JPS5848868A - パルス周波数測定方法 - Google Patents
パルス周波数測定方法Info
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- JPS5848868A JPS5848868A JP14725481A JP14725481A JPS5848868A JP S5848868 A JPS5848868 A JP S5848868A JP 14725481 A JP14725481 A JP 14725481A JP 14725481 A JP14725481 A JP 14725481A JP S5848868 A JPS5848868 A JP S5848868A
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- pulses
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R23/00—Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
- G01R23/02—Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage
- G01R23/10—Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage by converting frequency into a train of pulses, which are then counted, i.e. converting the signal into a square wave
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
- G01P3/00—Measuring linear or angular speed; Measuring differences of linear or angular speeds
- G01P3/42—Devices characterised by the use of electric or magnetic means
- G01P3/44—Devices characterised by the use of electric or magnetic means for measuring angular speed
- G01P3/48—Devices characterised by the use of electric or magnetic means for measuring angular speed by measuring frequency of generated current or voltage
- G01P3/481—Devices characterised by the use of electric or magnetic means for measuring angular speed by measuring frequency of generated current or voltage of pulse signals
- G01P3/489—Digital circuits therefor
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、到来する入力パルスから、これらの入力パル
スの周波数に比例するデジタル量を出力するパルス周波
数測定方法に関する。
スの周波数に比例するデジタル量を出力するパルス周波
数測定方法に関する。
マイクロコンピュータの普及にともなって、電動機の回
転速度を直接的にデジタル制御するｌ） ＤＣ装置の開
発がさかんになってきた。か＼るＤＤＣＤＣ装置いては
回転速度をデジタル量で検出するこ吉が要求される。こ
のために回転軸に取付けたパルスゼネレータから検出す
べき回転速度に比例した周波数をもつパルスが取り出さ
れる。パルスゼネレータが発生するパルスは波形整形回
路を介してパルスカウンタを含む測定回路に入力される
。測定回路においては、例えば一定の測定時間内に到来
する入力パルスが積算計数される。しかしながら、か＼
る単純な方式の場合ｌこは、よく知られているように１
±１の計数誤差１が生じるため、低速にな゛るほと相対
的に検出誤差が大きくなる。この検出誤差を小さくする
ためには入力パルスを積算計数する時間（測定時間）を
大きく設定する必要がある。こうした場合には、それに
応じて検出遅れが大となり、これはＤＤＣＤＣ装置度制
御性能を低下させるという不都合をもたらす。
転速度を直接的にデジタル制御するｌ） ＤＣ装置の開
発がさかんになってきた。か＼るＤＤＣＤＣ装置いては
回転速度をデジタル量で検出するこ吉が要求される。こ
のために回転軸に取付けたパルスゼネレータから検出す
べき回転速度に比例した周波数をもつパルスが取り出さ
れる。パルスゼネレータが発生するパルスは波形整形回
路を介してパルスカウンタを含む測定回路に入力される
。測定回路においては、例えば一定の測定時間内に到来
する入力パルスが積算計数される。しかしながら、か＼
る単純な方式の場合ｌこは、よく知られているように１
±１の計数誤差１が生じるため、低速にな゛るほと相対
的に検出誤差が大きくなる。この検出誤差を小さくする
ためには入力パルスを積算計数する時間（測定時間）を
大きく設定する必要がある。こうした場合には、それに
応じて検出遅れが大となり、これはＤＤＣＤＣ装置度制
御性能を低下させるという不都合をもたらす。
上述の不都合を解消し、とりわけ定格速度領域において
短時間で高精度に速度を検出するために、高周波の一定
周期の基準パルスを用意しておき、入力パルスが所定個
数カウントされる間に発生する基準パルスの個数をカウ
ントし、このカウントした基準パルスの個数の逆数を計
算することによって、入力パルスの周波数、すなわち検
出すべき速度に比例したデジタル量を得ることが既に提
案されている（％開開５５−３７７０７号公報、または
昭和５５年５月２０日オーム社発行１％許パルス回路技
術事典」第５２０頁参照）。
短時間で高精度に速度を検出するために、高周波の一定
周期の基準パルスを用意しておき、入力パルスが所定個
数カウントされる間に発生する基準パルスの個数をカウ
ントし、このカウントした基準パルスの個数の逆数を計
算することによって、入力パルスの周波数、すなわち検
出すべき速度に比例したデジタル量を得ることが既に提
案されている（％開開５５−３７７０７号公報、または
昭和５５年５月２０日オーム社発行１％許パルス回路技
術事典」第５２０頁参照）。
しかしながら、上述の公知θ）方法は、広い速度範囲に
わたって可変速制御を行なうような用途にあっては、測
定時間（したがって、検出遅れ）が大幅に変動するとい
う問題点を有する。１）ＤＣ装置にとって、速度検出部
は制御対象の一部とみなせるので、上述のことは制御対
象の伝達関数が速度に依存して変動することを意味する
。さらに、この公知の方法は低速域では非常ｌこ多くの
入力パルスをカウントしなければならないため、非常に
長い測定時間を賛し、これに応じて許容できないはどの
検出遅れを生じる。前記公報に記載の発明においては、
この点の問題を解決するためｌこ、速度領域を判別して
これが起動時の低速域にある場合には、最初に述べた単
純な方式、すなわち一定の測定時間内に到来する入力パ
ルスの個数をカウントする方式にて速度を検出すること
を提案している。
わたって可変速制御を行なうような用途にあっては、測
定時間（したがって、検出遅れ）が大幅に変動するとい
う問題点を有する。１）ＤＣ装置にとって、速度検出部
は制御対象の一部とみなせるので、上述のことは制御対
象の伝達関数が速度に依存して変動することを意味する
。さらに、この公知の方法は低速域では非常ｌこ多くの
入力パルスをカウントしなければならないため、非常に
長い測定時間を賛し、これに応じて許容できないはどの
検出遅れを生じる。前記公報に記載の発明においては、
この点の問題を解決するためｌこ、速度領域を判別して
これが起動時の低速域にある場合には、最初に述べた単
純な方式、すなわち一定の測定時間内に到来する入力パ
ルスの個数をカウントする方式にて速度を検出すること
を提案している。
本発明の目的は、入力パルスの周波数が広範囲にわたっ
て変化する場合にも、短時間に高精度にて、しかも一定
の時間間隔で繰返し人力パルスの周波数を測定するこさ
を可能にすることにある。
て変化する場合にも、短時間に高精度にて、しかも一定
の時間間隔で繰返し人力パルスの周波数を測定するこさ
を可能にすることにある。
この目的は、本発明によれば、一定の高い周波数（ｆｏ
）を有する基準パルスと測定時間に相当する一定の周期
（１゛）を有するタイミングパルスとを発生させ、時間
的互いに隣り合う２つのタイミングパルス間の一定時間
（１″）内に到来する入力パルスの個数Ｑと、各タイミ
ングパルス発生直前の入力パル ５− ス到来時点から癌該タイミングパルス発生時点までの間
に発生した基準パルスの個数（乃とを計数し、各タイミ
ングパルス発生時点毎に、前記基準パルスの個数（Ｐ）
の前回のｎｔ数値Ｐｎ−１および今回の計数値Ｐｎと、
前記入力パルスの個数（Ｑの今回の計数１直Ｑｎとから
、 ｎ ｋ 豐□ Ｐｎ−ＩＰｎ＋ｐ。
）を有する基準パルスと測定時間に相当する一定の周期
（１゛）を有するタイミングパルスとを発生させ、時間
的互いに隣り合う２つのタイミングパルス間の一定時間
（１″）内に到来する入力パルスの個数Ｑと、各タイミ
ングパルス発生直前の入力パル ５− ス到来時点から癌該タイミングパルス発生時点までの間
に発生した基準パルスの個数（乃とを計数し、各タイミ
ングパルス発生時点毎に、前記基準パルスの個数（Ｐ）
の前回のｎｔ数値Ｐｎ−１および今回の計数値Ｐｎと、
前記入力パルスの個数（Ｑの今回の計数１直Ｑｎとから
、 ｎ ｋ 豐□ Ｐｎ−ＩＰｎ＋ｐ。
（但し、ｋ一定数、 ＰＴ ＝ｆ−Ｔ一定数）なる演算
を実行し、この演算結果を出力することによって達成さ
れる。
を実行し、この演算結果を出力することによって達成さ
れる。
しかして、本発明によれば、か＼る構成により測定時間
（周波数測定演算サイクル）をタイミングパルスの周期
（１）に相当する一定値に保つことができる。しかも、
人力パルスの１′±１の計数１差“は演算式中の項（Ｐ
ｎ−１−Ｐｎ）によって補償されているので、測定時間
（すなわちタイミングパルスの周期Ｔ）を小さく設定し
ても十分な測定精度を達成することができ、したがっ゛
Ｃ短時間に高梢贋にて周波数を測定することができる。
（周波数測定演算サイクル）をタイミングパルスの周期
（１）に相当する一定値に保つことができる。しかも、
人力パルスの１′±１の計数１差“は演算式中の項（Ｐ
ｎ−１−Ｐｎ）によって補償されているので、測定時間
（すなわちタイミングパルスの周期Ｔ）を小さく設定し
ても十分な測定精度を達成することができ、したがっ゛
Ｃ短時間に高梢贋にて周波数を測定することができる。
本発明の＝ ６−
方法の場合に、測定精度はほとんど基準パルスの周波数
によって決まり、基準パルスの周波数を十分高くすれば
申し分のない測定精度を得ることができる。
によって決まり、基準パルスの周波数を十分高くすれば
申し分のない測定精度を得ることができる。
タイミングパルスは基準パルスからつくり出すことがで
きる。すなわち、基準パルスを所定数敗）だけ計数する
毎にパルスを発生させ、これをタイミングパルスとして
使用すればよい。
きる。すなわち、基準パルスを所定数敗）だけ計数する
毎にパルスを発生させ、これをタイミングパルスとして
使用すればよい。
各計数値をもとに演算を実行する手段としてマイクロコ
ンピュータ内のクロックパルス出力を基準パルスとして
使用するこ吉ができる。この場合にタイミングパルスは
マイクロコンピュータ内のＣＰＵ ＃こ対する割込信号
として使用することができ、ＣＰＵはこの割込信号を受
けつけてプログラムメモリ（とくにＲＯＭ ）に記憶さ
れている割込プログラムにしたがって、今回の計数値Ｑ
ｎ、Ｐｎを取り込む。
ンピュータ内のクロックパルス出力を基準パルスとして
使用するこ吉ができる。この場合にタイミングパルスは
マイクロコンピュータ内のＣＰＵ ＃こ対する割込信号
として使用することができ、ＣＰＵはこの割込信号を受
けつけてプログラムメモリ（とくにＲＯＭ ）に記憶さ
れている割込プログラムにしたがって、今回の計数値Ｑ
ｎ、Ｐｎを取り込む。
前回の計数値Ｐｎ−１としては、マイクロコンピュータ
内のデータメモリ（とくにＲＡＭ ）に格納しておいた
ものを取り出して使用すればよい。
内のデータメモリ（とくにＲＡＭ ）に格納しておいた
ものを取り出して使用すればよい。
以下、図面を参照しながら、本発明をさらに詳細に説明
する。
する。
第１図は本発明方法を実施するための装置の一実施例を
示し、第２図はそれの要部の動作波形Ａ〜Ｅを示す。
示し、第２図はそれの要部の動作波形Ａ〜Ｅを示す。
１は波形整形回路であり、例えば電動機の回転軸に取り
付けられたパルスゼネレータが発生するパルスＤを一定
時間幅の矩形パルスＥに整形する。
付けられたパルスゼネレータが発生するパルスＤを一定
時間幅の矩形パルスＥに整形する。
３は入力パルスカウント回路であり、波形整形後の入力
パルスＥをカウントする。４は基準パルスカウント回路
であり、基準パルスＡをカウントする。５，６はラッチ
回路であり、タイミングパルスＢによる保持指令により
カウント回路３，４の計数内容を保持する。７はタイマ
回路であり、基準パルスＡを予め定めた個数ＰＴだけカ
ウントする毎にタイミングパルスＢを発生するとともに
、これに対して、このタイミングパルスＢによりラッチ
回路５．６がカウント回路３．４の計数内容を正常に保
持するに足るだけの僅かの時間遅れで補助タイミングパ
ルスＣを発生する。補助タイミングパルスＣはカウント
回路３の零クリア信号として使用される。カウント回路
４は入力パルスＥを零クリア信号として導かれる。
パルスＥをカウントする。４は基準パルスカウント回路
であり、基準パルスＡをカウントする。５，６はラッチ
回路であり、タイミングパルスＢによる保持指令により
カウント回路３，４の計数内容を保持する。７はタイマ
回路であり、基準パルスＡを予め定めた個数ＰＴだけカ
ウントする毎にタイミングパルスＢを発生するとともに
、これに対して、このタイミングパルスＢによりラッチ
回路５．６がカウント回路３．４の計数内容を正常に保
持するに足るだけの僅かの時間遅れで補助タイミングパ
ルスＣを発生する。補助タイミングパルスＣはカウント
回路３の零クリア信号として使用される。カウント回路
４は入力パルスＥを零クリア信号として導かれる。
８はＣＰＵ、９はメモリ、１０はデータ授受回路であり
、これらはラッチ回路５，６ととも共通バスで接続され
ている。ＣＰＵ ８が出力する内部クロックパルスが基
準パルス人として使用されている。
、これらはラッチ回路５，６ととも共通バスで接続され
ている。ＣＰＵ ８が出力する内部クロックパルスが基
準パルス人として使用されている。
タイマ回路７が発生するタイミングパルスＢはＣＰＵ８
への割込信号としても用いられている。ＣＰＵ８は割込
信号Ｂを受けとって現在実行中の処理を中断してメモリ
９内のプログラムメモリ（キくにＲＯＭ ）に内蔵する
後述の割込プログラムにしたがって、タイミングパルス
Ｂの発生時点でラッチ回路５．６が保持したカウント回
路３，４の計数内容Ｑ 、 ｌ）を取り込んで所定の演
算処理を施し、入力パルスＥの周波数に比例する測定出
力をデータ授受回路１０に出力する。１１は制御用マイ
クロコンピュータであり、例えば電動機回転速度をＤＤ
Ｃ方式にて制御するのに用いられる。制御用マイクロコ
ンピュータ１１は回転速度の測定値が必要なとき、デー
タ授受回路１０の内容を取り込む。
への割込信号としても用いられている。ＣＰＵ８は割込
信号Ｂを受けとって現在実行中の処理を中断してメモリ
９内のプログラムメモリ（キくにＲＯＭ ）に内蔵する
後述の割込プログラムにしたがって、タイミングパルス
Ｂの発生時点でラッチ回路５．６が保持したカウント回
路３，４の計数内容Ｑ 、 ｌ）を取り込んで所定の演
算処理を施し、入力パルスＥの周波数に比例する測定出
力をデータ授受回路１０に出力する。１１は制御用マイ
クロコンピュータであり、例えば電動機回転速度をＤＤ
Ｃ方式にて制御するのに用いられる。制御用マイクロコ
ンピュータ１１は回転速度の測定値が必要なとき、デー
タ授受回路１０の内容を取り込む。
−１９＝
第２図には第１図における各部のパルス信４Ａ〜Ｅの時
間経過の一例が示されている。
間経過の一例が示されている。
タイマ回路７によって一定周波数ｆＧをもつ基準パルス
を所定数ＦＴだけ計数する毎にタイミングパルスＢを発
生させることにより、一定時間Ｔ（＝Ｐｒ／ｆ、）の測
定周期を生じさせることができる。
を所定数ＦＴだけ計数する毎にタイミングパルスＢを発
生させることにより、一定時間Ｔ（＝Ｐｒ／ｆ、）の測
定周期を生じさせることができる。
補助タイミングパルスＣの発生時点は実質的にタイミン
グパルスＢの発生時点と同時であるき見なし得るので、
ｎ番目の測定周期Ｔｎの終了直後にＣＰ［Ｊ８が取り込
む保持回路５の内容Ｑは測定周期Ｔｎ内に到来した入力
パルスＥの個数に相当オる。
グパルスＢの発生時点と同時であるき見なし得るので、
ｎ番目の測定周期Ｔｎの終了直後にＣＰ［Ｊ８が取り込
む保持回路５の内容Ｑは測定周期Ｔｎ内に到来した入力
パルスＥの個数に相当オる。
これを今回値としてＱｎにて表わすものとする。才た、
それと同時にＣＰＵ８が取り込む保持回路６の内容Ｐは
測定周期Ｔｎ内で最後に到来した入力パルス（Ｑｎ番目
の入力パルス）から測定周期Ｔｎの終了時点までの時間
内に発生した基準パルスの個数に和尚する。これを今回
値としてＰｎにて表わし、前回の測定周期Ｔｎ−１にお
ける対応する時間内に発生した基準パルスの個数を前回
値としてＩ）ｎｌ にて表わすものとする。
それと同時にＣＰＵ８が取り込む保持回路６の内容Ｐは
測定周期Ｔｎ内で最後に到来した入力パルス（Ｑｎ番目
の入力パルス）から測定周期Ｔｎの終了時点までの時間
内に発生した基準パルスの個数に和尚する。これを今回
値としてＰｎにて表わし、前回の測定周期Ｔｎ−１にお
ける対応する時間内に発生した基準パルスの個数を前回
値としてＩ）ｎｌ にて表わすものとする。
１０−
第２図から分るように測定周期Ｔｎｌ 内で最後の入
力パルスの到来時点の直後から測定周期Ｔｎ内での最後
の入力パルスの到来時点の直後才での時間は（Ｐｎ−１
−））ｎ＋ ＰＴ）に比例し、この時間内に到来した入
力パルスの個数は測定周期Ｔｎ内に到来した人力パルス
の個数Ｑｎと一致する。したがってＱｎ なる演算を実行ずれば、検出すべき回転速度、ずなわぢ
入力パルスの周波数に正確に比例した測定出力を得るこ
とができる。これが本発明の測定方法の基本原理であり
、これによれば短時間に高精度ｌこて、しかも一定時間
間隔Ｔにて繰返し測定結果を求めることができる。
力パルスの到来時点の直後から測定周期Ｔｎ内での最後
の入力パルスの到来時点の直後才での時間は（Ｐｎ−１
−））ｎ＋ ＰＴ）に比例し、この時間内に到来した入
力パルスの個数は測定周期Ｔｎ内に到来した人力パルス
の個数Ｑｎと一致する。したがってＱｎ なる演算を実行ずれば、検出すべき回転速度、ずなわぢ
入力パルスの周波数に正確に比例した測定出力を得るこ
とができる。これが本発明の測定方法の基本原理であり
、これによれば短時間に高精度ｌこて、しかも一定時間
間隔Ｔにて繰返し測定結果を求めることができる。
さらに本発明の測定方法は、入力パルスの周期が測定周
期Ｔを上回るような超低周波域での測定出力も得ること
ができるように発展させることができる。もちろん、こ
のような超低周波域での測定時間を一定値Ｔに保持する
ことはあきらめなけれはならない。
期Ｔを上回るような超低周波域での測定出力も得ること
ができるように発展させることができる。もちろん、こ
のような超低周波域での測定時間を一定値Ｔに保持する
ことはあきらめなけれはならない。
例えば第３図１と示すように入力パルスの周期Ｔがタイ
ミングパルスＨの周期Ｔよりも長い場合ｔこは、次のよ
うにして測定１Ｈ力を求めることができる。今、測定周
期Ｉ１１． ｉこおいて１つの入力パルスが存在し、Ｑ
＝Ｑｎ ＝ ｉ 、 Ｐ ＝ｐｎなる計数結果カ得られ
たものとする。この人力パルスの前の人力パルスが到来
した測定周期ではＰ−Ｐｏなる計数結果が得られたもの
とし、またこの測定周期と今回の測定周期との間に入力
パルスが到来しなかった測定周期ｍ回存在していたもの
とする。入力パルスの時間間隔は、 （Ｐｏ−１−ｍ＊ｌＰｒ ）−Ｐｎ＋ＰＴによって計測
するこさができる。したがって、先と同じ演算式を用い
て、この式中の値Ｐｎ刊として（Ｐｏ十ｍ ＰＴ ）を
代入すればよい。つまり、その都度の計数結果Ｑの値が
零かどうかを判別して、零でなければ式（１）による演
算を実行し、次回の演算に備えて、 Ｐｎ刊←Ｐ。
ミングパルスＨの周期Ｔよりも長い場合ｔこは、次のよ
うにして測定１Ｈ力を求めることができる。今、測定周
期Ｉ１１． ｉこおいて１つの入力パルスが存在し、Ｑ
＝Ｑｎ ＝ ｉ 、 Ｐ ＝ｐｎなる計数結果カ得られ
たものとする。この人力パルスの前の人力パルスが到来
した測定周期ではＰ−Ｐｏなる計数結果が得られたもの
とし、またこの測定周期と今回の測定周期との間に入力
パルスが到来しなかった測定周期ｍ回存在していたもの
とする。入力パルスの時間間隔は、 （Ｐｏ−１−ｍ＊ｌＰｒ ）−Ｐｎ＋ＰＴによって計測
するこさができる。したがって、先と同じ演算式を用い
て、この式中の値Ｐｎ刊として（Ｐｏ十ｍ ＰＴ ）を
代入すればよい。つまり、その都度の計数結果Ｑの値が
零かどうかを判別して、零でなければ式（１）による演
算を実行し、次回の演算に備えて、 Ｐｎ刊←Ｐ。
なる記憶値ｐｎ４の更新を行ない、零〇）ときは測定出
力の更新は行なわないで、次回の演算に備えてＰｎ−１
←Ｐｎ１ ＋ＰＴ なる記憶値Ｐｎ刊の更新を行なえばよく、このとき今回
の計数結果Ｐｎは無視される。
力の更新は行なわないで、次回の演算に備えてＰｎ−１
←Ｐｎ１ ＋ＰＴ なる記憶値Ｐｎ刊の更新を行なえばよく、このとき今回
の計数結果Ｐｎは無視される。
第４図は上述の原理にしたがったメモリ９内のＲＯＭに
内賊された割込プログラムの手順の概略を示すフローチ
ャートである。ＣＰＵ ８はタイミングパルス１３を割
込信号として受は取って現存実行中の処理を中断して割
込プログラムにしたがって、まずラッチ回路５，６によ
って保持したカウント回路３．４の今回の計数内容Ｑｎ
、 Ｐｎを順次読み込み、Ｑｎが零であるかどうかを
判定する。Ｑｎ ”＝；、 。
内賊された割込プログラムの手順の概略を示すフローチ
ャートである。ＣＰＵ ８はタイミングパルス１３を割
込信号として受は取って現存実行中の処理を中断して割
込プログラムにしたがって、まずラッチ回路５，６によ
って保持したカウント回路３．４の今回の計数内容Ｑｎ
、 Ｐｎを順次読み込み、Ｑｎが零であるかどうかを
判定する。Ｑｎ ”＝；、 。
のときは、メモリ９内の１（ＪＪ ｉと格納して２いた
ｐｎｌを取り出して先に示した式（１）にしたがった演
算を実行し、演算結果をデータ授受回路に出力し、そし
て次回の演算のためにメモリ９内のＲＡＭの記憶値Ｐｎ
−１を今回の計数ｔＰｎに更新してから、割込信号Ｂに
よって実行を中断した処理を再開し、次の割込信号Ｂを
待つ。Ｑｎ＝Ｑ のときは、メモリ９内のＲＡＭの記憶
値に一定値Ｐ工を加算してその１３− 結果を新たな記憶値としてＲＡＭに格納してから、割込
信号Ｂによって中断した処理プログラムの実行を再開す
る。
ｐｎｌを取り出して先に示した式（１）にしたがった演
算を実行し、演算結果をデータ授受回路に出力し、そし
て次回の演算のためにメモリ９内のＲＡＭの記憶値Ｐｎ
−１を今回の計数ｔＰｎに更新してから、割込信号Ｂに
よって実行を中断した処理を再開し、次の割込信号Ｂを
待つ。Ｑｎ＝Ｑ のときは、メモリ９内のＲＡＭの記憶
値に一定値Ｐ工を加算してその１３− 結果を新たな記憶値としてＲＡＭに格納してから、割込
信号Ｂによって中断した処理プログラムの実行を再開す
る。
第５図は、本発明を実施するための装置の別の実施例を
示し、第６図はそれの要部の動作波形を示す。
示し、第６図はそれの要部の動作波形を示す。
この実施例が第１図の実施例と相違するところは、入力
パルスカウント回路３′および基準パルスカウント回路
４′が追加され、カウント回路３と４とを、そしてカウ
ント回路３／、４／とをそれぞれ対にこれらを交互に選
択して動作させるようにしている点である。タイマ回路
７はこの場合には一系列のタイミングパルスＢを発生し
さえすればよい。
パルスカウント回路３′および基準パルスカウント回路
４′が追加され、カウント回路３と４とを、そしてカウ
ント回路３／、４／とをそれぞれ対にこれらを交互に選
択して動作させるようにしている点である。タイマ回路
７はこの場合には一系列のタイミングパルスＢを発生し
さえすればよい。
タイミングパルスＢは分周回路１２によって分周される
。分周回路１２から得られる相反する２つの信号Ｇ、Ｈ
ｉこよって交互に入力パルスカウント回路３，３′の入
力ゲートが制御される。入力パルスカウント回路３，３
′の入力ゲートを通過した入力パルスＩ、には基準パル
スカウント回路４．４′のクリア信号として用いられる
。基準パルスカウ１４− ント回路４．４′は相反する選択信号Ｇ、Ｈによって制
御される入力ゲートを介して基準パルスＡを導かれる。
。分周回路１２から得られる相反する２つの信号Ｇ、Ｈ
ｉこよって交互に入力パルスカウント回路３，３′の入
力ゲートが制御される。入力パルスカウント回路３，３
′の入力ゲートを通過した入力パルスＩ、には基準パル
スカウント回路４．４′のクリア信号として用いられる
。基準パルスカウ１４− ント回路４．４′は相反する選択信号Ｇ、Ｈによって制
御される入力ゲートを介して基準パルスＡを導かれる。
データ入力回路は分周回路１２の一方の出力（ｉ号、例
えばＨ信号から、どぢらのカウンタ対が選択されている
かを判別するのに役立つ。
えばＨ信号から、どぢらのカウンタ対が選択されている
かを判別するのに役立つ。
例えば選択信号Ｇが論理レベル”Ｌ”で、選択信号Ｈが
論理レベル”Ｈ”である周期においては、基準パルスＡ
は入力ゲートを介してカウント回路４の計測パルス信号
Ｊとなり、波形整形後の入力パルスＥは入力ゲートを介
してカウンタ回路３の計測信号およびカウント回路４の
クリア信号を兼ねた信号Ｉとなる。この場合にカウント
回路３は一定時間Ｔ内の入力パルスの個数Ｑを計測し、
カウンタ４はタイミングパルスＢの直前の入力パルス到
来時点から当該タイミングパルスＢの発生時点才での間
の基準パルスの個数Ｐを計測する。一定時間Ｔが経過後
、タイマ回路７から信号Ｂが出力されると、分周回路１
２の出力信号Ｇ、Ｈが反転し、カウント回路３．４が計
測禁止となり、カウント回路ａ／、４／の計測禁止が解
除される。このときＣｉ）ＵはタイミングパルスＢを割
込信号として受けとり、現在実行中の処理を中断し、Ｗ
υ込プログラムを実行する。まず、データ入力回路１３
０）内容を読み込み、現在計測禁止であるカウンタ回路
を判断する（読込む信号は分周回路１２からのカウンタ
選択信号１１であり、この信号Ｈの論理レベルがＩＩ
Ｌ １であれば現在計測禁止にあるθ）はカウンタ回路
３，４である。）。その後、カウンタ回路３の内容をＱ
、とじて、才たカウンタ回路４の内容をＰｎとして取り
込み、次の計測のためにカウンタ回路３，４を零クリア
する（カウンタ回路４の零クリアは必ず必要というわけ
ではない。）。
論理レベル”Ｈ”である周期においては、基準パルスＡ
は入力ゲートを介してカウント回路４の計測パルス信号
Ｊとなり、波形整形後の入力パルスＥは入力ゲートを介
してカウンタ回路３の計測信号およびカウント回路４の
クリア信号を兼ねた信号Ｉとなる。この場合にカウント
回路３は一定時間Ｔ内の入力パルスの個数Ｑを計測し、
カウンタ４はタイミングパルスＢの直前の入力パルス到
来時点から当該タイミングパルスＢの発生時点才での間
の基準パルスの個数Ｐを計測する。一定時間Ｔが経過後
、タイマ回路７から信号Ｂが出力されると、分周回路１
２の出力信号Ｇ、Ｈが反転し、カウント回路３．４が計
測禁止となり、カウント回路ａ／、４／の計測禁止が解
除される。このときＣｉ）ＵはタイミングパルスＢを割
込信号として受けとり、現在実行中の処理を中断し、Ｗ
υ込プログラムを実行する。まず、データ入力回路１３
０）内容を読み込み、現在計測禁止であるカウンタ回路
を判断する（読込む信号は分周回路１２からのカウンタ
選択信号１１であり、この信号Ｈの論理レベルがＩＩ
Ｌ １であれば現在計測禁止にあるθ）はカウンタ回路
３，４である。）。その後、カウンタ回路３の内容をＱ
、とじて、才たカウンタ回路４の内容をＰｎとして取り
込み、次の計測のためにカウンタ回路３，４を零クリア
する（カウンタ回路４の零クリアは必ず必要というわけ
ではない。）。
そしてメモリ８内のＲＡＭに格納しておいた一回前のカ
ウンタ回路４′の値ｐｎ１ を取り出す。以下の動作
は第１図の実施例において説明したのと同様であり、や
はり例えば回転機の回転速度を高速から超低速まで検出
することができる。
ウンタ回路４′の値ｐｎ１ を取り出す。以下の動作
は第１図の実施例において説明したのと同様であり、や
はり例えば回転機の回転速度を高速から超低速まで検出
することができる。
ｔＪＸ１図および第２図の実施例ではＣＰＵ、メモリ。
カウンタ回路を分けて記載したが、ＣＰＵ、メモリ。
カウンタがワンチップにまとめられたワンチップマイコ
ンを使用することができる。また、タイマ回路およびカ
ウンタ回路の部分を、カウンタが数り 個収納されたカランＬＳＩで実現することもできる。
ンを使用することができる。また、タイマ回路およびカ
ウンタ回路の部分を、カウンタが数り 個収納されたカランＬＳＩで実現することもできる。
第１図は本発明方法を実施するための装置の一実施例を
示すブロック図、第２図および第３図は第１図の実施例
の動作を説明するための動作波形図、第４図は第１図の
実施例における割込プログラムの手順の概略を示すフロ
ーチャート、第５図は本発明方法を実施するための装置
の他の実施例を示すブロック図、第６図に［４図の実施
例の動作を説明するための波形図である。 ］・・・波形整形回路、３．３’・・・入力パルスカウ
ント回路、４．４’・・・基準パルスカウント回路、５
゜６・・・ラッチ回路、７・・・タイマ回路、８・・・
ＣＰＵ１９・・・メモリ、１０・・・データ授受回路、
１１・・・制御用マイクロコンピュータ。 ＝１７− ｉ１ 回 ７２ 図 ７３回 Ｔガー１７ｘ
示すブロック図、第２図および第３図は第１図の実施例
の動作を説明するための動作波形図、第４図は第１図の
実施例における割込プログラムの手順の概略を示すフロ
ーチャート、第５図は本発明方法を実施するための装置
の他の実施例を示すブロック図、第６図に［４図の実施
例の動作を説明するための波形図である。 ］・・・波形整形回路、３．３’・・・入力パルスカウ
ント回路、４．４’・・・基準パルスカウント回路、５
゜６・・・ラッチ回路、７・・・タイマ回路、８・・・
ＣＰＵ１９・・・メモリ、１０・・・データ授受回路、
１１・・・制御用マイクロコンピュータ。 ＝１７− ｉ１ 回 ７２ 図 ７３回 Ｔガー１７ｘ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １）到来する入力パルスからそれの周波数に比例したデ
ジグル量を導き出すパルス周波数測定方法において、一
定の高い周波数（ｆｏ）をもつ基準パルスと一定周期α
）をもつタイミングパルスとを発生させ、時間的に隣り
合う２つのタイミングパルスの間の一定時間内に到来す
る入力パルスの個数（Ｑと、各タイミングパルス発生時
点の直前における入力パルス到来時点から尚該タイミン
グパルス発生時点までの間に発生する基準パルスの個数
（Ｐ）とをそれぞれ計測し、各タイミングパルス発生時
点毎に、前記入力パルスの個数ｑの今回の計測値Ｑｎと
前記基準パルスの個数（Ｐ）の今回の計測値Ｐｎおよび
前回の計測値Ｐ。−１とから、 ’ ”ｎ−１”ｎ 十ＰＴ （但し、ｋ二定数、ＰＴ ＝ ｆｏ・Ｔ一定数）なる演
算を実行し、その演算結果を出力するようにしたことを
特徴とするパルス周波にノ測定方法。 ２）特許請刃〈（力！硝囲第１項記載の方法１・こむい
て、前記入力パルスは検出すべき速度１こ比例した周波
数を有するパルスであることを特許とするパルス周波数
測定方法。 ３）特許請求の範囲第１項または第２項記載の方法（こ
おい−Ｃ１前記タイミングパルスは基準パルスを所定個
数（ＰＴ）だけ計測するｊＦｆ−に発生させた一定周期
（１１）をもつパルスであることを特徴さするパルス周
波数測定方法。 ４）特許請求の範囲第１項ないし第３項のいす相かに記
載の方法において、前記演■：の実行はマイクロコンピ
ュータを用いて行なうことを特徴とするパルス周波数測
定方法。 ５）％許請求の範囲第４項、記載の方法ｔこおいて、基
準パルスとしてマイクロコンピュータの内ｆｆ［（クロ
ックパルスを用いることを特徴とするパルス周波数測定
方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14725481A JPS5848868A (ja) | 1981-09-18 | 1981-09-18 | パルス周波数測定方法 |
| DE19823234575 DE3234575A1 (de) | 1981-09-18 | 1982-09-17 | Verfahren und anordnung zum messen von frequenzen |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14725481A JPS5848868A (ja) | 1981-09-18 | 1981-09-18 | パルス周波数測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5848868A true JPS5848868A (ja) | 1983-03-22 |
Family
ID=15426066
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14725481A Pending JPS5848868A (ja) | 1981-09-18 | 1981-09-18 | パルス周波数測定方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5848868A (ja) |
| DE (1) | DE3234575A1 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS646875A (en) * | 1987-06-30 | 1989-01-11 | Yokogawa Electric Corp | Frequency measuring instrument |
| JPH01124773A (ja) * | 1987-11-09 | 1989-05-17 | Yokogawa Electric Corp | 周波数測定装置 |
| JPH01241919A (ja) * | 1988-03-23 | 1989-09-26 | Ono Sokki Co Ltd | 計数方式 |
| JPH0515184A (ja) * | 1991-07-03 | 1993-01-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 速度検出装置 |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60216262A (ja) * | 1984-04-12 | 1985-10-29 | Hitachi Ltd | 位置，速度検出装置 |
| GB8704499D0 (en) * | 1987-02-26 | 1987-04-01 | Lucas Ind Plc | Circuit arrangement |
| DE3817705C3 (de) * | 1987-05-26 | 1994-12-22 | Delco Electronics Corp | Verfahren zur näherungsweisen Bestimmung niedriger Drehzahlen |
| US4799178A (en) * | 1987-05-26 | 1989-01-17 | Delco Electronics Corporation | Method and apparatus for detecting rotational speed |
| DE3815535A1 (de) * | 1988-05-06 | 1989-11-16 | Heidelberger Druckmasch Ag | Verfahren und anordnung zur messung der drehzahl einer maschine |
| DE4119378C1 (ja) * | 1990-11-13 | 1992-10-01 | Fraunhofer-Gesellschaft Zur Foerderung Der Angewandten Forschung Ev, 8000 Muenchen, De | |
| US5410581A (en) * | 1994-05-02 | 1995-04-25 | Motorola, Inc. | Apparatus and method for determining a time that a system's main power was inactive |
| DE19530677A1 (de) * | 1995-08-21 | 1997-02-27 | Siemens Ag | Verfahren zur Geschwindigkeits- oder Drehzahlmessung |
| DE102006026921A1 (de) * | 2006-06-09 | 2007-12-20 | Siemens Ag | Verfahren zur Erfassung der Fahrgeschwindigkeit eines Kraftfahrzeuges und Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
| JP5056853B2 (ja) * | 2007-09-11 | 2012-10-24 | 株式会社安川電機 | 速度検出方法とそれを用いたモータ制御装置 |
| DE102008013288A1 (de) * | 2008-03-07 | 2009-09-10 | Bbh Systems Gmbh | Verfahren sowie Vorrichtung zur Ermittlung der Geschwindigkeit, insbesondere der Drehgeschwindigkeit eines umlaufenden Maschinenelementes |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4942376A (ja) * | 1972-04-28 | 1974-04-20 | ||
| JPS5748664A (en) * | 1980-09-06 | 1982-03-20 | Yaskawa Electric Mfg Co Ltd | Pulse frequency detector |
-
1981
- 1981-09-18 JP JP14725481A patent/JPS5848868A/ja active Pending
-
1982
- 1982-09-17 DE DE19823234575 patent/DE3234575A1/de not_active Withdrawn
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4942376A (ja) * | 1972-04-28 | 1974-04-20 | ||
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| JPH01124773A (ja) * | 1987-11-09 | 1989-05-17 | Yokogawa Electric Corp | 周波数測定装置 |
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| JPH0515184A (ja) * | 1991-07-03 | 1993-01-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 速度検出装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3234575A1 (de) | 1983-03-31 |
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