JPH11109887A - 液晶表示パネル及びその製造方法 - Google Patents

液晶表示パネル及びその製造方法

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JPH11109887A
JPH11109887A JP27165197A JP27165197A JPH11109887A JP H11109887 A JPH11109887 A JP H11109887A JP 27165197 A JP27165197 A JP 27165197A JP 27165197 A JP27165197 A JP 27165197A JP H11109887 A JPH11109887 A JP H11109887A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 製造時に静電気による破損を防止するととも
に、バスラインの断線及び短絡を確実に検出できる液晶
表示パネルを提供する。 【解決手段】 バスライン21に接続された駆動用端子
24の下方に、保護配線13に接続された容量電極15
を形成する。駆動用端子24と容量電極15とにより構
成される容量Cにより、製造時に発生する静電気による
破損が回避される。また、画素電極と同一材料により形
成された高抵抗配線33により、各駆動用端子24と保
護配線13とを接続する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、製造時に発生する
静電気による破損を防止し、バスラインの断線及び短絡
を高精度で検出可能とした液晶表示パネル及びその製造
方法に関する。
【0002】
【従来の技術】液晶表示パネルは、薄くて軽量であると
ともに低電圧で駆動できて消費電力が少ないという長所
があり、近年、パーソナルコンピュータのディスプレイ
やテレビ等に広く使用されるようになった。一般的なT
N(Twisted Nematic )型液晶表示パネルは、2枚の透
明ガラス基板の間に液晶を封入した構造を有している。
それらのガラス基板の相互に対向する2つの面(対向
面)のうち、一方の面側にはブラックマトリクス、カラ
ーフィルタ、対向電極及び配向膜等が形成され、また他
方の面側にはTFT(薄膜トランジスタ)、画素電極及
び配向膜等が形成されている。更に各ガラス基板の対向
面と反対側の面には、それぞれ偏光板が貼り付けられて
いる。これらの2枚の偏光板は、例えば偏光板の偏光軸
が互いに直交するように配置され、これによれば、電界
をかけない状態では光を透過し、電界を印加した状態で
は遮光するモード、すなわちノーマリーホワイトモード
となる。また、2枚の偏光板の偏光軸が平行な場合に
は、電界をかけない状態では光を遮光し、電界を印加し
た状態では透過するモード、すなわちノーマリーブラッ
クモードとなる。
【0003】ところで、液晶表示パネルの製造歩留まり
を向上させるために、2枚の基板を組み合わせてパネル
を形成する前に検査を行って、欠陥がある場合には欠陥
部分を修正する必要がある。図7は、従来の液晶表示パ
ネルの検査方法を示す模式図である。検査対象となるガ
ラス基板50上には、複数本のドレインバスライン53
及び複数本のゲートバスライン54が形成されている。
各ドレインバスライン53は相互に平行に配置されてお
り、各ゲートバスライン54はドレインバスライン53
に直角に交差して配置されている。これらのドレインバ
スライン53及びゲートバスライン54により区画され
た矩形状の各画素領域にはITO(インジウム酸化ス
ズ)からなる画素電極(図示せず)が形成されている。
【0004】各ドレインバスライン53の一方の端部は
駆動用端子55に接続され、他方の端部は検査用端子5
6に接続されている。駆動用端子55は基板50の一辺
に沿って直線状に配列されている。これらの駆動用端子
55の外側には、静電気によるドレインバスライン53
の損傷を防ぐための保護配線51aが形成されており、
各駆動用端子55はこの保護配線51aに電気的に接続
されている。
【0005】これと同様に、各ゲートバスライン54の
一方の端部は駆動用端子57に接続され、他方の端部は
検査用端子58に接続されている。駆動用端子57は基
板50の他の辺に沿って直線状に配列されており、これ
らの駆動用端子57の外側には、保護配線51bが形成
されている。各駆動用端子57は保護配線51bに電気
的に接続されている。保護配線51aと保護配線51b
とは、保護配線間抵抗素子52を介して接続されてい
る。
【0006】液晶表示装置の製造工程において、図7に
示すように形成した基板を検査する場合、検査用端子5
6,58にプローブを接触させて、各端子56,58間
の抵抗値及び電流値を計測する。これにより、断線及び
短絡等の欠陥の有無を調べる。そして、欠陥が検出され
たときは欠陥を修復し、欠陥が検出されないときは検査
用端子55,57と保護配線51a,51bとの間を切
断して対向電極及びカラーフィルタが形成された基板と
組み合わせ、パネルを形成する。その後、パネル内に液
晶を封入し、駆動用端子56,58に駆動用回路基板を
接続する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の方法では、駆動用端子55は保護配線51aに
接続され、駆動用端子57は保護端子51bに接続され
ているので、例えば駆動用端子55の近傍で隣接する2
本のドレインバスライン53間に短絡が発生したとする
と、抵抗値の変化が小さく短絡を検出できないことがあ
る。
【0008】本発明の目的は、製造時に静電気による破
損を防止するとともに、バスラインの断線及び短絡を確
実に検出できる液晶表示パネル及びその製造方法を提供
することである。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記した課題は、透明基
板と、前記透明基板上に形成されて該透明基板上の領域
を複数の画素領域に区画する複数本のバスラインと、前
記画素領域上に配置された透明画素電極と、前記複数本
のバスラインの各一端側に接続された駆動用端子及び各
他端側に接続された検査用端子と、前記駆動用端子の上
方又は下方に配置されて該駆動用端子とともに容量を構
成する容量電極と、前記容量電極に接続された保護配線
と、前記保護配線の材料に比べて高抵抗の材料からな
り、前記駆動用端子と前記保護配線とを接続する高抵抗
配線とを有することを特徴とする液晶表示パネルにより
解決する。
【0010】上記した課題は、透明基板上に第1の導電
膜を形成し、該第1の導電膜をパターニングしてゲート
バスラインと、容量電極と、該容量電極に接続した保護
配線とを形成する工程と、前記透明基板上の全面に第1
の絶縁膜を形成する工程と、前記第1の絶縁膜上に第2
の導電膜を形成し、該第2の導電膜をパターニングして
ドレインバスラインと、該ドレインバスラインの一端に
接続するとともに前記容量端子に対向する駆動用端子
と、前記ドレインバスラインの他端に接続する検査用端
子とを形成する工程と、前記透明基板上の全面に第2の
絶縁膜を形成する工程と、前記第2の絶縁膜に、前記駆
動用端子に連絡する第1のコンタクトホールと、前記検
査用端子に連絡する第2のコンタクトホールと、前記保
護配線に連絡する第3のコンタクトホールとを開孔する
工程と、前記透明基板の全面にインジウム酸化スズから
なる透明導電膜を形成する工程と、前記透明導電膜をパ
ターニングして画素電極を形成するとともに、前記保護
配線及び前記駆動用端子に接続する高抵抗配線を形成す
る工程とを有することを特徴とする液晶表示パネルの製
造方法により解決する。
【0011】以下、本発明の作用について説明する。本
発明の液晶表示パネルにおいては、駆動用端子の上方又
は下方に容量電極が形成され、この容量電極と前記駆動
用端子との間で容量を構成する。また、前記容量電極は
保護配線に接続されている。これにより、液晶表示パネ
ルの製造工程において、静電気の影響によりバスライン
に電荷が蓄積されても、バスラインに蓄積された電荷は
駆動用端子と容量電極とにより構成される容量を介して
保護配線に流れ、静電気によるバスラインの破損が回避
される。
【0012】また、本発明の液晶表示パネルにおいて
は、各バスライン間が高抵抗配線を介して接続されてい
る。このため、隣接する検査用端子間の抵抗値を測定す
ると、正常な場合はバスラインの抵抗値と高抵抗配線の
抵抗値とを加算した値となる。一方、隣接するバスライ
ン間に短絡が発生すると、隣接する検査用端子間の抵抗
値は少なくとも高抵抗配線の抵抗値分だけ小さくなり、
短絡の発生を確実に検出することができる。また、隣接
するバスラインのいずれか一方に断線が発生したは、隣
接する検査用端子間の抵抗値が無限大となり、断線の発
生を検出することができる。
【0013】このように、本発明の液晶表示パネルは、
製造時の静電気による破損を防止できるとともに、検査
時に短絡及び断線を確実に検出することができる。ま
た、本発明方法においては、ゲートバスラインとともに
容量電極及び保護配線を形成し、ドレインバスラインと
ともに駆動用端子を形成し、画素電極とともに高抵抗配
線を形成するので、製造工程の増加を回避しつつ、上記
構成の液晶表示パネルを製造できる。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、添付の図面を参照して説明する。図1〜図3は本発
明の実施の形態の液晶表示パネルの製造方法を工程順に
示す図、図4は同じくその製造方法により製造された液
晶表示パネルを示す模式的斜視図である。
【0015】まず、図1に示すように、ガラス基板10
上にCrをスパッタリングしてCr層を約2500Åの
厚さに形成し、このCr層をパターニングして、相互に
平行に配置された複数本のゲートバスライン11と、ゲ
ートバスライン11に接続するゲート電極12と、表示
領域の外側に配置された保護配線13と、保護配線13
に接続した容量電極15とを形成する。
【0016】次に、基板10上の全面にSiNからなる
絶縁層(図示せず)を約4000Åの厚さに形成する。
そして、ゲート電極12の上方にTFTの活性層となる
シリコン層(図示せず)を選択的に形成する。次に、図
2に示すように、基板10上の全面にTiをスパッタリ
ングして厚さが約2000ÅのTi層を形成し、このT
i層をパターニングして、ゲートバスライン11に直交
する複数本のドレインバスライン21と、ドレイン電極
22と、ソース電極23と、ドレインバスライン21の
一端側に接続する駆動用端子24と、ドレインバスライ
ン21の他端側に接続する検査用端子25とを形成す
る。この場合、ドレイン電極22及びソース電極23は
ゲート電極12を挟んで配置され、ドレイン電極22は
ドレインバスライン21に接続される。また、駆動用端
子24とその下方の容量電極15及び両者の間の絶縁膜
とにより容量C(図4参照)が形成される。
【0017】次に、CVD法により、基板10上の全面
に例えばSiNからなる絶縁膜(図示せず)を形成す
る。そして、RIE(反応性イオンエッチング)法によ
り、この絶縁膜に、ソース電極23に連絡するコンタク
トホール(図示せず)、駆動用端子24に連絡するコン
タクトホール26a(図4参照)、検査用端子25に連
絡するコンタクトホール26b(図4参照)及び保護配
線13に連絡するコンタクトホール26cを開孔する。
【0018】次に、基板10上の全面にITO膜を約5
0nmの厚さに形成する。このITO膜はコンタクトホ
ール26a〜26c等を介してソース電極23、端子2
4,25及び保護配線13に電気的に接続される。次い
で、ITO膜をパターニングして、図3に示すように、
画素電極31、端子保護膜32、高抵抗配線33を形成
する。画素電極31はコンタクトホール(図示せず)を
介してソース電極23に電気的に接続され、端子保護膜
32はコンタクトホール26bを介して検査用端子25
に接続され、高抵抗配線33はコンタクトホール26a
を介して駆動用端子24に接続されるとともに、コンタ
クトホール26cを介して保護配線13に電気的に接続
される。
【0019】このようにして形成された液晶表示パネル
の基板において、パネルに組み立てる前に検査を行う。
この検査は、例えば隣接する端子間の抵抗値を測定する
ことにより行う。図5は隣接するドレインバスライン2
1間の欠陥を検査する際の等価回路を示す図である。但
し、この図5において、25a,25bは隣接するドレ
インバスライン21に接続された検査用端子であり、2
6a,26bは同じくその隣接するドレインバスライン
21に接続された駆動用端子である。また、R0 はドレ
インバスライン21の抵抗値を示し、Rは端子24a,
24b間の高抵抗配線33の抵抗値を示す。
【0020】ドレインバスライン21が正常な場合、検
査用端子25a,25b間の抵抗値は、(2×R0 +
R)となる。これに対し、図6に示すように、隣接する
ドレインバスライン21間が短絡しているときは、検査
用端子25a,25bから短絡箇所までのドレインバス
ライン21の抵抗値をR1 とすると、検査用端子25
a,25b間の抵抗値は(2×R1 )であり、正常なと
きに比べて抵抗値は著しく小さくなる。また、隣接する
ドレインバスライン21の少なくとも一方が断線してい
る場合は、端子25a,25b間の抵抗値は無限大にな
る。
【0021】このように、本実施の形態によれば、隣接
する検査用端子25間の抵抗値を測定することにより、
ゲートバスライン21の断線及び短絡を確実に検出する
ことができる。また、本実施の形態においては、前述の
如く、端子24とその下方の端子15とにより構成され
る容量Cを介してドレインバスライン21と保護配線1
3とを容量結合するので、高抵抗配線33によりドレイ
ンバスライン21と保護配線13とを接続する前の状態
においても、静電気によるドレインバスライン21の破
損を防止することができる。
【0022】なお、上述の実施の形態においては、容量
電極15をゲートバスライン11と同時に形成し、高抵
抗配線33を画素電極31と同時に形成する場合につい
て説明したが、容量電極15をゲートバスライン11と
は別工程で形成し、高抵抗配線33を画素電極31とは
別工程で形成してもよい。また、上述の実施の形態にお
いては、ドレインバスライン21の端部に接続された駆
動用端子とその下方に配置された容量電極との間で容量
を形成する場合について説明したが、駆動用端子の上方
に容量電極を形成してもよい。更に、ゲートバスライン
の駆動用端子の上方又は下方にも容量電極を形成するこ
とにより、静電気によるゲートバスラインの破損を防止
することができる。
【0023】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の液晶表示
パネルによれば、駆動用端子の上方又は下方に配置され
て前記駆動用端子とともに容量を構成する容量電極と、
保護配線と、前記駆動用端子と前記保護配線とを接続す
る高抵抗配線とを有するので、静電気が前記容量を介し
て前記保護配線に流れ、静電気によるバスラインの破損
を回避できる。また、前記高抵抗配線を介して各バスラ
インが接続されているので、短絡時の抵抗の変化が大き
く、バスラインの断線だけでなく、短絡の発生を確実に
検出することができる。
【0024】また、本発明の液晶表示パネルの製造法方
によれば、ゲートバスラインと同時に容量電極及び保護
配線を形成し、画素電極と同時に高抵抗配線を形成する
ので、製造工程数の増加を抑制しつつ、上記の液晶表示
パネルを形成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態の液晶表示パネルの製造方
法を示す図(その1)である。
【図2】本発明の実施の形態の液晶表示パネルの製造方
法を示す図(その2)である。
【図3】本発明の実施の形態の液晶表示パネルの製造方
法を示す図(その3)である。
【図4】本発明の実施の形態の液晶表示パネルを示す模
式的斜視図である。
【図5】隣接するドレインバスライン間の欠陥を検査す
る際の等価回路を示す図である。
【図6】隣接するドレインバスライン間に短絡が発生し
た場合の等価回路を示す図図である。
【図7】従来の液晶表示パネルを示す模式図である。
【符号の説明】
10,50 ガラス基板 11,54 ゲートバスライン 13,51a,51b 保護配線 15 容量電極 21,53 ドレインバスライン 24,55,57 駆動用端子 25,56,58 検査用端子 26a,26b,26c コンタクトホール 31 画素電極 32 端子保護膜 33 高抵抗配線

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 透明基板と、 前記透明基板上に形成されて該透明基板上の領域を複数
    の画素領域に区画する複数本のバスラインと、 前記画素領域上に配置された透明画素電極と、 前記複数本のバスラインの各一端側に接続された駆動用
    端子及び各他端側に接続された検査用端子と、 前記駆動用端子の上方又は下方に配置されて該駆動用端
    子とともに容量を構成する容量電極と、 前記容量電極に接続された保護配線と、 前記保護配線の材料に比べて高抵抗の材料からなり、前
    記駆動用端子と前記保護配線とを接続する高抵抗配線と
    を有することを特徴とする液晶表示パネル。
  2. 【請求項2】 前記高抵抗配線は前記画素電極と同じ材
    料により形成されていることを特徴とする請求項1に記
    載の液晶表示パネル。
  3. 【請求項3】 透明基板上に第1の導電膜を形成し、該
    第1の導電膜をパターニングしてゲートバスラインと、
    容量電極と、該容量電極に接続した保護配線とを形成す
    る工程と、 前記透明基板上の全面に第1の絶縁膜を形成する工程
    と、 前記第1の絶縁膜上に第2の導電膜を形成し、該第2の
    導電膜をパターニングしてドレインバスラインと、該ド
    レインバスラインの一端に接続するとともに前記容量端
    子に対向する駆動用端子と、前記ドレインバスラインの
    他端に接続する検査用端子とを形成する工程と、 前記透明基板上の全面に第2の絶縁膜を形成する工程
    と、 前記第2の絶縁膜に、前記駆動用端子に連絡する第1の
    コンタクトホールと、前記検査用端子に連絡する第2の
    コンタクトホールと、前記保護配線に連絡する第3のコ
    ンタクトホールとを開孔する工程と、 前記透明基板の全面にインジウム酸化スズからなる透明
    導電膜を形成する工程と、 前記透明導電膜をパターニングして画素電極を形成する
    とともに、前記保護配線及び前記駆動用端子に接続する
    高抵抗配線を形成する工程とを有することを特徴とする
    液晶表示パネルの製造方法。
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