JPH10311707A - 突合せ位置検出装置 - Google Patents
突合せ位置検出装置Info
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- JPH10311707A JPH10311707A JP9120956A JP12095697A JPH10311707A JP H10311707 A JPH10311707 A JP H10311707A JP 9120956 A JP9120956 A JP 9120956A JP 12095697 A JP12095697 A JP 12095697A JP H10311707 A JPH10311707 A JP H10311707A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 鏡面状の突合せ部でも、また開先加工がなさ
れておらず、突き合わせ形状が一定でない場合にも、高
い精度及び信頼性をもって突合せ線位置を検出する。 【解決手段】 突合せ部に可視光を投光する投光器1
a,1b;突合せ部を撮影する撮影装置11;撮影輝度
レベル信号を低輝度領域で高率、高輝度領域で低率で増
幅する非線形変換器14;および、増幅した輝度レベル
信号が表わす画像の暗部を突合せ位置と検出する突合せ
位置検出手段12,10;を備える。熱間鋼材のスケ−
ルが除去され鏡面が露出した突合せ部にエア−を吹付け
るエア−ノズル;を更に備える。投光器1a,1bは、
突合せ線と直交するx方向で、突合せ線の両側にあっ
て、突合せ部を斜め方向から照明する。投光器の点灯を
切換えて、突合せ位置のエッジ明瞭度が高い投光器を突
合せ部の照明に定める。
れておらず、突き合わせ形状が一定でない場合にも、高
い精度及び信頼性をもって突合せ線位置を検出する。 【解決手段】 突合せ部に可視光を投光する投光器1
a,1b;突合せ部を撮影する撮影装置11;撮影輝度
レベル信号を低輝度領域で高率、高輝度領域で低率で増
幅する非線形変換器14;および、増幅した輝度レベル
信号が表わす画像の暗部を突合せ位置と検出する突合せ
位置検出手段12,10;を備える。熱間鋼材のスケ−
ルが除去され鏡面が露出した突合せ部にエア−を吹付け
るエア−ノズル;を更に備える。投光器1a,1bは、
突合せ線と直交するx方向で、突合せ線の両側にあっ
て、突合せ部を斜め方向から照明する。投光器の点灯を
切換えて、突合せ位置のエッジ明瞭度が高い投光器を突
合せ部の照明に定める。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、突合わされた2物
体間の突合せ位置を検出する装置に関し、特に、これに
限定する意図ではないが、鋼板等の溶接に適した金属材
料あるいは樹脂材料等の突合せ位置を自動検出し、そこ
にレーザー,プラズマ,ア−ク等の高エネルギ−ビ−ム
を照射する自動倣い溶接に用いて好適な突合せ位置検出
装置に関する。
体間の突合せ位置を検出する装置に関し、特に、これに
限定する意図ではないが、鋼板等の溶接に適した金属材
料あるいは樹脂材料等の突合せ位置を自動検出し、そこ
にレーザー,プラズマ,ア−ク等の高エネルギ−ビ−ム
を照射する自動倣い溶接に用いて好適な突合せ位置検出
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】倣い位置検出装置に関する公知の技術と
しては、例えば特開昭60−121072号公報および
特開昭63−84851号公報がある。これら従来の倣
いセンサは、図21に示すように、溶接トーチ114前
方の突合せ線101上に、1本あるいは複数本の計測用
のレーザースリット光102をレーザー発振器103か
ら斜めに投射し、その像を突合せ線の鉛直上方に設置し
た撮影装置106によって撮影する光切断方式を利用し
た構成となっている。一般に、溶接する部材は開先加工
を施こされ、溶接部位は開先端部105に示すようにV
字の形状をなしている。従って、撮影装置106の撮影
画面106if上で、スリット光102の光像102i
は、図22に示すごとくV字形状をしており、V字型の
底の部分である点Ai(撮影画面上)が溶接すべき目標
点A(図21)である。この点の位置(特にx方向位
置,必要に応じてy,z方向位置)は、撮影装置106
に接続された画像処理装置110によって算出される。
しては、例えば特開昭60−121072号公報および
特開昭63−84851号公報がある。これら従来の倣
いセンサは、図21に示すように、溶接トーチ114前
方の突合せ線101上に、1本あるいは複数本の計測用
のレーザースリット光102をレーザー発振器103か
ら斜めに投射し、その像を突合せ線の鉛直上方に設置し
た撮影装置106によって撮影する光切断方式を利用し
た構成となっている。一般に、溶接する部材は開先加工
を施こされ、溶接部位は開先端部105に示すようにV
字の形状をなしている。従って、撮影装置106の撮影
画面106if上で、スリット光102の光像102i
は、図22に示すごとくV字形状をしており、V字型の
底の部分である点Ai(撮影画面上)が溶接すべき目標
点A(図21)である。この点の位置(特にx方向位
置,必要に応じてy,z方向位置)は、撮影装置106
に接続された画像処理装置110によって算出される。
【0003】一方、溶接トーチ114とレ−ザ−発振器
103および撮影装置106は、一体に結合されy方向
移動機構によって突合せ線が延びる方向すなわちy方向
に駆動される。なお、溶接ト−チ114はx方向移動機
構およびz方向昇降機構で支持され、これらの機構がy
方向移動機構で支持される。
103および撮影装置106は、一体に結合されy方向
移動機構によって突合せ線が延びる方向すなわちy方向
に駆動される。なお、溶接ト−チ114はx方向移動機
構およびz方向昇降機構で支持され、これらの機構がy
方向移動機構で支持される。
【0004】画像処理装置110は、溶接トーチ位置で
ある点Bから前記点Aにいたるベクトルを求める。溶接
ト−チ114は、このベクトルを目標値とするx方向移
動機構の制御により、突合せ線に倣うように位置決めさ
れ、y方向移動機構によって突合せ線に沿って駆動され
る。なお、突合せ線BAに対してx方向に溶接ト−チ1
14を繰返し往復駆動(ウィ−ビング)する溶接態様も
ある。
ある点Bから前記点Aにいたるベクトルを求める。溶接
ト−チ114は、このベクトルを目標値とするx方向移
動機構の制御により、突合せ線に倣うように位置決めさ
れ、y方向移動機構によって突合せ線に沿って駆動され
る。なお、突合せ線BAに対してx方向に溶接ト−チ1
14を繰返し往復駆動(ウィ−ビング)する溶接態様も
ある。
【0005】上述の光切断式の突合せ位置(開先位置)
検出に類する技術としては、特開昭61−262463
号公報にあるように、レーザースポット光を用いた1次
元の距離計をスキャンすることによって前記光切断式と
同様にして突合せ位置を計測するセンサが存在する。
検出に類する技術としては、特開昭61−262463
号公報にあるように、レーザースポット光を用いた1次
元の距離計をスキャンすることによって前記光切断式と
同様にして突合せ位置を計測するセンサが存在する。
【0006】あるいは、特開昭59−97773号公報
にあるように、溶接部の溶融金属部の先端部を2次元撮
影装置で撮影し、該画像を2値化してその位置を検出す
ることにより溶接位置を検出する技術も存在する。
にあるように、溶接部の溶融金属部の先端部を2次元撮
影装置で撮影し、該画像を2値化してその位置を検出す
ることにより溶接位置を検出する技術も存在する。
【0007】上述の計測用のレーザースリット光を用い
る光切断式の開先位置検出では、図22のように開先の
形状を表わすスリット光像102iを獲得する必要があ
るため、突き合わせ位置と形状との相関があるような断
面形状にする必要があった。一般的には突き合わせ前に
角を落とし、突き合わせた際に断面形状がV字型になる
ような加工がなされていた。
る光切断式の開先位置検出では、図22のように開先の
形状を表わすスリット光像102iを獲得する必要があ
るため、突き合わせ位置と形状との相関があるような断
面形状にする必要があった。一般的には突き合わせ前に
角を落とし、突き合わせた際に断面形状がV字型になる
ような加工がなされていた。
【0008】しかし、例えば鉄鋼製造又は加工ラインな
どでは開先部を機械加工せずに、シャーでカットされた
断面をそのまま溶接する場合がある。このような場合、
開先部に十分な開口幅がなく、突き合わせ部にはごく微
小なギャップしか存在せず、断面形状の測定では精度の
観点から正確な位置検出が不可能であった。
どでは開先部を機械加工せずに、シャーでカットされた
断面をそのまま溶接する場合がある。このような場合、
開先部に十分な開口幅がなく、突き合わせ部にはごく微
小なギャップしか存在せず、断面形状の測定では精度の
観点から正確な位置検出が不可能であった。
【0009】加えて、溶接対象の表面に凹凸がある場
合、撮影されるスリット光の形状が変わってしまい、V
字型の底の点Aの検出ができなくなったり、複数スリッ
トを用いた場合スリット間の間隔が変化し、近似曲線に
誤差が発生するという問題もある。
合、撮影されるスリット光の形状が変わってしまい、V
字型の底の点Aの検出ができなくなったり、複数スリッ
トを用いた場合スリット間の間隔が変化し、近似曲線に
誤差が発生するという問題もある。
【0010】以上の各種の問題により、従来の突合せ位
置倣いセンサでは、溶接対象材(ワーク)の形状が一定
であり、かつ開先加工がなされており、しかもワ−クと
センサがほぼ一定の位置関係に拘束されている条件の良
い対象にしか適用が不可能であった。
置倣いセンサでは、溶接対象材(ワーク)の形状が一定
であり、かつ開先加工がなされており、しかもワ−クと
センサがほぼ一定の位置関係に拘束されている条件の良
い対象にしか適用が不可能であった。
【0011】これらの問題を解決するため、特願平07
−178341号に突合せ位置倣いセンサが提案されて
いる。この提案によれば、突合せ線に対して略垂直な平
面上の、突合せ線を挾んで相対する位置に2個のスポッ
トライトを設け、該ライトに挾まれる位置に2次元画像
撮影カメラを配置する。このカメラによる撮影画面上
で、突合せ線と垂直な方向に長い、長方形のウインドウ
を3つ以上切り出し、各ウインドウ内で突合せ線の位置
の代表値を求め、これより突合せ線を近似する線を求め
る。
−178341号に突合せ位置倣いセンサが提案されて
いる。この提案によれば、突合せ線に対して略垂直な平
面上の、突合せ線を挾んで相対する位置に2個のスポッ
トライトを設け、該ライトに挾まれる位置に2次元画像
撮影カメラを配置する。このカメラによる撮影画面上
で、突合せ線と垂直な方向に長い、長方形のウインドウ
を3つ以上切り出し、各ウインドウ内で突合せ線の位置
の代表値を求め、これより突合せ線を近似する線を求め
る。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、特願平
07−178341号による方法では、突合せ部が鏡面
に近い光散乱特性を持っている場合には、カメラ視野上
の光散乱位置によってカメラで受光される光量が著しく
異なる。このとき、突合せ部以外にも暗部が発生し、突
合せ部の検出ができなくなるという問題がある。
07−178341号による方法では、突合せ部が鏡面
に近い光散乱特性を持っている場合には、カメラ視野上
の光散乱位置によってカメラで受光される光量が著しく
異なる。このとき、突合せ部以外にも暗部が発生し、突
合せ部の検出ができなくなるという問題がある。
【0013】例えば、熱間圧延した熱間鋼材を突合せて
溶接する場合、突合せ部のスケ−ルは、光学的な突合せ
線検出精度を下げ、また溶接中に溶融金属への巻き込み
を生じて溶接欠陥となる可能性があるので、突合せ部の
スケ−ルを溶接前に除去するが、このスケ−ル除去によ
り突合せ部が鏡面に近い光散乱特性を持つことになる。
突合せ部が鏡面に近い光散乱特性を持っており、例え
ば図2に示すように溶接対象材W1,W2の突合せ部に
段差がある場合に、高レベル側の溶接対象材W1の上方
にある投光器1aで斜めから突合せ部を照明し、上方か
ら突合せ部をカメラ11で撮影すると、撮影画面には図
3の(a)に示すように、照明光が遮られた影部が暗部
として現われ、突合せ部が鏡面に近い光散乱特性を持っ
ことにより、カメラ11のビデオ信号(輝度レベル信
号)は図3の(b)に示すように高レベル(反射光受光
部)と低レベル(影対応の暗部)とが共に飽和したもの
となり、影対応の暗部に含まれる突合せ線(P2位置)
の輝度レベルをビデオ信号からは摘出できない。これ
は、図16の(a)に示すように照明光が熱間鋼材の表
面でb正反射し、検出方向に合致する反射光は効率良く
検出されるが、図16の(b)に「鏡面性」として示す
ように、検出方向に対する反射光の角度偏差に対して検
出光量が過敏に減少し、わずかな角度偏差で検出光量が
激減し、検出方向からの角度偏差が大きい反射点は画像
に暗部として現われる。
溶接する場合、突合せ部のスケ−ルは、光学的な突合せ
線検出精度を下げ、また溶接中に溶融金属への巻き込み
を生じて溶接欠陥となる可能性があるので、突合せ部の
スケ−ルを溶接前に除去するが、このスケ−ル除去によ
り突合せ部が鏡面に近い光散乱特性を持つことになる。
突合せ部が鏡面に近い光散乱特性を持っており、例え
ば図2に示すように溶接対象材W1,W2の突合せ部に
段差がある場合に、高レベル側の溶接対象材W1の上方
にある投光器1aで斜めから突合せ部を照明し、上方か
ら突合せ部をカメラ11で撮影すると、撮影画面には図
3の(a)に示すように、照明光が遮られた影部が暗部
として現われ、突合せ部が鏡面に近い光散乱特性を持っ
ことにより、カメラ11のビデオ信号(輝度レベル信
号)は図3の(b)に示すように高レベル(反射光受光
部)と低レベル(影対応の暗部)とが共に飽和したもの
となり、影対応の暗部に含まれる突合せ線(P2位置)
の輝度レベルをビデオ信号からは摘出できない。これ
は、図16の(a)に示すように照明光が熱間鋼材の表
面でb正反射し、検出方向に合致する反射光は効率良く
検出されるが、図16の(b)に「鏡面性」として示す
ように、検出方向に対する反射光の角度偏差に対して検
出光量が過敏に減少し、わずかな角度偏差で検出光量が
激減し、検出方向からの角度偏差が大きい反射点は画像
に暗部として現われる。
【0014】本発明は、突合せ部が鏡面に近い光散乱特
性を持っている場合でも突合せ線を高い精度及び信頼性
をもって検出することを第1の目的とし、加えて、開先
加工がなされておらず突き合わせ形状が一定でない場合
にも、高い精度及び信頼性をもって突合せ線を検出する
ことを第2の目的とする。
性を持っている場合でも突合せ線を高い精度及び信頼性
をもって検出することを第1の目的とし、加えて、開先
加工がなされておらず突き合わせ形状が一定でない場合
にも、高い精度及び信頼性をもって突合せ線を検出する
ことを第2の目的とする。
【0015】
(1)本発明の突合せ位置検出装置(図1)は、溶接対象
材の突合せ部に可視光を投光する投光手段(1a,1b);突
合せ部で反射した可視光を撮影する撮影手段(11);撮影
手段の輝度レベル信号を低輝度領域では高率で高輝度領
域では低率で増幅した輝度レベル信号に変換する非線形
変換手段(14a);および、該非線形変換手段が変換した
輝度レベル信号が表わす画像の暗部を突合せ位置と検出
する突合せ位置検出手段(12,10);を備える。なお、理
解を容易にするためにカッコ内には、図面に示し後述す
る実施例の対応要素又は対応事項の符号を、参考までに
付記した。
材の突合せ部に可視光を投光する投光手段(1a,1b);突
合せ部で反射した可視光を撮影する撮影手段(11);撮影
手段の輝度レベル信号を低輝度領域では高率で高輝度領
域では低率で増幅した輝度レベル信号に変換する非線形
変換手段(14a);および、該非線形変換手段が変換した
輝度レベル信号が表わす画像の暗部を突合せ位置と検出
する突合せ位置検出手段(12,10);を備える。なお、理
解を容易にするためにカッコ内には、図面に示し後述す
る実施例の対応要素又は対応事項の符号を、参考までに
付記した。
【0016】これによれば、例えば図3の(a)に示す
画像を表わす、図3の(b)に示す輝度レベル信号を撮
影手段(11)が発生すると、それを非線形変換手段(14a)
が、図16の(c)に実線で示す入力(横軸)対出力
(縦軸)の変換特性で、低輝度領域では高率で高輝度領
域では低率の増幅した輝度レベル信号に変換する。これ
により非線形変換手段(14a)が変換した輝度レベル信号
は図3の(d)に示すように、低輝度領域が実質上飽和
レベル以上となって低輝度領域の分解能が高い信号とな
り、この変換信号によれば、図3の(c)に示す画像が
表現されて、影対応の暗部領域(図3の(a)の黒部)
の輝度レベルが上昇してその中に突合せ線P2が現わ
れ、突合せ部が鏡面に近い光散乱特性を持っている場合
でも突合せ線を高い精度及び信頼性をもって検出しう
る。
画像を表わす、図3の(b)に示す輝度レベル信号を撮
影手段(11)が発生すると、それを非線形変換手段(14a)
が、図16の(c)に実線で示す入力(横軸)対出力
(縦軸)の変換特性で、低輝度領域では高率で高輝度領
域では低率の増幅した輝度レベル信号に変換する。これ
により非線形変換手段(14a)が変換した輝度レベル信号
は図3の(d)に示すように、低輝度領域が実質上飽和
レベル以上となって低輝度領域の分解能が高い信号とな
り、この変換信号によれば、図3の(c)に示す画像が
表現されて、影対応の暗部領域(図3の(a)の黒部)
の輝度レベルが上昇してその中に突合せ線P2が現わ
れ、突合せ部が鏡面に近い光散乱特性を持っている場合
でも突合せ線を高い精度及び信頼性をもって検出しう
る。
【0017】
(2)熱間鋼材(W1,W2)の、スケ−ルが除去され鏡面が
露出した突合せ部にエア−を吹付けるエア−ノズル(1
5);上記エア−吹付けにより酸化した突合せ部に可視光
を投光する投光手段(1a,1b);突合せ部で反射した可視
光を撮影する撮影手段(11);および、撮影手段の輝度レ
ベル信号が表わす画像の暗部を突合せ位置と検出する突
合せ位置検出手段(12,10);を備える突合せ位置検出装
置(図17)。
露出した突合せ部にエア−を吹付けるエア−ノズル(1
5);上記エア−吹付けにより酸化した突合せ部に可視光
を投光する投光手段(1a,1b);突合せ部で反射した可視
光を撮影する撮影手段(11);および、撮影手段の輝度レ
ベル信号が表わす画像の暗部を突合せ位置と検出する突
合せ位置検出手段(12,10);を備える突合せ位置検出装
置(図17)。
【0018】これによればエア−吹き付けにより突き合
わせ部の酸化が促進されて散乱性が高い面に変化する。
これにより、検出方向に対する反射光の角度偏差の大小
に対して検出光量の変化が少い、図16の(b)に「散
乱性」として示す反射光量特性となり、角度偏差がかな
り大きい所でも検出方向で光量が検出される。これによ
り撮影手段(11)が発生する輝度レベル信号は全体的に低
下して、突合せ部全体高レベル飽和を生じにくいが、高
輝度部および低輝度部に実質上レベル飽和を生じない、
図20の(b)に示すような輝度レベル信号となる。こ
れが表わす画像は図20の(a)に示すものとなり、突
合せ線(P2)が明瞭に現われる。スケ−ル除去によ
り、エア−吹付前には突合せ部が鏡面に近い光散乱特性
を持っている熱間鋼材の場合でも、突合せ線を高い精度
及び信頼性をもって検出しうる。
わせ部の酸化が促進されて散乱性が高い面に変化する。
これにより、検出方向に対する反射光の角度偏差の大小
に対して検出光量の変化が少い、図16の(b)に「散
乱性」として示す反射光量特性となり、角度偏差がかな
り大きい所でも検出方向で光量が検出される。これによ
り撮影手段(11)が発生する輝度レベル信号は全体的に低
下して、突合せ部全体高レベル飽和を生じにくいが、高
輝度部および低輝度部に実質上レベル飽和を生じない、
図20の(b)に示すような輝度レベル信号となる。こ
れが表わす画像は図20の(a)に示すものとなり、突
合せ線(P2)が明瞭に現われる。スケ−ル除去によ
り、エア−吹付前には突合せ部が鏡面に近い光散乱特性
を持っている熱間鋼材の場合でも、突合せ線を高い精度
及び信頼性をもって検出しうる。
【0019】(3)熱間鋼材の、スケ−ルが除去され鏡
面が露出した突合せ部にエア−を吹付けるエア−ノズル
(15);上記エア−吹付けにより酸化した突合せ部に可視
光を投光する投光手段(1a,1b);突合せ部で反射した可
視光を撮影する撮影手段(11);撮影手段の輝度レベル信
号を低輝度領域では高率で高輝度領域では低率で増幅し
た輝度レベル信号に変換する非線形変換手段(14a);お
よび、該非線形変換手段が変換した輝度レベル信号が表
わす画像の暗部を突合せ位置と検出する突合せ位置検出
手段(12,10);を備える突合せ位置検出装置(図17)。
面が露出した突合せ部にエア−を吹付けるエア−ノズル
(15);上記エア−吹付けにより酸化した突合せ部に可視
光を投光する投光手段(1a,1b);突合せ部で反射した可
視光を撮影する撮影手段(11);撮影手段の輝度レベル信
号を低輝度領域では高率で高輝度領域では低率で増幅し
た輝度レベル信号に変換する非線形変換手段(14a);お
よび、該非線形変換手段が変換した輝度レベル信号が表
わす画像の暗部を突合せ位置と検出する突合せ位置検出
手段(12,10);を備える突合せ位置検出装置(図17)。
【0020】これによれば、溶接対象材が熱間鋼材であ
ってその突合せ部のスケ−ルが除去されている場合に、
上記(1)と(2)の相乗効果が得られる。
ってその突合せ部のスケ−ルが除去されている場合に、
上記(1)と(2)の相乗効果が得られる。
【0021】(4)投光手段(1a,1b)は、溶接対象材(W
1,W2)の突合せ部が延びるy方向と直交し溶接対象材の
表面に実質上平行な方向xで、突合せ部の手前側と向こ
う側にあって、前記突合せ部を溶接対象材の表面に対し
て斜め方向から照明するための複数個mの投光器(1a,1
b)を含み;装置は更に、突合せ部の手前側と向こう側の
投光器を選択点灯する照明モ−ドを切換えて、各照明モ
−ドのときに前記突合せ位置検出手段(12,10)が検出し
た画像上の突合せ位置のエッジ明瞭度を比較して高い明
瞭度を得た照明モ−ドを選択してこれを突合せ部の照明
に定める照明モ−ド選択手段(10);を備える(図1,図1
7)。
1,W2)の突合せ部が延びるy方向と直交し溶接対象材の
表面に実質上平行な方向xで、突合せ部の手前側と向こ
う側にあって、前記突合せ部を溶接対象材の表面に対し
て斜め方向から照明するための複数個mの投光器(1a,1
b)を含み;装置は更に、突合せ部の手前側と向こう側の
投光器を選択点灯する照明モ−ドを切換えて、各照明モ
−ドのときに前記突合せ位置検出手段(12,10)が検出し
た画像上の突合せ位置のエッジ明瞭度を比較して高い明
瞭度を得た照明モ−ドを選択してこれを突合せ部の照明
に定める照明モ−ド選択手段(10);を備える(図1,図1
7)。
【0022】例えば投光手段(1a,1b)を点灯して斜めか
ら光を照射すると、溶接線すなわち溶接対象材(W1,W2)
の突合せ部に存在する段差あるいはア−ルによって、影
が生じる。今、図2に示す様に、突合せ部直近において
溶接対象材(W1)が溶接対象材(W2)より高い位置(高レベ
ル)にある場合には、投光手段(1a)を点灯すると溶接対
象材(W2)上に影が生じる。投光手段(1b)を点灯した時に
は影は発生しない。投光手段(1a)及び投光手段(1b)を共
に点灯した時には投光手段(1a)により発生した影の上を
投光手段(1b)で照らした状態となるので、薄い影とな
る。これらの状態を真上に設置した撮影手段(11)で撮影
すると、影が在る時にはコントラスト(明暗比)の明瞭
なエッジ画像が得られ、影の無い時には明部のみの画像
になる。
ら光を照射すると、溶接線すなわち溶接対象材(W1,W2)
の突合せ部に存在する段差あるいはア−ルによって、影
が生じる。今、図2に示す様に、突合せ部直近において
溶接対象材(W1)が溶接対象材(W2)より高い位置(高レベ
ル)にある場合には、投光手段(1a)を点灯すると溶接対
象材(W2)上に影が生じる。投光手段(1b)を点灯した時に
は影は発生しない。投光手段(1a)及び投光手段(1b)を共
に点灯した時には投光手段(1a)により発生した影の上を
投光手段(1b)で照らした状態となるので、薄い影とな
る。これらの状態を真上に設置した撮影手段(11)で撮影
すると、影が在る時にはコントラスト(明暗比)の明瞭
なエッジ画像が得られ、影の無い時には明部のみの画像
になる。
【0023】図4の(a)のは、図2の投光手段(1a)
のみを点灯して影が発生した状態を撮影手段(11)で撮影
した画像を示す。画像上の位置P1からP2までの明部
は溶接対象材(W1)の表面を撮影したものであり、画像の
位置P2からP3までの暗部は影を撮影したものであ
り、画像の位置P3からP4までの明部は溶接対象材(W
2)の表面を撮影したものである。この場合には、影が強
く画像上に現われるので、溶接線対応のエッジの明瞭度
がきわめて高い。
のみを点灯して影が発生した状態を撮影手段(11)で撮影
した画像を示す。画像上の位置P1からP2までの明部
は溶接対象材(W1)の表面を撮影したものであり、画像の
位置P2からP3までの暗部は影を撮影したものであ
り、画像の位置P3からP4までの明部は溶接対象材(W
2)の表面を撮影したものである。この場合には、影が強
く画像上に現われるので、溶接線対応のエッジの明瞭度
がきわめて高い。
【0024】図4の(a)のは、図2の投光手段(1b)
のみを点灯した状態を撮影手段(11)で撮影した画像を示
す。この場合には影は生じないので、画像には位置P2
の溶接線が僅かに撮影されるのみで他は明部である。す
なわち溶接線対応のエッジの明瞭度は極く低い。
のみを点灯した状態を撮影手段(11)で撮影した画像を示
す。この場合には影は生じないので、画像には位置P2
の溶接線が僅かに撮影されるのみで他は明部である。す
なわち溶接線対応のエッジの明瞭度は極く低い。
【0025】図4の(a)のは、図2の投光手段(1a)
及び投光手段(1b)を同時に点灯した状態を撮影手段(11)
で撮影した画像を示す。投光手段(1a)により影が生じる
が、その影は投光手段(1b)により照らされるので薄くな
る。得られた画像は位置P1からP2までの明部と、位
置P2からP3までの薄暗部と、位置P3からP4まで
の明部となる。すなわち溶接線対応のエッジの明瞭度は
やや低い。
及び投光手段(1b)を同時に点灯した状態を撮影手段(11)
で撮影した画像を示す。投光手段(1a)により影が生じる
が、その影は投光手段(1b)により照らされるので薄くな
る。得られた画像は位置P1からP2までの明部と、位
置P2からP3までの薄暗部と、位置P3からP4まで
の明部となる。すなわち溶接線対応のエッジの明瞭度は
やや低い。
【0026】図4の(b)の〜は、(a)の〜
の時に撮影手段(11)で撮影して得られた画像信号を対応
して示す。図4の(b)のに示す様に、明部に対応し
た画像信号は正(プラス)極性の高い値であり、暗部に
対応した画像信号は大略ゼロレベルである。即ち矩形波
状の画像信号が得られる。図4の(b)のの画像信号
は、明部に対応した正極性の高い値の画像信号に、わず
かに値の減少したディップが現われる。図4の(b)の
の画像信号は、に示す波形と類似であるが、暗部に
対応した画像信号のレベル低下が少ない。
の時に撮影手段(11)で撮影して得られた画像信号を対応
して示す。図4の(b)のに示す様に、明部に対応し
た画像信号は正(プラス)極性の高い値であり、暗部に
対応した画像信号は大略ゼロレベルである。即ち矩形波
状の画像信号が得られる。図4の(b)のの画像信号
は、明部に対応した正極性の高い値の画像信号に、わず
かに値の減少したディップが現われる。図4の(b)の
の画像信号は、に示す波形と類似であるが、暗部に
対応した画像信号のレベル低下が少ない。
【0027】この様にして画像の明暗比すなわちエッジ
の明瞭度から最適な投光手段を選択することが出来る。
図2の例では、投光手段(1a)が選択される。選択された
投光手段(1a)が作る影の位置は、図3の(c)に於いて
影の左端すなわち画像上のエッジが突合せ線と一致して
いる(位置P2)。従って撮影手段(11)が認識した影部
分画像の左端が突合せ位置を示す。影部分画像の突合せ
位置に対応するエッジ(P2)を選択したならば、ワ−ク上
の対応位置P2を求め、これに溶接レーザ−の照射位置
を合せることにより、突合せ線倣い溶接が実現する。開
先加工がなされておらず突き合わせ形状が一定でない場
合にも、突合せ位置検出の精度および信頼性が高い。
の明瞭度から最適な投光手段を選択することが出来る。
図2の例では、投光手段(1a)が選択される。選択された
投光手段(1a)が作る影の位置は、図3の(c)に於いて
影の左端すなわち画像上のエッジが突合せ線と一致して
いる(位置P2)。従って撮影手段(11)が認識した影部
分画像の左端が突合せ位置を示す。影部分画像の突合せ
位置に対応するエッジ(P2)を選択したならば、ワ−ク上
の対応位置P2を求め、これに溶接レーザ−の照射位置
を合せることにより、突合せ線倣い溶接が実現する。開
先加工がなされておらず突き合わせ形状が一定でない場
合にも、突合せ位置検出の精度および信頼性が高い。
【0028】本発明の他の目的及び特徴は、図面を参照
した以下の実施例の説明より明らかになろう。
した以下の実施例の説明より明らかになろう。
【0029】
【実施例】 −第1実施例− 図1に、第1実施例の構成を示す。この実施例は粗熱延
後の、突合わされ突合せ部のスケ−ルが除去されている
熱間鋼板の溶接に適用するものである。図1において、
W1,W2は溶接ワ−クエリアに搬入され、突合わさ
れ、突合せ部のスケ−ルが除去された溶接対象である2
つの熱間鋼板であり、この場合特に開先の機械加工は行
わず、溶接工程の前工程においてシャー設備にて端面を
カットされたそのままの端面形状となっている。従って
熱間鋼板W1,W2の突合せ線は直線である。この突合
せ線をレ−ザ−ト−チ2で溶接する。突合せ線が溶接す
べき線であるので、以下においてはこの意味で、突合せ
線を溶接線とも表現する。
後の、突合わされ突合せ部のスケ−ルが除去されている
熱間鋼板の溶接に適用するものである。図1において、
W1,W2は溶接ワ−クエリアに搬入され、突合わさ
れ、突合せ部のスケ−ルが除去された溶接対象である2
つの熱間鋼板であり、この場合特に開先の機械加工は行
わず、溶接工程の前工程においてシャー設備にて端面を
カットされたそのままの端面形状となっている。従って
熱間鋼板W1,W2の突合せ線は直線である。この突合
せ線をレ−ザ−ト−チ2で溶接する。突合せ線が溶接す
べき線であるので、以下においてはこの意味で、突合せ
線を溶接線とも表現する。
【0030】熱間鋼板(W1,W2)のシャー刃先で剪
断(押下)される面側は下方に引き込まれる力を受けて
丸まるように下がるが、架台で下支えされる面側はシャ
ー刃先で引下げられるので下方にやや突出する。すなわ
ちシャーで切断直後の熱間鋼板の切断端部の上面端はア
−ルがあるかのようにやや下り、下面端はバリが起きた
かのようにやや下っている(突起となっている)。した
がって熱間鋼板W1とW2の突合せ部には微視的には厚
み方向に山,谷となっており、また、熱間鋼板W1とW
2は、高さ方向(厚み方向)に相対的に大なり小なりず
れている。
断(押下)される面側は下方に引き込まれる力を受けて
丸まるように下がるが、架台で下支えされる面側はシャ
ー刃先で引下げられるので下方にやや突出する。すなわ
ちシャーで切断直後の熱間鋼板の切断端部の上面端はア
−ルがあるかのようにやや下り、下面端はバリが起きた
かのようにやや下っている(突起となっている)。した
がって熱間鋼板W1とW2の突合せ部には微視的には厚
み方向に山,谷となっており、また、熱間鋼板W1とW
2は、高さ方向(厚み方向)に相対的に大なり小なりず
れている。
【0031】図1において、溶接ワ−クエリアには門型
の架台20が配置されている。架台20は図示しないx
走行装置を備えており、x方向に移動することが出来
る。この架台20には、水平部(ビ−ム)に沿ってy方
向に走行可能なy移動ステ−ジ30が装備されており、
更にy移動ステ−ジ30にはx方向に走行可能なx移動
ステ−ジ40が装備されている。x移動ステ−ジ40の
下面には、レ−ザ−ト−チ2及び本実施例の突合せ位置
検出装置1が垂下して取付けてある。レ−ザ−ト−チ2
は溶接対象W1及びW2の突合わせ端面、即ち溶接線を
溶接するためのものであり、y移動ステ−ジ30により
溶接速度にてy方向に走行する。突合せ位置検出装置1
が溶接線の位置を検出し、該位置にレ−ザト−チ2の加
工指向線を合わすようにx移動ステ−ジ40のx方向移
動を制御して、レ−ザト−チ2を溶接線に倣わせる。
の架台20が配置されている。架台20は図示しないx
走行装置を備えており、x方向に移動することが出来
る。この架台20には、水平部(ビ−ム)に沿ってy方
向に走行可能なy移動ステ−ジ30が装備されており、
更にy移動ステ−ジ30にはx方向に走行可能なx移動
ステ−ジ40が装備されている。x移動ステ−ジ40の
下面には、レ−ザ−ト−チ2及び本実施例の突合せ位置
検出装置1が垂下して取付けてある。レ−ザ−ト−チ2
は溶接対象W1及びW2の突合わせ端面、即ち溶接線を
溶接するためのものであり、y移動ステ−ジ30により
溶接速度にてy方向に走行する。突合せ位置検出装置1
が溶接線の位置を検出し、該位置にレ−ザト−チ2の加
工指向線を合わすようにx移動ステ−ジ40のx方向移
動を制御して、レ−ザト−チ2を溶接線に倣わせる。
【0032】溶接ワ−クエリアに搬入された溶接対象熱
間鋼板W1及びW2を溶接する場合には、架台20のx
方向中心線と溶接対象W1及びW2の溶接線とが略一致
する様に架台20をx方向に駆動する。そして溶接装置
が溶接するに適した速度でy移動ステ−ジ30の駆動モ
−タを制御して、y移動ステ−ジ30(レ−ザ−ト−チ
2及び位置検出装置1)をy方向に駆動しつつレ−ザ−
ト−チ2で溶接線を溶接する。この時位置検出装置1が
溶接線位置を検出し、レ−ザ−ト−チ2のレ−ザ−ビ−
ムが溶接線と一致する様にx移動ステ−ジ40を駆動す
る。
間鋼板W1及びW2を溶接する場合には、架台20のx
方向中心線と溶接対象W1及びW2の溶接線とが略一致
する様に架台20をx方向に駆動する。そして溶接装置
が溶接するに適した速度でy移動ステ−ジ30の駆動モ
−タを制御して、y移動ステ−ジ30(レ−ザ−ト−チ
2及び位置検出装置1)をy方向に駆動しつつレ−ザ−
ト−チ2で溶接線を溶接する。この時位置検出装置1が
溶接線位置を検出し、レ−ザ−ト−チ2のレ−ザ−ビ−
ムが溶接線と一致する様にx移動ステ−ジ40を駆動す
る。
【0033】図2に、熱間鋼板W1及びW2を溶接する
溶接線、及びその位置を検出する位置検出装置1の配置
を示す。位置検出装置1は、第1投光器1a,第2投光
器1b,撮影装置11,輝度レベル変換器14,画像処
理装置12,コントロ−ラ10及び遮光箱13で構成さ
れる。第1投光器1a及び第2投光器1bの光源にはキ
セノンランプを使用しており、各投光器はコントロ−ラ
10により、第1投光器1aのみ点灯,第2投光器1b
のみ点灯,第1投光器1a及び第2投光器1b共に点
灯,全て消灯の何れかとされる。
溶接線、及びその位置を検出する位置検出装置1の配置
を示す。位置検出装置1は、第1投光器1a,第2投光
器1b,撮影装置11,輝度レベル変換器14,画像処
理装置12,コントロ−ラ10及び遮光箱13で構成さ
れる。第1投光器1a及び第2投光器1bの光源にはキ
セノンランプを使用しており、各投光器はコントロ−ラ
10により、第1投光器1aのみ点灯,第2投光器1b
のみ点灯,第1投光器1a及び第2投光器1b共に点
灯,全て消灯の何れかとされる。
【0034】撮影装置11は、x,y方向を電子走査す
る2次元CCDカメラを備え、前面に配置されたレンズ
により溶接線に焦点を合わせてある。投光器1aおよび
又は1bの光で照明された熱間鋼板W1,W2及び溶接
線を撮影装置11が撮影する。撮影装置の1画面分のビ
デオ信号(輝度レベル信号)は輝度レベル変換器14で
レベル変更およびデジタル変換され、デジタルデ−タ
(画像デ−タ)として画像処理装置12の画像メモリに
書込まれる。画像処理装置12は画像処理より、1画面
の画像上の溶接線P2のx位置を算出して、x位置デ−
タをコントロ−ラ10に供給する。
る2次元CCDカメラを備え、前面に配置されたレンズ
により溶接線に焦点を合わせてある。投光器1aおよび
又は1bの光で照明された熱間鋼板W1,W2及び溶接
線を撮影装置11が撮影する。撮影装置の1画面分のビ
デオ信号(輝度レベル信号)は輝度レベル変換器14で
レベル変更およびデジタル変換され、デジタルデ−タ
(画像デ−タ)として画像処理装置12の画像メモリに
書込まれる。画像処理装置12は画像処理より、1画面
の画像上の溶接線P2のx位置を算出して、x位置デ−
タをコントロ−ラ10に供給する。
【0035】輝度レベル変換器14は、この実施例で
は、撮影装置11が発生する輝度レベル信号(図16の
(c)の一点線鎖で示す輝度/ビデオ(輝度レベル)信
号変換特性)を、図16の(c)に実線で示す非線形変
換特性で、低輝度領域では高い増幅率で高輝度領域では
低い増幅率で増幅するものである。このようにレベル変
換を施した輝度レベル信号をA/Dコンバ−タ14bが
デジタルデ−タ(画像デ−タ)に変換する。
は、撮影装置11が発生する輝度レベル信号(図16の
(c)の一点線鎖で示す輝度/ビデオ(輝度レベル)信
号変換特性)を、図16の(c)に実線で示す非線形変
換特性で、低輝度領域では高い増幅率で高輝度領域では
低い増幅率で増幅するものである。このようにレベル変
換を施した輝度レベル信号をA/Dコンバ−タ14bが
デジタルデ−タ(画像デ−タ)に変換する。
【0036】遮光箱13は、直近で行なわれるレ−ザ−
ト−チ2による溶接の際に発生する光,煙を遮り、ある
いは発生するスパッタ−から撮影装置11及び投光器1
a,1bを保護するためのものである。
ト−チ2による溶接の際に発生する光,煙を遮り、ある
いは発生するスパッタ−から撮影装置11及び投光器1
a,1bを保護するためのものである。
【0037】図2に示す様に、撮影装置11の撮影光
軸,第1投光器1aの光軸及び第2投光器1bの光軸
は、溶接線が延びる方向yと直交するxz垂直面上にあ
る。第1投光器1aの光軸及び第2投光器1bの光軸
は、撮影装置11の撮影光軸に関して対称に位置してお
り、x軸に対して45°の入射角で、熱間鋼板1,2間
の溶接線に光を投射する。撮像装置11は、溶接線の上
方にある。なお、投光器の投光角度(図示例では45
°)は、熱間鋼板1,2表面の状態,材質等により適当
なところに設定して良い。
軸,第1投光器1aの光軸及び第2投光器1bの光軸
は、溶接線が延びる方向yと直交するxz垂直面上にあ
る。第1投光器1aの光軸及び第2投光器1bの光軸
は、撮影装置11の撮影光軸に関して対称に位置してお
り、x軸に対して45°の入射角で、熱間鋼板1,2間
の溶接線に光を投射する。撮像装置11は、溶接線の上
方にある。なお、投光器の投光角度(図示例では45
°)は、熱間鋼板1,2表面の状態,材質等により適当
なところに設定して良い。
【0038】図6および図7に、コントロ−ラ10の制
御フロ−を示す。電源を投入するとコントロ−ラ10は
初期設定を行なう(ステップA。以後カッコ内に示す記
号にはステップなる語を省略する)。門型架台20,y
移動ステ−ジ30及びx移動ステ−ジは、オペレ−タが
操作盤の各軸駆動,停止スイッチを操作して、スタ−ト
位置に設定する。そしてオペレ−タは溶接スタ−トを指
令する(B,C)。
御フロ−を示す。電源を投入するとコントロ−ラ10は
初期設定を行なう(ステップA。以後カッコ内に示す記
号にはステップなる語を省略する)。門型架台20,y
移動ステ−ジ30及びx移動ステ−ジは、オペレ−タが
操作盤の各軸駆動,停止スイッチを操作して、スタ−ト
位置に設定する。そしてオペレ−タは溶接スタ−トを指
令する(B,C)。
【0039】溶接スタ−トが指令されるとコントロ−ラ
10は、撮影装置11をオンとし(D)、yステ−ジの
y方向駆動をし(E)、第1投光器1aを点灯し
(F)、画像処理装置12に先端(側端)検出を指令
し、画像処理装置12が、ワ−ク(鋼板)の先端(図5
の(a)から(b)への変化)を検出したことを表わす
情報を転送して来るのを待つ(G)。
10は、撮影装置11をオンとし(D)、yステ−ジの
y方向駆動をし(E)、第1投光器1aを点灯し
(F)、画像処理装置12に先端(側端)検出を指令
し、画像処理装置12が、ワ−ク(鋼板)の先端(図5
の(a)から(b)への変化)を検出したことを表わす
情報を転送して来るのを待つ(G)。
【0040】図5は、熱間鋼板W1(W2)とその上方
をy移動ステ−ジによりy方向に移動する撮影装置11
とレ−ザ−ト−チ2,及び撮影装置11により撮影され
る画像の関係を示す。尚投光器による照明の表示は省略
してある。本実施例に於いて、y移動ステ−ジのy方向
移動速度は3m/分(5cm/秒)であり、また熱間鋼
板表面上での撮影装置11の撮影光軸とレ−ザト−チの
ビ−ム軸のy方向距離は10cmである。従って熱間鋼
板表面上のある一点を撮影装置11の撮影光軸が撮影し
てから、2秒後にレ−ザト−チのビ−ム軸が通過するこ
とになる。又、カメラ視野11sの後端とレ−ザ−ト−
チ2のビ−ム中心は一致している。
をy移動ステ−ジによりy方向に移動する撮影装置11
とレ−ザ−ト−チ2,及び撮影装置11により撮影され
る画像の関係を示す。尚投光器による照明の表示は省略
してある。本実施例に於いて、y移動ステ−ジのy方向
移動速度は3m/分(5cm/秒)であり、また熱間鋼
板表面上での撮影装置11の撮影光軸とレ−ザト−チの
ビ−ム軸のy方向距離は10cmである。従って熱間鋼
板表面上のある一点を撮影装置11の撮影光軸が撮影し
てから、2秒後にレ−ザト−チのビ−ム軸が通過するこ
とになる。又、カメラ視野11sの後端とレ−ザ−ト−
チ2のビ−ム中心は一致している。
【0041】図5の(a)ではy移動ステ−ジ、於ち撮
影装置11及びレ−ザ−ト−チ2が右側にあり、カメラ
視野11sには熱間鋼板W1は存在しない。従って画像
に熱間鋼板W1は現われず、また投光器による照明の熱
間鋼板表面での反射も無いので画像は暗い。
影装置11及びレ−ザ−ト−チ2が右側にあり、カメラ
視野11sには熱間鋼板W1は存在しない。従って画像
に熱間鋼板W1は現われず、また投光器による照明の熱
間鋼板表面での反射も無いので画像は暗い。
【0042】図5の(b)では撮影装置11のカメラ視
野11sに、わずかに熱間鋼板W1の先端縁(溶接開始
側の側端)が差しかかった状態を示す。撮影画像の上部
にはx方向に連続する熱間鋼板W1の先端縁相当の直線
画像と、y方向に延びる溶接線相当の直線画像が現われ
る。
野11sに、わずかに熱間鋼板W1の先端縁(溶接開始
側の側端)が差しかかった状態を示す。撮影画像の上部
にはx方向に連続する熱間鋼板W1の先端縁相当の直線
画像と、y方向に延びる溶接線相当の直線画像が現われ
る。
【0043】画像処理装置12は、先端検出が指令され
ると、撮影装置11が発生する画像信号の1画面分を所
定周期で、輝度レベル変換器14で画像デ−タに変換し
て装置12内部の画像メモリに書込む。そして1画面分
を書込む毎に、y方向の画像デ−タの差分値(y方向で
隣り合う画像の画像デ−タの差;微分値)を算出する。
この差分値は画像上のエッジ部で大きな値となるので、
差分演算はエッジ強調処理であり、差分値はエッジの明
瞭度を表わす。画像処理装置12は、差分値のピ−クを
しきい値で2値化して、副走査方向yで同一アドレス
(位置)にあってしきい値以上の値となった同一主走査
ライン(x方向)上の画素の数を、yアドレス(ライ
ン)毎にカウントする。すなわちy軸投影値を算出す
る。そしてカウント値が設定値以上となった主走査ライ
ン(アドレスy)があるかをチェックする。
ると、撮影装置11が発生する画像信号の1画面分を所
定周期で、輝度レベル変換器14で画像デ−タに変換し
て装置12内部の画像メモリに書込む。そして1画面分
を書込む毎に、y方向の画像デ−タの差分値(y方向で
隣り合う画像の画像デ−タの差;微分値)を算出する。
この差分値は画像上のエッジ部で大きな値となるので、
差分演算はエッジ強調処理であり、差分値はエッジの明
瞭度を表わす。画像処理装置12は、差分値のピ−クを
しきい値で2値化して、副走査方向yで同一アドレス
(位置)にあってしきい値以上の値となった同一主走査
ライン(x方向)上の画素の数を、yアドレス(ライ
ン)毎にカウントする。すなわちy軸投影値を算出す
る。そしてカウント値が設定値以上となった主走査ライ
ン(アドレスy)があるかをチェックする。
【0044】画像処理装置12はこの処理を1画面の画
像読込み毎に実施して、カウント値が設定値以上となる
と、そのライン(図5の(b)の画面上のx軸平行線)
がワ−クの先端縁(側端)であるとして、そのy位置デ
−タ(撮影装置11の視野中心からy方向距離)と共
に、先端を検出したことをコントロ−ラ10に報知す
る。
像読込み毎に実施して、カウント値が設定値以上となる
と、そのライン(図5の(b)の画面上のx軸平行線)
がワ−クの先端縁(側端)であるとして、そのy位置デ
−タ(撮影装置11の視野中心からy方向距離)と共
に、先端を検出したことをコントロ−ラ10に報知す
る。
【0045】この報知を受けるとコントロ−ラ10は、
「溶接線画像確認」Hを実行する。この内容を図8に示
す。ここでコントロ−ラ10は、画像処理装置12に1
画面の溶接線検出を指令し、画像処理装置12が、ワ−
ク(熱間鋼板)の溶接線(図5の(b)の画面上のy軸
平行線)を検出したことを表わす情報を転送して来るの
を待つ。
「溶接線画像確認」Hを実行する。この内容を図8に示
す。ここでコントロ−ラ10は、画像処理装置12に1
画面の溶接線検出を指令し、画像処理装置12が、ワ−
ク(熱間鋼板)の溶接線(図5の(b)の画面上のy軸
平行線)を検出したことを表わす情報を転送して来るの
を待つ。
【0046】画像処理装置12は、1画面の溶接線検出
が指令されると、撮影装置11が発生する画像信号の1
画面分を、輝度レベル変換器14で画像デ−タに変換し
て装置12内部の画像メモリに書込む。そして1画面分
を書込むと、x方向の画像デ−タの差分値(x方向で隣
り合う画像の画像デ−タの差;微分値)を算出する。こ
の差分値は画像上のエッジ部(溶接線)で大きな値とな
る。この差分演算はエッジ強調処理であり、差分値はエ
ッジの明瞭度を表わす。画像処理装置12は、差分値の
ピ−クをしきい値で2値化して、主査方向xで同一アド
レス(位置)にあってしきい値(設定値)以上の値とな
った画素の数をカウントする。すなわちx軸投影値を算
出する。そしてカウント値が設定値以上となった主走査
位置(x=P2,P3)があるかをチェックする。
が指令されると、撮影装置11が発生する画像信号の1
画面分を、輝度レベル変換器14で画像デ−タに変換し
て装置12内部の画像メモリに書込む。そして1画面分
を書込むと、x方向の画像デ−タの差分値(x方向で隣
り合う画像の画像デ−タの差;微分値)を算出する。こ
の差分値は画像上のエッジ部(溶接線)で大きな値とな
る。この差分演算はエッジ強調処理であり、差分値はエ
ッジの明瞭度を表わす。画像処理装置12は、差分値の
ピ−クをしきい値で2値化して、主査方向xで同一アド
レス(位置)にあってしきい値(設定値)以上の値とな
った画素の数をカウントする。すなわちx軸投影値を算
出する。そしてカウント値が設定値以上となった主走査
位置(x=P2,P3)があるかをチェックする。
【0047】画像処理装置12は、カウント値が設定値
以上のxアドレスがあるとそこに溶接線があるとして、
そのx位置デ−タ(撮影装置11の視野中心からx方向
距離)と共に、溶接線を検出したことをコントロ−ラ1
0に報知する。カウント値が設定値以上のxアドレスが
無いと、溶接線非検出をコントロ−ラ10に報知する
(H1)。
以上のxアドレスがあるとそこに溶接線があるとして、
そのx位置デ−タ(撮影装置11の視野中心からx方向
距離)と共に、溶接線を検出したことをコントロ−ラ1
0に報知する。カウント値が設定値以上のxアドレスが
無いと、溶接線非検出をコントロ−ラ10に報知する
(H1)。
【0048】溶接線を検出した報知を受けるとコントロ
−ラ10は、「点灯方式の決定」Jに進む。この内容は
後述する。
−ラ10は、「点灯方式の決定」Jに進む。この内容は
後述する。
【0049】溶接線非検出の報知を受けると、コントロ
−ラ10は、第1投光器1aの代りに第2投光器1bを
点灯する(H2)。そして画像処理装置12に1画面の
溶接線の検出を指令する。画像処理装置12は上述と同
様にして溶接線検出処理を実行して、溶接線検出と検出
位置(xアドレス)、又は、溶接線非検出をコントロ−
ラ10に報知する(H3)。溶接線を検出した報知を受
けるとコントロ−ラ10は、「点灯方式の決定」Jに進
むが、溶接線非検出の報知を受けるとコントロ−ラ10
は、第1投光器1a及び第2投光器1bを共に点灯する
(H4)。そして画像処理装置12に1画面の溶接線の
検出を指令する。画像処理装置12は上述と同様にして
溶接線検出処理を実行して、溶接線検出と検出位置(x
アドレス)、又は、溶接線非検出をコントロ−ラ10に
報知する(H5)。溶接線を検出した報知を受けるとコ
ントロ−ラ10は、「点灯方式の決定」Jに進む。
−ラ10は、第1投光器1aの代りに第2投光器1bを
点灯する(H2)。そして画像処理装置12に1画面の
溶接線の検出を指令する。画像処理装置12は上述と同
様にして溶接線検出処理を実行して、溶接線検出と検出
位置(xアドレス)、又は、溶接線非検出をコントロ−
ラ10に報知する(H3)。溶接線を検出した報知を受
けるとコントロ−ラ10は、「点灯方式の決定」Jに進
むが、溶接線非検出の報知を受けるとコントロ−ラ10
は、第1投光器1a及び第2投光器1bを共に点灯する
(H4)。そして画像処理装置12に1画面の溶接線の
検出を指令する。画像処理装置12は上述と同様にして
溶接線検出処理を実行して、溶接線検出と検出位置(x
アドレス)、又は、溶接線非検出をコントロ−ラ10に
報知する(H5)。溶接線を検出した報知を受けるとコ
ントロ−ラ10は、「点灯方式の決定」Jに進む。
【0050】「点灯方式の決定」Jの内容を図9に示
す。ここでは、「溶接線位置の測定1」J1(後述)を
行ない、次に第1投光器1aをオフとして(J2)、
「溶接線位置の測定2」J3(後述)を行なう。そして
第2投光器1bをオフとして(J4)、「溶接線位置の
測定3」J5を行ない、第1投光器1a及び第2投光器
1bをオフとして(J6)、これらの「溶接線位置の測
定1,2,3」J1,J3,J5の結果から最適な溶接
線を選択して(J7)、「溶接線トラッキング」Kに進
む。
す。ここでは、「溶接線位置の測定1」J1(後述)を
行ない、次に第1投光器1aをオフとして(J2)、
「溶接線位置の測定2」J3(後述)を行なう。そして
第2投光器1bをオフとして(J4)、「溶接線位置の
測定3」J5を行ない、第1投光器1a及び第2投光器
1bをオフとして(J6)、これらの「溶接線位置の測
定1,2,3」J1,J3,J5の結果から最適な溶接
線を選択して(J7)、「溶接線トラッキング」Kに進
む。
【0051】図10,図11および図12に、「溶接線
位置の測定1」J1,「溶接線位置の測定2」J3およ
び「溶接線位置の測定」J5の内容を示す。図10を参
照すると、「溶接線位置の測定1」J1でコントロ−ラ
10は、まず第1投光器1aをオンとして(J11)、
画像処理装置12に1画面の溶接線検出を指令する。こ
れに応答して画像処理装置12は、その内部のレジスタ
R1d,m,n,p(メモリ上の領域)を0(クリア)
して(J12)、撮影信号を1画面分画像デ−タに変換
して画像メモリに書込む(J13)。画像処理装置12
は次に、画像メモリの画像デ−タをx方向に差分演算
(微分)する(J14)。すなわち画像上のエッジの強
調処理(差分演算)を行なって、エッジの明瞭度(差分
値)を得る。そして、差分値をしきい値(設定値)で2
値化し(J15)、しきい値以上の差分値を得た画素数
を、x各アドレス毎に、y方向に累算カウント(y方向
に投影:積算)して記憶する(J16)。この様にして
得たカウント値の内、最大値を選択しレジスタR1mに
記憶し、また最小値をレジスタR1nに記憶する。そし
てレジスタR1mの値からレジスタR1nの値を差引
き、その値をレジスタR1dに記憶する(J17)。差
分値の内、正値の最高値を選択し(J18)、そのx方
向位置を算出してレジスタR1pに記憶して(J1
9)、コントロ−ラ10に、これらのレジスタのデ−タ
を転送する。コントロ−ラ10は次に「溶接線位置の測
定2」J3に進む。
位置の測定1」J1,「溶接線位置の測定2」J3およ
び「溶接線位置の測定」J5の内容を示す。図10を参
照すると、「溶接線位置の測定1」J1でコントロ−ラ
10は、まず第1投光器1aをオンとして(J11)、
画像処理装置12に1画面の溶接線検出を指令する。こ
れに応答して画像処理装置12は、その内部のレジスタ
R1d,m,n,p(メモリ上の領域)を0(クリア)
して(J12)、撮影信号を1画面分画像デ−タに変換
して画像メモリに書込む(J13)。画像処理装置12
は次に、画像メモリの画像デ−タをx方向に差分演算
(微分)する(J14)。すなわち画像上のエッジの強
調処理(差分演算)を行なって、エッジの明瞭度(差分
値)を得る。そして、差分値をしきい値(設定値)で2
値化し(J15)、しきい値以上の差分値を得た画素数
を、x各アドレス毎に、y方向に累算カウント(y方向
に投影:積算)して記憶する(J16)。この様にして
得たカウント値の内、最大値を選択しレジスタR1mに
記憶し、また最小値をレジスタR1nに記憶する。そし
てレジスタR1mの値からレジスタR1nの値を差引
き、その値をレジスタR1dに記憶する(J17)。差
分値の内、正値の最高値を選択し(J18)、そのx方
向位置を算出してレジスタR1pに記憶して(J1
9)、コントロ−ラ10に、これらのレジスタのデ−タ
を転送する。コントロ−ラ10は次に「溶接線位置の測
定2」J3に進む。
【0052】「溶接線位置の測定2」J3(図11)の
内容は、前述の「溶接線位置の測定1」の内容と同様で
ある。ただし、第2投光器1bにて溶接線を照明する点
が異なる。「溶接線位置の測定2」J3の次に実行する
「溶接線位置の測定3」J5(図12)の内容は、前述
の「溶接線位置の測定1」の内容と同様である。ただ
し、第1および第2投光器1a,1bにて溶接線を同時
に照明する点が異なる。図13に、「最適溶接線位置の
選択」J7の内容を示す。ここでコントロ−ラは、レジ
スタR1dの値とレジスタR2dの値を比較し(J7
1)、レジスタR1dの値の方が大であれば、レジスタ
R1dの値とレジスタR3dの値を比較し(J72)、
レジスタR1dの値の方が大であれば、レジスタRsに
1を書込む(J73)。これは第1投光器1aのみをオ
ンとした時に得られた画像上の像エッジ(溶接線)の明
瞭度(エッジ画素のy方向累算値の最大値と最小値の
差)が、他の投光器を点灯した時より高いことを示し、
従って第1投光器1aのみオン(第1投光器1aによる
照明モ−ド)を選択し、第1投光器1aのみをオンにし
て(J74)、「溶接線トラッキング」Kに進む。
内容は、前述の「溶接線位置の測定1」の内容と同様で
ある。ただし、第2投光器1bにて溶接線を照明する点
が異なる。「溶接線位置の測定2」J3の次に実行する
「溶接線位置の測定3」J5(図12)の内容は、前述
の「溶接線位置の測定1」の内容と同様である。ただ
し、第1および第2投光器1a,1bにて溶接線を同時
に照明する点が異なる。図13に、「最適溶接線位置の
選択」J7の内容を示す。ここでコントロ−ラは、レジ
スタR1dの値とレジスタR2dの値を比較し(J7
1)、レジスタR1dの値の方が大であれば、レジスタ
R1dの値とレジスタR3dの値を比較し(J72)、
レジスタR1dの値の方が大であれば、レジスタRsに
1を書込む(J73)。これは第1投光器1aのみをオ
ンとした時に得られた画像上の像エッジ(溶接線)の明
瞭度(エッジ画素のy方向累算値の最大値と最小値の
差)が、他の投光器を点灯した時より高いことを示し、
従って第1投光器1aのみオン(第1投光器1aによる
照明モ−ド)を選択し、第1投光器1aのみをオンにし
て(J74)、「溶接線トラッキング」Kに進む。
【0053】ステップJ71でレジスタR2dの値の方
が大と判定した時は、レジスタR2dの値とレジスタR
3dの値とを比較し(J75)、レジスタR2dの値の
方が大であれば、レジスタRsに2を書込む(J7
6)。これは第2投光器1bのみをオンとした時に得ら
れた画像上の像エッジ(溶接線)の明瞭度が、他の投光
器を点灯した時より高いことを示し、従って第2投光器
1bのみオン(第2投光器1bによる照明モ−ド)を選
択し、第2投光器1bのみをオンして(J77)、「溶
接線トラッキング」Kに進む。
が大と判定した時は、レジスタR2dの値とレジスタR
3dの値とを比較し(J75)、レジスタR2dの値の
方が大であれば、レジスタRsに2を書込む(J7
6)。これは第2投光器1bのみをオンとした時に得ら
れた画像上の像エッジ(溶接線)の明瞭度が、他の投光
器を点灯した時より高いことを示し、従って第2投光器
1bのみオン(第2投光器1bによる照明モ−ド)を選
択し、第2投光器1bのみをオンして(J77)、「溶
接線トラッキング」Kに進む。
【0054】ステップJ72でレジスタR3dの値の方
が大と判定した時、及びステップJ75でレジスタR3
dの値の方が大と判定した時には、レジスタRsに3を
書込む(J78)。これは第1投光器1a及び第2投光
器1bをオンとした時に得られた画像上の像エッジ(溶
接線)の明瞭度が、他の場合より高いことを示し、従っ
て第1投光器1a及び第2投光器1bのオン(第2投光
器1bによる照明モ−ド)を選択し、第1投光器1a及
び第2投光器1bをオンにして(J79)、「溶接線ト
ラッキング」Kに進む。
が大と判定した時、及びステップJ75でレジスタR3
dの値の方が大と判定した時には、レジスタRsに3を
書込む(J78)。これは第1投光器1a及び第2投光
器1bをオンとした時に得られた画像上の像エッジ(溶
接線)の明瞭度が、他の場合より高いことを示し、従っ
て第1投光器1a及び第2投光器1bのオン(第2投光
器1bによる照明モ−ド)を選択し、第1投光器1a及
び第2投光器1bをオンにして(J79)、「溶接線ト
ラッキング」Kに進む。
【0055】ここで、上述の照明モ−ドの選択および設
定について、説明を加える。図4の(c)の〜は、
(b)の〜に示す画像信号(即ち(a)の〜の
時に撮影装置11で撮影して得られた画像信号)をx方
向に微分(差分演算)した波形を各々対応して示す。本
実施例に於いては画像処理装置12が、撮影装置11で
撮影して得られた画像信号を画像デ−タにデジタル変換
して、x方向の画像デ−タの差分値(x方向で隣り合う
画像の画像デ−タの差)を算出する。この差分値は図4
の(c)のに示す様に、画像信号の立下がり時に大き
い正値(正極性のパルス)となり、画像信号の立上がり
時に絶対値が大きい負値(負極性のパルス)となる。
(c)のでは大きなピ−ク値を持つ正極性及び負極性
のパルスが発生し、(c)のではわずかに正極性及び
負極性のパルスが発生し、(c)のでは低いピ−ク値
を持つ正極性及び負極性のパルスが発生する。
定について、説明を加える。図4の(c)の〜は、
(b)の〜に示す画像信号(即ち(a)の〜の
時に撮影装置11で撮影して得られた画像信号)をx方
向に微分(差分演算)した波形を各々対応して示す。本
実施例に於いては画像処理装置12が、撮影装置11で
撮影して得られた画像信号を画像デ−タにデジタル変換
して、x方向の画像デ−タの差分値(x方向で隣り合う
画像の画像デ−タの差)を算出する。この差分値は図4
の(c)のに示す様に、画像信号の立下がり時に大き
い正値(正極性のパルス)となり、画像信号の立上がり
時に絶対値が大きい負値(負極性のパルス)となる。
(c)のでは大きなピ−ク値を持つ正極性及び負極性
のパルスが発生し、(c)のではわずかに正極性及び
負極性のパルスが発生し、(c)のでは低いピ−ク値
を持つ正極性及び負極性のパルスが発生する。
【0056】ここで画像処理装置12は、各パルス(差
分値のピ−ク)の絶対値をしきい値(設定値)で2値化
して、主走査方向xで同一アドレス(位置)にあってし
きい値以上の値となった画素の数を副走査方向yでカウ
ントする。そしてカウント値の最大値(あるいは平均
値)と最小値との差を計算する。この差値が投光器の3
種類の点灯方式すなわち照明モ−ド(第1投光器1aの
み点灯,第2投光器1bのみ点灯,第1投光器1a及び
第2投光器1b共に点灯)の内、何れが大であるかを比
較し、最大の差値が得られた点灯方式を自動選択する。
分値のピ−ク)の絶対値をしきい値(設定値)で2値化
して、主走査方向xで同一アドレス(位置)にあってし
きい値以上の値となった画素の数を副走査方向yでカウ
ントする。そしてカウント値の最大値(あるいは平均
値)と最小値との差を計算する。この差値が投光器の3
種類の点灯方式すなわち照明モ−ド(第1投光器1aの
み点灯,第2投光器1bのみ点灯,第1投光器1a及び
第2投光器1b共に点灯)の内、何れが大であるかを比
較し、最大の差値が得られた点灯方式を自動選択する。
【0057】上記方法の他、閾値THを定め閾値THを
越える微分パルスを発生する投光器を自動選択してもよ
いし、あるいは暗部に対応する画像信号の面積を計測
し、最大の面積を有する点灯条件を自動選択してもよ
い。
越える微分パルスを発生する投光器を自動選択してもよ
いし、あるいは暗部に対応する画像信号の面積を計測
し、最大の面積を有する点灯条件を自動選択してもよ
い。
【0058】図2〜図4に於いては熱間鋼板W1の表面
が熱間鋼板W2の表面より高い状態を示し説明したが、
逆に熱間鋼板W2の表面が熱間鋼板W1の表面より高い
状態に於いては、第2投光器1bのみを点灯した時に影
が明瞭に現われる。この影を撮影装置11で撮影した時
の画像処理及びパルス選択は図2〜図4に於ける場合と
同様に行なうことが出来る。
が熱間鋼板W2の表面より高い状態を示し説明したが、
逆に熱間鋼板W2の表面が熱間鋼板W1の表面より高い
状態に於いては、第2投光器1bのみを点灯した時に影
が明瞭に現われる。この影を撮影装置11で撮影した時
の画像処理及びパルス選択は図2〜図4に於ける場合と
同様に行なうことが出来る。
【0059】この様に投光器を順次切換えて点灯して行
くと、何れかの投光器を点灯した時に影(図4の(a)
の暗部)が明瞭に生ずるので、これを撮影して得られた
画像信号のレベル値から、最適な点灯条件を決定するこ
とが出来る。
くと、何れかの投光器を点灯した時に影(図4の(a)
の暗部)が明瞭に生ずるので、これを撮影して得られた
画像信号のレベル値から、最適な点灯条件を決定するこ
とが出来る。
【0060】「溶接線トラッキング」Kの内容を図14
および図15に示す。y移動ステ−ジ30はy方向に5
cm/秒で走行する。以下の処理は溶接線トラッキング
の際、y移動ステ−ジ30が5mm走行する毎に、コン
トロ−ラ10が新たに溶接線位置の測定を行い、溶接線
をトラッキングする為のものである。
および図15に示す。y移動ステ−ジ30はy方向に5
cm/秒で走行する。以下の処理は溶接線トラッキング
の際、y移動ステ−ジ30が5mm走行する毎に、コン
トロ−ラ10が新たに溶接線位置の測定を行い、溶接線
をトラッキングする為のものである。
【0061】図14を参照するとコントロ−ラ10は、
レジスタAx,Ay,Ex,Ey,Ys及びカウンタ−
Enx,Enyを0(クリア)して(K1)、レジスタ
Ysに5を加算する(K2)。y移動ステ−ジ30が1
mm走行する毎にyエンコ−ダが発生するパルスをカウ
ンタ−Enyで計測し(K3)、レジスタEyに加算す
る(K4)。レジスタYs(初回のル−プでは5)から
レジスタEyの値を減算し、その値をレジスタAyにセ
−ブし(K5)、レジスタAyの値が0になるまでステ
ップK3〜K6を繰返す。
レジスタAx,Ay,Ex,Ey,Ys及びカウンタ−
Enx,Enyを0(クリア)して(K1)、レジスタ
Ysに5を加算する(K2)。y移動ステ−ジ30が1
mm走行する毎にyエンコ−ダが発生するパルスをカウ
ンタ−Enyで計測し(K3)、レジスタEyに加算す
る(K4)。レジスタYs(初回のル−プでは5)から
レジスタEyの値を減算し、その値をレジスタAyにセ
−ブし(K5)、レジスタAyの値が0になるまでステ
ップK3〜K6を繰返す。
【0062】レジスタAyの値が0になると、コントロ
−ラ10は、「最適溶接線の選択」J7(図13)でセ
−ブしたレジスタRsの値を読込む(K7)。Rsの値
が1であれば(K8)「溶接線位置の測定1」(図1
0)を行ない(K9)、溶接線位置をR1pにセ−ブし
ておく。
−ラ10は、「最適溶接線の選択」J7(図13)でセ
−ブしたレジスタRsの値を読込む(K7)。Rsの値
が1であれば(K8)「溶接線位置の測定1」(図1
0)を行ない(K9)、溶接線位置をR1pにセ−ブし
ておく。
【0063】カウンタ−Enxによりx移動ステ−ジ駆
動モ−タにより駆動されるxエンコ−ダが発生するパル
スを計測する(K10)。溶接線位置R1pよりカウン
タ−Enx値を減算し、その結果をレジスタR1pにセ
−ブ(K11)すると共に、この値をx移動ステ−ジ駆
動モ−タ入力Axとして(K12)、x移動ステ−ジ駆
動モ−タを駆動する(K13)。駆動モ−タ入力Axの
値が0になるまでステップK10〜K14を繰返し、駆
動モ−タ入力Axの値が0になると、「ワ−ク先端縁画
像無?」L(図6)を経て、ワ−ク先端縁画像有りの
間、「溶接線トラッキング」Kに戻り、y移動ステ−ジ
30が5mm走行後に上記処理を繰返す。ステップK7
で読み込むRsの値が「2」である時は(K15)、コ
ントロ−ラ10は「溶接線位置の測定2」(図11)を
行ない(K16)、溶接線位置をR2pにセ−ブしてお
く。カウンタ−Enxによりx移動ステ−ジ駆動モ−タ
により駆動されるxエンコ−ダが発生するパルスを計測
する(K17)。溶接線位置R2pよりカウンタ−En
x値を減算し、その結果をレジスタR2pにセ−ブ(K
18)すると共に、この値をx移動ステ−ジ駆動モ−タ
入力Axとして(K19)、x移動ステ−ジ駆動モ−タ
を駆動する(K20)。駆動モ−タ入力Axの値が0に
なるまでステップK17〜K21を繰返し、駆動モ−タ
入力Axの値が0になるとステップK2に戻り、y移動
ステ−ジ30が5mm走行後に上記処理を繰返す。
動モ−タにより駆動されるxエンコ−ダが発生するパル
スを計測する(K10)。溶接線位置R1pよりカウン
タ−Enx値を減算し、その結果をレジスタR1pにセ
−ブ(K11)すると共に、この値をx移動ステ−ジ駆
動モ−タ入力Axとして(K12)、x移動ステ−ジ駆
動モ−タを駆動する(K13)。駆動モ−タ入力Axの
値が0になるまでステップK10〜K14を繰返し、駆
動モ−タ入力Axの値が0になると、「ワ−ク先端縁画
像無?」L(図6)を経て、ワ−ク先端縁画像有りの
間、「溶接線トラッキング」Kに戻り、y移動ステ−ジ
30が5mm走行後に上記処理を繰返す。ステップK7
で読み込むRsの値が「2」である時は(K15)、コ
ントロ−ラ10は「溶接線位置の測定2」(図11)を
行ない(K16)、溶接線位置をR2pにセ−ブしてお
く。カウンタ−Enxによりx移動ステ−ジ駆動モ−タ
により駆動されるxエンコ−ダが発生するパルスを計測
する(K17)。溶接線位置R2pよりカウンタ−En
x値を減算し、その結果をレジスタR2pにセ−ブ(K
18)すると共に、この値をx移動ステ−ジ駆動モ−タ
入力Axとして(K19)、x移動ステ−ジ駆動モ−タ
を駆動する(K20)。駆動モ−タ入力Axの値が0に
なるまでステップK17〜K21を繰返し、駆動モ−タ
入力Axの値が0になるとステップK2に戻り、y移動
ステ−ジ30が5mm走行後に上記処理を繰返す。
【0064】ステップK7で読み込むRsの値が「3」
である時は(K22)、コントロ−ラ10は、「溶接線
位置の測定3」(図12)を行ない(K23)、溶接線
位置をR3pにセ−ブしておく。カウンタ−Enxによ
りx移動ステ−ジ駆動モ−タにより駆動されるxエンコ
−ダが発生するパルスを計測する(K24)。溶接線位
置R3pよりカウンタ−Enx値を減算し、その結果を
レジスタR3pにセ−ブ(K25)すると共に、この値
をx移動ステ−ジ駆動モ−タ入力Axとして(K2
6)、x移動ステ−ジ駆動モ−タを駆動する(K2
7)。駆動モ−タ入力Axの値が0になるまでステップ
K24〜K28を繰返し、駆動モ−タ入力Axの値が0
になるとステップK2に戻り、y移動ステ−ジ30が5
mm走行後に上記処理を繰返す。
である時は(K22)、コントロ−ラ10は、「溶接線
位置の測定3」(図12)を行ない(K23)、溶接線
位置をR3pにセ−ブしておく。カウンタ−Enxによ
りx移動ステ−ジ駆動モ−タにより駆動されるxエンコ
−ダが発生するパルスを計測する(K24)。溶接線位
置R3pよりカウンタ−Enx値を減算し、その結果を
レジスタR3pにセ−ブ(K25)すると共に、この値
をx移動ステ−ジ駆動モ−タ入力Axとして(K2
6)、x移動ステ−ジ駆動モ−タを駆動する(K2
7)。駆動モ−タ入力Axの値が0になるまでステップ
K24〜K28を繰返し、駆動モ−タ入力Axの値が0
になるとステップK2に戻り、y移動ステ−ジ30が5
mm走行後に上記処理を繰返す。
【0065】以上の溶接線トラッキング中は、y移動ス
テ−ジ30が5mm走行毎に溶接線位置の測定を行な
う。点灯条件の自動選択に使用したピ−ク値の大きい正
負2個のパルスに於て、正極性のパルス位置はP2、即
ち溶接線の位置を示すので、この正極性パルスのx方向
位置を測定すれば溶接線のx方向位置を知ることが出来
る。すなわち、例えば第1投光器1aを選択した場合に
は、図2に於いて影の左端は溶接線位置P2に一致す
る。この時の影の左端に対応する画像信号パルスは、図
4(c)のより正極性パルスである。上述の溶接線の
検出においては、画像信号を微分した時発生する2個の
パルスの何れを選択するかの方法については、正極性パ
ルスを選択する方法を述べたが、投光器の点灯条件に応
じて何れかを選択する方法でも良い。例えば図2〜図4
に於いては熱間鋼板W1の表面が熱間鋼板W2の表面よ
り高い状態であるので第1投光器1aを投光した時には
影は必ず熱間鋼板W2の表面上に発生するので、明部か
ら暗部に変化する位置P2、即ち溶接線位置に対応する
パルスは図面上左側のパルスであるから、これを選択す
ればよい。逆に熱間鋼板W2の表面が熱間鋼板W1の表
面より高い状態に於いては、第2投光器1bを投光した
時には影は必ず熱間鋼板W1の表面上に発生するので、
明部から暗部に変化する画像に対応するパルス、即ち溶
接線位置に対応するパルスは右側となるので、これを選
択すればよい。
テ−ジ30が5mm走行毎に溶接線位置の測定を行な
う。点灯条件の自動選択に使用したピ−ク値の大きい正
負2個のパルスに於て、正極性のパルス位置はP2、即
ち溶接線の位置を示すので、この正極性パルスのx方向
位置を測定すれば溶接線のx方向位置を知ることが出来
る。すなわち、例えば第1投光器1aを選択した場合に
は、図2に於いて影の左端は溶接線位置P2に一致す
る。この時の影の左端に対応する画像信号パルスは、図
4(c)のより正極性パルスである。上述の溶接線の
検出においては、画像信号を微分した時発生する2個の
パルスの何れを選択するかの方法については、正極性パ
ルスを選択する方法を述べたが、投光器の点灯条件に応
じて何れかを選択する方法でも良い。例えば図2〜図4
に於いては熱間鋼板W1の表面が熱間鋼板W2の表面よ
り高い状態であるので第1投光器1aを投光した時には
影は必ず熱間鋼板W2の表面上に発生するので、明部か
ら暗部に変化する位置P2、即ち溶接線位置に対応する
パルスは図面上左側のパルスであるから、これを選択す
ればよい。逆に熱間鋼板W2の表面が熱間鋼板W1の表
面より高い状態に於いては、第2投光器1bを投光した
時には影は必ず熱間鋼板W1の表面上に発生するので、
明部から暗部に変化する画像に対応するパルス、即ち溶
接線位置に対応するパルスは右側となるので、これを選
択すればよい。
【0066】上述の「溶接線トラッキング」Kを実行す
る度にコントロ−ラ10はそれに続して「ワ−ク先端縁
画像無し?」L(図6)を実行する。この「ワ−ク先端
縁画像無し?」Lにおいては、画像処理装置12が、画
像メモリ上の画像デ−タに対してy方向の画像デ−タの
差分値を算出する。この差分値は画像上のx方向に長い
エッジ部で大きな値となる。画像処理装置12は、差分
値のピ−クをしきい値で2値化して、副走査方向yで同
一アドレスにあってしきい値以上の値となった画素の数
を、副走査1ライン毎に主走査方向xでカウントする。
そしてカウント値が設定値以上となった走査ライン(y
アドレス)があるかをチェックする。カウント値が設定
値以上となったyアドレスがあるとワ−ク先端ありを、
無いとワ−ク先端なしをコントロ−ラ10に報知する。
ワ−ク先端ありの間コントロ−ラ10は、上述の「溶接
線トラッキング」Kおよび「ワ−ク先縁画像無し?」L
を繰返すが、ワ−ク先端なしに変わると、コントロ−ラ
10は、倣い溶接を開始する(M:図7)。
る度にコントロ−ラ10はそれに続して「ワ−ク先端縁
画像無し?」L(図6)を実行する。この「ワ−ク先端
縁画像無し?」Lにおいては、画像処理装置12が、画
像メモリ上の画像デ−タに対してy方向の画像デ−タの
差分値を算出する。この差分値は画像上のx方向に長い
エッジ部で大きな値となる。画像処理装置12は、差分
値のピ−クをしきい値で2値化して、副走査方向yで同
一アドレスにあってしきい値以上の値となった画素の数
を、副走査1ライン毎に主走査方向xでカウントする。
そしてカウント値が設定値以上となった走査ライン(y
アドレス)があるかをチェックする。カウント値が設定
値以上となったyアドレスがあるとワ−ク先端ありを、
無いとワ−ク先端なしをコントロ−ラ10に報知する。
ワ−ク先端ありの間コントロ−ラ10は、上述の「溶接
線トラッキング」Kおよび「ワ−ク先縁画像無し?」L
を繰返すが、ワ−ク先端なしに変わると、コントロ−ラ
10は、倣い溶接を開始する(M:図7)。
【0067】図5の(c)では撮影装置11のカメラ視
野11sは、ほぼ熱間鋼板W1上にある。撮影画像の下
部にはx方向に連続する熱間鋼板W1の後端縁相当の直
線画像と、y方向に延びる溶接線相当の直線画像が現わ
れている。カメラ視野11sの後端とレ−ザ−ト−チ2
のビ−ム中心は一致しているので、先端縁画像(図5の
(c)の画面上のx軸平行線)が、画面上から消えた
(通過した)ときにレ−ザ−ト−チ2を作動させれば、
レ−ザ−溶接の開始点が、溶接線の先端縁(側端)と合
致する。上述の「ワ−ク先縁画像無し?」は、このタイ
ミングを検出するものである。
野11sは、ほぼ熱間鋼板W1上にある。撮影画像の下
部にはx方向に連続する熱間鋼板W1の後端縁相当の直
線画像と、y方向に延びる溶接線相当の直線画像が現わ
れている。カメラ視野11sの後端とレ−ザ−ト−チ2
のビ−ム中心は一致しているので、先端縁画像(図5の
(c)の画面上のx軸平行線)が、画面上から消えた
(通過した)ときにレ−ザ−ト−チ2を作動させれば、
レ−ザ−溶接の開始点が、溶接線の先端縁(側端)と合
致する。上述の「ワ−ク先縁画像無し?」は、このタイ
ミングを検出するものである。
【0068】溶接を開始するとコントロ−ラ10は、上
述の「溶接線トラッキング」K(図14&図15)の内
容と同一の「溶接トラッキング」N,Rならびに上述の
「ワ−ク先縁画像無し?」L(図6)の内容と同一の
「ワ−ク先端縁画像有?」Pおよび「ワ−ク先端縁画像
無?」Rを実行して、溶接線の検出と検出した溶接線へ
のレ−ザト−チの位置合せならびにワ−ク先端縁検出を
繰返す(図7のN〜R)。そして、ワ−ク後端縁が撮影
画面に現われ、それが撮影画面から消えるときすなわち
レ−ザト−チの狙い位置がワ−クの後端縁を通過する
と、溶接を停止する(図7のS)。
述の「溶接線トラッキング」K(図14&図15)の内
容と同一の「溶接トラッキング」N,Rならびに上述の
「ワ−ク先縁画像無し?」L(図6)の内容と同一の
「ワ−ク先端縁画像有?」Pおよび「ワ−ク先端縁画像
無?」Rを実行して、溶接線の検出と検出した溶接線へ
のレ−ザト−チの位置合せならびにワ−ク先端縁検出を
繰返す(図7のN〜R)。そして、ワ−ク後端縁が撮影
画面に現われ、それが撮影画面から消えるときすなわち
レ−ザト−チの狙い位置がワ−クの後端縁を通過する
と、溶接を停止する(図7のS)。
【0069】図5の(d)には、撮影装置11のカメラ
視野11sに、わずかに熱間鋼板W1の後端縁が差しか
かった状態を示す。撮影画像の上部にはx方向に連続す
る熱間鋼板W1の後端縁相当の直線画像と、y方向に延
びる溶接線相当の直線画像が現われる。
視野11sに、わずかに熱間鋼板W1の後端縁が差しか
かった状態を示す。撮影画像の上部にはx方向に連続す
る熱間鋼板W1の後端縁相当の直線画像と、y方向に延
びる溶接線相当の直線画像が現われる。
【0070】図5の(e)では撮影装置11のカメラ視
野11sはほぼ熱間鋼板W1を通過し、わずかに熱間鋼
板W1の後端縁が撮影されている。撮影画像の下部には
x方向に連続する熱間鋼板W1の後端縁相当の直線画像
と、y方向に延びる溶接線相当の直線画像が現われる。
該x方向に連続する熱間鋼板W1の後端縁相当の直線画
像が画面上方に消え去った後に、上述のようにレ−ザ−
ト−チ2による溶接を停止させればよい。
野11sはほぼ熱間鋼板W1を通過し、わずかに熱間鋼
板W1の後端縁が撮影されている。撮影画像の下部には
x方向に連続する熱間鋼板W1の後端縁相当の直線画像
と、y方向に延びる溶接線相当の直線画像が現われる。
該x方向に連続する熱間鋼板W1の後端縁相当の直線画
像が画面上方に消え去った後に、上述のようにレ−ザ−
ト−チ2による溶接を停止させればよい。
【0071】溶接を停止するとコントロ−ラ10は、x
ステ−ジの駆動を停止し(図7のT)、y移動ステ−ジ
30の駆動を停止し(図7のU)、投光器を消灯すると
共に撮影装置11をオフとして(V,W)、x移動ステ
−ジ40およびy移動ステ−ジ30をスタ−ト位置に戻
し(X)、次の溶接指令が与えられるのを待つ。
ステ−ジの駆動を停止し(図7のT)、y移動ステ−ジ
30の駆動を停止し(図7のU)、投光器を消灯すると
共に撮影装置11をオフとして(V,W)、x移動ステ
−ジ40およびy移動ステ−ジ30をスタ−ト位置に戻
し(X)、次の溶接指令が与えられるのを待つ。
【0072】−第2実施例− 図17に、第2実施例の構成を示す。第2実施例は、第
1実施例と同様に遮蔽箱13内に2個の投光器1a,1
bを収納したものであるが、更にエア−ノズル15を遮
蔽箱13の外に装着したものである。エア−ノズル15
と図示しない高圧エア−源との間に電磁開閉弁(図示
略)があり、コントロ−ラ10はこの電磁開閉弁の開
(エア−吹出し)/閉(エア−送給停止)を制御する。
その他のハ−ドウェア構成は、前述の第1実施例と同じ
である。
1実施例と同様に遮蔽箱13内に2個の投光器1a,1
bを収納したものであるが、更にエア−ノズル15を遮
蔽箱13の外に装着したものである。エア−ノズル15
と図示しない高圧エア−源との間に電磁開閉弁(図示
略)があり、コントロ−ラ10はこの電磁開閉弁の開
(エア−吹出し)/閉(エア−送給停止)を制御する。
その他のハ−ドウェア構成は、前述の第1実施例と同じ
である。
【0073】図18および図19に、第2実施例のコン
トロ−ラ10の制御フロ−を示す。電源を投入するとコ
ントロ−ラ10は初期設定を行なう(ステップA。以後
カッコ内に示す記号にはステップなる語を省略する)。
門型架台20,y移動ステ−ジ30及びx移動ステ−ジ
は、オペレ−タが操作盤の各軸駆動,停止スイッチを操
作して、スタ−ト位置に設定する。そしてオペレ−タは
溶接スタ−トを指令する(B,C)。
トロ−ラ10の制御フロ−を示す。電源を投入するとコ
ントロ−ラ10は初期設定を行なう(ステップA。以後
カッコ内に示す記号にはステップなる語を省略する)。
門型架台20,y移動ステ−ジ30及びx移動ステ−ジ
は、オペレ−タが操作盤の各軸駆動,停止スイッチを操
作して、スタ−ト位置に設定する。そしてオペレ−タは
溶接スタ−トを指令する(B,C)。
【0074】溶接スタ−トが指令されるとコントロ−ラ
10は、ノズル15へのエア−送給を開始し(AP
D)、そして撮影装置11をオンとする(D)。エア−
ノズル15は高圧エア−を、突き合わせ部に向けてx方
向にあるいは若干進行方向前方に吹き出す。これにより
当間鋼板W1,W2に主に突合せ部の表面が酸化し、ス
ケ−ル除去により鏡面状となっていた表面が酸化により
光反射がにぶい光散乱面となる。
10は、ノズル15へのエア−送給を開始し(AP
D)、そして撮影装置11をオンとする(D)。エア−
ノズル15は高圧エア−を、突き合わせ部に向けてx方
向にあるいは若干進行方向前方に吹き出す。これにより
当間鋼板W1,W2に主に突合せ部の表面が酸化し、ス
ケ−ル除去により鏡面状となっていた表面が酸化により
光反射がにぶい光散乱面となる。
【0075】これにより、エア−吹付け(鋼表面の酸
化)前には図4の(a)に示すように明暗のコントラス
トが高かった撮影画像が、図20の(a)に示すように
全般的にはコントラストが低い画像となる。しかし突合
せ線P2から撮影装置11への反射光は実質上無いの
で、突合せ線P2が明瞭に現われる。画像処理装置12
に与えられる画像デ−タ(の元の輝度レベル信号)は、
図20の(b)に示すように突合せ線でのレベル低下が
大きいものとなり、そのx方向差分値は図20の(c)
に示すように突合せ線で高いピ−クを示す。以下のステ
ップD〜X(図18,図19)の内容は第1実施例のも
の(図6,図7)と同じである。突合せ線の倣い溶接を
終了すると、コントロ−ラ10は、エア−ノズル15へ
のエア−送給を停止する(図19のAAX)。
化)前には図4の(a)に示すように明暗のコントラス
トが高かった撮影画像が、図20の(a)に示すように
全般的にはコントラストが低い画像となる。しかし突合
せ線P2から撮影装置11への反射光は実質上無いの
で、突合せ線P2が明瞭に現われる。画像処理装置12
に与えられる画像デ−タ(の元の輝度レベル信号)は、
図20の(b)に示すように突合せ線でのレベル低下が
大きいものとなり、そのx方向差分値は図20の(c)
に示すように突合せ線で高いピ−クを示す。以下のステ
ップD〜X(図18,図19)の内容は第1実施例のも
の(図6,図7)と同じである。突合せ線の倣い溶接を
終了すると、コントロ−ラ10は、エア−ノズル15へ
のエア−送給を停止する(図19のAAX)。
【0076】以上に説明した第1および第2実施例によ
れば、撮影装置11の輝度レベル信号を、低輝度領域で
は高率に高輝度領域では低率に増幅した輝度レベル信号
に変換し、この変換後の信号に基づいて溶接線を検出す
るので、画像処理装置12による溶接線検出精度と安定
性が高い。
れば、撮影装置11の輝度レベル信号を、低輝度領域で
は高率に高輝度領域では低率に増幅した輝度レベル信号
に変換し、この変換後の信号に基づいて溶接線を検出す
るので、画像処理装置12による溶接線検出精度と安定
性が高い。
【0077】第2実施例では、熱間鋼板の、スケ−ルが
除去された突合せ部にエア−を吹付けて酸化させて鏡面
状の光反射特性を散乱反射特性に変えるので、画像上で
比較的に広幅の暗領域となる突合せ部の中の溶接線が明
瞭に現われ、画像処理装置12による溶接線検出精度と
安定性が高い。
除去された突合せ部にエア−を吹付けて酸化させて鏡面
状の光反射特性を散乱反射特性に変えるので、画像上で
比較的に広幅の暗領域となる突合せ部の中の溶接線が明
瞭に現われ、画像処理装置12による溶接線検出精度と
安定性が高い。
【0078】また、いずれの実施例でも、以上の通り、
鋼板の突合せ部(溶接線)がわずかに持つ段差あるいは
ア−ルを、投光器から斜めに光を照射することにより突
合せ線の影を生じさせこの影を画像認識することにより
検出するので、例えばシャ−切断のままの、溶接用の特
別な端部加工のない突合せの場合でも、高精度で突合せ
線を検出することができ、突合せ線検出の安定性も高
い。
鋼板の突合せ部(溶接線)がわずかに持つ段差あるいは
ア−ルを、投光器から斜めに光を照射することにより突
合せ線の影を生じさせこの影を画像認識することにより
検出するので、例えばシャ−切断のままの、溶接用の特
別な端部加工のない突合せの場合でも、高精度で突合せ
線を検出することができ、突合せ線検出の安定性も高
い。
【図1】 本発明の第1実施例の概要を示す斜視図であ
る。
る。
【図2】 図1に示す突合せ位置検出装置1及びレ−ザ
−ト−チ2の光軸ならびにそれらの相対位置関係を示す
拡大斜視図である。
−ト−チ2の光軸ならびにそれらの相対位置関係を示す
拡大斜視図である。
【図3】 (a)および(b)は、図2に示す撮影装置
11の撮影画像および輝度レベル信号を示す平面図およ
びグラフであり、(c)および(d)は、輝度レベル変
換器14で変換した輝度レベル信号により現われる画像
および変換後の輝度レベル信号を示す平面図およびグラ
フである。
11の撮影画像および輝度レベル信号を示す平面図およ
びグラフであり、(c)および(d)は、輝度レベル変
換器14で変換した輝度レベル信号により現われる画像
および変換後の輝度レベル信号を示す平面図およびグラ
フである。
【図4】 (a)は図2に示す投光器1a,1bを順次
点灯した時の、輝度レベル変換器14で変換した輝度レ
ベル信号により現われる画像を示す平面図であり、
(b)はこの時の変換後の輝度レベル信号を示す波形図
であり、(c)はこの輝度レベル信号を微分した信号の
波形図である。
点灯した時の、輝度レベル変換器14で変換した輝度レ
ベル信号により現われる画像を示す平面図であり、
(b)はこの時の変換後の輝度レベル信号を示す波形図
であり、(c)はこの輝度レベル信号を微分した信号の
波形図である。
【図5】 図1に示すy移動ステ−ジ30を順次移動し
た状態を示す側面図と、その位置に対応した撮影画面を
示す平面図であり、(a)は鋼板W1が視野に入る前,
(b)は鋼板W1の先端縁が視野に入った時,(c)は
鋼板W1の先端縁が視野から外れる時,(d)は鋼板W
1の後端縁が視野に入った時,(e)は鋼板W1の後端
縁が視野から外れる時を示す。
た状態を示す側面図と、その位置に対応した撮影画面を
示す平面図であり、(a)は鋼板W1が視野に入る前,
(b)は鋼板W1の先端縁が視野に入った時,(c)は
鋼板W1の先端縁が視野から外れる時,(d)は鋼板W
1の後端縁が視野に入った時,(e)は鋼板W1の後端
縁が視野から外れる時を示す。
【図6】 図2に示すコントロ−ラ10が実行する制御
の一部を示すフロ−チャ−トである。
の一部を示すフロ−チャ−トである。
【図7】 図2に示すコントロ−ラ10が実行する制御
の残部を示すフロ−チャ−トである。
の残部を示すフロ−チャ−トである。
【図8】 図6に示す「溶接線画像確認」Hの内容を示
すフロ−チャ−トである。
すフロ−チャ−トである。
【図9】 図6に示す「点灯方式の決定」Jの内容を示
すフロ−チャ−トである。
すフロ−チャ−トである。
【図10】 図9に示す「溶接線位置の測定1」J1の
内容を示すフロ−チャ−トである。
内容を示すフロ−チャ−トである。
【図11】 図9に示す「溶接線位置の測定2」J3の
内容を示すフロ−チャ−トである。
内容を示すフロ−チャ−トである。
【図12】 図9に示す「溶接線位置の測定3」J5の
内容を示すフロ−チャ−トである。
内容を示すフロ−チャ−トである。
【図13】 図9に示す「最適溶接線の選択」J7の内
容を示すフロ−チャ−トである。
容を示すフロ−チャ−トである。
【図14】 図6に示す「溶接線トラッキング」Kの内
容の一部を示すフロ−チャ−トである。
容の一部を示すフロ−チャ−トである。
【図15】 図6に示す「溶接線トラッキング」Kの内
容の残部を示すフロ−チャ−トである。
容の残部を示すフロ−チャ−トである。
【図16】 (a)は図2に示す熱間鋼板W1,W2の
突合せ部の拡大側面図、(b)は突合せ部が鏡面の反射
特性を示すときと散乱性のときの検出方向に対する反射
光の角度別差と検出光量との関係を示すグラフである。
突合せ部の拡大側面図、(b)は突合せ部が鏡面の反射
特性を示すときと散乱性のときの検出方向に対する反射
光の角度別差と検出光量との関係を示すグラフである。
【図17】 本発明の第2実施例の概要を示す斜視図で
ある。
ある。
【図18】 第2実施例で用いたコントロ−ラ(10)
が実行する制御の一部を示すフロ−チャ−トである。
が実行する制御の一部を示すフロ−チャ−トである。
【図19】 第2実施例で用いたコントロ−ラ(10)
が実行する制御の一部を示すフロ−チャ−トである。
が実行する制御の一部を示すフロ−チャ−トである。
【図20】 (a)はエアー吹付後の熱間鋼板の撮影画
像を示す平面図、(b)は撮影画像の輝度レベルを示す
グラフ、(c)は輝度レベル信号を微分した信号の波形
図である。
像を示す平面図、(b)は撮影画像の輝度レベルを示す
グラフ、(c)は輝度レベル信号を微分した信号の波形
図である。
【図21】 従来の、光切断方式の溶接線倣いセンサの
配置概要を示す斜視図である。
配置概要を示す斜視図である。
【図22】 図21に示す撮影装置106の撮影画面を
示す平面図である。
示す平面図である。
1:突合せ位置検出装置 1a:第1投
光器 1ac:第1投光器光軸 1b:第2投
光器 1bc:第2投光器光軸 2:レ−ザ−
ト−チ 2c:レ−ザ−ビ−ム 10:コント
ロ−ラ 11:撮影装置 11c:撮影
光軸 11s:カメラ視野 12:画像処
理装置 13:遮蔽箱 14:輝度レ
ベル変換器 14a:非線形増幅器 14b:A/
D変換器 15:エア−ノズル 20:門型架
台 30:y移動ステ−ジ 40:x移動
ステ−ジ W1,2:熱間鋼板
光器 1ac:第1投光器光軸 1b:第2投
光器 1bc:第2投光器光軸 2:レ−ザ−
ト−チ 2c:レ−ザ−ビ−ム 10:コント
ロ−ラ 11:撮影装置 11c:撮影
光軸 11s:カメラ視野 12:画像処
理装置 13:遮蔽箱 14:輝度レ
ベル変換器 14a:非線形増幅器 14b:A/
D変換器 15:エア−ノズル 20:門型架
台 30:y移動ステ−ジ 40:x移動
ステ−ジ W1,2:熱間鋼板
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI B23K 37/04 B23K 37/04 E G06T 7/00 G06F 15/62 400
Claims (4)
- 【請求項1】溶接対象材の突合せ部に可視光を投光する
投光手段;突合せ部で反射した可視光を撮影する撮影手
段;撮影手段の輝度レベル信号を低輝度領域では高率で
高輝度領域では低率で増幅した輝度レベル信号に変換す
る非線形変換手段;および、 該非線形変換手段が変換した輝度レベル信号が表わす画
像の暗部を突合せ位置と検出する突合せ位置検出手段;
を備える突合せ位置検出装置。 - 【請求項2】熱間鋼材の、スケ−ルが除去され鏡面が露
出した突合せ部にエア−を吹付けるエア−ノズル;上記
エア−吹付けにより酸化した突合せ部に可視光を投光す
る投光手段;突合せ部で反射した可視光を撮影する撮影
手段;および、 撮影手段の輝度レベル信号が表わす画像の暗部を突合せ
位置と検出する突合せ位置検出手段;を備える突合せ位
置検出装置。 - 【請求項3】熱間鋼材の、スケ−ルが除去され鏡面が露
出した突合せ部にエア−を吹付けるエア−ノズル;上記
エア−吹付けにより酸化した突合せ部に可視光を投光す
る投光手段;突合せ部で反射した可視光を撮影する撮影
手段;撮影手段の輝度レベル信号を低輝度領域では高率
で高輝度領域では低率で増幅した輝度レベル信号に変換
する非線形変換手段;および、 該非線形変換手段が変換した輝度レベル信号が表わす画
像の暗部を突合せ位置と検出する突合せ位置検出手段;
を備える突合せ位置検出装置。 - 【請求項4】投光手段は、溶接対象材の突合せ部が延び
るy方向と直交し溶接対象材の表面に実質上平行な方向
xで、突合せ部の手前側と向こう側にあって、前記突合
せ部を溶接対象材の表面に対して斜め方向から照明する
ための複数個mの投光器を含み;装置は更に、突合せ部
の手前側と向こう側の投光器を選択点灯する照明モ−ド
を切換えて、各照明モ−ドのときに前記突合せ位置検出
手段が検出した画像上の突合せ位置のエッジ明瞭度を比
較して高い明瞭度を得た照明モ−ドを選択してこれを突
合せ部の照明に定める照明モ−ド選択手段;を備える、
請求項1,請求項2又は請求項3記載の突合せ位置検出
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9120956A JPH10311707A (ja) | 1997-05-12 | 1997-05-12 | 突合せ位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9120956A JPH10311707A (ja) | 1997-05-12 | 1997-05-12 | 突合せ位置検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10311707A true JPH10311707A (ja) | 1998-11-24 |
Family
ID=14799155
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9120956A Withdrawn JPH10311707A (ja) | 1997-05-12 | 1997-05-12 | 突合せ位置検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10311707A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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