JPH1026656A - 基板の検査装置 - Google Patents
基板の検査装置Info
- Publication number
- JPH1026656A JPH1026656A JP8199850A JP19985096A JPH1026656A JP H1026656 A JPH1026656 A JP H1026656A JP 8199850 A JP8199850 A JP 8199850A JP 19985096 A JP19985096 A JP 19985096A JP H1026656 A JPH1026656 A JP H1026656A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- board
- substrate
- reference pin
- pin
- inspection apparatus
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 基板を正確な位置に位置出しをして検査装置
に装着し検査を行う。 【解決手段】 電子部品が載置された基板を所定の位置
へ保持して検査する基板の検査装置において、基板の基
準孔に当接し上下に移動自在に軸支され回動される基準
ピンと、基準孔に当接する基準ピンの先端部の略円錐状
の傾斜面に溝を具備し、基準ピンの上下動により回動
し、円錐部を回動せしめ基準孔に付着したフラックス等
のゴミを溝へ除去し、基準孔の中心を基準ピンの軸心に
合わせて基板を検査装置の所定の位置に正確に位置出し
することにより、検査装置に設けられた検出ピンが基板
の所定のパターン部に正確に当接し、検査装置を接続状
態に成し、微細な検出ポイントの位置出しをすることが
できる。
に装着し検査を行う。 【解決手段】 電子部品が載置された基板を所定の位置
へ保持して検査する基板の検査装置において、基板の基
準孔に当接し上下に移動自在に軸支され回動される基準
ピンと、基準孔に当接する基準ピンの先端部の略円錐状
の傾斜面に溝を具備し、基準ピンの上下動により回動
し、円錐部を回動せしめ基準孔に付着したフラックス等
のゴミを溝へ除去し、基準孔の中心を基準ピンの軸心に
合わせて基板を検査装置の所定の位置に正確に位置出し
することにより、検査装置に設けられた検出ピンが基板
の所定のパターン部に正確に当接し、検査装置を接続状
態に成し、微細な検出ポイントの位置出しをすることが
できる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品を載置し
て配線された基板を検査する基板の検査装置に関するも
のである。
て配線された基板を検査する基板の検査装置に関するも
のである。
【０００２】
【従来の技術】従来の基板の検査装置は、図３の断面図
に示すごとく、電子部品が載置され配線された基板を検
査するとき、基準ピン１’がピンボード２’に植立さ
れ、又この基準ピン１’に対して検査される基板６’の
配線パターンの所定の検査ポイントに相対するピンボー
ド２’の所定の位置に検出ピン５’が設けられる。検査
される基板６’は、基準孔７’に基準ピン１’を挿入し
て基板６’を所定の位置に治具等で保持し固定して検出
ピン５’の先端部の接点５’ａを基板６’に設けられた
検査ポイントに当接して、検出ピン５’の配線５’ｂに
よって検査装置の判定回路に接続し、半田付けされた電
子回路の動作状態を自動検査していた。
に示すごとく、電子部品が載置され配線された基板を検
査するとき、基準ピン１’がピンボード２’に植立さ
れ、又この基準ピン１’に対して検査される基板６’の
配線パターンの所定の検査ポイントに相対するピンボー
ド２’の所定の位置に検出ピン５’が設けられる。検査
される基板６’は、基準孔７’に基準ピン１’を挿入し
て基板６’を所定の位置に治具等で保持し固定して検出
ピン５’の先端部の接点５’ａを基板６’に設けられた
検査ポイントに当接して、検出ピン５’の配線５’ｂに
よって検査装置の判定回路に接続し、半田付けされた電
子回路の動作状態を自動検査していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
固着された基準ピンでは、多数の基板を取り替えて検査
を行う間に、基板の基準孔に付着したフラックス等のゴ
ミが基準ピンの周囲に付着し、基板の基準孔に挿入した
とき基板の位置ズレが生じ判定ミスの原因となった。
又、基準ピンの周囲に付着したフラックスによって基板
の基準孔に挿入することができなくなる欠点を有し、又
基板の基準孔を破損する原因になった。又、基準孔と基
準ピンとのクリアランスを十分大きく設定すれば、基板
の位置出しの精度が得られず検査結果にミスが生じるお
それがあった。
固着された基準ピンでは、多数の基板を取り替えて検査
を行う間に、基板の基準孔に付着したフラックス等のゴ
ミが基準ピンの周囲に付着し、基板の基準孔に挿入した
とき基板の位置ズレが生じ判定ミスの原因となった。
又、基準ピンの周囲に付着したフラックスによって基板
の基準孔に挿入することができなくなる欠点を有し、又
基板の基準孔を破損する原因になった。又、基準孔と基
準ピンとのクリアランスを十分大きく設定すれば、基板
の位置出しの精度が得られず検査結果にミスが生じるお
それがあった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は、電子部品が載
置された基板を所定の位置へ保持して検査をする基板の
検査装置において、前記基板の基準孔に当接し位置決め
をする基準ピンと、前記基準ピンを弾性保持する弾性部
材と、前記基準孔に当接したとき前記基準ピンを回動す
る手段を具備する基板の検査装置である。
置された基板を所定の位置へ保持して検査をする基板の
検査装置において、前記基板の基準孔に当接し位置決め
をする基準ピンと、前記基準ピンを弾性保持する弾性部
材と、前記基準孔に当接したとき前記基準ピンを回動す
る手段を具備する基板の検査装置である。
【０００５】又、本発明は、電子部品が載置された基板
を所定の位置へ保持して検査をする基板の検査装置にお
いて、前記基板の基準孔に当接し上下に移動自在に軸支
され回動される基準ピンと、前記基準孔に当接する前記
基準ピンの先端部の略円錐状の傾斜面に溝を具備する基
板の検査装置である。
を所定の位置へ保持して検査をする基板の検査装置にお
いて、前記基板の基準孔に当接し上下に移動自在に軸支
され回動される基準ピンと、前記基準孔に当接する前記
基準ピンの先端部の略円錐状の傾斜面に溝を具備する基
板の検査装置である。
【０００６】また、本発明は、電子部品が載置された基
板を所定の位置へ保持して検査をする基板の検査装置に
おいて、前記基板の基準孔に当接し上下に移動自在に弾
性保持された基準ピンを具備する基板の検査装置であ
る。
板を所定の位置へ保持して検査をする基板の検査装置に
おいて、前記基板の基準孔に当接し上下に移動自在に弾
性保持された基準ピンを具備する基板の検査装置であ
る。
【０００７】また、本発明は、電子部品が載置された基
板を所定の位置へ保持して検査をする基板の検査装置に
おいて、前記基板を装着するとき軸支された基準ピンが
前記基板の基準孔に当接し押圧されて下方向へ移動し案
内斜面とこれに当接する突起によって前記基準ピンを回
動する手段を具備する基板の検査装置である。
板を所定の位置へ保持して検査をする基板の検査装置に
おいて、前記基板を装着するとき軸支された基準ピンが
前記基板の基準孔に当接し押圧されて下方向へ移動し案
内斜面とこれに当接する突起によって前記基準ピンを回
動する手段を具備する基板の検査装置である。
【０００８】
【発明の実施の形態】本発明の基板の検査装置は、基板
の基準孔に当接する基準ピンを上下に軸支し移動するよ
うにバネで弾性保持し、基板の基準孔部の割れ等の基板
装着時の破損を防止する。
の基準孔に当接する基準ピンを上下に軸支し移動するよ
うにバネで弾性保持し、基板の基準孔部の割れ等の基板
装着時の破損を防止する。
【０００９】又、基板の基準孔に当接する基準ピンの頂
部は、略円錐状の斜面に成し基板の基準孔の中心と基準
ピンの円錐状部の中心とを一致させるように成すので基
準孔の孔径のロットのバラツキ等による誤差に対しても
精度を維持し、基板を所定の位置に保持し所定の電子回
路の動作を検出することができる。
部は、略円錐状の斜面に成し基板の基準孔の中心と基準
ピンの円錐状部の中心とを一致させるように成すので基
準孔の孔径のロットのバラツキ等による誤差に対しても
精度を維持し、基板を所定の位置に保持し所定の電子回
路の動作を検出することができる。
【００１０】又、基準ピンの頂部の円錐状の斜面に歯を
有する溝を設け、基準ピンが回動したとき溝を介し基板
の基準孔に付着したフラックス等のゴミを除去すること
ができるように成される。
有する溝を設け、基準ピンが回動したとき溝を介し基板
の基準孔に付着したフラックス等のゴミを除去すること
ができるように成される。
【００１１】本発明による基板の検査装置の一実施例を
図面により説明する。図１は本発明の一実施例の基板の
検査装置に基板を装着するときの断面図である。図２は
基板を検査装置の所定の位置へ装着し保持した状態を示
す断面図である。
図面により説明する。図１は本発明の一実施例の基板の
検査装置に基板を装着するときの断面図である。図２は
基板を検査装置の所定の位置へ装着し保持した状態を示
す断面図である。
【００１２】基準ピン１は、検査装置のピンボード２へ
円筒状のハウジング３を介して上下方向へ移動自在にバ
ネ４の弾性で支持され軸支される。基準ピン１の先端の
頂部は、略円錐状に突出し形成された円錐部１ａを有
し、円錐部１ａの斜面には歯状突起部を有する複数の溝
１ｂが設けられる。ハウジング３の円筒壁に設けられた
ガイドポスト３ａが基準ピン１の円筒部１ｃに設けられ
たガイド溝１ｄにて摺動されて基準ピン１は、上下動に
より回動される。
円筒状のハウジング３を介して上下方向へ移動自在にバ
ネ４の弾性で支持され軸支される。基準ピン１の先端の
頂部は、略円錐状に突出し形成された円錐部１ａを有
し、円錐部１ａの斜面には歯状突起部を有する複数の溝
１ｂが設けられる。ハウジング３の円筒壁に設けられた
ガイドポスト３ａが基準ピン１の円筒部１ｃに設けられ
たガイド溝１ｄにて摺動されて基準ピン１は、上下動に
より回動される。
【００１３】ピンボード２は、基板の複数の検出ポイン
トと対向する所定の位置に各検出ピン５が設けられ、検
出ピン５の先端に接点５ａを有し配線５ｂによって検査
装置に接続され基板の電子回路の検査が成される。
トと対向する所定の位置に各検出ピン５が設けられ、検
出ピン５の先端に接点５ａを有し配線５ｂによって検査
装置に接続され基板の電子回路の検査が成される。
【００１４】電子部品８等が載置され半田付された基板
６が矢印Ａ方向へ治具９によって押し下げられ基準孔７
と基準ピン１の円錐部１ａとが当接し、基準ピン１が下
方向へバネ４に抗して押し下げられると、ハウジング３
に設けられたガイドポスト３ａと基準ピン１の円筒部１
ｃに傾斜して設けられたガイド溝１ｄとが当接すること
により、基準ピン１は、矢印Ｂ方向へ回動して基板６の
基準孔７の内周部に付着したフラックス等のゴミを円錐
部１ａの溝部１ｂの歯状突起で削り、溝部１ｂへ除去し
て正確に基準孔７の中心が円錐部１ａの軸心になるよう
に当接し、基板６は検査装置の所定の位置へ装着し保持
されて、図２に示す装着状態に成す。
６が矢印Ａ方向へ治具９によって押し下げられ基準孔７
と基準ピン１の円錐部１ａとが当接し、基準ピン１が下
方向へバネ４に抗して押し下げられると、ハウジング３
に設けられたガイドポスト３ａと基準ピン１の円筒部１
ｃに傾斜して設けられたガイド溝１ｄとが当接すること
により、基準ピン１は、矢印Ｂ方向へ回動して基板６の
基準孔７の内周部に付着したフラックス等のゴミを円錐
部１ａの溝部１ｂの歯状突起で削り、溝部１ｂへ除去し
て正確に基準孔７の中心が円錐部１ａの軸心になるよう
に当接し、基板６は検査装置の所定の位置へ装着し保持
されて、図２に示す装着状態に成す。
【００１５】基板の検査装置の所定の位置に装着し保持
された基板６は、ピンボード２の所定の位置に植立され
た検出ピン５の接点５ａによって検査装置へ接続され
る。検査装置では、図示せずもマイクロコンピュータに
より自動計測が成され、基板６の各検査ポイントにて検
出ピン５と接続された基板６に設けられたパターンに属
する回路が所定の性能であるかどうか等の電子回路の良
否の判定が成される。
された基板６は、ピンボード２の所定の位置に植立され
た検出ピン５の接点５ａによって検査装置へ接続され
る。検査装置では、図示せずもマイクロコンピュータに
より自動計測が成され、基板６の各検査ポイントにて検
出ピン５と接続された基板６に設けられたパターンに属
する回路が所定の性能であるかどうか等の電子回路の良
否の判定が成される。
【００１６】本実施例によれば、基準ピン１の上下動を
矢印Ｂに示す回転方向の力に変えて基準ピン１を回動せ
しめたが、モータ等で基準ピン１の支持軸を駆動し、回
転制御することによっても、基準孔７と基準ピン１の円
錐部１ａとを当接し、所定時間円錐部１ａを回動せしめ
基準孔７に付着したフラックス等のゴミを除去し、所定
の位置に位置出しをして、検出ピン５が基板６に当接す
るように成し、正確に基板６を検査装置の所定の位置へ
装着し保持するように成すことができる。
矢印Ｂに示す回転方向の力に変えて基準ピン１を回動せ
しめたが、モータ等で基準ピン１の支持軸を駆動し、回
転制御することによっても、基準孔７と基準ピン１の円
錐部１ａとを当接し、所定時間円錐部１ａを回動せしめ
基準孔７に付着したフラックス等のゴミを除去し、所定
の位置に位置出しをして、検出ピン５が基板６に当接す
るように成し、正確に基板６を検査装置の所定の位置へ
装着し保持するように成すことができる。
【００１７】
【発明の効果】本発明によれば、基板の基準孔に付着し
たフラックス等のゴミを基準ピンの先端部の溝にて除去
するので正確に基板の基準孔の中心と検出ピンの軸とを
一致せしめ基板を所定の位置に装着し検査することがで
きる
たフラックス等のゴミを基準ピンの先端部の溝にて除去
するので正確に基板の基準孔の中心と検出ピンの軸とを
一致せしめ基板を所定の位置に装着し検査することがで
きる
【図１】本発明の一実施例の基板の検査装置へ基板を装
着するときの状態を示す断面図。
着するときの状態を示す断面図。
【図２】本発明の一実施例の基板の検査装置へ基板を装
着した状態を示す断面図。
着した状態を示す断面図。
【図３】従来例を示す断面図。
１ 基準ピン １ａ 円錐部 １ｂ 溝部 １ｃ 円筒部 １ｄ ガイド溝 ２ ピンボード ３ ハウジング ３ａ ガイドポスト ４ バネ ５ 検出ピン ６ 基板 ７ 基準孔 ８ 電子部品 ９ 治具
Claims (4)
- 【請求項１】 電子部品が載置された基板を所定の位置
へ保持して検査をする基板の検査装置において、前記基
板の基準孔に当接し位置決めをする基準ピンと、前記基
準ピンを弾性保持する弾性部材と、前記基準孔に当接し
たとき前記基準ピンを回動する手段を具備することを特
徴とする基板の検査装置。 - 【請求項２】 電子部品が載置された基板を所定の位置
へ保持して検査をする基板の検査装置において、前記基
板の基準孔に当接し上下に移動自在に軸支され回動され
る基準ピンと、前記基準孔に当接する前記基準ピンの先
端部の略円錐状の傾斜面に溝を具備することを特徴とす
る基板の検査装置。 - 【請求項３】 電子部品が載置された基板を所定の位置
へ保持して検査をする基板の検査装置において、前記基
板の基準孔に当接し上下に移動自在に弾性保持された基
準ピンを具備することを特徴とする基板の検査装置。 - 【請求項４】 電子部品が載置された基板を所定の位置
へ保持して検査をする基板の検査装置において、前記基
板を装着するとき軸支された基準ピンが前記基板の基準
孔に当接し押圧されて下方向へ移動し案内斜面とこれに
当接する突起によって前記基準ピンを回動する手段を具
備することを特徴とする基板の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8199850A JPH1026656A (ja) | 1996-07-10 | 1996-07-10 | 基板の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8199850A JPH1026656A (ja) | 1996-07-10 | 1996-07-10 | 基板の検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1026656A true JPH1026656A (ja) | 1998-01-27 |
Family
ID=16414699
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8199850A Pending JPH1026656A (ja) | 1996-07-10 | 1996-07-10 | 基板の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1026656A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006030573A1 (ja) * | 2004-09-13 | 2006-03-23 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | 回路基板検査装置 |
| JP4858657B1 (ja) * | 2011-08-11 | 2012-01-18 | 富士ゼロックス株式会社 | 基板検査装置、及び基板検査方法 |
| JP2012145526A (ja) * | 2011-01-14 | 2012-08-02 | Hioki Ee Corp | 基板受けピン、ピンボードユニットおよび基板検査装置 |
| JP2014238270A (ja) * | 2013-06-06 | 2014-12-18 | 日置電機株式会社 | プローブユニットおよび基板検査装置 |
| JP2020030077A (ja) * | 2018-08-21 | 2020-02-27 | エイブリック株式会社 | 接続端子および半導体装置の検査方法 |
-
1996
- 1996-07-10 JP JP8199850A patent/JPH1026656A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006030573A1 (ja) * | 2004-09-13 | 2006-03-23 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | 回路基板検査装置 |
| JP2012145526A (ja) * | 2011-01-14 | 2012-08-02 | Hioki Ee Corp | 基板受けピン、ピンボードユニットおよび基板検査装置 |
| JP4858657B1 (ja) * | 2011-08-11 | 2012-01-18 | 富士ゼロックス株式会社 | 基板検査装置、及び基板検査方法 |
| JP2014238270A (ja) * | 2013-06-06 | 2014-12-18 | 日置電機株式会社 | プローブユニットおよび基板検査装置 |
| JP2020030077A (ja) * | 2018-08-21 | 2020-02-27 | エイブリック株式会社 | 接続端子および半導体装置の検査方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040302 |