JPH09508247A - 集積回路 - Google Patents

集積回路

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JPH09508247A
JPH09508247A JP7519808A JP51980895A JPH09508247A JP H09508247 A JPH09508247 A JP H09508247A JP 7519808 A JP7519808 A JP 7519808A JP 51980895 A JP51980895 A JP 51980895A JP H09508247 A JPH09508247 A JP H09508247A
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ミヒェル ハルトムート
ビレコヴェン ベルント
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  • Continuous-Control Power Sources That Use Transistors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 電力トランジスタ(T1,T2,T3)を有する集積回路が提案される。該集積回路では電流が電流測定抵抗(R5)における電圧降下を介して測定可能である。該電圧降下は電流制御トランジスタ(T5)及び温度制御トランジスタ(T9)の制御のため利用される。所定の所定の使用温度下回ると、電流制御トランジスタ(T5)のみにより電流の流れが制限される。所定の使用温度を上回ると、コレクタ電流はトランジスタ(T9)及び(T10)を介して、さらに低減され、それにより、熱的過負荷に対する電力トランジスタ(T1,T2,T3)の保護を行わせるものである。

Description

【発明の詳細な説明】 集積回路 従来技術 本発明はメインクレーム1の上位概念による集積回路を基礎とする。Tiet ze及びSchenkの著書第9版第23頁から既に電力トランジスタを有する 回路が公知であり、該回路では電流制御トランジスタ及び電流測定抵抗が設けら れている。電流測定抵抗における電圧降下により、電流制御トランジスタが制御 される。 発明の利点 本発明のメインクレーム1の特徴事項の構成要件により得られる利点とすると ころは、電力トランジスタを流れる電流が、構成素子温度に依存して低減される ことである。この手段により、電力トランジスタの過熱に対する保護が行われる 。 サブクレームにて規定された手段によってはメインクレームにて規定された集 積回路の有利な発展形態及び改善が可能である。電流制御トランジスタより大の エミッタ面積を有する温度測定トランジスタの使用により、回路の温度依存性を 特に精確に制御し得る。電力トランジスタに並列に接続された電流測定トランジ スタの使用により僅かな損失を以ての電流測定が行わ れる、それというのは、エミッタ回路中に測定抵抗を設けなくてもよいからであ る。分圧器の使用により電流制御トランジスタ及び温度測定トランジスタに対す るスイッチング電位を相応のレベルに調整し得る。順方向に接続されたダイオー ドの使用により、電流制御(部)の正の温度係数を所望の値へ調整設定し得る。 結合抵抗の相応の選定により、熱的低減(逓降)制御の大きさ(量)が調整設定 される。さらなるトランジスタの電流の流れによる電位への影響、作用が特に簡 単に分圧器の第3のノードを介して行われる。ダーリントントランジスタ又はさ らなる電流制御トランジスタの使用により、相応の増幅度を高め得る。 図面 本発明の実施例を図示してあり、以降詳述する。図1は集積回路の回路略図で あり、図2は誘導負荷と関連した集積回路を示し、図3は集積回路を流れる電流 の時間経過のダイヤグラムである。 発明の説明 図1には集積回路の回路を示す。上記回路はコレクタ端子C、ベース端子B、 エミッタ端子E及びトランジスタT1,T2,T3,TE,T4,T5,T6, T9,T10を有する。トランジスタT1,T2,TE,T3,T9、T5はn pn−トランジスタとして構成されている。トランジスタT10及びT6はpn p−トランジスタとして構成されている。明らかなよ うに、加わる電位の相応の変化により、相応にnpn−及びpnp−トランジス タを入れ替え得る。トランジスタT1〜T3はダーリントン回路で動作する、こ のことは当該回路の基本的機能の所要の前提条件でない。ベース端子Bは抵抗R 1を介して第1トランジスタT1のベース端子に接続されている。トランジスタ T1のコレクタはコレクタ端子Cに接続されている。トランジスタT1のエミッ タはトランジスタT2のベースに接続されている。トランジスタT2のコレクタ はコレクタCに接続されている。トランジスタT2のエミッタは電流測定トラン ジスタTE及びT3のベースに接続されている。電流測定トランジスタTE及び トランジスタT3のコレクタはコレクタ端子Cに接続されている。電流測定トラ ンジスタTEのエミッタは抵抗R5を介してエミッタ端子Eに接続されている。 トランジスタT3のエミッタは、エミッタ端子Eに接続されている。エミッタ端 子Eは、ダイオードD1のアノードに接続されている。コレクタ端子Cはダイオ ードD1のカソードに接続されている。トランジスタT6のエミッタはトランジ スタT1のベースに接続されている。トランジスタT6のコレクタは、エミッタ 端子に接続されている。トランジスタT6のベースは抵抗R6を介してトランジ スタT1のベースに接続されている。トランジスタT6のベースはトランジスタ T5のコレクタに接続されている。トランジスタT5 のベースは分圧器(これはR7,R8,R9A及びR9Bから成る)のノードK 2と接続されている。トランジスタ10のエミッタはトランジスタT1のベース に接続されている。トランジスタT10のコレクタは上記分圧器のノードK3に 接続されている。トランジスタ10のベースは抵抗R2を介してトランジスタT 1のベースに接続されている。トランジスタT9はそのコレクタがトランジスタ T10のベースに接続されている。トランジスタT9のベースは、ノードK2に 接続されている。トランジスタT9のエミッタは抵抗R3を介してエミッタ端子 に接続されている。分圧器は抵抗R7,R8,R9A及びR9により形成される 。抵抗R7はトランジスタT1のエミッタとノードK1との間に設けられている 。抵抗R8はノードK1とノードK2との間に設けられている。抵抗R9Aはノ ードK2とノードK3との間に設けられている。抵抗R9AはノードK2とノー ドK3との間に設けられている。抵抗R9Bは、ノードK3とエミッタ端子Eと の間に設けられている。ノードK1はダイオードD2のアノードに接続されてい る。ダイオードD2のカソードはダイオードD3のアノードに接続されている。 ダイオードD3のカソードは電流測定トランジスタTEのエミッタに接続されて いる。トランジスタT1のエミッタは結合抵抗R4を介して温度測定トランジス タT9のエミッタに接続されている, ダーリントン−トランジスタT1〜T3は電力トランジスタを形成し、該電力 トランジスタによってはコレクタとエミッタとの間で相応に負荷をスイッチング 接続し得る。電流測定トランジスタTEは最後のトランジスタT3に並列に接続 されている。上記トランジスタTEを流れる電流は、トランジスタT3を流れる 電流に一義的に依存する。この電流によっては抵抗R5にて電圧降下が生ぜしめ られる。並列接続された電流測定トランジスタTEにはたんにわずかな電流しか 流れないので損失電力は僅かに抑えられる。抵抗R7,R8,R9A及びR9B によっては分圧器が形成される。この分圧器のノードK1と、電流測定トランジ スタTEのエミッタとが接続されていることにより、トランジスタTEを流れる 電流増大の際分圧器のノードK2における電圧が増大される。ノードK2には電 流制御トランジスタT5のベース及び温度測定トランジスタT9のベースが接続 されている。トランジスタT9はトランジスタT5より著しく小さいエミッタ面 積を有する。更に抵抗R2は抵抗R6より大きな値を有する。T5に比してのT 9における比較的小さな電流密度に基づき、T9はT5より低いベース−エミッ タ電圧を有する。更に、温度測定トランジスタT9のベース−エミッタ電圧の負 の温度係数はトランジスタT5のそれより著しく大である。所定温度を下回ると 抵抗R3における電圧降下によっては、抵抗R5にお ける電圧降下が電流測定トランジスタT5にのみ作用するようになる。電力トラ ンジスタT1〜T3を流れる所定の制御電流に到達の際、電流トランジスタT5 は導通制御され、該制御トランジスタはベース電流の一部を直接接続エミッタ端 子に導出する。ここで、増幅のため、更なる電流制御トランジスタT6が設けら れており、該電流制御トランジスタはT5を流れる電流により導通制御される。 基本的にはT6なしでも作動する。所定温度を越えると温度測定トランジスタT 9が導通制御され、該トランジスタT9を介してはベース端子Bとエミッタ端子 Eとの間で電流が流れ得るようになる。このような電流の流れが生じると、T1 0のベース端子に電位が生じ、この電位によりT10は導通制御される。トラン ジスタT10のコレクタは分圧器のノードK3に接続されているので、T10に 電流が流れるとノードK2ないしK3における電位が高められる。従って、その ようなフィードバックによって、ノードK2における電圧は影響を受け、ここで 、トランジスタT5がさらに導通制御されるような影響を受け、その結果コレク タとエミッタとの間でトランジスタT1〜T3を流れる電流が低減される。T1 0の作動後電力トランジスタT1〜T3を流れる電流の再度の低減は抵抗R4で 生ぜしめられる。熱的(逓降)制御の投入、導入により、トランジスタT2のベ ースにおける電位が低減される。結合抵抗R4を介し ては温度測定トランジスタT9のエミッタにおける電位の低減が生ぜしめられる 。これによりT9の更なる導通制御が生ぜしめられ、それにより、電力トランジ スタを流れる電流の低下が生ぜしめられる。要するに温度測定トランジスタT9 が一度導通制御された後、そして、電力トランジスタを流れる電流が他の手段に よって停止されない限り、電力トランジスタT1〜T3のコレクタ−エミッタ電 流の熱的要因に依存した逓降制御が維持される。 熱的逓降制御の投入適用は熱的に同じ動作特性を呈する抵抗の比、トランジス タT5,T6,T9,T10の面積及びトランジスタT2,T3のベースエミッ タ電圧により定まる。トランジスタT9のベース−エミッタ電圧UBEはトランジ スタT5のベース−エミッタ電圧UBE(T5)よりもトランジスタT9の比較 Tきに大のエミッタ面積の故に温度への依存性は一層大である。次のような関係 が成立する場合トランジスタT10は導通状態になる、即ち UBE(T5)=UBE(T9)+R4/(R3+R4)[R3/R2 UBE(T1 0)+R3/R4 UBE(T2,T3)] 電力トランジスタT2,T3のベース−エミッタ電圧は最大の分散幅を有する 。ただし、当該の大きさ(量)はTだ著しく小さい抵抗比R3/R4にのみ関連 するので、熱的逓降制御の使用温度は著しく僅かなト レランスを伴う。回路のテストは外部的なR3−縮小により所定の応答温度を下 回った場合でも可能である。 図2中では誘導負荷のスイッチングのため本発明の回路の適用例が示してある 。コイル1により形成される誘導負荷は、例えば、点火コイルであり、該点火コ イルは、ここでは簡単化してトランジスタとして示した回路により、アース電位 と接続され得る。回路の制御は、例えば制御部2により行われる。図3には図2 の装置構成に対して時間の関数としてのコレクタ電流を示す。カーブAは、電流 制限トランジスタT5及びトランジスタT6により唯電流制限機能が作用する場 合におけるコレクタ電流の時間経過を示す。カーブBは付加的に温度測定トラン ジスタT9により熱的制御が介入的に作用する場合におけるコレクタ電流の時間 的経過を示す。差△Iにより表わされる回路の応答後の電流レベルの低下は実質 的に抵抗R4の回路定数に依存する。時間△tへの影響は、所定の限界内で終段 T3に対して相対的な温度測定トランジスタT9及び電流制御トランジスタT5 の適当な選定配置により及ぼすことができる。 適当な回路は特に良好に誘導負荷、例えば点火コイル付きの配線体に適する。 このことは図2に示してある。制御部2の相応の信号によりトランジスタは動作 せしめられ、そして、コイルは導通接続されたトラン ジスタのコレクタ−エミッタ電位と給電電圧との間に接続されている。インダク タンスに基づき、コイルのチャージの際コイル及びトランジスタを流れる電流が 緩慢に上昇する。このフェーズにて、ダーリントントランジスタは飽和状態で動 作し、ここで、低いコレクタ−エミッタ電圧に基づき高い損失電力は生じない。 点火の通常の動作モードの場合制御部2によりトランジスタは、遮断されるべき である(コイルとトランジスタを流れる電流が一定状態におかれれる前に)、そ れというのはそうしないと、トランジスタは給電電圧の最大部分を引き受けなけ ればならず、ここで、高い損失電力を導出しなければならないからである。遮断 信号が障害のため発生されずそして、トランジスタを流れる電流が持続する場合 、それにより惹起される過熱により熱的逓降制御がアクティブ状態に置かれ、該 逓降制御によってはトランジスタを流れる電流が問題のない値に低減される。逓 降制御は連続的に行われるので、コレクタとエミッタとの間の急峻な電圧上昇( これは不所望の点火火花を惹起し得る)の発生が回避され得る。更に、高い温度 のもとで回路に大きな電流が流れる場合のみ熱的逓降制御が開始する。コイルの インダクタンスにより電流の流れが制限される場合、上述の事項に相応してトラ ンジスタ内に高い損失が生ぜず、もって大した温度上昇は生ぜず、その結果熱的 逓降制御は発動されない。従って点火技術への適用回 路の作動の際(該回路では温度は高いが回路を流れる電流は、当該の回路の電流 制御により制限されないでインダクタンスにより制限される)、点火コイルは精 確にチャージされ、その結果高い温度の際でも、通常の動作条件下で回路の制限 されてない機能が確保される。 ダイオードは次のようにして、逆ダイオードとして動作する、即ち負のコレク タ−エミッタ電圧を僅かな値に制限して例えば、点火適用にて、点火コイルの2 次側から逆変換された高周波振動を減衰する。 ダイオードD2、D3は回路の通常動作の順方向に接続される。従って、それ らのダイオードには負の温度係数を有する負の温度係数は、電流制御の温度係数 を所望値に調整するため利用される。従って、回路の温度特性は主に温度測定ト ランジスタT9の熱的特性により規定される。従って熱的電流制御の応答は精確 に調整され得る。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ベルント ビレコヴェン ドイツ連邦共和国 72127 クスターディ ンゲン ヘルダーリンシュトラーセ 19 (72)発明者 マンフレート ユーベレ ドイツ連邦共和国 72760 ロイトリンゲ ン イム フェルゲンベヒレ 7 (72)発明者 ウルリッヒ ネレ ドイツ連邦共和国 72820 ゾネンビュー ル リンデンシュトラーセ 25

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1. 電力トランジスタ(T1,T2,T3)及び電流測定抵抗(R5)を有 し、ここで、電流測定抵抗(R5)における電圧降下により、電力トランジスタ (T1,T2,T3)を流れる電流が測定可能であり、更に、電流制御トランジ スタ(T5)を有し、該電流制御トランジスタのコレクタは抵抗(R6)を介し てベースと接続され、そして、それのエミッタは電力トランジスタ(T1,T2 ,T3)のエミッタと接続され、そして、それのベースは、電流測定抵抗(R5 )における電圧降下により制御されるように構成されている集積回路において、 温度測定トランジスタ(T9)が設けられており、該温度測定トランジスタに よっては所定の温度からはさらなるトランジスタ(T10)が制御され、そして 、さらなるトランジスタ(10)を流れる電流により、電流制御トランジスタ( T5)のベースに加わる電圧へ作用、影響が及ぼされるようにし、ここで、電圧 へ及ぼされる作用、影響により、電力トランジスタ(T1,T2,T3)を流れ る電流が低減されるように構成されていることを特徴とする集積回路。 2. 温度測定トランジスタ(T9)は電流制御トランジスタ(T5)より大 きなエミッタ面積を有し、更に、電流制御トランジスタ(T5)及び温度測定ト ランジスタ(T9)のベース端子が同じ電位におかれており、電流測定トランジ スタ(TE)のエミッタは抵抗(R3)を介して電力トランジスタ(T1,T2 ,T3)のエミッタと接続されていることを特徴とする請求の範囲1記載の集積 回路。 3. 電力トランジスタ(T1,T2,T3)に並列に電流測定トランジスタ (TE)が接続されており、更に電流測定トランジスタ(TE)のエミッタは電 流測定抵抗(R5)を介して電力トランジスタ(T1,T2,T3)のエミッタ と接続されている請求の範囲2記載の集積回路。 4. 分圧器(R7,R8,R9A及びR9B)が設けられており、該分圧器 は第1のノード(K1)により電流測定トランジスタの(T9)のエミッタに接 続されており、そして、分圧器(R7,R8,R9A及びR9B)の更なるノー ド(結合点)(K2)は電流測定トランジスタ(T5)のベース及び温度測定ト ランジスタ(T9)のベースに接続されていることを特徴とする集積回路。 5. 第1ノード(K1)と、電流測定トランジスタ(TE)のエミッタとの 間の接続路が少なくとも1つのダイオード(D2,D3)によって形成されてお り、該ダイオードは電力トランジスタ(T1,T2,T3)の通常動作中順方向 に接続されていることを特徴とする請求の範囲4記載の集積回路。 6. 結合抵抗(R4)が設けられており、該結合抵抗によっては温度測定ト ランジスタ(T9)のエミッタが電力トランジスタ(T1,T2,T3)のベー スと接続されていることを特徴とする請求の範囲1から5までのうち1項記載の 集積回路。 7. 分圧器(R7,R8,R9A及びR9B)の第3のノード(K3)が、 更なるトランジスタ(T10)のコレクタと接続されている請求の範囲4から6 までのうち1項記載の集積回路。 8. 電力トランジスタ(T1,T2,T3)はダーリントントランジスタと して構成されていることを特徴とする集積回路。 9. 電流制御トランジスタ(T5)によっては更なる電流制御トランジスタ (T6)が導通制御されるように構成されている請求の範囲1から8までのうち 1項記載の集積回路。
JP7519808A 1994-01-27 1995-01-14 集積回路 Pending JPH09508247A (ja)

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