JPS5862799A - 光応用計測装置 - Google Patents
光応用計測装置Info
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- JPS5862799A JPS5862799A JP16232281A JP16232281A JPS5862799A JP S5862799 A JPS5862799 A JP S5862799A JP 16232281 A JP16232281 A JP 16232281A JP 16232281 A JP16232281 A JP 16232281A JP S5862799 A JPS5862799 A JP S5862799A
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- sensor
- optical
- reflected
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は光応用計111J装置、具体的には光を用いた
各種物理量の計測i7Ic置において、光送受信器とセ
ンナ本体とを結ぶ光ファイバ等の伝送特性の変動による
計測誤差を補償するための方式に関する。
各種物理量の計測i7Ic置において、光送受信器とセ
ンナ本体とを結ぶ光ファイバ等の伝送特性の変動による
計測誤差を補償するための方式に関する。
光応用計測装置の光伝送路では、元ファイバをアナログ
量伝送路として用いており、温度変化や曲げ応力による
伝送特性の変動.が不正出力となるため、これを補償す
る必要がある。
量伝送路として用いており、温度変化や曲げ応力による
伝送特性の変動.が不正出力となるため、これを補償す
る必要がある。
第1図は従来用いられている光応用電界センサにおける
伝送特性変動補償法の一例である●この例では発光ダイ
オード1を、発振器2および増幅器3を用いて15KJ
−Izで変調し、光ファイバ4を経て電界センサ5に供
給シ、その通過光を受光ダイオード6で受け、増幅器7
で増幅した出力を測定信号弁とキャリア分とにフィルタ
8.9で分離した上で検出器10、メータ1lで受け、
iヤリア分の振幅から伝送路変動分をモニタしている。
伝送特性変動補償法の一例である●この例では発光ダイ
オード1を、発振器2および増幅器3を用いて15KJ
−Izで変調し、光ファイバ4を経て電界センサ5に供
給シ、その通過光を受光ダイオード6で受け、増幅器7
で増幅した出力を測定信号弁とキャリア分とにフィルタ
8.9で分離した上で検出器10、メータ1lで受け、
iヤリア分の振幅から伝送路変動分をモニタしている。
しかしこの装置においては以下に挙げる欠点がある0
゛ 1)被測′定電界が変流電界に限られる0直流竃界をこ
の方法で測定しようとすると光源あるいは伝送特性の変
動を補償できない0 2)′に外構出端の構成要素である波長板の特性の −
温度変化や、電気光学結電の内部電界のト°す7ト等の
原因で、電界検出端の光透過率の平均値が変動する場合
、キャリア分もそれに比例して変動するため補償誤差を
°生じる0 強度の影響を受けて変化し、計測誤差を生じる。
゛ 1)被測′定電界が変流電界に限られる0直流竃界をこ
の方法で測定しようとすると光源あるいは伝送特性の変
動を補償できない0 2)′に外構出端の構成要素である波長板の特性の −
温度変化や、電気光学結電の内部電界のト°す7ト等の
原因で、電界検出端の光透過率の平均値が変動する場合
、キャリア分もそれに比例して変動するため補償誤差を
°生じる0 強度の影響を受けて変化し、計測誤差を生じる。
第2図は光応用振動センサlこおける伝送系の変動補償
法の例である。この装置は駆動回路21で2つの発光ダ
イオード22.23を駆動して2つの波長の光′信号を
得、合波器24を経てビームスプリッタ25へ導く。そ
して光信号の一部は光7アイパ26を経て1fR1i1
11センサ27に達し、セ/す27より戻る信号光28
は受光ダイオ−1゛29で受信される。他方ビームスプ
リッタ25で分岐された参照光30は受光ダイオード3
1で受信さ札これら両受信信号はロングレシオアンプ3
2.市1jフィルタ36を経て検出信号を出力するO上
茜己のセ/す27としては、第3図Gこ示すように波長
λ1には透明であるが、λ2には不透明であるノ%イノ
(スフイルタ271と、これとは相補的なローノ(スフ
イルタ272とを突き合せた形の差動フィルタを使って
いる0即ち、°差動フイルダの境界付近が元ビーム27
3を遮る場合を考えると、フィルタが例えば右に動けば
波長λ1に対する透過率は増大し、波長λ2に対しては
逆こと減少する。従って、差動フィルタを人力変位ある
いは振動に連動させることによって、被測定量が光ビー
ムに対する分光透過率の差動変化に変換されるOそこで
センサより戻ってくる2波長ね、λ2の1度比を電気演
メ回路32ないし36によって作れば、2波長に対して
同相的に変化Tる伝送系の外乱は相殺され、被測定量に
関連した信号分だけが残ることになる。
法の例である。この装置は駆動回路21で2つの発光ダ
イオード22.23を駆動して2つの波長の光′信号を
得、合波器24を経てビームスプリッタ25へ導く。そ
して光信号の一部は光7アイパ26を経て1fR1i1
11センサ27に達し、セ/す27より戻る信号光28
は受光ダイオ−1゛29で受信される。他方ビームスプ
リッタ25で分岐された参照光30は受光ダイオード3
1で受信さ札これら両受信信号はロングレシオアンプ3
2.市1jフィルタ36を経て検出信号を出力するO上
茜己のセ/す27としては、第3図Gこ示すように波長
λ1には透明であるが、λ2には不透明であるノ%イノ
(スフイルタ271と、これとは相補的なローノ(スフ
イルタ272とを突き合せた形の差動フィルタを使って
いる0即ち、°差動フイルダの境界付近が元ビーム27
3を遮る場合を考えると、フィルタが例えば右に動けば
波長λ1に対する透過率は増大し、波長λ2に対しては
逆こと減少する。従って、差動フィルタを人力変位ある
いは振動に連動させることによって、被測定量が光ビー
ムに対する分光透過率の差動変化に変換されるOそこで
センサより戻ってくる2波長ね、λ2の1度比を電気演
メ回路32ないし36によって作れば、2波長に対して
同相的に変化Tる伝送系の外乱は相殺され、被測定量に
関連した信号分だけが残ることになる。
しかし、この方法によると例えば温度セ/すや・−界セ
ンサにおいて2波長の透過率を被測定9!J埋1′、・
1 量に泡応して逆相的に変化させることは困離であり、こ
の方式の応用範囲は極く特殊なセンサーこ限定される。
ンサにおいて2波長の透過率を被測定9!J埋1′、・
1 量に泡応して逆相的に変化させることは困離であり、こ
の方式の応用範囲は極く特殊なセンサーこ限定される。
第、4図は従来用いられている光応用温度センサの例で
ある。この装置も2波長を用いるものであり、2つのパ
ルス発生器41.42と駆動回路43゜44を用いて2
つの発光ダイオード45.46を駆動する0光合波器4
7を経た元信号は、コネクタ48、光ファイバ49を経
て温度センサ504こ導かれる0センナ50を通過した
光は7アイ/<4&コネクタ51を経て受光ダイオード
52で受信され、アンプ53およびサンプルホールドア
ンプ54゜55を経て割算器56に導かれるO 上記2波長のうち一方はセンサ材料の吸収端付近に選ん
であり、この波長を信号光とする温度変化によりセ/す
材料の吸収端が変化するとそれζζ応じて信号光の透過
率も変化するO他方の波長番ま吸収端からは十分離れて
おりこれを参照光とするO参照元の透過率は温度変化の
影響を受けなG1゜従って、センナ透過後の信号光と参
照光の強度比を堆れば伝送系の外乱は除去されるO しかし他の物理量を測るセンナにおし1て被測定物理量
の影響を全く受けない波長が常6シフ■するとは限らな
い。例えばポッケルス効果を利用した電界センサ、ファ
ラデー効果を利用した磁界センサ、自然複層′折の温度
変化を利用した温度センサなとではどの波長も被測定物
理量の影響を受けるのでこの方法は有効でない〇 この発明の目的は、光を用いた各種物理量の計測装置に
おける光送受信器とセンサ部分を結ぶ元ファイバ等の伝
送特性の変動による計測誤差の効果的な補償法を提供す
ることであり、具体的tこは以下に述べると2つである
。
ある。この装置も2波長を用いるものであり、2つのパ
ルス発生器41.42と駆動回路43゜44を用いて2
つの発光ダイオード45.46を駆動する0光合波器4
7を経た元信号は、コネクタ48、光ファイバ49を経
て温度センサ504こ導かれる0センナ50を通過した
光は7アイ/<4&コネクタ51を経て受光ダイオード
52で受信され、アンプ53およびサンプルホールドア
ンプ54゜55を経て割算器56に導かれるO 上記2波長のうち一方はセンサ材料の吸収端付近に選ん
であり、この波長を信号光とする温度変化によりセ/す
材料の吸収端が変化するとそれζζ応じて信号光の透過
率も変化するO他方の波長番ま吸収端からは十分離れて
おりこれを参照光とするO参照元の透過率は温度変化の
影響を受けなG1゜従って、センナ透過後の信号光と参
照光の強度比を堆れば伝送系の外乱は除去されるO しかし他の物理量を測るセンナにおし1て被測定物理量
の影響を全く受けない波長が常6シフ■するとは限らな
い。例えばポッケルス効果を利用した電界センサ、ファ
ラデー効果を利用した磁界センサ、自然複層′折の温度
変化を利用した温度センサなとではどの波長も被測定物
理量の影響を受けるのでこの方法は有効でない〇 この発明の目的は、光を用いた各種物理量の計測装置に
おける光送受信器とセンサ部分を結ぶ元ファイバ等の伝
送特性の変動による計測誤差の効果的な補償法を提供す
ることであり、具体的tこは以下に述べると2つである
。
1)光送受信器とセ/す部分を鮎ぶ元7アイパ尋の元伝
送路の伝・遂時性の変動をモニタする1M号が被測定物
理量やその他センサ内部の現象によって変調を受けない
こと0 2)特定の物理量に対する光応用計測#ctIItにの
み通用が限定されることなく、他の物理量に対する計測
装置に対しても適用できる並遍性をもつ補償方式を提供
すること0 3)任意の時間変化をする物理量に対する計測装置にお
いて補償が可能なこと〇 本発明は、被測定物理量により変調を受ける信号光およ
び伝送路変動をモニタする参照光と2つの波長の異なる
光を用いる点では、従来技術として例示した方式と類似
する。本発明の特徴はセン!部の構成法にある0即ち、
従来技術ではセンナ部を光が透過する透過型上ンサを用
いているのに対して、本発明では、信号光はセンナ後方
で反射させることによりセンナ内部で往復させ、これに
対し参照光はセンサ前面で反射させる反射型センサを用
いる。
送路の伝・遂時性の変動をモニタする1M号が被測定物
理量やその他センサ内部の現象によって変調を受けない
こと0 2)特定の物理量に対する光応用計測#ctIItにの
み通用が限定されることなく、他の物理量に対する計測
装置に対しても適用できる並遍性をもつ補償方式を提供
すること0 3)任意の時間変化をする物理量に対する計測装置にお
いて補償が可能なこと〇 本発明は、被測定物理量により変調を受ける信号光およ
び伝送路変動をモニタする参照光と2つの波長の異なる
光を用いる点では、従来技術として例示した方式と類似
する。本発明の特徴はセン!部の構成法にある0即ち、
従来技術ではセンナ部を光が透過する透過型上ンサを用
いているのに対して、本発明では、信号光はセンナ後方
で反射させることによりセンナ内部で往復させ、これに
対し参照光はセンサ前面で反射させる反射型センサを用
いる。
第5図は本発明に利用工されるセンサの構造を例示し、
入射信号光501は参照光反射フィルタ502を通過し
てセンサ503に入射しセンサ後方のξツー504によ
って全反射され再びフィルタ502を通過して反射信号
光505となる。この間に信号光は被測定物理量506
によって変調を受ける・入射参照光507はフィルタ5
02によって全反射を受は反射参照光5’08となるO
受光部に詔いて505と508の強度比をとれば光伝送
路特性の変動が補償された信号が得られるO第6図は本
発明の一実施例として、参照光反射フィルタを具備した
反射型センサを含む光応用計測装置全体の構成図を示す
もので、以下この装置の動作を図によって説明する。電
気的パルス発°生器61、インバータ62、発光ダイオ
ード駆動回路63.64によって信号光発光ダイオード
65および参照光発生ダイオード66を時間的に交互に
発光させ、これら波長の異る2光は合波器67、ビーム
スプリッタ68を介して入射光用元ファイバ69に出射
されセンサ70に導かれる。70により反射された光は
反射光用光ファイバ71によって受光ダイオード72に
導かれる0発元ダイオード65および66により出射さ
れた光はビームスプリッタ68により一部分岐され受光
ダイオード73に導かれる。受光ダイオード72および
73により光電変換された電気信号XおよびYは増幅器
74.75を介した後、割算器76によって」。
入射信号光501は参照光反射フィルタ502を通過し
てセンサ503に入射しセンサ後方のξツー504によ
って全反射され再びフィルタ502を通過して反射信号
光505となる。この間に信号光は被測定物理量506
によって変調を受ける・入射参照光507はフィルタ5
02によって全反射を受は反射参照光5’08となるO
受光部に詔いて505と508の強度比をとれば光伝送
路特性の変動が補償された信号が得られるO第6図は本
発明の一実施例として、参照光反射フィルタを具備した
反射型センサを含む光応用計測装置全体の構成図を示す
もので、以下この装置の動作を図によって説明する。電
気的パルス発°生器61、インバータ62、発光ダイオ
ード駆動回路63.64によって信号光発光ダイオード
65および参照光発生ダイオード66を時間的に交互に
発光させ、これら波長の異る2光は合波器67、ビーム
スプリッタ68を介して入射光用元ファイバ69に出射
されセンサ70に導かれる。70により反射された光は
反射光用光ファイバ71によって受光ダイオード72に
導かれる0発元ダイオード65および66により出射さ
れた光はビームスプリッタ68により一部分岐され受光
ダイオード73に導かれる。受光ダイオード72および
73により光電変換された電気信号XおよびYは増幅器
74.75を介した後、割算器76によって」。
シαなる演算が施される@この演算は発光ダイオード6
5および66の発光強度の開動を補償するためのもので
ある。割算器76の耐力は、発光ダイオード65および
6−6の発光時間にそれぞれ同期したサンプルホールド
増幅器77および78に分岐された後、反射信号光強度
に比例した電気信号2および反射参照光強度に比例した
電気信号Wに分離され、割算器79によってZ/Wなる
演算が施される0これらの信号処理によって、割算器7
9の出力は、光源の強度変動および光伝送路の特性変動
が補償された、被測定物理量による信号光強度変調度に
比例した信号となるOそしてこの信号は増幅器80を経
て表示器81に与えられる。
5および66の発光強度の開動を補償するためのもので
ある。割算器76の耐力は、発光ダイオード65および
6−6の発光時間にそれぞれ同期したサンプルホールド
増幅器77および78に分岐された後、反射信号光強度
に比例した電気信号2および反射参照光強度に比例した
電気信号Wに分離され、割算器79によってZ/Wなる
演算が施される0これらの信号処理によって、割算器7
9の出力は、光源の強度変動および光伝送路の特性変動
が補償された、被測定物理量による信号光強度変調度に
比例した信号となるOそしてこの信号は増幅器80を経
て表示器81に与えられる。
第7図は変形例を示すもので第6図と異なり、信号光発
光ダイオード65および参照光発光ダイオード66を同
時ζこ発光させ、受光部で分波器82により信号光と参
照光を分離して割算器83〜85により同様の電気的演
算を行うOなお86.87はそれぞれ光源モニタ用の受
光ダイオードであり、88.89はビームスプリッタで
あるOこの装置は光学系が若干複雑になるが、電気信号
処理が簡単になる利点を有する。
光ダイオード65および参照光発光ダイオード66を同
時ζこ発光させ、受光部で分波器82により信号光と参
照光を分離して割算器83〜85により同様の電気的演
算を行うOなお86.87はそれぞれ光源モニタ用の受
光ダイオードであり、88.89はビームスプリッタで
あるOこの装置は光学系が若干複雑になるが、電気信号
処理が簡単になる利点を有する。
第8図に参照光反射フィルタを備えた反射を電界電圧セ
ンサの構成例を示す0これは第6図およ率楕円体の主軸
は、光の伝搬方向および被測定電おける伝搬方向と直交
した2つの主軸に沿った一波光間に被測定電界に比例し
た光学的位相差を牛じる。発光部より光ファイノ(69
により伝送されてきた信号光はロッドレンズ702によ
って平行と直交した2つの偏光軸に対して45°の角度
をなす直線偏光となるO直線偏光となった信号光は1/
8波長板704、参照光反射フィルタ705を介して電
気光学結唱701に入射する01/8波長板704は信
号光がこれを往復する間に、701の偏光軸に沿った2
つの偏波光間の位相差に90の光学的位相バイアスを与
え反射光強度と被測定電界との線形性を良くするための
ものである0参照光反射フィルタ705は例えば電気光
学結唱701の前面に誘電体多層膜をコーティングする
ことによって形成されており参照光のみ全反に出射され
る。この反射信号光は再び178波長板704を介して
偏光ビームスンリツタ703に図面右前から入射し、#
A面左側から偏光ビームスプリッタ703を通゛遇する
ときに選択される偏光とは9d:1方向の異なる偏光成
分のみが選択反射さt’Lミ5−707、ロッドレンズ
708を介して反射光用光ファイバ71に導かれ受光部
へ伝送される。以上の打揚によって被測定電界の強度は
反射48号光の強度へ七変換される〇 一方、参照元は信号光とわずかに波長が異なっており、
光ファイバ69により入射する参照元はロッドレンズ7
02、m党ビームスプリッタ703および1/8波長板
704を通過した後参照光反射フィルタ705によって
全反射を受け、1/8波長板704.94光ビームスプ
リツタ703およびロッドレンズ708を介して反射光
用光ファイファイバ等の伝送路の特性変動のみをモニタ
することができる・ 第6図、第7図の光応用計6111装置において、光送
受信器とセンサ部を結ぶ元ファイバを双方向伝送路とし
て用い7アイパの1本化を図る場合には、第6図、第7
図の破線円を第9図の如く変形する0即ち発光部から光
ファイブ91への出射端番こ反射光分離用ビ〒ムスフ2
リッタ92を設け、センサ部70からの反射光を受光部
へ反射分離する0この場合のセンナ部70の反射型電界
センサーこおける具体的構成例をWJ10図に示す◎こ
のセンサは第1.1111 8図示のものの変形で、入射光と反射光を伝送する光7
アイパが符号101で示すように1本化された点でのみ
異なり、動作原理においてはg8図と何ら変吏はない0
偏光子兼検光子102は偏光子1台で検光子も兼ねてい
る。この方式では光送受信部において反射光を分離する
ため、センサ部の構成が簡単化される利点がある0 以上述べたように、本発明によれば、光応用計測装置に
おいて被側定物理量によって変調を受ける信号光とそれ
とわずかに波長が異なり伝送路の変動をモニタする参照
光の2波長を用い、センサ部分を反射型に構成して参照
光を光変調器直前で反射させる方式を採用したため、 1)伝送路変動をモニタする参照光は被測定物理やその
他変調器内部の現象によって変調を受けない0 2)センナ部分を反射型に構成する・ことが可能であれ
ば、あらゆる物理量に対する計測装置に対して補償方式
の適用が可能である0 3)任意の時間変化をする物理量の計測装置番こおいて
補償が可能である−というきわめて優れた効果が生ずる
口な右、実施例に示した構成の電界電圧セ/すは、信号
光、参照光とも波長板を通過するので波長板の温度変化
Iこ基づく反射光強度のドリフトは両者の強度比を取る
ことによって補償されるという付加的な利点をも有する
。
ンサの構成例を示す0これは第6図およ率楕円体の主軸
は、光の伝搬方向および被測定電おける伝搬方向と直交
した2つの主軸に沿った一波光間に被測定電界に比例し
た光学的位相差を牛じる。発光部より光ファイノ(69
により伝送されてきた信号光はロッドレンズ702によ
って平行と直交した2つの偏光軸に対して45°の角度
をなす直線偏光となるO直線偏光となった信号光は1/
8波長板704、参照光反射フィルタ705を介して電
気光学結唱701に入射する01/8波長板704は信
号光がこれを往復する間に、701の偏光軸に沿った2
つの偏波光間の位相差に90の光学的位相バイアスを与
え反射光強度と被測定電界との線形性を良くするための
ものである0参照光反射フィルタ705は例えば電気光
学結唱701の前面に誘電体多層膜をコーティングする
ことによって形成されており参照光のみ全反に出射され
る。この反射信号光は再び178波長板704を介して
偏光ビームスンリツタ703に図面右前から入射し、#
A面左側から偏光ビームスプリッタ703を通゛遇する
ときに選択される偏光とは9d:1方向の異なる偏光成
分のみが選択反射さt’Lミ5−707、ロッドレンズ
708を介して反射光用光ファイバ71に導かれ受光部
へ伝送される。以上の打揚によって被測定電界の強度は
反射48号光の強度へ七変換される〇 一方、参照元は信号光とわずかに波長が異なっており、
光ファイバ69により入射する参照元はロッドレンズ7
02、m党ビームスプリッタ703および1/8波長板
704を通過した後参照光反射フィルタ705によって
全反射を受け、1/8波長板704.94光ビームスプ
リツタ703およびロッドレンズ708を介して反射光
用光ファイファイバ等の伝送路の特性変動のみをモニタ
することができる・ 第6図、第7図の光応用計6111装置において、光送
受信器とセンサ部を結ぶ元ファイバを双方向伝送路とし
て用い7アイパの1本化を図る場合には、第6図、第7
図の破線円を第9図の如く変形する0即ち発光部から光
ファイブ91への出射端番こ反射光分離用ビ〒ムスフ2
リッタ92を設け、センサ部70からの反射光を受光部
へ反射分離する0この場合のセンナ部70の反射型電界
センサーこおける具体的構成例をWJ10図に示す◎こ
のセンサは第1.1111 8図示のものの変形で、入射光と反射光を伝送する光7
アイパが符号101で示すように1本化された点でのみ
異なり、動作原理においてはg8図と何ら変吏はない0
偏光子兼検光子102は偏光子1台で検光子も兼ねてい
る。この方式では光送受信部において反射光を分離する
ため、センサ部の構成が簡単化される利点がある0 以上述べたように、本発明によれば、光応用計測装置に
おいて被側定物理量によって変調を受ける信号光とそれ
とわずかに波長が異なり伝送路の変動をモニタする参照
光の2波長を用い、センサ部分を反射型に構成して参照
光を光変調器直前で反射させる方式を採用したため、 1)伝送路変動をモニタする参照光は被測定物理やその
他変調器内部の現象によって変調を受けない0 2)センナ部分を反射型に構成する・ことが可能であれ
ば、あらゆる物理量に対する計測装置に対して補償方式
の適用が可能である0 3)任意の時間変化をする物理量の計測装置番こおいて
補償が可能である−というきわめて優れた効果が生ずる
口な右、実施例に示した構成の電界電圧セ/すは、信号
光、参照光とも波長板を通過するので波長板の温度変化
Iこ基づく反射光強度のドリフトは両者の強度比を取る
ことによって補償されるという付加的な利点をも有する
。
光応用計測は従来の電気式針側に比べて、電磁誘導によ
る妨害を受けない、電気絶縁性が良く高電圧部での使用
が容易、可燃性物質周辺で用いても火花による爆発の地
検性がない等のオリ点を有し、最近の光ファイバ、レー
ザダイオード、フォトダイオード等の光要素技術の著し
い進歩に伴い、光応用計測の実現可能性が急速に高まり
つつある。
る妨害を受けない、電気絶縁性が良く高電圧部での使用
が容易、可燃性物質周辺で用いても火花による爆発の地
検性がない等のオリ点を有し、最近の光ファイバ、レー
ザダイオード、フォトダイオード等の光要素技術の著し
い進歩に伴い、光応用計測の実現可能性が急速に高まり
つつある。
この発明による伝送路変動補償法はセンサ部分が反射型
に構成できる光応用計測装置にはすべて適用が可能であ
り、実施例に示した電界計測装置以外に例えば元ファイ
バ信号伝送系を具備した電流・磁界、流速、角速度、振
動、圧力、音書咎の計測装置への適用が考えられる。
、
に構成できる光応用計測装置にはすべて適用が可能であ
り、実施例に示した電界計測装置以外に例えば元ファイ
バ信号伝送系を具備した電流・磁界、流速、角速度、振
動、圧力、音書咎の計測装置への適用が考えられる。
、
第1図、第2図および第4図はそれぞれ従来の光応用計
測装置を例示する接続図、第3図はM2図の装置におい
て便用されるセンナの概略構成図、第5図、第8図、@
9図および第10図はそれぞれ本発明の装置において使
用されるセンサの構成を例示する側面図、第6図および
第7図は本発明のそれぞれ異なる実施例を示す接続図で
ある0502:参照光フィルタ、503:センサ、50
4:ミラー、6s 、 66 :発光ダイオード、67
:合波器、68:ビームスプリッタ、69゜708:ロ
ッドレンズ、703:ビームスプリッタ、704:1/
8波長板、705:参照光反射フィルタ、706.70
7:ミラー、91:光ファイバ、92:ビームスプリッ
タ、101:元ファイバ、102:偏光子魚検元子。 3121 40 シど 才5 図 ?7 図
測装置を例示する接続図、第3図はM2図の装置におい
て便用されるセンナの概略構成図、第5図、第8図、@
9図および第10図はそれぞれ本発明の装置において使
用されるセンサの構成を例示する側面図、第6図および
第7図は本発明のそれぞれ異なる実施例を示す接続図で
ある0502:参照光フィルタ、503:センサ、50
4:ミラー、6s 、 66 :発光ダイオード、67
:合波器、68:ビームスプリッタ、69゜708:ロ
ッドレンズ、703:ビームスプリッタ、704:1/
8波長板、705:参照光反射フィルタ、706.70
7:ミラー、91:光ファイバ、92:ビームスプリッ
タ、101:元ファイバ、102:偏光子魚検元子。 3121 40 シど 才5 図 ?7 図
Claims (1)
- 1)電気信号処理部を含む光送受信器と、光伝送路と、
被測定物理量の大きさを光強度に変換する被測定物理量
検出センナとを備えたものにおいて、前記センナに信号
光とこれとは波長の異なる参照光とを同一の光伝送路を
通し参照光反射フィルタを介して供給するようにし、前
記フィルタを通過する信号光はセンナの光入射面と異な
る他端に右いて反射させるようにしてセンナ内を往復さ
せ、参照光は前記フィルタにおいて全反射させ、受光部
において信号光と参照先の反射光を分離受光し、両者の
強度比によって物理量の測定値を求めることにより光伝
送路の特性変動を補償するようにしたことを特徴とする
光応用計測装置0
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16232281A JPS5862799A (ja) | 1981-10-12 | 1981-10-12 | 光応用計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16232281A JPS5862799A (ja) | 1981-10-12 | 1981-10-12 | 光応用計測装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5862799A true JPS5862799A (ja) | 1983-04-14 |
Family
ID=15752323
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16232281A Pending JPS5862799A (ja) | 1981-10-12 | 1981-10-12 | 光応用計測装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5862799A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018059864A (ja) * | 2016-10-07 | 2018-04-12 | 日本放送協会 | アンテナ特性測定装置 |
JP2018059862A (ja) * | 2016-10-07 | 2018-04-12 | 日本放送協会 | アンテナ特性測定装置 |
-
1981
- 1981-10-12 JP JP16232281A patent/JPS5862799A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018059864A (ja) * | 2016-10-07 | 2018-04-12 | 日本放送協会 | アンテナ特性測定装置 |
JP2018059862A (ja) * | 2016-10-07 | 2018-04-12 | 日本放送協会 | アンテナ特性測定装置 |
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