JPS59106061A - 障害情報の収集方式 - Google Patents

障害情報の収集方式

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Publication number
JPS59106061A
JPS59106061A JP57216647A JP21664782A JPS59106061A JP S59106061 A JPS59106061 A JP S59106061A JP 57216647 A JP57216647 A JP 57216647A JP 21664782 A JP21664782 A JP 21664782A JP S59106061 A JPS59106061 A JP S59106061A
Authority
JP
Japan
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latch group
error
scan
circuit
information
Prior art date
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Pending
Application number
JP57216647A
Other languages
English (en)
Inventor
Takeo Seki
関 建夫
Takeshi Hayashida
健 林田
Mitsuari Shirata
白田 光有
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd, Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP57216647A priority Critical patent/JPS59106061A/ja
Publication of JPS59106061A publication Critical patent/JPS59106061A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/30Monitoring
    • G06F11/34Recording or statistical evaluation of computer activity, e.g. of down time, of input/output operation ; Recording or statistical evaluation of user activity, e.g. usability assessment

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の技術分野 本発明は、計算機システムにおける障害情報の収集方式
に係シ、特にサービスノロセッサSvPから本体系装置
の障害情報を効率的に収集する方式に関するものである
技術の背景 計算機システムにおいて、/・−ドウエア障害が発生し
たとき、障害解析を行う目的のため障害発生時のハード
ウェアの状態情報を収集することが広く行われている。
従来、このノ・−ドウエアの状態情報収集を行うため、
ハードウェア障害発生時に、エラー表示ラッチ群の状態
情報を、主記憶装置のログアウトエリアに格納する機能
が設けられていた。この情報は、ソフトウェアにより読
出して、外部記憶に累積し、障害解析データとして利用
されていたが、エラー表示ラッチ群のみの情報量では、
障害箇所を局所化して指摘するには十分ではなかった。
このため、SvP等をもつ計算機システムでは、SVP
がもつスキャンアウト機能を用いて、本体系装置の全ハ
ードウェアの状態情報をSVPの外部記憶に収集するこ
とが行われていたが、記憶領域が多大となる、収集時間
がかかる、障害情報の累積世代数を多く採れない、等の
問題があった。
本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、障害
発生時のSvPによる本体系装置の7・−ドウエア状態
情報の収集において、障害解析に有効な情報を選択する
ことによシ1回当シの収集情報量および収集時間を削減
し、累積世代数を多く採れるようにしたものである。
本発明は、その構成として、サービスプロセッサによシ
、中央処理装置、チャネル制御装置、主記憶装置等の本
体系装置内のノ・−ドウエア状態情報を収集する機能を
具備する計算機システムにおいて、サービスプロセッサ
がノ\−ドウエアのエラ一種別に応じて指定すべき本体
系装置のノ・−ドウエア内部のラッチ群を示す情報を記
憶する記憶手段をサービスプロセッサ内に設けるととも
に、該記憶手段中の情報によシ指定される各ラッチ群を
それぞれスキャンアウトラッチ群として構成し、さらに
、エラー表示ラッチ群をも一つのスキャンアウトラッチ
群として構成し、本体系装置にノ・−ドウエア障害が発
生してサービスプロセッサヘノ・−ドウエア状態情報の
収集要求が起ったとき、サービスプロセッサは先ずエラ
ー表示ラッチ群のみをスキャンアウトして、その状態情
報を収集し分析することによシェラ一種別を判別し、つ
ぎに該エラ一種別に基づいて、指定すべき本体系装置の
ハードウェア内部のラッチ群を示す情報を上記記憶手段
から読出して該当ラッチ群をスキャンアウトシ、その状
態情報を収集することによシ、エラ一種別に応じてSv
Pに収集するハードウェア状態情報の範囲を選択するこ
とを特徴としている。
次に、図面を参照しながら従来方式と本発明の方式とを
対比させて説明する。
第1図(→は、従来のSvPによる本体系装置の障害情
報の収集方式を示す図である。1は本体系装置内の全ラ
ッチ群であシ、中央処理装置CPU。
チャネル制御装置CHP等の装置単位あるいは装置内の
ユニット単位で、スキャンアウトラッチ群を構成してい
る。2は割込解析回路であシ、本体系装置からSvPへ
の各種処理要求を解析して、該当処理部の起動を行うと
ζろである(ただし、障害情報の収集以外は本発明の対
象とはしていないので図示していない)。
3はスキャンアウト制御回路でアシ、ラッチ群1の各ス
キャンアウトラッチ群のスキャンアウトを順次実行する
。4はスキャンアウトデータ受信回路であ)、スキャン
アウト制御回路3で順次指定されたスキャンアウトラッ
チ群のスキャンアウトデータを順次受信する。
5は障害情報テーブルであシ、ラッチ群1のスキャンア
ウトデータを保持する記憶領域である。
1回のエラーに対する記憶領域分を1世代と呼び、j+
1回分の二2−に対する障害情報の累積保持が可能であ
る。障害情報テーブル1世代分の内容は、第1図(6)
に示すように、エラー発生日時とラッチ群lの全スキャ
ンアウトデータである。6は障害情報テーブル制御回路
であシ、障害情報テーブル5の世代管理を行う。
今、本体系装置から、エラー発生に伴う障害情報収集要
求の割込みがSvPにくると、割込解析回路2で障害情
報収集要求を識別し、スキャンアウト制御回路3へ、ラ
ッチ群1のスキャンアウトを指示する。スキャンアウト
制御回路3は、ラッチ群1の各スキャンアウトラッチ群
を順次スキャンアウトし、スキャンアウトデータ受信回
路4を通して、障害情報テーブル5にラッチ群1の全ス
キャンアウトデータを格納する。
なお、エラー発生日時は、スキャンアウトデータの格納
の前に、予め格納される。また、障害情報テーブルの何
世代口を、スキャンアウトデータの格納用に使用するか
は、障害情報テーブル制御回路6の指示によシ行われる
。このため、障害情報テーブル制御回路6は、1回の障
害情報収集要求による障害情報収集完了毎に、障害情報
テーブルの次の世代数を示すように更新される。
第2図(α)は、本発明実施例による障害情報の収集方
式を示す図である。
第2図(α)における参照番号1〜6の要素は、以下の
点を除いて、従来方法を示す第1図における同番号の要
素と同じ機能をもつ。
(I)1は、スキャンアウトラッチ群の単位を、エラー
表示ラッチ群、システム構成表示ラッチ群、さらに後述
する機能のだめおよび保守を考慮して、取替単位である
プリント板パッケージ単位のラッチ群としている。なお
、各スキャンアウトラッチ群を区別するため、スキャン
アウトラッチ群単位に識別番号をもつ(従来方法では識
別番号は無くても可)。
(it)  3は、後述するスキャンアウト指定回路に
よって選択されたスキャンアウトラッチ群のスキャンア
ウトを実行する。
0!05の累積世代数はn+1であシ、1世代分の内容
は、第2図(b)に示すように、エラー発生日時、エラ
ー表示ラッチ群、システム構成表示ラッチ群、後述する
スキャンアウト指定回路によって選択されたノリント板
パッケージ■、■・・・のラッチ群■。
■・・・からなっている。
7及び8の要素が、本発明による追加機能部分である。
7は、スキャンアウト指定回路であシ、共通スキャンア
ウト指定部7−1と、エラ一種別対応スキャンアウト指
定部7−2とからなる。共通スキャンアウト指定部7−
1は、エラー表示ラッチ群1−1およびシステム構成表
示ラッチ群1−2の識別番号を記憶しておく記憶手段で
あシ、エラ一種別対応スキャンアウト指定部7−2は、
二2一種別毎にそのエラ一種別の障害解析をするのに必
要なラッチ群■、■・・・の識別番号を記憶しておく記
憶手段である。
エラ一種別対応スキャンアウト指定部7−2に記憶して
おくプリント板パッケージ単位のラッチ群は、第3図に
模式的に示すように、ノリント板上で障害検出がもつと
も容易となるように、予め調査して決定される。特にこ
の調査を、ハードウェア設計担当者等が行えば、工2一
種別と障害解析を行うのに必要なラッチ群との対応づけ
を、高い精度で行うことができる。
8は、エラ一種別の判定回路でちゃ、工2−表示ラッチ
群1−1のスキャンアウトデータから、エラ一種別を求
める。
ニラ一種−M1j−は、必ずしもエラー表示ラッチ1個
1個に対応させるのではなく、例えば、4バイト幅のレ
ジスタにバイト単位のパリティチェッカー等がある場合
には、各バイトのノeリティチェック結果を保持するバ
イトパリティチェックエラ−2ツチ4個を−まとめにし
て、レジスタパリティチェックエラーという一つのエラ
一種別を与える。
本発明方式による本体系装置の障害情報の収集は、以下
のように行われる。
SvPへの割込発生時、割込解析回路2が本体系装置か
らの障害情報収集要求であると判断すると、スキャンア
ウト指定回路7の共通スキャンアウト指定部7−1から
、エラー表示ラッチ群l−1およびシステム構成表示ラ
ッチ群1−2の識別番号を読出して、スキャンアウト制
御回路3に送る。
スキャンアウト制#a13は、エラー表示ラッチ群1−
1およびシステム構成表示ラッチ群l−2のスキャンア
ウトを、行い、そのスキャンアウトデータを、スキャン
アウトデータ受信回路4を通して、障害情報テーブル5
の障害情報テーブル制御回路6が示している世代のニジ
ー表示ラッチ群領域およびシステム構成表示ラッチ群領
域に格納するとともに、エラー表示2ツチ群1−1のス
キャンアウトデータを、工2一種別の判定回路8に送る
なお、エラー発生日時の格納は、従来方式と同じく、ス
キャンアウトデータを格納する前に行われる。また、こ
こでシステム構成表示ラッチ群1−2をスキャンアウト
する理由は、障害発生時の本体系装置の構成状態は、障
害解析を行う上で工2一種別に関係なく常に必要な情報
であるためである。
つぎに、エラ一種別の判定回路8は、エラー表示ラッチ
群1−1のスキャンアウトデータからエラ一種別を判定
し、スキャンアウト指定回路7の工2一種別対応スキャ
ンアウト指定部7−2から、そのエラ一種別の障害解析
に必要なラッチ群■。
■・・・の識別番号を読出して、スキャンアウト制御回
路3に送る。
スキャンアウト制御回路3は、ラッチ群■、■・・・の
スキャンアウトを行い、そのスキャンアウトデータを、
スキャンアウトデータ受信回路4を通して、障害情報テ
ーブル5内の、障害情報テーブル制御回路6が示してい
る世代のラッチ群領域に格納する。ラッチ群■、■・・
・のスキャンアウトデータを障害情報テーブル5に格納
した後、障害情報テーブル制御回路6は、次の世代数を
示すように更新される。
なお、本実施例ではスキャンアウトラッチ群の単位をグ
リント板i4ツケージの単位としたが、さらに小さな単
位としてもよい。
発明の詳細 な説明のように、本発明によれば、エラー発生時の障害
情報の収集を本体系装置の全ラッチを対象として行うの
ではなく、エラー表示ラッチ群とシステム構成ラッチ群
、およびそのエラーに対する障害解析に必要なプリント
板/4ツケージ単位のラッチ群のみを選択して収集する
ので、エラー1回当りの収集情報量を大幅に減らすこと
ができる。本発明の実施例によれば、エラー1回当シの
収集情報量は、従来方法に比べて約1/〜1/1500 であった。
上記のように収集情報量が減ることによシ、障害情報の
収集時間も、それに比例して短縮することができる。ま
た、障害情報テーブルの世代数を従来と同じにすれば、
障害情報テーブルに要する記憶領域が少くてすみ、従来
と同量の記憶領域を使用するとすれば、世代数を従来よ
り約20〜50倍多くとれ、累積する障害情報を多くす
ることができる。
さらに、障害情報テーブル内には、エラー表示ラッチ群
、システム構成表示ラッチ群、該二2−を解析するのに
必要なラッチ群と分けて格納しであるので、障害解析が
しやすいという利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の障害情報収集方式についての説明図、第
2図は本発明実施例による障害情報収集方式についての
説明図、第3図はプリント板内のラッチ群配置を模式的
に示した説明図である。 図中、1はラッチ群、2は割込解析回路、3はスキャン
アウト制御回路、4はスキャンアウトデータ受信回路、
5は障害情報テーブル、6は障害情報テーブル制御回路
、7はスキャンアウト指定回路、8はエラ一種別判定回
路を示す。 第2図 第3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. サービスノロセッサによシ、中央処理装置、チャネル制
    御装置、主記憶装置等の本体系装置内のハードウェア状
    態情報を収集する機能を具備する計算機システムにおい
    て、サービスノロセッサがハードウェアのエラ一種別に
    応じて指定すべき本体系装置のハードウェア内部のラッ
    チ群を示す情報を記憶する記憶手段をサービスプロセッ
    サ内に設けるとともに、該記憶手段中の情報によシ指定
    される各ラッチ群をそれぞれスキャンアウトラッチ群と
    して構成し、さらに、エラー表示ラッチ群をも一つのス
    キャンアウトラッチ群として構成し、本体系装置にハー
    ドウェア障害が発生してサービスノロセッサへハードウ
    ェア状態情報の収集要求が起ったとき、サービスプロセ
    ッサは先スエラー表示うッチ群のみをスキャンアウトし
    て、その状態情報を収集し分析することによりエラ一種
    別を判別し、つぎに該エラ一種別に基づいて、指定すべ
    き本体系装置のハードウェア内部のラッチ群を示す情報
    を上記記憶手段から読出して該当ラッチ群をスキャンア
    ウトし、その状態情報を収集することにより、エラ一種
    別に応じてサービスプロセッサに収集するハードウェア
    状態情報の範囲を選択することを特徴とする障害情報の
    収集方式。
JP57216647A 1982-12-09 1982-12-09 障害情報の収集方式 Pending JPS59106061A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63159923A (ja) * 1986-12-12 1988-07-02 ハイデルベルガー ドルックマシーネン アクチエンゲゼルシャフト 印刷機用デイジタル制御システムの信号入出力回路

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS50116249A (ja) * 1974-02-27 1975-09-11
JPS54163644A (en) * 1978-06-15 1979-12-26 Fujitsu Ltd Data processing system
JPS56110121A (en) * 1980-02-01 1981-09-01 Fujitsu Ltd Data transfer system at faulty time

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