JPH1031869A

JPH1031869A - 再生装置

Info

Publication number: JPH1031869A
Application number: JP8205251A
Authority: JP
Inventors: Hideki Kobayashi; 秀樹小林; Kiyoshi Tateishi; 潔立石
Original assignee: Pioneer Electronic Corp
Current assignee: Pioneer Corp
Priority date: 1996-07-16
Filing date: 1996-07-16
Publication date: 1998-02-03
Also published as: US5963518A

Abstract

(57)【要約】【課題】安定した再生装置を提供することを目的とし
ている。【解決手段】デジタル信号が記録されている記録媒体
から読み取られた読み取り信号からデジタル信号を再生
する再生装置において、読み取り信号をサンプル値系列
に変換するＡ／Ｄ変換器と、サンプル値系列から位相誤
差を検出する位相誤差検出手段と、所定ゲインを記憶す
る記憶手段と、位相誤差に所定ゲインを与えたゲイン位
相誤差を出力するゲイン設定手段と、ゲイン位相誤差に
基づいて位相補正を行ったクロック信号をサンプリング
クロックとして発生するクロック発生手段とを有する。
また、ドロップアウト時のサンプル値系列から得られる
位相誤差のクロック発生手段への入力を禁止する入力禁
止手段とを有する。また、ゲイン設定手段は記録媒体の
種類、記録層、記録領域に応じて位相誤差に所定ゲイン
を与えることを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【０００２】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク再生装
置に関する。

【０００３】

【０００２】

【０００４】

【従来の技術】図１４にＣＤ（コンパクトディスク）プ
レーヤ等で用いられていたクロック発生手段の構成図を
示す。２は光ディスク、３は光ディスク２を回転駆動す
るスピンドルモータ、４は光ディスクに記録されている
情報を読み取るためのピックアップである。ピックアッ
プ４で再生された情報信号は、アンプ５で増幅され、２
値スライス回路６に入力され、読み取り信号を２値スラ
イス回路６において所定値と比較することにより、２値
パルスに変換する。

【０００５】

【０００３】２値パルスをＶＣＯ（電圧制御発振器）１
０の発生する再生クロックと位相誤差検出器８で比較
し、その位相誤差をＰＷＭ（パルス幅変調）信号で表現
し、ＰＷＭ信号をＬＰＦ（ローパスフィルタ）９で平滑
化してＶＣＯ１０の入力電圧を得ていた。ＶＣＯ１０
は、この入力電圧に応じた再生クロックを再生し、２値
スライス回路６の出力をサンプリング回路７でサンプリ
ングして２値データ出力１１を得ていた。

【０００６】

【０００４】

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】例えば、ＣＤ−Ｒ（Ｃ
Ｄ−Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）プレーヤ等で、ＣＤとＣＤ
−Ｒを再生する場合、信号の波形のエッジ部の立ち上が
りの波形に差が出る。理由は、ＣＤを記録を行うレーザ
の波長と、ＣＤ−Ｒの記録を行う波長が異なるため、ピ
ット形状に差を生ずるからである。

【０００８】位相誤差を示す位相誤差信号は信号波形の
エッジ部付近の信号を検出して生成するため、信号波形
のエッジ部の立ち上がりに差が出ると、同一位相誤差で
も生成される位相誤差信号が異なる。

【０００９】

【０００５】また、信号波形のエッジ部の傾斜が緩やか
な場合、ノイズが加わると位相誤差信号に悪影響を及ぼ
す。従って、一方のディスクに対して最適なループを組
むと、他方のディスクに対しては最適なループとはなら
ない。このため、ディスクの種類によって最適クロック
への引き込み速度に差が生じる。

【００１０】

【０００６】この問題点を解決するために、図１６に示
すような回路が考えられる。図１６において、入力９０
２に入力される位相誤差信号は、演算増幅器９０１のゲ
イン、キャパシタンスＣ１、抵抗Ｒ１、Ｒ３または抵抗
Ｒ２、Ｒ４で構成される可変利得フィルタをＳ１及びＳ
２のスイッチで切り換えて、対応するゲインの処理を受
けて出力９０３に出力される。

【００１１】

【０００７】図１６で示すループゲイン切り換え回路の
ようにＬＰＦ部にゲイン切り換え手段Ｓ１及びＳ２を持
たせ、ディスクに応じてループフィルタのゲインを切り
換え、クロックへの引き込み速度を調整することが考え
られるが、Ｓ１及びＳ２のようなアナログスイッチでは
切り換え時のショックや遅延が生じるため、これにより
ＶＣＯの入力電圧に変動が起きて再生クロックに悪影響
を及ぼす。

【００１２】

【０００８】また、ディスクによっては、図１５に示す
ように情報領域とサーボ領域に領域が分かれている場合
がある。このような場合、サーボ領域ではＡｓで示すよ
うな固定パターンが記録されており、この区間は応答を
速くしＰＬＬ（ＰｈａｓｅＬｏｃｋｅｄＬｏｏｐ）を
速く引き込む必要がある。Ａｄで示す情報領域では応答
を遅くしてノイズ等によってクロックが不安定にならな
いようにする必要がある。

【００１３】

【０００９】これを連続制御系で構成すると、図１６の
ようにＬＰＦにてループゲインを切り換えて、サーボ領
域ではＬＰＦの帯域を広くしてクロックを速く引き込
み、情報領域では帯域を狭くしてノイズやドロップアウ
ト等があっても、影響を受け難くしている。

【００１４】しかし、アナログスイッチ等でループゲイ
ンを切り換えても、切り換え時のショックや遅延が生
じ、これがＶＣＯの入力電圧の変動を生じ、再生クロッ
クに悪影響を及ぼしたり、クイックアクセスが困難にな
る等の問題があった。

【００１５】

【００１０】また、ＬＰＦによるループゲイン切り換え
では図１６に示すＲ１〜Ｒ４等の素子各々の誤差が影響
し、所望のループゲインが得られない場合が生じる。こ
のように、ＬＰＦ部でのループゲイン切り換えは容易で
はあるが、誤差が生じやすい。位相誤差検出部はＰＷＭ
信号出力なので、ループゲイン切り換えは容易ではな
い。また、ディスクの各層、ディスクの種類においても
同様に連続制御系ではクイックアクセスが困難であっ
た。

【００１６】

【００１１】さらに、ディスクの傷や、フィンガープリ
ント等により、ドロップアウトが生じた場合に得られる
再生読み取り信号は、正規にディスクに記録されたもの
と異なるものとなる。アナログ信号処理でドロップアウ
ト時の位相誤差を除去しようとしても、アナログスイッ
チ等では、スイッチングノイズ等により正確に除去でき
ない。そのため、得られるクロックも正確なものでなく
なる。

【００１７】

【００１２】そこで、本発明は、上述したような問題に
鑑み、安定した再生装置を提供することを目的としてい
る。

【００１８】

【００１３】

【００１９】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項１に記載の発明は、デジタル信号が記録され
ている記録媒体から読み取られた読み取り信号からデジ
タル信号を再生する再生装置において、記録媒体から信
号を読み取る読み取り手段と、読み取り信号をサンプリ
ングクロックにて順次サンプリングしてサンプル値系列
に変換するＡ／Ｄ変換器と、サンプル値系列からデジタ
ル信号の復号を行い、再生デジタル信号として出力する
復号手段と、サンプル値系列から位相誤差を検出する位
相誤差検出手段と、所定ゲインを記憶する記憶手段と、
位相誤差に所定ゲインを与えたゲイン位相誤差を出力す
るゲイン設定手段と、ゲイン位相誤差に基づいて位相補
正を行ったクロック信号をサンプリングクロックとして
発生するクロック発生手段とを有する。

【００２０】

【００１４】請求項２に記載の発明は、請求項１記載の
再生装置であって、ドロップアウトを検出するドロップ
アウト検出手段と、ドロップアウトを検出したならば、
ドロップアウト時のサンプル値系列から得られる位相誤
差のクロック発生手段への入力を禁止する入力禁止手段
とを有する。

【００２１】

【００１５】請求項３に記載の発明は、請求項２記載の
再生装置であって、記録媒体の種類を検出する媒体種検
出手段とを有し、記憶手段は記録媒体の種類に応じて所
定ゲインを有し、ゲイン設定手段は記録媒体の種類に応
じて、位相誤差に所定ゲインを与えることを特徴とす
る。

【００２２】

【００１６】請求項４に記載の発明は、請求項１または
請求項２に記載の再生装置であって、記録媒体には複数
の記録層が存在するとともに、記憶手段は記録媒体の記
録層に応じて所定ゲインを有し、ゲイン設定手段は記録
媒体から信号を読み出す記録層に応じて、位相誤差信号
に所定ゲインを与えることを特徴とする。

【００２３】

【００１７】請求項５に記載の発明は、請求項１または
請求項２に記載の再生装置であって、記録媒体には複数
の領域が存在するとともに、記憶手段は記録媒体の領域
に応じて所定ゲインを有し、ゲイン設定手段は記録媒体
から信号を読み出す領域に応じて、位相誤差信号に所定
ゲインを与えることを特徴とする。

【００２４】

【００１８】

【００２５】

【作用】請求項１に記載の発明は、デジタル信号を再生
する再生装置において、読み取り信号をサンプル値系列
に変換し、サンプル値系列から位相誤差を検出し、所定
ゲインを記憶する記憶手段と、ゲイン位相誤差を出力す
るゲイン設定手段を設け、ゲイン位相誤差に基づいて位
相補正を行ったクロック信号をサンプリングクロックと
して発生するようにしたので、ゲイン切り換えによる遅
延や切り換えのためのショックは無く、正確なクロック
を生成することができる。

【００２６】

【００１９】請求項２に記載の発明は、ドロップアウト
を検出したならば、ドロップアウト時のサンプル値系列
から得られる位相誤差のクロック発生手段への入力を禁
止する入力禁止手段とを有するようにしたので、容易に
且つ正確にドロップアウト時の異常サンプル値系列を除
外することができる。

【００２７】

【００２０】請求項３〜請求項５に記載の発明は、記憶
手段及びゲイン設定手段を記録媒体の種類、記録層、記
録媒体から信号を読み出す領域のそれぞれに応じて、位
相誤差に所定ゲインを与えるようにしたので、それぞれ
に応じて直ちに最適ゲインに設定することができる。

【００２８】

【００２１】

【００２９】

【発明の実施の形態】図１は、本発明によるデジタル信
号再生装置２０の構成を示す図である。かかる図１にお
いて、情報読取装置１は、デジタル情報信号が高密度記
録されている光ディスク２を回転駆動せしめるスピンド
ルモータ３と、かかる光ディスク２に記録されている記
録情報を読み取って得られた読み取り信号（ｐ）をデジ
タル信号再生装置２０に供給するピックアップ４とから
なる。

【００３０】

【００２２】かかる情報読取装置１から供給された読み
取り信号（ｐ）は、デジタル信号再生装置２０のＡ／Ｄ
変換器２５に供給される。Ａ／Ｄ変換器２５は、この読
み取り信号（ｐ）を、クロック発生回路２９から供給さ
れるサンプリングクロック（ｖ）のタイミングにてサン
プリングして、この際得られたサンプル値（ｑ）をビタ
ビ復号器２６、及びサンプル値抽出回路２７の各々に供
給する。

【００３１】

【００２３】ビタビ復号器２６は、上記のサンプリング
クロック（ｖ）のタイミング毎にサンプル値（ｑ）を順
次取り込み、この取り込んだサンプル値（ｑ）を系列と
して観測する。ここで、ビタビ復号器２６は、かかる入
力サンプル値系列に対して最も存在確率の高い復号デー
タ系列を再生デジタル信号として出力する。

【００３２】サンプル値抽出回路２７は、上記サンプリ
ングクロック（ｖ）のタイミング毎にＡ／Ｄ変換器２５
から供給されてくるサンプル値（ｑ）が正の値から負の
値、または負の値から正の値へと推移するゼロクロス区
間中において、そのサンプル値（ｑ）の値が最も０レベ
ルに近いサンプル値を抽出し、これを抽出サンプル値
（ｒ）として極性切換回路２８に供給する。

【００３３】

【００２４】更に、かかるサンプル値抽出回路２７は、
この抽出サンプル値（ｒ）を、サンプル値（ｑ）の推移
変化の上昇傾向中に得たものであるのか、または、下降
傾向中に得たものであるのかを示す傾斜信号（ｓ）を生
成してこれを極性切換回路２８に供給する。

【００３４】図２は、かかるサンプル値抽出回路２７の
内部構成の一例を示す図である。

【００３５】

【００２５】図２において、絶対値回路３１は、供給さ
れてくるサンプル値（ｑ）の絶対値を求めてこれをサン
プル絶対値としてＤフリップフロップ３２及び比較器３
３の各々に供給する。かかるＤフリップフロップ３２に
は、図示していないが、サンプリングクロック（ｖ）が
そのクロック端に供給されており、上記絶対値回路３１
から供給されてくるサンプル絶対値を１サンプリングク
ロック分だけ遅延させて比較器３３に供給する。

【００３６】

【００２６】比較器３３は、かかる絶対値回路３１から
供給されてくるサンプル絶対値と、１サンプリングクロ
ック分だけ遅延されて供給されてくるサンプル絶対値と
の大小比較を行い、この大小比較結果を示す比較結果信
号を選択回路３４に供給する。例えば、比較器３３は、
絶対値回路３１から供給されてくるサンプル絶対値が、
１サンプリングクロック分だけ遅延されて供給されてく
るサンプル絶対値よりも大であると判定した場合には論
理値「０」の比較結果信号を選択回路３４に供給する一
方、絶対値回路３１から供給されてくるサンプル絶対値
が、１サンプリングクロック分だけ遅延されて供給され
てくるサンプル絶対値よりも小であると判定した場合に
は論理値「１」の比較結果信号を選択回路３４に供給す
る。Ｄフリップフロップ３５は、図示していないが、サ
ンプリングクロック（ｖ）がそのクロック端に供給され
ており、上記Ａ／Ｄ変換器２５から供給されてくるサン
プル値（ｑ）を１サンプリングクロック分だけ遅延した
遅延サンプル値を選択回路３４に供給する。

【００３７】

【００２７】選択回路３４は、上記比較器３３から論理
値「０」の比較結果信号が供給された場合には、上記Ｄ
フリップフロップ３５により１サンプリングクロック分
だけ遅延された遅延サンプル値をＤフリップフロップ３
６に供給する一方、上記比較器３３から論理値「１」の
比較結果信号が供給された場合には、上記Ａ／Ｄ変換器
２５から供給されてくるサンプル値（ｑ）をそのままＤ
フリップフロップ３６に供給する。

【００３８】

【００２８】すなわち、上記比較器３３及び選択回路３
４は、上記Ａ／Ｄ変換器２５から順次供給されてくるサ
ンプル値系列中から、互いに隣接（サンプリングタイミ
ングにおいて）する２つのサンプル値（ｑ）同士の大小
比較を行い、その絶対値の小なる方を選択してＤフリッ
プフロップ３６に供給するのである。

【００３９】排他的論理和回路３７は、サンプル値
（ｑ）のＭＳＢ（最上位ビット）の論理値と、上記Ｄフ
リップフロップ３５にて１サンプリングクロック分だけ
遅延された遅延サンプル値のＭＳＢの論理値とが不一致
である場合には、論理値「１」のイネーブル信号をＤフ
リップフロップ３６及び３８の各々に供給する一方、両
者が同一論理値である場合には、論理値「０」のイネー
ブル信号をＤフリップフロップ３６及び３８の各々に供
給する。この際、サンプル値（ｑ）がオフセットバイナ
リにて２進数表現されているものとすると、サンプル値
（ｑ）のＭＳＢが論理値「０」である場合には、かかる
サンプル値（ｑ）は負の値であり、一方、かかるＭＳＢ
が論理値「１」である場合には、このサンプル値（ｑ）
は正の値である。つまり、サンプル値（ｑ）のＭＳＢの
論理値と、Ｄフリップフロップ３５にて１サンプリング
クロック分だけ遅延された遅延サンプル値のＭＳＢの論
理値とが不一致であるということは、サンプル値（ｑ）
が正の値から負の値、または負の値から正の値へと推移
している状態、いわゆるゼロクロス状態にあることを示
しているのである。すなわち、排他的論理和回路３７
は、かかるゼロクロス状態を検出した場合に、論理値
「１」のイネーブル信号をＤフリップフロップ３６及び
３８の各々に供給するというゼロクロス検出手段として
動作するのである。

【００４０】

【００２９】かかるＤフリップフロップ３６は、上記排
他的論理和回路３７から論理値「１」のイネーブル信号
が供給された時にのみ、上記選択回路３４から供給され
たサンプル値を取り込んでこれを抽出サンプル値（ｒ）
として出力する。

【００４１】一方、Ｄフリップフロップ３８は、上記排
他的論理和回路３７から論理値「１」のイネーブル信号
が供給された時にのみ、上記Ｄフリップフロップ３５か
ら供給された遅延サンプル値のＭＳＢを取り込んでこれ
を傾斜信号（ｓ）として出力する。この際、サンプル値
（ｑ）が正の値から負の値へと推移している場合、すな
わち、サンプル値（ｑ）の推移変化が下降傾向にある場
合には、かかる傾斜信号（ｓ）の信号論理値は「１」と
なる一方、サンプル値（ｑ）が負の値から正の値へと推
移している場合、すなわち、サンプル値（ｑ）の推移変
化が上昇傾向にある場合には、かかる傾斜信号（ｓ）の
信号論理値は「０」となる。

【００４２】

【００３０】次に、図１における極性切換回路２８は、
かかる傾斜信号（ｓ）の信号論理値が「０」である場合
には、上記サンプル値抽出回路２７から供給された抽出
サンプル値（ｒ）をそのまま位相誤差信号（ｔ）として
クロック発生回路２９に供給する一方、かかる傾斜信号
（ｓ）の信号論理値が「１」である場合には、上記サン
プル値抽出回路２７から供給された抽出サンプル値
（ｒ）の極性を反転した反転抽出サンプル値を位相誤差
信号（ｔ）としてクロック発生回路２９に供給する。

【００４３】

【００３１】図３は、かかる極性切換回路２８の内部構
成の一例を示す図である。

【００４４】図３において、極性反転回路４１は、上記
サンプル値抽出回路２７から供給された抽出サンプル値
（ｒ）の極性を反転させて選択回路４２に供給する。か
かる極性反転回路４１は、例えば、抽出サンプル値
（ｒ）の全ビットの論理を反転させたものに「１」を加
算することにより、抽出サンプル値（ｒ）の極性を反転
させる。選択回路４２は、上記サンプル値抽出回路２７
から供給された傾斜信号（ｓ）の信号論理値が「０」で
ある場合には、上記サンプル値抽出回路２７から供給さ
れた抽出サンプル値（ｒ）を選択してこれを位相誤差信
号（ｔ）として出力する一方、かかる傾斜信号（ｓ）の
信号論理値が「１」である場合には、上記極性反転回路
４１によって極性反転されたサンプル値を選択してこれ
を位相誤差信号（ｔ）として出力する。

【００４５】

【００３２】すなわち、かかる極性切換回路２８は、サ
ンプル値（ｑ）の推移変化が上昇傾向にある場合には、
抽出サンプル値（ｒ）をそのまま位相誤差信号（ｔ）と
して入力禁止回路１０５、ゲイン切り換え回路１０８を
介してクロック発生回路２９に供給する一方、サンプル
値（ｑ）の推移変化が下降傾向にある場合には、抽出サ
ンプル値（ｒ）の極性を反転した反転抽出サンプル値を
位相誤差信号（ｔ）として入力禁止回路１０５、ゲイン
切り換え回路１０８を介してクロック発生回路２９に供
給するのである。

【００４６】

【００３３】クロック発生回路２９は、かかる位相誤差
信号（ｔ）に基づいて位相補正したサンプリングクロッ
ク（ｖ）を発生してこれを上記Ａ／Ｄ変換器２５、及び
ビタビ復号器２６の各々に供給する。

【００４７】

【００３４】図４は、かかるクロック発生回路２９の内
部構成を示す図である。

【００４８】図４において、Ｄ／Ａ変換器５１は、かか
る位相誤差信号（ｔ）をアナログ電圧に変換してＬＰＦ
（ローパスフィルタ）５２に供給する。ＬＰＦ５２は、
供給されたアナログ電圧を平均化してＶＣＯ（電圧制御
発振器）５３に供給する。ＶＣＯ５３は、ＬＰＦ５２か
ら供給された平均アナログ電圧に応じた発振周波数を有
するサンプリングクロック（ｖ）を出力する。

【００４９】

【００３５】図５は、上述した如き図１〜図４にて示さ
れるデジタル信号再生装置２０による動作の一例を示す
図である。

【００５０】かかる図５において、読み取り信号（ｐ）
は、サンプリングクロック（ｖ）のタイミング毎にＡ／
Ｄ変換されてサンプル値ｑ₁〜ｑ₁₂なる系列となる。

【００５１】先ず、かかるサンプル値ｑ₁〜ｑ₁₂なる系
列においては、サンプル値ｑ₂からｑ₃の推移において
そのサンプル値が負の値から正の値へと変化している。
この際、サンプル値ｑ₂の絶対値とサンプル値ｑ₃の絶
対値とではサンプル値ｑ₂の絶対値の方が小、すなわ
ち、サンプル値ｑ₂の方が０レベルに近いので、サンプ
ル値抽出回路２７は、このサンプル値ｑ₂を抽出サンプ
ル値（ｒ）として出力する。更に、かかるサンプル値ｑ
₂からｑ₃への推移が上昇傾向にあるので、サンプル値
抽出回路２７は、傾斜信号（ｓ）の信号論理値を「０」
にする。この際、極性切換回路２８は、かかる傾斜信号
（ｓ）の信号論理値が「０」であるので、上記抽出サン
プル値（ｒ）としてのサンプル値ｑ₂をそのまま位相誤
差信号（ｔ）として、クロック発生回路２９に供給す
る。

【００５２】

【００３６】次に、サンプル値ｑ₈からｑ₉の推移にお
いてそのサンプル値が正の値から負の値へと変化してい
る。この際、サンプル値ｑ₈の絶対値とサンプル値ｑ₉
の絶対値とではサンプル値ｑ₈の絶対値の方が小、すな
わち、サンプル値ｑ₈の方が０レベルに近いので、サン
プル値抽出回路２７は、このサンプル値ｑ₈を抽出サン
プル値（ｒ）として出力する。更に、かかるサンプル値
ｑ₈からｑ₉への推移が下降傾向にあるので、サンプル
値抽出回路２７は、傾斜信号（ｓ）の信号論理値を
「１」にする。この際、極性切換回路２８は、かかる傾
斜信号（ｓ）の信号論理値が「１」であるので、上記抽
出サンプル値（ｒ）としてのサンプル値ｑ₈の極性を反
転したものを位相誤差信号（ｔ）として、クロック発生
回路２９に供給する。

【００５３】

【００３７】この際、クロック発生回路２９は、上記サ
ンプル値ｑ₂及びサンプル値（−ｑ₈）に基づいて位相
補正したサンプリングクロック（ｖ）を発生するのであ
る。次に、かかる位相誤差信号（ｔ）によるサンプリ
ングクロック（ｖ）の位相補正動作を図６を参照しつつ
説明する。

【００５４】この際、図６（ａ）〜（ｃ）において、上
記図５にて示されるが如き上昇傾向を示す３つの連続し
たサンプル値ｑ₁〜ｑ₃に応じて為される位相補正動作
を示す。また、図６（ｄ）〜（ｆ）においては、上記図
５に示されるが如き下降傾向を示す３つの連続したサン
プル値ｑ₇〜ｑ₉に応じて為される位相補正動作を示す
ものである。尚、かかる図６中の破線は、正常位相時に
おいてクロック発生回路２９が発生するサンプリングク
ロック（ｖ）のタイミング位置を示すものである。ま
た、図中の一点鎖線はサンプル値のゼロレベルを示すも
のである。

【００５５】

【００３８】先ず、図６（ａ）においては、サンプル値
ｑ₁〜ｑ₃各々が正常なタイミングでサンプリングされ
ている場合を示すものである。

【００５６】この際、サンプル値ｑ₂は、かかるゼロレ
ベルと等しくなる。よって、クロック発生回路２９に
は、位相誤差信号（ｔ）としてこのゼロレベルが供給さ
れることになる。従って、この際、クロック発生回路２
９は現状の位相にてサンプリングクロック（ｖ）の発生
を行う。

【００５７】

【００３９】次に、図６（ｂ）においては、サンプル値
ｑ₁〜ｑ₃各々が正常な位置よりも早いタイミングでサ
ンプリングされている場合を示すものである。

【００５８】この際、サンプル値ｑ₂は、上記ゼロレベ
ルよりも小なる負の値となる。よって、クロック発生回
路２９には、位相誤差信号（ｔ）としてこのゼロレベル
よりもサンプル値ｑ₂の分だけ少ない負の値が供給され
ることになる。従って、この際、クロック発生回路２９
は、サンプル値ｑ₂に対応した分だけ位相を遅らせたサ
ンプリングクロック（ｖ）の発生を行ってクロックの位
相進みを補正するのである。

【００５９】

【００４０】次に、図６（ｃ）においては、サンプル値
ｑ₁〜ｑ₃各々が正常な位置よりも遅いタイミングでサ
ンプリングされている場合を示すものである。

【００６０】この際、サンプル値ｑ₂は、上記ゼロレベ
ルよりも大なる正の値となる。よって、クロック発生回
路２９には、位相誤差信号（ｔ）としてこのゼロレベル
よりもサンプル値ｑ₂の分だけ大なる正の値が供給され
ることになる。従って、この際、クロック発生回路２９
は、サンプル値ｑ₂に対応した分だけ位相を進ませたサ
ンプリングクロック（ｖ）の発生を行ってクロックの位
相遅れを補正するのである。

【００６１】

【００４１】て、クロック発生回路２９には、位相誤差
信号（ｔ）としてこのゼロレベルよりもサンプル値ｑ₂
の分だけ大なる正の値が供給されることになる。従っ
て、この際、クロック発生回路２９は、サンプル値ｑ₂
に対応した分だけ位相を進ませたサンプリングクロック
（ｖ）の発生を行ってクロックの位相遅れを補正するの
である。

【００６２】

【００４１】次に、図６（ｄ）においては、サンプル値
ｑ₇〜ｑ₉各々が正常なタイミングでサンプリングされ
ている場合を示すものである。

【００６３】この際、サンプル値ｑ₈は、一点鎖線で示
されるゼロレベルと等しくなる。ここで、サンプル値ｑ
₇〜ｑ₉なる系列のレベル変化は下降傾向である。よっ
て、クロック発生回路２９には、位相誤差信号（ｔ）と
して、このゼロレベルの極性反転値、すなわち同じくゼ
ロレベルが供給されることになる。従って、この際、ク
ロック発生回路２９は現状の位相にてサンプリングクロ
ック（ｖ）の発生を行うのである。

【００６４】

【００４２】次に、図６（ｅ）においては、サンプル値
ｑ₇〜ｑ₉各々が正常な位置よりも早いタイミングでサ
ンプリングされている場合を示すものである。

【００６５】この際、サンプル値ｑ₈は、上記ゼロレベ
ルよりも大なる正の値となる。ここで、サンプル値ｑ₇
〜ｑ₉なる系列のレベル変化は下降傾向である。よっ
て、クロック発生回路２９には、位相誤差信号（ｔ）と
して、このサンプル値ｑ₈の極性を反転した信号、すな
わち、上記ゼロレベルよりもサンプル値ｑ₈の分だけ少
ない負の値が供給されることになる。従って、この際、
クロック発生回路２９は、サンプル値ｑ₈に応じた分だ
け位相を遅らせたサンプリングクロック（ｖ）の発生を
行ってクロックの位相進みを補正するのである。

【００６６】

【００４３】最後に、図６（ｆ）においては、サンプル
値ｑ₇〜ｑ₉各々が正常な位置よりも遅いタイミングで
サンプリングされている場合を示すものである。

【００６７】この際、サンプル値ｑ₈は上記ゼロレベル
よりも小なる負の値となる。ここで、サンプル値ｑ₇〜
ｑ₉なる系列のレベル変化は下降傾向である。よって、
クロック発生回路２９には、位相誤差信号（ｔ）とし
て、このサンプル値ｑ₈の極性を反転した信号、すなわ
ち、上記ゼロレベルよりもサンプル値ｑ₈の分だけ大な
る正の値が供給されることになる。従って、この際、ク
ロック発生回路２９は、サンプル値ｑ₈に応じた分だけ
位相を進ませたサンプリングクロック（ｖ）の発生を行
ってクロックの位相遅れを補正するのである。

【００６８】

【００４４】尚、上記極性切換回路２８においては、サ
ンプル値系列のサンプル値レベルが上昇傾向にある場合
には、サンプル値抽出回路２７から供給された抽出サン
プル値（ｒ）をそのまま位相誤差信号（ｔ）として入力
禁止回路１０５、ゲイン切り換え回路１０８を介してク
ロック発生回路２９に供給する一方、かかるサンプル値
系列のサンプル値レベルが下降傾向にある場合には、上
記抽出サンプル値（ｒ）の極性を反転した反転抽出サン
プル値を位相誤差信号（ｔ）としてクロック発生回路２
９に供給する構成としているが、この極性反転の条件
は、クロック発生回路２９の信号処理方法によって適宜
設定されるものである。

【００６９】

【００４５】例えば、上記実施の形態の図２において、
サンプル値抽出回路２７の内部構成の一例を示したが、
かかるサンプル値抽出回路２７としては、図７に示され
るが如き内部構成のものを採用しても良い。

【００７０】かかる図７において、加算器８２は、Ａ／
Ｄ変換器２５から供給されてくるサンプル値（ｑ）と、
Ｄフリップフロップ８１によって１サンプリングクロッ
ク分だけ遅延された遅延サンプル値との加算を行う。か
かる加算動作により加算器８２は、図８に示されるが如
く、隣接する２つのサンプル値（ｑ）毎に、その平均サ
ンプル値（ｕ）を求める。尚、図８においては、サンプ
ル値（ｑ）を白丸、平均サンプル値（ｕ）を黒丸で示し
ている。この際、かかる平均サンプル値（ｕ）の系列
は、サンプル値（ｑ）の系列に対して直線補間を行った
ものとなる。

【００７１】

【００４６】図１は、本発明の実施の形態の構成を示す
ブロック図である。図１に示すようにスピンドルモータ
３で回転駆動される光ディスク２からピックアップ４で
読み取られた読み取り信号は、アンプ５で増幅され、Ａ
／Ｄ変換器２５でクロック発生回路２９からのクロック
によってサンプリングされデジタル変換される。位相誤
差検出器１０４でデジタル信号を得て、このデジタル信
号のサンプル値系列から位相誤差信号を得る。

【００７２】

【００４７】位相誤差検出器１０４の出力は、入力禁止
回路１０５の入力の１つに供給され、入力禁止回路１０
５の他方の入力には、センターレベル出力回路１０６か
ら基準レベルが入力されている。また、入力禁止回路１
０５の制御入力には、ドロップアウト検出器１０７から
のドロップアウト検出信号が入力されており、ドロップ
アウト期間中は位相誤差信号（ｔ）に替わってセンター
レベル出力回路１０６からの信号を出力する。そのこと
により、ゲイン切り換え回路１０８及びクロック発生回
路２９へのドロップアウト期間中の位相誤差信号（ｔ）
の入力を禁止する。

【００７３】

【００４８】次に、ゲイン切り換え回路１０８、メモリ
１０９で構成されるゲイン設定手段では、媒体種検出手
段であるディスク種類判別手段１１０、多層ディスクに
対する再生層を指定する制御手段１１１、記録領域を判
別する領域判別手段１１２の各々の状態に対応する最適
なゲインをメモリ１０９に記憶させておき、それぞれの
判別手段の判別結果や、制御手段１１１からの制御信号
に従ってゲイン切り換え回路１０８は入力禁止回路１０
５からの位相誤差信号に対し、適切なゲインとなるよう
切り換え選択する。

【００７４】

【００４９】ゲイン切り換え回路１０８で最適なゲイン
となるよう処理された位相誤差信号は、クロック発生回
路２９に供給され、そこで最適に位相補正されたクロッ
クを発生し、Ａ／Ｄ変換器２５に供給する。一方、Ａ／
Ｄ変換器の出力はビタビ復号器２６へ入力され、ビタビ
復号された２値データが出力１０３に出力される。

【００７５】

【００５０】上述の如く本発明は、位相誤差信号に対し
て所定のゲインを選択的に与えて、最適なクロックを出
力するように制御しようとするものである。図１２にゲ
イン設定手段のブロック図を示す。図１２において、記
憶回路５０１により、多層ディスク、ディスクの種類、
記録領域の各々の状態に対応する最適なゲイン｛ｋ₀，
ｋ₁，・・・ｋ_2n-1｝を、ｍビットで表現し、現在の読
み取り信号の状態によりシステムコントローラ５０５及
び選択回路５０２にて、ゲイン｛ｋ₀，ｋ₁，・・・ｋ
_2n-1｝から、１つのゲインｋ_Aを選択し、乗算器５０３
の１つの入力とする。

【００７６】

【００５１】乗算器５０３の他方の入力５０６には、位
相誤差信号がｎビットで入力され、乗算器５０３からｎ
ビットの乗算結果がＤフリップフロップ５０４へ送られ
てラッチされる。Ｄフリップフロップ５０４の出力５０
７にはｎビットの最適ゲイン位相誤差信号が出力され
る。図１２の５０１は図１のメモリ１０９に、図１２の
５０２〜５０５は図１のゲイン切り換え回路１０８にそ
れぞれ対応している。

【００７７】

【００５２】前述したように、請求項１、３に記載の再
生装置では、図１のように、ディスクから読み取られた
読み取り信号はＡ／Ｄ変換器を介し、サンプリングクロ
ックでサンプリングされたサンプル値系列を得る。サン
プル値系列から位相誤差信号を得て、ゲインを切り換え
る方式であれば、ゲイン切り換えによる遅延やショック
は無く、正確なクロックを生成することができる。

【００７８】

【００５３】具体的な動作は、ディスクからの読み取り
信号がＡ／Ｄ変換器２５によりサンプル値（ｑ）に変換
された後、位相誤差検出器１０４によって、位相誤差信
号（ｔ）が生成される。この位相誤差信号（ｔ）は入力
禁止回路１０５を介し、ゲイン切り換え回路１０８に供
給される。また、ディスク種類判別手段１１０は再生さ
れているディスクがＣＤであるかＣＤ−Ｒであるかを、
読み取り信号中のウォブル信号の有無に基づき判断す
る。ウォブル信号はＣＤ−Ｒには存在するが、ＣＤには
存在しないので、ウォブル信号が検出されればＣＤ−
Ｒ、検出されなければＣＤと判別できる。

【００７９】

【００５４】例えば、ウォブル信号が読み取り信号から
検出されると、ディスク種類判別手段１１０はＣＤ−Ｒ
であると判別し、ＣＤ−Ｒであることを示すディスク種
類信号をゲイン切り換え回路１０８に供給する。ゲイン
切り換え回路１０８はディスク種類信号に基づき、メモ
リ１０９からＣＤ−Ｒに対応するゲインを読み出し、入
力された位相誤差信号（ｔ）にゲインを与える。

【００８０】

【００５５】そして、ゲインが与えられた位相誤差であ
るゲイン位相誤差信号はクロック発生回路２９に入力さ
れ、そのゲイン位相誤差信号に基づきクロックが生成さ
れる。なお、同様に、再生するディスクがＣＤである場
合は、ＣＤに対応したゲインが位相誤差信号（ｔ）に与
えられる。また、ＣＤに比べ、ＣＤ−Ｒの再生波形は、
その特性から必然的に小さなものとなるため、メモリ１
０９に記憶されているディスク毎のゲインの値は、ＣＤ
に対応するゲインに比べ、ＣＤ−Ｒに対応するゲインは
高い値に設定されている。

【００８１】

【００５６】次に、位相誤差信号にゲインを与える動作
を説明する。サンプル値系列からセンターレベルに最も
近いサンプル値を抽出し、抽出データが上昇傾斜時か下
降傾斜時かによってセンターレベルに対し反転または非
反転し、それを位相誤差信号として得る。ゲイン設定手
段にて複数のゲイン設定値から最適となるゲインを選択
しこの位相誤差信号を所定のゲインに変換する。

【００８２】

【００５７】次に例として、図９に読み取り信号に対し
てサンプリングクロックの位相が進んでいる場合の諸動
作を示す。図９（ａ）に示すように、読み取り信号また
はサンプル値系列に対しサンプリングクロックの位相が
進むと、位相誤差検出手段にてセンターレベルに最も近
いサンプル値を反転または非反転して位相誤差信号を得
て、図９（ｂ）に示すようになる。

【００８３】

【００５８】位相誤差信号のゲインを仮に２倍から１倍
に切り換えるとゲイン切り換え後の最適ゲイン位相誤差
信号は図９ｃに示すようになる。このようにして得た最
適ゲイン位相誤差信号により、位相補正されたサンプリ
ングクロックは位相を遅らせ読み取り信号と位相同期す
る。

【００８４】

【００５９】次に、ディスクの傷や、フィンガープリン
ト等により、ドロップアウトが生じた時には、読み取り
信号は正常な信号とは異なる信号となる。この異常なア
ナログ信号をサンプリングしたサンプル値系列も同様に
異常なものとなる。連続制御系において、ドロップアウ
ト時の位相誤差信号を除外しようとしても、スイッチン
グノイズ等で正確に除外することができない。これは正
確にクロックが得られないことを意味する。

【００８５】

【００６０】請求項２に記載の発明による実施の形態で
は、図１１に内部ブロック図を図示した入力禁止回路１
０５を用いて、離散制御系では、容易に且つ正確にドロ
ップアウト時の異常サンプル値系列を除外することがで
きる。図１１において、選択手段４０１はその制御入力
である４０１ｃに入力されるドロップアウト検出信号に
よって、入力Ａの位相誤差信号入力か、入力Ｂのセンタ
ーレベル値かを選択する。ドロップアウト発生時は、入
力Ｂのセンターレベル値を選択し、そうでない場合は、
入力Ａの位相誤差信号入力を選択する。Ｄフリップフロ
ップ４０２は、データラッチ用であり、ラッチされた信
号が位相誤差信号出力となる。

【００８６】また、図１では、ドロップアウトを検出す
るドロップアウト検出手段であるドロップアウト検出器
１０７でドロップアウトを検出する。検出の方法として
は、図１３に示すように、ＲＦ信号のゼロクロスを検出
し、所定期間ｔ₀の間ゼロクロスが得られないときはド
ロップアウトが発生したと判断して、期間ｔ₁の間ドロ
ップアウト検出信号を出力する方法等がある。ドロップ
アウト検出器１０７からのドロップアウト検出信号は、
入力禁止回路１０５の制御入力に入力されており、ドロ
ップアウト期間中は位相誤差信号に替わってセンターレ
ベル出力回路１０６からの信号を出力し、異常サンプル
値系列の影響を受けないようにしている。

【００８７】

【００６１】次に、多層ディスクの場合は、ディスクの
層に応じて、ゲインを切り換えるように構成する。例え
ば、２層ディスクにおいて、ピックアップに近い側の１
層目は、遠い側の２層目の全反射膜に対して半透過性の
膜で構成され、通常２層目の情報読み取り信号の方が１
層目の情報読み取り信号よりも信号レベルが大きくな
る。従って、２層目の読み取り時に比べ、１層目の読み
取り時のゲインを高く設定する必要が生じる。

【００８８】請求項４に記載の発明による実施の形態で
は、多層ディスクに対する再生層を指定する制御手段１
１１から再生する層を示す制御信号がゲイン切り換え回
路１０８に出力される。ゲイン切り換え回路１０８は制
御信号が示す、１層目または２層目との情報に基づき、
メモリ１０９から予め層毎に設定されている適切なゲイ
ンを読み出し、入力禁止回路１０５からの位相誤差信号
に対し、ゲインを切り換え設定する。

【００８９】

【００６２】具体的な動作は、ディスクからの読み取り
信号がＡ／Ｄ変換器２５によりサンプル値（ｑ）に変換
された後、位相誤差検出器１０４によって、位相誤差信
号（ｔ）が生成される。この位相誤差信号（ｔ）は入力
禁止回路１０５を介し、ゲイン切り換え回路１０８に供
給される。また、制御手段１１１は再生する再生層が１
層目であるか、２層目であるかを示す制御信号をゲイン
切り換え回路１０８に供給する。例えば、再生する層が
２層目である場合、２層目であることを示す制御信号が
ゲイン切り換え回路１０８に出力され、この制御信号に
基づき、メモリ１０９から２層目に対応するゲインを読
み出し、入力された位相誤差信号（ｔ）にゲインを与え
る。

【００９０】

【００６３】そして、ゲインが与えられた位相誤差であ
るゲイン位相誤差信号はクロック発生回路２９に入力さ
れ、そのゲイン位相誤差信号に基づきクロックが生成さ
れる。なお、同様に、再生する層が１層目である場合
は、１層目に対応したゲインが位相誤差信号（ｔ）に与
えられる。また、前述したように２層目の読み取り信号
レベルより、１層目の読み取り信号レベルが低いため、
メモリ１０９に記憶している層毎のゲインの値は、２層
目に対応するゲインよりも１層目に対応するゲインは高
い値に設定されている。

【００９１】

【００６４】次に、前述したように、ディスクを領域に
分け、情報領域とサーボ領域が繰り返し存在するように
構成するディスクがある（図１５参照）。例えば、書き
換え可能ディスクでは、予め、サーボ領域を設定するこ
とでトラッキングサーボ及びＰＬＬサーボを行い、情報
領域にデジタルデータを記録または再生を行う。

【００９２】このような、ディスクではサーボ領域には
所定のピットが刻んであり、その領域でクロックの引き
込みを正確に行い、情報領域では情報の読み取りを行う
ようになっている。

【００９３】情報領域ではノイズやドロップアウトに対
し、ＰＬＬが敏感に反応して揺動してしまうことを避け
る必要があり、サーボ領域ではクロックが揺動される場
合等でも正確なクロック同期を得るために、ＰＬＬを速
く引き込み位相を速く合わせる必要がある。

【００９４】

【００６５】そのため、サーボ領域ではゲインを高く
し、ＰＬＬの応答を速くする。情報領域ではゲインを低
めに設定し、応答を遅くなるようにする。領域毎のゲイ
ンは記憶手段に記憶しておき、再生する領域に応じてゲ
インを切り換えるように構成する。領域の判別方法は、
領域は予め決められた位置に設定されているので、カウ
ンタを用い、タイミングをはかることにより領域を判別
できる。

【００９５】請求項５に記載の発明による実施の形態で
は、記録領域を判別する領域判別手段１１２の各々の状
態に対応する最適なゲインをメモリ１０９に記憶させて
おき、領域判別手段１１２の判別結果に従ってゲイン切
り換え回路１０８は入力禁止回路１０５からの位相誤差
信号に対し、適切なゲインとなるよう切り換え選択す
る。

【００９６】

【００６６】具体的な動作は、ディスクからの読み取り
信号がＡ／Ｄ変換器２５によりサンプル値（ｑ）に変換
された後、位相誤差検出器１０４によって、位相誤差信
号（ｔ）が生成される。この位相誤差信号（ｔ）は入力
禁止回路１０５を介し、ゲイン切り換え回路１０８に供
給される。また、領域判別手段１１２は内部に有するカ
ウンタを用いて、タイミングをはかることによりサーボ
領域と情報領域を判別する。各々の領域はディスクの予
め決められた位置に設定されているため上記手法により
領域の判別が可能である。

【００９７】

【００６７】そして、領域判別手段１１２は判別した結
果に基づき領域判別信号をゲイン切り換え回路１０８に
出力する。例えば、サーボ領域を再生している場合、サ
ーボ領域を示す領域判別信号がゲイン切り換え回路１０
８に供給される。ゲイン切り換え回路１０８は領域判別
信号に基づき、メモリ１０９からサーボ領域に対応する
ゲインを読み出し、入力された位相誤差信号（ｔ）にゲ
インを与える。そして、ゲインが与えられた位相誤差信
号であるゲイン位相誤差信号はクロック発生回路２９に
入力され、そのゲイン位相誤差信号に基づきクロックが
生成される。

【００９８】なお、同様に、情報領域を再生している場
合は情報領域に対応したゲインが位相誤差信号（ｔ）に
与えられる。

【００９９】また、情報領域に比べ、サーボ領域ではＰ
ＬＬの応答を速くするために、メモリ１０９に記憶され
ているサーボ領域に対応するゲインの値は、情報領域に
対応するゲインに比べ、高い値に設定される。

【０１００】

【００６８】一方、連続制御系によるゲイン切り換えで
は図１６に示すＲ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ４等の素子各々に
誤差が含まれるため、所望のゲインが得られないが、離
散制御系でゲインを設定すると、厳密にゲインを設定す
ることができる。また、図１０に示すようにクロック発
生手段の一例として、Ｄ／Ａ変換器３０１、ＬＰＦ３０
２、ＶＣＯ３０３を用いた構成の場合、ＶＣＯ３０３の
入力電圧に対しＬＰＦ３０２でのゲイン切り換えより
も、ワイドレンジで扱うことができる。

【０１０１】

【００６９】本発明では、上述した以外の回路構成とし
て種々の形態が可能である。例えば、図１０に示したク
ロック発生手段において、Ｄ／Ａ変換器３０１の替わり
に、ＰＷＭ回路を用いて位相誤差信号に応じたパルス幅
を有するパルスを生成し、ＬＰＦ３０２でパルスの平均
電圧を得ても良い。

【０１０２】

【００７０】また、ＬＰＦを非反転積分回路で構成した
場合の位相誤差検出法は先述した方法でも良いが、ＬＰ
Ｆを反転積分回路で構成した場合は、サンプル値から抽
出された抽出データに対し、上昇傾斜時、下降傾斜時に
おける抽出データは反転、非反転により位相誤差信号を
得ることで回路構成を行うことができる。

【０１０３】

【００７１】また、ＬＰＦを離散制御系で構成しても良
いし、離散制御系、連続制御系双方を併用しても良い。
また、ドロップアウト時の除去法も、ドロップアウト直
前の値を記憶しておき、その記憶値と切り換えても良
い。

【０１０４】また、上述した実施の形態では、位相誤差
信号にＣＤ、ＣＤ−Ｒに応じたゲインを与える例を示し
たが、本発明はこれらのディスクに限らず、ＤＶＤ（Ｄ
ｉｇｉｔａｌＶｉｄｅｏＤｉｓｋ）などその他のデ
ィスクにも用いることができる。また、１層目、２層目
の再生層に応じたゲインを与える例を示したが、３層以
上の記録層を有するディスクにも本発明は適用できる。
さらに、サーボ領域、情報領域の２つの領域に応じたゲ
インを与える例を示したが、本発明は３領域以上に分か
れているディスクにも適用できる。

【０１０５】

【００７２】

【０１０６】

【発明の効果】以上説明したように、本発明による再生
装置によれば、ディスクから読み取られた再生読み取り
信号をデジタル変換し、このデジタル信号のサンプル値
系列から位相誤差信号を得て、ゲインを切り換えるよう
にしたので、ゲイン切り換えによる遅延や切り換えのた
めのショックは無く、正確なクロックを生成することが
できる。

【０１０７】また、離散制御系でゲインを設定するた
め、連続制御系の場合に比べ厳密にゲインを設定するこ
とができる。

【０１０８】

【００７３】また、クロック発生手段として、Ｄ／Ａ変
換器、ＬＰＦ、ＶＣＯを用いた場合、ＶＣＯ入力電圧に
対しＬＰＦでのゲイン切り換えよりも、ワイドレンジで
扱うことができる。

【０１０９】また、ディスクの種類、各記録層、各記録
領域に対して、ゲイン設定手段に記憶しておくことによ
り、それを切り換えることで直ちに最適ゲインに設定す
ることができる。

【０１１０】また、離散制御系で処理するため、ドロッ
プアウト発生時に、容易に且つ正確にドロップアウト時
の異常サンプル値系列を除外することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態の構成を示すブロック図で
ある。

【図２】サンプル値抽出回路２７の内部構成の一例を示
す図である。

【図３】極性切換回路２８の内部構成の一例を示す図で
ある。

【図４】クロック発生回路２９の内部構成の一例を示す
図である。

【図５】本発明の実施の形態のデジタル信号再生装置に
よる動作を表す図である。

【図６】位相誤差信号（ｔ）によるサンプリングクロッ
ク（ｖ）の位相補正動作を説明するための図である。

【図７】サンプル値抽出回路２７の他の実施の形態によ
る内部構成を示す図である。

【図８】サンプル値（ｑ）及び平均サンプル値（ｕ）の
一例を示す図である。

【図９】本発明の実施の形態のサンプリングクロックの
位相関係を示す図である。

【図１０】本発明の実施の形態のクロック発生手段の一
例を示すブロック図である。

【図１１】本発明の実施の形態の位相誤差信号選択手段
を示す図である。

【図１２】本発明の実施の形態のゲイン設定手段の構成
を示すブロック図である。

【図１３】本発明の実施の形態のドロップアウト期間を
示す図である。

【図１４】従来のクロック発生手段の構成図である。

【図１５】記録領域が分離されている場合の信号波形を
示す図である。

【図１６】従来のループゲイン切り換え回路を示す図で
ある。

【主要部分の符号の説明】

１・・・・情報読取装置２・・・・光ディスク３・・・・スピンドルモータ４・・・・ピックアップ５・・・・アンプ６・・・・２値スライス回路７・・・・サンプリング回路８・・・・位相誤差検出器９・・・・ＬＰＦ１０・・・・ＶＣＯ１１・・・・２値データ出力２０・・・・デジタル信号再生装置２５・・・・Ａ／Ｄ変換器２６・・・・ビタビ復号器２７・・・・サンプル値抽出回路２８・・・・極性切換回路２９・・・・クロック発生回路３２，３５，３６，３８・・・・Ｄフリップフロッ
プ５１・・・・Ｄ／Ａ変換器５２・・・・ＬＰＦ５３・・・・ＶＣＯ８１・・・・Ｄフリップフロップ８２・・・・加算器１０３・・・・出力１０４・・・・位相誤差検出器１０５・・・・入力禁止回路１０６・・・・センターレベル出力回路１０７・・・・ドロップアウト検出器１０８・・・・ゲイン切り換え回路１０９・・・・メモリ１１０・・・・ディスク種類判別手段１１１・・・・制御手段１１２・・・・領域判別手段３０１・・・・Ｄ／Ａ変換器３０２・・・・ＬＰＦ３０３・・・・ＶＣＯ４０１・・・・選択手段４０１ａ，４０１ｂ・・・・入力４０１ｃ・・・・選択制御入力４０２・・・・Ｄフリップフロップ５０１・・・・記憶回路５０２・・・・選択回路５０３・・・・乗算器５０４・・・・Ｄフリップフロップ５０５・・・・システムコントローラ５０６・・・・入力５０７・・・・出力９０１・・・・演算増幅器９０２・・・・入力９０３・・・・出力

─────────────────────────────────────────────────────

【手続補正書】

【提出日】平成９年５月１６日

【手続補正１】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】発明の詳細な説明

【補正方法】変更

【補正内容】

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【０００２】

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】例えば、ＣＤ−Ｒ（Ｃ
Ｄ−Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）プレーヤ等で、ＣＤとＣＤ
−Ｒを再生する場合、信号の波形のエッジ部の立ち上が
りの波形に差が出る。理由は、ＣＤを記録を行うレーザ
の波長と、ＣＤ−Ｒの記録を行う波長が異なるため、ピ
ット形状に差を生ずるからである。位相誤差を示す位相
誤差信号は信号波形のエッジ部付近の信号を検出して生
成するため、信号波形のエッジ部の立ち上がりに差が出
ると、同一位相誤差でも生成される位相誤差信号が異な
る。

【０００９】これを連続制御系で構成すると、図１６の
ようにＬＰＦにてループゲインを切り換えて、サーボ領
域ではＬＰＦの帯域を広くしてクロックを速く引き込
み、情報領域では帯域を狭くしてノイズやドロップアウ
ト等があっても、影響を受け難くしている。しかし、ア
ナログスイッチ等でループゲインを切り換えても、切り
換え時のショックや遅延が生じ、これがＶＣＯの入力電
圧の変動を生じ、再生クロックに悪影響を及ぼしたり、
クイックアクセスが困難になる等の問題があった。

【００１３】

【００１８】

【００２１】

【００２３】ビタビ復号器２６は、上記のサンプリング
クロック（ｖ）のタイミング毎にサンプル値（ｑ）を順
次取り込み、この取り込んだサンプル値（ｑ）を系列と
して観測する。ここで、ビタビ復号器２６は、かかる入
力サンプル値系列に対して最も存在確率の高い復号デー
タ系列を再生デジタル信号として出力する。サンプル値
抽出回路２７は、上記サンプリングクロック（ｖ）のタ
イミング毎にＡ／Ｄ変換器２５から供給されてくるサン
プル値（ｑ）が正の値から負の値、または負の値から正
の値へと推移するゼロクロス区間中において、そのサン
プル値（ｑ）の値が最も０レベルに近いサンプル値を抽
出し、これを抽出サンプル値（ｒ）として極性切換回路
２８に供給する。

【００２４】更に、かかるサンプル値抽出回路２７は、
この抽出サンプル値（ｒ）を、サンプル値（ｑ）の推移
変化の上昇傾向中に得たものであるのか、または、下降
傾向中に得たものであるのかを示す傾斜信号（ｓ）を生
成してこれを極性切換回路２８に供給する。図２は、か
かるサンプル値抽出回路２７の内部構成の一例を示す図
である。

【００２８】すなわち、上記比較器３３及び選択回路３
４は、上記Ａ／Ｄ変換器２５から順次供給されてくるサ
ンプル値系列中から、互いに隣接（サンプリングタイミ
ングにおいて）する２つのサンプル値（ｑ）同士の大小
比較を行い、その絶対値の小なる方を選択してＤフリッ
プフロップ３６に供給するのである。排他的論理和回路
３７は、サンプル値（ｑ）のＭＳＢ（最上位ビット）の
論理値と、上記Ｄフリップフロップ３５にて１サンプリ
ングクロック分だけ遅延された遅延サンプル値のＭＳＢ
の論理値とが不一致である場合には、論理値「１」のイ
ネーブル信号をＤフリップフロッブ３６及び３８の各々
に供給する一方、両者が同一論理値である場合には、論
理値「０」のイネーブル信号をＤフリップフロップ３６
及び３８の各々に供給する。この際、サンプル値（ｑ）
がオフセットバイナリにて２進数表現されているものと
すると、サンプル値（ｑ）のＭＳＢが論理値「０」であ
る場合には、かかるサンプル値（ｑ）は負の値であり、
一方、かかるＭＳＢが論理値「１」である場合には、こ
のサンプル値（ｑ）は正の値である。つまり、サンプル
値（ｑ）のＭＳＢの論理値と、Ｄフリップフロップ３５
にて１サンプリングクロック分だけ遅延された遅延サン
プル値のＭＳＢの論理値とが不一致であるということ
は、サンプル値（ｑ）が正の値から負の値、または負の
値から正の値へと推移している状態、いわゆるゼロクロ
ス状態にあることを示しているのである。すなわち、排
他的論理和回路３７は、かかるゼロクロス状態を検出し
た場合に、論理値「１」のイネーブル信号をＤフリップ
フロツプ３６及び３８の各々に供給するというゼロクロ
ス検出手段として動作するのである。

【００２９】かかるＤフリップフロップ３６は、上記排
他的論理和回路３７から論理値「１」のイネーブル信号
が供給された時にのみ、上記選択回路３４から供給され
たサンプル値を取り込んでこれを抽出サンプル値（ｒ）
として出力する。一方、Ｄフリップフロップ３８は、上
記排他的論理和回路３７から論理値「１」のイネーブル
信号が供給された時にのみ、上記Ｄフリップフロップ３
５から供給された遅延サンプル値のＭＳＢを取り込んで
これを傾斜信号（ｓ）として出力する。この際、サンプ
ル値（ｑ）が正の値から負の値へと推移している場合、
すなわち、サンプル値（ｑ）の推移変化が下降傾向にあ
る場合には、かかる傾斜信号（ｓ）の信号論理値は
「１」となる一方、サンプル値（ｑ）が負の値から正の
値へと推移している場合、すなわち、サンプル値（ｑ）
の推移変化が上昇傾向にある場合には、かかる傾斜信号
（ｓ）の信号論理値は「０」となる。

【００３１】図３は、かかる極性切換回路２８の内部構
成の一例を示す図である。図３において、極性反転回路
４１は、上記サンプル値抽出回路２７から供給された抽
出サンプル値（ｒ）の極性を反転させて選択回路４２に
供給する。かかる極性反転回路４１は、例えば、抽出サ
ンプル値（ｒ）の全ビットの論理を反転させたものに
「１」を加算することにより、抽出サンプル値（ｒ）の
極性を反転させる。選択回路４２は、上記サンプル値抽
出回路２７から供給された傾斜信号（ｓ）の信号論理値
が「０」である場合には、上記サンプル値抽出回路２７
から供給された抽出サンプル値（ｒ）を選択してこれを
位相誤差信号（ｔ）として出力する一方、かかる傾斜信
号（ｓ）の信号論理値が「１」である場合には、上記極
性反転回路４１によって極性反転されたサンプル値を選
択してこれを位相誤差信号（ｔ）として出力する。

【００３４】図４は、かかるクロック発生回路２９の内
部構成を示す図である。図４において、Ｄ／Ａ変換器５
１は、かかる位相誤差信号（ｔ）をアナログ電圧に変換
してＬＰＦ（ローパスフィルタ）５２に供給する。ＬＰ
Ｆ５２は、供給されたアナログ電圧を平均化してＶＣＯ
（電圧制御発振器）５３に供給する。ＶＣＯ５３は、Ｌ
ＰＦ５２から供給された平均アナログ電圧に応じた発振
周波数を有するサンプリングクロック（ｖ）を出力す
る。

【００３５】図５は、上述した如き図１〜図４にて示さ
れるデジタル信号再生装置２０による動作の一例を示す
図である。かかる図５において、読み取り信号（ｐ）
は、サンプリングクロック（ｖ）のタイミング毎にＡ／
Ｄ変換されてサンプル値ｑ_１〜ｑ_１２なる系列となる。
先ず、かかるサンプル値ｑ_１〜ｑ_１２なる系列において
は、サンプル値ｑ_２からｑ_３の推移においてそのサンプ
ル値が負の値から正の値へと変化している。この際、サ
ンプル値ｑ_２の絶対値とサンプル値ｑ_３の絶対値とでは
サンプル値ｑ_２の絶対値の方が小、すなわち、サンプル
値ｑ_２の方が０レベルに近いので、サンプル値抽出回路
２７は、このサンプル値ｑ_２を抽出サンプル値（ｒ）と
して出力する。更に、かかるサンプル値ｑ_２からｑ_３へ
の推移が上昇傾向にあるので、サンプル値抽出回路２７
は、傾斜信号（ｓ）の信号論理値を「０」にする。この
際、極性切換回路２８は、かかる傾斜信号（ｓ）の信号
論理値が「０」であるので、上記抽出サンプル値（ｒ）
としてのサンプル値ｑ_２をそのまま位相誤差信号（ｔ）
として、クロック発生回路２９に供給する。

【００３６】次に、サンプル値ｑ_８からｑ_９の推移にお
いてそのサンプル値が正の値から負の値へと変化してい
る。この際、サンプル値ｑ_８の絶対値とサンプル値ｑ_９
の絶対値とではサンプル値ｑ_８の絶対値の方が小、すな
わち、サンプル値ｑ_８の方が０レベルに近いので、サン
プル値抽出回路２７は、このサンプル値ｑ_８を抽出サン
プル値（ｒ）として出力する。更に、かかるサンプル値
ｑ_８からｑ_９への推移が下降傾向にあるので、サンプル
値抽出回路２７は、傾斜信号（ｓ）の信号論理値を
「１」にする。この際、極性切換回路２８は、かかる傾
斜信号（ｓ）の信号論理値が「１」であるので、上記抽
出サンプル値（ｒ）としてのサンプル値ｑ_８の極性を反
転したものを位相誤差信号（ｔ）として、クロック発生
回路２９に供給する。

【００３７】この際、クロック発生回路２９は、上記サ
ンプル値ｑ_２及びサンプル値（−ｑ_８）に基づいて位相
補正したサンプリングクロック（ｖ）を発生するのであ
る。次に、かかる位相誤差信号（ｔ）によるサンプリン
グクロック（ｖ）の位相補正動作を図６を参照しつつ説
明する。この際、図６（ａ）〜（ｃ）において、上記図
５にて示されるが如き上昇傾向を示す３つの連続したサ
ンプル値ｑ_１−ｑ_３に応じて為される位相補正動作を示
す。また、図６（ｄ）〜（ｆ）においては、上記図５に
示されるが如き下降傾向を示す３つの連続したサンプル
値ｑ_７〜ｑ_９に応じて為される位相補正動作を示すもの
である。尚、かかる図６中の破線は、正常位相時におい
てクロック発生回路２９が発生するサンプリングクロッ
ク（ｖ）のタイミング位置を示すものである。また、図
中の一点鎖線はサンプル値のゼロレベルを示すものであ
る。

【００３８】先ず、図６（ａ）においては、サンプル値
ｑ_１−ｑ_３各々が正常なタイミングでサンプリングされ
ている場合を示すものである。この際、サンプル値ｑ_２
は、かかるゼロレベルと等しくなる。よって、クロック
発生回路２９には、位相誤差信号（ｔ）としてこのゼロ
レベルが供給されることになる。従って、この際、クロ
ック発生回路２９は現状の位相にてサンプリングクロッ
ク（ｖ）の発生を行う。

【００３９】次に、図６（ｂ）においては、サンプル値
ｑ_１−ｑ_３各々が正常な位置よりも早いタイミングでサ
ンプリングされている場合を示すものである。この際、
サンプル値ｑ_２は、上記ゼロレベルよりも小なる負の値
となる。よって、クロック発生回路２９には、位相誤差
信号（ｔ）としてこのゼロレベルよりもサンプル値ｑ_２
の分だけ少ない負の値が供給されることになる。従っ
て、この際、クロック発生回路２９は、サンプル値ｑ_２
に対応した分だけ位相を遅らせたサンプリングクロック
（ｖ）の発生を行ってクロックの位相進みを補正するの
である。

【００４０】次に、図６（ｃ）においては、サンプル値
ｑ_１〜ｑ_３各々が正常な位置よりも遅いタイミングでサ
ンプリングされている場合を示すものである。この際、
サンプル値ｑ_２は、上記ゼロレベルよりも大なる正の値
となる。よって、クロック発生回路２９には、位相誤差
信号（ｔ）としてこのゼロレベルよりもサンプル値ｑ_２
の分だけ大なる正の値が供給されることになる。従っ
て、この際、クロック発生回路２９は、サンプル値ｑ_２
に対応した分だけ位相を進ませたサンプリングクロック
（ｖ）の発生を行ってクロックの位相遅れを補正するの
である。

【００４１】次に、図６（ｄ）においては、サンプル値
ｑ_７〜ｑ_９各々が正常なタイミングでサンプリングされ
ている場合を示すものである。この際、サンプル値ｑ_８
は、一点鎖線で示されるゼロレベルと等しくなる。ここ
で、サンプル値ｑ_７〜ｑ_９なる系列のレベル変化は下降
傾向である。よって、クロック発生回路２９には、位相
誤差信号（ｔ）として、このゼロレベルの極性反転値、
すなわち同じくゼロレベルが供給されることになる。従
って、この際、クロック発生回路２９は現状の位相にて
サンプリングクロック（ｖ）の発生を行うのである。

【００４２】次に、図６（ｅ）においては、サンプル値
ｑ_７〜ｑ_９各々が正常な位置よりも早いタイミングでサ
ンプリングされている場合を示すものである。この際、
サンプル値ｑ_８は、上記ゼロレベルよりも大なる正の値
となる。ここで、サンプル値ｑ_７〜ｑ_９なる系列のレベ
ル変化は下降傾向である。よって、クロック発生回路２
９には、位相誤差信号（ｔ）として、このサンプル値ｑ
_８の極性を反転した信号、すなわち、上記ゼロレベルよ
りもサンプル値ｑ_８の分だけ少ない負の値が供給される
ことになる。従って、この際、クロック発生回路２９
は、サンプル値ｑ_８に応じた分だけ位相を遅らせたサン
プリングクロック（ｖ）の発生を行ってクロックの位相
進みを補正するのである。

【００４３】最後に、図６（ｆ）においては、サンプル
値ｑ_７〜ｑ_９各々が正常な位置よりも遅いタイミングで
サンプリングされている場合を示すものである。この
際、サンプル値ｑ_８は上記ゼロレベルよりも小なる負の
値となる。ここで、サンプル値ｑ_７〜ｑ_９なる系列のレ
ベル変化は下降傾向である。よって、クロック発生回路
２９には、位相誤差信号（ｔ）として、このサンプル値
ｑ_８の極性を反転した信号、すなわち、上記ゼロレベル
よりもサンプル値ｑ_８の分だけ大なる正の値が供給され
ることになる。従って、この際、クロック発生回路２９
は、サンプル値ｑ_８に応じた分だけ位相を進ませたサン
プリングクロック（ｖ）の発生を行ってクロックの位相
遅れを補正するのである。

【００４５】例えば、上記実施の形態の図２において、
サンプル値抽出回路２７の内部構成の一例を示したが、
かかるサンプル値抽出回路２７としては、図７に示され
るが如き内部構成のものを採用しても良い。かかる図７
において、加算器８２は、Ａ／Ｄ変換器２５から供給さ
れてくるサンプル値（ｑ）と、Ｄフリップフロップ８１
によって１サンプリングクロック分だけ遅延された遅延
サンプル値との加算を行う。かかる加算動作により加算
器８２は、図８に示されるが如く、隣接する２つのサン
プル値（ｑ）毎に、その平均サンプル値（ｕ）を求め
る。尚、図８においては、サンプル値（ｑ）を白丸、平
均サンプル値（ｕ）を黒丸で示している。この際、かか
る平均サンプル値（ｕ）の系列は、サンプル値（ｑ）の
系列に対して直線補間を行ったものとなる。

【００５０】上述の如く本発明は、位相誤差信号に対し
て所定のゲインを選択的に与えて、最適なクロックを出
力するように制御しようとするものである。図１２にゲ
イン設定手段のブロック図を示す。図１２において、記
憶回路５０１により、多層ディスク、ディスクの種類、
記録領域の各々の状態に対応する最適なゲイン｛ｋ_０，
ｋ_１，・・・ｋ_２ｎ−１｝を、ｍビットで表現し、現在
の読み取り信号の状態によりシステムコントローラ５０
５及び選択回路５０２にて、ゲイン｛ｋ_０，ｋ_１，・・
・ｋ_２ｎ−１｝から、１つのゲインｋ_Ａを選択し、乗算
器５０３の１つの入力とする。

【００６０】請求項２に記載の発明による実施の形態で
は、図１１に内部ブロック図を図示した入力禁止回路１
０５を用いて、離散制御系では、容易に且つ正確にドロ
ップアウト時の異常サンプル値系列を除外することがで
きる。図１１において、選択手段４０１はその制御入力
である４０１ｃに入力されるドロップアウト検出信号に
よって、入力Ａの位相誤差信号入力か、入力Ｂのセンタ
ーレベル値かを選択する。ドロップアウト発生時は、入
力Ｂのセンターレベル値を選択し、そうでない場合は、
入力Ａの位相誤差信号入力を選択する。Ｄフリップフロ
ップ４０２は、データラッチ用であり、ラッチされた信
号が位相誤差信号出力となる。また、図１では、ドロッ
プアウトを検出するドロップアウト検出手段であるドロ
ップアウト検出器１０７でドロップアウトを検出する。
検出の方法としては、図１３に示すように、ＲＦ信号の
ゼロクロスを検出し、所定期間ｔ_０の間ゼロクロスが得
られないときはドロッブアウトが発生したと判断して、
期間ｔ_１の間ドロップアウト検出信号を出力する方法等
がある。ドロップアウト検出器１０７からのドロップア
ウト検出信号は、入力禁止回路１０５の制御入力に入力
されており、ドロップアウト期間中は位相誤差信号に替
わってセンターレベル出力回路１０６からの信号を出力
し、異常サンプル値系列の影響を受けないようにしてい
る。

【００６１】次に、多層ディスクの場合は、ディスクの
層に応じて、ゲインを切り換えるように構成する。例え
ば、２層ディスクにおいて、ピックアップに近い側の１
層目は、遠い側の２層目の全反射膜に対して半透過性の
膜で構成され、通常２層目の情報読み取り信号の方が１
層目の情報読み取り信号よりも信号レベルが大きくな
る。従って、２層目の読み取り時に比べ、１層目の読み
取り時のゲインを高く設定する必要が生じる。請求項４
に記載の発明による実施の形態では、多層ディスクに対
する再生層を指定する制御手段１１１から再生する層を
示す制御信号がゲイン切り換え回路１０８に出力され
る。ゲイン切り換え回路１０８は制御信号が示す、１層
目または２層目との情報に基づき、メモリ１０９から予
め層毎に設定されている適切なゲインを読み出し、入力
禁止回路１０５からの位相誤差信号に対し、ゲインを切
り換え設定する。

【００６４】次に、前述したように、ディスクを領域に
分け、情報領域とサーボ領域が繰り返し存在するように
構成するディスクがある（図１５参照）。例えば、書き
換え可能ディスクでは、予め、サーボ領域を設定するこ
とでトラッキングサーボ及びＰＬＬサーボを行い、情報
領域にデジタルデータを記録または再生を行う。このよ
うな、ディスクではサーボ領域には所定のピットが刻ん
であり、その領域でクロックの引き込みを正確に行い、
情報領域では情報の読み取りを行うようになっている。
情報領域ではノイズやドロップアウトに対し、ＰＬＬが
敏感に反応して揺動してしまうことを避ける必要があ
り、サーボ領域ではクロックが揺動される場合等でも正
確なクロック同期を得るために、ＰＬＬを速く引き込み
位相を速く合わせる必要がある。

【００６５】そのため、サーボ領域ではゲインを高く
し、ＰＬＬの応答を速くする。情報領域ではゲインを低
めに設定し、応答を遅くなるようにする。領域毎のゲイ
ンは記憶手段に記憶しておき、再生する領域に応じてゲ
インを切り換えるように構成する。領域の判別方法は、
領域は予め決められた位置に設定されているので、カウ
ンタを用い、タイミングをはかることにより領域を判別
できる。請求項５に記載の発明による実施の形態では、
記録領域を判別する領域判別手段１１２の各々の状態に
対応する最適なゲインをメモリ１０９に記憶させてお
き、領域判別手段１１２の判別結果に従ってゲイン切り
換え回路１０８は入力禁止回路１０５からの位相誤差信
号に対し、適切なゲインとなるよう切り換え選択する。

【００６７】そして、領域判別手段１１２は判別した結
果に基づき領域判別信号をゲイン切り換え回路１０８に
出力する。例えば、サーボ領域を再生している場合、サ
ーボ領域を示す領域判別信号がゲイン切り換え回路１０
８に供給される。ゲイン切り換え回路１０８は領域判別
信号に基づき、メモリ１０９からサーボ領域に対応する
ゲインを読み出し、入力された位相誤差信号（ｔ）にゲ
インを与える。そして、ゲインが与えられた位相誤差信
号であるゲイン位相誤差信号はクロック発生回路２９に
入力され、そのゲイン位相誤差信号に基づきクロックが
生成される。なお、同様に、情報領域を再生している場
合は情報領域に対応したゲインが位相誤差信号（ｔ）に
与えられる。また、情報領域に比べ、サーボ領域ではＰ
ＬＬの応答を速くするために、メモリ１０９に記憶され
ているサーボ領域に対応するゲインの値は、情報領域に
対応するゲインに比べ、高い値に設定される。

【００７１】また、ＬＰＦを離散制御系で構成しても良
いし、離散制御系、連続制御系双方を併用しても良い。
また、ドロップアウト時の除去法も、ドロップアウト直
前の値を記憶しておき、その記憶値と切り換えても良
い。また、上述した実施の形態では、位相誤差信号にＣ
Ｄ、ＣＤ−Ｒに応じたゲインを与える例を示したが、本
発明はこれらのディスクに限らず、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔ
ａｌＶｉｄｅｏＤｉｓｋ）などその他のディスクに
も用いることができる。また、１層目、２層目の再生層
に応じたゲインを与える例を示したが、３層以上の記録
層を有するディスクにも本発明は適用できる。さらに、
サーボ領域、情報領域の２つの領域に応じたゲインを与
える例を示したが、本発明は３領域以上に分かれている
ディスクにも適用できる。

【００７２】

【発明の効果】以上説明したように、本発明による再生
装置によれば、ディスクから読み取られた再生読み取り
信号をデジタル変換し、このデジタル信号のサンプル値
系列から位相誤差信号を得て、ゲインを切り換えるよう
にしたので、ゲイン切り換えによる遅延や切り換えのた
めのショックは無く、正確なクロックを生成することが
できる。また、離散制御系でゲインを設定するため、連
続制御系の場合に比べ厳密にゲインを設定することがで
きる。

【００７３】また、クロック発生手段として、Ｄ／Ａ変
換器、ＬＰＦ、ＶＣＯを用いた場合、ＶＣＯ入力電圧に
対しＬＰＦでのゲイン切り換えよりも、ワイドレンジで
扱うことができる。また、ディスクの種類、各記録層、
各記録領域に対して、ゲイン設定手段に記憶しておくこ
とにより、それを切り換えることで直ちに最適ゲインに
設定することができる。また、離散制御系で処理するた
め、ドロップアウト発生時に、容易に且つ正確にドロッ
プアウト時の異常サンプル値系列を除外することができ
る。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】デジタル信号が記録されている記録媒体
から読み取られた読み取り信号からデジタル信号を再生
する再生装置において、前記記録媒体から信号を読み取る読み取り手段と、前記読み取り信号をサンプリングクロックにて順次サン
プリングしてサンプル値系列に変換するＡ／Ｄ変換器
と、前記サンプル値系列から前記デジタル信号の復号を行
い、再生デジタル信号として出力する復号手段と、前記サンプル値系列から位相誤差を検出する位相誤差検
出手段と、所定ゲインを記憶する記憶手段と、前記位相誤差に前記所定ゲインを与えたゲイン位相誤差
を出力するゲイン設定手段と、前記ゲイン位相誤差に基づいて位相補正を行ったクロッ
ク信号を前記サンプリングクロックとして発生するクロ
ック発生手段とを有することを特徴とする再生装置。
【請求項２】ドロップアウトを検出するドロップアウ
ト検出手段と、ドロップアウトを検出したならば、ドロップアウト時の
前記サンプル値系列から得られる前記位相誤差の前記ク
ロック発生手段への入力を禁止する入力禁止手段とを有
することを特徴とする請求項１に記載の再生装置。
【請求項３】前記記録媒体の種類を検出する媒体種検
出手段とを有し、前記記憶手段は前記記録媒体の種類に応じて前記所定ゲ
インを有し、前記ゲイン設定手段は前記記録媒体の種類に応じて、前
記位相誤差に前記所定ゲインを与えることを特徴とする
請求項１または請求項２に記載の再生装置。
【請求項４】前記記録媒体には複数の記録層が存在す
るとともに、前記記憶手段は前記記録媒体の記録層に応じて前記所定
ゲインを有し、前記ゲイン設定手段は前記記録媒体から信号を読み出す
記録層に応じて、前記位相誤差に前記所定ゲインを与え
ることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の再
生装置。
【請求項５】前記記録媒体には複数の領域が存在する
とともに、前記記憶手段は前記記録媒体の領域に応じて前記所定ゲ
インを有し、前記ゲイン設定手段は前記記録媒体から信号を読み出す
領域に応じて、前記位相誤差に前記所定ゲインを与える
ことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の再生
装置。