JPH10334575A - 光学的情報記録装置 - Google Patents
光学的情報記録装置Info
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- JPH10334575A JPH10334575A JP9146484A JP14648497A JPH10334575A JP H10334575 A JPH10334575 A JP H10334575A JP 9146484 A JP9146484 A JP 9146484A JP 14648497 A JP14648497 A JP 14648497A JP H10334575 A JPH10334575 A JP H10334575A
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- Optics & Photonics (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 簡単な構成で容易に光ディスクの基板厚さを
識別することのできる光学的情報記録装置を実現する。 【解決手段】 光を用いて光学記録媒体への情報の記録
再生消去を行う光学的情報記録装置において、光学記録
媒体の厚さを検出する基板厚センサと、光学記録媒体
へ、情報の記録再生消去を行うための光を照射する光ヘ
ッドに設けられ、基板厚センサの検出結果に応じて光学
記録媒体への照射光の焦点距離を調節する基板厚補正手
段とを有することを特徴とする。
識別することのできる光学的情報記録装置を実現する。 【解決手段】 光を用いて光学記録媒体への情報の記録
再生消去を行う光学的情報記録装置において、光学記録
媒体の厚さを検出する基板厚センサと、光学記録媒体
へ、情報の記録再生消去を行うための光を照射する光ヘ
ッドに設けられ、基板厚センサの検出結果に応じて光学
記録媒体への照射光の焦点距離を調節する基板厚補正手
段とを有することを特徴とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザ光の照射に
より情報の記録再生消去を行う光学的情報記録装置に関
するものである。
より情報の記録再生消去を行う光学的情報記録装置に関
するものである。
【０００２】
【従来の技術】レーザ光を用いた光ディスク記録方式は
大容量記録が可能であり、非接触で高速にアクセスでき
ることから、大容量メモリとして実用化されている。光
ディスクはコンパクトディスクやレーザディスクとして
知られている再生専用型、ユーザが記録できる追記型、
及びユーザで繰り返し記録ができる書き換え型に分類さ
れる。追記型・書き換え型の光ディスクはコンピュータ
の外部メモリ、あるいは文書・画像ファイルとして使用
されている。
大容量記録が可能であり、非接触で高速にアクセスでき
ることから、大容量メモリとして実用化されている。光
ディスクはコンパクトディスクやレーザディスクとして
知られている再生専用型、ユーザが記録できる追記型、
及びユーザで繰り返し記録ができる書き換え型に分類さ
れる。追記型・書き換え型の光ディスクはコンピュータ
の外部メモリ、あるいは文書・画像ファイルとして使用
されている。
【０００３】現在用いられている光ディスクでは、光デ
ィスクで変調を受けて反射されたレーザ光から再生信号
が検出されている。たとえば、再生専用型では、ディス
ク上に形成された凹凸のピットによる反射光量変化を利
用して再生信号を取り出している。追記型では、レーザ
照射によって形成された微小ピットあるいは相変化に伴
う反射光量変化を再生に利用している。
ィスクで変調を受けて反射されたレーザ光から再生信号
が検出されている。たとえば、再生専用型では、ディス
ク上に形成された凹凸のピットによる反射光量変化を利
用して再生信号を取り出している。追記型では、レーザ
照射によって形成された微小ピットあるいは相変化に伴
う反射光量変化を再生に利用している。
【０００４】また、書き換え型の一つである光磁気ディ
スクでは、記録膜が持つ磁気光学効果を利用して記録膜
の磁化状態が偏光面の変化として読み出される。もうひ
とつの書き換え型である相変化光ディスクでは、追記型
と同様、相変化に起因した反射光最変化を再生に用い
る。
スクでは、記録膜が持つ磁気光学効果を利用して記録膜
の磁化状態が偏光面の変化として読み出される。もうひ
とつの書き換え型である相変化光ディスクでは、追記型
と同様、相変化に起因した反射光最変化を再生に用い
る。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従来から、光ディスク
では、ＣＤやＣＤ−ＲＯＭに代表されるように、基板厚
さ１．２ｍｍのディスクが使用されてきた。しかしなが
ら、近年、ＤＶＤやＤＶＤ−ＲＯＭ、書き換え型のＤＶ
Ｄ−ＲＡＭに代表される高密度型光ディスクが登場・提
案され、できるだけ高密度での記録再生消去を実現する
ためにレーザを短波長化して開口数の大きいレンズで集
光する方法が使われはじめ、そこには基板傾きに伴う収
差低減のために０．６ｍｍ厚さの基板が採用されるに至
っている。また、光磁気記録を使った磁界変調型の光磁
気ディスク（ＨＳ方式）では、０．８ｍｍ厚さの基板が
使用されている。
では、ＣＤやＣＤ−ＲＯＭに代表されるように、基板厚
さ１．２ｍｍのディスクが使用されてきた。しかしなが
ら、近年、ＤＶＤやＤＶＤ−ＲＯＭ、書き換え型のＤＶ
Ｄ−ＲＡＭに代表される高密度型光ディスクが登場・提
案され、できるだけ高密度での記録再生消去を実現する
ためにレーザを短波長化して開口数の大きいレンズで集
光する方法が使われはじめ、そこには基板傾きに伴う収
差低減のために０．６ｍｍ厚さの基板が採用されるに至
っている。また、光磁気記録を使った磁界変調型の光磁
気ディスク（ＨＳ方式）では、０．８ｍｍ厚さの基板が
使用されている。
【０００６】このように、類似の形態を有する光ディス
クの中で、基板厚さが異なる光ディスクが２種類以上登
場するという状況になっている。
クの中で、基板厚さが異なる光ディスクが２種類以上登
場するという状況になっている。
【０００７】ディスクユーザの立場では、１つのディス
クドライブで複数の種類のディスクに対して記録再生消
去ができることが望ましく、基板厚さの異なるディスク
であっても同一のドライブで記録再生消去できることが
好ましい。ところが、光ディスクでは、ディスク基板を
通してレーザ光を集光しているために、基板厚さが異な
ると、同一の集光レンズでは良好に集光することができ
ないという問題点があった。
クドライブで複数の種類のディスクに対して記録再生消
去ができることが望ましく、基板厚さの異なるディスク
であっても同一のドライブで記録再生消去できることが
好ましい。ところが、光ディスクでは、ディスク基板を
通してレーザ光を集光しているために、基板厚さが異な
ると、同一の集光レンズでは良好に集光することができ
ないという問題点があった。
【０００８】上記の問題点に対応できるように、基板厚
さを補正する手段を有する光ヘッドの提案がある。例え
ば、特開平８−２３５６３０号公報には、ディスクトレ
イ内に基板厚さを補正する補正板を配置した光ディスク
装置が提案されている。
さを補正する手段を有する光ヘッドの提案がある。例え
ば、特開平８−２３５６３０号公報には、ディスクトレ
イ内に基板厚さを補正する補正板を配置した光ディスク
装置が提案されている。
【０００９】また、特開平８−１３８２６２号公報に
は、光学ピックアップ装置の対物レンズとレーザダイオ
ード間に可変開口機構を設けて集光特性を補正した光学
ピックアップ装置が提案されている。また、特開平７−
６５４０９号には、対物レンズとレーザダイオード間に
凸レンズを設けて集光特性を補正した光情報記録再生装
置が提案されている。
は、光学ピックアップ装置の対物レンズとレーザダイオ
ード間に可変開口機構を設けて集光特性を補正した光学
ピックアップ装置が提案されている。また、特開平７−
６５４０９号には、対物レンズとレーザダイオード間に
凸レンズを設けて集光特性を補正した光情報記録再生装
置が提案されている。
【００１０】また、特開平７−１０５５６６号公報や特
開平６−２８２８６６号公報には、対物レンズと光ディ
スク間の収束光路中に屈折率あるいは厚さが可変できる
部材や透明板を配置した光ピックアップ装置・光ディス
ク装置が提案されている。
開平６−２８２８６６号公報には、対物レンズと光ディ
スク間の収束光路中に屈折率あるいは厚さが可変できる
部材や透明板を配置した光ピックアップ装置・光ディス
ク装置が提案されている。
【００１１】また、特開平４−９５２２４号公報には、
複数の集束光学系を持つ光ディスク装置が提案されてい
る。
複数の集束光学系を持つ光ディスク装置が提案されてい
る。
【００１２】しかしながら、ディスク基板厚が異なる光
ディスクの識別方法については、カートリッジを使用し
たディスクの場合には、カートリッジケースに設けられ
た識別孔を使う方法（特開平７−６５４０９号公報、特
開平４−９５２２４号公報）や光ディスクに記載された
バーコードによる基板厚み情報を読み取る方法（特開平
８−１３８２６２号公報）が記述されているのみであ
り、例えば、カートリッジに収納されていないディスク
の場合や、バーコード情報が記載されていないディスク
の場合には、ディスクの基板厚を容易に検出できないと
いう問題点があった。
ディスクの識別方法については、カートリッジを使用し
たディスクの場合には、カートリッジケースに設けられ
た識別孔を使う方法（特開平７−６５４０９号公報、特
開平４−９５２２４号公報）や光ディスクに記載された
バーコードによる基板厚み情報を読み取る方法（特開平
８−１３８２６２号公報）が記述されているのみであ
り、例えば、カートリッジに収納されていないディスク
の場合や、バーコード情報が記載されていないディスク
の場合には、ディスクの基板厚を容易に検出できないと
いう問題点があった。
【００１３】本発明の目的は上述した従来の技術が有す
る問題点を解決し、簡単な構成で容易に光ディスクの基
板厚さを識別することのできる光学的情報記録装置を実
現することにある。
る問題点を解決し、簡単な構成で容易に光ディスクの基
板厚さを識別することのできる光学的情報記録装置を実
現することにある。
【００１４】
【課題を解決するための手段】本発明にかかる光学的情
報記録装置は、光を用いて光学記録媒体への情報の記録
再生消去を行う光学的情報記録装置において、前記光学
記録媒体の厚さを検出する基板厚センサと、前記光学記
録媒体へ、情報の記録再生消去を行うための光を照射す
る光ヘッドに設けられ、前記基板厚センサの検出結果に
応じて前記光学記録媒体への照射光の焦点距離を調節す
る基板厚補正手段とを有することを特徴とする。
報記録装置は、光を用いて光学記録媒体への情報の記録
再生消去を行う光学的情報記録装置において、前記光学
記録媒体の厚さを検出する基板厚センサと、前記光学記
録媒体へ、情報の記録再生消去を行うための光を照射す
る光ヘッドに設けられ、前記基板厚センサの検出結果に
応じて前記光学記録媒体への照射光の焦点距離を調節す
る基板厚補正手段とを有することを特徴とする。
【００１５】この場合、基材厚センサは、少なくとも、
光源と、光源から出射された光を光学記録媒体に照射す
る第一の光学系と、前記光学記録媒体からの反射光を受
光素子に導く第二の光学系と、受光素子とを備える変位
センサであるとしてもよい。また、基材厚センサが駆動
系近傍に設置され、光学記録媒体からの反射光を受光す
る構成であるとしてもよい。
光源と、光源から出射された光を光学記録媒体に照射す
る第一の光学系と、前記光学記録媒体からの反射光を受
光素子に導く第二の光学系と、受光素子とを備える変位
センサであるとしてもよい。また、基材厚センサが駆動
系近傍に設置され、光学記録媒体からの反射光を受光す
る構成であるとしてもよい。
【００１６】「作用」上記のように構成される本発明に
おいては、基板厚補正手段により、情報の記録再生消去
を行うための光の焦点距離が基板厚センサが検出した基
板厚に応じて調節されるので、常に適切な光によって情
報の記録再生消去を行うことが可能となる。
おいては、基板厚補正手段により、情報の記録再生消去
を行うための光の焦点距離が基板厚センサが検出した基
板厚に応じて調節されるので、常に適切な光によって情
報の記録再生消去を行うことが可能となる。
【００１７】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施態様について
図面を参照して説明する。
図面を参照して説明する。
【００１８】図１は本発明の光学的情報記録装置の一実
施態様の構成を示す図である。本実施態様では、光ディ
スク１をマウントするスピンドルモータ２の近傍に光デ
ィスク１の基板厚さを判定する基板厚センサ３が設置さ
れている。基板厚センサ３は、レーザ光、ＬＥＤ光、あ
るいはランプ光を出射してその反射光を受光し、受光器
の受光位置から反射面と基板厚センサ３との距離を求め
る機能を有する。基板厚センサ３は、光ディスク１に対
して記録再生消去を行うための光ヘッド４とは別に、ス
ピンドルモータ２の横下部に設置されている。光ディス
ク１の最下面は、スピンドルモータ２のディスクマウン
ト面２１と一致するので、ディスクマウント面２１と基
板厚センサ３の位置関係を一定に保っておけば、光ディ
スク１の基板厚さに応じて基板厚センサ３からのセンス
信号３１が変化するので、容易に基板厚さをモニタする
ことができる。なお、光ヘッド４には基板厚が異なる２
種類以上の光ディスク１に対して記録再生消去を可能と
する基板厚補正手段（不図示）が具備される。
施態様の構成を示す図である。本実施態様では、光ディ
スク１をマウントするスピンドルモータ２の近傍に光デ
ィスク１の基板厚さを判定する基板厚センサ３が設置さ
れている。基板厚センサ３は、レーザ光、ＬＥＤ光、あ
るいはランプ光を出射してその反射光を受光し、受光器
の受光位置から反射面と基板厚センサ３との距離を求め
る機能を有する。基板厚センサ３は、光ディスク１に対
して記録再生消去を行うための光ヘッド４とは別に、ス
ピンドルモータ２の横下部に設置されている。光ディス
ク１の最下面は、スピンドルモータ２のディスクマウン
ト面２１と一致するので、ディスクマウント面２１と基
板厚センサ３の位置関係を一定に保っておけば、光ディ
スク１の基板厚さに応じて基板厚センサ３からのセンス
信号３１が変化するので、容易に基板厚さをモニタする
ことができる。なお、光ヘッド４には基板厚が異なる２
種類以上の光ディスク１に対して記録再生消去を可能と
する基板厚補正手段（不図示）が具備される。
【００１９】ここで、基板厚センサ３の構成と基板厚検
出原理について述べる。図２乃至図５のそれぞれは基板
厚センサの構成を示す図であり、図２と図３は同じ基板
厚センサで異なる厚さの光ディスク１の厚さを検出する
状態を示し、図４および図５は図２および図３に示した
基板厚センサとは異なるが、同様に構成された基板厚セ
ンサにより異なる厚さの光ディスク１の厚さを検出する
状態を示している。このため、図２乃至図５では同様に
作用する構成要素については同じ番号を付している。
出原理について述べる。図２乃至図５のそれぞれは基板
厚センサの構成を示す図であり、図２と図３は同じ基板
厚センサで異なる厚さの光ディスク１の厚さを検出する
状態を示し、図４および図５は図２および図３に示した
基板厚センサとは異なるが、同様に構成された基板厚セ
ンサにより異なる厚さの光ディスク１の厚さを検出する
状態を示している。このため、図２乃至図５では同様に
作用する構成要素については同じ番号を付している。
【００２０】基板厚センサ３は、光源３０１、光源から
出射された光を光ディスク１（測定対象物）に照射する
第一の光学系３０２と、受光素子３０４と、光ディスク
１からの反射光を受光素子３０４に導く第二の光学系３
０３と、を具備した一種の変位センサである。
出射された光を光ディスク１（測定対象物）に照射する
第一の光学系３０２と、受光素子３０４と、光ディスク
１からの反射光を受光素子３０４に導く第二の光学系３
０３と、を具備した一種の変位センサである。
【００２１】光源３０１から出射された光３０５は、凸
レンズあるいは凸レンズと凹レンズの組み合わせにより
構成される第一の光学系３０２によって光ディスク１の
基板側から光ディスク１に入射される。このとき、光デ
ィスク１に入射する光３０５は、平行光でも集束光でも
構わないが、ディスク基板材料での吸収が大きな場合に
は、反射光を碓保することができないので、基板での吸
収が少ない波長を選ぶ必要がある。例えば、基板にポリ
カーボネート樹脂や、ガラスが使用される場合には、波
長４００ｎｍから９００ｎｍの範囲の可視光、近赤外光
が使用できる。通常、光ディスクでは、媒体面は、基板
表面に比べて高反射率とされているため、入射光３０５
のほとんどは光ディスク１の媒体面１０１にて反射され
る。ただし、媒体の反射率に波長依存性がある場合は、
できるだけ高反射率となる波長を選択することが望まし
い。
レンズあるいは凸レンズと凹レンズの組み合わせにより
構成される第一の光学系３０２によって光ディスク１の
基板側から光ディスク１に入射される。このとき、光デ
ィスク１に入射する光３０５は、平行光でも集束光でも
構わないが、ディスク基板材料での吸収が大きな場合に
は、反射光を碓保することができないので、基板での吸
収が少ない波長を選ぶ必要がある。例えば、基板にポリ
カーボネート樹脂や、ガラスが使用される場合には、波
長４００ｎｍから９００ｎｍの範囲の可視光、近赤外光
が使用できる。通常、光ディスクでは、媒体面は、基板
表面に比べて高反射率とされているため、入射光３０５
のほとんどは光ディスク１の媒体面１０１にて反射され
る。ただし、媒体の反射率に波長依存性がある場合は、
できるだけ高反射率となる波長を選択することが望まし
い。
【００２２】光ディスク１の媒体面１０１からの反射光
３０６は、第二の光学系３０３によって、受光素子３０
４上に集光される。このときの光学系の構成としては斜
入射または垂直入射の構成が考えられ、いずれを採用し
てもよい。図２及び図３に示す例では、光源３０１が発
生した光３０５を光ディスク１に斜めに入射させ、光デ
ィスク１からの正反射を受光素子３０４が受光するよう
に構成されている。図４及び図５に示す例では、光ディ
スク１に垂直に光を入射させて反射面からの斜め方向の
散乱光を受光するように構成されている。
３０６は、第二の光学系３０３によって、受光素子３０
４上に集光される。このときの光学系の構成としては斜
入射または垂直入射の構成が考えられ、いずれを採用し
てもよい。図２及び図３に示す例では、光源３０１が発
生した光３０５を光ディスク１に斜めに入射させ、光デ
ィスク１からの正反射を受光素子３０４が受光するよう
に構成されている。図４及び図５に示す例では、光ディ
スク１に垂直に光を入射させて反射面からの斜め方向の
散乱光を受光するように構成されている。
【００２３】図４及び図５に示すような垂直入射の光学
系の場合には、反射散乱光をその散乱角度によって規制
することが必要となる。このような規制は、例えば、特
定波長の光３０５を発生する光源３０１を用い、第２の
光学系３０３として、所定の角度で入射された特定波長
の光のみを通過させる透過型グレーティングを使用する
ことで容易に実現することができる。
系の場合には、反射散乱光をその散乱角度によって規制
することが必要となる。このような規制は、例えば、特
定波長の光３０５を発生する光源３０１を用い、第２の
光学系３０３として、所定の角度で入射された特定波長
の光のみを通過させる透過型グレーティングを使用する
ことで容易に実現することができる。
【００２４】受光素子３０４は、受光位置の変化が検出
できるように複数の受光部を持つ素子である。すなわ
ち、光ディスク１の基板の厚さの違いによって受光素子
３０４への入射光の位置が動いた場合に、その位置の変
化を電気信号に変換して出力する。たとえば、複数の受
光部について出力端子を設けておき、どの出力端子に出
力信号が出ているかを判定すれば、受光位置を確認する
ことできる。例えば、基板厚さ１．２ｍｍの光ディスク
１を装置にマウントした場合に受光素子３０４の出力端
子３０４ａに信号が出力され、基板厚さ０．６ｍｍの光
ディスク１を装置にマウントした場合に受光素子３０４
の出力端子３０４ｂに信号が出力されるように、基板厚
センサ１の光学系を設定すれば、容易に光ディスク１の
基板厚さを判定することができる。図２と図３、また
は、図４と図５に示す場合には、光ディスク１の厚さが
異なることから受光素子３０４への入射位置が異なる反
射光３０６、３０７が発生している。これにより、それ
ぞれ異なる出力端子より信号が図１中のセンス信号とし
て基板厚判定回路５へ出力される。
できるように複数の受光部を持つ素子である。すなわ
ち、光ディスク１の基板の厚さの違いによって受光素子
３０４への入射光の位置が動いた場合に、その位置の変
化を電気信号に変換して出力する。たとえば、複数の受
光部について出力端子を設けておき、どの出力端子に出
力信号が出ているかを判定すれば、受光位置を確認する
ことできる。例えば、基板厚さ１．２ｍｍの光ディスク
１を装置にマウントした場合に受光素子３０４の出力端
子３０４ａに信号が出力され、基板厚さ０．６ｍｍの光
ディスク１を装置にマウントした場合に受光素子３０４
の出力端子３０４ｂに信号が出力されるように、基板厚
センサ１の光学系を設定すれば、容易に光ディスク１の
基板厚さを判定することができる。図２と図３、また
は、図４と図５に示す場合には、光ディスク１の厚さが
異なることから受光素子３０４への入射位置が異なる反
射光３０６、３０７が発生している。これにより、それ
ぞれ異なる出力端子より信号が図１中のセンス信号とし
て基板厚判定回路５へ出力される。
【００２５】次に、光ディスク１の基板厚さ判定信号で
あるセンス信号３１と光ヘッドの基板厚補正手段との関
係について述べる。前述したように、光ヘッド４には、
基板厚が異なる２種類以上の光ディスク１に対して記録
再生消去が可能な基板厚補正手段が具備される。基板厚
補正手段としては光ヘッド４中に設けられる構成、例え
ば、光ヘッド４の対物レンズとレーザダイオード間に可
変開口機構を設けた手段でも良い。また、対物レンズと
レーザダイオード間に凸レンズを挿入して集光特性を補
正する手段でも良い。更には、対物レンズと光ディスク
１間の収束光路中に屈折率、あるいは厚さが可変できる
部材や透明板を配置した手段でも良い。いずれにして
も、基板厚補正手段を動作させるには、基板厚を識別す
るセンス信号が必要であり、本願では、この信号が基板
厚センサ３から供給され、基板厚に応じて、集光系を切
り替えて最適な補正が施される。
あるセンス信号３１と光ヘッドの基板厚補正手段との関
係について述べる。前述したように、光ヘッド４には、
基板厚が異なる２種類以上の光ディスク１に対して記録
再生消去が可能な基板厚補正手段が具備される。基板厚
補正手段としては光ヘッド４中に設けられる構成、例え
ば、光ヘッド４の対物レンズとレーザダイオード間に可
変開口機構を設けた手段でも良い。また、対物レンズと
レーザダイオード間に凸レンズを挿入して集光特性を補
正する手段でも良い。更には、対物レンズと光ディスク
１間の収束光路中に屈折率、あるいは厚さが可変できる
部材や透明板を配置した手段でも良い。いずれにして
も、基板厚補正手段を動作させるには、基板厚を識別す
るセンス信号が必要であり、本願では、この信号が基板
厚センサ３から供給され、基板厚に応じて、集光系を切
り替えて最適な補正が施される。
【００２６】図６は対物レンズとレーザダイオード間に
凸レンズを挿入して集光特性を補正する構成が採用され
た基板厚補正手段を示す図である。
凸レンズを挿入して集光特性を補正する構成が採用され
た基板厚補正手段を示す図である。
【００２７】レーザダイオード４２にて発生した光は、
コリメートレンズ４４、ビームスプリッタ４５および対
物レンズ４１を通って光ディスク１を照射する。光ディ
スク１の媒体面にて反射された戻り光はビームスプリッ
タ４５により反射し、信号検出系４６に入射して光ディ
スク１の媒体面に記録された情報の再生が行われる。レ
ーザダイオード４２の出射光はコリメートレンズ４４に
より平行な光束に整形され、対物レンズ４１および焦点
距離調整用の凸レンズ４３により光ディスク１の媒体面
に焦点を結ぶように集光される。凸レンズ駆動手段４７
は基板厚補正手段としての凸レンズ駆動手段４７によ
り、図面左右方向に移動可能とされて光路上からの出し
入れが可能に構成されており、これにより、焦点距離が
可変とされている。凸レンズ駆動手段４７は光ヘッド基
板厚補正手段制御回路６より与えられる制御信号に応じ
て凸レンズ４３を移動する。光ヘッド基板厚補正手段制
御回路６は基板厚判定回路５とともに信号処理回路１０
を構成するもので、基板厚センサ３から出力されたセン
ス信号３１に示される光ヘッド４と光ディスク１の間の
距離が基板厚判定回路５によって判定され、光ヘッド基
板厚補正手段制御回路６では該判定結果の距離に焦点を
結ばせる制御信号を生成する。これにより、光ヘッド４
が出力する記録再生消去のための光は常に光ディスク１
の媒体面に焦点を結ぶこととなり、光ディスク１として
厚が異なる複数種類が搭載されても記録再生消去を確実
に行うことが可能となっている。
コリメートレンズ４４、ビームスプリッタ４５および対
物レンズ４１を通って光ディスク１を照射する。光ディ
スク１の媒体面にて反射された戻り光はビームスプリッ
タ４５により反射し、信号検出系４６に入射して光ディ
スク１の媒体面に記録された情報の再生が行われる。レ
ーザダイオード４２の出射光はコリメートレンズ４４に
より平行な光束に整形され、対物レンズ４１および焦点
距離調整用の凸レンズ４３により光ディスク１の媒体面
に焦点を結ぶように集光される。凸レンズ駆動手段４７
は基板厚補正手段としての凸レンズ駆動手段４７によ
り、図面左右方向に移動可能とされて光路上からの出し
入れが可能に構成されており、これにより、焦点距離が
可変とされている。凸レンズ駆動手段４７は光ヘッド基
板厚補正手段制御回路６より与えられる制御信号に応じ
て凸レンズ４３を移動する。光ヘッド基板厚補正手段制
御回路６は基板厚判定回路５とともに信号処理回路１０
を構成するもので、基板厚センサ３から出力されたセン
ス信号３１に示される光ヘッド４と光ディスク１の間の
距離が基板厚判定回路５によって判定され、光ヘッド基
板厚補正手段制御回路６では該判定結果の距離に焦点を
結ばせる制御信号を生成する。これにより、光ヘッド４
が出力する記録再生消去のための光は常に光ディスク１
の媒体面に焦点を結ぶこととなり、光ディスク１として
厚が異なる複数種類が搭載されても記録再生消去を確実
に行うことが可能となっている。
【００２８】
【実施例】次に、本発明の実施例について説明する。
【００２９】実施例１ 図１と同様の構成を持つ光学的情報記録装置を示す。光
ディスク１としてカートリッジに装着されていない１２
０ｍｍ径、１．２ｍｍ厚さのＣＤ−ＲＯＭディスク（単
板）と、１２０ｍｍ径、０．６ｍｍ厚さの基板を貼り合
わせたＤＶＤ−ＲＯＭディスクを用意した。装置自体に
は、内径１５ｍｍのディスクをマウントできるスピンド
ルモータ２と、モータ２の近傍に、光ディスク１の基板
厚さを判定する基板厚センサ３が設置され、ディスクか
らの情報を再生するための光ヘッド４、ならびに、信号
処理回路１０が配備されている。信号処理回路１０は、
図１に示した基板厚判定回路５、ならびに、光ヘッド基
板厚補正手段制御回路６を含み、図１には示さなかった
が、光ヘッド駆動回路、回転制御回路、再生信号処理回
路、サーボ回路、信号記録回路など一連の装置回路を含
む。
ディスク１としてカートリッジに装着されていない１２
０ｍｍ径、１．２ｍｍ厚さのＣＤ−ＲＯＭディスク（単
板）と、１２０ｍｍ径、０．６ｍｍ厚さの基板を貼り合
わせたＤＶＤ−ＲＯＭディスクを用意した。装置自体に
は、内径１５ｍｍのディスクをマウントできるスピンド
ルモータ２と、モータ２の近傍に、光ディスク１の基板
厚さを判定する基板厚センサ３が設置され、ディスクか
らの情報を再生するための光ヘッド４、ならびに、信号
処理回路１０が配備されている。信号処理回路１０は、
図１に示した基板厚判定回路５、ならびに、光ヘッド基
板厚補正手段制御回路６を含み、図１には示さなかった
が、光ヘッド駆動回路、回転制御回路、再生信号処理回
路、サーボ回路、信号記録回路など一連の装置回路を含
む。
【００３０】光ヘッド４には、図６に示したように、基
板厚１．２ｍｍのディスクと、０．６ｍｍのディスクに
対応して、対物レンズ４１とレーザダイオード４２間に
凸レンズ４３を挿入する構成のものを使用した。本実施
例でも、凸レンズ駆動手段４７によって、凸レンズ４３
が出し入れされる。
板厚１．２ｍｍのディスクと、０．６ｍｍのディスクに
対応して、対物レンズ４１とレーザダイオード４２間に
凸レンズ４３を挿入する構成のものを使用した。本実施
例でも、凸レンズ駆動手段４７によって、凸レンズ４３
が出し入れされる。
【００３１】基板厚センサ３としては、波長が７８０ｎ
ｍで出力５ｍＷのレーザを光源３０１として使用し、光
ディスク１への入射角が２５度となり、センサ先端から
対象物までの距離が２８ｍｍから３０ｍｍとなるように
した。受光素子３０４には１方向に４分割された受光部
を持つ素子を使用した。
ｍで出力５ｍＷのレーザを光源３０１として使用し、光
ディスク１への入射角が２５度となり、センサ先端から
対象物までの距離が２８ｍｍから３０ｍｍとなるように
した。受光素子３０４には１方向に４分割された受光部
を持つ素子を使用した。
【００３２】本実施例の場合、信号出力端子は図７に示
すようにａ，ｂ，ｃ，ｄの４端子である。基板厚センサ
３自体はスピンドルモータ２の横下部に設置し、光ディ
スク１の最内周の反射膜が成膜されている半径位置に基
板厚センサ３からの測定光が入射するようにした。ま
た、光ディスク１の最下面はスピンドルモータ２のディ
スクマウント面２１と一致するように、ディスクマウン
ト面を調整した。
すようにａ，ｂ，ｃ，ｄの４端子である。基板厚センサ
３自体はスピンドルモータ２の横下部に設置し、光ディ
スク１の最内周の反射膜が成膜されている半径位置に基
板厚センサ３からの測定光が入射するようにした。ま
た、光ディスク１の最下面はスピンドルモータ２のディ
スクマウント面２１と一致するように、ディスクマウン
ト面を調整した。
【００３３】次に、基板厚さ１．２ｍｍのとき、受光素
子３０４のａ端子から信号が出力され、基板厚さ０．６
ｍｍのときには、受光素子３０４のｃ端子から信号が出
力されるように調整した。続いて、ａ端子からの信号と
ｃ端子からの信号を用いて動作するように、図１の回路
構成によって凸レンズ４３を駆動した。すなわち、ｃ端
子からの出力がある場合のみ、光ヘッドの凸レンズ駆動
系４７に駆動信号が出されて凸レンズ４３が挿入される
構成であり、ｃ端子の出力がない場合には、駆動系のバ
ネによって凸レンズ４３が光路から外れるようにした。
子３０４のａ端子から信号が出力され、基板厚さ０．６
ｍｍのときには、受光素子３０４のｃ端子から信号が出
力されるように調整した。続いて、ａ端子からの信号と
ｃ端子からの信号を用いて動作するように、図１の回路
構成によって凸レンズ４３を駆動した。すなわち、ｃ端
子からの出力がある場合のみ、光ヘッドの凸レンズ駆動
系４７に駆動信号が出されて凸レンズ４３が挿入される
構成であり、ｃ端子の出力がない場合には、駆動系のバ
ネによって凸レンズ４３が光路から外れるようにした。
【００３４】ここで、本装置の有効性を確認するため
に、基板厚さ１．２ｍｍのＣＤ−ＲＯＭディスクと、基
板厚０．６ｍｍの貼り合わせ型ＤＶＤ−ＲＯＭディスク
を本装置にマウントした。まず、ＣＤ−ＲＯＭを搭載し
たとき、受光素子３０４のａ端子から検出信号が確認さ
れた。つづいて、基板厚さ０．６ｍｍのＤＶＤ−ＲＯＭ
ディスクを装置にマウントしたところ、このときには、
受光素子３０４のｃ端子から出力が得られた。この両者
の信号によって、ＣＤ−ＲＯＭに対しては光ヘッド４の
凸レンズ４３は光路中に挿入されず、ＤＶＤ−ＲＯＭデ
ィスクに対しては、光ヘッド４の凸レンズ４３が光路中
に挿入され、良好に基板厚補正がなされた。
に、基板厚さ１．２ｍｍのＣＤ−ＲＯＭディスクと、基
板厚０．６ｍｍの貼り合わせ型ＤＶＤ−ＲＯＭディスク
を本装置にマウントした。まず、ＣＤ−ＲＯＭを搭載し
たとき、受光素子３０４のａ端子から検出信号が確認さ
れた。つづいて、基板厚さ０．６ｍｍのＤＶＤ−ＲＯＭ
ディスクを装置にマウントしたところ、このときには、
受光素子３０４のｃ端子から出力が得られた。この両者
の信号によって、ＣＤ−ＲＯＭに対しては光ヘッド４の
凸レンズ４３は光路中に挿入されず、ＤＶＤ−ＲＯＭデ
ィスクに対しては、光ヘッド４の凸レンズ４３が光路中
に挿入され、良好に基板厚補正がなされた。
【００３５】実施例２ 実施例１と同様の構成で、光ヘッドを記録再生型の高出
力ＬＤ（波長６５０ｎｍ：３０ｍＷ出力）搭載のタイプ
に変更した装置を構成した。光ディスク１としてカート
リッジに装着されていない１２０ｍｍ径、１．２ｍｍ厚
さの相変化型光ディスク（市販されているＰＤディスク
をカートリッジから取り出したもの）と、１２０ｍｍ
径、０．６ｍｍ厚さの基板を貼り合わせた相変化型光デ
ィスクを用意した。光ヘッド４には、実施例１と同様
に、基板厚１．２ｍｍのディスクと、０．６ｍｍのディ
スクに対応して、対物レンズとレーザダイオード間に凸
レンズ４３を挿入する構成のものを使用した。
力ＬＤ（波長６５０ｎｍ：３０ｍＷ出力）搭載のタイプ
に変更した装置を構成した。光ディスク１としてカート
リッジに装着されていない１２０ｍｍ径、１．２ｍｍ厚
さの相変化型光ディスク（市販されているＰＤディスク
をカートリッジから取り出したもの）と、１２０ｍｍ
径、０．６ｍｍ厚さの基板を貼り合わせた相変化型光デ
ィスクを用意した。光ヘッド４には、実施例１と同様
に、基板厚１．２ｍｍのディスクと、０．６ｍｍのディ
スクに対応して、対物レンズとレーザダイオード間に凸
レンズ４３を挿入する構成のものを使用した。
【００３６】まず、ＰＤディスクを搭載したとき、受光
素子３０４のａ端子から検出信号が確認された。つづい
て、基板厚さ０．６ｍｍの相変化型光ディスクを装置に
マウントしたところ、このときには、受光素子３０４の
ｃ端子から出力が得られた。この両者の信号によって、
ＰＤディスクに対しては光ヘッド４の凸レンズ４３は光
路中に挿入されず、０．６ｍｍ厚基板の相変化型光ディ
スクに対しては、光ヘッド４の凸レンズ４３が光路中に
挿入され、良好に基板厚補正がなされた。
素子３０４のａ端子から検出信号が確認された。つづい
て、基板厚さ０．６ｍｍの相変化型光ディスクを装置に
マウントしたところ、このときには、受光素子３０４の
ｃ端子から出力が得られた。この両者の信号によって、
ＰＤディスクに対しては光ヘッド４の凸レンズ４３は光
路中に挿入されず、０．６ｍｍ厚基板の相変化型光ディ
スクに対しては、光ヘッド４の凸レンズ４３が光路中に
挿入され、良好に基板厚補正がなされた。
【００３７】実施例３ 実施例１と同様の構成で、光ヘッドを記録再生型の高出
力ＬＤ（波長６５０ｎｍ：３０ｍＷ出力）搭載の他のタ
イプに変更した装置を構成した。光ディスク１としてカ
ートリッジに装着されていない１２０ｍｍ径、１．２ｍ
ｍ厚さの相変化型光ディスク（市販されているＰＤディ
スクをカートリッジから取り出したもの）と、１２０ｍ
ｍ径、０．８ｍｍ厚さの基板を貼り合わせた相変化型光
ディスクを用意した。光ヘッド４には、実施例１と同様
に、基板厚１．２ｍｍのディスクと、０．８ｍｍのディ
スクに対応して、対物レンズとレーザダイオード用に凸
レンズ４３を挿入する構成のものを使用した。
力ＬＤ（波長６５０ｎｍ：３０ｍＷ出力）搭載の他のタ
イプに変更した装置を構成した。光ディスク１としてカ
ートリッジに装着されていない１２０ｍｍ径、１．２ｍ
ｍ厚さの相変化型光ディスク（市販されているＰＤディ
スクをカートリッジから取り出したもの）と、１２０ｍ
ｍ径、０．８ｍｍ厚さの基板を貼り合わせた相変化型光
ディスクを用意した。光ヘッド４には、実施例１と同様
に、基板厚１．２ｍｍのディスクと、０．８ｍｍのディ
スクに対応して、対物レンズとレーザダイオード用に凸
レンズ４３を挿入する構成のものを使用した。
【００３８】まず、ＰＤディスクを搭載したとき、受光
素子３０４のａ端子から検出信号が確認された。つづい
て、基板厚さ０．８ｍｍの相変化型光ディスクを装置に
マウントしたところ、このときには、受光素子３０４の
ｂ端子から出力が得られた。この両者の信号によって、
ＰＤディスクに対しては光ヘッド４の凸レンズ４３は光
路中に挿入されず、０．６ｍｍ厚基板の相変化型光ディ
スクに対しては、光ヘッド４の凸レンズ４３が光路中に
挿入され、良好に基板厚補正がなされた。
素子３０４のａ端子から検出信号が確認された。つづい
て、基板厚さ０．８ｍｍの相変化型光ディスクを装置に
マウントしたところ、このときには、受光素子３０４の
ｂ端子から出力が得られた。この両者の信号によって、
ＰＤディスクに対しては光ヘッド４の凸レンズ４３は光
路中に挿入されず、０．６ｍｍ厚基板の相変化型光ディ
スクに対しては、光ヘッド４の凸レンズ４３が光路中に
挿入され、良好に基板厚補正がなされた。
【００３９】実施例４ 実施例１と同様の構成で、光ヘッドを光磁気ディスクの
記録再生型の高出力ＬＤ（波長６８０ｎｍ：３０ｍＷ出
力）搭載の他のタイプに変更した装置を構成した。光デ
ィスク１としてカートリッジに装着されていない８６ｍ
ｍ径、１．２ｍｍ厚さの光磁気ディスク（市販されてい
る光磁気ディスクをカートリッジから取り出し、内径部
分のマグネットハブを取り外したもの）と、８６ｍｍ
径、０．６ｍｍ厚さの基板を貼り合わせた相変化型光デ
ィスクを用意した。光ヘッド４には、実施例１と同様
に、基板厚１．２ｍｍのディスクと、０．６ｍｍのディ
スクに対応して、レーザダイオード出射後の位置に凸レ
ンズ４３を挿入する構成のものを使用した。
記録再生型の高出力ＬＤ（波長６８０ｎｍ：３０ｍＷ出
力）搭載の他のタイプに変更した装置を構成した。光デ
ィスク１としてカートリッジに装着されていない８６ｍ
ｍ径、１．２ｍｍ厚さの光磁気ディスク（市販されてい
る光磁気ディスクをカートリッジから取り出し、内径部
分のマグネットハブを取り外したもの）と、８６ｍｍ
径、０．６ｍｍ厚さの基板を貼り合わせた相変化型光デ
ィスクを用意した。光ヘッド４には、実施例１と同様
に、基板厚１．２ｍｍのディスクと、０．６ｍｍのディ
スクに対応して、レーザダイオード出射後の位置に凸レ
ンズ４３を挿入する構成のものを使用した。
【００４０】まず、１．２ｍｍ光磁気ディスクを搭載し
たとき、受光素子３０４のａ端子から検出信号が碓認さ
れた。つづいて、基板厚さ０．６ｍｍの貼り合わせ相変
化型光ディスクを装置にマウントしたところ、このとき
には、受光素子３０４のｃ端子から出力が得られた。こ
の両者の信号によって、光磁気ディスクに対しては光ヘ
ッド４の凸レンズ４３は光路中に挿入されず、０．６ｍ
ｍ厚基板の相変化型光ディスクに対しては、光ヘッド４
の凸レンズ４３が光路中に挿入され、良好に基板厚補正
がなされた。
たとき、受光素子３０４のａ端子から検出信号が碓認さ
れた。つづいて、基板厚さ０．６ｍｍの貼り合わせ相変
化型光ディスクを装置にマウントしたところ、このとき
には、受光素子３０４のｃ端子から出力が得られた。こ
の両者の信号によって、光磁気ディスクに対しては光ヘ
ッド４の凸レンズ４３は光路中に挿入されず、０．６ｍ
ｍ厚基板の相変化型光ディスクに対しては、光ヘッド４
の凸レンズ４３が光路中に挿入され、良好に基板厚補正
がなされた。
【００４１】実施例５ 実施例１と同様の構成で、光ヘッドを記録再生型の高出
力ＬＤ（波長７８０ｎｍ：３０ｍＷ出力）搭載の他のタ
イプに変更した装置を構成した。光ディスク１としてカ
ートリッジに装着されていない１２０ｍｍ径、１．２ｍ
ｍ厚さの相変化型光ディスク（市販されているＰＤディ
スクをカートリッジから取り出したもの）と、１２０ｍ
ｍ径、０．６ｍｍ厚さの基板を貼り合わせたＤＶＤ−Ｒ
ＯＭディスクを用意した。光ヘッド４には、実施例１と
同様に、基板厚１．２ｍｍのディスクと、０．６ｍｍの
ディスクに対応して、レーザダイオード出射後の位置に
凸レンズ４３を挿入する構成のものを使用した。
力ＬＤ（波長７８０ｎｍ：３０ｍＷ出力）搭載の他のタ
イプに変更した装置を構成した。光ディスク１としてカ
ートリッジに装着されていない１２０ｍｍ径、１．２ｍ
ｍ厚さの相変化型光ディスク（市販されているＰＤディ
スクをカートリッジから取り出したもの）と、１２０ｍ
ｍ径、０．６ｍｍ厚さの基板を貼り合わせたＤＶＤ−Ｒ
ＯＭディスクを用意した。光ヘッド４には、実施例１と
同様に、基板厚１．２ｍｍのディスクと、０．６ｍｍの
ディスクに対応して、レーザダイオード出射後の位置に
凸レンズ４３を挿入する構成のものを使用した。
【００４２】まず、１．２ｍｍＰＤディスクを搭載した
とき、受光素子３０４のａ端子から検出信号が確認され
た。つづいて、基板厚さ０．６ｍｍの貼り合わせＤＶＤ
−ＲＯＭディスクを装置にマウントしたところ、このと
きには、受光素子３０４のｃ端子から出力が得られた。
この両者の信号によって、ＰＤディスクに対しては光ヘ
ッド４の凸レンズ４３は光路中に挿入されず、０．６ｍ
ｍ厚基板のＤＶＤ−ＲＯＭディスクに対しては、光ヘッ
ド４の凸レンズ４３が光路中に挿入され、良好に基板厚
補正がなされた。
とき、受光素子３０４のａ端子から検出信号が確認され
た。つづいて、基板厚さ０．６ｍｍの貼り合わせＤＶＤ
−ＲＯＭディスクを装置にマウントしたところ、このと
きには、受光素子３０４のｃ端子から出力が得られた。
この両者の信号によって、ＰＤディスクに対しては光ヘ
ッド４の凸レンズ４３は光路中に挿入されず、０．６ｍ
ｍ厚基板のＤＶＤ−ＲＯＭディスクに対しては、光ヘッ
ド４の凸レンズ４３が光路中に挿入され、良好に基板厚
補正がなされた。
【００４３】実施例６ 実施例１と同様の構成で、光ヘッドを光磁気ディスクの
記録再生型の高出力ＬＤ（波長６８０ｎｍ：３０ｍＷ出
力）搭載の他のタイプに変更した装置を構成した。光デ
ィスク１としてカートリッジに装着されていない８６ｍ
ｍ径、１．２ｍｍ厚さの光磁気ディスク（市販されてい
る光磁気ディスクをカートリッジから取り出し、内径部
分のマグネットハブを取り外したもの）と、８６ｍｍ
径、０．８ｍｍ厚さの基板単板の光磁気ディスクを用意
した。光ヘッド４には、実施例１と同様に、基板厚１．
２ｍｍのディスクと、０．８ｍｍのディスクに対応し
て、レーザダイオード出射後の位置に凸レンズ４３を挿
入する構成のものを使用した。まず、１．２ｍｍ厚光磁
気ディスクを搭載したとき、受光素子３０４のａ端子か
ら検出信号が確認された。つづいて、基板厚さ０．８ｍ
ｍの光磁気ディスクを装置にマウントしたところ、この
ときには、受光素子３０４のｂ端子から出力が得られ
た。この両者の信号によって、１．２ｍｍ厚光磁気ディ
スクに対しては光ヘッド４の凸レンズ４３は光路中に挿
入されず、０．８ｍｍ厚基板の光磁気ディスクに対して
は、光ヘッド４の凸レンズ４３が光路中に挿入され、良
好に基板厚補正がなされた。
記録再生型の高出力ＬＤ（波長６８０ｎｍ：３０ｍＷ出
力）搭載の他のタイプに変更した装置を構成した。光デ
ィスク１としてカートリッジに装着されていない８６ｍ
ｍ径、１．２ｍｍ厚さの光磁気ディスク（市販されてい
る光磁気ディスクをカートリッジから取り出し、内径部
分のマグネットハブを取り外したもの）と、８６ｍｍ
径、０．８ｍｍ厚さの基板単板の光磁気ディスクを用意
した。光ヘッド４には、実施例１と同様に、基板厚１．
２ｍｍのディスクと、０．８ｍｍのディスクに対応し
て、レーザダイオード出射後の位置に凸レンズ４３を挿
入する構成のものを使用した。まず、１．２ｍｍ厚光磁
気ディスクを搭載したとき、受光素子３０４のａ端子か
ら検出信号が確認された。つづいて、基板厚さ０．８ｍ
ｍの光磁気ディスクを装置にマウントしたところ、この
ときには、受光素子３０４のｂ端子から出力が得られ
た。この両者の信号によって、１．２ｍｍ厚光磁気ディ
スクに対しては光ヘッド４の凸レンズ４３は光路中に挿
入されず、０．８ｍｍ厚基板の光磁気ディスクに対して
は、光ヘッド４の凸レンズ４３が光路中に挿入され、良
好に基板厚補正がなされた。
【００４４】実施例７ 実施例１と同様の構成で、光ヘッドを光磁気ディスクの
記録再生型の高出力ＬＤ（波長６８０ｎｍ：３０ｍＷ出
力）搭戒の他のタイプに変更した装置を構成した。光デ
ィスク１としてカートリッジに装着されていない８６ｍ
ｍ径、０．８ｍｍ厚さ単板の光磁気ディスクと、８６ｍ
ｍ径、０．６ｍｍ厚さの基板を貼り合わせた相変化型光
ディスクを用意した。光ヘッド４には、実施例１と同様
に、基板厚０．８ｍｍのディスクと、０．６ｍｍのディ
スクに対応して、レーザダイオード出射後の位置に凸レ
ンズ４３を挿入する構成のものを使用した。
記録再生型の高出力ＬＤ（波長６８０ｎｍ：３０ｍＷ出
力）搭戒の他のタイプに変更した装置を構成した。光デ
ィスク１としてカートリッジに装着されていない８６ｍ
ｍ径、０．８ｍｍ厚さ単板の光磁気ディスクと、８６ｍ
ｍ径、０．６ｍｍ厚さの基板を貼り合わせた相変化型光
ディスクを用意した。光ヘッド４には、実施例１と同様
に、基板厚０．８ｍｍのディスクと、０．６ｍｍのディ
スクに対応して、レーザダイオード出射後の位置に凸レ
ンズ４３を挿入する構成のものを使用した。
【００４５】まず、０．８ｍｍ光磁気ディスクを搭戒し
たとき、受光素子３０４のｂ端子から検出信号が確認さ
れた。つづいて、基板厚さ０．６ｍｍの貼り合わせ相変
化型光ディスクを装置にマウントしたところ、このとき
には、受光素子３０４のｃ端子から出力が得られた。こ
の両者の信号によって、光磁気ディスクに対しては光ヘ
ッド４の凸レンズ４３は光路中に挿入されず、０．６ｍ
ｍ厚基板の相変化型光ディスクに対しては、光ヘッド４
の凸レンズ４３が光路中に挿入され、良好に基板厚補正
がなされた。
たとき、受光素子３０４のｂ端子から検出信号が確認さ
れた。つづいて、基板厚さ０．６ｍｍの貼り合わせ相変
化型光ディスクを装置にマウントしたところ、このとき
には、受光素子３０４のｃ端子から出力が得られた。こ
の両者の信号によって、光磁気ディスクに対しては光ヘ
ッド４の凸レンズ４３は光路中に挿入されず、０．６ｍ
ｍ厚基板の相変化型光ディスクに対しては、光ヘッド４
の凸レンズ４３が光路中に挿入され、良好に基板厚補正
がなされた。
【００４６】
【発明の効果】以上説明したように、本発明では、簡単
な構成で容易に光ディスクの基板厚さを識別できる光学
的情報記録装置を実現できるという大きな効果を有し、
特にカートリッジに装填されていない光ディスクを使用
する装置において、容易に光ディスクの基板厚さを識別
できるという優れた効果を有する。
な構成で容易に光ディスクの基板厚さを識別できる光学
的情報記録装置を実現できるという大きな効果を有し、
特にカートリッジに装填されていない光ディスクを使用
する装置において、容易に光ディスクの基板厚さを識別
できるという優れた効果を有する。
【図１】本発明にかかる光学的情報記録装置の構成図で
ある。
ある。
【図２】本発明にかかる光学的情報記録装置の基板厚セ
ンサの動作原理図である。
ンサの動作原理図である。
【図３】本発明にかかる光学的情報記録装置の基板厚セ
ンサの動作原理図である。
ンサの動作原理図である。
【図４】本発明にかかる光学的情報記録装置の基板厚セ
ンサの他の動作原理図である。
ンサの他の動作原理図である。
【図５】本発明にかかる光学的情報記録装置の基板厚セ
ンサの他の動作原理図である。
ンサの他の動作原理図である。
【図６】本発明にかかる光学的情報記録装置の光ヘッド
の一例を示す構成図である。
の一例を示す構成図である。
【図７】本発明にかかる光学的情報記録装置の基板厚識
別に関する回路構成図である。
別に関する回路構成図である。
１ 光ディスク ２ スピンドルモータ ２１ ディスクマウント面 ３ 基板厚センサ ３１ センス信号 ４ 光ヘッド ５ 基板厚判定回路 ６ 光ヘッド基板厚補正手段制御回路 １０ 信号処理回路 １０１ 媒体面 ３０１ 光源 ３０２ 第一の光学系 ３０３ 第二の光学系 ３０４ 受光素子 ３０４ａ、ｂ、ｃ、ｄ 出力端子 ３０５ 入射光 ３０６ 反射光 ４１ 対物レンズ ４２ レーザダイオード ４３ 凸レンズ ４４ コリメートレンズ ４５ ビームスプリッタ ４６ 信号検出系 ４７ 凸レンズ駆動手段
Claims (3)
- 【請求項１】 光を用いて光学記録媒体への情報の記録
再生消去を行う光学的情報記録装置において、 前記光学記録媒体の厚さを検出する基板厚センサと、 前記光学記録媒体へ、情報の記録再生消去を行うための
光を照射する光ヘッドに設けられ、前記基板厚センサの
検出結果に応じて前記光学記録媒体への照射光の焦点距
離を調節する基板厚補正手段とを有することを特徴とす
る光学的情報記録装置。 - 【請求項２】 基材厚センサは、少なくとも、光源と、
光源から出射された光を光学記録媒体に照射する第一の
光学系と、前記光学記録媒体からの反射光を受光素子に
導く第二の光学系と、受光素子とを備える変位センサで
あることを特徴とする請求項１記載の光学情報記録装
置。 - 【請求項３】 基材厚センサが駆動系近傍に設置され、
光学記録媒体からの反射光を受光する構成であることを
特徴とする請求項１および２記載の光学情報記録装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9146484A JPH10334575A (ja) | 1997-06-04 | 1997-06-04 | 光学的情報記録装置 |
| US09/088,065 US6115336A (en) | 1997-06-04 | 1998-06-01 | Apparatus for optically recording data into a disc |
| KR1019980020612A KR19990006653A (ko) | 1997-06-04 | 1998-06-03 | 디스크 내에 데이타를 광학적으로 기록하기 위한 장치 |
| EP98304385A EP0883115A3 (en) | 1997-06-04 | 1998-06-03 | Apparatus for optical recording of data |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9146484A JPH10334575A (ja) | 1997-06-04 | 1997-06-04 | 光学的情報記録装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10334575A true JPH10334575A (ja) | 1998-12-18 |
Family
ID=15408690
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9146484A Pending JPH10334575A (ja) | 1997-06-04 | 1997-06-04 | 光学的情報記録装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6115336A (ja) |
| EP (1) | EP0883115A3 (ja) |
| JP (1) | JPH10334575A (ja) |
| KR (1) | KR19990006653A (ja) |
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| US7079456B2 (en) | 2002-07-04 | 2006-07-18 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical recording head capable of correcting spherical aberration |
| US7164638B2 (en) | 2002-03-04 | 2007-01-16 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical head and optical recording/reproducing device using it and aberration correction method |
| US7254107B2 (en) | 2003-04-07 | 2007-08-07 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical head and optical recording and reproducing apparatus |
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| JP3768929B2 (ja) * | 2002-07-10 | 2006-04-19 | キヤノン株式会社 | 記録装置 |
| KR100987437B1 (ko) | 2003-08-14 | 2010-10-13 | 엘지전자 주식회사 | 기록매체, 기록방법 및 기록장치 |
| US8561093B2 (en) * | 2009-02-26 | 2013-10-15 | Imation Corp. | Stacking techniques for thin optical data storage media |
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| JP2626205B2 (ja) * | 1990-08-09 | 1997-07-02 | 松下電器産業株式会社 | 光学的情報記録／再生装置およびカートリッジ |
| JPH06325405A (ja) * | 1992-09-11 | 1994-11-25 | Toshiba Corp | 光記録再生装置 |
| JP2532818B2 (ja) * | 1993-02-01 | 1996-09-11 | 松下電器産業株式会社 | 対物レンズおよび光ヘッド装置 |
| JP2795127B2 (ja) * | 1993-03-29 | 1998-09-10 | ヤマハ株式会社 | 光ディスク装置 |
| JPH0765409A (ja) * | 1993-08-20 | 1995-03-10 | Ricoh Co Ltd | 光情報記録再生装置 |
| JPH07105566A (ja) * | 1993-09-30 | 1995-04-21 | Nippon Columbia Co Ltd | 光ピックアップ装置 |
| JPH08138262A (ja) * | 1994-11-11 | 1996-05-31 | Sony Corp | 光学ピックアップ装置 |
| JPH08227552A (ja) * | 1995-02-22 | 1996-09-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学装置 |
| JPH08235630A (ja) * | 1995-02-23 | 1996-09-13 | Hitachi Ltd | 光ディスク装置 |
| US6026065A (en) * | 1995-03-04 | 2000-02-15 | Lg Electronics Inc. | Optical pick-up apparatus capable of reading data irrespective of disc type |
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| JP3408016B2 (ja) * | 1995-05-08 | 2003-05-19 | 三洋電機株式会社 | 光記録媒体のディスク厚判別装置 |
| JPH0935401A (ja) * | 1995-07-18 | 1997-02-07 | Sony Corp | 光ディスク再生装置及び光ディスクの判別方法 |
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| JPH09115231A (ja) * | 1995-10-16 | 1997-05-02 | Seiko Epson Corp | 光記憶装置 |
| JPH09120623A (ja) * | 1995-10-24 | 1997-05-06 | Sony Corp | 光ディスクのディスク厚及び反り検出装置 |
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1997
- 1997-06-04 JP JP9146484A patent/JPH10334575A/ja active Pending
-
1998
- 1998-06-01 US US09/088,065 patent/US6115336A/en not_active Expired - Fee Related
- 1998-06-03 EP EP98304385A patent/EP0883115A3/en not_active Withdrawn
- 1998-06-03 KR KR1019980020612A patent/KR19990006653A/ko not_active Application Discontinuation
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Also Published As
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|---|---|
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| EP0883115A3 (en) | 2000-02-23 |
| EP0883115A2 (en) | 1998-12-09 |
| US6115336A (en) | 2000-09-05 |
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|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |