JPH10323783A - 帯状材の開孔装置 - Google Patents

帯状材の開孔装置

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JPH10323783A
JPH10323783A JP9135343A JP13534397A JPH10323783A JP H10323783 A JPH10323783 A JP H10323783A JP 9135343 A JP9135343 A JP 9135343A JP 13534397 A JP13534397 A JP 13534397A JP H10323783 A JPH10323783 A JP H10323783A
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laser
oscillation
laser beam
tip paper
head
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JP9135343A
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Kiyoshi Imai
清 今井
Junichi Fukuchi
淳一 福地
Michiaki Takatsu
道明 高津
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Japan Tobacco Inc
Original Assignee
Japan Tobacco Inc
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/02Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
    • B23K26/03Observing, e.g. monitoring, the workpiece
    • B23K26/032Observing, e.g. monitoring, the workpiece using optical means
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
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    • B23K26/08Devices involving relative movement between laser beam and workpiece
    • B23K26/083Devices involving movement of the workpiece in at least one axial direction
    • B23K26/0838Devices involving movement of the workpiece in at least one axial direction by using an endless conveyor belt
    • B23K26/0846Devices involving movement of the workpiece in at least one axial direction by using an endless conveyor belt for moving elongated workpieces longitudinally, e.g. wire or strip material

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡単な制御の下でチップペーパに一定間隔
で、且つ一定の大きさの微細孔を安定に形成することの
できる帯状材の開孔装置を提供する。 【解決手段】 ロールから繰り出されたチップペーパ
(P)を所定の速度で走行させる走行経路と、この走行経
路を走行するチップペーパにレーザビームを照射して微
細孔(H)を形成するレーザ発振ヘッド(14)と、チップ
ペーパに形成された微細孔を光学的に検出するカメラ
(22)と、光学的に検出された微細孔の情報を解析して
微細孔の大きさ(面積)とその配列ピッチとを求めてレ
ーザ発振ヘッドの発振駆動をフィードバック制御するコ
ントローラ(26)とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、シガレットとフィ
ルタとの接続に使用されるチップペーパ等の帯状材に一
定の間隔で微細孔を形成するに好適な帯状材の開孔装置
に関する。
【0002】
【関連する背景技術】近時、シガレットとフィルタとの
接続に使用されるチップペーパに、通気度を調整する為
の微細孔を形成したものがある。この種の帯状材(チッ
プペーパ)に微細孔を形成する開孔装置として、例えば
特開平5−138381号公報に開示されたものがあ
る。この公報に開示される開孔装置は、ロールから繰り
出されたチップペーパを一定速度で走行させると共に、
レーザ源から連続して出射されるレーザビームをポリゴ
ンミラーを用いて所定の周期で偏向し、この偏向レーザ
ビームを光学系を介して前記チップペーパに照射するこ
とで該チップペーパに一定の間隔で微細孔を形成する如
く構成される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上述した
開孔装置にあっては、チップペーパの走行速度とポリゴ
ンミラーの回転速度との関係によって微細孔の形成間隔
が決定されるので、チップペーパの切換えに容易に対処
することができないと言う問題がある。つまりチップペ
ーパに形成すべき微細孔の列数やその形成間隔は、フィ
ルタシガレットの銘柄によって異なり、これに対処する
にはその光学系を変更したり、更にはチップペーパの走
行速度とポリゴンミラーの回転速度との関係を変更する
ことが必要となる。特にポリゴンミラーの回転速度を変
更した場合、チップペーパに照射される偏向レーザビー
ムの強度が変化するので微細孔の大きさまでが変化し、
またチップペーパの走行速度を変更した場合にも、微細
孔の大きさが変化すると言う問題が生じる。
【0004】また上述した如くチップペーパに形成され
る微細孔は、該チップペーパにおける通気度を左右する
大きな要因となるものである。この為、従来一般的には
通気度測定装置を用い、チップペーパの単位面積当たり
の通気度を実測して微細孔の形成具合を評価している。
そしてこの評価値に基づいて、例えば変更ビームの出力
強度を調整したり、チップペーパの走行速度を調整する
等して、所望の配列ピッチで、且つ所望とする大きさの
微細孔を形成するようにしている。しかしながらこのよ
うな評価法にあっては、常に安定に一定の間隔で、且つ
一定の大きさの微細孔を形成することが非常に困難であ
り、チップペーパの通気度を高精度に制御することがで
きなかった。
【0005】本発明はこのような事情を考慮してなされ
たもので、その目的は、簡単な制御の下でチップペーパ
に一定間隔で、且つ一定の大きさの微細孔を安定に形成
することのできる帯状材の開孔装置を提供することにあ
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】上述した目的を達成する
べく本発明に係る帯状材の開孔装置は、ロールから繰り
出された、例えばシガレットとフィルタとの接続に使用
されるチップペーパからなる帯状材を所定の速度で走行
させる走行経路と、この走行経路の上流側に設けられて
該走行経路を走行する帯状材にレーザビームを照射して
微細孔を形成するレーザ発振ヘッドと、前記走行経路の
下流側に設けられて前記帯状材に形成された微細孔を光
学的に検出する、例えばカメラやラインセンサ等の光学
検出手段と、この光学検出手段により検出された微細孔
の情報を解析して、例えば微細孔の大きさとその配列ピ
ッチとを検出して前記レーザ発振ヘッドの発振駆動を制
御する制御手段とを具備したことを特徴としている。
【0007】特に請求項2に記載するように、微細孔の
検出ピッチを検出して前記レーザ発振ヘッドの発振駆動
周期を調整すると共に、前記微細孔の大きさを検出して
前記レーザ発振ヘッドによるレーザビームの発振出力を
調整することを特徴としている。ちなみにレーザビーム
の発振出力の調整は、例えば請求項3に記載するように
レーザビームの出力パルス幅、またはレーザビームの出
力強度を可変することによって行われる。
【0008】即ち、本発明は、帯状材(チップペーパ)
の走行経路の上流側においてレーザ発振ヘッドからのレ
ーザビームを帯状材に照射して微細孔を形成すると共
に、走行経路の下流側において上記帯状材に形成された
微細孔を光学的にリアルタイムに検出し、その検出情報
を画像解析することによって微細孔の大きさ(寸法)や
その配列ピッチを求めて前記レーザ発振ヘッドの発振駆
動、具体的にはそのパルス発振駆動周期や発振出力をフ
ィードバック制御するようにしたことを特徴としてい
る。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の一
実施形態に係る帯状材の開孔装置について説明する。図
1は帯状材としてのチップペーパに微細孔を開孔するシ
ングルボビンタイプのレーザ開孔装置の概略構成図であ
る。このレーザ開孔装置は、同一ライン上に互いに離間
して配置された巻出し基台2、開孔基台4、および巻取
り基台6を備えている。巻出し基台2には、ボビン8に
チップペーパPを巻回してなる繰出しロールR1がその
回転軸(図示せず)に装着される。また巻取り基台4に
は、前記開孔基台4にて微細孔が開孔されたチップペー
パPを巻き取るための巻取りボビン10が、その回転軸
(図示せず)に装着される。
【0010】また巻出し基台2、開孔基台4、および巻
取り基台6にはそれぞれガイドローラ12が回転自在に
取り付けられており、繰出しロールR1から繰り出され
たチップペーパPはガイドローラ12に案内されなが
ら、開孔基台4を介して巻取りボビン10まで導かれ
る。尚、ガイドローラ12はチップペーパPの走行経路
を規定するものであり、特に巻出し基台2における上下
一対のガイドローラ12aはチップペーパPの蛇行修正
機能を備えている。
【0011】また特に図示していないが前記巻取り基台
6の回転軸にはパウダクラッチを介して電動モータが接
続されており、一方、巻出し基台4の回転軸にはパウダ
ブレーキが装着されている。そして電動モータによって
前記巻取りボビン10が一方向に回転駆動され、この回
転力によって前記繰出しロールR1からチップペーパP
が繰出され、前記開孔基台4を通過して微細孔が形成さ
れた後、巻取りボビン10にて巻き取られる。つまり電
動モータによる巻取りボビン10の回転駆動により、繰
出しロールR1から巻取りボビン10に向けてチップペ
ーパPが繰出されて一定の速度で走行する。この際、繰
出しロールR1からのチップペーパPの繰出し張力は前
記パウダブレーキにより一定に維持され、また巻取りボ
ビン10によるチップペーパPの巻取り張力も上記パウ
ダクラッチにより一定に維持される。
【0012】さて前記開孔基台4には、チップペーパP
の走行経路の上方に位置して、例えばレーザ開孔ヘッド
14が設けられている。このレーザ開孔ヘッド14は走
行経路上のチップペーパPにレーザビームを照射して、
該チップペーパPに微細孔を形成するものである。ちな
みにこのレーザ開孔ヘッド14は、例えばパルス駆動さ
れる炭酸ガスレーザ発振器と、この炭酸ガスレーザ発振
器から発振出力されるパルスレーザビームを集光して前
記チップペーパPの走行経路に照射する集光レンズ等の
光学系とからなる。尚、レーザ開孔ヘッド14は、移動
手段を構成するリニアアクチュエータ16に支持されて
おり、走行経路上のチップペーパPの幅方向に移動され
て前記前記パルスレーザビームの照射位置が可変設定さ
れるようになっている。
【0013】また上記レーザ開孔ヘッド14を備えた開
孔基台4と巻取り基台6との間に設けられた検査装置1
8は、レーザビームの照射によってチップペーパPに形
成された微細孔を光学的に検査するものである。この検
査装置16によって後述するようにチップペーパPに形
成された微細孔の大きさ(面積・寸法)や、その配列ピ
ッチLが測定され、その測定結果に従って前記レーザ開
孔ヘッド14の駆動がフィードバック制御される。
【0014】即ち、図2に本発明の概念を示すように、
この実施形態に係るレーザ開孔装置は、所定の速度Vで
走行されるチップペーパPに対して、その走行経路の上
流側においてパルスレーザビームを照射して微細孔Hを
形成するレーザ開孔ヘッド14を備えている。またチッ
プペーパPの走行方向下流側に設けられて前記パルスレ
ーザビームの終車により形成された微細孔Hを光学的に
検査する検査装置18は、例えばチップペーパPの表面
画像を撮像するカメラ22と、その撮像画像から微細孔
Hの大きさ(面積)や微細孔Hの配列ピッチLを計測す
る画像処理部24とからなる。そしてコントローラ26
は、基本的には前記チップペーパPの走行速度Vに応じ
た周期Tで前記レーザ開孔ヘッド14をパルス駆動する
と共に、前記画像処理部24による微細孔H野解析結果
に従って上記レーザ開孔ヘッド14をパルス駆動をフィ
ードバック制御するものとなっている。
【0015】具体的にはコントローラ26は、前記検査
装置16による検査結果(微細孔Hの配列ピッチL)に
従って前記レーザ開孔ヘッド14のパルス駆動周期Tを
フィードバック制御して前記微細孔Hの配列ピッチLを
一定化している。またコントローラ26は前記検査装置
16による検査結果(微細孔Hの大きさ・面積)に従っ
て、例えばパルスレーザビームのパルス幅PWを可変
し、或いはパルスレーザビームの出力強度を調整するこ
とで、微細孔Hの大きさ(面積・寸法)を一定化制御す
るものとなっている。
【0016】ここで前記検査装置18による微細孔Hの
光学的な検出と、その画像解析について説明すると、チ
ップペーパPに形成された微細孔Hを光学的に検出する
カメラ22は、例えばチップペーパPの微小領域を、所
定のタイミングで高速度に撮像するCCDカメラからな
る。このカメラ22による微細孔Hの撮像タイミング
は、前記チップペーパPの走行速度Vに応じて、前述し
たレーザ発振ヘッド14のパルス駆動タイミングに同期
して設定される。
【0017】しかしてカメラ22によって撮像された、
例えば図3に示す如き微細孔Hの像を解析する画像処理
部24は、上記撮像タイミングにおいて得られた画像中
における微細孔Hの像の位置(中心位置)cの情報か
ら、チップペーパP上に連続的に形成された微細孔Hの
列の配列ピッチLを計測している。具体的にはチップペ
ーパPが一定の走行速度Vで走行しており、微細孔Hの
撮像タイミングが該微細孔Hを形成するパルスレーザビ
ームの照射タイミングに同期していることから、基本的
には各撮像タイミング毎に求められる画像中における微
細孔Hの像の位置(中心位置)cは一定となる。このよ
うな前提の下で画像処理部24は、各撮像タイミングに
おける微細孔Hの像の位置(中心位置)cの変位から、
微細孔Hの配列ピッチLの変化(変動)を検出してい
る。尚、カメラ22によってチップペーパPの走行方向
に並ぶ複数の微細孔Hを含む画像を撮像し、これらの微
細孔H間の距離(中心間距離)を直接的に計測して、そ
の配列ピッチLを求めるようにすることも勿論可能であ
る。
【0018】また画像処理部24においては、前記画像
中から微細孔Hの像(一般的には長円をなす)の寸法で
ある長径aと短径bとをそれぞれ計測し、これらの計測
寸法に従って該微細孔Hの面積(開口面積)Sを求めて
いる。尚、微細孔Hの像部分の単位画素数を計測するこ
とで、その面積(開口面積)Sを求めることも勿論可能
である。またこれらの画像解析処理は、専用の画像処理
プロセッサを用いる等して高速度にリアルタイムに実行
される。
【0019】しかして前記コントローラ26は上記画像
解析結果に従い、例えば図4に示すように微細孔Hの面
積Sが規定値Soとなるようにレーザ発振ヘッド14の
駆動パルス幅PWを調整し、その発振出力を可変する。
具体的には微細孔Hの大きさ(面積)が大きい場合には
駆動パルス幅PWを狭くしてレーザ発振出力を低下さ
せ、パルスレーザビームによる微細孔Hの形成時間を短
くすることでその大きさを小さくする。逆に微細孔Hの
大きさ(面積)が小さい場合には駆動パルス幅PWを広
げることでレーザ発振出力を高め、パルスレーザビーム
による微細孔Hの形成時間を長くすることでその大きさ
を拡大する。つまり画像処理によってリアルタイムに求
められる微細孔Hの大きさに従ってレーザ発振ヘッド1
4のパルス駆動時間(パルス幅)をフィードバック制御
し、微細孔Hの大きさを一定化制御する。
【0020】また同時にコントローラ26は、前述した
如く求められた微細孔Hの配列ピッチLに従って前記レ
ーザ発振ヘッド14のパルス駆動周期Tをフィードバッ
ク制御により可変する。具体的には微細孔Hの配列ピッ
チLが規定値Loよりも長いとき、図4(b)に示すよう
にレーザ発振ヘッド14のパルス駆動周期Tを短くする
ことで微細孔Hの形成タイミングを早めることでその配
列ピッチを狭める。逆に微細孔Hの配列ピッチLが規定
値Loよりも短いときには、図4(c)に示すようにレー
ザ発振ヘッド14のパルス駆動周期Tを長くし、微細孔
Hの形成タイミングを遅らせることでその配列ピッチを
広げる。
【0021】このような微細孔Hに関する画像解析結果
に従ってレーザ発振ヘッド14のパルス発振駆動をフィ
ードバック制御する本装置によれば、微細孔Hを形成し
たチップペーパPの通気度を実際的に計測することな
く、仕様に応じた大きさ(面積S)の微細孔Hを、仕様
に応じた配列ピッチLで安定に形成することができる。
しかもパルスレーザビームの照射による微細孔Hの形成
をリアルタイムに制御しながら、その仕様を十分に満足
する微細孔Hを形成することができる。従って微細孔H
の形成効率が非常に良く、その生産性を高めることがで
きる。しかもシガレットの銘柄変更に伴う微細孔Hの仕
様変更ににも柔軟に対処することができる等の効果が奏
せられる。
【0022】尚、本発明は上述した実施形態に限定され
るものではない。例えばチップペーパPの走行速度Vを
監視しながら、その走行速度Vに応じてレーザ発振ヘッ
ド14のパルス発振駆動を制御する場合にも同様に適用
することができる。またカメラ22に代えて、光学的ラ
インセンサやエリアセンサを用いて微細孔Hの大きさ
や、その配列ピッチを計測することも勿論可能である。
また上述した実施形態においては、シングルボビンタイ
プのレーザ開孔装置を例に説明したが、巻出し基台巻2
と取り基台6との間に2巻以上のチップペーパPを掛
け、これらを同時走行させて微細孔Hを形成する装置
や、1本のチップペーパPに複数列の微細孔Hを形成す
る装置にも同様に適用することができる。この場合には
開孔基台4に、微細孔Hの形成列数に応じたレーザ発振
ヘッド14を設けておくようにすれば良い。その他、本
発明はその要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施す
ることができる。
【0023】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、ロ
ールから繰り出された、例えばシガレットとフィルタと
の接続に使用されるチップペーパからなる帯状材を所定
の速度で走行させ、その走行経路の上流側にてレーザ発
振ヘッドからレーザビームを照射して帯状材に微細孔を
形成すると共に、例えばカメラやラインセンサ等により
上記微細孔を光学的に検出し、その解析結果に基づいて
前記レーザ発振ヘッドの発振駆動をフィードバック制御
するので、微細孔の大きさと配列ピッチとを高精度に一
定化することができる。
【0024】特に微細孔の検出ピッチを検出して前記レ
ーザ発振ヘッドの発振駆動周期を調整すると共に、微細
孔の大きさを検出して前記レーザ発振ヘッドによるレー
ザビームの発振出力を調整するので、簡易にして効果的
に仕様に応じた微細孔を形成することができ、例えば帯
状材としてのチップペーパの通気度を高品質に保つこと
ができる等の多大なる効果が奏せられる。
【図面の簡単な説明】
【図1】シングルボビンタイプのレーザ開孔装置を示す
概略斜視図。
【図2】本発明の一実施形態に係るレーザ開孔装置の概
略的な構成図。
【図3】図2に示すレーザ開孔装置において光学的に検
出される微細孔の像の例と、その画像解析の概念を示す
図。
【図4】レーザ発振ヘッドに対してフィードバック制御
される駆動パルスのタイミング図。
【符号の説明】
2 巻出し基台 4 開孔基台 6 巻取り基台 10 巻取りボビン 12 ガイドローラ 14 レーザ開孔ヘッド 16 リニアアクチュエータ 18 検査装置 22 カメラ 24 画像処理部 26 コントローラ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ロールから繰り出された帯状材を所定の
    速度で走行させる走行経路と、この走行経路の上流側に
    設けられて該走行経路を走行する前記帯状材にレーザビ
    ームを照射して微細孔を形成するレーザ発振ヘッドと、
    前記走行経路の下流側に設けられて前記帯状材に形成さ
    れた微細孔を光学的に検出する光学検出手段と、この光
    学検出手段により検出された微細孔の情報を解析して前
    記レーザ発振ヘッドの発振駆動を制御する制御手段とを
    具備したことを特徴とする帯状材の開孔装置。
  2. 【請求項2】 前記制御手段は、前記微細孔の検出ピッ
    チを検出して前記レーザ発振ヘッドの発振駆動周期を調
    整すると共に、前記微細孔の大きさを検出して前記レー
    ザ発振ヘッドによるレーザビームの発振出力を調整する
    ことを特徴とする請求項1に記載の帯状材の開孔装置。
  3. 【請求項3】 前記制御手段によるレーザビームの発振
    出力の調整は、レーザビームの出力パルス幅、またはレ
    ーザビームの出力強度を可変することを特徴とする請求
    項2に記載の帯状材の開孔装置。
  4. 【請求項4】 前記帯状材は、シガレットとフィルタと
    の接続に使用されるチップペーパであることを特徴とす
    る請求項1に記載の帯状材の開孔装置。
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