JPH08247951A - 部分めっき物におけるめっき抜けの検査方法及び検査装置 - Google Patents

部分めっき物におけるめっき抜けの検査方法及び検査装置

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JPH08247951A
JPH08247951A JP4978095A JP4978095A JPH08247951A JP H08247951 A JPH08247951 A JP H08247951A JP 4978095 A JP4978095 A JP 4978095A JP 4978095 A JP4978095 A JP 4978095A JP H08247951 A JPH08247951 A JP H08247951A
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JP
Japan
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light
inspection
color
plating
optical fiber
Prior art date
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Pending
Application number
JP4978095A
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English (en)
Inventor
Kinichi Nogawa
欽一 野川
Shinichi Hori
信一 堀
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EEJA Ltd
Original Assignee
Electroplating Engineers of Japan Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】部分的にめっきが施された部分めっき物におけ
るめっき抜けの検査のような比較的簡単な検査を簡易に
行なえるようにする。 【構成】部分めっき物のめっき処理部位の色を検出する
と共に、当該検出色を予め定めてある基準色と比較し、
この比較結果に基づいてめっき抜けの有無を検出するよ
うにしている。そのための検査装置は、本体ユニット1
と導光ユニット2を備えてなり、導光ユニットにて本体
ユニットに内蔵の光源から導光した照明光を部分めっき
物Fの検査対象部位に照射すると共に、この照射による
反射光を本体ユニットに内蔵の処理手段へ導光ユニット
にて導光し、この反射光を処理して色検出とその基準色
との比較をなすようになっている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、部分的にめっきが施さ
れた部分めっき物におけるめっき抜けを検査する技術に
関する。
【0002】
【従来の技術】部分めっき物の代表的な例としては電子
部品、例えばIC用のリードフレームが挙げられる。リ
ードフレームは、その代表的な一例を図5に示すよう
に、ICチップを載せるアイランドIの周囲にこれを囲
むようにしてその先端が臨まされた多数のリードRを有
する構造となっており、一般にはそのリードRの先端部
分に1〜数mm程度の幅でアイランドIを囲むようにし
てめっき部Pが施される。このようなリードフレームに
おけるめっき状態の検査は、従来では一般に画像処理技
術を利用することでリードの形状検査などと併せて行な
われていた(例えば特公平5−8473号公報)。この
ように画像処理技術を用いることは、高度な検査を可能
とするという利点がある一方で、装置が大型になりまた
高価になるという問題を伴う。そのため例えばめっきが
実際に施されているか否か、つまりめっき抜けの有無を
検査する程度の検査の場合には過剰機能となって無駄を
招いてしまう。このような事情から、めっき抜けの検査
のような比較的簡単な検査を簡易に行なえるようにする
ことが望まれている。
【0003】このような要望に応えるために本願発明者
等は、画像処理に代わる簡易な検査技術の開発を目指し
て試行錯誤を繰り返して来た。そのなかでめっき部の色
が周囲の地の部分の色と異なることに着目し、この色の
差を利用することでめっき抜けの有無を検出できる可能
性に思い至った。またこの色差による検出は、既に汎用
的に実用化されている簡易な色検出器を利用できる点で
簡易性の要求を満足させることができるという利点のあ
ることも分かった。
【0004】この汎用的な色検出器は、第1の光ファイ
バ群と第2の光ファイバ群とを束ねて形成した導光ユニ
ットと、光源及び処理手段を内蔵した本体ユニットとか
らなっており、本体ユニットに内蔵の光源からの照明光
を第1の光ファイバ群にて検査対象物の目的部位に照射
すると共に、この照射による反射光を第2の光ファイバ
群にて本体ユニットに内蔵の処理手段に導き、この処理
手段で処理して検出色と予め設定してある基準色との比
較をなすことで色検出を行なうようになっている。
【0005】この色検出器を用いて実際にリードフレー
ムのめっき抜け検査の試験をしてみると、その結果は比
較的良好であり、十分な実用性が見込めたが、ただ検査
の安定性について不十分な点があった。その原因を追求
したところ、二つの原因が見出された。その一つは光フ
ァイバを用いた導光ユニットの特性に起因している。即
ち光ファイバ群からなる導光ユニットは、その先端つま
り光ファイバの先端をリードフレームに近接させること
のできる距離が光ファイバの特性から決められる。つま
り光ファイバの特性に基づく所定距離を光ファイバの先
端とリードフレームの間に設けた状態で最大の検出精度
を得ることができる。この結果、最大検出精度が得られ
る状態では、リードフレームからの反射光を導光するた
めの第2の光ファイバ群にリードフレームからの反射光
以外の外部光が入射し易い状態となり、このことが検査
の不安定化をもたらすということである。
【0006】他の一つは、めっき部のサイズと関係する
もので、めっき部の幅が一定以上に狭い場合に検査の不
安定化を生じるということである。即ち導光ユニットに
よる照明光の照射スポットは一定の大きさを持ってお
り、この照射スポットに比べめっき部の幅が狭いと、め
っき部の周囲の地の部分からの反射光の比率が多くなっ
てめっき部分の色の判別が不安定になるということであ
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は以上のような知
見に基づいてなされたものである。即ち本発明による検
査方法は、部分めっき物の検査対象部位の色を検出する
と共に、当該検出色を予め定めてある基準色と比較し、
この比較結果に基づいてめっき抜けの有無を検出するよ
うにしてなっている。
【0008】またこのような検査方法に用いる本発明に
よる検査装置は、第1の光ファイバ群と第2の光ファイ
バ群とを束ねて形成した導光ユニットと、光源及び処理
手段を内蔵した本体ユニットとからなる構造を基本と
し、これに加えて導光ユニットの先端に外部光を遮断す
るために、例えば筒状に形成した遮光体を設ける構造を
特徴としており、本体ユニットに内蔵の光源からの照明
光を第1の光ファイバ群にて部分めっき物の検査対象部
位に照射すると共に、この照射による反射光を第2の光
ファイバ群にて本体ユニットに内蔵の処理手段に導き、
この処理手段で処理して検出色と基準色との比較をなす
ようにしてなっている。
【0009】これは上述の汎用的な色検出器を基本的な
要素とし、これに遮光体を組み合わせた構造である。こ
のように汎用的な色検出器に遮光体を組み合わせたこと
により、上述したような外部光の入射を有効に防止する
ことができ、めっき抜けの安定的な検査を可能とするこ
とができる。
【0010】また本発明では上記のような検査装置につ
いて、上述しためっき部の幅との関係による検査の不安
定化を解消させるために、遮光体の先端に、検査対象の
めっき部の幅より狭いスリットを設けるようにしてい
る。即ち遮光体の先端にめっき部の幅より狭いスリット
を設けることで照明光の照射スポットをめっき部の幅以
下かそれに近い状態として反射光におけるめっき部から
の比率を高めるようにし、めっき部の幅が狭い部分めっ
き物についてもめっき抜けの検査を安定的に行なえるよ
うにしている。
【0011】
【実施例】以下、本発明の一実施例について説明する。
本実施例は、図1に模式化して示すように、めっき装置
Mから送り出されてストッカTに送り込まれるリードフ
レームFをストッカTへの搬送途中で検査する場合の例
である。ここに用いている検査装置は、本体ユニット
1、導光ユニット2、及び遮光体3からなっており、遮
光体3を装着した導光ユニット2の先端をめっき装置M
とストッカTとの間にあるコベアローラLの隙間に臨む
ようにして用いられる。
【0012】その本体ユニット1は、その内部構造を図
2に模式化して示すように、光源5と処理手段6を内蔵
している。またその導光ユニット2は、図3にその内部
構造を分解的に模式化して示すように、第1の光ファイ
バ群7と第2の光ファイバ群8とを束ねて形成されてお
り、図2に見られるように、第1の光ファイバ群7が本
体ユニット1の光源5から供給された照明光を導光して
リードフレームFに照射し、一方第2の光ファイバ群8
が第1の光ファイバ群7により照明された部分の反射光
を本体ユニット1の処理手段6に導くようになってい
る。そして処理手段6では、第2の光ファイバ群8で導
光された反射光を受光してこれをR、G、Bの3色に色
分解して反射光源の色つまりリードフレーム乃至それに
施されているめっき部の色をリードフレームFの移動に
応じて連続的に判別し、この色が予め設定してある基準
色と合致することがあった場合には良品信号を出し、合
致のない場合には不良品信号を出す。
【0013】遮光体3は、図1及び図4に見られるよう
に、円筒状の筒部10とヘッド部11からなっており、
そのヘッド部11にはスリット12が形成され、またこ
れら筒部10とヘッド部11の内部及びヘッド部11の
表面に反射防止処理が施されている。この遮光体3は、
図1に見られるような状態で導光ユニット2の先端部に
接続して用いられ、導光ユニット2の先端とリードフレ
ームFとの間に上述のような理由で生じる隙間S(図
1)を実質的に埋める役目を負っている。つまり隙間S
から外部光が導光ユニット2に入射するのを防止するの
に機能している。またこの遮光体3は、上述しためっき
部のサイズと関係する検査の不安定化要因を除くため
に、導光ユニット2から出射する照明光の照射スポット
を所定のサイズに限定する役目も負っている。これはヘ
ッド部11のスリット12によりなされるもので、原則
として照射スポットのサイズを図5に見られるようなリ
ードフレームのめっき部Pの幅Wとほぼ同等かそれより
小さくするようにスリット12の幅を設定する。したが
って検査対象のリードフレームの種類ごとにスリットの
幅が異なる場合があり、その場合にはそれぞれのリード
フレームに対応したスリットを持つ遮光体を予め用意し
ておき、これを交換的に用いる。なお図4に見られるよ
うに筒部10を傾斜させているのは、一般にある角度で
照明光を照射する方が高い検出精度を得られるという理
由によるものである。
【0014】ここで、図1中の13は遮光板である。こ
の遮光板13を設けたのはリードフレームに特有の問題
に対処するためである。即ちリードフレームはリードの
間に隙間があるのでこの隙間を介して上方からの外部光
が導光ユニット2に入射する可能性があり、この外部光
も検査の不安定化につながる。そこで、遮光板13を導
光ユニット2の上方に設けることで、上方からの外部光
が導光ユニット2に入射するのを防止するようにしたも
のである。
【0015】
【発明の効果】以上説明したごとく本発明によると、部
分めっき物におけるめっき抜けの検査のような比較的簡
単な検査を簡易な装置構造で行なうことができ、例えば
リードフレームなどの製造工程の合理化に寄与できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による検査装置を用いた検査工程の模式
図。
【図2】図1の検査装置における本体ユニットの内部構
造についての模式図。
【図3】図1の検査装置における導光ユニットの内部構
造についての模式図。
【図4】図1の検査装置における遮光体の斜視図。
【図5】リードフレームの一例図。
【符号の説明】
1 本体ユニット 2 導光ユニット 3 遮光体 5 光源 6 処理手段 7 第1の光ファイバ群 8 第2の光ファイバ群 12 スリット F リードフレーム(部分めっき物)

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 部分的にめっきが施された部分めっき物
    におけるめっき抜けを検査する検査方法において、部分
    めっき物の検査対象部位の色を検出すると共に、当該検
    出色を予め定めてある基準色と比較し、この比較結果に
    基づいてめっき抜けの有無を検出するようにしたことを
    特徴とする検査方法。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の検査方法に用いる検査
    装置であって、第1の光ファイバ群と第2の光ファイバ
    群とを束ねて形成した導光ユニットを備えると共に本体
    ユニットを備え、本体ユニットに内蔵の光源からの照明
    光を第1の光ファイバ群にて部分めっき物の検査対象部
    位に照射すると共に、この照射による反射光を第2の光
    ファイバ群にて本体ユニットに内蔵の処理手段に導き、
    この処理手段で処理して検出色と基準色との比較をなす
    ようになっており、且つ導光ユニットの先端に外部光を
    遮断するための遮光体が設けられていることを特徴とす
    る検査装置。
  3. 【請求項3】 遮光体の先端に、検査対象のめっき部の
    幅より狭いスリットを設けた請求項2に記載の検査装
    置。
JP4978095A 1995-03-09 1995-03-09 部分めっき物におけるめっき抜けの検査方法及び検査装置 Pending JPH08247951A (ja)

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JP4978095A JPH08247951A (ja) 1995-03-09 1995-03-09 部分めっき物におけるめっき抜けの検査方法及び検査装置

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JP4978095A JPH08247951A (ja) 1995-03-09 1995-03-09 部分めっき物におけるめっき抜けの検査方法及び検査装置

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ID=12840689

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JP4978095A Pending JPH08247951A (ja) 1995-03-09 1995-03-09 部分めっき物におけるめっき抜けの検査方法及び検査装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008259851A (ja) * 2007-03-29 2008-10-30 Tchibo Gmbh 飲料機械および1回量カプセルを備えるシステム

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008259851A (ja) * 2007-03-29 2008-10-30 Tchibo Gmbh 飲料機械および1回量カプセルを備えるシステム

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