JPS58744A - 瓶類の検査方法 - Google Patents
瓶類の検査方法Info
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- JPS58744A JPS58744A JP56100041A JP10004181A JPS58744A JP S58744 A JPS58744 A JP S58744A JP 56100041 A JP56100041 A JP 56100041A JP 10004181 A JP10004181 A JP 10004181A JP S58744 A JPS58744 A JP S58744A
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- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9054—Inspection of sealing surface and container finish
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/0078—Testing material properties on manufactured objects
- G01N33/0081—Containers; Packages; Bottles
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
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- Food Science & Technology (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Cleaning In General (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は一次元走査カメラを用いた瓶類の検査方法に
関する。
関する。
一次元走査カメラを用いた瓶類の検査方法については、
この発明に係る出願人もこれまでにいくらかの出願を行
なっている。その１つに、検査すべき瓶の瓶口上方面に
光源を設け、この光源よりの光線を前記瓶口に照射し、
瓶口上表面で反射した光線を瓶口側方部に設けた一次元
走査カメラで受光して電気信号に変換し、この変換され
た電気信号のパターンと、あらかじめ設定した良品瓶の
信号パターンを比較することにより瓶の良否を判定する
ものがある〇 この瓶類の検査方法は、瓶口の上方面に汚れや、割欠損
がある場合にこれを確実に検出し、不良瓶と判定し得た
が瓶口の側部下方に汚れや、割欠損がある場合に１これ
を十分に検出し得す不良瓶であるにもかかわらず、良品
瓶であると判定してしまうおそれがあつ九。
この発明に係る出願人もこれまでにいくらかの出願を行
なっている。その１つに、検査すべき瓶の瓶口上方面に
光源を設け、この光源よりの光線を前記瓶口に照射し、
瓶口上表面で反射した光線を瓶口側方部に設けた一次元
走査カメラで受光して電気信号に変換し、この変換され
た電気信号のパターンと、あらかじめ設定した良品瓶の
信号パターンを比較することにより瓶の良否を判定する
ものがある〇 この瓶類の検査方法は、瓶口の上方面に汚れや、割欠損
がある場合にこれを確実に検出し、不良瓶と判定し得た
が瓶口の側部下方に汚れや、割欠損がある場合に１これ
を十分に検出し得す不良瓶であるにもかかわらず、良品
瓶であると判定してしまうおそれがあつ九。
この発明の目的は、上配瓶類の検査方法の欠点を解消し
、瓶口側部下方に生じた汚れや、割欠損でも検出し得る
縁高精度な瓶類の検査方法を提供するＫｓする。
、瓶口側部下方に生じた汚れや、割欠損でも検出し得る
縁高精度な瓶類の検査方法を提供するＫｓする。
この発明の瓶類の検査方法は、上記目的を達成するため
に、瓶口の上方部に館１の光源を設け、瓶口の斜横方向
に第２の光源を設け、第１の光源よシの光線を瓶口上表
面に照射し、第２の光源よりの光Ｉｌを瓶口側部に照射
し、この瓶口上表面に照射され反射される光線と、瓶口
側部に照射され、反射される光線を瓶口の横方向近傍に
設けられる一次元走査カメラで受光して電気信号に変換
し、この変換された電気信号のパターンとあらかじめ設
定した良品瓶の信号パターンとを比較することＫより、
瓶の良否を判定するようにしている。
に、瓶口の上方部に館１の光源を設け、瓶口の斜横方向
に第２の光源を設け、第１の光源よシの光線を瓶口上表
面に照射し、第２の光源よりの光Ｉｌを瓶口側部に照射
し、この瓶口上表面に照射され反射される光線と、瓶口
側部に照射され、反射される光線を瓶口の横方向近傍に
設けられる一次元走査カメラで受光して電気信号に変換
し、この変換された電気信号のパターンとあらかじめ設
定した良品瓶の信号パターンとを比較することＫより、
瓶の良否を判定するようにしている。
以下、図面に示す実施例により、この発明の詳細な説明
する。
する。
第１図はこの発明の一実施例を示す概略図である０
第１図において、１は検査すべき瓶であって、検査管な
すため（図示外のコンベア上に載置されて移送される。
すため（図示外のコンベア上に載置されて移送される。
２はたとえばハロゲンランプで構成される光源である。
光源２は瓶１の瓶口３の上方に設けられる光源ボックス
４内に収納されている０５は光拡散板、６は遮光板であ
る０光源２を出た光線は瓶口３の上表面に照射され、そ
の瓶口３の上表面で反射される。その反射光２ａは、瓶
口３の横方向近傍に設けられるイメージセンサカメラ７
に入力される。
４内に収納されている０５は光拡散板、６は遮光板であ
る０光源２を出た光線は瓶口３の上表面に照射され、そ
の瓶口３の上表面で反射される。その反射光２ａは、瓶
口３の横方向近傍に設けられるイメージセンサカメラ７
に入力される。
また８は２と同じ）・ロゲンラ／プで構成される光源で
あって、瓶口３の斜下横方向に設けられる光源ボックス
９内に収納されている。光源８ｆｉ１１また光線は光拡
散板１０を経て、瓶口３の側面に照射され、その表面で
反射される。反射された光線８ａはイメージセンサカメ
ラに入力される。
あって、瓶口３の斜下横方向に設けられる光源ボックス
９内に収納されている。光源８ｆｉ１１また光線は光拡
散板１０を経て、瓶口３の側面に照射され、その表面で
反射される。反射された光線８ａはイメージセンサカメ
ラに入力される。
イメージセンサカメラ７（以下単にカメラという）は九
とえばＣＣＤ素子（電荷結合素子）が多数個配列されて
おり、これらＣＣＤ素子に光が当るとその光信号を電気
信号に変換して撮倫信号を取出す一次元走査の可能なカ
メラであり、これ自体は周知の−のである。
とえばＣＣＤ素子（電荷結合素子）が多数個配列されて
おり、これらＣＣＤ素子に光が当るとその光信号を電気
信号に変換して撮倫信号を取出す一次元走査の可能なカ
メラであり、これ自体は周知の−のである。
第１図において光源２、および８より光線を瓶口３に照
射すると、瓶口３の横からみた発光部のパターンは、良
品瓶の場合第２図の斜線で示したものとなる。このよう
な発光部ノ（ターンの生じる瓶を矢印の方向に移動させ
ると、カメラ７の走査線１１は、瓶１の移動につれて、
瓶の位置ｌい、から走査動作を開始し、位置′ろまでの
間一定間隔でサンプリング動作を行なう。そして位置′
いから位置′ろまでの関において各走査回毎に、発光幅
に対応したビット信号出力を導出する０第２図に示した
のｔ′ｉａ品瓶の場合の発光パターンであるが１．瓶口
に汚れや、割欠損がめると発光パターンが変化するので
、この変化をカメラ７で抽出して不良風の検査を行なう
。
射すると、瓶口３の横からみた発光部のパターンは、良
品瓶の場合第２図の斜線で示したものとなる。このよう
な発光部ノ（ターンの生じる瓶を矢印の方向に移動させ
ると、カメラ７の走査線１１は、瓶１の移動につれて、
瓶の位置ｌい、から走査動作を開始し、位置′ろまでの
間一定間隔でサンプリング動作を行なう。そして位置′
いから位置′ろまでの関において各走査回毎に、発光幅
に対応したビット信号出力を導出する０第２図に示した
のｔ′ｉａ品瓶の場合の発光パターンであるが１．瓶口
に汚れや、割欠損がめると発光パターンが変化するので
、この変化をカメラ７で抽出して不良風の検査を行なう
。
良品瓶と不良風の具体的な判別は以下の方法によ抄行な
う。
う。
（１） Ｄ Ｉ Ｂ Ｃが設定値を外れたら不良風とす
る。
る。
ＤＩＢＣとは、第２図に示すように、各走査回毎の１番
目の暗部の幅をいう。各走査は走査線１１の検査箱＠に
わたり、たとえば上方から下方に行なわれるので最初の
暗部のビット数を計数することによりＤＩＢＣを求める
。良品瓶の場合のＤＩＢＣはほぼ一定の値であるが、第
１発光部が消滅するような不良風では、非常に大となる
。それゆえＤＩＢＣが一定の幅を外れたら不良風とする
。
目の暗部の幅をいう。各走査は走査線１１の検査箱＠に
わたり、たとえば上方から下方に行なわれるので最初の
暗部のビット数を計数することによりＤＩＢＣを求める
。良品瓶の場合のＤＩＢＣはほぼ一定の値であるが、第
１発光部が消滅するような不良風では、非常に大となる
。それゆえＤＩＢＣが一定の幅を外れたら不良風とする
。
５ −
（２） Ｌ Ｉ Ｂ Ｃが設定値を外れたら不良風とす
る。
る。
ＬＩＢＣとは、各走査毎の１番目の明部（発光部）の幅
をいう。ＬＩＢＣｉｉ最初の明部のビット数を計数する
ことにより求める。良品瓶の場合ＬＩＢＣもほぼ一定の
値を示すが不良風の場合、明部が非常に細くなったり、
異常発光で木くなる。それゆえＬＩＢＣが一定の幅を外
れたら不良風とする。
をいう。ＬＩＢＣｉｉ最初の明部のビット数を計数する
ことにより求める。良品瓶の場合ＬＩＢＣもほぼ一定の
値を示すが不良風の場合、明部が非常に細くなったり、
異常発光で木くなる。それゆえＬＩＢＣが一定の幅を外
れたら不良風とする。
（３） Ｄ ２ Ｂ Ｃが設定値を外れたら不良風とす
る。
る。
Ｄ２ＢＣとは走査回毎の２番目の暗部の幅をいう。
上記（１）の場合と同様、良品瓶のＤ２ＢＣはほぼ一定
となるが、不良風の場合に非常に小さくなったり大きく
なった抄するので、Ｄ２ＢＣも一定の＠を外れ九ら不良
風とする。
となるが、不良風の場合に非常に小さくなったり大きく
なった抄するので、Ｄ２ＢＣも一定の＠を外れ九ら不良
風とする。
（４） Ｌ ２ Ｂ Ｃが設定値を外れたら不良風とす
る０Ｌ２ＢＣとは走査回毎の２番目の明部の幅をいい、
上記（２）と同様の理由でＬ２ＢＣが一定の幅を外れた
ら不良風とする。
る０Ｌ２ＢＣとは走査回毎の２番目の明部の幅をいい、
上記（２）と同様の理由でＬ２ＢＣが一定の幅を外れた
ら不良風とする。
（５） ＡＢＳ （Ｌｌ −Ｌ２ ） ＢＣが設定値を
外れたら不良風とする。
外れたら不良風とする。
ＡＢＳ（Ｌｌ−Ｉ？りＢＣとは、各走査毎における１
６− 番目の明部と２番目の明部の幅差をいう。上述したＬＩ
ＢＣとＬ２ＢＣのビット数の差を計算するととＫよりＡ
ＢＳ（Ｌｌ−Ｌ２）ＢＣが求められる。良品風の場合、
ＬＩＢＣとＬ２ＢＣの差がほとんど一定値を示すが、不
良風の場合、一方の明部の幅が太くなったり、細くなっ
たりするので、その差が非常に大となる。それゆえＡＢ
Ｓ（Ｌｌ−Ｌ２）ＢＣが一定の設定幅を越えたら不良風
と判定する。
６− 番目の明部と２番目の明部の幅差をいう。上述したＬＩ
ＢＣとＬ２ＢＣのビット数の差を計算するととＫよりＡ
ＢＳ（Ｌｌ−Ｌ２）ＢＣが求められる。良品風の場合、
ＬＩＢＣとＬ２ＢＣの差がほとんど一定値を示すが、不
良風の場合、一方の明部の幅が太くなったり、細くなっ
たりするので、その差が非常に大となる。それゆえＡＢ
Ｓ（Ｌｌ−Ｌ２）ＢＣが一定の設定幅を越えたら不良風
と判定する。
（６） Ｌ Ｉ Ｂ Ｃｉが設定値を外れたら不良風と
する０ＬＩＢＣｉとは、１番目の明部の面積をいう。Ｌ
ＩＢＣｉｉｉＬＩＢＣを１瓶の検査の全走査分の累積計
数すること釦より求めることができる。やはり良品風の
場合、ＬＩＢＣＩはほぼ一定の値を示すが、不蔑瓶の場
合、極端に大きな値となったり、小さな値となったりす
る。それゆえＬＩＢＣｌが一定の設定値幅を外れたら不
良風とする。
する０ＬＩＢＣｉとは、１番目の明部の面積をいう。Ｌ
ＩＢＣｉｉｉＬＩＢＣを１瓶の検査の全走査分の累積計
数すること釦より求めることができる。やはり良品風の
場合、ＬＩＢＣＩはほぼ一定の値を示すが、不蔑瓶の場
合、極端に大きな値となったり、小さな値となったりす
る。それゆえＬＩＢＣｌが一定の設定値幅を外れたら不
良風とする。
（７） Ｌ ２ Ｂ Ｃｉが設定値を外れ−たら不良風
とする。
とする。
Ｌ２ＢＣ１とは２番目の明部の面積をいう。Ｌ２ＢＣ１
４ＬＩＢＣ１と同様にして求めることができ、同様の理
由により、Ｌ２ＢＣｉが一定の設定値幅を外れたら不良
風とする。
４ＬＩＢＣ１と同様にして求めることができ、同様の理
由により、Ｌ２ＢＣｉが一定の設定値幅を外れたら不良
風とする。
（８） Ｍ ＣＩが設定値を外れたら不良風とする。
ＭＣＩとは、１瓶の全走査で、モード１が生じる走査回
数をいう。なおここにモードとは、１走査で明部、す彦
わち撮像信号パルスが何個中じるかをいい、たとえば第
２図における位置′はでは明部が１個生じるので、モー
ド１といい、位置１〜匂ように、明部が２個生じる場合
をモード２という。ＭＣＸは、全走査でモード１の生じ
る走査回数を計数することにより求められる。ＭＣＩす
なわちモードｌの生じる回数も良品風では一定であるに
対し、不良風の場合はパラつくので、ＭＣ１計数の結果
設定幅を外れたら不良風とする。
数をいう。なおここにモードとは、１走査で明部、す彦
わち撮像信号パルスが何個中じるかをいい、たとえば第
２図における位置′はでは明部が１個生じるので、モー
ド１といい、位置１〜匂ように、明部が２個生じる場合
をモード２という。ＭＣＸは、全走査でモード１の生じ
る走査回数を計数することにより求められる。ＭＣＩす
なわちモードｌの生じる回数も良品風では一定であるに
対し、不良風の場合はパラつくので、ＭＣ１計数の結果
設定幅を外れたら不良風とする。
（９） Ｍ Ｃ２が設定値を外れたら不良風とする。
α０）ＭＣ３が設定値を外れたら不良風とする。
上記（８）と同様に、ＭＣ２、ＭＣ３すなわちモード２
、モード３４良品瓶の場合、全走査で一定回数生じるの
で、やはシ設定幅管外れたら不良風とするＯ α１）ＭＣ４が生じたら不良風とする。
、モード３４良品瓶の場合、全走査で一定回数生じるの
で、やはシ設定幅管外れたら不良風とするＯ α１）ＭＣ４が生じたら不良風とする。
第２図で明らかなようＫ、良品風の場合、モード４が生
じることはない。それゆえ一定値以上のＭＣ４が生じた
ら不良風とする。
じることはない。それゆえ一定値以上のＭＣ４が生じた
ら不良風とする。
この他ＭＣ２とＭＣ３０合計値、ＭＣＩからＭＣ２、Ｍ
Ｃ３ｔ−減じ良値等も、良品風の場合当然はぼ一定値と
なるので、検査瓶が設定幅を外れたら不良風とする。ま
た第２図に示す位置′にのようにモードｌからモード２
あるいはモード３にチェンジする位置、もしくは位置′
へのようにモード２あるいはモード３からモード１にチ
ェンジする位置は良品風の場合一定である。それゆえこ
のモードチェンジする位置をチェックすることにより不
良風を検出することもできる。
Ｃ３ｔ−減じ良値等も、良品風の場合当然はぼ一定値と
なるので、検査瓶が設定幅を外れたら不良風とする。ま
た第２図に示す位置′にのようにモードｌからモード２
あるいはモード３にチェンジする位置、もしくは位置′
へのようにモード２あるいはモード３からモード１にチ
ェンジする位置は良品風の場合一定である。それゆえこ
のモードチェンジする位置をチェックすることにより不
良風を検出することもできる。
以上の各方法による良品風パターンと検査瓶パターンと
の比較（より、各方法単独であるいは組合せで瓶の良否
を判別する。
の比較（より、各方法単独であるいは組合せで瓶の良否
を判別する。
各方法による検出、判別は第３図に示す電子回路で行な
われる。第３図において、１２はカメラ７の検出回路部
であって、第２図に示す走査線１１による各走査毎に対
応する発光部に応じて撮像信 ９− 号を導出する。１３Ｆｉ検出回路部で１２の出力を受け
て波形整形する回路、１４＃′ｉ波形整形回路１３より
の撮像信号を受けて、所定のプログラムにしたがい、上
述の（１）からαＤの方法等による諸種の計算、判定を
行なうコンピュータ部、１５＃′ｉ検出され九各データ
、設定値を記憶しておくメモリである。メモリ１５は、
ＤＩＢＣおよびその設定値Ｐ１ＬＩＢＣおよびその設定
値Ｑ、Ｄ２ＢＣおよびその設定値Ｒ，Ｌ２ＢＣおよびそ
の設定値Ｓ、ＡＢＳ（Ｌｌ−Ｌ２）ＢＣおよびその設定
値Ｔ、ＬＩＢＣ１およびその設定値Ｕ、Ｌ２ＢＣｉおよ
びその設定値■、ＭＣ１およびその設定値Ｗ、ＭＣ２お
よびその設定値Ｘ。
われる。第３図において、１２はカメラ７の検出回路部
であって、第２図に示す走査線１１による各走査毎に対
応する発光部に応じて撮像信 ９− 号を導出する。１３Ｆｉ検出回路部で１２の出力を受け
て波形整形する回路、１４＃′ｉ波形整形回路１３より
の撮像信号を受けて、所定のプログラムにしたがい、上
述の（１）からαＤの方法等による諸種の計算、判定を
行なうコンピュータ部、１５＃′ｉ検出され九各データ
、設定値を記憶しておくメモリである。メモリ１５は、
ＤＩＢＣおよびその設定値Ｐ１ＬＩＢＣおよびその設定
値Ｑ、Ｄ２ＢＣおよびその設定値Ｒ，Ｌ２ＢＣおよびそ
の設定値Ｓ、ＡＢＳ（Ｌｌ−Ｌ２）ＢＣおよびその設定
値Ｔ、ＬＩＢＣ１およびその設定値Ｕ、Ｌ２ＢＣｉおよ
びその設定値■、ＭＣ１およびその設定値Ｗ、ＭＣ２お
よびその設定値Ｘ。
ＭＣ３およびその設定値Ｙ、ＭＣ４およびその設定値２
を記憶する領域、さらＫは一般計算用の汎用レジスタＡ
、Ｂ、Ｃ，Ｄ＄を含んでいる。上記（１）〜α１）の各
方法は、第３図に示す電子回路によって、実行される。
を記憶する領域、さらＫは一般計算用の汎用レジスタＡ
、Ｂ、Ｃ，Ｄ＄を含んでいる。上記（１）〜α１）の各
方法は、第３図に示す電子回路によって、実行される。
なおこの発明を実施するのに、１個のカメラと２個の光
源の１ユニツトで、九とえは瓶を１回転してやることに
より、検査瓶の全瓶口をチェック−１０− できるが、第４図に示すように、瓶１を載置して移動す
るコンベア４０の近傍にカメラ４１、光源４２．４３の
１ユニツトを配置し、さら［１瓶間隔ずらしてカメラ４
４、光源４５．４６の１ユニツトを配置し、続いて瓶１
會９０°回転させる手段の後にカメラ４７、光源４８．
４９の１ユニツト、さらにカメラ５０、光源５１．５２
の１ユニツトを配置し、これらの４ユニツトで、検査瓶
１の全瓶口を検査してもよい。第４図においてはカメラ
４１によに瓶１の瓶口の半内部分を、カメラ４４で他の
残りの半内部分の検査を行なう。このカメラ４１，４４
で、瓶１の瓶口のほとんどを検査し得るが、厳密にはカ
メラに対し瓶口の端部すなわち接線方向の検査がラフに
なるので、カメラ４１゜４４で検査した瓶をさら［９０
°回転させてカメラ４７．５０で再び半円部ずつ検査し
ている。これＫより瓶１の瓶口に生じている傷、汚れ轡
をほとんど完全に検出することができる０ 以上のようにこの発明の瓶類検査方法によれば、瓶口の
上方に第１の光源を般社るとともに、瓶口の斜横方向に
第２の光源を設け、第１の光源よりの光線を瓶口上表面
に照射し、第２の光源よりの光線を瓶口側部に照射する
よう圧したので、従来瓶口上方にのみ光源をおく方法で
は検出し得なかった、瓶口側部下方に生じた汚れや、割
欠損本不良瓶として検出し得るし、さらに従来は困難で
あつ丸鉄さび、汚れも検出できるという利点がある。
源の１ユニツトで、九とえは瓶を１回転してやることに
より、検査瓶の全瓶口をチェック−１０− できるが、第４図に示すように、瓶１を載置して移動す
るコンベア４０の近傍にカメラ４１、光源４２．４３の
１ユニツトを配置し、さら［１瓶間隔ずらしてカメラ４
４、光源４５．４６の１ユニツトを配置し、続いて瓶１
會９０°回転させる手段の後にカメラ４７、光源４８．
４９の１ユニツト、さらにカメラ５０、光源５１．５２
の１ユニツトを配置し、これらの４ユニツトで、検査瓶
１の全瓶口を検査してもよい。第４図においてはカメラ
４１によに瓶１の瓶口の半内部分を、カメラ４４で他の
残りの半内部分の検査を行なう。このカメラ４１，４４
で、瓶１の瓶口のほとんどを検査し得るが、厳密にはカ
メラに対し瓶口の端部すなわち接線方向の検査がラフに
なるので、カメラ４１゜４４で検査した瓶をさら［９０
°回転させてカメラ４７．５０で再び半円部ずつ検査し
ている。これＫより瓶１の瓶口に生じている傷、汚れ轡
をほとんど完全に検出することができる０ 以上のようにこの発明の瓶類検査方法によれば、瓶口の
上方に第１の光源を般社るとともに、瓶口の斜横方向に
第２の光源を設け、第１の光源よりの光線を瓶口上表面
に照射し、第２の光源よりの光線を瓶口側部に照射する
よう圧したので、従来瓶口上方にのみ光源をおく方法で
は検出し得なかった、瓶口側部下方に生じた汚れや、割
欠損本不良瓶として検出し得るし、さらに従来は困難で
あつ丸鉄さび、汚れも検出できるという利点がある。
！１図はこの発明の一実施例を示す概略図、第２図は第
１図実施例において良品瓶につき瓶口の側方から瓶口を
見た状態を示す図、第３図は第１図実施例の電子回路ブ
ロック図、第４図はこの発明の適用例を示す概略図であ
る。 ｌＦｉ瓶、２．８Ｆｉランプ、３は瓶口、４．９Ｖｉ光
源ボツクス、５．１０は光拡散板、６Ｆｉ迩光板、７．
４１．４４．４７．５０はカメラ、１２は検出回路、１
３Ｆ１波形整形回路、１４＃ｉコンピユータ、１５Ｆｉ
メモリ、４０Ｆｉコンベア、４２．４３．４５．４６．
４８．４９．５１．５ｚＦｉ光源である。 出願人 サントリー株式会社
１図実施例において良品瓶につき瓶口の側方から瓶口を
見た状態を示す図、第３図は第１図実施例の電子回路ブ
ロック図、第４図はこの発明の適用例を示す概略図であ
る。 ｌＦｉ瓶、２．８Ｆｉランプ、３は瓶口、４．９Ｖｉ光
源ボツクス、５．１０は光拡散板、６Ｆｉ迩光板、７．
４１．４４．４７．５０はカメラ、１２は検出回路、１
３Ｆ１波形整形回路、１４＃ｉコンピユータ、１５Ｆｉ
メモリ、４０Ｆｉコンベア、４２．４３．４５．４６．
４８．４９．５１．５ｚＦｉ光源である。 出願人 サントリー株式会社
Claims (1)
- 瓶口の上方面に第１の光源を設け、瓶口のほぼ斜側部に
第２の光源を設け、前記第１の光源よシの光線を前記瓶
口上表面に照射し、前記第２の光源よ抄の光線を前記瓶
口の側部に照射し、前記瓶口上表面に照射され反射され
る光線と、前記瓶口側部に照射され、反射される光線を
瓶口の横近傍に設けられる一次元走査カメラで受光して
電気信号に変換し、この変換された電気信号のパターン
とあらかじめ設定した良品瓶の信号パターンを比較する
ことにより瓶の良否を判定す為瓶類の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56100041A JPS58744A (ja) | 1981-06-26 | 1981-06-26 | 瓶類の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56100041A JPS58744A (ja) | 1981-06-26 | 1981-06-26 | 瓶類の検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58744A true JPS58744A (ja) | 1983-01-05 |
| JPH0432340B2 JPH0432340B2 (ja) | 1992-05-29 |
Family
ID=14263430
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56100041A Granted JPS58744A (ja) | 1981-06-26 | 1981-06-26 | 瓶類の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58744A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0697592A1 (en) * | 1994-08-19 | 1996-02-21 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Inspection of transparent containers |
| WO2012172695A1 (ja) * | 2011-06-15 | 2012-12-20 | キリンテクノシステム株式会社 | ガラス壜の検査方法および装置 |
| JP2014224807A (ja) * | 2013-04-19 | 2014-12-04 | キリンテクノシステム株式会社 | 容器の検査方法及び検査装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5198587U (ja) * | 1975-02-06 | 1976-08-07 | ||
| JPS51108881A (ja) * | 1975-03-20 | 1976-09-27 | Yamamura Glass Co Ltd | Garasubinnochobukensahohoto sonosochi |
| JPS52139483A (en) * | 1976-05-18 | 1977-11-21 | Mitsubishi Electric Corp | Tester for glass bottle or the like |
-
1981
- 1981-06-26 JP JP56100041A patent/JPS58744A/ja active Granted
Patent Citations (3)
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| JPWO2012172695A1 (ja) * | 2011-06-15 | 2015-02-23 | キリンテクノシステム株式会社 | ガラス壜の検査方法および装置 |
| US9147241B2 (en) | 2011-06-15 | 2015-09-29 | Kirin Techno-System Company, Limited | Glass bottle inspection method and apparatus |
| JP2014224807A (ja) * | 2013-04-19 | 2014-12-04 | キリンテクノシステム株式会社 | 容器の検査方法及び検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0432340B2 (ja) | 1992-05-29 |
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