JPH08201841A - 表示装置及びその検査方法 - Google Patents

表示装置及びその検査方法

Info

Publication number
JPH08201841A
JPH08201841A JP7272628A JP27262895A JPH08201841A JP H08201841 A JPH08201841 A JP H08201841A JP 7272628 A JP7272628 A JP 7272628A JP 27262895 A JP27262895 A JP 27262895A JP H08201841 A JPH08201841 A JP H08201841A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wiring board
output terminal
signal
display device
drive circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP7272628A
Other languages
English (en)
Inventor
Katsuaki Kuwashiro
克明 桑代
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Toshiba Development and Engineering Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Electronic Engineering Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Electronic Engineering Co Ltd filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP7272628A priority Critical patent/JPH08201841A/ja
Priority to TW084112100A priority patent/TW445389B/zh
Priority to US08/562,592 priority patent/US5945984A/en
Priority to KR1019950044504A priority patent/KR100235477B1/ko
Publication of JPH08201841A publication Critical patent/JPH08201841A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/34—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
    • G09G3/36—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source using liquid crystals
    • G09G3/3611—Control of matrices with row and column drivers
    • G09G3/3685—Details of drivers for data electrodes
    • G09G3/3688—Details of drivers for data electrodes suitable for active matrices only
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1343—Electrodes
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2300/00—Aspects of the constitution of display devices
    • G09G2300/08—Active matrix structure, i.e. with use of active elements, inclusive of non-linear two terminal elements, in the pixels together with light emitting or modulating elements
    • G09G2300/0876—Supplementary capacities in pixels having special driving circuits and electrodes instead of being connected to common electrode or ground; Use of additional capacitively coupled compensation electrodes
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2310/00—Command of the display device
    • G09G2310/02—Addressing, scanning or driving the display screen or processing steps related thereto
    • G09G2310/0264—Details of driving circuits
    • G09G2310/027—Details of drivers for data electrodes, the drivers handling digital grey scale data, e.g. use of D/A converters
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00—Printed circuits
    • H05K1/02—Details
    • H05K1/11—Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00—Printed circuits
    • H05K1/02—Details
    • H05K1/11—Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K1/117—Pads along the edge of rigid circuit boards, e.g. for pluggable connectors
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00—Printed circuits
    • H05K1/02—Details
    • H05K1/14—Structural association of two or more printed circuits
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/36—Assembling printed circuits with other printed circuits
    • H05K3/361—Assembling flexible printed circuits with other printed circuits

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【解決手段】 この発明は、複数の表示画素が配列され
た表示パネルと、入力されるシリアル画像信号を直並列
変換して表示パネルに出力する複数の駆動回路素子と、
各駆動回路素子のそれぞれにシリアル画像信号並びに制
御信号を出力する複数の信号出力端子を含む配線基板と
を備えた表示装置であって、配線基板は信号出力端子近
傍にダミー出力端子を備え、一ダミー出力端子は配線基
板内で一信号出力端子と電気的に接続され、他の一ダミ
ー端子は配線基板内で他の一信号出力端子と電気的に接
続されている。 【効果】 本発明によれば、容易に検査が実施でき、し
かも表示不良の原因が容易に特定できるので、修復に要
する時間を短縮できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、複数の表示画素
が配列されて成る表示装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】液晶表示装置に代表される表示装置は、
薄型、軽量、低消費電力の特徴を生かして、パーソナル
コンピュータやワードプロセッサ等の表示装置として、
ＴＶ表示装置として、更に投射型の表示装置として各種
分野で利用されている。
【０００３】中でも、各表示画素にスイッチ素子が電気
的に接続されて成るアクティブマトリックス型液晶表示
装置は、隣接画素間でクロストークのない良好な表示画
像を実現できることから、盛んに研究・開発が行われて
いる。
【０００４】アクティブマトリックス型液晶表示装置
は、複数の表示画素から成る液晶パネルと、液晶パネル
の各表示画素のそれぞれにアナログ画像信号を供給する
Ｘ−駆動回路部を備えている。このＸ−駆動回路部は、
例えば、フレキシブルフィルム上に信号線駆動ＩＣが搭
載されて成るＸ側のＴＡＢ（Tape Automated Bondin
g）、このＸ−ＴＡＢに数ビットのシリアル画像データ
及び制御信号を供給するＸ−配線基板とを含み、Ｘ−Ｔ
ＡＢの出力端子が表示パネルの信号線と異方性導電膜等
を介して接続され、またＸ−ＴＡＢの入力端子がＸ−配
線基板に半田等で接続されている。これにより、Ｘ−駆
動回路部は、例えばシリアルに入力されるシリアル画像
データを順次直並列変換し、更にディジタル／アナログ
変換して各表示画素のそれぞれに対応するアナログ画像
信号と成して液晶パネルに供給する。
【０００５】また、アクティブマトリックス型液晶表示
装置は、表示パネルの各表示画素を行毎に順次選択する
Ｙ−駆動回路部を備え、このＹ−駆動回路部もフレキシ
ブルフィルム上に駆動ＩＣが搭載されて成るＹ側のＴＡ
Ｂ、このＹ−ＴＡＢに制御信号を供給するＹ−配線基板
とを含み、Ｙ−ＴＡＢの出力端子が表示パネルと異方性
導電膜等を介して接続され、Ｙ−ＴＡＢの入力端子がＹ
−配線基板に半田等で接続されている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記した表
示装置においては、十分な品質確保のため、製品検査が
必要となる。例えば、表示装置に特定の表示画像を出画
させ、目視等により表示画像を検査し、良／不良の区別
をする。そして、駆動ＩＣや配線基板等の交換により修
復可能な表示装置については、各部品をそれぞれ交換す
ることで表示装置を修復していた。
【０００７】しかしながら、従来では、表示不良が表示
パネルに起因するものか、あるいは駆動回路部に起因す
るものであるかは、表示状態によって特定できるもの
の、駆動ＩＣに起因するものか、配線基板に起因するも
のか、または他の駆動回路基板に起因するものか等、そ
の特定が困難であったため、表示装置の修復には多大な
時間を要していた。
【０００８】この発明は、上記した技術課題に対処し成
されたもので、容易に検査が実施でき、しかも短時間で
修復が可能な表示装置を提供することを目的としてい
る。
【０００９】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は、
複数の表示画素が配列された表示パネルと、入力される
シリアル画像信号を直並列変換して前記表示パネルに出
力する複数の駆動回路素子と、各前記駆動回路素子のそ
れぞれにシリアル画像信号並びに制御信号を出力する複
数の信号出力端子を含む配線基板とを備えた表示装置に
おいて、前記配線基板は前記信号出力端子近傍に複数の
ダミー出力端子を備え、前記一ダミー出力端子は前記配
線基板内で前記一信号出力端子と電気的に接続され、前
記他の一ダミー端子は前記配線基板内で前記他の一信号
出力端子と電気的に接続されていることを特徴とした表
示装置である。
【００１０】請求項２記載の発明は、複数の表示画素が
配列された表示パネルと、入力されるシリアル画像信号
を直並列変換して前記表示パネルに出力する複数の駆動
回路素子と、各前記駆動回路素子のそれぞれにシリアル
画像信号並びに制御信号を出力する複数の信号出力端子
を含む配線基板とを備えた表示装置において、前記配線
基板は前記複数の信号出力端子の両側にそれぞれ一また
は複数のダミー出力端子を備え、前記一ダミー出力端子
は前記配線基板内で前記一信号出力端子と電気的に接続
され、前記他の一ダミー端子は前記配線基板内で前記他
の一信号出力端子と電気的に接続されていることを特徴
とした表示装置である。
【００１１】請求項３記載の発明は、複数の表示画素が
配列された表示パネルと、入力されるシリアル画像信号
を直並列変換して前記表示パネルに出力する複数の駆動
回路素子と、各前記駆動回路素子のそれぞれにシリアル
画像信号並びに制御信号を出力する複数の信号出力端子
を含む配線基板とを備えた表示装置において、前記配線
基板は前記信号出力端子の近傍に一のダミー出力端子を
備え、前記ダミー出力端子は前記配線基板内で前記信号
出力端子と電気的に接続されていることを特徴とした表
示装置である。
【００１２】請求項４記載の発明は、前記駆動回路素子
は、フレキシブル基板上に駆動ＩＣが搭載され、前記配
線基板の前記信号出力端子に対応する信号入力端子及び
前記ダミー出力端子に対応するダミー入力端子とを備え
たことを特徴とした請求項１から請求項３のうち一の請
求項記載の表示装置である。
【００１３】請求項５記載の発明は、前記駆動回路素子
は、フレキシブル基板上に駆動ＩＣが搭載され、前記フ
レキシブル基板は、前記表示パネルの一辺に沿って複数
配列され、前記ダミー出力端子は、前記複数の信号出力
端子の側方と、隣接する前記フレキシブル基板の間に配
されたことを特徴とした請求項１から請求項３のうち一
の請求項記載の表示装置である。
【００１４】請求項６記載の発明は、前記駆動回路素子
は、前記表示パネルに搭載され、前記表示パネルは前記
配線基板の前記信号出力端子に対応する信号入力端子及
び前記ダミー出力端子に対応するダミー入力端子とを備
えたことを特徴とした請求項１から請求項３のうち一の
請求項記載の表示装置である。
【００１５】請求項７記載の発明は、前記駆動回路素子
は、前記表示パネルに搭載され、前記駆動回路素子は、
前記表示パネルの一辺に沿って複数配列され、前記ダミ
ー出力端子は、前記複数の信号出力端子の側方と隣接す
る前記駆動回路素子の信号出力端子の間に配されたこと
を特徴とした請求項１から請求項３のうち一の請求項記
載の表示装置である。
【００１６】請求項８記載の発明は、前記ダミー出力端
子の大きさを、前記信号出力端子の大きさにより大きく
形成したことを特徴とした請求項１から請求項３のうち
一の請求項記載の表示装置である。
【００１７】請求項９記載の発明は、複数の表示画素が
配列された表示パネルと、前記表示パネルに走査パルス
を供給する複数の駆動回路素子と、各前記駆動回路素子
のそれぞれに制御信号を出力する複数の信号出力端子を
含む配線基板とを備えた表示装置において、前記配線基
板は前記信号出力端子近傍に複数のダミー出力端子を備
え、前記一ダミー出力端子は前記配線基板内で前記一信
号出力端子と電気的に接続され、前記他の一ダミー端子
は前記配線基板内で前記他の一信号出力端子と電気的に
接続されていることを特徴とした表示装置である。
【００１８】請求項１０記載の発明は、複数の表示画素
が配列された表示パネルと、前記表示パネルに走査パル
スを供給する複数の駆動回路素子と、各前記駆動回路素
子のそれぞれに制御信号を出力する複数の信号出力端子
を含む配線基板とを備えた表示装置において、前記配線
基板は前記複数の信号出力端子の両側にそれぞれ一また
は複数のダミー出力端子を備え、前記一ダミー出力端子
は前記配線基板内で前記一信号出力端子と電気的に接続
され、前記他の一ダミー端子は前記配線基板内で前記他
の一信号出力端子と電気的に接続されていることを特徴
とした表示装置である。
【００１９】請求項１１記載の発明は、複数の表示画素
が配列された表示パネルと、前記表示パネルに走査パル
スを供給する複数の駆動回路素子と、各前記駆動回路素
子のそれぞれに制御信号を出力する複数の信号出力端子
を含む配線基板とを備えた表示装置において、前記配線
基板は前記信号出力端子の近傍に一のダミー出力端子を
備え、前記ダミー出力端子は前記配線基板内で前記信号
出力端子と電気的に接続されていることを特徴とした表
示装置である。
【００２０】請求項１２記載の発明は、前記駆動回路素
子は、フレキシブル基板上に駆動ＩＣが搭載され、前記
配線基板の前記信号出力端子に対応する信号入力端子及
び前記ダミー出力端子に対応するダミー入力端子とを備
えたことを特徴とした請求項９から請求項１１のうち一
の請求項記載の表示装置である。
【００２１】請求項１３記載の発明は、前記駆動回路素
子は、フレキシブル基板上に駆動ＩＣが搭載され、前記
フレキシブル基板は、前記表示パネルの一辺に沿って複
数配列され、前記ダミー出力端子は、前記複数の信号出
力端子の側方と、隣接する前記フレキシブル基板の間に
配されたことを特徴とした請求項９から請求項１１のう
ち一の請求項記載の表示装置である。
【００２２】請求項１４記載の発明は、前記駆動回路素
子は、前記表示パネルに搭載され、前記表示パネルは前
記配線基板の前記信号出力端子に対応する信号入力端子
及び前記ダミー出力端子に対応するダミー入力端子とを
備えたことを特徴とした請求項９から請求項１１のうち
一の請求項記載の表示装置である。
【００２３】請求項１５記載の発明は、前記駆動回路素
子は、前記表示パネルに搭載され、前記駆動回路素子
は、前記表示パネルの一辺に沿って複数配列され、前記
ダミー出力端子は、前記複数の信号出力端子の側方と隣
接する前記駆動回路素子の信号出力端子の間に配された
ことを特徴とした請求項９から請求項１１のうち一の請
求項記載の表示装置である。
【００２４】請求項１６記載の発明は、前記ダミー出力
端子の大きさを、前記信号出力端子の大きさにより大き
く形成したことを特徴とした請求項９から請求項１１の
うち一の請求項記載の表示装置である。
【００２５】請求項１７記載の発明は、複数の表示画素
が配列された表示パネルと、入力されるシリアル画像信
号を直並列変換して前記表示パネルに出力する複数の駆
動回路素子と、各前記駆動回路素子のそれぞれにシリア
ル画像信号並びに制御信号を出力する複数の信号出力端
子を含む配線基板とを備えた表示装置において、前記配
線基板は前記信号出力端子近傍に複数の検査用出力端子
を備え、前記一検査用出力端子は前記配線基板内で前記
一信号出力端子と電気的に接続され、前記他の一検査用
端子は前記配線基板内で前記他の一信号出力端子と電気
的に接続されていることを特徴とした表示装置である。
【００２６】請求項１８記載の発明は、複数の表示画素
が配列された表示パネルと、入力されるシリアル画像信
号を直並列変換して前記表示パネルに出力する複数の駆
動回路素子と、各前記駆動回路素子のそれぞれにシリア
ル画像信号並びに制御信号を出力する複数の信号出力端
子を含む配線基板とを備えた表示装置において、前記配
線基板は前記複数の信号出力端子の両側にそれぞれ一ま
たは複数の検査用出力端子を備え、前記一検査用出力端
子は前記配線基板内で前記一信号出力端子と電気的に接
続され、前記他の一検査用端子は前記配線基板内で前記
他の一信号出力端子と電気的に接続されていることを特
徴とした表示装置である。
【００２７】請求項１９記載の発明は、複数の表示画素
が配列された表示パネルと、入力されるシリアル画像信
号を直並列変換して前記表示パネルに出力する複数の駆
動回路素子と、各前記駆動回路素子のそれぞれにシリア
ル画像信号並びに制御信号を出力する複数の信号出力端
子を含む配線基板とを備えた表示装置において、前記配
線基板は前記信号出力端子の近傍に一の検査用出力端子
を備え、前記検査用出力端子は前記配線基板内で前記信
号出力端子と電気的に接続されていることを特徴とした
表示装置である。
【００２８】請求項２０記載の発明は、前記駆動回路素
子は、フレキシブル基板上に駆動ＩＣが搭載され、前記
配線基板の前記信号出力端子に対応する信号入力端子及
び前記検査用出力端子に対応する検査用入力端子とを備
えたことを特徴とした請求項１７から請求項１９のうち
一の請求項記載の表示装置である。
【００２９】請求項２１記載の発明は、前記駆動回路素
子は、フレキシブル基板上に駆動ＩＣが搭載され、前記
フレキシブル基板は、前記表示パネルの一辺に沿って複
数配列され、前記検査用出力端子は、前記複数の信号出
力端子の側方と、隣接する前記フレキシブル基板の間に
配されたことを特徴とした請求項１７から請求項１９の
うち一の請求項記載の表示装置である。
【００３０】請求項２２記載の発明は、前記駆動回路素
子は、前記表示パネルに搭載され、前記表示パネルは前
記配線基板の前記信号出力端子に対応する信号入力端子
及び前記検査用出力端子に対応する検査用入力端子とを
備えたことを特徴とした請求項７から請求項１９のうち
一の請求項記載の表示装置である。
【００３１】請求項２３記載の発明は、前記駆動回路素
子は、前記表示パネルに搭載され、前記駆動回路素子
は、前記表示パネルの一辺に沿って複数配列され、前記
検査用出力端子は、前記複数の信号出力端子の側方と隣
接する前記駆動回路素子の信号出力端子の間に配された
ことを特徴とした請求項１７から請求項１９のうち一の
請求項記載の表示装置である。
【００３２】請求項２４記載の発明は、前記検査用出力
端子の大きさを、前記信号出力端子の大きさにより大き
く形成したことを特徴とした請求項１７から請求項１９
のうち一の請求項記載の表示装置である。
【００３３】請求項２５記載の発明は、複数の表示画素
が配列された表示パネルと、前記表示パネルに走査パル
スを供給する複数の駆動回路素子と、各前記駆動回路素
子のそれぞれに制御信号を出力する複数の信号出力端子
を含む配線基板とを備えた表示装置において、前記配線
基板は前記信号出力端子近傍に複数の検査用出力端子を
備え、前記一検査用出力端子は前記配線基板内で前記一
信号出力端子と電気的に接続され、前記他の一検査用端
子は前記配線基板内で前記他の一信号出力端子と電気的
に接続されていることを特徴とした表示装置である。
【００３４】請求項２６記載の発明は、複数の表示画素
が配列された表示パネルと、前記表示パネルに走査パル
スを供給する複数の駆動回路素子と、各前記駆動回路素
子のそれぞれに制御信号を出力する複数の信号出力端子
を含む配線基板とを備えた表示装置において、前記配線
基板は前記複数の信号出力端子の両側にそれぞれ一また
は複数の検査用出力端子を備え、前記一検査用出力端子
は前記配線基板内で前記一信号出力端子と電気的に接続
され、前記他の一検査用端子は前記配線基板内で前記他
の一信号出力端子と電気的に接続されていることを特徴
とした表示装置である。
【００３５】請求項２７記載の発明は、複数の表示画素
が配列された表示パネルと、前記表示パネルに走査パル
スを供給する複数の駆動回路素子と、各前記駆動回路素
子のそれぞれに制御信号を出力する複数の信号出力端子
を含む配線基板とを備えた表示装置において、前記配線
基板は前記複数の信号出力端子と近傍に一の検査用出力
端子を備え、前記検査用出力端子は前記配線基板内で前
記信号出力端子と電気的に接続されていることを特徴と
した表示装置である。
【００３６】請求項２８記載の発明は、前記駆動回路素
子は、フレキシブル基板上に駆動ＩＣが搭載され、前記
配線基板の前記信号出力端子に対応する信号入力端子及
び前記検査用出力端子に対応する検査用入力端子とを備
えたことを特徴とした請求項２５から請求項２７のうち
一の請求項記載の表示装置である。
【００３７】請求項２９記載の発明は、前記駆動回路素
子は、フレキシブル基板上に駆動ＩＣが搭載され、前記
フレキシブル基板は、前記表示パネルの一辺に沿って複
数配列され、前記検査用出力端子は、前記複数の信号出
力端子の側方と、隣接する前記フレキシブル基板の間に
配されたことを特徴とした請求項２５から請求項２７の
うち一の請求項記載の表示装置である。
【００３８】請求項３０記載の発明は、前記駆動回路素
子は、前記表示パネルに搭載され、前記表示パネルは前
記配線基板の前記信号出力端子に対応する信号入力端子
及び前記検査用出力端子に対応する検査用入力端子とを
備えたことを特徴とした請求項２５から請求項２７のう
ち一の請求項記載の表示装置。
【００３９】請求項３１記載の発明は、前記駆動回路素
子は、前記表示パネルに搭載され、前記駆動回路素子
は、前記表示パネルの一辺に沿って複数配列され、前記
検査用出力端子は、前記複数の信号出力端子の側方と隣
接する前記駆動回路素子の信号出力端子の間に配された
ことを特徴とした請求項２５から請求項２７のうち一の
請求項記載の表示装置である。
【００４０】請求項３２記載の発明は、前記検査用出力
端子の大きさを、前記信号出力端子の大きさにより大き
く形成したことを特徴とした請求項２５から請求項２７
のうち一の請求項記載の表示装置である。
【００４１】請求項３３記載の発明は、複数の表示画素
が配列された表示パネルと、入力されるシリアル画像信
号を直並列変換して前記表示パネルに出力する複数の駆
動回路素子と、各前記駆動回路素子のそれぞれにシリア
ル画像信号並びに制御信号を出力する複数の信号出力端
子を含む配線基板とを備えた表示装置の検査方法であっ
て、前記配線基板は前記信号出力端子近傍に複数のダミ
ー出力端子を備え、前記一ダミー出力端子は前記配線基
板内で前記一信号出力端子と電気的に接続され、前記他
の一ダミー端子は前記配線基板内で前記他の一信号出力
端子と電気的に接続され、前記ダミー端子に検査用器具
を当接して信号の流れの有無を検査することを特徴とし
た表示装置の検査方法である。
【００４２】請求項３４記載の発明は、複数の表示画素
が配列された表示パネルと、入力されるシリアル画像信
号を直並列変換して前記表示パネルに出力する複数の駆
動回路素子と、各前記駆動回路素子のそれぞれにシリア
ル画像信号並びに制御信号を出力する複数の信号出力端
子を含む配線基板とを備えた表示装置の検査方法であっ
て、前記配線基板は前記複数の信号出力端子の両側にそ
れぞれ一または複数のダミー出力端子を備え、前記一ダ
ミー出力端子は前記配線基板内で前記一信号出力端子と
電気的に接続され、前記他の一ダミー端子は前記配線基
板内で前記他の一信号出力端子と電気的に接続され、前
記ダミー端子に検査用器具を当接して信号の流れの有無
を検査することを特徴とした表示装置の検査方法であ
る。
【００４３】請求項３５記載の発明は、複数の表示画素
が配列された表示パネルと、入力されるシリアル画像信
号を直並列変換して前記表示パネルに出力する複数の駆
動回路素子と、各前記駆動回路素子のそれぞれにシリア
ル画像信号並びに制御信号を出力する複数の信号出力端
子を含む配線基板とを備えた表示装置の検査方法であっ
て、前記配線基板は前記信号出力端子の近傍に一のダミ
ー出力端子を備え、前記ダミー出力端子は前記配線基板
内で前記信号出力端子と電気的に接続され、前記ダミー
端子に検査用器具を当接して信号の流れの有無を検査す
ることを特徴とした表示装置の検査方法である。
【００４４】請求項３６記載の発明は、複数の表示画素
が配列された表示パネルと、前記表示パネルに走査パル
スを供給する複数の駆動回路素子と、各前記駆動回路素
子のそれぞれに制御信号を出力する複数の信号出力端子
を含む配線基板とを備えた表示装置の検査方法であっ
て、前記配線基板は前記信号出力端子近傍に複数のダミ
ー出力端子を備え、前記一ダミー出力端子は前記配線基
板内で前記一信号出力端子と電気的に接続され、前記他
の一ダミー端子は前記配線基板内で前記他の一信号出力
端子と電気的に接続され、前記ダミー端子に検査用器具
を当接して信号の流れの有無を検査することを特徴とし
た表示装置の検査方法である。
【００４５】請求項３７記載の発明は、複数の表示画素
が配列された表示パネルと、前記表示パネルに走査パル
スを供給する複数の駆動回路素子と、各前記駆動回路素
子のそれぞれに制御信号を出力する複数の信号出力端子
を含む配線基板とを備えた表示装置の検査方法であっ
て、前記配線基板は前記信号出力端子の近傍に一のダミ
ー出力端子を備え、前記ダミー出力端子は前記配線基板
内で前記信号出力端子と電気的に接続され、前記ダミー
端子に検査用器具を当接して信号の流れの有無を検査す
ることを特徴とした表示装置の検査方法である。
【００４６】請求項３８記載の発明は、複数の表示画素
が配列された表示パネルと、前記表示パネルに走査パル
スを供給する複数の駆動回路素子と、各前記駆動回路素
子のそれぞれに制御信号を出力する複数の信号出力端子
を含む配線基板とを備えた表示装置の検査方法であっ
て、前記配線基板は前記複数の信号出力端子の両側のど
ちらか一方に一のダミー出力端子を備え、前記ダミー出
力端子は前記配線基板内で前記信号出力端子と電気的に
接続され、前記ダミー端子に検査用器具を当接して信号
の流れの有無を検査することを特徴とした表示装置の検
査方法である。
【００４７】請求項３９記載の発明は、複数の表示画素
が配列された表示パネルと、入力されるシリアル画像信
号を直並列変換して前記表示パネルに出力する複数の駆
動回路素子と、各前記駆動回路素子のそれぞれにシリア
ル画像信号並びに制御信号を出力する複数の信号出力端
子を含む配線基板とを備えた表示装置の検査方法であっ
て、前記配線基板は前記信号出力端子近傍に複数の検査
用出力端子を備え、前記一検査用出力端子は前記配線基
板内で前記一信号出力端子と電気的に接続され、前記他
の一検査用端子は前記配線基板内で前記他の一信号出力
端子と電気的に接続され、前記検査用端子に検査用器具
を当接して信号の流れの有無を検査することを特徴とし
た表示装置の検査方法である。
【００４８】請求項４０記載の発明は、複数の表示画素
が配列された表示パネルと、入力されるシリアル画像信
号を直並列変換して前記表示パネルに出力する複数の駆
動回路素子と、各前記駆動回路素子のそれぞれにシリア
ル画像信号並びに制御信号を出力する複数の信号出力端
子を含む配線基板とを備えた表示装置の検査方法であっ
て、前記配線基板は前記複数の信号出力端子の両側にそ
れぞれ一または複数のダミー出力端子を備え、前記一検
査用出力端子は前記配線基板内で前記一信号出力端子と
電気的に接続され、前記他の一検査用端子は前記配線基
板内で前記他の一信号出力端子と電気的に接続され、前
記検査用端子に検査用器具を当接して信号の流れの有無
を検査することを特徴とした表示装置の検査方法であ
る。
【００４９】請求項４１記載の発明は、複数の表示画素
が配列された表示パネルと、入力されるシリアル画像信
号を直並列変換して前記表示パネルに出力する複数の駆
動回路素子と、各前記駆動回路素子のそれぞれにシリア
ル画像信号並びに制御信号を出力する複数の信号出力端
子を含む配線基板とを備えた表示装置の検査方法であっ
て、前記配線基板は前記信号出力端子の近傍に一の検査
用出力端子を備え、前記検査用出力端子は前記配線基板
内で前記信号出力端子と電気的に接続され、前記ダミー
端子に検査用器具を当接して信号の流れの有無を検査す
ることを特徴とした表示装置の検査方法である。
【００５０】請求項４２記載の発明は、複数の表示画素
が配列された表示パネルと、前記表示パネルに走査パル
スを供給する複数の駆動回路素子と、各前記駆動回路素
子のそれぞれに制御信号を出力する複数の信号出力端子
を含む配線基板とを備えた表示装置の検査方法であっ
て、前記配線基板は前記信号出力端子近傍に複数の検査
用出力端子を備え、前記一検査用出力端子は前記配線基
板内で前記一信号出力端子と電気的に接続され、前記他
の一検査用端子は前記配線基板内で前記他の一信号出力
端子と電気的に接続され、前記検査用端子に検査用器具
を当接して信号の流れの有無を検査することを特徴とし
た表示装置の検査方法である。
【００５１】請求項４３記載の発明は、複数の表示画素
が配列された表示パネルと、前記表示パネルに走査パル
スを供給する複数の駆動回路素子と、各前記駆動回路素
子のそれぞれに制御信号を出力する複数の信号出力端子
を含む配線基板とを備えた表示装置の検査方法であっ
て、前記配線基板は前記複数の信号出力端子の両側にそ
れぞれ一または複数の検査用出力端子を備え、前記一検
査用出力端子は前記配線基板内で前記一信号出力端子と
電気的に接続され、前記他の一検査用端子は前記配線基
板内で前記他の一信号出力端子と電気的に接続され、前
記検査用端子に検査用器具を当接して信号の流れの有無
を検査することを特徴とした表示装置の検査方法であ
る。
【００５２】請求項４４記載の発明は、複数の表示画素
が配列された表示パネルと、前記表示パネルに走査パル
スを供給する複数の駆動回路素子と、各前記駆動回路素
子のそれぞれに制御信号を出力する複数の信号出力端子
を含む配線基板とを備えた表示装置の検査方法であっ
て、前記配線基板は前記信号出力端子の近傍に一の検査
用出力端子を備え、前記検査用出力端子は前記配線基板
内で前記信号出力端子と電気的に接続され、前記検査用
端子に検査用器具を当接して信号の流れの有無を検査す
ることを特徴とした表示装置の検査方法である。
【００５３】この発明によれば、駆動回路素子のそれぞ
れに制御信号等を供給する配線基板の信号出力端子近傍
にダミー出力端子が設けられている。
【００５４】このダミー出力端子は、配線基板内で一信
号出力端子と電気的に接続されるので、ダミー出力端子
もしくはダミー出力端子に対応するダミー入力端子に検
査用のプローブ等の検査用器具を当接することで、表示
不良が駆動回路素子に起因するものか、配線基板に起因
するものか、あるいは他の要因によるものかが容易に識
別でき、装置の修復が短時間で可能となる。
【００５５】同様に、検査用出力端子もしくは検査用出
力端子に対応する検査用入力端子に検査用のプローブ等
の検査用器具を当接することで、表示不良が駆動回路素
子に起因するものか、配線基板に起因するものか、ある
いは他の要因によるものかが容易に識別でき、装置の修
復が短時間で可能となる。
【００５６】更に、配線基板に設けられるダミー出力端
子または検査用端子は、配線基板の信号出力端子の接続
強度を補強し、外部応力に対し配線基板の接続不良の発
生を軽減する。
【００５７】
【発明の実施の形態】
（第１の実施例）以下、本発明の第１の実施例のアクテ
ィブマトリクス型液晶表示装置について図面を参照して
詳細に説明する。
【００５８】このアクティブマトリクス型液晶表示装置
は、ノーマリーホワイト・モードの光透過型の液晶表示
装置であって、カラー表示が可能に構成され、図１に示
すように対角１４インチの表示領域(2) を備えている。
【００５９】アクティブマトリクス型液晶表示装置(1)
を構成する液晶パネル(3) は、アレイ基板(101) と対向
基板(301) とが、それぞれ配向膜（図示せず）を介し
て、光変調層としてツイスト・ネマチック型の液晶層(4
01) を保持し、図示しないがシール剤によって互いに保
持されている。また、図示しないが各基板(101),(301)
外表面には、それぞれ偏光板が、その偏光軸が直交する
ように配置されて成っている。
【００６０】アレイ基板(101) は、６４０×３本の信号
線Ｘｉ（i=1,2,…,1920 ）と４８０本の走査線Ｙｊ（j=
1,2,…,480）とが略直交するように配置されている。各
信号線Ｘｉと各走査線Ｙｊとの交点近傍には、それぞれ
活性層に非晶質シリコン薄膜が用いられて成る逆スタガ
型の薄膜トランジスタ（以下、ＴＦＴと略称する。）(1
21) を介してＩ．Ｔ．Ｏ．（Indium Tin Oxide）から成
る画素電極(151) が配置されている。
【００６１】また、アレイ基板(101) は、走査線Ｙｊに
対し略平行に、しかも画素電極(151) と重複する領域を
有して配置される補助容量線(161) を備え、画素電極(1
51)と補助容量線(161) とによって補助容量（CS）が形
成されている。
【００６２】対向基板(301) は、図示しないが、アレイ
基板(101) に形成されるＴＦＴ(121) 、信号線Ｘｉと画
素電極(151) との間隙、走査線Ｙｊと画素電極(151) と
の間隙のそれぞれを遮光するためのマトリクス状の遮光
層、カラー表示を実現するため遮光層間に配置される赤
（Ｒ），緑（Ｇ），青（Ｂ）の３原色で構成されるカラ
ーフィルタ層を備え、更にＩ．Ｔ．Ｏ．から成る対向電
極(311) が配置されて構成されている。
【００６３】このようにして構成される液晶パネル(3)
の表示領域(2) は、一水平画素ラインが赤（Ｒ），緑
（Ｇ），青（Ｂ）の表示画素で構成される６４０個の表
示絵素を含み、このような水平画素ラインが４８０本配
列されて成っている。
【００６４】この実施例では、アクティブマトリクス型
液晶表示装置(1) の外形寸法を小さくするために、各信
号線Ｘｉ及び各走査線Ｙｊは、それぞれ液晶パネル(3)
の一端辺側にのみ引き出されている。
【００６５】液晶パネル(3) の各信号線ＸｉはＸ−駆動
回路部(501) に電気的に接続され、各走査線ＹｊはＹ−
駆動回路部(801) に電気的に接続されている。
【００６６】また、図示しないが、Ｘ−駆動回路部(50
1) とＹ−駆動回路部(801) とは、それぞれ外部からの
入力信号に基づいて所望の信号を供給するコントロール
回路部に電気的に接続されている。
【００６７】Ｙ−駆動回路部(801) は、２個のＹ−ＴＡ
Ｂ(901-1),(901-2) と、各Ｙ−ＴＡＢ(901-1),(901-2)
にそれぞれ信号を供給するＹ−配線基板(1001)を備えて
いる。
【００６８】次に、Ｘ−駆動回路部(501) について説明
する。
【００６９】Ｘ−駆動回路部(501) は、８個のＸ−ＴＡ
Ｂ(601-1),(601-2),…,(601-8)と、各Ｘ−ＴＡＢ(601-
1),(601-2),…,(601-8)にそれぞれ信号を供給するＸ−
配線基板(701) とを備えて構成される。
【００７０】このＸ−ＴＡＢ(601-1),(601-2),…,(601-
8)は、図２〜３に示すようにフレキシブル基板(611) 上
に信号線駆動ＩＣ(621) が搭載され、一端側にアナログ
画像データを出力する２４０個のアナログ画像データ出
力端子(631) を、また他端側にＲ，Ｇ，Ｂそれぞれ６ビ
ットのディジタル画像データ（DDSR），（DDSG），（DD
SB）、水平クロック信号（CKH ）、ロード信号（LD）、
基準電圧（REF ）及び水平出力信号（SW）のそれぞれを
入力とする１４個のデータ入力端子、水平スタート信号
（STH ）を入力とする１個のデータ入力端子、水平スタ
ート信号（STH）を次段のＸ−ＴＡＢ(601) に出力する
１個のデータ出力端子とから成る１６個のデータ端子(6
41) を備えている。
【００７１】更に、Ｘ−ＴＡＢ(601-1),(601-2),…,(60
1-8)のそれぞれは、図３に示すように、Ｘ−ＴＡＢ(601
-1),(601-2),…,(601-8)とＸ−配線基板(701) との接続
切れを防止するため、１６個のデータ端子(641) を挟む
ように、データ端子(641) よりも端子幅、端子長のいづ
れも長く構成された大面積の一対のダミー端子(651-1),
(651- 2)を備えている。
【００７２】なお、本実施例におけるダミー端子(651-
1),(651- 2)は、従来技術で説明したダミー端子とは異
なり、接続切れを防止する目的以外に、後述するように
検査用端子として使用する目的もあるため、ダミー端子
(651-1),(651- 2)は、検査用端子とも言える。
【００７３】データ端子(641) の幅は、０．３〜０．４
ｍｍ程度であり、１６個のデータ端子(641) のピッチ
は、０．５ｍｍ程度である。ダミー端子(651-1),(651-
2)の幅は、１〜３ｍｍ程度である。このように、ダミー
端子(651-1),(651- 2)をデータ端子(641) より大きくし
たのは、ダミー端子(651-1),(651- 2)に検査用のプロー
ブを接触させやすくするためである。
【００７４】また、Ｘ−ＴＡＢ(601-1),(601-2),…,(60
1-8)を構成する信号線駆動ＩＣ(621) は、図２に示すよ
うに、下記のものを備えている。
【００７５】第１は、水平スタート信号（STH ）を水平
クロック信号（CKH ）に基づいて順次格段から出力する
２４０段のシフトレジスタ回路（SRX ）である。
【００７６】第２は、Ｒ，Ｇ，Ｂ毎に並列に入力される
６ビット・ディジタル画像データ（DDSR），（DDSG），
（DDSB）のそれぞれをシフトレジスタ回路（SRX ）の各
段の出力に基づいて選択し保持する直並列変換回路（C
P）である。
【００７７】第３は、直並列変換回路（CP）から転送さ
れる６ビット・ディジタル画像データをロード信号（L
D）に基づいて格納する（２４０画素×６ビット）メモ
リを備えたラッチ（LA）である。
【００７８】第４は、ラッチ（LA）からの各６ビット・
ディジタル画像データをディジタル／アナログ変換して
アナログ画像信号と成すディジタル／アナログ変換回路
（D/A ）である。
【００７９】第５は、ディジタル／アナログ変換回路
（D/A ）からの各アナログ画像信号の出力タイミングを
揃えるスイッチ回路（SW）である。
【００８０】第６は、スイッチ回路（SW）からの出力を
増幅するバッファ回路（BA）である。
【００８１】次に、Ｘ−配線基板(701) について説明す
る。
【００８２】Ｘ−配線基板(701) は、図２に示すよう
に、外部から入力されるＲ，Ｇ，Ｂそれぞれ６ビットの
ディジタル画像データ（DDSR），（DDSG），（DDSB）、
水平スタート信号（STH ）、水平クロック信号（CKH
）、ロード信号（LD）、基準電圧（REF ）を８個のＸ
−ＴＡＢ(601-1),(601-2),…,(601-8)のそれぞれに並列
に入力するよう構成される。また、水平スタート信号
（STH ）を各Ｘ−ＴＡＢ(601-1),(601-2),…,(601-8)に
順次入力するよう構成される。
【００８３】Ｘ−配線基板(701) は、図３に示すよう
に、リジッドな多層基板で構成されている。その表層基
板(711) には、各Ｘ−ＴＡＢ(601-1),(601-2),…,(601-
8)のデータ端子(641) に対応するそれぞれ１６個のデー
タパッド(721) が形成され、また、各Ｘ−ＴＡＢ(601-
1),(601-2),…,(601-8)の一対のダミー端子(651-1),(65
1-2) に対応しデータパッド(721) よりも大面積に形成
される一対のダミーパッド(731-1),(731-2) が８組配置
されている。この実施例では、Ｘ−配せん基板(701) を
リジットな多層基板で構成した場合を示したが、フレキ
シブルな配線基板としてもかまわない。
【００８４】Ｘ−配線基板(701) の第２基板(781) に
は、外部から入力されるＲ，Ｇ，Ｂそれぞれ６ビットの
ディジタル画像データ（DDSR），（DDSG），（DDSB）、
水平スタート信号（STH ）、水平クロック信号（CKH
）、ロード信号（LD）、基準電圧（REF ）、水平出力
信号（SW）を各Ｘ−ＴＡＢ( 601-1),(601-2), …,(601-
8)に並列に入力するよう引き回し、また水平スタート信
号（STH ）をＸ−ＴＡＢ(601-1) からＸ−ＴＡＢ(601-
8) に順次転送する８本のデータ配線群(783) が配置さ
れている。第２基板(781) のデータ配線群(783) と表層
基板(711) とは、第１基板(751) を介して電気的に接続
される。
【００８５】Ｘ−配線基板(701) の表層基板(711) と第
２基板(781) との間に配置される第１基板(751) は、表
層基板(711) に配置されるダミーパッド(731-1),(731-
2) とデータ配線群(783) の１本とを電気的に接続する
接続配線(753-1),…,(753-16)を備えている。
【００８６】例えば、この実施例では、Ｘ−ＴＡＢ(601
-1) のダミー端子(651-1) に対応するダミーパッド(731
-1) は、接続配線(753-1) によりデータ配線群(783) の
内の水平スタート信号（STH ）を伝達する配線に電気的
に接続されている。
【００８７】Ｘ−ＴＡＢ(601-1) のダミー端子(651-2)
に対応するダミーパッド(731-2) は、接続配線(753-2)
によりデータ配線群(783) の内の水平クロック信号（CK
H ）を伝達する配線に接続されている。
【００８８】Ｘ−ＴＡＢ(601-2) のダミー端子(651-1)
に対応するダミーパッド(731-1) は、接続配線(753-3)
によりデータ配線群(783) の内のディジタル画像データ
（DDSR）を伝達する配線に接続されている。
【００８９】以下、同様にして接続され、Ｘ−ＴＡＢ(6
01-8) のダミー端子(651-2) に対応するダミーパッド(7
31-2) は、接続配線(753-3) によりデータ配線群(783)
の内の水平スタート信号（STH ）を伝達する配線に接続
されている。
【００９０】このようにして構成される各Ｘ−ＴＡＢ(6
01-1),(601-2),…,(601-8)のデータ端子(641) 及びダミ
ー端子(651-1),(651-2) は、図示しないが、Ｘ−配線基
板(701) の対応するデータパッド(721) 及びダミーパッ
ド(731-1),(731-2) に異方性導電膜を介して電気的に接
続される。また、各Ｘ−ＴＡＢ(601-1),(601-2),…,(60
1-8)のアナログ画像データ出力端子(631) は、図示しな
いが異方性導電膜を介して液晶パネル(3) の各信号線Ｘ
ｉに電気的に接続さている。
【００９１】上述した構成によれば、Ｘ−ＴＡＢ(601-
1),(601-2),…,(601-8)とＸ−配線基板(701) とは、Ｘ
−ＴＡＢ(601) のデータ端子(641) とＸ−配線基板(70
1) のデータパッド(721) との接続のみならず、ダミー
端子(651-1),(651-2) とＸ−配線基板(701) のダミーパ
ッド(731-1),(731-2) とによっても接続されるため、外
部応力に対しても接続切れが生じにくい。特に、Ｘ−Ｔ
ＡＢ(601-1),(601-2),…,(601-8)のダミー端子(651-1),
(651-2) は、その応力が集中し易いデータ端子(641) の
両端側に配置され、しかもデータ端子(641) に比べて十
分に大面積で構成されるので接続切れが生じにくい。
【００９２】また、以上のような構成により、特別な検
査用パッド等を設けることなく、次のようにして容易に
検査が可能となる。
【００９３】まず、アクティブマトリクス型液晶表示装
置(1) に表示不良がある場合、各Ｘ−ＴＡＢ(601-1),(6
01-2),…,(601-8)のダミー端子(651-1),(651-2) に順次
プローブを当接し、所望の信号が供給されているか否か
を検査できる。
【００９４】例えば、Ｘ−配線基板(701) に所定の信号
が供給されるにもかかわらず、Ｘ−ＴＡＢ(601-1) のダ
ミー端子(651-1) から所望の水平スタート信号（STH ）
が検出されない場合は、Ｘ−配線基板(701) の配線不良
等に起因するものと判定でき、Ｘ−配線基板(701) を交
換することでアクティブマトリクス型液晶表示装置(1)
が修復できる。
【００９５】また、Ｘ−配線基板(701) に所定の信号が
供給されるにもかかわらず、Ｘ−ＴＡＢ(601-1) のダミ
ー端子(651-2) から所望の水平クロック信号（CKH ）が
検出されない場合は、やはりＸ−配線基板(701) の配線
不良等に起因するものと判定でき、Ｘ−配線基板(701)
を交換することでアクティブマトリクス型液晶表示装置
(1) が修復できる。
【００９６】以上のようにして、各Ｘ−ＴＡＢ(601-1),
(601-2),…,(601-8)のダミー端子(651-1),(651-2) に順
次プローブを当接して信号を検出することで、表示不良
がＸ−配線基板(701) に起因するものか否か特定され
る。
【００９７】Ｘ−配線基板(701) に所望の信号が供給さ
れ、しかも各Ｘ−ＴＡＢ(601-1),(601-2), …,(601-8)
のダミー端子(651-1),(651-2) からも所望の信号が検出
される場合、表示不良がＸ−ＴＡＢ(601-1),(601-2),
…,(601-8)とＸ−配線基板(701) との接続不良もしくは
Ｘ−ＴＡＢ(601-1),(601-2), …,(601-8)に起因するも
のと考えられ、このＸ−ＴＡＢ(601-1),(601-2),…,(60
1-8)を交換すること等でアクティブマトリクス型液晶表
示装置(1) を容易に修復することができる。
【００９８】更に、この実施例によれば、次のような検
査も行うこともできる。
【００９９】Ｘ−配線基板(701) に特別な検査用パッド
等を設けることなく、事前にＸ−配線基板(701) の各ダ
ミーパッド(731-1),(731-2) にプローブ等を当接し、Ｘ
−配線基板(701) の不良検査が実施できるので、不良な
Ｘ−配線基板(701) が製造工程中に流品することも防止
できる。即ち、Ｘ−配線基板(701) の両端から各種信号
を供給し、各ダミーパッド(731-1),(731-2) から所望の
出力が得られるか否かを検出することで、容易にＸ−配
線基板(701) の検査が可能となる。
【０１００】ここでは、Ｘ−ＴＡＢ(601-1),(601-2),
…,(601-8)及びＸ−配線基板(701)について説明した
が、Ｙ側も同様にして構成できるので説明は省略する。
【０１０１】（第２の実施例）次に、この発明の第２の
実施例について図４を参照して説明する。
【０１０２】この実施例では、８個の信号線駆動ＩＣ(6
21-1),(621-2),…,(621-8)が液晶パネル(3) のアレイ基
板(101) 上に搭載されている。図示しないが、各信号線
駆動ＩＣ(621-1),(621-2),…,(621-8)の２４０個のアナ
ログ画像データ出力ピンは信号線Ｘｉに異方性導電膜を
介して電気的に接続され、Ｒ，Ｇ，Ｂそれぞれ６ビット
のディジタル画像データ（DDSR），（DDSG），（DDS
B）、水平クロック信号（CKH ）、ロード信号（LD）、
基準電圧（REF ）及び水平出力信号（SW）のそれぞれを
入力とする１４個の入力ピン、水平スタート信号（STH
）を入力とする入力ピン、水平スタート信号（STH ）
を次段のＸ−ＴＡＢ(601) に出力する出力ピンはアレイ
基板(101) 上に配置される１６個のデータ端子(641) に
異方性導電膜を介して電気的に接続されている。
【０１０３】更に、Ｘ−配線基板(701) との接続切れを
防止するため、１６個のデータ端子(641) を挟むよう
に、データ端子(641) よりも大面積の一対のダミー端子
(651-1),(651-2) がアレイ基板(101) 上に配置される。
【０１０４】このＸ−配線基板(701) は、フレキシブル
な表層フィルム(712) 、第１層フィルム(752) 、第２層
フィルム(782) を含む多層フィルムで構成され、その表
層フィルム(712) は、各信号線駆動ＩＣ(621-1),(621-
2),…,(621-8)に対応する領域に区分するスリット(741)
、各信号線駆動ＩＣ(621-1),(621-2),…,(621-8)に対
応する１６個のデータパッド(721) 、データパッド(72
1) よりも大面積に形成される一対のダミーパッド(731-
1),(731-2) 、データパッド(721) 及びダミーパッド(73
1-1),(731-2) をアレイ基板(101) 上に配置されるデー
タ端子(641) 及びダミー端子(651-1),( 651-2)に電気的
な接続を可能にするための窓(743) を備えて構成される
他は同様にして構成されている。
【０１０５】このような構成によれば、液晶パネル(3)
とＸ−配線基板(701) とは、液晶パネル(3) のデータ端
子(641) とＸ−配線基板(701) のデータパッド(721) と
の接続のみならず、ダミー端子(651-1),(651-2) とＸ−
配線基板(701) のダミーパッド(731-1),(731-2) とによ
っても接続されるため、外部応力に対しても接続切れが
生じにくい。
【０１０６】また、以上のような構成であっても、特別
な検査用パッド等を設けることなく、上述した第１実施
例と同様にして容易に検査並びに修復が可能となる。
【０１０７】まず、アクティブマトリクス型液晶表示装
置(1) に表示不良がある場合、Ｘ−配線基板(701) のダ
ミーパッド(731-1),(731-2) に順次プローブを当接し、
所望の信号が検出されるか否かを検査する。
【０１０８】例えば、Ｘ−配線基板(701) に所定の信号
が供給されるにもかかわらず、ダミーパッド(731-1) か
ら所望の水平スタート信号（STH ）が検出されない場合
は、Ｘ−配線基板(701) の配線不良等に起因するものと
判定され、Ｘ−配線基板(701) を交換することでアクテ
ィブマトリクス型液晶表示装置(1) が修復できる。ま
た、Ｘ−配線基板(701) に所定の信号が供給されるにも
かかわらず、ダミーパッド(731-2) から所望の水平クロ
ック信号（CKH ）が検出されない場合は、やはりＸ−配
線基板(701) の配線不良等に起因するものと判定され、
Ｘ−配線基板(701) を交換することでアクティブマトリ
クス型液晶表示装置(1) が修復できる。
【０１０９】以上のようにして、Ｘ−配線基板(701) の
各ダミーパッド(731-1),(731-2) に順次プローブを当接
して信号を検出することで、表示不良がＸ−配線基板(7
01)に起因するものか否か特定される。
【０１１０】Ｘ−配線基板(701) に所望の信号が供給さ
れ、しかも各ダミーパッド(731-1),(731-2) からも所望
の信号が検出される場合、表示不良が液晶パネル(3) と
Ｘ−配線基板(701) との接続不良もしくは信号線駆動Ｉ
Ｃ(621-1),(621-2), …,(621-8)に起因するものと考え
られ、この信号線駆動ＩＣ(621-1),(621-2), …,(621-
8)を交換すること等でアクティブマトリクス型液晶表示
装置(1) を容易に修復することができる。
【０１１１】更に、この実施例においても、次のような
ことも行うことができる。
【０１１２】Ｘ−配線基板(701) に特別な検査用パッド
等を設けることなく、事前にＸ−配線基板(701) の各ダ
ミーパッド(731-1),(731-2) にプローブ等を当接し、Ｘ
−配線基板(701) の不良検査が実施できるので、額縁サ
イズの増大なく不良なＸ−配線基板(701) が製造工程中
に流品することも防止できる。また、この実施例では、
第１実施例に比べて部品点数が削減できる。
【０１１３】以上のように、上記した各実施例のアクテ
ィブマトリクス型液晶表示装置によれば、液晶パネルと
駆動回路との接続切れを軽減でき、外部からの衝撃に対
して強靭な構造となる。
【０１１４】しかも、駆動回路等に特別な検査用パッド
等を設けることなく、アクティブマトリクス型液晶表示
装置の表示不良原因を比較的容易に特定できるので、短
時間で修復が可能となる。更に、配線基板においても、
特別な検査用パッド等を設けることなく製品検査が可能
となるので、不良な配線基板が工程中に流品することを
効果的に防止できる。
【０１１５】（変更例）上記実施例では、１６個のデー
タ端子(641) の両側に、データ端子(641) 列にそって並
列的に位置するダミー端子(651-1),(651- 2)の両方を検
査用端子としたが、これに限らず、ダミー端子(651-1),
(651- 2)の少なくともどちらか一方のみを検査用端子と
してもよい。
【０１１６】また、ダミー端子(651-1),(651- 2)の先端
の形状は、図３において、矩形であるが、プローブを接
触させやすい形状ならば、円形、または、楕円でもよ
い。
【０１１７】さらに、１６個のデータ端子(641) の間に
ダミー端子(651-1),(651- 2)を配してもよい。
【０１１８】また、検査に使用するダミー端子は、１６
個のデータ端子に対し上記実施例のように２個でなく１
個でもよい。
【０１１９】
【発明の効果】この発明によれば、容易に検査が実施で
き、しかも表示不良の原因が容易に特定できるので、修
復に要する時間を短縮できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は、本発明の一実施例のアクティブマトリ
クス型液晶表示装置の概略斜視図である。
【図２】図２は、図１のアクティブマトリクス型液晶表
示装置のＸ−駆動回路部の等価回路図である。
【図３】図３は、図１のアクティブマトリクス型液晶表
示装置のＸ−駆動回路部の一部概略斜視図である。
【図４】図４は、他の実施例のＸ−駆動回路部の一部概
略斜視図である。
【符号の説明】
(1) …アクティブマトリクス型液晶表示装置 (101) …アレイ基板 (301) …対向基板 (501) …Ｘ−駆動回路部 (601-1),(601-2),…,(601-8)…Ｘ−ＴＡＢ (651-1),(651-2) …ダミー端子 (701) …多層配線基板 (731-1),(731-2) …ダミーパッド (801) …Ｙ−駆動回路部

Claims (44)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】複数の表示画素が配列された表示パネル
    と、入力されるシリアル画像信号を直並列変換して前記
    表示パネルに出力する複数の駆動回路素子と、各前記駆
    動回路素子のそれぞれにシリアル画像信号並びに制御信
    号を出力する複数の信号出力端子を含む配線基板とを備
    えた表示装置において、 前記配線基板は前記信号出力端子近傍に複数のダミー出
    力端子を備え、 前記一ダミー出力端子は前記配線基板内で前記一信号出
    力端子と電気的に接続され、 前記他の一ダミー端子は前記配線基板内で前記他の一信
    号出力端子と電気的に接続されていることを特徴とした
    表示装置。
  2. 【請求項２】複数の表示画素が配列された表示パネル
    と、入力されるシリアル画像信号を直並列変換して前記
    表示パネルに出力する複数の駆動回路素子と、各前記駆
    動回路素子のそれぞれにシリアル画像信号並びに制御信
    号を出力する複数の信号出力端子を含む配線基板とを備
    えた表示装置において、 前記配線基板は前記複数の信号出力端子の両側にそれぞ
    れ一または複数のダミー出力端子を備え、 前記一ダミー出力端子は前記配線基板内で前記一信号出
    力端子と電気的に接続され、 前記他の一ダミー端子は前記配線基板内で前記他の一信
    号出力端子と電気的に接続されていることを特徴とした
    表示装置。
  3. 【請求項３】複数の表示画素が配列された表示パネル
    と、入力されるシリアル画像信号を直並列変換して前記
    表示パネルに出力する複数の駆動回路素子と、各前記駆
    動回路素子のそれぞれにシリアル画像信号並びに制御信
    号を出力する複数の信号出力端子を含む配線基板とを備
    えた表示装置において、 前記配線基板は前記信号出力端子の近傍に一のダミー出
    力端子を備え、 前記ダミー出力端子は前記配線基板内で前記信号出力端
    子と電気的に接続されていることを特徴とした表示装
    置。
  4. 【請求項４】前記駆動回路素子は、フレキシブル基板上
    に駆動ＩＣが搭載され、 前記配線基板の前記信号出力端子に対応する信号入力端
    子及び前記ダミー出力端子に対応するダミー入力端子と
    を備えたことを特徴とした請求項１から請求項３のうち
    一の請求項記載の表示装置。
  5. 【請求項５】前記駆動回路素子は、フレキシブル基板上
    に駆動ＩＣが搭載され、 前記フレキシブル基板は、前記表示パネルの一辺に沿っ
    て複数配列され、 前記ダミー出力端子は、前記複数の信号出力端子の側方
    と、隣接する前記フレキシブル基板の間に配されたこと
    を特徴とした請求項１から請求項３のうち一の請求項記
    載の表示装置。
  6. 【請求項６】前記駆動回路素子は、前記表示パネルに搭
    載され、 前記表示パネルは前記配線基板の前記信号出力端子に対
    応する信号入力端子及び前記ダミー出力端子に対応する
    ダミー入力端子とを備えたことを特徴とした請求項１か
    ら請求項３のうち一の請求項記載の表示装置。
  7. 【請求項７】前記駆動回路素子は、前記表示パネルに搭
    載され、 前記駆動回路素子は、前記表示パネルの一辺に沿って複
    数配列され、 前記ダミー出力端子は、前記複数の信号出力端子の側方
    と隣接する前記駆動回路素子の信号出力端子の間に配さ
    れたことを特徴とした請求項１から請求項３のうち一の
    請求項記載の表示装置。
  8. 【請求項８】前記ダミー出力端子の大きさを、前記信号
    出力端子の大きさにより大きく形成したことを特徴とし
    た請求項１から請求項３のうち一の請求項記載の表示装
    置。
  9. 【請求項９】複数の表示画素が配列された表示パネル
    と、前記表示パネルに走査パルスを供給する複数の駆動
    回路素子と、各前記駆動回路素子のそれぞれに制御信号
    を出力する複数の信号出力端子を含む配線基板とを備え
    た表示装置において、 前記配線基板は前記信号出力端子近傍に複数のダミー出
    力端子を備え、 前記一ダミー出力端子は前記配線基板内で前記一信号出
    力端子と電気的に接続され、 前記他の一ダミー端子は前記配線基板内で前記他の一信
    号出力端子と電気的に接続されていることを特徴とした
    表示装置。
  10. 【請求項１０】複数の表示画素が配列された表示パネル
    と、前記表示パネルに走査パルスを供給する複数の駆動
    回路素子と、各前記駆動回路素子のそれぞれに制御信号
    を出力する複数の信号出力端子を含む配線基板とを備え
    た表示装置において、 前記配線基板は前記複数の信号出力端子の両側にそれぞ
    れ一または複数のダミー出力端子を備え、 前記一ダミー出力端子は前記配線基板内で前記一信号出
    力端子と電気的に接続され、 前記他の一ダミー端子は前記配線基板内で前記他の一信
    号出力端子と電気的に接続されていることを特徴とした
    表示装置。
  11. 【請求項１１】複数の表示画素が配列された表示パネル
    と、前記表示パネルに走査パルスを供給する複数の駆動
    回路素子と、各前記駆動回路素子のそれぞれに制御信号
    を出力する複数の信号出力端子を含む配線基板とを備え
    た表示装置において、 前記配線基板は前記信号出力端子の近傍に一のダミー出
    力端子を備え、 前記ダミー出力端子は前記配線基板内で前記信号出力端
    子と電気的に接続されていることを特徴とした表示装
    置。
  12. 【請求項１２】前記駆動回路素子は、フレキシブル基板
    上に駆動ＩＣが搭載され、 前記配線基板の前記信号出力端子に対応する信号入力端
    子及び前記ダミー出力端子に対応するダミー入力端子と
    を備えたことを特徴とした請求項９から請求項１１のう
    ち一の請求項記載の表示装置。
  13. 【請求項１３】前記駆動回路素子は、フレキシブル基板
    上に駆動ＩＣが搭載され、 前記フレキシブル基板は、前記表示パネルの一辺に沿っ
    て複数配列され、 前記ダミー出力端子は、前記複数の信号出力端子の側方
    と、隣接する前記フレキシブル基板の間に配されたこと
    を特徴とした請求項９から請求項１１のうち一の請求項
    記載の表示装置。
  14. 【請求項１４】前記駆動回路素子は、前記表示パネルに
    搭載され、 前記表示パネルは前記配線基板の前記信号出力端子に対
    応する信号入力端子及び前記ダミー出力端子に対応する
    ダミー入力端子とを備えたことを特徴とした請求項９か
    ら請求項１１のうち一の請求項記載の表示装置。
  15. 【請求項１５】前記駆動回路素子は、前記表示パネルに
    搭載され、 前記駆動回路素子は、前記表示パネルの一辺に沿って複
    数配列され、 前記ダミー出力端子は、前記複数の信号出力端子の側方
    と隣接する前記駆動回路素子の信号出力端子の間に配さ
    れたことを特徴とした請求項９から請求項１１のうち一
    の請求項記載の表示装置。
  16. 【請求項１６】前記ダミー出力端子の大きさを、前記信
    号出力端子の大きさにより大きく形成したことを特徴と
    した請求項９から請求項１１のうち一の請求項記載の表
    示装置。
  17. 【請求項１７】複数の表示画素が配列された表示パネル
    と、入力されるシリアル画像信号を直並列変換して前記
    表示パネルに出力する複数の駆動回路素子と、各前記駆
    動回路素子のそれぞれにシリアル画像信号並びに制御信
    号を出力する複数の信号出力端子を含む配線基板とを備
    えた表示装置において、 前記配線基板は前記信号出力端子近傍に複数の検査用出
    力端子を備え、 前記一検査用出力端子は前記配線基板内で前記一信号出
    力端子と電気的に接続され、 前記他の一検査用端子は前記配線基板内で前記他の一信
    号出力端子と電気的に接続されていることを特徴とした
    表示装置。
  18. 【請求項１８】複数の表示画素が配列された表示パネル
    と、入力されるシリアル画像信号を直並列変換して前記
    表示パネルに出力する複数の駆動回路素子と、各前記駆
    動回路素子のそれぞれにシリアル画像信号並びに制御信
    号を出力する複数の信号出力端子を含む配線基板とを備
    えた表示装置において、 前記配線基板は前記複数の信号出力端子の両側にそれぞ
    れ一または複数の検査用出力端子を備え、 前記一検査用出力端子は前記配線基板内で前記一信号出
    力端子と電気的に接続され、 前記他の一検査用端子は前記配線基板内で前記他の一信
    号出力端子と電気的に接続されていることを特徴とした
    表示装置。
  19. 【請求項１９】複数の表示画素が配列された表示パネル
    と、入力されるシリアル画像信号を直並列変換して前記
    表示パネルに出力する複数の駆動回路素子と、各前記駆
    動回路素子のそれぞれにシリアル画像信号並びに制御信
    号を出力する複数の信号出力端子を含む配線基板とを備
    えた表示装置において、 前記配線基板は前記信号出力端子の近傍に一の検査用出
    力端子を備え、 前記検査用出力端子は前記配線基板内で前記信号出力端
    子と電気的に接続されていることを特徴とした表示装
    置。
  20. 【請求項２０】前記駆動回路素子は、フレキシブル基板
    上に駆動ＩＣが搭載され、 前記配線基板の前記信号出力端子に対応する信号入力端
    子及び前記検査用出力端子に対応する検査用入力端子と
    を備えたことを特徴とした請求項１７から請求項１９の
    うち一の請求項記載の表示装置。
  21. 【請求項２１】前記駆動回路素子は、フレキシブル基板
    上に駆動ＩＣが搭載され、 前記フレキシブル基板は、前記表示パネルの一辺に沿っ
    て複数配列され、 前記検査用出力端子は、前記複数の信号出力端子の側方
    と、隣接する前記フレキシブル基板の間に配されたこと
    を特徴とした請求項１７から請求項１９のうち一の請求
    項記載の表示装置。
  22. 【請求項２２】前記駆動回路素子は、前記表示パネルに
    搭載され、 前記表示パネルは前記配線基板の前記信号出力端子に対
    応する信号入力端子及び前記検査用出力端子に対応する
    検査用入力端子とを備えたことを特徴とした請求項７か
    ら請求項１９のうち一の請求項記載の表示装置。
  23. 【請求項２３】前記駆動回路素子は、前記表示パネルに
    搭載され、 前記駆動回路素子は、前記表示パネルの一辺に沿って複
    数配列され、 前記検査用出力端子は、前記複数の信号出力端子の側方
    と隣接する前記駆動回路素子の信号出力端子の間に配さ
    れたことを特徴とした請求項１７から請求項１９のうち
    一の請求項記載の表示装置。
  24. 【請求項２４】前記検査用出力端子の大きさを、前記信
    号出力端子の大きさにより大きく形成したことを特徴と
    した請求項１７から請求項１９のうち一の請求項記載の
    表示装置。
  25. 【請求項２５】複数の表示画素が配列された表示パネル
    と、前記表示パネルに走査パルスを供給する複数の駆動
    回路素子と、各前記駆動回路素子のそれぞれに制御信号
    を出力する複数の信号出力端子を含む配線基板とを備え
    た表示装置において、 前記配線基板は前記信号出力端子近傍に複数の検査用出
    力端子を備え、 前記一検査用出力端子は前記配線基板内で前記一信号出
    力端子と電気的に接続され、 前記他の一検査用端子は前記配線基板内で前記他の一信
    号出力端子と電気的に接続されていることを特徴とした
    表示装置。
  26. 【請求項２６】複数の表示画素が配列された表示パネル
    と、前記表示パネルに走査パルスを供給する複数の駆動
    回路素子と、各前記駆動回路素子のそれぞれに制御信号
    を出力する複数の信号出力端子を含む配線基板とを備え
    た表示装置において、 前記配線基板は前記複数の信号出力端子の両側にそれぞ
    れ一または複数の検査用出力端子を備え、 前記一検査用出力端子は前記配線基板内で前記一信号出
    力端子と電気的に接続され、 前記他の一検査用端子は前記配線基板内で前記他の一信
    号出力端子と電気的に接続されていることを特徴とした
    表示装置。
  27. 【請求項２７】複数の表示画素が配列された表示パネル
    と、前記表示パネルに走査パルスを供給する複数の駆動
    回路素子と、各前記駆動回路素子のそれぞれに制御信号
    を出力する複数の信号出力端子を含む配線基板とを備え
    た表示装置において、 前記配線基板は前記複数の信号出力端子と近傍に一の検
    査用出力端子を備え、 前記検査用出力端子は前記配線基板内で前記信号出力端
    子と電気的に接続されていることを特徴とした表示装
    置。
  28. 【請求項２８】前記駆動回路素子は、フレキシブル基板
    上に駆動ＩＣが搭載され、 前記配線基板の前記信号出力端子に対応する信号入力端
    子及び前記検査用出力端子に対応する検査用入力端子と
    を備えたことを特徴とした請求項２５から請求項２７の
    うち一の請求項記載の表示装置。
  29. 【請求項２９】前記駆動回路素子は、フレキシブル基板
    上に駆動ＩＣが搭載され、 前記フレキシブル基板は、前記表示パネルの一辺に沿っ
    て複数配列され、 前記検査用出力端子は、前記複数の信号出力端子の側方
    と、隣接する前記フレキシブル基板の間に配されたこと
    を特徴とした請求項２５から請求項２７のうち一の請求
    項記載の表示装置。
  30. 【請求項３０】前記駆動回路素子は、前記表示パネルに
    搭載され、 前記表示パネルは前記配線基板の前記信号出力端子に対
    応する信号入力端子及び前記検査用出力端子に対応する
    検査用入力端子とを備えたことを特徴とした請求項２５
    から請求項２７のうち一の請求項記載の表示装置。
  31. 【請求項３１】前記駆動回路素子は、前記表示パネルに
    搭載され、 前記駆動回路素子は、前記表示パネルの一辺に沿って複
    数配列され、 前記検査用出力端子は、前記複数の信号出力端子の側方
    と隣接する前記駆動回路素子の信号出力端子の間に配さ
    れたことを特徴とした請求項２５から請求項２７のうち
    一の請求項記載の表示装置。
  32. 【請求項３２】前記検査用出力端子の大きさを、前記信
    号出力端子の大きさにより大きく形成したことを特徴と
    した請求項２５から請求項２７のうち一の請求項記載の
    表示装置。
  33. 【請求項３３】複数の表示画素が配列された表示パネル
    と、入力されるシリアル画像信号を直並列変換して前記
    表示パネルに出力する複数の駆動回路素子と、各前記駆
    動回路素子のそれぞれにシリアル画像信号並びに制御信
    号を出力する複数の信号出力端子を含む配線基板とを備
    えた表示装置の検査方法であって、 前記配線基板は前記信号出力端子近傍に複数のダミー出
    力端子を備え、 前記一ダミー出力端子は前記配線基板内で前記一信号出
    力端子と電気的に接続され、 前記他の一ダミー端子は前記配線基板内で前記他の一信
    号出力端子と電気的に接続され、 前記ダミー端子に検査用器具を当接して信号の流れの有
    無を検査することを特徴とした表示装置の検査方法。
  34. 【請求項３４】複数の表示画素が配列された表示パネル
    と、入力されるシリアル画像信号を直並列変換して前記
    表示パネルに出力する複数の駆動回路素子と、各前記駆
    動回路素子のそれぞれにシリアル画像信号並びに制御信
    号を出力する複数の信号出力端子を含む配線基板とを備
    えた表示装置の検査方法であって、 前記配線基板は前記複数の信号出力端子の両側にそれぞ
    れ一または複数のダミー出力端子を備え、 前記一ダミー出力端子は前記配線基板内で前記一信号出
    力端子と電気的に接続され、 前記他の一ダミー端子は前記配線基板内で前記他の一信
    号出力端子と電気的に接続され、 前記ダミー端子に検査用器具を当接して信号の流れの有
    無を検査することを特徴とした表示装置の検査方法。
  35. 【請求項３５】複数の表示画素が配列された表示パネル
    と、入力されるシリアル画像信号を直並列変換して前記
    表示パネルに出力する複数の駆動回路素子と、各前記駆
    動回路素子のそれぞれにシリアル画像信号並びに制御信
    号を出力する複数の信号出力端子を含む配線基板とを備
    えた表示装置の検査方法であって、 前記配線基板は前記信号出力端子の近傍に一のダミー出
    力端子を備え、 前記ダミー出力端子は前記配線基板内で前記信号出力端
    子と電気的に接続され、 前記ダミー端子に検査用器具を当接して信号の流れの有
    無を検査することを特徴とした表示装置の検査方法。
  36. 【請求項３６】複数の表示画素が配列された表示パネル
    と、前記表示パネルに走査パルスを供給する複数の駆動
    回路素子と、各前記駆動回路素子のそれぞれに制御信号
    を出力する複数の信号出力端子を含む配線基板とを備え
    た表示装置の検査方法であって、 前記配線基板は前記信号出力端子近傍に複数のダミー出
    力端子を備え、 前記一ダミー出力端子は前記配線基板内で前記一信号出
    力端子と電気的に接続され、 前記他の一ダミー端子は前記配線基板内で前記他の一信
    号出力端子と電気的に接続され、 前記ダミー端子に検査用器具を当接して信号の流れの有
    無を検査することを特徴とした表示装置の検査方法。
  37. 【請求項３７】複数の表示画素が配列された表示パネル
    と、前記表示パネルに走査パルスを供給する複数の駆動
    回路素子と、各前記駆動回路素子のそれぞれに制御信号
    を出力する複数の信号出力端子を含む配線基板とを備え
    た表示装置の検査方法であって、 前記配線基板は前記信号出力端子の近傍に一のダミー出
    力端子を備え、 前記ダミー出力端子は前記配線基板内で前記信号出力端
    子と電気的に接続され、 前記ダミー端子に検査用器具を当接して信号の流れの有
    無を検査することを特徴とした表示装置の検査方法。
  38. 【請求項３８】複数の表示画素が配列された表示パネル
    と、前記表示パネルに走査パルスを供給する複数の駆動
    回路素子と、各前記駆動回路素子のそれぞれに制御信号
    を出力する複数の信号出力端子を含む配線基板とを備え
    た表示装置の検査方法であって、 前記配線基板は前記複数の信号出力端子の両側のどちら
    か一方に一のダミー出力端子を備え、 前記ダミー出力端子は前記配線基板内で前記信号出力端
    子と電気的に接続され、 前記ダミー端子に検査用器具を当接して信号の流れの有
    無を検査することを特徴とした表示装置の検査方法。
  39. 【請求項３９】複数の表示画素が配列された表示パネル
    と、入力されるシリアル画像信号を直並列変換して前記
    表示パネルに出力する複数の駆動回路素子と、各前記駆
    動回路素子のそれぞれにシリアル画像信号並びに制御信
    号を出力する複数の信号出力端子を含む配線基板とを備
    えた表示装置の検査方法であって、 前記配線基板は前記信号出力端子近傍に複数の検査用出
    力端子を備え、 前記一検査用出力端子は前記配線基板内で前記一信号出
    力端子と電気的に接続され、 前記他の一検査用端子は前記配線基板内で前記他の一信
    号出力端子と電気的に接続され、 前記検査用端子に検査用器具を当接して信号の流れの有
    無を検査することを特徴とした表示装置の検査方法。
  40. 【請求項４０】複数の表示画素が配列された表示パネル
    と、入力されるシリアル画像信号を直並列変換して前記
    表示パネルに出力する複数の駆動回路素子と、各前記駆
    動回路素子のそれぞれにシリアル画像信号並びに制御信
    号を出力する複数の信号出力端子を含む配線基板とを備
    えた表示装置の検査方法であって、 前記配線基板は前記複数の信号出力端子の両側にそれぞ
    れ一または複数の検査用出力端子を備え、 前記一検査用出力端子は前記配線基板内で前記一信号出
    力端子と電気的に接続され、 前記他の一検査用端子は前記配線基板内で前記他の一信
    号出力端子と電気的に接続され、 前記検査用端子に検査用器具を当接して信号の流れの有
    無を検査することを特徴とした表示装置の検査方法。
  41. 【請求項４１】複数の表示画素が配列された表示パネル
    と、入力されるシリアル画像信号を直並列変換して前記
    表示パネルに出力する複数の駆動回路素子と、各前記駆
    動回路素子のそれぞれにシリアル画像信号並びに制御信
    号を出力する複数の信号出力端子を含む配線基板とを備
    えた表示装置の検査方法であって、 前記配線基板は前記信号出力端子の近傍に一の検査用出
    力端子を備え、 前記検査用出力端子は前記配線基板内で前記信号出力端
    子と電気的に接続され、 前記検査用端子に検査用器具を当接して信号の流れの有
    無を検査することを特徴とした表示装置の検査方法。
  42. 【請求項４２】複数の表示画素が配列された表示パネル
    と、前記表示パネルに走査パルスを供給する複数の駆動
    回路素子と、各前記駆動回路素子のそれぞれに制御信号
    を出力する複数の信号出力端子を含む配線基板とを備え
    た表示装置の検査方法であって、 前記配線基板は前記信号出力端子近傍に複数の検査用出
    力端子を備え、 前記一検査用出力端子は前記配線基板内で前記一信号出
    力端子と電気的に接続され、 前記他の一検査用端子は前記配線基板内で前記他の一信
    号出力端子と電気的に接続され、 前記検査用端子に検査用器具を当接して信号の流れの有
    無を検査することを特徴とした表示装置の検査方法。
  43. 【請求項４３】複数の表示画素が配列された表示パネル
    と、前記表示パネルに走査パルスを供給する複数の駆動
    回路素子と、各前記駆動回路素子のそれぞれに制御信号
    を出力する複数の信号出力端子を含む配線基板とを備え
    た表示装置の検査方法であって、 前記配線基板は前記複数の信号出力端子の両側にそれぞ
    れ一または複数の検査用出力端子を備え、 前記一検査用出力端子は前記配線基板内で前記一信号出
    力端子と電気的に接続され、 前記他の一検査用端子は前記配線基板内で前記他の一信
    号出力端子と電気的に接続され、 前記検査用端子に検査用器具を当接して信号の流れの有
    無を検査することを特徴とした表示装置の検査方法。
  44. 【請求項４４】複数の表示画素が配列された表示パネル
    と、前記表示パネルに走査パルスを供給する複数の駆動
    回路素子と、各前記駆動回路素子のそれぞれに制御信号
    を出力する複数の信号出力端子を含む配線基板とを備え
    た表示装置の検査方法であって、 前記配線基板は前記信号出力端子の近傍に一の検査用出
    力端子を備え、 前記検査用出力端子は前記配線基板内で前記信号出力端
    子と電気的に接続され、 前記検査用端子に検査用器具を当接して信号の流れの有
    無を検査することを特徴とした表示装置の検査方法。
JP7272628A 1994-11-24 1995-10-20 表示装置及びその検査方法 Pending JPH08201841A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7272628A JPH08201841A (ja) 1994-11-24 1995-10-20 表示装置及びその検査方法
TW084112100A TW445389B (en) 1994-11-24 1995-11-15 Display apparatus and method of inspecting the same
US08/562,592 US5945984A (en) 1994-11-24 1995-11-24 Display device and method of inspecting same
KR1019950044504A KR100235477B1 (ko) 1994-11-24 1995-11-24 표시장치 및 그 검사 방법

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6-289323 1994-11-24
JP28932394 1994-11-24
JP7272628A JPH08201841A (ja) 1994-11-24 1995-10-20 表示装置及びその検査方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH08201841A true JPH08201841A (ja) 1996-08-09

Family

ID=26550297

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7272628A Pending JPH08201841A (ja) 1994-11-24 1995-10-20 表示装置及びその検査方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5945984A (ja)
JP (1) JPH08201841A (ja)
KR (1) KR100235477B1 (ja)
TW (1) TW445389B (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008242409A (ja) * 2007-03-28 2008-10-09 Samsung Electronics Co Ltd フィルム−チップ複合体とこれを含む表示装置
WO2009066591A1 (ja) * 2007-11-21 2009-05-28 Sharp Kabushiki Kaisha 表示装置及び走査線駆動装置
JP2009145470A (ja) * 2007-12-12 2009-07-02 Sharp Corp 表示装置
US7580107B2 (en) 2002-11-19 2009-08-25 Samsung Electronics Co., Ltd. Liquid crystal display and testing method thereof
KR100980120B1 (ko) * 2002-06-19 2010-09-03 액트 일렉트론 빔 테크놀로지 지엠비에이치 테스트 특성이 개선된 구동장치
US8299997B2 (en) 2000-07-25 2012-10-30 Hitachi Displays, Ltd. Liquid crystal display device

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6323930B1 (en) * 1996-09-20 2001-11-27 Hitachi, Ltd. Liquid crystal display device, production method thereof and mobile telephone
TW418338B (en) * 1997-03-03 2001-01-11 Toshiba Corp Display apparatus with monolithic integrated driving circuit
JP3955376B2 (ja) * 1997-05-13 2007-08-08 セイコーエプソン株式会社 液晶表示パネルおよび液晶表示パネルの検査方法
JP3613098B2 (ja) * 1998-12-21 2005-01-26 セイコーエプソン株式会社 回路基板ならびにそれを用いた表示装置および電子機器
JP3054135B1 (ja) * 1999-02-05 2000-06-19 シャープ株式会社 液晶表示装置
US7339568B2 (en) * 1999-04-16 2008-03-04 Samsung Electronics Co., Ltd. Signal transmission film and a liquid crystal display panel having the same
US6922226B2 (en) * 1999-12-31 2005-07-26 Lg. Philips Lcd Co. Ltd. Liquid crystal display device implementing improved electrical lines and the fabricating method
JP2001265248A (ja) * 2000-03-14 2001-09-28 Internatl Business Mach Corp <Ibm> アクティブ・マトリックス表示装置、及び、その検査方法
KR100596965B1 (ko) * 2000-03-17 2006-07-04 삼성전자주식회사 구동신호 인가모듈, 이를 적용한 액정표시패널 어셈블리 및 이 액정표시패널 어셈블리의 구동신호 검사 방법
US6985128B1 (en) * 2000-07-31 2006-01-10 Sony Corporation Liquid crystal display panel and production method of the same, and liquid crystal display apparatus
US7280090B2 (en) * 2000-12-22 2007-10-09 Electronics For Imaging, Inc. Methods and apparatus for repairing inoperative pixels in a display
JP4204204B2 (ja) * 2001-04-13 2009-01-07 三洋電機株式会社 アクティブマトリクス型表示装置
KR100864922B1 (ko) * 2002-04-20 2008-10-22 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치
JP4054861B2 (ja) * 2002-08-08 2008-03-05 三菱電機株式会社 表示装置および表示装置の製造方法
WO2004015678A1 (en) * 2002-08-12 2004-02-19 Iljin Diamond Co., Ltd. Lcd with eeprom and means for automatic download to fpga
JP3980462B2 (ja) * 2002-10-30 2007-09-26 株式会社 日立ディスプレイズ 画像表示装置
JP4217090B2 (ja) * 2003-03-20 2009-01-28 株式会社 日立ディスプレイズ 表示装置
JP4262521B2 (ja) * 2003-05-28 2009-05-13 シャープ株式会社 表示装置及びその検査方法
KR101032947B1 (ko) * 2004-03-18 2011-05-09 삼성전자주식회사 표시 장치 및 그 구동 장치
US7223923B2 (en) * 2004-10-26 2007-05-29 Hannstar Display Corporation PCB capable of releasing thermal stress
KR101066488B1 (ko) * 2004-10-28 2011-09-21 엘지디스플레이 주식회사 액정 표시 장치
KR100667111B1 (ko) * 2005-04-06 2007-01-12 엘지전자 주식회사 플라즈마 디스플레이 장치
US7710739B2 (en) 2005-04-28 2010-05-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and display device
TWI301201B (en) * 2006-03-15 2008-09-21 Au Optronics Corp Display circuits
KR20080033564A (ko) * 2006-10-12 2008-04-17 삼성전자주식회사 표시장치용 검사 장치 및 이의 검사 방법
CN101861516B (zh) 2007-10-05 2013-09-11 株式会社尼康 显示器件的缺陷检测方法及显示器件的缺陷检测装置
KR20120139411A (ko) * 2011-06-17 2012-12-27 삼성디스플레이 주식회사 집적 회로 칩 실장 필름 및 이를 포함하는 액정 표시 장치
CN103107111B (zh) * 2011-11-11 2017-03-01 飞思卡尔半导体公司 用于监测线接合中无空气球（fab）形成的方法和装置
KR102456696B1 (ko) 2018-08-07 2022-10-19 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널 및 그 제조 방법

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04233514A (ja) * 1990-12-28 1992-08-21 Sharp Corp アクティブマトリクス基板
US5453991A (en) * 1992-03-18 1995-09-26 Kabushiki Kaisha Toshiba Integrated circuit device with internal inspection circuitry
JP2820233B2 (ja) * 1993-06-11 1998-11-05 シャープ株式会社 表示装置の検査装置および検査方法

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8299997B2 (en) 2000-07-25 2012-10-30 Hitachi Displays, Ltd. Liquid crystal display device
US9372375B2 (en) 2000-07-25 2016-06-21 Japan Display Inc. Liquid crystal display device
KR100980120B1 (ko) * 2002-06-19 2010-09-03 액트 일렉트론 빔 테크놀로지 지엠비에이치 테스트 특성이 개선된 구동장치
US7580107B2 (en) 2002-11-19 2009-08-25 Samsung Electronics Co., Ltd. Liquid crystal display and testing method thereof
JP2008242409A (ja) * 2007-03-28 2008-10-09 Samsung Electronics Co Ltd フィルム−チップ複合体とこれを含む表示装置
US8300196B2 (en) 2007-03-28 2012-10-30 Samsung Electronics Co., Ltd. Display device having film-chip complex including a film having a connection region along one side
WO2009066591A1 (ja) * 2007-11-21 2009-05-28 Sharp Kabushiki Kaisha 表示装置及び走査線駆動装置
JP2009145470A (ja) * 2007-12-12 2009-07-02 Sharp Corp 表示装置
JP4522445B2 (ja) * 2007-12-12 2010-08-11 シャープ株式会社 表示装置

Also Published As

Publication number Publication date
KR960018723A (ko) 1996-06-17
KR100235477B1 (ko) 1999-12-15
US5945984A (en) 1999-08-31
TW445389B (en) 2001-07-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH08201841A (ja) 表示装置及びその検査方法
TW527513B (en) Liquid crystal display device and manufacturing method thereof
US7663395B2 (en) Display device, display panel therefor, and inspection method thereof
US8023058B2 (en) Panel assembly for display device, display device including the same, and repairing method for display device
KR100360157B1 (ko) 어레이기판 및 어레이기판의 검사방법
US8009131B2 (en) Liquid crystal display panel and testing system and method thereof
KR100800330B1 (ko) 라인 온 글래스형 신호라인 검사를 위한 액정표시패널
US20100141293A1 (en) Lcd panels capable of detecting cell defects, line defects and layout defects
TWI264582B (en) Array substrate for flat-panel display devices
KR100736279B1 (ko) 표시 장치, 표시 장치의 검사 방법, 및 표시 장치의 검사장치
KR20060015201A (ko) 어레이 기판과, 이를 갖는 모기판 및 액정표시장치
KR101304415B1 (ko) 표시 장치
WO2020259318A1 (zh) 成盒测试电路、阵列基板和液晶显示装置
JP2002090424A (ja) マトリクスアレイ基板
JP2016218243A (ja) 表示装置
KR101271525B1 (ko) 액정표시장치용 어레이 기판
KR20120041043A (ko) 게이트 구동부 및 이를 포함하는 액정표시장치
KR20120075096A (ko) 액정표시장치 및 그의 검사 방법
KR102078994B1 (ko) 액정표시장치 및 이의 검사방법
KR100442305B1 (ko) 어레이 기판 및 그 검사 방법 및 액정 표시 장치
KR101152491B1 (ko) 액정표시소자
KR101192050B1 (ko) 평판표시장치의 검사방법 및 장치
JP2000276073A (ja) 平面表示装置
US7068337B2 (en) Apparatus for inspecting liquid crystal panel
KR100341128B1 (ko) 액정 표시 소자의 화면표시 품위 검사방법