば、スライダーのメインスケール
への圧接力が安定し、ミスカウントに基づく測定誤差の
少ない変位測定器を提供できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の変位測定器の要部を示す正面図、第2図
は本発明に係る変位測定器の一実施例を示す断面図、第
3図は第2図の−線に沿う断面図である。 1・・・・・・ケース、2・・・・・・開口、3・・・
・・・検出機構、5・・・・・・腕部、10・・・・・
・メインスケール、12・・・・・・ぱね構造体、12
A・・・・・・密着巻きされたコイルばね、12B・・
・・・・線伏ばね、13・・・・・・スライダー14・
・・・・・インデツクススケール、15・・・・・・発
光素子子、16・・・・・・受光素子。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 メインスケールを内蔵したケースの長手方向に沿つ
    た開口から検出機構の腕部を挿入し、この腕部にスライ
    ダーをメインスケール側に付勢した状態で取付け、この
    スライダーに設けられたインデックススケールと前記メ
    インスケールとを挾んで発光素子及び受光素子を対向さ
    せて該スライダーに取付け、この両素子により検出機構
    とケースとの相対的移動量を検出する変位測定器におい
    て、前記スライダーをメインスケールとインデックスス
    ケールとを近接させる方向に付勢する線状ばねと、この
    線状ばねに被嵌され該線状ばねの軸線を略中心として前
    記スライダーの回動を許容するとともに前記線状ばねと
    独立してばね作用をなすコイルばねとからなるばね構造
    体を設け、前記コイルばねをスライダーと腕部とに掛け
    渡して取付けたことを特徴とする変位測定器。
JP53012755A 1978-02-06 1978-02-06 変位測定器 Expired JPS5916642B2 (ja)

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JP53012755A JPS5916642B2 (ja) 1978-02-06 1978-02-06 変位測定器

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JP53012755A JPS5916642B2 (ja) 1978-02-06 1978-02-06 変位測定器

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JPS54104868A JPS54104868A (en) 1979-08-17
JPS5916642B2 true JPS5916642B2 (ja) 1984-04-17

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ID=11814215

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JP53012755A Expired JPS5916642B2 (ja) 1978-02-06 1978-02-06 変位測定器

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63176447U (ja) * 1987-05-02 1988-11-16
JPH0190539U (ja) * 1987-12-05 1989-06-14
JPH0274038U (ja) * 1988-11-25 1990-06-06

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5777903A (en) * 1980-10-31 1982-05-15 Mitsutoyo Mfg Co Ltd Displacement measuring apparatus
JPS57189004A (en) * 1981-05-18 1982-11-20 Kawaguchiko Seimitsu Kk Digital length measuring device
DE3201887C2 (de) * 1982-01-22 1983-11-24 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Längenmeßeinrichtung
JPS5915903U (ja) * 1982-07-21 1984-01-31 河口湖精密株式会社 デジタル測長器
JPS60145314U (ja) * 1984-03-09 1985-09-26 株式会社ベルデックス マイクロスケ−ル
JPH052804Y2 (ja) * 1986-05-21 1993-01-25

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63176447U (ja) * 1987-05-02 1988-11-16
JPH0190539U (ja) * 1987-12-05 1989-06-14
JPH0274038U (ja) * 1988-11-25 1990-06-06

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