JPH11312631A - 照明光学装置および露光装置 - Google Patents
照明光学装置および露光装置Info
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- JPH11312631A JPH11312631A JP10117434A JP11743498A JPH11312631A JP H11312631 A JPH11312631 A JP H11312631A JP 10117434 A JP10117434 A JP 10117434A JP 11743498 A JP11743498 A JP 11743498A JP H11312631 A JPH11312631 A JP H11312631A
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- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
Abstract
分なコヒーレンシーの低減を行うことのできる照明光学
装置及びそれを用いた露光装置を提供する。 【解決手段】微小コヒーレント素光源が多数集まって形
成されたコヒーレント光源と、該コヒーレント光源から
の光束を分割し、分割された一方の光束を遅延光路に廻
し、再び分割した光路に戻す光遅延素子と、を有する照
明光学系において、前記光遅延素子の遅延光路の光路長
を、前記微小コヒーレント素光源の可干渉長以上に設定
する事を特徴とする照明光学装置を提供する。また、こ
の照明光学装置を備えた露光装置及び露光方法を提供す
る。
Description
する露光装置に関し、特に露光装置に用いられる照明光
学装置に関する。
1−198759号公報に開示されたものがある。一般
に、レーザー光源の半値幅をΔλ、波長をλとすると、
時間的可干渉長(コヒーレンス長)tcは、 tc=λ2 /Δλ で与えられる。波長λ=248nmで半値幅Δλ=0.
8pmの場合は時間的コヒーレンス長tc=77mmと
なり、波長λ=248nmで半値幅Δλ=0.6pmの
場合は時間的コヒーレンス長tc=103mmになる。
そこで、従来では、図10に示されるように、光路中
に、ハーフミラー及び反射部材からなる光遅延素子を挿
入することで、コヒーレンス長以上の光路差を設け、可
干渉性(コヒーレンシー)の低減をはかっていた。光遅
延素子は、原理的には遅延光路中を無限回廻って光が出
てくるが、ハーフミラーの反射率や反射部材の反射率等
から、ハーフミラー反射率をを33%から50%程度に
設定することが一般的である。この様な反射率に設定す
ることで、1パーセント程度の光エネルギーまで取る
と、光遅延素子をおおむね2回から3回廻って出てくる
光まで使用することが出来る。
は、コヒーレンス長として、光源全体のスペクトル分布
から求めた値を用いていた。しかしながら、エキシマレ
ーザー光源を用い、一様な照明を得ようとした場合、上
述の様なコヒーレンシー低減手段を用いても、期待通り
の一様な照明が得られないことが判明した。
レーザー光源を使用した場合でも、十分なコヒーレンシ
ーの低減を行うことのできる照明光学装置及びそれを用
いた露光装置を提供することを目的とする。
達成するために、微小コヒーレント素光源が多数集まっ
て形成されたコヒーレント光源と、該コヒーレント光源
からの光束を分割し、分割された一方の光束を遅延光路
に廻し、再び分割した光路に戻す光遅延素子と、を有す
る照明光学系において、前記光遅延素子の遅延光路の光
路長を、前記微小コヒーレント素光源の可干渉長以上に
設定する事を特徴とする照明光学装置を提供する。ま
た、この照明光学装置を備えた露光装置及び露光方法を
提供する。
該コヒーレント光源からの光束を分割し、分割された一
方の光束を遅延光路に廻し、再び分割した光路に戻す光
遅延素子と、を有する照明光学系において、前記光遅延
素子は、光束を分割するための光束分割部材と、該光束
分割部材からの光束が入射する反射部材と、を有し、前
記光束分割部材の入射面は、前記反射部材の入射面に対
し直交するように配置されることを特徴とする照明光学
装置をも提供する。
分布の半値幅を狭くする為に、回折格子(グレーティン
グ)Gを用いている。この様に、グレーティングGを内
部に有しているレーザー光源の場合には、図9に示すよ
うに、分光部分の射出スリットS上(例えば、図9
(a)の+p/2、0、−p/2位置)に、波長分布が
生じる。つまり、分光部分の射出スリット上に形成され
た微小な光源のスペクトル分布が多数集まって、光源全
体のスペクトル分布が形成されている。
成されていると考えられる光源の場合で、隣合う微小な
光源が分離して観察できる空間分解能p(これはエキシ
マレーザーの発散角ωからおおよそ推定でき、p〜λ/
ωである)がスリット幅Pよりも細かい(小さい)とき
には、可干渉長を、この空間分解能内での波長分布Δλ
pから求まる可干渉長tcp tcp=λ2 /Δλp で考える必要がある。(ここで、tc<tcpであ
る。)その理由は、遅延素子によって、このスリットの
像が多数生成されると、遅延の光路長がスリットの全波
長分布から決まる可干渉長tcでしかない場合、各スリ
ット像の任意の空間分解能サイズからの光は互いに干渉
するからである。そしてこの干渉に因って被照射面上に
干渉縞やスペックルを発生する事になる。
シマレーザーの場合、半値幅Δλ=0.8pmの場合は
tcp=154mmとなり、半値幅Δλ=0.6pmの
場合はtcp=206mmになる。本発明では、光遅延
素子の遅延光路の光路長を、コヒーレント光源のスリッ
トの空間分解能内の光の波長分布で決まる可干渉長tc
pより長くする事により、または被照射面であるレチク
ルと共役な光源近傍の位置での空間分解能内の光の波長
分布で決まる可干渉長tcpより長くする事により、照
明むらを無くすことが出来る。
ト上に波長分布が生じる、と説明したが、射出光束が波
長分布を生じるような特性となっいればよい。また、上
記説明では、エキシマレーザーを例に採ったが、エキシ
マレーザーのみならず、微視的にコヒーレント素光源が
多数集まって形成された特性のコヒーレント光源であれ
ば、本発明を適用することが有効であり、コヒーレンス
の低減を行うことができる。
配置の実施例を、図1を参照しながら説明する。ここに
示す実施例の照明光学装置は、光路順に、エキシマレー
ザー1、デポラライザー3、第1の光遅延素子4、第2
の光遅延素子5及びフライアイオプティカルインテグレ
ータ7を配置している。尚、これらの素子の間には、照
明光学装置のチャンバー内の空間を有効に活用するた
め、幾つかミラーが配置されており、光路は折り曲げら
れている。
偏光ビームスプリッタ31、34及び反射ミラー32、
33からなっている。偏光ビームスプリッタ31は入射
光線を、P偏光及びS偏光に分離して射出する。そし
て、P偏光は、偏光ビームスプリッタ31、偏光ビーム
スプリッタ34の順に進行し、S偏光は、偏光ビームス
プリッタ31、反射ミラー32、反射ミラー33、偏光
ビームスプリッタ31の順に進行する。ここで、偏光ビ
ームスプリッタ31及び34は、石英基板等に薄膜を施
し、入射角がほぼブリュースターアングル56.5度か
ら、薄膜の設計によっては65度近傍までなるように傾
けて使用し、主にS偏光を反射させP偏光を透過させ
る。さらに、反射したS偏光を、反射ミラー31で光路
を光路長が前記のスリットの空間分解能内の波長分布で
きまるコヒーレンス長tcp=154mm以上になる距
離分だけ離してある。そして、S及びPの両偏光は、ビ
ームスプリッタ34で再び同一光路に戻る。
偏光とは振幅の干渉作用が無くなるが、P偏光、S偏光
からそれぞれ派生した円偏光同士、楕円偏光同士も振幅
の干渉が無くなる。そのため、不図示のウエハ上でもデ
ポラライズされた状態が達成できる。デポラライザー3
の調整は、一般には、単体ではオートコリメータを使用
して、角度を合わせている。そのため反射ミラーの表面
にはエキシマ光を反射する反射膜を蒸着し、裏面には可
視光を反射する反射膜を蒸着する。この様な反射膜を蒸
着した反射ミラーを用いることで、従来のように、デポ
ラライザー部分を抜き出して調整し、再び光路中へ戻す
といった工程を無くすことができる。この様に、本実施
例中のデポラライザー3の調整は、光路に配置したまま
オートコリメータによる調整を行うことができる。偏光
度の調整は全体を光軸回りに回転させることで調整す
る。
に、ハーフミラー41及び3枚の反射ミラー41、4
2、43で構成され、ハーフミラー40を反射した光と
透過した光とで2dの光路差が生じるように配置されて
いる。このようにすれば、分割された波連において偏光
を除去でき、コヒーレンシーを低減できるようになるか
らである。また、本実施例では、ハーフミラー41を最
初に透過する光線を基本光線としている。ここで、ハー
フミラー41の反射率は、平均で33%から50%程度
である。
(b)に示すように、ハーフミラー51及び3枚の反射
ミラー52、53、53で構成され、6dの光路差が生
じるように設定してある。また、第1の光遅延素子4同
様に、ハーフミラー51を最初に透過する光線を基本光
線としている。このように、第1の光遅延素子4の遅延
光路長と第2の光遅延素子5の遅延光路長とを設定すれ
ば、表2に示すように、9つの分割光において光路差が
同一とならないように出来る。このように、ほぼ光を時
間的に、1パーセント以上の光なら、9分割することで
コヒーレンシーの低減がはかれる。0.1パーセント以
上の光なら、18分割することが好ましい。
の光入射方位を第1と第2とで直交させ、しかも、一回
中を通るたびに角度θが付く様に設定すると、フライア
イ6に入射する光束は、ほぼ1パーセント以上で9つの
光に分割される。これによりエネルギーが低減されるだ
けでなく、ウエハ上でのスペックルをシフトさせる効果
がある。
とS偏光入射とでは異なるため、図5に示す様に、方位
を直交させることで、第1と第2の合成の反射率はP偏
光とS偏光とでほぼ同じになる。従って、フライアイに
入射する光束の偏光状態はあまり変化しないという効果
もある。さらに、図6に示す様に、直接光bと反射光c
及びdとで光のプロファイルが反転するようにしてある
ので、レーザー光のプロファイルを平均化する効果もあ
る。
5の反射ミラーは、表面に主波長であるエキシマ光を反
射し、裏面には例えば緑色などの可視光を主に反射する
薄膜が蒸着されている。これは、偏角を調整する時にオ
ートコリメーターを使用して調整するようにするため
で、調整時におのおののミラーを振って調整するが、調
整用の工具ミラーなどを用いると、交換する時にずれが
生じ、偏角が狂う恐れがある。エキシマ光と可視光を反
射するミラーを用いることで、交換する必要が無くな
る。
本願出願時点で、反射ミラーを使用できるが、ArFレ
ーザーやそれ以下の波長の光源の場合、反射率があまり
高くないので、ミラーを使用できない可能性がある。そ
の場合は、図7に示すように、ミラーの代わりに、蛍石
などの45度プリズム45、46、47、48、55、
56、57及び、58を用いて、全反射を利用して光路
を曲げてやればよい。ここで、図7(b)に示すよう
に、光遅延素子の中にリレーレンズ61及び62を配置
すると、角度ずれが生じても性能に大きな影響を与えな
い光学系を構成することができる。また、リレーレンズ
の代わりに、ミラー自身を凹面鏡にして、入り口、出口
を共役にしてやれば、同様に、角度ずれが生じても性能
に大きな影響を与えない光学系を構成することができ
る。
光装置全体の実施例を以下に示す。図9に示すように、
投影露光装置に配置された照明光学装置の基本配置は前
述の実施例の通りであるが、さらに詳しくは、デポララ
イーザー3と第1の光遅延素子4との間にリレーレンズ
2を設け、第2の光遅延素子6とフライアイオプティカ
ルインテグレータ7との間にエキスパンダー光学系6を
有し、フライアイオプティカルインテグレータ7の射出
側にはコンデンサーレンズ8が配置されている。
ンドリカルエキスパンダー及びエキスパンダーから構成
されており、エキシマレーザー1の矩形形状を正方形形
状にしている。また、フライアイオプティカルインテグ
レータ7は、第1フライアイ71と第2フライアイ72
とから構成されている。第1フライアイ71は長方形形
状のフライアイレンズ素子が規則的に配置されたもの
で、第2フライアイ72は、長方形形状のフライアイレ
ンズ素子が不規則的に配置されたものである。フライア
イオプティカルインテグレータ7を射出した光束は、コ
ンデンサーレンズ8によって、被照射面であるレチクル
9を均一にケーラー照明することになる。そして、投影
対物レンズ10を介して、露光面であるウエハ11がレ
チクル9と共役になっており、レチクル9のパターンが
ウエハ11面上に転写される。そのときの、倍率は、1
/4または1/5が好ましく、実際の露光は、レチクル
9及びウエハ11を走査して行う。
能内の光の波長分布で決まる可干渉長tcpより長くす
る事が望ましいが、被照射面と共役な光源近傍の位置で
の空間分解能内の光の波長分布で決まる可干渉長tcp
より長くする事でも良い。というのは、この共役面での
光源像が遅延素子によって重畳されるので、ここでの可
干渉距離tcpより長ければ、不要な干渉縞やスペック
ルは発生しないからである。また、ここでの可干渉距離
は、一般にはスリット上での可干渉距離よりも短いと考
えられ、より実際的な構成が達成できる。
成でコヒーレンシーの低減を十分にに行える事が出来
る。また、エネルギー密度の低減も十分におこなえるこ
とになる。
ある。
した図である。
である。
した図である。
である。
した図である。
た図である。
る。
た図である。
Claims (15)
- 【請求項1】微小コヒーレント素光源が多数集まって形
成されたコヒーレント光源と、 該コヒーレント光源からの光束を分割し、分割された一
方の光束を遅延光路に廻し、再び分割した光路に戻す光
遅延素子と、を有する照明光学系において、 前記光遅延素子の遅延光路の光路長を、前記微小コヒー
レント素光源の可干渉長以上に設定する事を特徴とする
照明光学装置。 - 【請求項2】前記光遅延素子は、光束が前記遅延光路を
一周する毎に、射出される光束の偏角を変化させること
を特徴とする請求項1記載の照明光学装置。 - 【請求項3】前記第1の光遅延素子から射出された光束
の偏角の方向と、前記第2の光遅延素子から射出された
光束の偏角の方向とが、異なることを特徴とする請求項
2記載の照明光学装置。 - 【請求項4】前記光遅延素子は、偏光ビームスプリッタ
ー及び複数の反射ミラーを有することを特徴とする請求
項1乃至3記載の照明光学装置。 - 【請求項5】前記デポラライザーのS偏光遅延距離をL
とすると、前記第1の光遅延素子は2n×L、第2の光
遅延素子が6n×L、第m番目の光遅延素子が2×m^
2×Lの遅延光路を有することを特徴とする請求項1乃
至4記載の照明光学装置。 - 【請求項6】前記第1の光遅延素子は、光束を分割する
ための第1の光束分割部材と、該第1の光束分割部材か
らの光束が入射する第1の反射部材を有し、 前記第2の光遅延素子は、光束を分割するための第2の
光束分割部材と、該第2の光束分割部材からの光束が入
射する第2の反射部材を有し、 前記第1の光束分割部材の入射面は、前記第1の反射部
材の入射面に対し直交するように配置され、 前記第2の光束分割部材の入射面は、前記第2の反射部
材の入射面に対し直交するように配置されることを特徴
とする請求項1乃至5記載の照明光学装置。 - 【請求項7】前記第1の光束分割部材は、第1のハーフ
ミラーであり、前記第2の光束分割部材は、第2のハー
フミラーであり、前記第1のハーフミラーと前記第2の
ハーフミラーとは、互いに直交するように設置されるこ
とを特徴とする請求項6記載の照明光学装置。 - 【請求項8】前記偏光ビームスプリッター及び複数の反
射ミラーを有する光遅延素子全体を光軸に対して所望の
角度だけ傾けることにより、P及びS偏光を分離するこ
とを特徴とする請求項1乃至7記載の照明光学装置。 - 【請求項9】前記反射ミラーは、光線が入射する表面側
に、前記コヒーレント光源の使用波長を主に反射する薄
膜が形成され、裏面側に、別の波長を主に反射する薄膜
が形成されることを特徴とする請求項1乃至8記載の照
明光学装置。 - 【請求項10】前記光遅延素子は、石英または蛍石のプ
リズムを有し、全反射を利用して光路を曲げることを特
徴とする請求項1乃至9記載の照明光学装置。 - 【請求項11】請求項1乃至10記載の照明光学装置
と、投影対物レンズと、物体と、基板と、を有すること
を特徴とする露光装置。 - 【請求項12】請求項1乃至10記載の照明光学装置に
よりマスクを照明し、前記マスクを投影光学系を用いて
ウエハ上に投影露光することを特徴とする露光方法。 - 【請求項13】紫外線を放射する光源と、該光源からの
光束を折り曲げて、被照射面上へ光束を導くための反射
ミラーを有する照明光学装置の光路調整方法において、 前記光源から放射される波長と異なる第2の光源を用
い、 前記反射ミラーを微動調整し、 微動調整の終了後、前記第2の光源を取り外し、前記紫
外線を放射する光源に置き換え、 前記反射ミラーは、光線が入射する表面側に、前記光源
の使用波長を主に反射する薄膜が形成され、裏面側に、
別の波長を主に反射する薄膜が形成されていることを特
徴とする照明光学装置の光路調整方法。 - 【請求項14】コヒーレント光源と、 該コヒーレント光源からの光束を分割し、分割された一
方の光束を遅延光路に廻し、再び分割した光路に戻す光
遅延素子と、を有する照明光学系において、 前記光遅延素子は、光束を分割するための光束分割部材
と、該光束分割部材からの光束が入射する反射部材と、
を有し、 前記光束分割部材の入射面は、前記反射部材の入射面に
対し直交するように配置されることを特徴とする照明光
学装置。 - 【請求項15】前記光遅延素子は、複数個配置されるこ
とを特徴とする請求項14記載の照明光学装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP10117434A JPH11312631A (ja) | 1998-04-27 | 1998-04-27 | 照明光学装置および露光装置 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP10117434A JPH11312631A (ja) | 1998-04-27 | 1998-04-27 | 照明光学装置および露光装置 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2007141206A Division JP4548449B2 (ja) | 2007-05-29 | 2007-05-29 | 照明光学装置および露光装置 |
JP2007141207A Division JP4534210B2 (ja) | 2007-05-29 | 2007-05-29 | 光遅延装置、照明光学装置、露光装置及び方法、並びに半導体素子製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11312631A true JPH11312631A (ja) | 1999-11-09 |
Family
ID=14711560
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10117434A Pending JPH11312631A (ja) | 1998-04-27 | 1998-04-27 | 照明光学装置および露光装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JPH11312631A (ja) |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A521 | Written amendment |
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|
A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A02 | Decision of refusal |
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