JPH0823510B2 - 測温計 - Google Patents
測温計Info
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- JPH0823510B2 JPH0823510B2 JP59017499A JP1749984A JPH0823510B2 JP H0823510 B2 JPH0823510 B2 JP H0823510B2 JP 59017499 A JP59017499 A JP 59017499A JP 1749984 A JP1749984 A JP 1749984A JP H0823510 B2 JPH0823510 B2 JP H0823510B2
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- JP
- Japan
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- signal
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- temperature
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K1/00—Details of thermometers not specially adapted for particular types of thermometer
- G01K1/02—Means for indicating or recording specially adapted for thermometers
- G01K1/028—Means for indicating or recording specially adapted for thermometers arrangements for numerical indication
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、電子温度計，体温計等の測温計に関し、基
準抵抗と感温抵抗の抵抗値の比に基づき温度を表示する
測温計において表示誤差を是正するための補正技術に関
する。
準抵抗と感温抵抗の抵抗値の比に基づき温度を表示する
測温計において表示誤差を是正するための補正技術に関
する。
従来、サーミスタ等の感温抵抗を用いた電子温度計に
おいては、測定温度範囲内では温度変化に影響されず略
一定の抵抗値を示す基準抵抗を有しており、基準抵抗の
抵抗値と感温抵抗の抵抗値との比（抵抗比）を求めて温
度に換算（デコード）するようになっている。第３図は
従来の電子温度計を示すブロック図である。サーミスタ
101と基準抵抗102及び初期調整用可変抵抗器103を有す
る抵抗値−周波数変換回路１は、サーミスタ101又は基
準抵抗102を切り換えて、それぞれの抵抗値に基づく周
波数を持つ信号を発生する。発振回路５で発振されたク
ロックは分周回路４にて分周され、分周回路４は所定の
計数時間だけ低レベル信号を出力し、NORゲート44は抵
抗値−周波数変換回路１からの信号をその所定計数時間
に亘り通過させる。分周回路２はカウンタであり、抵抗
値−周波数変換回路１からの信号を計数し、リセット信
号ライン６のリセット信号によってリセットされる。
おいては、測定温度範囲内では温度変化に影響されず略
一定の抵抗値を示す基準抵抗を有しており、基準抵抗の
抵抗値と感温抵抗の抵抗値との比（抵抗比）を求めて温
度に換算（デコード）するようになっている。第３図は
従来の電子温度計を示すブロック図である。サーミスタ
101と基準抵抗102及び初期調整用可変抵抗器103を有す
る抵抗値−周波数変換回路１は、サーミスタ101又は基
準抵抗102を切り換えて、それぞれの抵抗値に基づく周
波数を持つ信号を発生する。発振回路５で発振されたク
ロックは分周回路４にて分周され、分周回路４は所定の
計数時間だけ低レベル信号を出力し、NORゲート44は抵
抗値−周波数変換回路１からの信号をその所定計数時間
に亘り通過させる。分周回路２はカウンタであり、抵抗
値−周波数変換回路１からの信号を計数し、リセット信
号ライン６のリセット信号によってリセットされる。
このような構成の電子温度計は次のように動作する。
まず、第１フェーズにおいては、抵抗値−周波数変換回
路１が基準抵抗102及び初期調整用可変抵抗器103を選択
して両者の直列合成抵抗値に応じた周波数を持つ基準信
号を発生する。この基準信号は分周回路４により決定さ
れた一定の計数時間に亘り分周回路２で計数され、その
基準信号の計数値が一時記憶される。そして、リセット
信号ライン６にリセット信号が入力され、分周回路２の
計数値がリセットされる。
まず、第１フェーズにおいては、抵抗値−周波数変換回
路１が基準抵抗102及び初期調整用可変抵抗器103を選択
して両者の直列合成抵抗値に応じた周波数を持つ基準信
号を発生する。この基準信号は分周回路４により決定さ
れた一定の計数時間に亘り分周回路２で計数され、その
基準信号の計数値が一時記憶される。そして、リセット
信号ライン６にリセット信号が入力され、分周回路２の
計数値がリセットされる。
次に、第２フェーズにおいては、抵抗値−周波数変換
回路１がサーミスタ101を選択してその抵抗値に応じた
周波数を持つ温度検出信号を発生する。この温度検出信
号も分周回路４により決定された一定の計数時間に亘り
分周回路２で計数され、一時記憶された基準信号の計数
値と当該温度検出信号の計数値との比から温度換算によ
り温度値が表示されるようになっている。
回路１がサーミスタ101を選択してその抵抗値に応じた
周波数を持つ温度検出信号を発生する。この温度検出信
号も分周回路４により決定された一定の計数時間に亘り
分周回路２で計数され、一時記憶された基準信号の計数
値と当該温度検出信号の計数値との比から温度換算によ
り温度値が表示されるようになっている。
このように基準抵抗102とサーミスタ101の抵抗値との
比から温度表示を得るためには、温度計毎の換算テーブ
ル等は一定の換算データを持っているため、どの温度計
（どの製品）でもある一定の温度においては一定の抵抗
比でなければならないが、実際には、製品によって基準
抵抗102やサーミスタ101に抵抗値の個体差（抵抗値のバ
ラツキ）があるので、抵抗比を一定値にすることができ
ない。そこで抵抗比を一定値にするには、製品出荷前の
検査工程において、初期調整用可変抵抗器103を動かし
て基準抵抗102との合成直列抵抗値を製品毎ごとに調整
するようにしている。
比から温度表示を得るためには、温度計毎の換算テーブ
ル等は一定の換算データを持っているため、どの温度計
（どの製品）でもある一定の温度においては一定の抵抗
比でなければならないが、実際には、製品によって基準
抵抗102やサーミスタ101に抵抗値の個体差（抵抗値のバ
ラツキ）があるので、抵抗比を一定値にすることができ
ない。そこで抵抗比を一定値にするには、製品出荷前の
検査工程において、初期調整用可変抵抗器103を動かし
て基準抵抗102との合成直列抵抗値を製品毎ごとに調整
するようにしている。
［発明が解決しようとする課題〕 しかしながら、上記の電子温度計においては次のよう
な問題点がある。
な問題点がある。
検査工程において一定の温度下に電子温度計を置
き、その温度表示値がその一定温度値になるように可変
抵抗器103を手動調整することは、煩雑な手間を要し、
殊に厳しい精度の要求される温度計にあっては、微調整
作業も熟練を必要とする。従って、低い生産性に留ま
り、低コスト化の障害となっていた。
き、その温度表示値がその一定温度値になるように可変
抵抗器103を手動調整することは、煩雑な手間を要し、
殊に厳しい精度の要求される温度計にあっては、微調整
作業も熟練を必要とする。従って、低い生産性に留ま
り、低コスト化の障害となっていた。
また、上記の電子温度計では可変抵抗値103の搭載
を必要としているが、一般に可変抵抗値は固定抵抗値に
比して耐環境性に劣り、経時変化（抵抗値変化）を招き
易く、使用時における温度表示の信頼が乏しい。
を必要としているが、一般に可変抵抗値は固定抵抗値に
比して耐環境性に劣り、経時変化（抵抗値変化）を招き
易く、使用時における温度表示の信頼が乏しい。
更に、可変抵抗値13は可動部を有しているため、半
導体集積化に不向きであり、抵抗値−周波数変換回路１
や分周回路2,4と共にワンチップ化ができず、可変抵抗
器103は外付けのディスクリート部品として実装しなけ
ればならない。このため、体温計等に適用する場合に
は、小型化の障害になると共に、部品点数の増大により
製品コストの上昇に繋がる。
導体集積化に不向きであり、抵抗値−周波数変換回路１
や分周回路2,4と共にワンチップ化ができず、可変抵抗
器103は外付けのディスクリート部品として実装しなけ
ればならない。このため、体温計等に適用する場合に
は、小型化の障害になると共に、部品点数の増大により
製品コストの上昇に繋がる。
そこで、上記問題点に鑑み、本発明の課題は、初期調
整可変抵抗器を用いずに、抵抗値のバラツキのある基準
抵抗と感温抵抗を用いてもそれらの抵抗比を見かけ上一
定値にすることにより、初期調整作業の容易化，表示精
度の経時変化の抑制，半導体集積化及び低コスト化を実
現し得る測温計を提供することにある。
整可変抵抗器を用いずに、抵抗値のバラツキのある基準
抵抗と感温抵抗を用いてもそれらの抵抗比を見かけ上一
定値にすることにより、初期調整作業の容易化，表示精
度の経時変化の抑制，半導体集積化及び低コスト化を実
現し得る測温計を提供することにある。
上記課題を解決するために、本発明の講じた手段は、
計数手段をセット付き計数手段とし、製品毎の抵抗値バ
ラツキ補正データをセット付き計数手段に基準信号の計
数動作に先立って初期値として設定するようにしてい
る。
計数手段をセット付き計数手段とし、製品毎の抵抗値バ
ラツキ補正データをセット付き計数手段に基準信号の計
数動作に先立って初期値として設定するようにしてい
る。
即ち、本発明は、基準抵抗の抵抗値に基づく周波数を
持つ基準信号と温度に感応して抵抗値変化する感温抵抗
の抵抗値に基づく周波数を持つ温度検出信号とを切り換
え可能に発生する抵抗値−周波数変換手段と、所定の計
数時間に亘り上記基準信号を計数した後、リセット信号
によりリセットされて上記所定の計数時間に亘り上記温
度検出信号を計数するセット付き計数手段と、上記基準
信号の計数動作に先立って上記セット付き計数手段に対
して抵抗値バラツキ補正データを初期値として設定する
初期値設定手段とを有し、上記セット付き計数手段によ
る上記基準信号の計数値と上記温度検出信号の計数値と
の比に基づいて温度を表示する測温計において、上記初
期値設定手段は、上記抵抗値バラツキ補正データを論理
信号として作成する補正データ作成手段と、上記基準信
号の計数動作に先立ってセットタイミング信号により上
記補正データ作成手段から出力された上記論理信号を初
期値として設定制御する初期値設定制御手段と、を有し
て成ることを特徴とする。
持つ基準信号と温度に感応して抵抗値変化する感温抵抗
の抵抗値に基づく周波数を持つ温度検出信号とを切り換
え可能に発生する抵抗値−周波数変換手段と、所定の計
数時間に亘り上記基準信号を計数した後、リセット信号
によりリセットされて上記所定の計数時間に亘り上記温
度検出信号を計数するセット付き計数手段と、上記基準
信号の計数動作に先立って上記セット付き計数手段に対
して抵抗値バラツキ補正データを初期値として設定する
初期値設定手段とを有し、上記セット付き計数手段によ
る上記基準信号の計数値と上記温度検出信号の計数値と
の比に基づいて温度を表示する測温計において、上記初
期値設定手段は、上記抵抗値バラツキ補正データを論理
信号として作成する補正データ作成手段と、上記基準信
号の計数動作に先立ってセットタイミング信号により上
記補正データ作成手段から出力された上記論理信号を初
期値として設定制御する初期値設定制御手段と、を有し
て成ることを特徴とする。
本発明に係る測温計もまた従来と同様に、一定温度下
において基準抵抗の計数値と感温抵抗の計数値との比が
製品間でバラツキなく一定値となるように調整する必要
があるが、従来のようにもともと基準抵抗と感温抵抗と
の比（抵抗比）を可変抵抗器の調整により一定値にして
おくのではなく、同じセット付き計数手段での計数値の
比が一定となるように製品固有の抵抗値バラツキ補正デ
ータを基準信号の計数動作に先立ってセット付き計数手
段へ送り込みセットするようにしている。
において基準抵抗の計数値と感温抵抗の計数値との比が
製品間でバラツキなく一定値となるように調整する必要
があるが、従来のようにもともと基準抵抗と感温抵抗と
の比（抵抗比）を可変抵抗器の調整により一定値にして
おくのではなく、同じセット付き計数手段での計数値の
比が一定となるように製品固有の抵抗値バラツキ補正デ
ータを基準信号の計数動作に先立ってセット付き計数手
段へ送り込みセットするようにしている。
従来の抵抗値のバラツキを無くす補正の仕方が検査工
程において抵抗値自体の増減によるものであるのに対
し、本発明の方法の仕方は、検査工程において実際温度
値と表示温度値を合致させるような製品固有の抵抗値バ
ラツキ補正データを決定することと、その補正データを
温度測定時（使用時）において初期値としてセット付き
計数手段へ設定することである。
程において抵抗値自体の増減によるものであるのに対
し、本発明の方法の仕方は、検査工程において実際温度
値と表示温度値を合致させるような製品固有の抵抗値バ
ラツキ補正データを決定することと、その補正データを
温度測定時（使用時）において初期値としてセット付き
計数手段へ設定することである。
検査工程においては、一定温度下で温度を測定し、そ
の温度表示値が一定温度値に一致する固有の抵抗値バラ
ツキ補正用データを決定する。この補正用データの決定
過程では、補正データ作成手段から作成される補正デー
タの論理信号を変えて異なる初期値をセット付き計数手
段に設定することを繰り返しことにより、やがて固有の
補正データを見出すことができる。論理信号の変え方は
降順又は昇順とすれば、補正データを容易に見出すこと
ができる。かかる場合、初期値設定手段は、補正データ
作成手段の外に、基準信号の計数動作に先立ってセット
タイミング信号により補正データ作成手段から出力され
た論理信号を初期値として設定制御する初期値設定制御
手段を具備しているため、補正データ作成手段により論
理信号が作成されただけでは直ぐさまセットされるので
はなく、セットタイミング信号によってはじめて初期値
がセットされるようになっている。このため、補正デー
タの変更中に論理信号が部分的に変わっても、それが初
期値として設定されてしまうことがなく、補正データの
決定作業を支障なく行うことができる。
の温度表示値が一定温度値に一致する固有の抵抗値バラ
ツキ補正用データを決定する。この補正用データの決定
過程では、補正データ作成手段から作成される補正デー
タの論理信号を変えて異なる初期値をセット付き計数手
段に設定することを繰り返しことにより、やがて固有の
補正データを見出すことができる。論理信号の変え方は
降順又は昇順とすれば、補正データを容易に見出すこと
ができる。かかる場合、初期値設定手段は、補正データ
作成手段の外に、基準信号の計数動作に先立ってセット
タイミング信号により補正データ作成手段から出力され
た論理信号を初期値として設定制御する初期値設定制御
手段を具備しているため、補正データ作成手段により論
理信号が作成されただけでは直ぐさまセットされるので
はなく、セットタイミング信号によってはじめて初期値
がセットされるようになっている。このため、補正デー
タの変更中に論理信号が部分的に変わっても、それが初
期値として設定されてしまうことがなく、補正データの
決定作業を支障なく行うことができる。
本発明では、温度測定時には、決定された補正データ
を補正データ作成手段から論理信号として出力し、初期
値設定制御手段により初期値を設定するものであるが、
補正データを初期値として設定するタイミングは初期値
設定制御手段のセットタイミング信号により決定できる
ため、基準信号の計数動作に先立って初期値を設定でき
る。温度検出信号の計数時にはセットタイミング信号が
加わらないので、補正データの初期値設定は行われな
い。
を補正データ作成手段から論理信号として出力し、初期
値設定制御手段により初期値を設定するものであるが、
補正データを初期値として設定するタイミングは初期値
設定制御手段のセットタイミング信号により決定できる
ため、基準信号の計数動作に先立って初期値を設定でき
る。温度検出信号の計数時にはセットタイミング信号が
加わらないので、補正データの初期値設定は行われな
い。
次に、本発明の実施例を添付図面に基づいて説明す
る。
る。
第１図は本発明の実施例に係る電子温度計を示すブロ
ック図である。本例の電子温度計において、抵抗値−周
波数変換回路１は、第１フェーズで基準抵抗102を選択
してその抵抗値に応じた周波数を持つ基準信号を発生す
ると共に、切り換え制御により第２フェーズでサーミス
タ101を選択してその抵抗値に応じた周波数を持つ温度
検出信号を発生する。第１フェーズにおいては、基準信
号が分周回路４により決定される一定時間に亘りセット
付き分周回路２で計数され、その計数値は一時記憶され
る。そして、リセット信号ライン６に加えられたリセッ
ト信号によりセット付き分周回路２の計数値がリセット
される。
ック図である。本例の電子温度計において、抵抗値−周
波数変換回路１は、第１フェーズで基準抵抗102を選択
してその抵抗値に応じた周波数を持つ基準信号を発生す
ると共に、切り換え制御により第２フェーズでサーミス
タ101を選択してその抵抗値に応じた周波数を持つ温度
検出信号を発生する。第１フェーズにおいては、基準信
号が分周回路４により決定される一定時間に亘りセット
付き分周回路２で計数され、その計数値は一時記憶され
る。そして、リセット信号ライン６に加えられたリセッ
ト信号によりセット付き分周回路２の計数値がリセット
される。
次に、第２フェーズにおいては、温度検出信号が分周
回路４により決定される一定時間に亘りセット付き分周
回路２で計数され、一時記憶された基準抵抗102に基づ
く計数値とサーミスタ101に基づく計数値との比から温
度表示が行われるが、本例ではセット付き分周回路２の
分周比を制御回路（初期値設定手段）３からの出力によ
り変更可能となっている。つまり、基準抵抗102を用い
る場合の分周回路２の分周比とサーミスタ101を用いる
場合の分周回路２の分周比を制御回路３からのセット出
力により可変させて計数値を補正するものである。
回路４により決定される一定時間に亘りセット付き分周
回路２で計数され、一時記憶された基準抵抗102に基づ
く計数値とサーミスタ101に基づく計数値との比から温
度表示が行われるが、本例ではセット付き分周回路２の
分周比を制御回路（初期値設定手段）３からの出力によ
り変更可能となっている。つまり、基準抵抗102を用い
る場合の分周回路２の分周比とサーミスタ101を用いる
場合の分周回路２の分周比を制御回路３からのセット出
力により可変させて計数値を補正するものである。
第２図は第１図の分周回路２及び制御回路（初期値設
定手段）３の具体的な構成を示す回路図である。
定手段）３の具体的な構成を示す回路図である。
第２図において、セット優先形リセット付き1/2分周
回路11,12,13,14とリセット付き1/2分周回路15はカスケ
ード接続されており、入力ライン36から入力された基準
信号又は温度検出信号を計数するものであり、第１図に
示すセット付き分周回路２に相当している。入力ライン
36には第１図のNORゲート44の出力が供給され、リセッ
ト付き1/2分周回路15の出力である分周出力ライン37を
用いて温度表示が行われる。各1/2分周回路11〜15のリ
セット端子Ｒにはリセット信号入力ライン38（６）が接
続されており、温度測定毎に合わせたタイミングでリセ
ット信号を加えて1/2分周回路11〜15をリセットする。
回路11,12,13,14とリセット付き1/2分周回路15はカスケ
ード接続されており、入力ライン36から入力された基準
信号又は温度検出信号を計数するものであり、第１図に
示すセット付き分周回路２に相当している。入力ライン
36には第１図のNORゲート44の出力が供給され、リセッ
ト付き1/2分周回路15の出力である分周出力ライン37を
用いて温度表示が行われる。各1/2分周回路11〜15のリ
セット端子Ｒにはリセット信号入力ライン38（６）が接
続されており、温度測定毎に合わせたタイミングでリセ
ット信号を加えて1/2分周回路11〜15をリセットする。
セット優先形リセット付き1/2分周回路11,12,13,14の
セット入力端子にはNAND回路19,18,17,16の出力が接続
されており、NAND回路19,18,17,16の一方の入力にはセ
ットタイミング信号入力ライン39が、他方の入力にはイ
ンバータ回路20,21,22,23を介して補正データ信号入力
ライン32,33,34,35（第１図の7,8,9,10に相当）がそれ
ぞれ接続している。セットタイミング信号は補正データ
を初期値と設定する際加えられるが、温度検出信号の計
数時にはセットタイミング信号が加わらず、ライン39は
低レベルに固定される。補正データ信号入力ライン32,3
3,34,35にはライン・プルアップ用のＰチャネル形MOSト
ランジスタ27,26,25,24のソース端子が接続されてお
り、各MOSトランジスタのゲートはVSS（グランド電位）
に、ドレインはVDD（電源電位）にそれぞれ接続されて
いる。電源投入により、Ｐチャネル形MOSトランジスタ2
7,26,25,24が高抵抗として機能し、ライン32,33,34,35
が高電位VDDにプルアップルされる。ここで、補正デー
タ信号入力ライン32,33,34,35,Pチャネル形MOSトランジ
スタ27,26,25,24及びインバータ20,21,22,23は初期値設
定手段の補正データ作成手段を構成しており、セットタ
イミング信号入力ライン39及びNANDゲート19,18,17,16
は初期値設定手段の初期値設定制御手段を構成してい
る。
セット入力端子にはNAND回路19,18,17,16の出力が接続
されており、NAND回路19,18,17,16の一方の入力にはセ
ットタイミング信号入力ライン39が、他方の入力にはイ
ンバータ回路20,21,22,23を介して補正データ信号入力
ライン32,33,34,35（第１図の7,8,9,10に相当）がそれ
ぞれ接続している。セットタイミング信号は補正データ
を初期値と設定する際加えられるが、温度検出信号の計
数時にはセットタイミング信号が加わらず、ライン39は
低レベルに固定される。補正データ信号入力ライン32,3
3,34,35にはライン・プルアップ用のＰチャネル形MOSト
ランジスタ27,26,25,24のソース端子が接続されてお
り、各MOSトランジスタのゲートはVSS（グランド電位）
に、ドレインはVDD（電源電位）にそれぞれ接続されて
いる。電源投入により、Ｐチャネル形MOSトランジスタ2
7,26,25,24が高抵抗として機能し、ライン32,33,34,35
が高電位VDDにプルアップルされる。ここで、補正デー
タ信号入力ライン32,33,34,35,Pチャネル形MOSトランジ
スタ27,26,25,24及びインバータ20,21,22,23は初期値設
定手段の補正データ作成手段を構成しており、セットタ
イミング信号入力ライン39及びNANDゲート19,18,17,16
は初期値設定手段の初期値設定制御手段を構成してい
る。
第１フェーズの基準信号の計数時には、その計数開始
に先立ってセットタイミング信号入力ライン39が一時的
に高レベルとなり、補正データ信号入力ライン32,33,3
4,35上に生成された補正データの論理信号（４ビット）
がセット優先形リセット付き1/2分周回路11,12,13,14の
セット入力端子に供給されて初期値としてセットされ
る。初期値のセットの後、入力ライン36に入力する基準
信号が計数されるので、その初期値に加算されることに
なる。基準信号の計数が終わると、リセット信号入力ラ
イン６にリセット信号が加わりセット付き分周回路２の
計数値がリセットされる。次に、第２フェーズにおいて
は、セットタイミング信号ライン39は低レベルのままで
あり、補正データは初期値としてセットされず、温度検
出信号が計数される。
に先立ってセットタイミング信号入力ライン39が一時的
に高レベルとなり、補正データ信号入力ライン32,33,3
4,35上に生成された補正データの論理信号（４ビット）
がセット優先形リセット付き1/2分周回路11,12,13,14の
セット入力端子に供給されて初期値としてセットされ
る。初期値のセットの後、入力ライン36に入力する基準
信号が計数されるので、その初期値に加算されることに
なる。基準信号の計数が終わると、リセット信号入力ラ
イン６にリセット信号が加わりセット付き分周回路２の
計数値がリセットされる。次に、第２フェーズにおいて
は、セットタイミング信号ライン39は低レベルのままで
あり、補正データは初期値としてセットされず、温度検
出信号が計数される。
製造された電子温度計につきその固有の補正データを
決定する検査工程（初期調整工程）においては、特定の
温度で測定し、温度表示が一致するまで補正データの論
理信号を変化させ、一致したところで補正データを固定
する。補正データを決める手順として、例えば、最初は
すべての1/2分周回路11,12,13,14をセットした後温度測
定し、表示誤差が少なくなるように降順でセット解除し
ながら温度測定を繰り返し、測定温度表示が測定温度に
なったところで、補正データが決定される。ここで、補
正データの論理信号を初期値として設定するには、セッ
トタイミング信号の印加が必要となっているので、検査
工程において論理信号の変更が終了しない前に1/2分周
回路11,12,13,14に初期値がセットされてしまう不都合
を無くすことができる。このため、補正データの決定作
業を支障なく行うことができる。
決定する検査工程（初期調整工程）においては、特定の
温度で測定し、温度表示が一致するまで補正データの論
理信号を変化させ、一致したところで補正データを固定
する。補正データを決める手順として、例えば、最初は
すべての1/2分周回路11,12,13,14をセットした後温度測
定し、表示誤差が少なくなるように降順でセット解除し
ながら温度測定を繰り返し、測定温度表示が測定温度に
なったところで、補正データが決定される。ここで、補
正データの論理信号を初期値として設定するには、セッ
トタイミング信号の印加が必要となっているので、検査
工程において論理信号の変更が終了しない前に1/2分周
回路11,12,13,14に初期値がセットされてしまう不都合
を無くすことができる。このため、補正データの決定作
業を支障なく行うことができる。
なお、本例では補正を行うセット優先形リセット付き
1/2分周回路11,12,13,14は４段であり、４ビット＝16通
りの補正データとなるが、目的の精度や抵抗比のバラツ
キ具合に応じて適宜段数を増減できる。また、本発明の
応用範囲としては、温度計のみならず、圧力計，低温計
などの各種測定器の初期調整にも適用でき、時計などの
論理調整などにも用いることができる。
1/2分周回路11,12,13,14は４段であり、４ビット＝16通
りの補正データとなるが、目的の精度や抵抗比のバラツ
キ具合に応じて適宜段数を増減できる。また、本発明の
応用範囲としては、温度計のみならず、圧力計，低温計
などの各種測定器の初期調整にも適用でき、時計などの
論理調整などにも用いることができる。
以上説明したように、本発明に係る測温計において
は、初期調整可変抵抗器が用いられておらず、基準信号
の計数動作に先立ってセット付き計数手段に対して抵抗
値バラツキ補正データを初期値として設定する初期値設
定手段を有しているので、初期調整手段の容易化，表示
精度の経時変化の抑制，半導体集積化及び低コスト化を
実現できるものであるが、特に、初期値設定手段を、抵
抗値バラツキ補正データを論理信号として作成する補正
データ作成手段と、基準信号の計数動作に先立ってセッ
トタイミング信号により補正データ作成手段から出力さ
れた論理信号を初期値として設定制御する初期値設定制
御手段とを有することを特徴としており、次のような特
有の効果を奏する。
は、初期調整可変抵抗器が用いられておらず、基準信号
の計数動作に先立ってセット付き計数手段に対して抵抗
値バラツキ補正データを初期値として設定する初期値設
定手段を有しているので、初期調整手段の容易化，表示
精度の経時変化の抑制，半導体集積化及び低コスト化を
実現できるものであるが、特に、初期値設定手段を、抵
抗値バラツキ補正データを論理信号として作成する補正
データ作成手段と、基準信号の計数動作に先立ってセッ
トタイミング信号により補正データ作成手段から出力さ
れた論理信号を初期値として設定制御する初期値設定制
御手段とを有することを特徴としており、次のような特
有の効果を奏する。
補正データを決定する調整工程においては、初期値
設定制御手段を具備しているため、補正データ作成手段
により論理信号が作成されただけではすぐにセットされ
ず、セットタイミング信号によってはじめて初期値がセ
ットされるようになっている。このため、補正データの
変更中に論理信号が部分的に変わっても、それが初期値
として設定されてしまうことがなく、補正データの決定
作業を支障なく行うことができる。
設定制御手段を具備しているため、補正データ作成手段
により論理信号が作成されただけではすぐにセットされ
ず、セットタイミング信号によってはじめて初期値がセ
ットされるようになっている。このため、補正データの
変更中に論理信号が部分的に変わっても、それが初期値
として設定されてしまうことがなく、補正データの決定
作業を支障なく行うことができる。
温度検出信号の計数動作に先立って補正データを初
期値として設定するのではなく、セットタイミング信号
により基準信号の計数動作に先立って補正データを初期
値として設定している。温度検出信号の計数過程の方に
初期値を設定しても、検査時温度では表示誤差は示さな
いものの、感温抵抗は温度−抵抗値特性が大きいのでそ
の余の温度では表示誤差が大きく出てしまう。これに対
し、本発明では基準信号の計数動作に先立って補正デー
タを初期値を設定しているので、基準抵抗の温度変化は
無視できる程であり、それ故、広い温度範囲に亘り温度
表示誤差を無くすことができる。
期値として設定するのではなく、セットタイミング信号
により基準信号の計数動作に先立って補正データを初期
値として設定している。温度検出信号の計数過程の方に
初期値を設定しても、検査時温度では表示誤差は示さな
いものの、感温抵抗は温度−抵抗値特性が大きいのでそ
の余の温度では表示誤差が大きく出てしまう。これに対
し、本発明では基準信号の計数動作に先立って補正デー
タを初期値を設定しているので、基準抵抗の温度変化は
無視できる程であり、それ故、広い温度範囲に亘り温度
表示誤差を無くすことができる。
第１図は、本発明の実施例に係る電子温度計を示すブロ
ック図である。 第２は、第１図に示す分周回路及び制御回路の具体的な
構成を示す回路図である。 第３図は、従来の電子温度計を示すブロック図である。 〔符号の説明〕 １……抵抗値−周波数変換回路 ２……セット付き分周回路 ３……制御回路（初期値設定手段） ４……分周回路 ５……発振回路 6,38……リセット信号入力ライン 7,8,9,10（32,33,34,35）……補正データ信号入力ライ
ン 11,12,13,14……セット優先形リセット付き1/2分周回路 15……リセット付き1/2分周回路 16,17,18,19……NAND回路（初期値設定制御手段） 20,21,22,23……インバータ回路 24,25,26,27……ライン・プルアップ用のＰチャネル形M
OSトランジスタ 28,29,30,31……電源電位VDDに接続されている端子 39……セットタイミング信号入力ライン 40,41,42,43……グランド電位VSSに接続されている端子 101……サーミスタ（感温抵抗） 102……基準抵抗。
ック図である。 第２は、第１図に示す分周回路及び制御回路の具体的な
構成を示す回路図である。 第３図は、従来の電子温度計を示すブロック図である。 〔符号の説明〕 １……抵抗値−周波数変換回路 ２……セット付き分周回路 ３……制御回路（初期値設定手段） ４……分周回路 ５……発振回路 6,38……リセット信号入力ライン 7,8,9,10（32,33,34,35）……補正データ信号入力ライ
ン 11,12,13,14……セット優先形リセット付き1/2分周回路 15……リセット付き1/2分周回路 16,17,18,19……NAND回路（初期値設定制御手段） 20,21,22,23……インバータ回路 24,25,26,27……ライン・プルアップ用のＰチャネル形M
OSトランジスタ 28,29,30,31……電源電位VDDに接続されている端子 39……セットタイミング信号入力ライン 40,41,42,43……グランド電位VSSに接続されている端子 101……サーミスタ（感温抵抗） 102……基準抵抗。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 保坂 俊幸 長野県塩尻市大字塩尻町390番地 塩尻工 業株式会社内 (56)参考文献 特開 昭58−15134（ＪＰ，Ａ) 特開 昭55−160823（ＪＰ，Ａ) 特開 昭52−57857（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−124921（ＪＰ，Ａ) 特開 昭54−52583（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】基準抵抗の抵抗値に基づく周波数を持つ基
準信号と温度に感応して抵抗値変化する感温抵抗の抵抗
値に基づく周波数を持つ温度検出信号とを切り換え可能
に発生する抵抗値−周波数変換手段と、所定の計数時間
に亘り前記基準信号を計数した後、リセット信号により
リセットされて前記所定の計数時間に亘り前記温度検出
信号を計数するセット付き計数手段と、前記基準信号の
計数動作に先立って前記セット付き計数手段に対して抵
抗値バラツキ補正データを初期値として設定する初期値
設定手段とを有し、前記セット付き計数手段による前記
基準信号の計数値と前記温度検出信号の計数値との比に
基づいて温度を表示する測温計において、 前記初期値設定手段は、前記抵抗値バラツキ補正データ
を論理信号として作成する補正データ作成手段と、前記
基準信号の計数動作に先立ってセットタイミング信号に
より前記補正データ作成手段から出力された前記論理信
号を初期値として設定制御する初期値設定制御手段と、
を有して成ることを特徴とする測温計。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59017499A JPH0823510B2 (ja) | 1984-02-01 | 1984-02-01 | 測温計 |
| GB08501730A GB2157515B (en) | 1984-02-01 | 1985-01-23 | Electronic thermometer |
| US07/077,086 US4838707A (en) | 1984-02-01 | 1987-07-17 | Electronic Thermometer |
| SG630/89A SG63089G (en) | 1984-02-01 | 1989-09-11 | Measuring apparatus |
| HK981/89A HK98189A (en) | 1984-02-01 | 1989-12-14 | Measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59017499A JPH0823510B2 (ja) | 1984-02-01 | 1984-02-01 | 測温計 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6276317A Division JP2520094B2 (ja) | 1994-11-10 | 1994-11-10 | 計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60161538A JPS60161538A (ja) | 1985-08-23 |
| JPH0823510B2 true JPH0823510B2 (ja) | 1996-03-06 |
Family
ID=11945680
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59017499A Expired - Lifetime JPH0823510B2 (ja) | 1984-02-01 | 1984-02-01 | 測温計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0823510B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6364232B2 (ja) * | 2014-05-16 | 2018-07-25 | 株式会社日立産機システム | 校正システム |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5257857A (en) * | 1975-11-07 | 1977-05-12 | Tokico Ltd | Measured value correction circuit |
| JPS55160823A (en) * | 1979-06-04 | 1980-12-15 | Canon Inc | Temperature measurement system |
| JPS5815134A (ja) * | 1981-07-20 | 1983-01-28 | Omron Tateisi Electronics Co | 電子温度計 |
| JPS58124921A (ja) * | 1982-01-22 | 1983-07-25 | Citizen Watch Co Ltd | サ−ミスタ温度計 |
-
1984
- 1984-02-01 JP JP59017499A patent/JPH0823510B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60161538A (ja) | 1985-08-23 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |