JPH11283950A - 基板洗浄装置 - Google Patents

基板洗浄装置

Info

Publication number
JPH11283950A
JPH11283950A JP10103705A JP10370598A JPH11283950A JP H11283950 A JPH11283950 A JP H11283950A JP 10103705 A JP10103705 A JP 10103705A JP 10370598 A JP10370598 A JP 10370598A JP H11283950 A JPH11283950 A JP H11283950A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cleaning
cleaning tool
height
substrate
tool
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10103705A
Other languages
English (en)
Inventor
Naoki Matsuda
尚起 松田
Yoshiyuki Ota
嘉幸 太田
Kenya Ito
賢也 伊藤
Takahiro Nanjo
貴弘 南條
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ebara Corp
Original Assignee
Ebara Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ebara Corp filed Critical Ebara Corp
Priority to JP10103705A priority Critical patent/JPH11283950A/ja
Priority to US09/276,920 priority patent/US6092542A/en
Publication of JPH11283950A publication Critical patent/JPH11283950A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment
    • H01L21/67028Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
    • H01L21/6704Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing
    • H01L21/67051Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing using mainly spraying means, e.g. nozzles
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B08CLEANING
    • B08BCLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
    • B08B3/00Cleaning by methods involving the use or presence of liquid or steam
    • B08B3/02Cleaning by the force of jets or sprays
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B08CLEANING
    • B08BCLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
    • B08B2203/00Details of cleaning machines or methods involving the use or presence of liquid or steam
    • B08B2203/02Details of machines or methods for cleaning by the force of jets or sprays
    • B08B2203/0288Ultra or megasonic jets
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S134/00Cleaning and liquid contact with solids
    • Y10S134/902Semiconductor wafer

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
  • Cleaning In General (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 洗浄具の高さの変更作業が容易で且つより微
細な高さの調整が可能で、洗浄具の固体差や処理基板の
把持時に洗浄面の位置にバラツキがあっても洗浄結果に
影響を与えることがなく、再現性のよい洗浄が行える基
板洗浄装置を提供すること。 【解決手段】 回転する処理基板4に洗浄液を供給しな
がら揺動する揺動アーム2に取り付けた洗浄具6で洗浄
する基板洗浄装置において、洗浄具6を昇降させる昇降
機構(ボールネジ7、サーボモータ8等)と、該洗浄具
の高さを設定する設定手段と、該昇降機構を制御し該洗
浄具の高さを該設定手段で設定された高さに調整する制
御手段を具備する。また、制御手段は、1枚の処理基板
を洗浄する際、洗浄具6の処理基板4に対する高さを段
階的に変更し、繰り返し洗浄できる機能を有すること。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体ウエハ等の処
理基板を洗浄具を用いて洗浄する基板洗浄装置に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】図4は、従来のこの種の洗浄装置の概略
構成を示す外観図である。図4において、105はウエ
ハ等の処理基板104を把持する基板チャックであり、
基板チャック105は基板チャック本体103上に環状
に等間隔で配設されている。102はモータ101で矢
印B方向に揺動する揺動アームであり、該揺動アーム1
02の先端部に洗浄具106が取付けられている。10
7は揺動アーム102を昇降させるエアシリンダであ
り、108は機械的ストッパーである。
【0003】上記構成の洗浄装置において、基板チャッ
ク本体103は矢印Aに示す方向に回転し、揺動アーム
102は矢印Bのように揺動する。洗浄具106として
は、超音波ノズル、キャビジェットノズル、ペンシル型
のスポンジ等がある。このうち超音波ノズルでは周波数
及び焦点の関係上、またキャビテーションジェットでは
キャビテーションの適度な消長の関係上、処理基板10
4と洗浄具106の位置関係を特に厳密にコントロール
する必要がある。洗浄具106は高さ方向に関してはエ
アシリンダー107で駆動されて昇降する。そしてスト
ロークエンド付近に取り付けた機械的ストッパー108
で下降端位置は精密調整され位置決めされている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の方法では、ウエハ等の処理基板104と洗浄具10
6との位置関係を変更するためには、洗浄装置の運転を
一旦中断し、人手にて調整する必要があった。また、キ
ャビジェット洗浄においてはキャビジェットノズルの固
体差や、処理基板104を基板チャック105で把持す
る毎の該処理基板104の洗浄面の高さ精度が洗浄のプ
ロセス結果に及ぼす影響が大きいため、洗浄結果の再現
性が充分とはいえないという問題があった。
【0005】本発明は上述の点に鑑みてなされたもの
で、洗浄具の高さの変更作業が容易で且つより微細な高
さの調整が可能な基板洗浄装置を提供することを目的と
する。
【0006】また、洗浄具の固体差や処理基板の把持時
に洗浄面の位置にバラツキがあっても洗浄結果に影響を
与えることがなく、再現性のよい洗浄が行える基板洗浄
装置を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
請求項1に記載の発明は、回転する処理基板に洗浄液を
供給しながら揺動するアームに取り付けた洗浄具で洗浄
する基板洗浄装置において、洗浄具を昇降させる昇降機
構と、該洗浄具の高さを設定する設定手段と、該昇降機
構を制御し該洗浄具の高さを該設定手段で設定された高
さに調整する制御手段を具備することを特徴とする。
【0008】また、請求項2に記載の発明は、請求項1
に記載の基板洗浄装置において、制御手段は、1枚の処
理基板を1サイクルで洗浄する際、前記洗浄具の処理基
板に対する高さを段階的に変更し、繰り返し洗浄できる
機能を有することを特徴とする。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態例を図
面に基づいて説明する。図1は本発明に係る洗浄装置の
概略構成を示す外観図である。図1において、5はウエ
ハ等の処理基板4を把持する基板チャックであり、該基
板チャック5は基板チャック本体3上に環状に等間隔で
配設されている。2はモータ1で軸9を中心に揺動する
揺動アームであり、該揺動アーム2の先端部に洗浄具6
が取付けられている。7はボールネジで、該ボールネジ
7をサーボモータ8により回転させることにより、ブラ
ケット10を介して揺動アーム2は矢印Cに示すように
昇降する。また、基板チャック本体3は矢印Aに示すよ
うに回転し、揺動アーム2は矢印Bに示すように揺動す
る。
【0010】図2は揺動アーム2を昇降させて洗浄具6
を昇降させる制御装置の概略構成を示す図である。図2
において、11はサーボモータ8の回転量を検出するロ
ータリーエンコーダ、12はサーボアンプ、13はコン
トローラ、14は設定盤である。該設定盤14は洗浄治
具の高さ等を任意に設定できるようになっており、該設
定盤14で洗浄具6の高さを設定すると、その設定信号
はコントローラ13に入力され、該コントローラ13で
設定信号に基づくサーボモータ8の回転量すなわち洗浄
治具の高さ変化に相当する量を演算し、該演算値に相当
した出力がサーボアンプ12から動力線15を通してサ
ーボモータ8に送られ、該サーボモータ8の回転量は信
号線16を通してサーボアンプ12にフィードバックさ
れる。従って、洗浄具6は設定盤14で設定された高さ
位置に精度良く位置決めされる。
【0011】サーボモータ8が回転するとそれに連動し
て、ボールネジ7が回転し、その回転量に応じてブラケ
ット10が昇降し、洗浄具6が揺動アーム2を介して昇
降する。これにより洗浄具6の高さは設定盤14で設定
された設定値に精度よく位置決めされる。
【0012】上記構成の洗浄装置において、1枚の処理
基板4を洗浄する際に、洗浄具6の高さを揺動アーム2
の揺動に同期させて段階的に変更し、繰り返し洗浄する
機能をコントローラ13に持たせることで、洗浄具6の
固体差や処理基板4を基板チャック5で把持した時の洗
浄面の位置のバラツキに対処できる。
【0013】図3は洗浄具6の高さを揺動アーム2の揺
動に同期させて段階的に変更する制御フローを示す図で
ある。まず、設定盤14で洗浄開始時の洗浄具6の高さ
hと、洗浄具6を微小下降させる下降量Δhと、洗浄具
6を微小下降させるまでの揺動アーム2の揺動回数n及
びこの洗浄具6の微小下降を何度繰り返すかの繰返し回
数(洗浄具6の高さの段階的な変更回数)Nを設定する
(ステップST1)。
【0014】この状態で洗浄動作を開始する(ステップ
ST2)。先ず洗浄具6の高さをhにし(ステップST
3)、洗浄具6の高さがhになったことを確認したら
(ステップST4)、揺動アーム2の揺動を開始する
(ステップST5)。揺動アーム2の揺動回数が微小下
降の揺動回数nに達したか否かを判断し(ステップST
6)、揺動回数nに達したら洗浄具6を下降量Δhだけ
下降させ(ステップST7)、洗浄具6がΔhだけ下降
したことを確認し(ステップST8)、設定繰返し回数
NをN−1とする(ステップST9)。続いて、N=0
か否か、即ち、洗浄具6の微小下降が設定繰返し回数N
に達したか否かを判断し(ステップST10)、設定繰
返し回数Nに達していなかったら、前記ステップST5
に戻り処理を繰返す。設定繰返し回数Nに達したら、洗
浄動作を終了する(ステップST11)。
【0015】洗浄装置を上記のように構成することによ
り、オペレータは設定盤14を操作して設定するのみ
で、処理基板4に対する洗浄具6の高さを設定できるか
ら、洗浄具6の位置設定を従来のように洗浄装置の運転
を一旦停止して手作業で行うことなく、洗浄具6の位置
決め及びその変更作業が極めて容易になる。
【0016】また、コントローラ13に洗浄具6の高さ
を揺動アーム2の揺動に同期させて段階的に変更(微小
に下降させる)させながら洗浄させる制御機能を持たせ
ることにより、上記のように、洗浄具6の固体差や処理
基板4を基板チャック5で把持した時の洗浄面の位置の
バラツキに対処できる。即ち、洗浄結果の再現性が向上
する。
【0017】なお、上記例では、洗浄具6を昇降させる
昇降機構として、サーボモータ8でボールネジ7を回転
させることより、揺動アーム2を昇降させて洗浄具6を
昇降させるように構成しているが、昇降機構はこれに限
定されるものではなく、要は設定盤14の設定値に応じ
て、揺動アーム2を昇降させることができるものであれ
ば良い。
【0018】また、洗浄具6を昇降させる昇降機構とし
て揺動アーム2を介して昇降させるものに限定されるも
のではなく、洗浄具6を直接揺動アーム2に対して昇降
させる機構であってもよいことは当然である。
【0019】また、本発明の洗浄装置は、処理基板の洗
浄のみを行うものに限定されるものではなく、洗浄終了
後、基板チャック本体3を高速回転させ、スピン乾燥さ
せる場合等の処理基板の洗浄の前後において、洗浄以外
の処理を行う機能を有する場合も本発明の洗浄装置に含
まれる。
【0020】洗浄具6としては、超音波ノズル、キャビ
ジェットノズル、ペンシル型のスポンジ等を用いる。特
に、本洗浄装置は処理基板4に対する洗浄具6の位置を
精度良くコントロールできるから、処理基板4と洗浄具
6の位置関係を厳密にコントロールする必要のある超音
波ノズルやキャビジェットノズルの洗浄具6に好適であ
る。
【0021】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1に記載の
発明によれば、洗浄具を昇降させる昇降機構と、該洗浄
具の高さを設定する設定手段と、制御手段を具備するの
で、処理基板と洗浄具のより精密な位置のコントロール
が可能となると同時に、洗浄具の高さを変更する作業性
が著しく向上する。
【0022】また、制御手段は、1枚の処理基板を1サ
イクルで洗浄する際、洗浄具の処理基板に対する高さを
段階的に変更し、繰り返し洗浄できる機能を有するの
で、洗浄具の固体差や処理基板の位置のバラツキに対処
でき、洗浄結果の再現性が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る洗浄装置の概略構成を示す外観図
である。
【図2】揺動アームを昇降させて洗浄具を昇降させる制
御装置の概略構成を示す図である。
【図3】洗浄具の高さを揺動アームの揺動に同期させて
段階的に変更する制御フローを示す図である。
【図4】従来のこの種の洗浄装置の概略構成を示す外観
を示す図である。
【符号の説明】
1 モータ 2 揺動アーム 3 基板チャック本体 4 処理基板 5 基板チャック 6 洗浄具 7 ボールネジ 8 サーボモータ 9 軸 10 ブラケット 11 ロータリーエンコーダ 12 サーボアンプ 13 コントローラ 14 設定盤
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 南條 貴弘 東京都大田区羽田旭町11番1号 株式会社 荏原製作所内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 回転する処理基板に洗浄液を供給しなが
    ら揺動するアームに取り付けた洗浄具で洗浄する基板洗
    浄装置において、 前記洗浄具を昇降させる昇降機構と、該洗浄具の高さを
    設定する設定手段と、該昇降機構を制御し該洗浄具の高
    さを該設定手段で設定された高さに調整する制御手段を
    具備することを特徴とする基板洗浄装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の基板洗浄装置におい
    て、 前記制御手段は、1枚の処理基板を洗浄する際、前記洗
    浄具の処理基板に対する高さを段階的に変更し、繰り返
    し洗浄できる機能を有することを特徴とする基板洗浄装
    置。
JP10103705A 1998-03-30 1998-03-30 基板洗浄装置 Pending JPH11283950A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10103705A JPH11283950A (ja) 1998-03-30 1998-03-30 基板洗浄装置
US09/276,920 US6092542A (en) 1998-03-30 1999-03-26 Cleaning apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10103705A JPH11283950A (ja) 1998-03-30 1998-03-30 基板洗浄装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11283950A true JPH11283950A (ja) 1999-10-15

Family

ID=14361170

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10103705A Pending JPH11283950A (ja) 1998-03-30 1998-03-30 基板洗浄装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6092542A (ja)
JP (1) JPH11283950A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005013345A1 (ja) * 2003-07-16 2005-02-10 Kabushiki Kaisha Yaskawa Denki 基板処理装置
KR100873937B1 (ko) 2007-09-19 2008-12-15 세메스 주식회사 웨이퍼 세정 장치 및 웨이퍼 세정 방법

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6517641B2 (en) * 2001-05-16 2003-02-11 Infineon Technologies Richmond, Lp Apparatus and process for collecting trace metals from wafers
US6702202B1 (en) * 2002-06-28 2004-03-09 Lam Research Corporation Method and apparatus for fluid delivery to a backside of a substrate
JP5026151B2 (ja) * 2007-06-01 2012-09-12 Juki株式会社 接着剤塗布装置
KR101958874B1 (ko) 2008-06-04 2019-03-15 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 기판처리장치, 기판처리방법, 기판 파지기구, 및 기판 파지방법
JP5367840B2 (ja) * 2008-12-12 2013-12-11 エーシーエム リサーチ (シャンハイ) インコーポレーテッド 半導体ウェーハの洗浄方法、および装置
AT515147B1 (de) * 2013-12-09 2016-10-15 4Tex Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Behandeln von Gegenständen mit einer Flüssigkeit
JP6749225B2 (ja) * 2016-12-06 2020-09-02 東京エレクトロン株式会社 クリーニング方法
US11948811B2 (en) * 2019-12-26 2024-04-02 Ebara Corporation Cleaning apparatus and polishing apparatus

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4326553A (en) * 1980-08-28 1982-04-27 Rca Corporation Megasonic jet cleaner apparatus
US5718763A (en) * 1994-04-04 1998-02-17 Tokyo Electron Limited Resist processing apparatus for a rectangular substrate
JP2618834B2 (ja) * 1994-07-19 1997-06-11 大日本スクリーン製造株式会社 基板洗浄方法及び基板洗浄装置
JP3099054B2 (ja) * 1994-09-09 2000-10-16 東京エレクトロン株式会社 塗布装置及びその方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005013345A1 (ja) * 2003-07-16 2005-02-10 Kabushiki Kaisha Yaskawa Denki 基板処理装置
CN100397583C (zh) * 2003-07-16 2008-06-25 株式会社安川电机 基片处理装置
KR100873937B1 (ko) 2007-09-19 2008-12-15 세메스 주식회사 웨이퍼 세정 장치 및 웨이퍼 세정 방법

Also Published As

Publication number Publication date
US6092542A (en) 2000-07-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH104072A (ja) 基板洗浄装置および方法
JPH11283950A (ja) 基板洗浄装置
JP3953716B2 (ja) 基板洗浄装置
US20050183754A1 (en) Apparatus for and method of cleaning substrate
JPH10135167A (ja) 基板処理装置および基板処理方法
JP2020049568A (ja) 搬送装置、半導体製造装置及び搬送方法
JP2006140385A (ja) 基板処理装置
JP3362781B2 (ja) 現像処理方法および装置、現像制御装置、情報記憶媒体
JP3644805B2 (ja) 基板洗浄装置
JPS62196895A (ja) 電子部品の吸着制御装置
JP2011077245A (ja) 基板処理装置およびティーチング方法
KR101175696B1 (ko) 처리 장치
JP2875201B2 (ja) 洗浄処理装置およびその方法
JP3644806B2 (ja) 基板洗浄方法及びその装置
JP2000311846A (ja) レジスト現像方法およびレジスト現像装置
JP5053825B2 (ja) 基板処理装置および基板処理方法
JPH09162145A (ja) ウエハ洗浄装置
JP4371517B2 (ja) 曲げ加工方法及びその方法の実施に直接使用する曲げ加工制御装置
JP3596250B2 (ja) 電子部品実装方法
KR200188628Y1 (ko) 반도체 린스 노즐의 위치 제어 장치
JP2000188274A (ja) 基板洗浄装置
JP2001062411A (ja) 基板洗浄・乾燥装置の制御装置
JPH04196212A (ja) 現像前洗浄装置
JP2000228435A (ja) 基板処理装置
JP2004111559A (ja) 基板のスピン処理装置及びスピン処理方法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20050114

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050114

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050114

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20061102

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20061128

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20070320