JPH08145847A - 光学部品の特性測定方法及び装置 - Google Patents
光学部品の特性測定方法及び装置Info
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- JPH08145847A JPH08145847A JP31591094A JP31591094A JPH08145847A JP H08145847 A JPH08145847 A JP H08145847A JP 31591094 A JP31591094 A JP 31591094A JP 31591094 A JP31591094 A JP 31591094A JP H08145847 A JPH08145847 A JP H08145847A
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- optical
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 光学部品を検査回路中にファイバ融着で１回
接合することにより、被測定光学部品の特性を能率よく
正確に測定する。 【構成】 検査回路を光スイッチで順方向と逆方向に切
り換え、被測定光学部品を組み付ける前に検査回路自体
について所定の検査項目を順方向，逆方向個別に測定
し、その後に被測定光学部品を組み付けて各検査項目の
測定を行い、検査回路自体より求めた測定データを基準
光強度とし、両者の差異から光学部品自体の特定を求め
る。
接合することにより、被測定光学部品の特性を能率よく
正確に測定する。 【構成】 検査回路を光スイッチで順方向と逆方向に切
り換え、被測定光学部品を組み付ける前に検査回路自体
について所定の検査項目を順方向，逆方向個別に測定
し、その後に被測定光学部品を組み付けて各検査項目の
測定を行い、検査回路自体より求めた測定データを基準
光強度とし、両者の差異から光学部品自体の特定を求め
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ファイバを介して外
部の光学処理システムに接続される光学部品の特性測定
方法及び装置に関するものである。
部の光学処理システムに接続される光学部品の特性測定
方法及び装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】光通信等において用いられる各種の光学
部品，殊に、光アイソレータや光サーキュレータ等の光
ファイバ中に配置される部品は部品自体の特性は勿論、
ファイバ中における順方向及び逆方向の挿入損失，偏波
依存性，反射減衰量等に対し、どの程度の特性を発揮す
るかを検査する必要がある。即ち、光ファイバ中を伝播
してくる光の偏波状態が無秩序であっても一定の光学特
性が維持できるか否か、光学部品の界面から反射されて
回帰してしまう光量等に対してどの程度の能力を有する
かを特定する必要がある。
部品，殊に、光アイソレータや光サーキュレータ等の光
ファイバ中に配置される部品は部品自体の特性は勿論、
ファイバ中における順方向及び逆方向の挿入損失，偏波
依存性，反射減衰量等に対し、どの程度の特性を発揮す
るかを検査する必要がある。即ち、光ファイバ中を伝播
してくる光の偏波状態が無秩序であっても一定の光学特
性が維持できるか否か、光学部品の界面から反射されて
回帰してしまう光量等に対してどの程度の能力を有する
かを特定する必要がある。
【０００３】従来、上述した光学部品の特性を測定する
には個別の検査回路を用い、少なくとも順方向並びに逆
方向の挿入損失，順方向並びに逆方向の反射減衰量，偏
波依存性毎に個々に検査することが行なわれている。ま
た、光学部品を検査回路に組み付ける前に各検査項目に
ついて検査回路自体の測定を行い、しかる後に光学部品
を検査項目毎に個別にファイバ融着で接合することによ
り検査回路に組み付けて測定することが行なわれてい
る。
には個別の検査回路を用い、少なくとも順方向並びに逆
方向の挿入損失，順方向並びに逆方向の反射減衰量，偏
波依存性毎に個々に検査することが行なわれている。ま
た、光学部品を検査回路に組み付ける前に各検査項目に
ついて検査回路自体の測定を行い、しかる後に光学部品
を検査項目毎に個別にファイバ融着で接合することによ
り検査回路に組み付けて測定することが行なわれてい
る。
【０００４】通常、ファイバ融着には１０分程度の時間
を要し、上述した検査項目毎の各ファイバ融着を含める
と長い段取り時間が必要となる。また、ファイバ融着を
繰返し行うのに伴って不確定要素が混入することから測
定データが不確実なものになってしまう。
を要し、上述した検査項目毎の各ファイバ融着を含める
と長い段取り時間が必要となる。また、ファイバ融着を
繰返し行うのに伴って不確定要素が混入することから測
定データが不確実なものになってしまう。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、光学部品の
検査項目のうち少なくとも順方向挿入損失，逆方向挿入
損失，順方向反射減衰量，逆方向反射減衰量，偏波依存
性を極めて能率よく正確に測定可能な光学部品の特性測
定方法及び装置を提供することを目的とする。
検査項目のうち少なくとも順方向挿入損失，逆方向挿入
損失，順方向反射減衰量，逆方向反射減衰量，偏波依存
性を極めて能率よく正確に測定可能な光学部品の特性測
定方法及び装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項１に係る
光学部品の特性測定方法においては、被測定光学部品を
ファイバの融着接合で組み付けて光学部品の特性を測定
する検査回路を用い、その検査回路は導波路を光入射の
順方向と逆方向とに分け、光学部品の検査項目のうち少
なくとも順方向挿入損失，逆方向挿入損失，順方向反射
減衰量，逆方向反射減衰量，偏波依存性を測定するのに
必要な装置を夫々備え、被測定光学部品を組み付ける前
の検査回路自体について上記各検査項目を順方向，逆方
向個別に各々測定し、その後に被測定光学部品を検査回
路に組み付けて上記各検査項目の測定を順方向，逆方向
個別に行い、検査回路自体より求めた測定データを基準
光強度として両者の測定データを対比し、この両者の差
異に基づいて被測定光学部品をファイバ融着で１回接合
することから光学部品自体の特性を測定するようにされ
ている。
光学部品の特性測定方法においては、被測定光学部品を
ファイバの融着接合で組み付けて光学部品の特性を測定
する検査回路を用い、その検査回路は導波路を光入射の
順方向と逆方向とに分け、光学部品の検査項目のうち少
なくとも順方向挿入損失，逆方向挿入損失，順方向反射
減衰量，逆方向反射減衰量，偏波依存性を測定するのに
必要な装置を夫々備え、被測定光学部品を組み付ける前
の検査回路自体について上記各検査項目を順方向，逆方
向個別に各々測定し、その後に被測定光学部品を検査回
路に組み付けて上記各検査項目の測定を順方向，逆方向
個別に行い、検査回路自体より求めた測定データを基準
光強度として両者の測定データを対比し、この両者の差
異に基づいて被測定光学部品をファイバ融着で１回接合
することから光学部品自体の特性を測定するようにされ
ている。
【０００７】本発明の請求項２に係る光学部品の特性測
定装置においては、被測定光学部品をファイバの融着接
合で組み付けて光学部品の特性を測定する検査回路でな
り、発光源の入射端には導波路を順方向と逆方向とに切
り換える光スイッチを備え、順方向の導波路には偏波制
御器を配置すると共に、該偏波制御器に引き続く導波路
を光カプラーで三方向に分岐接続し、その１つは被測定
光学部品の片端子を接合するファイバ端とし、他の２つ
のには順方向反射減衰量及び逆方向挿入損失を測定する
光パワーメータと、発光源参照光強度を測定する光パワ
ーメータを接続し、逆方向の導波路には方向性光循環器
を配置し、この方向性光循環器の１端子より引き続く導
波路は被測定光学部品の他端子を接合するファイバ端と
し、他の端子には挿入損失，逆方向反射減衰量並びに偏
波依存性を測定する光パワーメータを備え、更に、順方
向，逆方向の各導波路には被測定光学部品接合用のファ
イバ端をベンディングするチャックを備え、光学部品の
検査項目のうち少なくとも順方向挿入損失，逆方向挿入
損失，順方向反射減衰量，逆方向反射減衰量，偏波依存
性を被測定光学部品の組付け前，組付け状態で順方向，
逆方向個別に夫々測定し、被測定光学部品組付け前の測
定データを基準光強度として両者の測定データを対比
し、その両者の差異に基づいて被測定光学部品をファイ
バ融着で１回接合することから光学部品自体の特性を測
定する検査回路として構成されている。
定装置においては、被測定光学部品をファイバの融着接
合で組み付けて光学部品の特性を測定する検査回路でな
り、発光源の入射端には導波路を順方向と逆方向とに切
り換える光スイッチを備え、順方向の導波路には偏波制
御器を配置すると共に、該偏波制御器に引き続く導波路
を光カプラーで三方向に分岐接続し、その１つは被測定
光学部品の片端子を接合するファイバ端とし、他の２つ
のには順方向反射減衰量及び逆方向挿入損失を測定する
光パワーメータと、発光源参照光強度を測定する光パワ
ーメータを接続し、逆方向の導波路には方向性光循環器
を配置し、この方向性光循環器の１端子より引き続く導
波路は被測定光学部品の他端子を接合するファイバ端と
し、他の端子には挿入損失，逆方向反射減衰量並びに偏
波依存性を測定する光パワーメータを備え、更に、順方
向，逆方向の各導波路には被測定光学部品接合用のファ
イバ端をベンディングするチャックを備え、光学部品の
検査項目のうち少なくとも順方向挿入損失，逆方向挿入
損失，順方向反射減衰量，逆方向反射減衰量，偏波依存
性を被測定光学部品の組付け前，組付け状態で順方向，
逆方向個別に夫々測定し、被測定光学部品組付け前の測
定データを基準光強度として両者の測定データを対比
し、その両者の差異に基づいて被測定光学部品をファイ
バ融着で１回接合することから光学部品自体の特性を測
定する検査回路として構成されている。
【０００８】
【作用】本発明の請求項１に係る光学部品の特性測定方
法では、光学部品を検査回路のファイバ端に１回ファイ
バ融着するだけで、光学部品の検査項目のうち少なくと
も順方向挿入損失，逆方向挿入損失，順方向反射減衰
量，逆方向反射減衰量，偏波依存性を測定できるから、
光学部品の特性を能率よくしかも不確定要素が混入する
ことなく測定することができる。また、各検査項目の測
定データを順方向，逆方向毎に分けしかも光学部品の組
付け前，後で求めて対比することから光学部品の特性を
正確に測定することができる。
法では、光学部品を検査回路のファイバ端に１回ファイ
バ融着するだけで、光学部品の検査項目のうち少なくと
も順方向挿入損失，逆方向挿入損失，順方向反射減衰
量，逆方向反射減衰量，偏波依存性を測定できるから、
光学部品の特性を能率よくしかも不確定要素が混入する
ことなく測定することができる。また、各検査項目の測
定データを順方向，逆方向毎に分けしかも光学部品の組
付け前，後で求めて対比することから光学部品の特性を
正確に測定することができる。
【０００９】本発明の請求項２に係る光学部品の特性測
定装置では、光学部品を検査回路のファイバ端に１回フ
ァイバ融着するだけで光学部品の特性を測定可能な回路
構成を具体化するものであり、その光学部品の特性デー
タも能率よく正確に求めることができる。
定装置では、光学部品を検査回路のファイバ端に１回フ
ァイバ融着するだけで光学部品の特性を測定可能な回路
構成を具体化するものであり、その光学部品の特性デー
タも能率よく正確に求めることができる。
【００１０】
【実施例】以下、添付図面を参照して説明すれば、図１
は本発明に係る光学部品の特性測定装置を示すものであ
り、同図中、各装置を接続する実線は光学回路系を示
し、点線は電気回路系を示す。その検査回路は発光源１
を備え、この発光源１より入射する光線を順方向，逆方
向の各ファイバ端に融着接合する光アイソレータや光サ
ーキュレータ等の被測定光学部品に導通することにより
該光学部品の特性を測定する光学検査回路として構成さ
れている。また、検査項目としては光学部品の特性のう
ち少なくとも順方向挿入損失，逆方向挿入損失，順方向
反射減衰量，逆方向反射減衰量，偏波依存性が対象にさ
れている。
は本発明に係る光学部品の特性測定装置を示すものであ
り、同図中、各装置を接続する実線は光学回路系を示
し、点線は電気回路系を示す。その検査回路は発光源１
を備え、この発光源１より入射する光線を順方向，逆方
向の各ファイバ端に融着接合する光アイソレータや光サ
ーキュレータ等の被測定光学部品に導通することにより
該光学部品の特性を測定する光学検査回路として構成さ
れている。また、検査項目としては光学部品の特性のう
ち少なくとも順方向挿入損失，逆方向挿入損失，順方向
反射減衰量，逆方向反射減衰量，偏波依存性が対象にさ
れている。
【００１１】その検査回路は、光スイッチ２を発光源１
の入射端に配置することにより導波路が順方向と逆方向
とに切換え自在に構成されている。この導波路の順方向
にはファイバをコイル状に巻回すると共に、所定のステ
ップづつ回転することにより光の偏波を制御する偏波制
御器３が備えられている。また、偏波制御器３に引き続
く導波路は光カプラ４で三方向に分岐接続されている。
の入射端に配置することにより導波路が順方向と逆方向
とに切換え自在に構成されている。この導波路の順方向
にはファイバをコイル状に巻回すると共に、所定のステ
ップづつ回転することにより光の偏波を制御する偏波制
御器３が備えられている。また、偏波制御器３に引き続
く導波路は光カプラ４で三方向に分岐接続されている。
【００１２】その三方向のうち、１つは被測定光学部品
の片端子を接続するファイバ端ｆ1として導出されてい
る。他の２つには、順方向反射減衰量及び逆方向挿入損
失を測定する光パワーメータ５と、発光源参照光強度を
測定する光パワーメータ６とが備えられている。なお、
発光源１と光スイッチ２との間、偏波制御器３と光カプ
ラ４との間、光カプラ４と各光パワーメータ５，６との
間には光の戻り反射を防ぐアイソレータ７，８，９，１
０が組み付けられている。
の片端子を接続するファイバ端ｆ1として導出されてい
る。他の２つには、順方向反射減衰量及び逆方向挿入損
失を測定する光パワーメータ５と、発光源参照光強度を
測定する光パワーメータ６とが備えられている。なお、
発光源１と光スイッチ２との間、偏波制御器３と光カプ
ラ４との間、光カプラ４と各光パワーメータ５，６との
間には光の戻り反射を防ぐアイソレータ７，８，９，１
０が組み付けられている。
【００１３】逆方向の導波路には、三端子型サーキュレ
ータ等の方向性光循環器１１が配置されている。この方
向性光循環器１１からは、被測定光学部品の他端子を接
合するファイバ端ｆ2 が１端子より引き続く導波路とし
て導出されている。他の端子には、挿入損失，逆方向反
射減衰量並びに偏波依存性を測定する光パワーメータ１
２が備えられている。
ータ等の方向性光循環器１１が配置されている。この方
向性光循環器１１からは、被測定光学部品の他端子を接
合するファイバ端ｆ2 が１端子より引き続く導波路とし
て導出されている。他の端子には、挿入損失，逆方向反
射減衰量並びに偏波依存性を測定する光パワーメータ１
２が備えられている。
【００１４】上述した各装置に加えて、順方向，逆方向
の各導波路には被測定光学部品接合用のファイバ端ｆ
1 ，ｆ2 をベンディングするチャック１３，１４が備え
られている。各ファイバ端ｆ1 ，ｆ2 の間には、被測定
光学部品を挿通支持する治具１５が備えられている。ま
た、治具１５には被測定光学部品並びに導波路の温度条
件を可変自在なペルチェ等の半導体発熱素子１６が備え
られている。
の各導波路には被測定光学部品接合用のファイバ端ｆ
1 ，ｆ2 をベンディングするチャック１３，１４が備え
られている。各ファイバ端ｆ1 ，ｆ2 の間には、被測定
光学部品を挿通支持する治具１５が備えられている。ま
た、治具１５には被測定光学部品並びに導波路の温度条
件を可変自在なペルチェ等の半導体発熱素子１６が備え
られている。
【００１５】このように回路構成する光学部品の特性測
定装置では、光学部品の特性をコンピュータ１７による
メニュー操作乃至は連続全自動で測定することができ
る。その測定データは読み込みできる型式にし、フロッ
ピーディスクに記録するようにもできる。また、波長１
４７０〜１５９０ｍｍ程度の可変レーザを適用し、被測
定光学部品の特性を温度−２０℃〜８０℃程度の可変温
度条件のもとに測定するとよい。この可変条件に応じて
各検査項目を測定すれば、一般に汎用される広範な波長
並びに異なる使用環境における光学部品の特性について
数多くの測定データを得ることができる。
定装置では、光学部品の特性をコンピュータ１７による
メニュー操作乃至は連続全自動で測定することができ
る。その測定データは読み込みできる型式にし、フロッ
ピーディスクに記録するようにもできる。また、波長１
４７０〜１５９０ｍｍ程度の可変レーザを適用し、被測
定光学部品の特性を温度−２０℃〜８０℃程度の可変温
度条件のもとに測定するとよい。この可変条件に応じて
各検査項目を測定すれば、一般に汎用される広範な波長
並びに異なる使用環境における光学部品の特性について
数多くの測定データを得ることができる。
【００１６】この光学部品の特性測定装置では、被測定
光学部品を組み付ける前に検査回路自体について各検査
項目を順方向，逆方向個別に各々測定した後、被測定光
学部品を検査回路中に組み付けて各検査項目の測定を順
方向，逆方向個別に行うようにする。その検査回路自体
より求めた測定データを基準光強度として両者の測定デ
ータを対比し、この両者の差異を求めれば、被測定光学
部品を一回のファイバ融着で回路中に組み付けることに
より光学部品自体の特性を測定することができる。
光学部品を組み付ける前に検査回路自体について各検査
項目を順方向，逆方向個別に各々測定した後、被測定光
学部品を検査回路中に組み付けて各検査項目の測定を順
方向，逆方向個別に行うようにする。その検査回路自体
より求めた測定データを基準光強度として両者の測定デ
ータを対比し、この両者の差異を求めれば、被測定光学
部品を一回のファイバ融着で回路中に組み付けることに
より光学部品自体の特性を測定することができる。
【００１７】まず、被測定光学部品を組み付けないで検
査回路自体について各検査項目の測定を行う。システム
全体を立ち上げ、図２で示すように光スイッチ２を順方
向側にする。その順方向には指定波長の光を発光源１よ
り入射し、順方向のリターンロス用基準パワーを光パワ
ーメータ５で測定し、ＲＬＩ１ｗする。次に、図３で示
すように順方向のファイバ端ｆ1 をチャック１３でベン
ディングし、ファイバ端ｆ1 の端面からの反射戻り光量
をゼロにさせて光パワーメータ５に入力することにより
順方向の寄生戻り光量を測定し、ＲＬＩ２ｗとする。そ
の後、図４で示すように光スイッチ２を逆方向に切り換
えて指定波長の光を発光源１より入射し、逆方向のリタ
ーンロス用基準パワーを光パワーメータ１２で測定し、
ＲＬＯ１ｗとする。また、図５で示すようにファイバ端
ｆ2 をチャック１４でベンディングし、ファイバ端ｆ2
の端面からの反射戻り光量をゼロにすることにより逆方
向の寄生戻り光量を光パワーメータ１２で測定し、ＲＬ
Ｏ２ｗとする。
査回路自体について各検査項目の測定を行う。システム
全体を立ち上げ、図２で示すように光スイッチ２を順方
向側にする。その順方向には指定波長の光を発光源１よ
り入射し、順方向のリターンロス用基準パワーを光パワ
ーメータ５で測定し、ＲＬＩ１ｗする。次に、図３で示
すように順方向のファイバ端ｆ1 をチャック１３でベン
ディングし、ファイバ端ｆ1 の端面からの反射戻り光量
をゼロにさせて光パワーメータ５に入力することにより
順方向の寄生戻り光量を測定し、ＲＬＩ２ｗとする。そ
の後、図４で示すように光スイッチ２を逆方向に切り換
えて指定波長の光を発光源１より入射し、逆方向のリタ
ーンロス用基準パワーを光パワーメータ１２で測定し、
ＲＬＯ１ｗとする。また、図５で示すようにファイバ端
ｆ2 をチャック１４でベンディングし、ファイバ端ｆ2
の端面からの反射戻り光量をゼロにすることにより逆方
向の寄生戻り光量を光パワーメータ１２で測定し、ＲＬ
Ｏ２ｗとする。
【００１８】今までは各ファイバ端ｆ1 ，ｆ2 を切り離
し状態に保ったが、次には検査回路自体の寄生損失，偏
波依存性を測定するべく各ファイバ端ｆ1 ，ｆ2 を接続
する。この測定にあたっては、図６で示すように光スイ
ッチ２を順方向に切り換え、或いは図７で示すように前
工程に引き続いて光スイッチ２を逆方向に維持すること
から順方向，逆方向いずれの測定を先に行ってもよい。
順方向では図６で示すように偏波制御器３並びに半導体
発熱素子１６を作動し、可変温度条件のもとに発光源１
より指定波長の光を入射することにより寄生偏波依存量
の上限，下限値を光パワーメータ１２で測定し且つ寄生
損失も測定する。また、図７で示すように逆方向の寄生
損失を光パワーメータ５で測定し、ＩＳＲｗｔとする。
し状態に保ったが、次には検査回路自体の寄生損失，偏
波依存性を測定するべく各ファイバ端ｆ1 ，ｆ2 を接続
する。この測定にあたっては、図６で示すように光スイ
ッチ２を順方向に切り換え、或いは図７で示すように前
工程に引き続いて光スイッチ２を逆方向に維持すること
から順方向，逆方向いずれの測定を先に行ってもよい。
順方向では図６で示すように偏波制御器３並びに半導体
発熱素子１６を作動し、可変温度条件のもとに発光源１
より指定波長の光を入射することにより寄生偏波依存量
の上限，下限値を光パワーメータ１２で測定し且つ寄生
損失も測定する。また、図７で示すように逆方向の寄生
損失を光パワーメータ５で測定し、ＩＳＲｗｔとする。
【００１９】その検査回路自体の偏波依存性(PDLRwt)
は、光パワーメータ６による発光源参照光強度(OPM2wt
i) 並びに光パワーメータ１２による測定値(OPM3wti)
から、次の式１で求めることができる。なお、ｉはポア
ンカレ球の中の位置番号を示し、、具体的には偏波制御
器３内のλ／２位相差素子とλ／４位相差素子の各回転
角度に対応した番号を示す。また、ＭＡＸ，ＭＩＮはＯ
ＰＭ３ｗｔｉの最大パワー値及び最小パワー値を夫々示
す。
は、光パワーメータ６による発光源参照光強度(OPM2wt
i) 並びに光パワーメータ１２による測定値(OPM3wti)
から、次の式１で求めることができる。なお、ｉはポア
ンカレ球の中の位置番号を示し、、具体的には偏波制御
器３内のλ／２位相差素子とλ／４位相差素子の各回転
角度に対応した番号を示す。また、ＭＡＸ，ＭＩＮはＯ
ＰＭ３ｗｔｉの最大パワー値及び最小パワー値を夫々示
す。
【式１】PDLRwt=-10*log(OPM3wtMAX/OPM2wti+OPM3wti)-
(-10*log(OPM3wtMIN/(OPM2wti+OPM3wti)))
(-10*log(OPM3wtMIN/(OPM2wti+OPM3wti)))
【００２０】また、順方向の寄生損失(ILRwt(dB)) は、
光パワーメータ１２による測定値(OPM3wti) から次の式
２で求めることができる。
光パワーメータ１２による測定値(OPM3wti) から次の式
２で求めることができる。
【式２】 ILRwt=-10*log(OPM3wtMAX/(OPM2wti)+OPM3wti))
【００２１】今までは検査回路自体について各検査項目
の測定を行ったが、これからは図８，９で示すように被
測定光学部品Ｄを各ファイバ端ｆ1 ，ｆ2 にファイバ融
着で接合することにより各検査項目の測定を行う。この
際にも指定波長の光を発光源１より入射し、半導体発熱
素子１６を作動することにより可変温度条件のもとに順
方向，逆方向別に測定を行う。
の測定を行ったが、これからは図８，９で示すように被
測定光学部品Ｄを各ファイバ端ｆ1 ，ｆ2 にファイバ融
着で接合することにより各検査項目の測定を行う。この
際にも指定波長の光を発光源１より入射し、半導体発熱
素子１６を作動することにより可変温度条件のもとに順
方向，逆方向別に測定を行う。
【００２２】まず、図８で示すように光スイッチ２を順
方向にセットし、順方向の偏波依存性(PDLwt) を測定す
る。その偏波依存性は上述した検査回路自体の偏波依存
性(PDLRwt)と対比することから、次の式３で光学部品自
体のものとして求めることができる。
方向にセットし、順方向の偏波依存性(PDLwt) を測定す
る。その偏波依存性は上述した検査回路自体の偏波依存
性(PDLRwt)と対比することから、次の式３で光学部品自
体のものとして求めることができる。
【式３】PDLwt(dB)=-10*log(OPM3wtMAX/OPM2wti+OPM3wt
i))-(-10*log(OPM3wtMIN/(OPM2wti+OPM3wti))-PDLRwt
i))-(-10*log(OPM3wtMIN/(OPM2wti+OPM3wti))-PDLRwt
【００２３】また、順方向の偏波依存性(PDLwt) の測定
データに基づいて順方向の損失(ILwt)を検出回路自体の
寄生損失(ILRwt) と対比し、次の式４から求めることが
できる。
データに基づいて順方向の損失(ILwt)を検出回路自体の
寄生損失(ILRwt) と対比し、次の式４から求めることが
できる。
【式４】 ILwt(dB)=-10*log(OPM3wtMAX/OPM2wti+OPM3wti)-ILRwt
【００２４】次に、順方向のリターンロス(RLIw(dB))を
光パワーメータ５による順方向のリターンロス用基準パ
ワー(RLI1w) ，検出回路自体の光パワーメータ５による
順方向の寄生戻り光量(RLI2w) と対比し、次の式５で求
める。但し、KRは光ファイバの切断部におけるコア部
（石英）と空気媒体界面からの光の反射係数であり、
０．０３３３６とする。この反射係数(KR)は、石英の屈
折率１．４４６９(n1)，空気の屈折率１(n2)に基づいて
次の式６で求めることができる。なお、ＯＰＭ１ｗは光
パワーメータ５による測定値である。
光パワーメータ５による順方向のリターンロス用基準パ
ワー(RLI1w) ，検出回路自体の光パワーメータ５による
順方向の寄生戻り光量(RLI2w) と対比し、次の式５で求
める。但し、KRは光ファイバの切断部におけるコア部
（石英）と空気媒体界面からの光の反射係数であり、
０．０３３３６とする。この反射係数(KR)は、石英の屈
折率１．４４６９(n1)，空気の屈折率１(n2)に基づいて
次の式６で求めることができる。なお、ＯＰＭ１ｗは光
パワーメータ５による測定値である。
【式５】 RLIw(dB)=-10*log(KR(OPM1w-RLI2w)/(RLI1w-RLI2w)))
【式６】KR=(n1-n2/n1+n2)2
【００２５】今度は光スイッチ２を逆方向に切り換え、
逆方向の損失(ISwt)を検出回路自体の逆方向の寄生損失
(ISRwt) ，上述した順方向の損失(ILwt)から、次の式７
で求めることができる。なお、ＯＰＭ１ｗｔは光パワー
メータ５の測定値である。
逆方向の損失(ISwt)を検出回路自体の逆方向の寄生損失
(ISRwt) ，上述した順方向の損失(ILwt)から、次の式７
で求めることができる。なお、ＯＰＭ１ｗｔは光パワー
メータ５の測定値である。
【式７】ISwt(dB)=-10*log(OPM1wt/ISRwt)-ILwt
【００２６】また、逆方向のリターンロス(RLOw(dB))を
測定する。このリターンロスは、検出回路自体の逆方向
の寄生戻り光量(RLO2w) と対比し、次の式８で求めるこ
とができる。但し，ＫＲは０．０３３３６とする。な
お、ＯＰＭ３ｗは光パワーメータ１２による測定値であ
る。
測定する。このリターンロスは、検出回路自体の逆方向
の寄生戻り光量(RLO2w) と対比し、次の式８で求めるこ
とができる。但し，ＫＲは０．０３３３６とする。な
お、ＯＰＭ３ｗは光パワーメータ１２による測定値であ
る。
【式８】 RLOw(dB)=-10*log(KR(OPM3w-RLO2w)/(RLO1w-RLO2w)
【００２７】このようにして光学部品の特性を測定すれ
ば、光学部品を検査回路中にファイバ融着で１回接合す
るだけでよいから不確定要素が混入するのを防げる。ま
た、光スイッチを切り換えるだけの操作で、光学部品の
検査項目のうち順方向の挿入損失，逆方向の挿入損失，
順方向の反射減衰量，逆方向の反射減衰量，偏波依存性
を能率よく測定することができる。
ば、光学部品を検査回路中にファイバ融着で１回接合す
るだけでよいから不確定要素が混入するのを防げる。ま
た、光スイッチを切り換えるだけの操作で、光学部品の
検査項目のうち順方向の挿入損失，逆方向の挿入損失，
順方向の反射減衰量，逆方向の反射減衰量，偏波依存性
を能率よく測定することができる。
【００２８】
【発明の効果】以上の如く、本発明に係る光学部品の特
性測定方法及び装置に依れば、光学部品を検査回路中に
ファイバ融着で１回接合するだけで各検査項目の測定を
行えることにより作業能率を向上でき、また、不確定要
素が測定データに混入するのも防げることにより光学部
品自体の特性を正確に測定することができる。
性測定方法及び装置に依れば、光学部品を検査回路中に
ファイバ融着で１回接合するだけで各検査項目の測定を
行えることにより作業能率を向上でき、また、不確定要
素が測定データに混入するのも防げることにより光学部
品自体の特性を正確に測定することができる。
【図１】本発明に係る光学部品の特性測定装置を示す回
路構成図である。
路構成図である。
【図２】同装置において、検査回路自体の順方向のリタ
ーンロス用基準パワーを測定する動作回路図である。
ーンロス用基準パワーを測定する動作回路図である。
【図３】同装置において、検査回路自体の順方向の寄生
戻り光量を測定する動作回路図である。
戻り光量を測定する動作回路図である。
【図４】同装置において、検査回路自体の逆方向のリタ
ーンロス用基準パワーを測定する動作回路図である。
ーンロス用基準パワーを測定する動作回路図である。
【図５】同装置において、検査回路自体の逆方向の寄生
戻り光量を測定する動作回路図である。
戻り光量を測定する動作回路図である。
【図６】同装置において、検査回路自体の順方向の偏波
依存性並びに同寄生損失を測定する動作回路図である。
依存性並びに同寄生損失を測定する動作回路図である。
【図７】同装置において、検査回路自体の逆方向の寄生
損失を測定する動作回路図である。
損失を測定する動作回路図である。
【図８】同装置において、光学部品の組付け状態で順方
向の偏波依存性並びに同リターンロスを測定する動作回
路図である。
向の偏波依存性並びに同リターンロスを測定する動作回
路図である。
【図９】同装置において、光学部品の組付け状態で逆方
向の寄生損失を測定する動作説明図である。
向の寄生損失を測定する動作説明図である。
１ 発光源 ２ 光スイッチ ３ 偏波制御器 ４ 光カプラ ５，６ 光パワーメータ １１ 方向性光循環器 １２ 光パワーメータ １３，１４ チャック ｆ1 ，ｆ2 ファイバ端 Ｄ 光学部品
Claims (2)
- 【請求項１】 被測定光学部品をファイバの融着接合で
組み付けて光学部品の特性を測定する検査回路を用い、
その検査回路は導波路を光入射の順方向と逆方向とに分
け、光学部品の検査項目のうち少なくとも順方向挿入損
失，逆方向挿入損失，順方向反射減衰量，逆方向反射減
衰量，偏波依存性を測定するのに必要な装置を夫々備
え、 被測定光学部品を組み付ける前の検査回路自体について
上記各検査項目を順方向，逆方向個別に各々測定し、そ
の後に被測定光学部品を検査回路に組み付けて上記各検
査項目の測定を順方向，逆方向個別に行い、検査回路自
体より求めた測定データを基準光強度として両者の測定
データを対比し、この両者の差異に基づいて被測定光学
部品をファイバ融着で１回接合することから光学部品自
体の特性を測定するようにしたことを特徴とする光学部
品の特性測定方法。 - 【請求項２】 被測定光学部品をファイバの融着接合で
組み付けて光学部品の特性を測定する検査回路でなり、
発光源の入射端には導波路を順方向と逆方向とに切り換
える光スイッチを備え、 順方向の導波路には偏波制御器を配置すると共に、該偏
波制御器に引き続く導波路を光カプラーで三方向に分岐
接続し、その１つは被測定光学部品の片端子を接合する
ファイバ端とし、他の２つのには順方向反射減衰量及び
逆方向挿入損失を測定する光パワーメータと、発光源参
照光強度を測定する光パワーメータを接続し、 逆方向の導波路には方向性光循環器を配置し、この方向
性光循環器の１端子より引き続く導波路は被測定光学部
品の他端子を接合するファイバ端とし、他の端子には挿
入損失，逆方向反射減衰量並びに偏波依存性を測定する
光パワーメータを備え、更に、順方向，逆方向の各導波
路には被測定光学部品接合用のファイバ端をベンディン
グするチャックを備え、 光学部品の検査項目のうち少なくとも順方向挿入損失，
逆方向挿入損失，順方向反射減衰量，逆方向反射減衰
量，偏波依存性を被測定光学部品の組付け前，組付け状
態で順方向，逆方向個別に夫々測定し、被測定光学部品
組付け前の測定データを基準光強度として両者の測定デ
ータを対比し、その両者の差異に基づいて被測定光学部
品をファイバ融着で１回接合することから光学部品自体
の特性を測定する検査回路を構成したことを特徴とする
光学部品の特性測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31591094A JP3392966B2 (ja) | 1994-11-25 | 1994-11-25 | 光学部品の特性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31591094A JP3392966B2 (ja) | 1994-11-25 | 1994-11-25 | 光学部品の特性測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08145847A true JPH08145847A (ja) | 1996-06-07 |
| JP3392966B2 JP3392966B2 (ja) | 2003-03-31 |
Family
ID=18071084
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31591094A Expired - Fee Related JP3392966B2 (ja) | 1994-11-25 | 1994-11-25 | 光学部品の特性測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3392966B2 (ja) |
-
1994
- 1994-11-25 JP JP31591094A patent/JP3392966B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3392966B2 (ja) | 2003-03-31 |
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