JPH1184288A

JPH1184288A - 光学走査装置

Info

Publication number: JPH1184288A
Application number: JP9242549A
Authority: JP
Inventors: Yutaka Hattori; 豊服部
Original assignee: Brother Industries Ltd
Current assignee: Brother Industries Ltd
Priority date: 1997-09-08
Filing date: 1997-09-08
Publication date: 1999-03-26

Abstract

(57)【要約】【課題】読み取り対象物を走査する位置に関係なく、
正確且つ鮮明な画像情報を得ることができる光学走査装
置を提供すること。【解決手段】複数の受光部７１〜７３は、反射光の画
像情報を検出するためのフォトダイオード７ａ〜７ｃ
と、そのフォトダイオード７ａ〜７ｃにおける反射光の
ビーム径を、【数１】 λ：波長、Ｗ：結像手段の射出瞳径、ｌ_2:像点位置で表
されるビーム径ｗ₀より大きくするように構成された検
出レンズ７Ａ〜７Ｃとから構成されているので、反射光
がフォトダイオード７ａ〜７ｃから外れる状態での信号
変化が緩和される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ファックスや複写
機等の、読取対象物を光学的に走査することにより、そ
の読取対象物に対応する画像を読み取る画像読取機能を
備えた光学走査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、単色或いは多色刷りの複写物を出
力する複写機（コピー機）等における画像読取装置にお
いては、単一或いは複数の異なった波長の光源からの光
ビームを回転多面鏡（ポリゴンミラー）や振動鏡（ガル
バノミラー）や回折効果を用いたホログラムディスクや
光導波路中の屈折率を音響光学的或いは磁気光学的に変
化させて光を偏向させる固体偏向素子を使用して偏向走
査して印刷原稿等の読取対象物に照射し、その光ビーム
の読取対象物からの反射光をフォトダイオード（ＰＤ）
等の受光素子によって受光し、この受光素子からの受光
信号に基づいて光ビームが照射された読取対象物に対応
する画像情報を得ていた。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来の複写機等においては、例えば、特開平８−２６５５
１９号公報に示されるように、読み取り対象物からの反
射光を複数の受光手段により受光し、読み取り対象物に
対応する画像情報を得ているため、異なった受光手段か
ら同時に信号を得た際、信号波形が一様でなくリップル
が発生して、信号品質の低下を招いていた。そのため、
本出願人は、特開平９−１４７０８３号公報に示される
ように、走査位置及び受光手段の特性（配置位置等）に
依存せずに鮮明な画像が得られる光ビーム補正方法及び
装置を提案している。しかし、特に、信号品質を改善す
るために受光手段に集光用の検出レンズを配置した場
合、反射光が検出器から外れる状態での信号変化が急峻
なため、受光手段同士の信号の重ね合わせ領域で、信号
波形に大きなリップルが生じ、補正が困難な場合があっ
た。

【０００４】そこで、本発明は、前述した問題点を解決
するためになされたものであり、読み取り対象物を走査
する位置に関係なく、正確且つ鮮明に画像情報を得るこ
とができる光学走査装置を提供することを目的とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明の請求項１に記載の光学走査装置は、光源か
ら出射され、偏向走査されて読み取り対象物に照射され
た光ビームの前記読み取り対象物からの反射光を複数の
受光手段により受光し、前記読み取り対象物に対応する
画像情報を得るものを対象として、特に、前記複数の受
光手段は、前記反射光の画像情報を検出するための検出
手段と、その検出手段における前記反射光のビーム径
を、

【０００６】

【数１】

【０００７】λ：波長Ｗ：結像手段の射出瞳径ｌ_2:像点位置で表されるビーム径ｗ₀より大きくするように構成され
た結像手段とから構成されている。

【０００８】従って、検出手段は、読み取り対象物から
の反射光の画像情報を検出する。そして、結像手段は、
前記検出手段における前記反射光のビーム径を、(1)式
で表されるビーム径ｗ₀より大きくする。

【０００９】よって、反射光が検出器から外れる状態で
の信号変化が緩和され、受光手段同士の間隔が理想状態
からずれても、信号波形にリップルは発生せず、安価な
回路で高精度に補正が可能となり、読み取り対象物を走
査する位置に関係なく、正確且つ鮮明な画像情報を得る
ことができる。

【００１０】また、請求項２に記載の光学走査装置は、
前記検出手段が、前記結像手段に対して前記読み取り対
象物と共役でない位置に配置されている。

【００１１】従って、検出手段は、結像手段に対して読
み取り対象物と共役でない位置に配置され、回折限界よ
り大きなビーム径で反射光の画像情報を検出する。

【００１２】よって、安価な構成で高品位な信号が得ら
れ、更に正確且つ鮮明な画像情報を得ることができる。

【００１３】また、請求項３に記載の光学走査装置は、
前記検出手段が、前記結像手段に対して前記読み取り対
象物と共役な位置よりも前記結像手段寄りの位置に配置
されている。

【００１４】従って、検出手段は、結像手段に対して読
み取り対象物と共役な位置より結像手段寄りの位置に配
置され、広い走査位置からの反射光の画像情報を検出す
ることができる。

【００１５】よって、検出手段の検出面を有効に利用で
き、装置の小型化を実現することができる。

【００１６】また、請求項４に記載の光学走査装置は、
前記結像手段が、前記検出手段における前記反射光のビ
ーム径を、

【００１７】

【数２】

【００１８】ｆ：結像手段の焦点距離ｌ₁：物点位置ｄｅ：デフォーカス量で表されるビーム径ｗ₁とするように構成され、前記検
出手段は、前記ビーム径ｗ₁よりも大きな検出面を有す
る。

【００１９】従って、検出手段は、反射光を十分大きな
検出面で検出する。よって、読み取り対象物からの反射
光を効率よく検出でき、安価な構成で高品位な信号が得
られるため、正確且つ鮮明な画像情報を得ることができ
る。

【００２０】また、請求項５に記載の光学走査装置は、
前記検出手段が、前記結像手段に対して前記読み取り対
象物と共役な位置に配置され、前記結像手段は、波面収
差が波長の1/14よりも大きくなるように構成されてい
る。

【００２１】従って、検出手段は、読み取り対象物と共
役な位置に配置され、読み取り対象物からの反射光の画
像情報を検出する。そして、結像手段は、波長の1/14よ
りも大きな波面収差を発生するので、読み取り対象物か
らの反射光の前記検出手段におけるビーム径を、(2)式
で表されるビーム径ｗ₀より大きくする。

【００２２】よって、安価な構成部品を使用すること
で、反射光が検出器から外れる状態での信号変化が緩和
され、受光手段同士の間隔が理想状態からずれても、信
号波形にリップルは発生せず、安価な回路で高精度に補
正が可能となり、読み取り対象物を走査する位置に関係
なく、正確且つ鮮明な画像情報を得ることができる。

【００２３】

【発明の実施の形態】以下、本発明の光学走査装置を具
体化した第１の実施の形態について、図面を参照して説
明する。

【００２４】始めに、本実施の形態の光学走査装置を、
画像読取系における光学系と画像記録系における光学系
を共通化した複写機に適用した装置構成について、図１
及び図２を用いて説明する。

【００２５】図１及び図２に示すように、本実施の形態
における光学走査装置Ｓの画像読取系は、光源としての
半導体レーザ１と、半導体レーザ１からの光ビームＬを
偏向走査するためのポリゴンミラー２と、ポリゴンミラ
ー２によって偏向走査された光ビームＬを集光するため
の結像レンズ３と、結像レンズ３によって集光された光
ビームＬを読み取り対象物としての原稿６、または後述
する感光体２０に択一的に選択照射するための反射ミラ
ー４と、原稿６を載置し、この原稿６を送り出すための
原稿搬送部１０と、反射ミラー４によって原稿６を照射
し、原稿６からの反射光を受光して原稿６を読み取るた
めの受光手段としての三つの受光部７１，７２，７３
と、装置全体を制御する制御部３０とを備えて構成され
る。

【００２６】半導体レーザ１は、制御部３０内のＣＰＵ
３１によって光ビームＬを射出、又は、射出を停止する
ように制御され、図２において、前記ポリゴンミラー２
の背面に設置されている。反射ミラー４は、前記ポリゴ
ンミラー２及び結像レンズ３を結ぶ光路上に配置されて
おり、図示しないモータによって、図中矢印方向に回動
可能に構成されている。

【００２７】一方、原稿搬送部１０は、原稿台９と原稿
６を挟持して送り出すための二組のローラ５とにより構
成されている。この原稿台９には、反射ミラー４によっ
て反射された光ビームＬを原稿６に直接照射させるため
の開口部４０が設けられている。

【００２８】ここで三つの受光部７１，７２，７３は、
検出手段であるフォトダイオード（ＰＤ）７ａ，７ｂ，
７ｃ及び結像手段である検出レンズ７Ａ，７Ｂ，７Ｃで
構成されており、それぞれが対になって一つの受光部を
形成している。各受光部は、反射ミラー４に対して原稿
搬送部１０側に、原稿６の走査方向とは平行で搬送方向
とは垂直な方向に、等間隔に設置されている。また、各
フォトダイオード７ａ，７ｂ，７ｃは、後述する受光素
子駆動回路３２に接続されている。

【００２９】そして制御部３０は、各フォトダイオード
７ａ，７ｂ，７ｃで検出された受光信号を合成するため
の受光信号駆動回路３２と、その合成された受光信号を
一時的に記憶するＲＡＭ３４と、装置全体を制御するた
めの制御プログラムを記憶するＲＯＭ３３と、前記各構
成要素を制御するためのＣＰＵ３１とから構成されてい
る。

【００３０】一方、本実施の形態における画像記録系
は、半導体レーザ１と、ポリゴンミラー２と、結像レン
ズ３と、反射ミラー４と、光ビームＬを照射することに
より静電潜像を形成する感光体２０とにより構成されて
いる。ここで、感光体２０は、光ビームＬが一ライン走
査する毎に、所定量回転するようにＣＰＵ３１によって
制御される。

【００３１】ここで、反射ミラー４から原稿６までの光
路長Ａと、反射ミラー４から感光体２０までの光路長Ｂ
とが等しく設定されているため、原稿６の走査範囲と感
光体２０の走査範囲とがほぼ等しくなり、読み取られた
原稿６と同一の大きさで感光体２０に容易に複写記録で
きる。

【００３２】次に、前述した構成を有する光学走査装置
ｓの動作について、図１乃至図６、及び図８乃至図９を
用いて説明する。

【００３３】まず、原稿６からの画像読み取りの際に
は、反射ミラー４を図２の破線で示した位置に図示しな
いモータによって回動させる。次に、ＣＰＵ３１は、原
稿６の読み取り終了位置が完全に開口部４０を通過する
まで、半導体レーザ１から光ビームＬを射出させる。そ
して、射出された光ビームＬは、ポリゴンミラー２に照
射され、そのポリゴンミラー２が一定速度で回転するこ
とにより、偏向走査される。その後、偏向走査された光
ビームＬは、結像レンズ３により集光され、反射ミラー
４に照射される。反射ミラー４に到達した光ビームＬ
は、その反射ミラー４によって原稿台９の開口部４０に
指向され、開口部４０を覆って載置されている原稿６に
到達する。

【００３４】ここで、本出願人により提案された特開平
９−１４７０８３号公報に記載の光走査装置では、光ビ
ーム補正動作として、前記光ビームＬを強度変調してい
る。より具体的には、この変調は、図１に示すように、
原稿６の走査範囲外に配置され、前記１回の偏向走査の
度に光ビームＬが入射されるフォトダイオード等の検出
器８からの出力に基づき、その検出器８が光ビームＬを
検出した時刻からの経過時間（走査時間）をＣＰＵ３１
において検出することにより、それぞれの経過時間（原
稿６上の走査位置に対応する）における光ビームＬの強
度を、予めＲＡＭ３２に記憶させた補正情報に基づいて
変化させることにより実行される。

【００３５】原稿台９に載置されている原稿６に到達し
た光ビームＬは、原稿６で反射してその反射光が装置本
体内に戻る。このとき、原稿６に文字等の画像が形成さ
れている部分からの反射光は、その画像を形成するイン
クやトナー等のため、照射された光ビームＬの一部が吸
収されて反射光としての強度が低下する。これに対し、
原稿６の画像が形成されていない部分では、光ビームＬ
が吸収されにくいため、その反射光は画像が形成されて
いない部分より十分大きな強度を持つ。このいずれかの
反射光が検出レンズ７Ａ，７Ｂ，７Ｃで集光され、フォ
トダイオード７ａ，７ｂ，７ｃに照射され、夫々受光信
号が生成され、その夫々の受光信号が受光素子駆動回路
３２によって合成され、その合成信号を原稿６の光ビー
ムＬが照射された位置でのその原稿６からの画像情報と
して、ＣＰＵ３１を介してＲＡＭ３４に記憶する。ここ
で記憶された画像は、上述の光ビーム補正動作に基づい
て強度が補正された光ビームＬによって形成された画像
であるので、複数の信号が重ね合った合成波形であって
も、原稿の濃度に応じたほぼ一定の（シェーディングの
ない）画像信号が得られる。

【００３６】しかし、受光部７１，７２，７３では図３
に示すように、フォトダイオードの高速応答性を確保す
るため受光面積を小さくし、原稿からの反射光を効率よ
くフォトダイオードに入射させるために、検出レンズ７
Ａ，７Ｂ，７Ｃを原稿６とフォトダイオード７ａ，７
ｂ，７ｃの間にそれぞれ配置している。そのため、原稿
６を例えば図中上から下に光ビームＬが走査するのに伴
い、反射光は微小スポットとして順次フォトダイオード
７ａから７ｃに向かって、それぞれの検出面を下から上
に走査する。その際、フォトダイオードの検出境界部で
は信号が急激に変化して、合成波形にリップルが発生す
る。例えば、検出レンズが回折限界系であり、原稿に照
射されるスポットが十分小さいとすると、フォトダイオ
ード上での反射光のビーム径は、

【００３７】

【数１】

【００３８】λ：波長Ｗ：検出レンズの射出瞳径ｌ₂：像点位置で求められるエアリーディスクのビーム径ｗ₀となる。

【００３９】この状態を示したものが、図４である。原
稿６からの反射光は、回折限界系である検出レンズ７Ａ
によりビーム径ｗ₀として、破線位置に結像している。
この場合、前記光ビーム補正動作を実施しても、完全に
はシェーディングのない波形に補正することは困難であ
る。２５mmピッチで配置された３mm角のフォトダイオー
ドに、結像倍率β＝−０．１１となる検出レンズを配置
した受光部での、光ビーム補正動作前の合成信号波形を
図５に示す。原稿６を全面白色の無地として、光ビーム
Ｌが原稿６の走査位置０から５０mmを走査するに従っ
て、順次フォトダイオード７ａから７ｃに向かって反射
光が走査されていく。

【００４０】図８は、その時各フォトダイオードＰＤ７
ａ，ＰＤ７ｂ，ＰＤ７ｃで得られる信号と、合成した信
号とを示している。フォトダイオードの検出境界部を反
射光が走査する領域が重なるよう、隣接するフォトダイ
オードのピッチを定めている。反射光のフォトダイオー
ドでのビーム径はφ０．４４mmであり、隣接するフォト
ダイオードに同時に検出されている状態が、原稿で４mm
の幅に相当することが分かる。信号波形に、同時検出と
なる状態変化に伴って急激なレベルの変動（リップル）
が発生している様子が観測される。このリップルの傾き
は、反射光のビーム径に比例する。即ち、反射光のビー
ム径を回折限界より大きくすることで、フォトダイオー
ドの検出境界部での信号がなだらかに変化して、合成波
形にリップルが発生しない。

【００４１】そのため、本実施の形態では、図４に示す
ように、波線位置よりも検出レンズ７Ａ寄りの位置にフ
ォトダイオード７ａが配置されている。

【００４２】この配置におけるフォトダイオード７ａ上
での反射光のビーム径は、

【００４３】

【数２】

【００４４】ｆ：検出レンズの焦点距離ｌ₁：物点位置ｄｅ：デフォーカス量で表されるビーム径ｗ₁となる。

【００４５】尚、ここで示したデフォーカス量ｄｅは、
検出レンズに対して原稿（物点）と共役な位置（像点）
からの変位量である。この変位方向は、図３から容易に
推測されるように、像点より上流である検出レンズに近
い側とすべきであり、決まった面積のフォトダイオード
でより広い原稿の走査幅に対して信号が検出され、有効
に利用できる。

【００４６】図５は、ｌ₁＝５０mm，ｆ＝５mm，Ｗ＝φ
５mm，ｄｅ＝１．５mmとしたときの、光ビーム補正動作
前の合成信号波形である。反射光のビーム径はφ１．３
５mmであり、フォトダイオードの境界部をビームが横切
る原稿対応幅は、横倍率から１７mmとなる。隣接するフ
ォトダイオードで合成した波形は、互いにピーク強度の
半値で重なるよう配置すると、３mm角のフォトダイオー
ドを３０mmピッチで配置することになる。図８と比べ
て、急激なレベル変動が生じていないことが分かる。

【００４７】このビーム径は、大きければ大きいほど良
いというわけではなく、検出器の幅より大きい場合は、
常に検出器でビームがけられる状態となり、信号強度が
減少し信号品質が悪化するため、検出器と同等の大きさ
が最大のビーム径の目安となる。ここで、ビーム径を最
適に設定することで、前述した光ビーム補正動作を不要
とすることもできる。

【００４８】このように、反射光のビーム径を大きくす
ることで、リップルが減少する利点の他に、受光部の設
置精度が緩和される利点もある。図９は、図８の配置で
隣接する受光部の間隔を１mm離した状態での、光ビーム
補正動作前の合成信号波形を示している。同様に図６
は、図５の配置で隣接する受光部の間隔を１mm離した状
態での、光ビーム補正動作前の合成信号波形を示してい
る。受光部の間隔変動に伴う重なり中心部での強度変動
は、図９がピークの２８％となるのに対して図６では８
％と緩和されている。

【００４９】次に、本発明の光学走査装置を具体化した
第２の実施の形態について図面を参照して説明する。

【００５０】まず、第２の実施の形態の光学走査装置
を、画像読取系における光学系と画像記録系における光
学系を共通化した複写機に適用した装置構成について説
明する。

【００５１】第１の実施の形態との違いは、原稿６から
の反射光を受光して原稿６を読み取るための受光手段と
しての三つの受光部７１，７２，７３が、８１，８２，
８３となることであるため、その他第１の実施の形態と
共通の装置構成については説明を援用し省略する。図３
は、第２の実施の形態における本発明の光学走査装置の
受光手段である受光部の構成図である。三つの受光部８
１，８２，８３は、検出手段であるフォトダイオード８
ａ，８ｂ，８ｃ及び結像手段である検出レンズ８Ａ，８
Ｂ，８Ｃで構成されており、それぞれが対になって一つ
の受光部を形成している。各受光部は、検出レンズに対
して原稿と共役な位置に配置されている。この一つの受
光部８１を詳細に示した構成図が、図７である。焦点距
離ｆの検出レンズ８Ａに対して、原稿６とフォトダイオ
ード８ａの位置関係は、

【００５２】

【数３】

【００５３】を満たす互いに共役な配置となっている。

【００５４】次に、前述した構成を有する光学走査装置
ｓの動作について説明する。

【００５５】装置構成と同様、異なる構成である受光部
の動作以外の、第１の実施の形態と共通の動作について
は説明を援用し省略する。

【００５６】原稿６の画像に応じた反射光は、検出レン
ズ８Ａ，８Ｂ，８Ｃで集光され、フォトダイオード８
ａ，８ｂ，８ｃに照射される。そこで夫々受光信号が生
成され、その夫々の受光信号が受光素子駆動回路３２に
よって合成される。その合成信号を、原稿６の光ビーム
Ｌが照射された位置でのその原稿６からの画像情報とし
て、ＣＰＵ３１を介してＲＡＭ３４に記憶する。その
際、図３から分かるように、原稿を図中上から下に光ビ
ームＬが走査するのに伴い、反射光は微小スポットとし
て順次フォトダイオードの検出面を下から上に走査す
る。

【００５７】ここで、検出レンズが回折限界系である
と、フォトダイオード上での反射光のビーム径は、(1)
式で示される回折限界ビーム径ｗ₀となる。一般に、回
折限界系と呼ばれるレンズ系は、波面収差量の標準偏差
（ｒｍｓ）が波長の1/14以下であり、この基準をレイリ
ーリミットという。即ち、検出レンズの波面収差量を波
長の1/14より大きくすれば、反射光のビーム径はｗ₀よ
り大きな値になり、フォトダイオードの検出境界部での
信号がなだらかに変化して、合成波形にリップルが発生
しないのである。

【００５８】具体的に、検出レンズの波面収差量を波長
の1/14より大きくするには、例えば、球面で構成される
単レンズを用いることで実現できる。即ち、幾何光学的
収差である、球面収差やコマ収差等を発生するレンズを
用いればよい。この場合、回折限界系のレンズより安価
に構成できる。

【００５９】尚、本発明は前述した第一及び第二の実施
の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しな
い範囲において、種々の変更を加えることができる。

【００６０】例えば、前記各実施の形態では光源として
半導体レーザを使用しているが、指向性を持って光束を
放射するレーザであればよく、ＹＡＧ（Yttrium Alumin
um Garnet)レーザ等の固体レーザであってもよい。

【００６１】また、レーザ光の波長を短波長化するため
に非線形光学素子を備えたものであってもよい。この場
合、赤色で印字された原稿も容易に読み取ることができ
る。その他、複写機、ファックス、イメージスキャナ
等、光学的に画像を読み取る装置に対して広く適用する
ことが可能である。

【００６２】

【発明の効果】以上説明したことから明らかなように、
本発明の請求項１に記載の光学走査装置は、前記複数の
受光手段は、前記反射光の画像情報を検出するための検
出手段と、その検出手段における前記反射光のビーム径
を、(1)式で表されるビーム径ｗ₀より大きくするように
構成された結像手段とから構成されているので、反射光
が検出器から外れる状態での信号変化が緩和され、受光
手段同士の間隔が理想状態からずれても、信号波形にリ
ップルは発生せず、安価な回路で高精度に補正が可能と
なり、読み取り対象物を走査する位置に関係なく、正確
且つ鮮明な画像情報を得ることができる。

【００６３】また、請求項２に記載の光学走査装置は、
前記検出手段が、前記結像手段に対して前記読み取り対
象物と共役でない位置に配置されているので、安価な構
成で高品位な信号が得られ、更に正確且つ鮮明な画像情
報を得ることができる。

【００６４】また、請求項３に記載の光学走査装置は、
前記検出手段が、前記結像手段に対して前記読み取り対
象物と共役な位置よりも前記結像手段寄りの位置に配置
されているので、検出手段の検出面を有効に利用でき、
装置の小型化を実現することができる。

【００６５】また、請求項４に記載の光学走査装置は、
前記結像手段が、前記検出手段における前記反射光のビ
ーム径を、(2)式で表されるビーム径ｗ₁とするように構
成され、前記検出手段は、前記ビーム径ｗ₁よりも大き
な検出面を有するので、読み取り対象物からの反射光を
効率よく検出でき、安価な構成で高品位な信号が得られ
るため、正確且つ鮮明な画像情報を得ることができる。

【００６６】また、請求項５に記載の光学走査装置は、
前記検出手段が、前記結像手段に対して前記読み取り対
象物と共役な位置に配置され、前記結像手段は、波面収
差が波長の1/14よりも大きくなるように構成されている
ので、安価な構成部品を使用することで、反射光が検出
器から外れる状態での信号変化が緩和され、受光手段同
士の間隔が理想状態からずれても、信号波形にリップル
は発生せず、安価な回路で高精度に補正が可能となり、
読み取り対象物を走査する位置に関係なく、正確且つ鮮
明な画像情報を得ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施形態の光学走査装置の概略
構成を示す概略構成図である。

【図２】第１の実施の形態の光学走査装置を適用した複
写機の概略構成を示す概略構成図である。

【図３】第１の実施の形態の受光部の配置を説明する説
明図である。

【図４】第１の実施の形態の受光部の機能を説明する説
明図である。

【図５】第１の実施の形態における合成信号波形の第１
の例を示すグラフである。

【図６】第１の実施の形態における合成信号波形の第２
の例を示すグラフである。

【図７】第２の実施の形態の受光部の機能を説明する説
明図である。

【図８】従来の光学走査装置における合成信号波形の第
１の例を示すグラフである。

【図９】従来の光学走査装置における合成信号波形の第
２の例を示すグラフである。

【符号の説明】

１半導体レーザ２ポリゴンミラー３結像レンズ４反射ミラー６原稿８検出器３２受光素子駆動回路７１，７２，７３受光部７ａ，７ｂ，７ｃフォトダイオード７Ａ，７Ｂ，７Ｃ検出レンズ８１，８２，８３受光部８ａ，８ｂ，８ｃフォトダイオード８Ａ，８Ｂ，８Ｃ検出レンズ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光源から出射され、偏向走査されて読み
取り対象物に照射された光ビームの前記読み取り対象物
からの反射光を複数の受光手段により受光し、前記読み
取り対象物に対応する画像情報を得る光学走査装置にお
いて、前記複数の受光手段は、前記反射光の画像情報を検出するための検出手段と、その検出手段における前記反射光のビーム径を、【数１】 λ：波長Ｗ：結像手段の射出瞳径ｌ_2:像点位置で表されるビーム径ｗ₀より大きくするように構成され
た結像手段とから構成されていることを特徴とする光学
走査装置。
【請求項２】前記検出手段は、前記結像手段に対して
前記読み取り対象物と共役でない位置に配置されたこと
を特徴とする請求項１に記載の光学走査装置。
【請求項３】前記検出手段は、前記結像手段に対して
前記読み取り対象物と共役な位置よりも前記結像手段寄
りの位置に配置されたことを特徴とする請求項２に記載
の光学走査装置。
【請求項４】前記結像手段は、前記検出手段における前記反射光のビーム径を、【数２】ｆ：結像手段の焦点距離ｌ₁：物点位置ｄｅ：デフォーカス量で表されるビーム径ｗ₁とするように構成され、前記検出手段は、前記ビーム径ｗ₁よりも大きな検出面
を有することを特徴とする請求項３に記載の光学走査装
置。
【請求項５】前記検出手段は、前記結像手段に対して
前記読み取り対象物と共役な位置に配置され、前記結像手段は、波面収差が波長の1/14よりも大きくな
るように構成されていることを特徴とする請求項１に記
載の光学走査装置。