JPH11150370A - 多層配線基板 - Google Patents

多層配線基板

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JPH11150370A
JPH11150370A JP31701497A JP31701497A JPH11150370A JP H11150370 A JPH11150370 A JP H11150370A JP 31701497 A JP31701497 A JP 31701497A JP 31701497 A JP31701497 A JP 31701497A JP H11150370 A JPH11150370 A JP H11150370A
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JP
Japan
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hole
organic resin
resin insulating
insulating layer
wiring conductor
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JP31701497A
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Katsuyuki Takeuchi
勝幸 竹内
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Abstract

(57)【要約】 【課題】有機樹脂絶縁層を間に挟んで上下に位置する薄
膜配線導体層のスルーホール導体を介しての電気的接続
の信頼性が低い。 【解決手段】基板1上に、スルーホール8を有する有機
樹脂絶縁層2と薄膜配線導体層3とを交互に多層に積層
するとともに有機樹脂絶縁層2を間に挟んで下方に位置
する薄膜配線導体層3のスルーホール8開口部に露出す
る領域と上方に位置する薄膜配線導体層3とをスルーホ
ール8の内壁に形成したスルーホール導体9を介して電
気的に接続して成る多層配線基板であって、前記薄膜配
線導体層3のスルーホール8開口部に露出する領域の厚
みを他の領域の厚みより厚くした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、多層配線基板に関
し、より詳細には混成集積回路装置や半導体素子を収容
する半導体素子収納用パッケージ等に使用される多層配
線基板に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、混成集積回路装置や半導体素子収
納用パッケージ等に使用される多層配線基板はその配線
導体がMoーMn法等の厚膜形成技術によって形成され
ている。
【0003】このMoーMn法は通常、タングステン、
モリブデン、マンガン等の高融点金属粉末に有機溶剤、
溶媒を添加混合し、ペースト状となした金属ペーストを
生セラミック体の外表面にスクリーン印刷法により所定
パターンに印刷塗布し、次にこれを複数枚積層するとと
もに還元雰囲気中で焼成し、高融点金属粉末と生セラミ
ック体とを焼結一体化させる方法である。
【0004】なお、前記配線導体が形成されるセラミッ
ク体としては、通常、酸化アルミニウム質焼結体やムラ
イト質焼結体等の酸化物系セラミックス、或いは表面に
酸化物膜を被着させた窒化アルミニウム質焼結体や炭化
珪素質焼結体等の非酸化物系セラミックスが使用され
る。
【0005】しかしながら、このMoーMn法を用いて
配線導体を形成した場合、配線導体は金属ペーストをス
クリーン印刷することにより形成されることから微細化
が困難で配線導体を高密度に形成することができないと
いう欠点を有していた。
【0006】そこで上記欠点を解消するために配線導体
を従来の厚膜形成技術で形成するのに変えて微細化が可
能な薄膜形成技術を用いて高密度に形成した多層配線基
板が採用されるようになってきた。かかる多層配線基板
は、酸化アルミニウム質焼結体等から成るセラミックス
やガラス繊維を織り込んだ布にエポキシ樹脂を含浸させ
て形成されるガラスエポキシ樹脂等から成る絶縁基板
と、該絶縁基板の上面にスピンコート法及び熱硬化処理
等によって形成されたエポキシ樹脂から成る有機樹脂絶
縁層と、銅やアルミニウム等の金属をめっき法や蒸着法
等の薄膜形成技術及びフォトリソグラフィー技術を採用
することによって形成される薄膜配線導体層とを交互に
多層に積層させるとともに上下に位置する薄膜配線導体
層を有機樹脂絶縁層に設けたスルーホールの内壁に被着
形成されているスルーホール導体を介して電気的に接続
させた構造を有しており、有機樹脂絶縁層の上面に、前
記薄膜配線導体層と電気的に接続するボンディングパッ
ドを形成しておき、該ボンディングパッドに半導体素子
や容量素子、抵抗器等の電子部品の電極を半田等を介し
接続させるようになっている。
【0007】なお、前記多層配線基板においては、積層
された各有機樹脂絶縁層間に配設された薄膜配線導体層
が有機樹脂絶縁層に設けたスルーホールの内壁に形成さ
れているスルーホール導体を介して電気的に接続されて
おり、各有機樹脂絶縁層へのスルーホールの形成はフォ
トリソグラフィー技術を採用することによって、具体的
にはまず各有機樹脂絶縁層上にレジスト材を塗布すると
ともにこれに露光、現像を施すことによって所定位置に
所定計上の窓部を形成し、次に前記レジスト材の窓部に
エッチング液を配し、レジスト材の窓部に位置する有機
樹脂絶縁層を除去して、有機樹脂絶縁層に穴(スルーホ
ール)を形成し、最後に前記レジスト材を有機樹脂絶縁
層上より剥離させ除去することによって行われる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この多
層配線基板においては、有機樹脂絶縁層の厚みが上下に
位置する薄膜配線導体層の電気的絶縁を完全とするため
に10〜80μm程度の厚いものとなっており、この厚
みの厚い有機樹脂絶縁層にフォトリソグラフィー技術を
採用することによってスルーホールを形成した場合、エ
ッチング液による有機樹脂絶縁層の除去に時間がかか
り、スルーホールを所望する鮮明な形状に形成するのが
できなくなるとともにスルーホールの下部に有機樹脂絶
縁層の一部が残り、スルーホール導体を介して上下に位
置する薄膜配線導体層を確実、強固に電気的接続するこ
とができないという欠点を有していた。
【0009】本発明は上述の欠点に鑑み案出されたもの
で、その目的は、有機樹脂絶縁層に所望する鮮明な形状
のスルーホールを形成するとともに有機樹脂絶縁層の上
下に位置する薄膜配線導体層をスルーホールの内壁に形
成したスルーホール導体を介して確実、強固に電気的接
続することができる高信頼性の多層配線基板を提供する
ことにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は、基板上に、ス
ルーホールを有する有機樹脂絶縁層と薄膜配線導体層と
を交互に多層に積層するとともに有機樹脂絶縁層を間に
挟んで下方に位置する薄膜配線導体層のスルーホール開
口部に露出する領域と上方に位置する薄膜配線導体層と
をスルーホールの内壁に形成したスルーホール導体を介
して電気的に接続して成る多層配線基板であって、前記
薄膜配線導体層のスルーホール開口部に露出する領域の
厚みが他の領域の厚みより厚いことを特徴とするもので
ある。
【0011】本発明の多層配線基板によれば、有機樹脂
絶縁層のスルーホールが形成される領域に位置する薄膜
配線導体層の厚みを厚くしたことからその分スルーホー
ル形成部における有機樹脂絶縁層の厚みが薄くなり、そ
の結果、有機樹脂絶縁層にフォトリソグラフィー技術を
採用することによってスルーホールを形成した場合、エ
ッチング液による有機樹脂絶縁層の除去が短時間とな
り、スルーホールを所望する鮮明な形状に形成すること
が可能となるとともにスルーホールの下部に有機樹脂絶
縁層の一部が残ることはなく、これによってスルーホー
ル導体を介して有機樹脂絶縁層を間に挟んで上下に位置
する薄膜配線導体層を確実、強固に電気的接続すること
ができる。
【0012】また薄膜配線導体層の厚みが厚い領域は有
機樹脂絶縁層のスルーホールが形成される領域のみであ
り、その他の領域は厚みが薄い。そのため有機樹脂絶縁
層を間に挟んで上下に位置する薄膜配線導体層は、間に
配される有機樹脂絶縁層の厚みが十分厚いものとなって
電気的絶縁が完全となり、多層配線基板としての信頼性
が極めて高いものとなる。
【0013】
【発明の実施の形態】次に、本発明を添付図面に基づき
詳細に説明する。図1は本発明の多層配線基板の一実施
例を示し、1は絶縁性の基板、2は有機樹脂絶縁層、3
は薄膜配線導体層である。
【0014】前記基板1はその上面に有機樹脂絶縁層2
と薄膜配線導体層3とから成る多層配線部4が配設され
ており、該多層配線部4を支持する支持部材として作用
する。
【0015】前記基板1は酸化アルミニウム質焼結体や
ムライト質焼結体等の酸化物系セラミックス、或いは表
面に酸化物膜を有する窒化アルミニウム質焼結体や炭化
珪素質焼結体等の非酸化物系セラミックス、更にはガラ
ス繊維を織り込んだ布にエポキシ樹脂を含浸させたガラ
スエポキシ樹脂等の電気絶縁材料で形成されており、例
えば、酸化アルミニウム質焼結体で形成されている場合
には、酸化アルミニウム、酸化珪素、酸化マグネシウ
ム、酸化カルシウム等の原料粉末に適当な有機溶剤、溶
媒を添加混合して泥漿状となすとともにこれを従来周知
のドクターブレード法やカレンダロール法を採用するこ
とによってセラミックグリーンシート(セラミック生シ
ート)を形成し、しかる後、前記セラミックグリーンシ
ートに適当な打ち抜き加工を施し、所定形状となすとと
もに高温(約1600℃)で焼成することによって、あ
るいは酸化アルミニウム等の原料粉末に適当な有機溶
剤、溶媒を添加混合して原料粉末を調製するとともに該
原料粉末をプレス成形機によって所定形状に成形し、最
後に前記成形体を約1600℃の温度で焼成することに
よって製作され、またガラスエポキシ樹脂から成る場合
には、例えば、ガラス繊維を織り込んだ布にエポキシ樹
脂の前駆体を含浸させるとともに該エポキシ樹脂前駆体
を所定の温度で熱硬化させることによって製作される。
【0016】また前記基板1には上下面に貫通する孔径
が例えば、直径0.3mm〜0.5mmの貫通孔5が形
成されており、該貫通孔5の内壁には両端が基板1の上
下両面に導出する導電層6が被着されている。
【0017】前記貫通孔5は後述する基板1の上面に形
成される多層配線部4の薄膜配線導体層3と外部電気回
路とを電気的に接続する、或いは基板1の上下両面に多
層配線部4を形成した場合には両面の多層配線部4の薄
膜配線導体層3同士を電気的に接続する導電層6を形成
するための形成孔として作用し、基板1にドリル孔あけ
加工法等を施すことによって基板1の所定位置に所定形
状に形成される。
【0018】更に前記貫通孔5の内壁及び基板1の上下
両面には導電層6が被着形成されており、該導電層6は
例えば、銅やニッケル等の金属材料から成り、従来周知
のめっき法及びエッチング加工法を採用することによっ
て貫通孔5の内壁に両端を基板1の上下両面に導出させ
た状態で被着形成される。
【0019】前記導電層6は基板1の上面に形成される
多層配線部4の薄膜配線導体層3を外部電気回路に電気
的に接続したり、基板1の上下両面に形成される各々の
多層配線部4の薄膜配線導体層3同士を電気的に接続す
る作用をなす。
【0020】また前記基板1に形成した貫通孔5はその
内部にエポキシ樹脂等から成る有機樹脂充填体7が充填
されており、該有機樹脂充填体7によって貫通孔5が完
全に埋められ、同時に有機樹脂充填体7の両端面が基板
1の上下両面に被着させた導電層6の面と同一平面とな
っている。
【0021】前記有機樹脂充填体7は基板1の上面及び
/又は下面に後述する有機樹脂絶縁層2と薄膜配線導体
層3とから成る多層配線部4を形成する際、多層配線部
4の有機樹脂絶縁層2と薄膜配線導体層3の平坦化を維
持する作用をなす。
【0022】なお、前記有機樹脂充填体7は基板1の貫
通孔5内にエポキシ樹脂等の前駆体を充填し、しかる
後、これに80〜200℃の温度を0.5〜3時間印加
し、完全に熱硬化させることによって基板1の貫通孔5
内に充填される。
【0023】更に前記基板1はその上面にスルーホール
8を有する厚さが10〜80μm程度の有機樹脂絶縁層
2と、厚さが1μm〜40μm程度の薄膜配線導体層3
とが交互に多層に積層された多層配線部4が形成されて
おり、かつ薄膜配線導体層3の一部は導電層6と電気的
に接続している。
【0024】前記多層配線部4を構成する有機樹脂絶縁
層2は上下に位置する薄膜配線導体層3の電気的絶縁を
図る作用をなし、薄膜配線導体層3は電気信号を伝達す
るための伝達路として作用する。
【0025】前記多層配線部4の有機樹脂絶縁層2はエ
ポキシ樹脂、ビスマレイミドトリアジン樹脂、ポリフェ
ニレンエーテル樹脂、ふっ素樹脂等から成り、例えば、
エポキシ樹脂から成る場合、ビスフェノールA型エポキ
シ樹脂、ノボラック型エポキシ樹脂、グリシジルエステ
ル型エポキシ樹脂等にアミン系硬化剤、イミダゾール系
硬化剤、酸無水物系硬化剤等の硬化剤を添加混合してペ
ースト状のエポキシ樹脂前駆体を得るとともに該エポキ
シ樹脂前駆体を基板1の上部にスピンコート法により1
0〜80μm程度の厚みに被着させ、しかる後、これを
約80〜200℃の熱で0.5〜3時間熱処理し、熱硬
化させることによって形成される。
【0026】前記有機樹脂絶縁層2はその厚みが10〜
80μm程度と厚いことから有機樹脂絶縁層2を間に挟
んで上下に位置する薄膜配線導体層3はその電気的絶縁
が完全となり、多層配線基板としての信頼性が極めて高
いものとなる。
【0027】また前記有機樹脂絶縁層2はその各々の所
定位置に直径が20〜300μm程度のスルーホール8
が形成されており、該スルーホール8は後述する有機樹
脂絶縁層2を挟んで上下に位置する薄膜配線導体層3の
各々を電気的に接続するスルーホール導体9を形成する
ための形成孔として作用する。
【0028】前記有機樹脂絶縁層2に設けるスルーホー
ル8は例えば、フォトリソグラフィー技術を採用するこ
とによって、具体的には有機樹脂絶縁層2上にレジスト
材を塗布するとともにこれに露光、現像を施すことによ
って所定位置に所定形状の窓部を形成し、次に前記レジ
スト材の窓部にエッチング液を配し、レジスト材の窓部
に位置する有機樹脂絶縁層2を除去して、有機樹脂絶縁
層2に穴(スルーホール)を形成し、最後に前記レジス
ト材を有機樹脂絶縁層2上より剥離させ除去することに
よって行われる。
【0029】なお、前記有機樹脂絶縁層2に設けるスル
ーホール8は、後述するスルーホール8が形成される領
域に位置する下方の薄膜配線導体層3の厚みが部分的に
厚くしてあり、これによってスルーホール8の形成部に
おける有機樹脂絶縁層2の厚みは5〜20μm程度に薄
くなり、有機樹脂絶縁層2にフォトリソグラフィー技術
を採用することによってスルーホール8を形成した場
合、エッチング液による有機樹脂絶縁層2の除去が短時
間となり、スルーホール8を所望する鮮明な形状に形成
することが可能となるとともにスルーホール8の下部に
有機樹脂絶縁層の一部が残ることはなくなる。
【0030】更に前記各有機樹脂絶縁層2の上面には所
定パターンの薄膜配線導体層3が、また各有機樹脂絶縁
層2に設けたスルーホール8の内壁にはスルーホール導
体9が各々配設されており、スルーホール導体9によっ
て間に有機樹脂絶縁層2を挟んで上下に位置する各薄膜
配線導体層3の各々が電気的に接続されるようになって
いる。
【0031】前記各有機樹脂絶縁層8の上面及びスルー
ホール8内に配設される薄膜配線導体層3及びスルーホ
ール導体9は銅、ニッケル、金、アルミニウム等の金属
材料を無電解めっき法や蒸着法、スパッタリング法等の
薄膜形成技術及びエッチング加工技術を採用することに
よって厚さ1μm〜40μm程度に形成され、例えば、
銅で形成されている場合には、有機樹脂絶縁層2の上面
及びスルーホール8の内壁面に硫酸銅0.06モル/リ
ットル、ホルマリン0.3モル/リットル、水酸化ナト
リウム0.35モル/リットル、エチレンジアミン四酢
酸0.35モル/リットルからなる無電解銅めっき浴を
用いて厚さ1μm〜40μmの銅層を被着させ、しかる
後、前記銅層をエッチング加工技術を採用することによ
り所定パターンに加工することによって各有機樹脂絶縁
層2間及び各有機樹脂絶縁層2のスルーホール8内壁に
配設される。この場合、薄膜配線導体層3は薄膜形成技
術により形成されることから配線の微細化が可能であ
り、これによって薄膜配線導体層3を極めて高密度に形
成することが可能となる。
【0032】また前記薄膜配線導体層3はスルーホール
8の開口部に対応する領域における厚みが5〜75μm
程度に厚くしてあり、これによって前述した通りスルー
ホール8を所望する鮮明な形状に形成することが可能と
なるとともにスルーホール8の下部に有機樹脂絶縁層の
一部が残ることはなくなり、スルーホール8の内壁全面
にスルーホール導体9を被着形成することが可能となっ
て有機樹脂絶縁層2を間に挟んで上下に位置する薄膜配
線導体層3を確実、強固に電気的接続することができ
る。
【0033】前記薄膜配線導体層3のスルーホール8開
口部に対応する領域における厚みを5〜75μm程度に
厚くする方法としては、薄膜配線導体層3の一部(スル
ーホール8が形成される領域)に部分的に銅、ニッケ
ル、金、アルミニウム等の金属材料を無電解めっき法や
蒸着法、スパッタリング法等の薄膜形成技術を採用する
ことによって再度被着させる、或いは薄膜配線導体層3
全体を5〜75μm程度に厚く被着させておき、しかる
後、該薄膜配線導体層3の表面を一部(スルーホール8
が形成される領域)を除き、エッチング等で1μm〜4
0μm程度に薄くなるように除去することによって行わ
れる。
【0034】なお、前記有機樹脂絶縁層2と薄膜配線導
体層3とを交互に多層に積層して形成される多層配線部
4は基板1に設けた貫通孔5が有機樹脂充填体7で完全
に埋められていることから基板1の上面に有機樹脂絶縁
層2を形成しても該有機樹脂絶縁層2はその平坦化が維
持され、各有機樹脂絶縁層2上に形成される薄膜配線導
体層3に断線等が発生するのを有効に防止することが可
能となる。
【0035】また前記有機樹脂絶縁層2と薄膜配線導体
層3とを交互に多層に積層して形成される多層配線部4
は各有機樹脂絶縁層2の上面を中心線平均粗さ(Ra)
で0.05μm≦Ra≦5μmの粗面としておくと有機
樹脂絶縁層2と薄膜配線導体層3との接合及び上下に位
置する有機樹脂絶縁層2同士の接合を強固となすことが
できる。従って、前記多層配線部4の各有機樹脂絶縁層
2はその上面をエッチング加工法等によって粗し、中心
線平均粗さ(Ra)で0.05μm≦Ra≦5μmの粗
面としておくこが好ましい。
【0036】更に前記多層配線部4の各薄膜配線導体層
3はその厚みが1μm未満となると各薄膜配線導体層3
の電気抵抗が大きなものとなって各薄膜配線導体層3に
所定の電気信号を伝達させることが困難なものとなり、
また40μmを超えると薄膜配線導体層3を有機樹脂絶
縁層2に被着させる際、薄膜配線導体層3内に大きな応
力が内在し、該内在応力によって薄膜配線導体層3が有
機樹脂絶縁層2より剥離し易いものとなる。従って、前
記多層配線部4の各薄膜配線導体層3の厚みは1μm〜
40μmの範囲としておくことが好ましい。
【0037】かくして、本発明の多層配線基板によれ
ば、基板1の上面に被着させた多層配線部4上に半導体
素子や容量素子、抵抗器等の電子部品Aを搭載実装さ
せ、電子部品の各電極を薄膜配線導体層3に電気的に接
続させることによって半導体装置や混成集積回路装置と
なり、基板1の下面に被着されている導電層6を外部電
気回路に接続すれば半導体装置や混成集積回路装置は外
部電気回路に電気的に接続されることとなる。
【0038】なお、本発明は上述した実施例に限定され
るものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲であれ
ば種々の変更は可能であり、例えば、上述の実施例にお
いては基板1の上面のみに有機樹脂絶縁層2と薄膜配線
導体層3とから成る多層配線部4を設けたが、多層配線
部4を基板1の下面側のみに設けても、上下の両面に設
けてもよい。
【0039】
【発明の効果】本発明の多層配線基板によれば、有機樹
脂絶縁層のスルーホールが形成される領域に位置する薄
膜配線導体層の厚みを厚くしたことからその分スルーホ
ール形成部における有機樹脂絶縁層の厚みが薄くなり、
その結果、有機樹脂絶縁層にフォトリソグラフィー技術
を採用することによってスルーホールを形成した場合、
エッチング液による有機樹脂絶縁層の除去が短時間とな
り、スルーホールを所望する鮮明な形状に形成すること
が可能となるとともにスルーホールの下部に有機樹脂絶
縁層の一部が残ることはなく、これによってスルーホー
ル導体を介して有機樹脂絶縁層を間に挟んで上下に位置
する薄膜配線導体層を確実、強固に電気的接続すること
ができる。
【0040】また薄膜配線導体層の厚みが厚い領域は有
機樹脂絶縁層のスルーホールが形成される領域のみであ
り、その他の領域は厚みが薄い。そのため有機樹脂絶縁
層を間に挟んで上下に位置する薄膜配線導体層は、間に
配される有機樹脂絶縁層の厚みが十分厚いものとなって
電気的絶縁が完全となり、多層配線基板としての信頼性
が極めて高いものとなる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の多層配線基板の一実施例を示す断面図
である。
【符号の説明】
1・・・・基板 2・・・・有機樹脂絶縁層 3・・・・薄膜配線導体層 4・・・・多層配線部 8・・・・スルーホール 9・・・・スルーホール導体

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板上に、スルーホールを有する有機樹脂
    絶縁層と薄膜配線導体層とを交互に多層に積層するとと
    もに有機樹脂絶縁層を間に挟んで下方に位置する薄膜配
    線導体層のスルーホール開口部に露出する領域と上方に
    位置する薄膜配線導体層とをスルーホールの内壁に形成
    したスルーホール導体を介して電気的に接続して成る多
    層配線基板であって、前記薄膜配線導体層のスルーホー
    ル開口部に露出する領域の厚みが他の領域の厚みより厚
    いことを特徴とする多層配線基板。
JP31701497A 1997-11-18 1997-11-18 多層配線基板 Pending JPH11150370A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007220893A (ja) * 2006-02-16 2007-08-30 Nippon Mektron Ltd 多層回路基板およびその製造方法

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