JPH0831110B2 - 論理シミュレーションシステム - Google Patents
論理シミュレーションシステムInfo
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- JPH0831110B2 JPH0831110B2 JP2153067A JP15306790A JPH0831110B2 JP H0831110 B2 JPH0831110 B2 JP H0831110B2 JP 2153067 A JP2153067 A JP 2153067A JP 15306790 A JP15306790 A JP 15306790A JP H0831110 B2 JPH0831110 B2 JP H0831110B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ディジタル論理回路の動作特性を検証する
論理シミュレーションシステムに関する。
論理シミュレーションシステムに関する。
論理シミュレーションは、マイクロプロセッサ(以下
CPUという)等のLSIの論理回路を設計する際にその動作
特性を所望の特性を満足しているか否かをチェックする
ために行われる。
CPUという)等のLSIの論理回路を設計する際にその動作
特性を所望の特性を満足しているか否かをチェックする
ために行われる。
第7図は従来の論理シミュレーションシステムの構成
を示すブロック図であり、ROMに入力テストパターンデ
ータとしての機械語命令を格納し、例えばCPUを検証対
象の論理回路とし、CPUからの取込要求に応じてROMに格
納された機械語命令を取込み、実行する動作をシミュレ
ーションするものである。図において1は入力テストパ
ターンデータ格納部であり、該格納部1には機械語命令
及びROMモデルにおける機械語命令の格納場所を示すロ
ードアドレスが格納されている。機械語命令及びロード
アドレスは入力テストパターンデータ編集部2で抽出さ
れる。入力テストパターンデータ編集部2は抽出した機
械語命令及びロードアドレスによりオブジェクトデータ
を生成し、論理シミュレーションモデル編集部3に与え
る。論理シミュレーションモデル編集部3は与えられた
オブジェクトデータと、後述する回路接続データ格納部
4からの素子データ及び回路接続データとにより論理シ
ミュレーションモデルを構築する。回路接続データ格納
部4は論理シミュレーションモデル構築のための素子デ
ータ及びその回路接続データが格納されている。素子デ
ータには検証対象の論理回路モデル11、ROMモデル10等
の素子の情報が含まれている(第8図参照)。
を示すブロック図であり、ROMに入力テストパターンデ
ータとしての機械語命令を格納し、例えばCPUを検証対
象の論理回路とし、CPUからの取込要求に応じてROMに格
納された機械語命令を取込み、実行する動作をシミュレ
ーションするものである。図において1は入力テストパ
ターンデータ格納部であり、該格納部1には機械語命令
及びROMモデルにおける機械語命令の格納場所を示すロ
ードアドレスが格納されている。機械語命令及びロード
アドレスは入力テストパターンデータ編集部2で抽出さ
れる。入力テストパターンデータ編集部2は抽出した機
械語命令及びロードアドレスによりオブジェクトデータ
を生成し、論理シミュレーションモデル編集部3に与え
る。論理シミュレーションモデル編集部3は与えられた
オブジェクトデータと、後述する回路接続データ格納部
4からの素子データ及び回路接続データとにより論理シ
ミュレーションモデルを構築する。回路接続データ格納
部4は論理シミュレーションモデル構築のための素子デ
ータ及びその回路接続データが格納されている。素子デ
ータには検証対象の論理回路モデル11、ROMモデル10等
の素子の情報が含まれている(第8図参照)。
第8図は論理シミュレーションモデルの構成例を示す
ブロック図である。論理シミュレーションモデルは機械
語命令を含むオブジェクトデータを夫々のロードアドレ
スに格納するROMモデル10、該ROMモデル10に与えるアド
レス信号ADを生成するプログラムカウンタ9、検証対象
の論理回路と等価な論理回路モデル11及び各素子の同期
をはかる基本クロックCLを生成するクロックジェネレー
タ8より構成される。論理回路モデル11は基本クロック
CLの入力タイミングROMモデル10に機械語命令の取込要
求を示すフェッチ信号FSを与え、プログラムカウンタ9
からのアドレス信号ADが指し示すROMモデル10のロード
アドレスに格納された機械語命令をフェッチする。
ブロック図である。論理シミュレーションモデルは機械
語命令を含むオブジェクトデータを夫々のロードアドレ
スに格納するROMモデル10、該ROMモデル10に与えるアド
レス信号ADを生成するプログラムカウンタ9、検証対象
の論理回路と等価な論理回路モデル11及び各素子の同期
をはかる基本クロックCLを生成するクロックジェネレー
タ8より構成される。論理回路モデル11は基本クロック
CLの入力タイミングROMモデル10に機械語命令の取込要
求を示すフェッチ信号FSを与え、プログラムカウンタ9
からのアドレス信号ADが指し示すROMモデル10のロード
アドレスに格納された機械語命令をフェッチする。
論理シミュレーションモデル編集部3は構築した論理
シミュレーションモデルのデータを論理シミュレーショ
ン実行部5に与える。論理シミュレーション実行部5は
与えられた入力テストパターンデータ(機械語命令)に
基づき論理回路の動作をシミュレートし、シミュレーシ
ョン結果、即ち与えられた機械語命令に対する動作結果
の出力信号をCRT又はプリンタを用いた論理シミュレー
ション結果リスト出力部6に与える。該出力部6は、与
えられた出力信号を表示又は印字出力する。
シミュレーションモデルのデータを論理シミュレーショ
ン実行部5に与える。論理シミュレーション実行部5は
与えられた入力テストパターンデータ(機械語命令)に
基づき論理回路の動作をシミュレートし、シミュレーシ
ョン結果、即ち与えられた機械語命令に対する動作結果
の出力信号をCRT又はプリンタを用いた論理シミュレー
ション結果リスト出力部6に与える。該出力部6は、与
えられた出力信号を表示又は印字出力する。
このように構成された従来の論理シミュレーションシ
ステムの動作について説明する。
ステムの動作について説明する。
最初に回路設計者が機械語命令による複数の入力テス
トパターンデータ及びそのロードアドレスを作成し、そ
れらを入力テストパターンデータ格納部1に格納する。
次に入力テストパターンデータ編集部2にて機械語命令
及びロードアドレスを順次抽出し、それらに基づきオブ
ジェクトデータを生成する。このオブジェクトデータの
生成は入力テストパターンデータをROMモデル10に格納
できる形式とするために行われる。
トパターンデータ及びそのロードアドレスを作成し、そ
れらを入力テストパターンデータ格納部1に格納する。
次に入力テストパターンデータ編集部2にて機械語命令
及びロードアドレスを順次抽出し、それらに基づきオブ
ジェクトデータを生成する。このオブジェクトデータの
生成は入力テストパターンデータをROMモデル10に格納
できる形式とするために行われる。
生成されたオブジェクトデータは回路接続データ格納
部4に格納された素子データ及び回路接続データと共に
論理シミュレーションモデル編集部3に順次与えられ、
論理シミュレーションモデルが構築される。ここでオブ
ジェクトデータに含まれる機械語命令はオブジェクトデ
ータ内のロードアドレスが示すROMモデル10内のアドレ
スに順次格納される。構築された論理シミュレーション
モデルのシミュレートはクロックジェネレータ8が発生
する基本クロックCLをカウントソースしてプログラムカ
ウンタ9がアドレス信号ADをROMモデル10に出力するこ
とにより行われる。このアドレス信号ADによってアクセ
スされたROMモデル10内の機械語命令が論理回路モデル1
1が発生するフェッチ信号FSに同期してROMモデル10から
論理回路モデル11に入力される。入力された機械語命令
を論理回路モデル11が処理し、その処理結果の出力信号
が論理シミュレーション結果リスト出力部6に与えら
れ、そこで出力され、出力信号のリストを回路設計者が
目視でチェックし、設計当初に定めた仕様通りの機能を
論理回路モデルが満たしているか否かを検証する。
部4に格納された素子データ及び回路接続データと共に
論理シミュレーションモデル編集部3に順次与えられ、
論理シミュレーションモデルが構築される。ここでオブ
ジェクトデータに含まれる機械語命令はオブジェクトデ
ータ内のロードアドレスが示すROMモデル10内のアドレ
スに順次格納される。構築された論理シミュレーション
モデルのシミュレートはクロックジェネレータ8が発生
する基本クロックCLをカウントソースしてプログラムカ
ウンタ9がアドレス信号ADをROMモデル10に出力するこ
とにより行われる。このアドレス信号ADによってアクセ
スされたROMモデル10内の機械語命令が論理回路モデル1
1が発生するフェッチ信号FSに同期してROMモデル10から
論理回路モデル11に入力される。入力された機械語命令
を論理回路モデル11が処理し、その処理結果の出力信号
が論理シミュレーション結果リスト出力部6に与えら
れ、そこで出力され、出力信号のリストを回路設計者が
目視でチェックし、設計当初に定めた仕様通りの機能を
論理回路モデルが満たしているか否かを検証する。
このように構成された従来の論理シミュレーションシ
ステムにおいて、論理回路が各種命令に対して多様な命
令実行サイクルをもっていない場合、又はその入力にキ
ューバッファ等の待ち行列回路が介在していない場合
は、機械語命令入力時に各機械語命令に対する出力信号
の出力タイミング又は各機械語命令実行時に外部から入
力すべき入力信号があるときの入力信号の入力タイミン
グを論理シミュレーション開始時からの絶対時刻で予想
することができる。しかしながら検証対象の論理回路が
多様な命令実行サイクルを持っている場合、又は前記論
理回路への入力に待ち行列回路が介在している場合、前
記出力信号の発生タイミング及び前記入力信号の入力タ
イミングが状況によって変化するので、これらのタイミ
ングを事前に予想することが困難であった。
ステムにおいて、論理回路が各種命令に対して多様な命
令実行サイクルをもっていない場合、又はその入力にキ
ューバッファ等の待ち行列回路が介在していない場合
は、機械語命令入力時に各機械語命令に対する出力信号
の出力タイミング又は各機械語命令実行時に外部から入
力すべき入力信号があるときの入力信号の入力タイミン
グを論理シミュレーション開始時からの絶対時刻で予想
することができる。しかしながら検証対象の論理回路が
多様な命令実行サイクルを持っている場合、又は前記論
理回路への入力に待ち行列回路が介在している場合、前
記出力信号の発生タイミング及び前記入力信号の入力タ
イミングが状況によって変化するので、これらのタイミ
ングを事前に予想することが困難であった。
従って従来の論理シミュレーションシステムにおいて
は、出力信号により動作検証を行う場合、回路設計者が
論理シミュレーション結果の出力信号を目視でチェック
しなければならず、動作検証に多大な実施期間及び工数
を必要とすると共に、また目視による検証抜けが生じや
すいといった問題点があった。
は、出力信号により動作検証を行う場合、回路設計者が
論理シミュレーション結果の出力信号を目視でチェック
しなければならず、動作検証に多大な実施期間及び工数
を必要とすると共に、また目視による検証抜けが生じや
すいといった問題点があった。
また外部から命令実行に用いる入力信号を与える場
合、一度入力信号を与えずに論理シミュレーションを行
い、それにより入力信号の入力タイミングを論理シミュ
レーション開始からの絶対時刻で見つけ出し、再度シミ
ュレーションを行い、絶対時刻を考慮して見つけ出した
入力タイミングで入力信号を入力するという煩雑なシミ
ュレーション動作を繰返す必要があり、同様に動作検証
に多大な実施期間及び工数が必要となる。
合、一度入力信号を与えずに論理シミュレーションを行
い、それにより入力信号の入力タイミングを論理シミュ
レーション開始からの絶対時刻で見つけ出し、再度シミ
ュレーションを行い、絶対時刻を考慮して見つけ出した
入力タイミングで入力信号を入力するという煩雑なシミ
ュレーション動作を繰返す必要があり、同様に動作検証
に多大な実施期間及び工数が必要となる。
本発明は斯かる事情に鑑みなされたものであり、出力
信号の期待値、命令実行時の入力信号等の機械語命令に
関連する処理のための処理データと、該処理データの処
理タイミングを取込要求が生じた後の相対時間で示した
タイミングデータとを用い、処理データとして出力信号
の期待値を入力した場合はシミュレーション結果の出力
信号とその期待値とをタイミングデータで示されたタイ
ミングで比較し、その比較結果を表示することにより、
目視による検証抜けを防止し、論理シミュレーションの
工数を削減し、また効率よく短時間でシミュレーション
結果の検証が行えると共に、処理データとして入力信号
を入力する場合は、タイミングデータで示されたタイミ
ングで入力信号を入力することにより、1回のシミュレ
ーションで入力処理が行え、論理シミュレーションの実
施期間及び工数を減少できる論理シミュレーションシス
テムを提供することを目的にする。
信号の期待値、命令実行時の入力信号等の機械語命令に
関連する処理のための処理データと、該処理データの処
理タイミングを取込要求が生じた後の相対時間で示した
タイミングデータとを用い、処理データとして出力信号
の期待値を入力した場合はシミュレーション結果の出力
信号とその期待値とをタイミングデータで示されたタイ
ミングで比較し、その比較結果を表示することにより、
目視による検証抜けを防止し、論理シミュレーションの
工数を削減し、また効率よく短時間でシミュレーション
結果の検証が行えると共に、処理データとして入力信号
を入力する場合は、タイミングデータで示されたタイミ
ングで入力信号を入力することにより、1回のシミュレ
ーションで入力処理が行え、論理シミュレーションの実
施期間及び工数を減少できる論理シミュレーションシス
テムを提供することを目的にする。
本発明に係る論理シミュレーションシステムは、テス
トパターンデータと、該テストパターンデータに関連す
る処理のための処理データと、該処理データの処理タイ
ミングを示すタイミング情報とを記憶装置のアドレスに
関連づけて格納すると共に、格納されたテストパターン
データに基づく論理シミュレーションの実行時に実行さ
れるテストパターンデータと同一アドレスに関連づけら
れた処理データによる処理をタイミング情報が示す処理
タイミングで行うようにしたものである。
トパターンデータと、該テストパターンデータに関連す
る処理のための処理データと、該処理データの処理タイ
ミングを示すタイミング情報とを記憶装置のアドレスに
関連づけて格納すると共に、格納されたテストパターン
データに基づく論理シミュレーションの実行時に実行さ
れるテストパターンデータと同一アドレスに関連づけら
れた処理データによる処理をタイミング情報が示す処理
タイミングで行うようにしたものである。
本発明においてはテストパターンデータが記憶装置に
格納され、論理回路から記憶装置にテストパターンデー
タの取込要求が生じると、記憶装置からのテストパター
ンデータが取込要求に応じて論理回路に取込まれると共
に、取込まれたときからタイミングデータで示された相
対時間後にテストパターンデータのアドレスに関連する
処理データに基づいて処理が実行される。論理シミュレ
ーション結果の出力信号の期待値が処理データの場合、
テストパターンデータが論理回路に取込まれてから出力
信号が出力されるまでの相対時間でタイミングデータが
示され、そのタイミングで出力信号とその期待値とを比
較し、比較結果を出力することにより、短時間で期待通
りの出力動作を行うか否かのシミュレーション結果の検
証が行え、テストパターンデータの実行時に入力すべき
入力信号が処理データの場合、テストパターンデータが
論理回路に取込まれてから入力信号を入力すべきタイミ
ングまでの相対時間でタイミングデータが示され、その
タイミングで入力信号を入力することにより、入力信号
をシミュレーションの絶対時刻を考慮することなく作成
できる。
格納され、論理回路から記憶装置にテストパターンデー
タの取込要求が生じると、記憶装置からのテストパター
ンデータが取込要求に応じて論理回路に取込まれると共
に、取込まれたときからタイミングデータで示された相
対時間後にテストパターンデータのアドレスに関連する
処理データに基づいて処理が実行される。論理シミュレ
ーション結果の出力信号の期待値が処理データの場合、
テストパターンデータが論理回路に取込まれてから出力
信号が出力されるまでの相対時間でタイミングデータが
示され、そのタイミングで出力信号とその期待値とを比
較し、比較結果を出力することにより、短時間で期待通
りの出力動作を行うか否かのシミュレーション結果の検
証が行え、テストパターンデータの実行時に入力すべき
入力信号が処理データの場合、テストパターンデータが
論理回路に取込まれてから入力信号を入力すべきタイミ
ングまでの相対時間でタイミングデータが示され、その
タイミングで入力信号を入力することにより、入力信号
をシミュレーションの絶対時刻を考慮することなく作成
できる。
以下、本発明をその実施例を示す図面に基づいて詳述
する。
する。
第1図は本発明に係る論理シミュレーションシステム
の構成を示すブロック図である。このシステムは、ROM
にテストパターンデータとしての機械語命令を格納し、
例えばCPUを検証対象の論理回路とし、CPUからの取込要
求に応じてROMに格納された機械語命令を取込み実行す
る動作をシミュレーションするものである。
の構成を示すブロック図である。このシステムは、ROM
にテストパターンデータとしての機械語命令を格納し、
例えばCPUを検証対象の論理回路とし、CPUからの取込要
求に応じてROMに格納された機械語命令を取込み実行す
る動作をシミュレーションするものである。
図において18は入出力テストパターンデータ格納部で
あり、該格納部18には第2図に示す如く、後述するROM
モデル10(第3図参照)のロードアドレス、テストパタ
ーンデータである機械語命令、ロードアドレスに対応し
た処理データとしての出力テストパターンデータである
期待値及び該期待値に応じた出力信号が出力する処理タ
イミングを示すクロックサイクル等のデータがi組格納
されている。ここでロードアドレスは16ビット(2バイ
ト)のアドレス、機械語命令は8ビット(1バイト)命
令、期待値は8ビット(1バイト)のデータとなってい
る。
あり、該格納部18には第2図に示す如く、後述するROM
モデル10(第3図参照)のロードアドレス、テストパタ
ーンデータである機械語命令、ロードアドレスに対応し
た処理データとしての出力テストパターンデータである
期待値及び該期待値に応じた出力信号が出力する処理タ
イミングを示すクロックサイクル等のデータがi組格納
されている。ここでロードアドレスは16ビット(2バイ
ト)のアドレス、機械語命令は8ビット(1バイト)命
令、期待値は8ビット(1バイト)のデータとなってい
る。
入出力テストパターンデータ格納部18に格納されたデ
ータのうち機械語命令はロードアドレスと共に入力テス
トパターンデータ編集部2により抽出され、そこでROM
モデル10に格納するオブジェクトデータが生成される。
また前記データのうちクロックサイクルと、期待値とは
ロードアドレスと共に出力テストパターンデータ編集部
19により抽出され、そこで期待値と後述する検証対象の
論理回路モデル11の論理シミュレーション結果の出力信
号の値とが一致するか否かを検証する期待値自動比較用
機能記述データが生成される。
ータのうち機械語命令はロードアドレスと共に入力テス
トパターンデータ編集部2により抽出され、そこでROM
モデル10に格納するオブジェクトデータが生成される。
また前記データのうちクロックサイクルと、期待値とは
ロードアドレスと共に出力テストパターンデータ編集部
19により抽出され、そこで期待値と後述する検証対象の
論理回路モデル11の論理シミュレーション結果の出力信
号の値とが一致するか否かを検証する期待値自動比較用
機能記述データが生成される。
生成されたオブジェクトデータ及び機械値自動比較用
機能記述データは論理シミュレーションモデル編集部3
に与えられる。論理シミュレーションモデル編集部3は
与えられた2つのデータと後述する回路接続データ格納
部4からの素子データ及び回路接続データとにより論理
シミュレーションモデルを構築する。回路接続データ格
納部4は、論理シミュレーションモデル構築のための素
子データ及びその回路接続データが格納されている。素
子データには検証対象の論理回路モデル11等の素子の情
報が含まれている(第3図参照)。
機能記述データは論理シミュレーションモデル編集部3
に与えられる。論理シミュレーションモデル編集部3は
与えられた2つのデータと後述する回路接続データ格納
部4からの素子データ及び回路接続データとにより論理
シミュレーションモデルを構築する。回路接続データ格
納部4は、論理シミュレーションモデル構築のための素
子データ及びその回路接続データが格納されている。素
子データには検証対象の論理回路モデル11等の素子の情
報が含まれている(第3図参照)。
第3図は論理シミュレーションモデルの構成例を示す
ブロック図である。論理シミュレーションモデルは、機
械語命令を含むオブジェクトデータを夫々のロードアド
レスに格納するROMモデル10、該ROMモデル10に与えるア
ドレス信号ADを生成するプログラムカウンタ9、検証対
象の論理回路と等価な論理回路モデル11、各素子の同期
をはかる基本クロックを生成するクロックジェネレータ
8及び期待値自動比較用機能記述データにより期待値と
出力信号とを比較する期待値自動比較用機能記述部21よ
り構成される。論理回路モデル11は基本クロックCLの入
力タイミングでROMモデル10に機械語命令の取込要求を
示すフェッチ信号FSを与え、プログラムカウンタ9から
のアドレス信号ADが指し示すROMモデル10のロードアド
レスの格納された機械語命令をフェッチする。
ブロック図である。論理シミュレーションモデルは、機
械語命令を含むオブジェクトデータを夫々のロードアド
レスに格納するROMモデル10、該ROMモデル10に与えるア
ドレス信号ADを生成するプログラムカウンタ9、検証対
象の論理回路と等価な論理回路モデル11、各素子の同期
をはかる基本クロックを生成するクロックジェネレータ
8及び期待値自動比較用機能記述データにより期待値と
出力信号とを比較する期待値自動比較用機能記述部21よ
り構成される。論理回路モデル11は基本クロックCLの入
力タイミングでROMモデル10に機械語命令の取込要求を
示すフェッチ信号FSを与え、プログラムカウンタ9から
のアドレス信号ADが指し示すROMモデル10のロードアド
レスの格納された機械語命令をフェッチする。
ここで期待値自動比較用機能記述データは、論理回路
モデル11がROMモデル10から機械語命令を取込む際にプ
ログラムカウンタ9が指定しているアドレス信号ADに対
応した期待値と、前記機械語命令を取込んだ論理回路モ
デル10が命令の実行結果として出力する出力信号値とを
クロックサイクルで指定されたタイミングで論理シミュ
レーション実行中に逐次比較すべく記述されたデータで
ある。
モデル11がROMモデル10から機械語命令を取込む際にプ
ログラムカウンタ9が指定しているアドレス信号ADに対
応した期待値と、前記機械語命令を取込んだ論理回路モ
デル10が命令の実行結果として出力する出力信号値とを
クロックサイクルで指定されたタイミングで論理シミュ
レーション実行中に逐次比較すべく記述されたデータで
ある。
期待値自動比較用機能記述部21にはフェッチ信号FS、
アドレス信号AD及び基本クロックCLが与えられると共
に、前記出力信号及び期待値自動比較用機能記述データ
が与えられ、論理シミュレーション中の期待値と出力信
号との比較検証において比較エラーとなった場合、即ち
期待値と出力信号が不一致の場合、エラー情報として発
生時刻、信号名及び論理シミュレーション結果の出力信
号を出力する。
アドレス信号AD及び基本クロックCLが与えられると共
に、前記出力信号及び期待値自動比較用機能記述データ
が与えられ、論理シミュレーション中の期待値と出力信
号との比較検証において比較エラーとなった場合、即ち
期待値と出力信号が不一致の場合、エラー情報として発
生時刻、信号名及び論理シミュレーション結果の出力信
号を出力する。
論理シミュレーションモデル編集部3で構築された論
理シミュレーションモデルのデータは論理シミュレーシ
ョン実行部5に与えられる。論理シミュレーション実行
部5は与えられた論理シミュレーションモデルのデータ
により機械語命令に基づき論理回路の動作をシミュレー
トし、前記出力信号と期待値データとの比較結果によ
り、エラーが生じた場合は前記エラー情報をCRT、プリ
ンタ等の出力手段を用いた比較結果情報リスト出力部20
に与え、そこでエラー情報が表示又は出力される。
理シミュレーションモデルのデータは論理シミュレーシ
ョン実行部5に与えられる。論理シミュレーション実行
部5は与えられた論理シミュレーションモデルのデータ
により機械語命令に基づき論理回路の動作をシミュレー
トし、前記出力信号と期待値データとの比較結果によ
り、エラーが生じた場合は前記エラー情報をCRT、プリ
ンタ等の出力手段を用いた比較結果情報リスト出力部20
に与え、そこでエラー情報が表示又は出力される。
次に以上のように構成された本発明の論理シミュレー
ションシステムの動作について説明する。
ションシステムの動作について説明する。
まず、入出力テストパターンデータ格納部18に第2図
に示すような入出力テストパターンデータを格納する。
但し、機械語命令が論理回路の内部のレジスタに出力す
る命令である場合等はその機械語命令に期待値及びクロ
ックサイクルを付与する必要はない。また、ロードアド
レスも連続している必要はなく、Jump命令等によってア
ドレスをジャンプしてもよい。この例ではi個のロード
アドレスに対して、夫々機械語命令、基本クロックCLの
サイクル数(=クロックサイクル)、期待値を付与して
いる。
に示すような入出力テストパターンデータを格納する。
但し、機械語命令が論理回路の内部のレジスタに出力す
る命令である場合等はその機械語命令に期待値及びクロ
ックサイクルを付与する必要はない。また、ロードアド
レスも連続している必要はなく、Jump命令等によってア
ドレスをジャンプしてもよい。この例ではi個のロード
アドレスに対して、夫々機械語命令、基本クロックCLの
サイクル数(=クロックサイクル)、期待値を付与して
いる。
次に、入力テストパターンデータ編集部2は前記入出
力テストパターンデータから、各機械語命令をロードア
ドレスと共に抽出し、ROMモデル10に格納するオブジェ
クトデータを生成する。また出力テストパターンデータ
編集部19は前記入出力テストパターンデータから期待値
とその発生タイミング情報であるクロックサイクルとを
ロードアドレスと共に抽出し、期待値自動比較用機能記
述データを生成する。
力テストパターンデータから、各機械語命令をロードア
ドレスと共に抽出し、ROMモデル10に格納するオブジェ
クトデータを生成する。また出力テストパターンデータ
編集部19は前記入出力テストパターンデータから期待値
とその発生タイミング情報であるクロックサイクルとを
ロードアドレスと共に抽出し、期待値自動比較用機能記
述データを生成する。
また、回路接続データ格納部4に、クロックジェネレ
ータ8、プログラムカウンタ9及びROMモデル10の素子
データ及びその回路接続情報を規定した回路接続データ
を付与する。
ータ8、プログラムカウンタ9及びROMモデル10の素子
データ及びその回路接続情報を規定した回路接続データ
を付与する。
次に論理シミュレーション実行部5は前記ROMモデル1
0にオブジェクトデータを格納し、さらに期待値自動比
較用機能記述データを接続した論理シミュレーションモ
デルのデータを入力として論理シミュレーションを実行
する。
0にオブジェクトデータを格納し、さらに期待値自動比
較用機能記述データを接続した論理シミュレーションモ
デルのデータを入力として論理シミュレーションを実行
する。
前記論理シミュレーションモデル内の期待値自動比較
用機能記述部21は論理シミュレーション実行中、第4図
に示した処理フローに従って動作する。以下、論理シミ
ュレーション実行中の期待値自動比較用機能記述部21の
動作について説明する。
用機能記述部21は論理シミュレーション実行中、第4図
に示した処理フローに従って動作する。以下、論理シミ
ュレーション実行中の期待値自動比較用機能記述部21の
動作について説明する。
まず、基本クロックCLの立ち上がりエッジを計数する
ための変数jを0(ゼロ)に初期化する(ステップ#
1)。次に論理回路モデル11が出力するフェッチ信号FS
を抽出し(ステップ#2)、フェッチ信号FSが発生した
か否かをフェッチ信号FSの論理値0から論理値1へ信号
値が変化したか否かにより判定し(ステップ#3)、フ
ェッチ信号FSが発生している場合(ステップ#3:YE
S)、そのシミュレーション時刻のアドレス信号ADの値
を抽出し(ステップ#4)、抽出したアドレス信号ADの
値が第2図に示した期待値を持つロードアドレス1〜ロ
ードアドレスiのいずれかの値と一致するか否かを判断
し(ステップ#5、#13、#14、#15)、仮にロードア
ドレス1と一致したとすると、基本クロックCLの値を抽
出し(ステップ#6)、基本クロックCLの立ち上がりエ
ッジにより、クロック信号があるか否かを判定し(ステ
ップ#7)、クロック信号が発生した場合、変数jに1
を加算する(ステップ#8)。次に変数jの値が第2図
に示した入出力テストパターンデータ内のロードアドレ
ス1に付与されているクロックサイクル1の値に達した
か否かを判定し(ステップ#9)、達した場合は論理シ
ミュレーション結果の出力信号の値を抽出し(ステップ
#10)、抽出した論理シミュレーション結果の出力信号
の値と第2図に示した入出力テストパターンデータのロ
ードアドレス1に付与されている期待値1の値とが一致
するか否かを判断する(ステップ#11)。一致する場合
はステップ#1に戻り、一致しない場合、エラー情報と
して発生時刻、回路接続データにおける信号名、論理シ
ミュレーション結果信号値を比較結果情報リスト出力部
20に出力し(ステップ#12)、論理シミュレーションを
中断する。またステップ#5でアドレス信号ADの値がロ
ードアドレス1に一致しなかったときは続いてロードア
ドレス2〜iと一致するか否かを判定し(ステップ#1
3、#14、#15)、一致した場合は、夫々でステップ#
6〜ステップ#12までの動作を繰返す。また、アドレス
信号ADの値がロードアドレス1〜ロードアドレスiのい
ずれにも一致しなかった場合(ステップ#15:NO)、プ
ログラムカウンタ9が正常に動作しなかったか、又は機
械語命令が付与されていないロードアドレスにジャンプ
した入力テストパターンエラーであるとして、エラー発
生時刻、論理シミュレーション結果信号値を比較結果情
報リスト出力部20に出力し、論理シミュレーションを終
了する。
ための変数jを0(ゼロ)に初期化する(ステップ#
1)。次に論理回路モデル11が出力するフェッチ信号FS
を抽出し(ステップ#2)、フェッチ信号FSが発生した
か否かをフェッチ信号FSの論理値0から論理値1へ信号
値が変化したか否かにより判定し(ステップ#3)、フ
ェッチ信号FSが発生している場合(ステップ#3:YE
S)、そのシミュレーション時刻のアドレス信号ADの値
を抽出し(ステップ#4)、抽出したアドレス信号ADの
値が第2図に示した期待値を持つロードアドレス1〜ロ
ードアドレスiのいずれかの値と一致するか否かを判断
し(ステップ#5、#13、#14、#15)、仮にロードア
ドレス1と一致したとすると、基本クロックCLの値を抽
出し(ステップ#6)、基本クロックCLの立ち上がりエ
ッジにより、クロック信号があるか否かを判定し(ステ
ップ#7)、クロック信号が発生した場合、変数jに1
を加算する(ステップ#8)。次に変数jの値が第2図
に示した入出力テストパターンデータ内のロードアドレ
ス1に付与されているクロックサイクル1の値に達した
か否かを判定し(ステップ#9)、達した場合は論理シ
ミュレーション結果の出力信号の値を抽出し(ステップ
#10)、抽出した論理シミュレーション結果の出力信号
の値と第2図に示した入出力テストパターンデータのロ
ードアドレス1に付与されている期待値1の値とが一致
するか否かを判断する(ステップ#11)。一致する場合
はステップ#1に戻り、一致しない場合、エラー情報と
して発生時刻、回路接続データにおける信号名、論理シ
ミュレーション結果信号値を比較結果情報リスト出力部
20に出力し(ステップ#12)、論理シミュレーションを
中断する。またステップ#5でアドレス信号ADの値がロ
ードアドレス1に一致しなかったときは続いてロードア
ドレス2〜iと一致するか否かを判定し(ステップ#1
3、#14、#15)、一致した場合は、夫々でステップ#
6〜ステップ#12までの動作を繰返す。また、アドレス
信号ADの値がロードアドレス1〜ロードアドレスiのい
ずれにも一致しなかった場合(ステップ#15:NO)、プ
ログラムカウンタ9が正常に動作しなかったか、又は機
械語命令が付与されていないロードアドレスにジャンプ
した入力テストパターンエラーであるとして、エラー発
生時刻、論理シミュレーション結果信号値を比較結果情
報リスト出力部20に出力し、論理シミュレーションを終
了する。
次に本発明の他の実施例について説明する。
前述の実施例では処理データとして期待値を用い、処
理として出力信号と期待値との一致を判定し、シミュレ
ーション結果の良否を判定したが、この実施例では処理
データとして機械語命令の実行の際に外部から入力すべ
き入力信号を用い、処理としてその入力処理を行う。
理として出力信号と期待値との一致を判定し、シミュレ
ーション結果の良否を判定したが、この実施例では処理
データとして機械語命令の実行の際に外部から入力すべ
き入力信号を用い、処理としてその入力処理を行う。
第5図は他の実施例の論理シミュレーションモデルの
構成例を示すブロック図である。
構成例を示すブロック図である。
この実施例では第2図の期待値の代わりに外部からの
入力信号を入出力テストパターンデータとして入出力テ
ストパターンデータ格納部1に格納し、出力テストパタ
ーンデータ編集部19で格納された入力信号及びクロック
サイクルをロードアドレスと共に抽出し、外部からの入
力信号処理を行う外部入力信号入力機能記述データを生
成する。
入力信号を入出力テストパターンデータとして入出力テ
ストパターンデータ格納部1に格納し、出力テストパタ
ーンデータ編集部19で格納された入力信号及びクロック
サイクルをロードアドレスと共に抽出し、外部からの入
力信号処理を行う外部入力信号入力機能記述データを生
成する。
そして前記記述データを外部入力信号入力機能記述部
23に与え、機械語命令の論理回路モデル11でのフェッチ
に同期した外部入力信号の入力処理が可能となる。
23に与え、機械語命令の論理回路モデル11でのフェッチ
に同期した外部入力信号の入力処理が可能となる。
第6図は他の実施例の外部入力信号入力機能記述部23
の処理内容を示すフローチャートであり、第4図のステ
ップ#10の出力信号値の抽出、ステップ#11の出力信号
値と期待値との比較及びステップ#12のエラーメッセー
ジの出力の3つのステップの代わりにステップ#17とし
て外部ピンに対する入力信号値入力処理を行うものであ
る。他は第4図と同様であり、説明を省略する。
の処理内容を示すフローチャートであり、第4図のステ
ップ#10の出力信号値の抽出、ステップ#11の出力信号
値と期待値との比較及びステップ#12のエラーメッセー
ジの出力の3つのステップの代わりにステップ#17とし
て外部ピンに対する入力信号値入力処理を行うものであ
る。他は第4図と同様であり、説明を省略する。
なお、以上2つの実施例では論理回路モデル11がROM
モデル10に対して直接フェッチ信号FSを出力している
が、その間にキューバッファ等の待ち行列回路及びキャ
ッシュメモリ等のメモリ回路が存在していて、これらの
メモリ回路に対して論理回路モデル11がフェッチ信号FS
を出力している論理回路モデル11であってもよい。
モデル10に対して直接フェッチ信号FSを出力している
が、その間にキューバッファ等の待ち行列回路及びキャ
ッシュメモリ等のメモリ回路が存在していて、これらの
メモリ回路に対して論理回路モデル11がフェッチ信号FS
を出力している論理回路モデル11であってもよい。
以上説明したとおり本発明においてはテストパターン
データが論理回路に取込まれてから処理されるまでの相
対時間で示されたタイミングデータと、テストパターン
データが論理回路に取込まれたときに行われる処理に関
連する処理データとをテストパターンデータを論理回路
に与える記憶装置のアドレスに関連づけて格納し、これ
らのデータに基づき論理シミュレーションを実行し、タ
イミングデータで示されるタイミングで処理データを用
いて所定の処理を実行するので、処理データとして論理
シミュレーション結果の出力信号の期待値を、タイミン
グデータとして前記出力信号の出力タイミングを夫々用
いた場合、タイミングデータで示されるタイミングで出
力信号と期待値とを比較し、その一致を検出する処理を
行うことによりシミュレーション結果を自動的に検証で
き、検証抜けを防止し、短時間で前記結果を検証でき、
シミュレーションの工数の削減及び時間の短縮を図れ
る。また処理データとして外部からの入力信号を、また
タイミングデータとして入力信号のタイミングを夫々用
いた場合、シミュレーションを繰返すことなく、1回の
シミュレーションで外部から入力信号を与えるシミュレ
ーションを実行でき、シミュレーションの工数の削減及
び時間の短縮を図れる等優れた効果を奏する。
データが論理回路に取込まれてから処理されるまでの相
対時間で示されたタイミングデータと、テストパターン
データが論理回路に取込まれたときに行われる処理に関
連する処理データとをテストパターンデータを論理回路
に与える記憶装置のアドレスに関連づけて格納し、これ
らのデータに基づき論理シミュレーションを実行し、タ
イミングデータで示されるタイミングで処理データを用
いて所定の処理を実行するので、処理データとして論理
シミュレーション結果の出力信号の期待値を、タイミン
グデータとして前記出力信号の出力タイミングを夫々用
いた場合、タイミングデータで示されるタイミングで出
力信号と期待値とを比較し、その一致を検出する処理を
行うことによりシミュレーション結果を自動的に検証で
き、検証抜けを防止し、短時間で前記結果を検証でき、
シミュレーションの工数の削減及び時間の短縮を図れ
る。また処理データとして外部からの入力信号を、また
タイミングデータとして入力信号のタイミングを夫々用
いた場合、シミュレーションを繰返すことなく、1回の
シミュレーションで外部から入力信号を与えるシミュレ
ーションを実行でき、シミュレーションの工数の削減及
び時間の短縮を図れる等優れた効果を奏する。
第1図は本発明に係る論理シミュレーションシステムの
構成を示すブロック図、第2図は入出力テストパターン
データの一例を示す図、第3図は論理シミュレーション
モデルの構成例を示す図、第4図は期待値自動比較用機
能記述部の処理内容を示すフローチャート、第5図は他
の実施例の論理シミュレーションモデルの構成例を示す
ブロック図、第6図は他の実施例の外部入力信号入力処
理機能記述部の処理内容を示すフローチャート、第7図
は従来の論理シミュレーションシステムの構成を示すブ
ロック図、第8図は従来の論理シミュレーションモデル
の構成例を示すブロック図である。 3…論理シミュレーションモデル編集部 5…論理シミュレーションモデル実行部 10…ROMモデル、11…論理回路モデル 18…入出力テストパターンデータ格納部 19…出力テストパターンデータ編集部 21…期待値自動比較用機能記述部 23…外部入力信号入力機能記述部 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
構成を示すブロック図、第2図は入出力テストパターン
データの一例を示す図、第3図は論理シミュレーション
モデルの構成例を示す図、第4図は期待値自動比較用機
能記述部の処理内容を示すフローチャート、第5図は他
の実施例の論理シミュレーションモデルの構成例を示す
ブロック図、第6図は他の実施例の外部入力信号入力処
理機能記述部の処理内容を示すフローチャート、第7図
は従来の論理シミュレーションシステムの構成を示すブ
ロック図、第8図は従来の論理シミュレーションモデル
の構成例を示すブロック図である。 3…論理シミュレーションモデル編集部 5…論理シミュレーションモデル実行部 10…ROMモデル、11…論理回路モデル 18…入出力テストパターンデータ格納部 19…出力テストパターンデータ編集部 21…期待値自動比較用機能記述部 23…外部入力信号入力機能記述部 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
Claims (1)
- 【請求項1】記憶装置の所定のアドレスに検証対象の論
理回路に与えるべき検証用のテストパターンデータを格
納し、前記論理回路から前記記憶装置への取込要求に応
じて格納されたテストパターンデータを前記論理回路に
入力し、それをもとに論理シミュレーションを実行し、
前記論理回路の動作特性を検証する論理シミュレーショ
ンシステムにおいて、 前記テストパターンデータと、該テストパターンデータ
に関連する前記論理回路に対する入出力処理のための処
理データと、該処理データの処理タイミングを前記取込
要求が生じた後の相対時間で示すタイミングデータとを
含む入力データを前記アドレスに関連づけて格納する入
力データ格納手段と、 該入力データ格納手段から格納された処理データ及びタ
イミングデータを前記アドレスと共に抽出し、前記論理
シミュレーション実行時に前記テストパターンデータが
前記論理回路に取込まれたときから前記タイミングデー
タに示された前記相対時間後に前記処理データを用いて
前記入出力処理を実行する手段と を備えることを特徴とする論理シミュレーションシステ
ム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2153067A JPH0831110B2 (ja) | 1990-06-11 | 1990-06-11 | 論理シミュレーションシステム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2153067A JPH0831110B2 (ja) | 1990-06-11 | 1990-06-11 | 論理シミュレーションシステム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0444175A JPH0444175A (ja) | 1992-02-13 |
JPH0831110B2 true JPH0831110B2 (ja) | 1996-03-27 |
Family
ID=15554264
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2153067A Expired - Fee Related JPH0831110B2 (ja) | 1990-06-11 | 1990-06-11 | 論理シミュレーションシステム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0831110B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5509992B2 (ja) * | 2010-03-29 | 2014-06-04 | 富士電機株式会社 | テストデータ生成装置およびプログラム評価支援方法 |
US8938649B2 (en) * | 2012-10-19 | 2015-01-20 | Texas Instruments Incorporated | Debug trace stream timestamping using upstream correlation |
-
1990
- 1990-06-11 JP JP2153067A patent/JPH0831110B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0444175A (ja) | 1992-02-13 |
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