JPS5839424Y2 - テスト用プリント板 - Google Patents
テスト用プリント板Info
- Publication number
- JPS5839424Y2 JPS5839424Y2 JP3155279U JP3155279U JPS5839424Y2 JP S5839424 Y2 JPS5839424 Y2 JP S5839424Y2 JP 3155279 U JP3155279 U JP 3155279U JP 3155279 U JP3155279 U JP 3155279U JP S5839424 Y2 JPS5839424 Y2 JP S5839424Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- printed board
- socket
- test
- pins
- pin
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は半導体集積回路（以下ＩＣと記す）のテスト用
プリント板にかかり、とくにバーインテスト用プリント
板の構造に関する。
プリント板にかかり、とくにバーインテスト用プリント
板の構造に関する。
ＩＣの製造工程の中にバーインテストがあり、この工程
はＩＣの信頼性を保証するため、指定の温度に保った恒
温槽内に被試験ＩＣを多数入れ、指定の電圧条件等で指
定時間テストするものである。
はＩＣの信頼性を保証するため、指定の温度に保った恒
温槽内に被試験ＩＣを多数入れ、指定の電圧条件等で指
定時間テストするものである。
このとき、恒温槽内に入れる被試験ＩＣは一般に、バー
インテスト用プリント板（以下ＢＴプリント板と記す）
上に複数個塔載したＩＣソケットに実施されるが、この
ＢＴプリント板は、被試験ＩＣの品種によって回路条件
およびテスト条件が異なるため、品種毎に準備するとこ
の数は数十〜数百種類になり、この製作および管理にば
く大な費用を発生し、このことは、すなわちＩＣの生産
コストを上昇させることになり、甚だ思わしくない。
インテスト用プリント板（以下ＢＴプリント板と記す）
上に複数個塔載したＩＣソケットに実施されるが、この
ＢＴプリント板は、被試験ＩＣの品種によって回路条件
およびテスト条件が異なるため、品種毎に準備するとこ
の数は数十〜数百種類になり、この製作および管理にば
く大な費用を発生し、このことは、すなわちＩＣの生産
コストを上昇させることになり、甚だ思わしくない。
本発明の目的は、かかる欠点を解消するため、ＢＴプリ
ント板をできるだけ共通化し、別に設けた品種切換アダ
プタにより、品種選択が行なえるＢＴプリント板を提供
することにある。
ント板をできるだけ共通化し、別に設けた品種切換アダ
プタにより、品種選択が行なえるＢＴプリント板を提供
することにある。
本考案によれば、被試験ＩＣソケットを塔載したバーイ
ンテスト用プリント板において、被試験ＩＣソケットお
よび外部から供給される信号源に対応したソケットを実
装し、そのソケットピンに相対するピンを有した別のプ
リント板内で、被試験ＩＣソケットに対応したピンと電
源等に対応したピン間にそれぞれ部品を任意に接続可能
な構造を有したバーインテスト用プリント板が得られる
。
ンテスト用プリント板において、被試験ＩＣソケットお
よび外部から供給される信号源に対応したソケットを実
装し、そのソケットピンに相対するピンを有した別のプ
リント板内で、被試験ＩＣソケットに対応したピンと電
源等に対応したピン間にそれぞれ部品を任意に接続可能
な構造を有したバーインテスト用プリント板が得られる
。
以下、図面を参照して詳細に説明する。
第１図は従来のＢＴ回路例を示し、同図に於いて被試験
ＩＣ１０ａ〜１０ｃの各ピン共通に電源ｌＬ１２そして
グランドとして１３を配線他のピンは抵抗群２０を介し
て電源１２に接がれ、プリント板の端子に引き出されて
いる。
ＩＣ１０ａ〜１０ｃの各ピン共通に電源ｌＬ１２そして
グランドとして１３を配線他のピンは抵抗群２０を介し
て電源１２に接がれ、プリント板の端子に引き出されて
いる。
第２図は第１図の回路例のＢＴプリント板の斜視図を示
すもので（以降の同図中、前回と同等部分は同じ番号で
示す）プリント板３０にＩＣソケット４０ａ〜４０ｃを
実装し、ＩＣソケットのピン群はそれぞれ電源１１，１
２、グランド１３に配線、あるいは抵抗群２０に配線さ
れている。
すもので（以降の同図中、前回と同等部分は同じ番号で
示す）プリント板３０にＩＣソケット４０ａ〜４０ｃを
実装し、ＩＣソケットのピン群はそれぞれ電源１１，１
２、グランド１３に配線、あるいは抵抗群２０に配線さ
れている。
第３図は、本考案の一実施例を示す回路図であり、同図
に於いて被試験ＩＣ１０ａ〜１０ｃの各ピンは、このピ
ンに対応した接点をもってソケット５０ａ〜５０ｃ 、
５０ｅ〜５０ｇを経由して品種切換アダプタ６０ａ〜６
０ｂに接がれる一方、フＩＪント板の端子の入力はソケ
ツ）５０ｄ、５０ｈを経由し品種切換アダプタに接続さ
れる。
に於いて被試験ＩＣ１０ａ〜１０ｃの各ピンは、このピ
ンに対応した接点をもってソケット５０ａ〜５０ｃ 、
５０ｅ〜５０ｇを経由して品種切換アダプタ６０ａ〜６
０ｂに接がれる一方、フＩＪント板の端子の入力はソケ
ツ）５０ｄ、５０ｈを経由し品種切換アダプタに接続さ
れる。
第４図は、第３図のプリント板の斜視図を示すもので、
ＩＣソケット４０ａ〜４０ｃの各ピンはソケット５０ａ
〜５０ｃ 、５０ｅ〜５０ｇの各ピンと配線され、又プ
リント板の端子から供給される電源１１．１２およびグ
ランド１３はソケット５０ａ、５０ｈのピンに配線され
る。
ＩＣソケット４０ａ〜４０ｃの各ピンはソケット５０ａ
〜５０ｃ 、５０ｅ〜５０ｇの各ピンと配線され、又プ
リント板の端子から供給される電源１１．１２およびグ
ランド１３はソケット５０ａ、５０ｈのピンに配線され
る。
第５図は、品種切換アダプタ６０ａを詳細に説明するた
めの図であり、同品種切換アダプタの一端にソケット５
０ａ〜５０ｄのピンに対応したピン群６１を経由して部
品取付端子群６２に配線され、一方、プリント板３０の
端子から供給される電源１１’、１２’グランド１３′
はピン群６１を経由して部品取付端子に相対する位置に
配線化され、部品が容易に取付られる構成になっている
。
めの図であり、同品種切換アダプタの一端にソケット５
０ａ〜５０ｄのピンに対応したピン群６１を経由して部
品取付端子群６２に配線され、一方、プリント板３０の
端子から供給される電源１１’、１２’グランド１３′
はピン群６１を経由して部品取付端子に相対する位置に
配線化され、部品が容易に取付られる構成になっている
。
この品種切換アダプタは被試験ＩＣの種類に応じて被試
験ＩＣの電源ピン、グランドピンと電源１１’、１２’
およびグランド１３′とジャンパー線で接続、他のピン
は必要に応じて実装された抵抗群２０に接続される。
験ＩＣの電源ピン、グランドピンと電源１１’、１２’
およびグランド１３′とジャンパー線で接続、他のピン
は必要に応じて実装された抵抗群２０に接続される。
以上説明したように、本考案は共通化されたプリント板
と品種切換アダプタにより構成される。
と品種切換アダプタにより構成される。
本考案によれば、ＢＴプリント板は同一形状の被試験Ｉ
Ｃなら如何なる回路条件およびテスト条件であっても、
品種切換アダプタのみ交換することにより、ＢＴプリン
ト板を構成でき、従来、問題となった品種毎に製作する
ＢＴプリント板を大巾に減少できることは勿論、管理は
品種切換アダプタ単位となり作業がやり易すくなる。
Ｃなら如何なる回路条件およびテスト条件であっても、
品種切換アダプタのみ交換することにより、ＢＴプリン
ト板を構成でき、従来、問題となった品種毎に製作する
ＢＴプリント板を大巾に減少できることは勿論、管理は
品種切換アダプタ単位となり作業がやり易すくなる。
又、ＢＴプリント板は高温度下に長間間放置されると使
用している抵抗の特性劣化および破損等が発生するが、
これらの検査および部品交換が容易に可能等効果は極め
て大きい。
用している抵抗の特性劣化および破損等が発生するが、
これらの検査および部品交換が容易に可能等効果は極め
て大きい。
第１図は従来のＢＴ回路例、第２図は第１図の回路例を
構成したＢＴプリント板の斜視図を示す。 第３図は本考案の一実施回路例で、第４図は第３図のプ
リント板の斜視図、第５図は品種切換アダプタ部の一例
を示す。 １０ ａ〜１０ ｃ・−−被試験ＩＣ、４０ａ〜４０ｃ
・・・・・・ＩＣソケット、５０ａ〜５０ｈ・・・・・
・ソケット。
構成したＢＴプリント板の斜視図を示す。 第３図は本考案の一実施回路例で、第４図は第３図のプ
リント板の斜視図、第５図は品種切換アダプタ部の一例
を示す。 １０ ａ〜１０ ｃ・−−被試験ＩＣ、４０ａ〜４０ｃ
・・・・・・ＩＣソケット、５０ａ〜５０ｈ・・・・・
・ソケット。
Claims (1)
- プリント板上に被試験ＩＣを挿入せる第１のソケットと
、該第１のソケットの各ピンとそれぞれ配線接続された
複数のピンを有する第２のソケットと、該プリント板の
端子に接続しかつ前記第１および第２のソケットのピン
には配線接続されていない複数のピンを有する第３のソ
ケットとを搭載し、前記第２および第３のソケットに品
種切換アダプタを挿入することにより異なる品種のテス
トを可能ならしめることを特徴とするテスト用プリント
板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3155279U JPS5839424Y2 (ja) | 1979-03-12 | 1979-03-12 | テスト用プリント板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3155279U JPS5839424Y2 (ja) | 1979-03-12 | 1979-03-12 | テスト用プリント板 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55132680U JPS55132680U (ja) | 1980-09-19 |
| JPS5839424Y2 true JPS5839424Y2 (ja) | 1983-09-05 |
Family
ID=28883340
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3155279U Expired JPS5839424Y2 (ja) | 1979-03-12 | 1979-03-12 | テスト用プリント板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5839424Y2 (ja) |
-
1979
- 1979-03-12 JP JP3155279U patent/JPS5839424Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS55132680U (ja) | 1980-09-19 |
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