JP2001503138A

JP2001503138A - 光ファイバシステム構成要素をテストするための装置および方法

Info

Publication number: JP2001503138A
Application number: JP10516560A
Authority: JP
Inventors: ブルーム，キャリー
Original assignee: ブルーム，キャリー
Priority date: 1996-10-01
Filing date: 1997-09-12
Publication date: 2001-03-06
Also published as: KR20000048848A; CA2268108A1; US6177985B1; EP0929799A1; WO1998014766A1; IL129313A0; AU4735597A; AU735826B2

Abstract

(57)【要約】光スイッチアセンブリは光ソースおよび検出器を少なくとも１つの光ファイバ装置に選択的に接続する。アセンブリは第１および第２のグループの光路、ならびに第１および第２の光スイッチを含む。第１の光スイッチは光ソースを第１のグループの光路の一方端に選択的に接続し、第２の光スイッチは検出器を第２のグループの光路の一方端に接続する。アセンブリはさらに複数個の接合部を含み、各々はそれに関連するリード線を有し、１本または複数のリード線が光ファイバ装置に接続される。接合部は第１のグループの光路の他方端および第２のグループの光路の他方端をリード線に接続して、光ファイバ装置のテストを容易にする。

Description

【発明の詳細な説明】光ファイバシステム構成要素をテストするための装置および方法関連出願本願は、本明細書に引用により援用する、１９９７年３月２１日提出の来国仮出願第６０／０４０，８７５号の優先権を主張するものである。本願は、本明細書に引用により援用する、１９９６年１０月１日提出の米国出願第０８／７２５，６５１号の一部継続出願である。発明の背景発明の分野本発明はスイッチアセンブリに関し、より具体的には、光ファイバ、デバイス、および／または光ファイバ結合器などの光ファイバデバイスをテストするために使用されるスイッチアセンブリおよび／または光スイッチに関する。本発明は、光ファイバデバイスを、関連するいくつかの、多くの、および／またはすべての光特性について、十分に、正確に、かつ信頼性高くテストするものである。関連技術の背景典型的には、光ファイバデバイスの光特性を判定するためのテストは製造後に行なわれる。たとえば、デバイスの実際の減衰を判定するために減衰器をテストしてもよく、選択された波長および偏光での結合比を判定するために光ファイバ結合器をテストしてもよい。現在、光ファイバデバイスをテストするのに利用できる技術および／またはスイッチアセンブリは種々ある。例として、図１Ａおよび１Ｂは、本明細書に引用により援用する、Philip C．Longhurstへの、英国特許出願第２２３５０４３Ａに開示された、あるテストアセンブリを示している。図１Ａにおける、光測定システムは、システムの光源１７および１８ならびに検出器２２を用いて得られる光ファイバリボン１６に接続されたマルチファイバコネクタ１５の各ファイバの挿入損失を次々に測定する。マルチチャネル光スイッチ１は光源１７および１８に接続される。１×２双方向性スプリッタ２は、各スイッチチャネル４と、テストされるコネクタ１５と係合する標準的なマルチファイバコネクタ３の各ファイバ８との間に光学的に結合される。光ファイバ５は、チャネル４に６で融着接続され、かつ１０で融着接続される光ファイバ９によりコネクタ３に接続される光ファイバリボン７のファイバ８の１つに接続される。図１Ｂは、光測定システムを、標準のマルチファイバコネクタ３とテストされるマルチファイバコネクタ１５との係合により相互接続される１対の光ファイバ間の反射減衰量をモニタおよび記録するために使用するときの様子を示したものである。この反射減衰量テストを行なうために、アダプタ２１および広域検出器２２（図１Ａに示す）を、光ファイバリボン１６の端部から切り離し取除く。光ファイバリボン１６の自山端を屈折率整合ゲル２３に浸すが、ここからは光の反射は生じない。次に反射減衰量についてのテストを、光源１７および１８ならびにさらなる検出器１９および２０を用いて行なう。このように、Longhurst引例では、テスト手順は複雑で煩わしいものである。さらに、光ファイバデバイスのすべての所望の特性のテストは、異なるテスト手順間で、さらなる接続を設けたり、および／または操作を行なったり、および／またはさらなるテスト機器を必要としたりしない限りは不可能である。このように、Longhurst引例のテストシステムは、非効率的であり、十分におよび／または適切に自動化されていない。図２は、もう１つの先行技術によるスイッチアセンブリを示したものである。具体的には、本明細書に引用により援用する、１９９４年１１月１日発行の、Be llcore Generic Requirements for Fiber Optic Branching Components,Bellcor e,GR-1209-COREに記載された、伝送測定設備である。ソーススイッチ１１２を用いて、スイッチ１０６を介して選択されたソース１０４の一方から、環境試験室１１０の被テスト装置（ＤＵＴ）１０８のいずれかに向けて光を発射させる。検出器スイッチ１１４は、いずれかのＤＵＴ１０８を、伝送されたパワーおよび反射されたパワーを測定するパワーメータ１１８に接続する。結合器１１６は、ＤＵＴ１０８が反射した光パワーを、検出のためにスイッチ１１４のポート（ｒ）に導く。スイッチ１１２および１１４のポート（ｍ）に位置する基準ファイバ１２０を用いて、時間に伴うソースパワーの変化について修正を行なう。反射率基準１２２はスイッチ１１２のポート（ｒ）に位置しており、測定した光パワーから反射率を計算するのに用いられる。挿入損失は、基準ファイバ１２０を通して伝送されたパワーを、ＤＵＴ１０８を通して伝送されたパワーから減算することによって計算される。反射率は、反射率基準１２２によって反射されたパワーを、ＤＵＴ１０８によって反射されたパワーから減算することによって計算される。スイッチ、パワーメータ、および環境試験室は、ＧＰＩＢインターフェイスを介してコンピュータ制御される。しかしながら、このスイッチアセンブリ（光ファイバデバイスの環境試験のために使用することが提案されている）を用いて、十分なデータを集めおよび／またはとらえて、適切なおよび／または十分な光ファイバデバイスのテストのために所定のデバイス特性を計算／判定するのに必要な全伝送行列を定めることはできないことがわかっている。たとえば、このスイッチアセンブリは、光ファイバデバイスの指向性および／または近端クロストーク測定値を得るまたは収集することができない。したがって、光ファイバデバイスを、関連する光特性のうちいくつか、ほとんど、および／またはすべてについて十分に、正確に、かつ信頼性高くテストすることができるテストアセンブリを提供することが望ましい。光ファイバ双円錐テーパ（ＦＢＴ）結合器といった光ファイバデバイスを、十分に、正確にかつ信頼性高くテストすることができるテストアセンブリを提供することもまた望ましい。光ファイバデバイスを、テスト構成および／またはテスト機器を変更または交換することなく、十分に、正確に、迅速に、かつ信頼性高くテストすることができるテストアセンブリを提供することもまた望ましい。光ファイバデバイスを、テスト動作中にテスト装置と被テスト装置（ＤＵＴ）との間の接続の変更または交換を必要とせずに、十分に、正確に、迅速にかつ信頼性高くテストすることができるテストアセンブリを提供することもまた望ましい。別の被テスト装置にも接続しおよび／またはこの別の被テスト装置から切り離し、および／またはこの別の被テスト装置を同時にテストする一方で、テスト構成および／またはテスト機器を変更または交換することなく、十分に、正確に、迅速にかつ信頼性高く光ファイバデバイスをテストすることができるテストアセンブリを提供することもまた望ましい。発明の概要本発明の特徴および利点は、光ファイバデバイスを関連するすべての光特性について十分に、正確にかつ信頼性高くテストすることができるテストアセンブリを提供することにある。本発明の他の特徴および利点は、光ファイバ双円錐テーパ（ＦＢＴ）結合器のような光ファイバデバイスを十分に、正確に、かつ信頼性高くテストすることができるテストアセンブリを提供することにある。本発明のさらに他の特徴および利点は、光ファイバデバイスを、テスト構成および／またはテスト機器を変更または交換することなく、十分に、正確にかつ信頼性高くテストすることができるテストアセンブリを提供することにある。本発明のさらに他の特徴および利点は、光ファイバデバイスを、テスト装置と被テスト装置（ＤＵＴ）との間の接続をテスト動作中に変更または交換することなく、十分に、正確にかつ信頼性高くテストすることができるテストアセンブリを提供することにある。本発明のさらに他の特徴および利点は、別の被テスト装置にも接続したり、および／またはこの別の被テスト装置から切り離したり、および／またはこの別の被テスト装置を同時にテストしたりする一方で、テスト構成および／またはテスト機器を変更または交換することなく、光ファイバデバイスを十分に、正確に、迅速にかつ信頼性高くテストすることができるテストアセンブリを提供することにある。本発明は一部、光ファイバデバイスのテスト中、光ファイバデバイスの十分かつ適切なテストが可能になる前に、テストプログラム中にテスト機器および／または光ファイバデバイスは手動による介入を必要とするという問題の理解または認識に基づくものである。これには、個人によるテストプログラムの実行または実現により多大なる努力をさらに行なうことを必要とするため、光ファイバデバイスのテストの全体のプロセスにおいて多くの非効率性が生まれる。有利なことに、予め定められたテストプログラムに従い、テスト機器、および／またはテスト機器と被テスト装置との間の接続の交換を行なわなくとも、光ファイバデバイスを十分にテストすることができることがわかっている。さらに、テスト装置を被テスト装置に効率的かつ効果的に接続するスイッチアセンブリを設計できることがわかっている。本発明のある実施例に従うと、光スイッチアセンブリは、光ソースおよび検出器を、少なくとも１つの光ファイバデバイスに選択的に接続する。このアセンブリは、第１および第２群の光路と、第１および第２の光スイッチとを含む。第１の光スイッチは、光ソースを第１群の光路の１つの一方の端部に選択的に接続し、第２の光スイッチは検出器を第２群の光路の１つの一方の端部に選択的に接続する。このアセンブリはまた、複数の接合部を含み、各接合部は関連のリード線を有し、１つ以上のリード線が光ファイバデバイスに接続される。各接合部は、第１群の光路の１つの他方の端部および第２群の光路の１つの他方の端部をリード線に接続して光ファイバデバイスのテストを容易に行なえるようにする。本発明の他の実施例に従うと、光スイッチアセンブリは、光ソースおよび検出器を、少なくともｎのリード線を有する少なくとも１つの光ファイバデバイスに選択的に接続する。このアセンブリは、光ファイバデバイスのｎのリード線にそれぞれ接続される少なくともｎの接合部を有する接合装置を含む。このアセンブリはまた、光ソースをｎの接合部の各々に選択的に接続し、かつ検出器をｎの接合部各々に選択的に接続する光スイッチを含む。２つのデバイスを実質的に同時にテストするため、１つのデバイスを、別のデバイスが光スイッチアセンブリに接続されている／光スイッチアセンブリから切り離されている一方でテストするため、１つのデバイスで２つのテストを実質的に同時に行なうため、などの目的のための、光スイッチアセンブリを使用するための方法もまた提供される。上記、および以下で明らかになる他の目的および利点は、本明細書の一部をなす添付の図面を参照しつつ本明細書においてより十分に記載およびクレームされる構成および動作の詳細において記載され、先の図面においては同じ構成要素については同じ参照番号を用いている。図面の簡単な説明図１Ａは、標準的なマルチファイバコネクタとテストされるマルチファイバコネクタとを係合させることによって相互接続する１対の光ファイバ間の挿入損失をモニタおよび記録するために使用するように構成された、先行技術による光測定システムを示す。図１Ｂは、図１Ａに示した先行技術による光測定システムの図であり、標準のマルチファイバコネクタおよびテストされるマルチファイバコネクタを係合させることによって相互接続する１対の光ファイバ間の反射減衰量をモニタおよび記録するために使用するように構成されている。図２は、Bellcore Generic Requirements for Fiber Optic Branching Compon entsに記載された、先行技術による伝送測定設備を示したものである。図３Ａは、光テスト装置の概略図である。図３Ｂは、被テスト装置（ＤＵＴ）として示されている１×２ＦＢＴ結合器を示したものである。図４は、このテスト手順の第１ステップにおいてテスト装置を光スイッチアセンブリに接続する様子を示している。図５は、テスト手順における次のステップで基準パワー値を得る様子を示している。図６は、基準反射率値を得る次のステップを示している。図７は、テスト手順における次のステップにおいて、被テスト装置のリード線１からリード線２への光パワー分布値を得る様子を示している。図８は、テスト手順の次のステップにおいて、被テスト装置のリード線１からリード線３に伝送される光パワーを判定する様子を示している。図９は、テスト手順の次のステップにおいて、リード線１から伝送され、テスト装置によって反射され被テスト装置のリード線１に戻される光パワーを判定する様子を示している。図１０は、テスト手順の次のステップにおいて、被テスト装置のリード線２からリード線１に伝送される光パワーを判定する様子を示す。図１１は、テスト手順の次のステップにおいて、被テスト装置のリード線２からリード線３に伝送される光パワーを判定する様子を示す。図１２は、テスト手順の次のステップにおいて、被テスト装置のリード線３からリード線２に伝送される光パワーを判定する様子を示す。図１３は、テストされる複数の１×２ＦＢＴ結合器に接続されるものとして示された光テスト装置の概略図である。図１４は、テストされる１×４ＦＢＴ結合器に接続されるものとして示された、図１３に示した光テスト装置の概略図である。発明の好ましい実施例の説明本発明は、光ファイバ、デバイス、および／または、実質的に同様の光応答、特性および／またはインジケータをもたらす結合器、スイッチ、波分割マルチプレクサ（ＷＤＭ）、フィルタ、減衰器、偏光子、導波路、センサ、広帯域光ファイバ結合器、光ファイバコネクタ、光ファイバ増幅器、光ファイバセンサなどの光ファイバ装置（以降「光ファイバデバイス」と呼ぶ）において使用され、かつこれらの効率的で、正確で、迅速かつ信頼性の高いテストをもたらすものである。ＷＤＭなどのこうした種々の光ファイバデバイスは、ガラス、クリスタル、金属、プラスチック、セラミックなどの異なる材料から構成することができる。本発明は、光ファイバデバイスをすべての関連する光特性について十分に、正確にかつ信頼性高くテストするものである。本発明は、たとえば、本明細書に引用により援用する、標準の、既に発表されているBellcore（Bell Commnunicatio ns Research）仕様１２０９および／または１２２１といった産業標準仕様に従って結合器、スイッチ、ＷＤＭなどの光ファイバデバイスの光特性のテストを容易にするおよび／または行なう。本明細書において記載される方法および／または装置の主な利点は、光ファイバデバイスをすべての関連する光特性について自動的にかつ迅速にテストすることができるということである。この方法および／または装置の主な用途はまた、受動光ファイバ構成要素製造業者のための、製造後のテストにある。この方法および／または装置は、光ファイバデバイスを、高度に自動化された態様で迅速に、信頼性高くかつ正確にテストするであろう。この方法について説明するために、１×２ＦＢＴ結合器の標準Bellcore １２０９光テストを概念として示す。単一光ファイバおよび／またはデバイスのテストを含む他の光ファイバデバイスのテストも（テストされる特定の光デバイスに基づいて追加および／または省略され得るいくつかのステップという例外を除いて）同様である。この説明においては、光ファイバデバイスのリード線およびテスト装置接続の数は、明確にするために最小にしてある。リード線の数が異なる他の光ファイバデバイスのテストについても同様である。テスト装置がより多くの接続を備えていれば、より多くの数のリード線を備えるデバイス、および／またはより多くの数のデバイスをテストすることができるであろう。図３Ａは光テスト装置２４の概略図を示す。これは、（ソースとして示す）１組の光ソース２６、たとえばレーザ、ＬＥＤ等と、それらのソース２６の光特性を選択および制御するための手段、たとえば偏光子、波長フィルタ等とを含む。光テスト装置２４はまた、（検出器として示す）１組の光検出器２８と、テストされる光特性を測定するための検出器２８を選択および制御するための手段とを含む。（ソースおよび検出器の下の大きい箱として示す）光スイッチアセンブリ３０が、ソース２６および検出器２８を以下により詳細に述べる被テスト装置に接続するために含まれる。光スイッチアセンブリ３０は、（スイッチＡおよびスイッチＢとして示す）２個の１×Ｎ光スイッチ３２、３４と、各々が光路（たとえば、光ファイバ、導波路、自由空間など）によって両方の光スイッチ３２、３４に接続される（小さい箱１−６として示す）１組の１×２光方向性結合器３６、３８、４０、４２、４４および４６とを含む。光結合器３６、３８、４０、４２、４４および４６に取付けられた（１×２結合器の下の細い黒色の垂直線として示す)1組のポート４８、５０、５２、５４、５６および５８が、外部の装置を光スイッチアセンブリ30に接続するために用いられる。各光結合器３６、３８、４０、４２、４４および４６は各ポート４８、５０、５２、５４、５６および５８を、ソース２６から入力を導くスイッチＡ３２と検出器２８へと出力を導くスイッチＢ３４との両方に接続する。この接続構成によって、各ポート４８、５０、５２、５４、５６および５８にはソース２６からの入力と検出器２８への出力との両方として同時に作用する能力が与えられる。（ポート４の下の黒い水平線５４として示す）基準光反射器６０は参照番号５４で示すポート４に永続的に取付けられてもよく、基準光反射率測定の基準として用いられる。（ポート５およびポート６の下の黒い線５６、５８として示す）光パッチケーブル６２は参照番号５６で示すポート５と参照番号５８で示すポート６とを永続的に接続してもよく、ソース２６の光パワーを較正および測定するために用いられる。図３Ｂは（被テスト装置またはＤＵＴとして示す）テストされるべき１×２ＦＢＴ結合器６４の図を示す。この装置を適切にテストするためには、各リード線から全リード線６６、６８および／または７０への光パワーの分布を測定することが必要である。図４は、このテスト手順の第１のステップが被テスト装置６４を光スイッチアセンブリ３０に接続することであることを示す。これを達成するために、被テスト装置６４のリード線６６、６８、７０がそれぞれポート４８、５０、５２に接続するよう好ましくは融着接続される。融着接続の代わりに、ここに説明する他の接続形態、たとえば、光コネクタ、機械的接続、自由空間接続、導波路等の使用が可能である。明確にするため、議論する光接続をより太い黒色の線で強調する。図５は、テスト手順の次のステップが基準光パワーおよび反射率の値を得ることであることを示す。基準光パワー値を判定するために、スイッチＡ３２はソース２６を光路または通信ライン７２および光方向性結合器５（参照番号４４）によってポート５（参照番号５６）に接続し、光パッチケーブル６２はポート５（参照番号５６）をポート６（参照番号５８）に接続する。スイッチＢ３４は検出器２８を光路７４および光方向性結合器６（参照番号４６）によってポート６（参照番号５８）に接続する。ソース２６は今や検出器２８に接続されており、ソース２６の光パワー測定が検出器２８によって行なわれることができ、後に参照するために記憶され得る。パッチケーブル６２はどのような適切なデバイスおよび／または光路（たとえば自由空間）、および／またはポート５（参照番号５６）とポート６（参照番号５８）との間を接続するおよび／またはその間に光学的に接続を与える手段であってもよい。図６は基準光反射率値を判定する次のステップを示す。図６において、基準光反射率値を判定するために、スイッチＡ３２がソース２６を光路７６および光方向性結合器４（参照番号４２）によってポート４（参照番号５４）に接続する。基準光反射器６０がポート４（参照番号５４）に接続され、予め定められた量の光パワーを反射してポート４（参照番号５４）に戻す。スイッチＢ３４はポート４（参照番号５４）を光路７８および光方向性結合器４２によって検出器２８に接続する。ソース２６の光反射率測定はここで検出器２８によって行なうことができ、後の参照のために記憶され得る。図７は、被テスト装置６４の各リード線６６、６８、７０に対する光パワー分布値を得るための、このテスト手順の次のステップである。リード線１（参照番号６６）からリード線２（参照番号６８）に伝達される光パワーを判定するために、スイッチＡ３２はソース２６を光方向性結合器３６および光路８０によってポート１（参照番号４８）に接続する。さらに、スイッチＢ３４がポート２（参照番号５０）を光方向性結合器３８および光路８２によって検出器２８に接続する。リード線１（参照番号６６）からリード線２（参照番号６８）への全光測定がここで行なわれ得る。たとえば、テストシステムによって行なわれる光測定のタイプには、引用によりここに援用するBellcore１２０９および１２２１に説明される１つ以上の光テストが含まれ得る。図８は、被テスト装置６４の各リード線６６、６８、７０に対する光パワー分布値を得るための、このテスト手順における次のステップである。リード線１（参照番号６６）からリード線３（参照番号７０）に伝達される光パワーを判定するために、スイッチＡ３２はソース２６を光方向性結合器３６および光路８０によってポート１（参照番号４８）に接続する。さらに、スイッチＢ３４がポート３（参照番号５２）を光方向性結合器４０および光路８４によって検出器２８に接続する。リード線１（参照番号６６）からリード線３（参照番号７０）への全光測定がここで行なわれ得る。図９は、被テスト装置６４の各リード線６６、６８、７０に対する光パワー分布値を得るための、このテスト手順における次のステップである。リード線１（参照番号６６）から伝達され、反射されてリード線１に戻る光パワーを判定するために、スイッチＡ３２はソース２６を光方向性結合器３６および光路８０によってポート１（参照番号４８）に接続する。さらに、スイッチＢ３４がポート１（参照番号４８）を光方向性結合器３６および光路８６によって検出器２８に接続する。リード線１（参照番号６６）からの、テスト装置によって反射されてリード線１に戻る全光測定がここで行なわれ得る。図１０は、被テスト装置６４の各リード線６６、６８、７０に対する光パワー分布値を得るための、このテスト手順における次のステップである。リード線２（参照番号６８）からリード線１（参照番号６６）に伝達される光パワーを判定するために、スイッチＡ３２はソース２６を光方向性結合器３８および光路８８によってポート２（参照番号５０）に接続する。さらに、スイッチＢ３４がポート１（参照番号４８）を光方向性結合器３６および光路８６によって検出器２８に接続する。リード線２（参照番号６８）からリード線１（参照番号６６）への全光測定がここで行なわれ得る。図１１は、被テスト装置６４の各リード線６６、６８、７０に対する光パワー分布値を得るための、このテスト手順における次のステップである。リード線２（参照番号６８）からリード線３（参照番号７０）に伝達される光パワーを判定するために、スイッチＡ３２がソース２６を光方向性結合器３８および光路８８によってポート２（参照番号５０）に接続する。さらに、スイッチＢ３４がポート３（参照番号５２）を光方向性結合器４０および光路８４によって検出器２８に接続する。リード線２（参照番号６８）からリード線３（参照番号７０）への全光測定がここで行なわれ得る。リード線２から伝達され、テスト装置によって反射されてリード線２に戻る光パワーの判定は図９に示すものと同様である。図１２は、被テスト装置６４の各リード線６６、６８、７０に対する光パワー分布値を得るための、このテスト手順における次のステップである。リード線３（参照番号７０）からリード線２（参照番号６８）に伝達される光パワーを判定するために、スイッチＡ３２がソース２６を光方向性結合器４０および光路９０によってポート３（参照番号５２）に接続する。さらに、スイッチＢ３４がポート２（参照番号５０）を光方向性結合器３８および光路８２によって検出器２８に接続する。リード線３（参照番号７０）からリード線２（参照番号６８）への全光測定がここで行なわれ得る。リード線３から伝達され、テスト装置によって反射されてリード線３に戻る光パワーの判定は図９に示すものと同様であり、リード線３からリード線１に伝達される光パワーの判定は図８に示すものと同様である。この時点で、各リード線から他のすべてのリード線への全光分布測定が行なわれた。これらの光測定および初期基準測定を用いて、たとえば関連のあるすべてのBellcore１２０９および／または１２２１光計算が行なわれ得る。以下の図面は、より多数の装置および／またはより多数のリード線を備える装置をテストするために用いられ得るテスト装置の例を示す。図１３はテストされているべき多数の１×２ＦＢＴ結合器に接続された光テスト装置の概略図を示す。効率を高めるため、１個以上の装置が他の装置が接続および／または分離される間にテストされる。たとえば、光スイッチアセンブリ３０は、（スイッチＡおよびスイッチＢとして示す）２個の１×Ｎ光スイッチ３２、３４と、各々が両方の光スイッチ３２、３４に接続される（小さい箱１−９として示す）１組の１×２光方向性結合器３６、３８、４０、４２、４４、４６、９２、９４および９６とを含む。ここで、さらなる３個の光方向性結合器９２、９４、９６が含まれている。光方向性結合器３６、３８、４０、４２、４４、４６、９２、９４、９６に取付けられた（１×２結合器の下の細い黒色の垂直線として示す）１組のポート４８、５０、５２、５４、５６、５８、９８、１００、１０２が、外部の装置を光スイッチアセンブリ３０に接続するために用いられる。各光方向性結合器３６、３８、４０、４２、４４、４６、９２、９４、９６は各ポート４８、５０、５２、５４、５６、５８、９８、１００、１０２を、ソース２６から入力を導くスイッチＡ３２と検出器２８へと出力を導くスイッチＢ３４との両方に接続する。被テスト装置６４のリード線６６、６８、７０はそれぞれポート４８、５０、５２に対して好ましくは融着接続される。さらに、被テスト装置６４がテストされている間、被テスト装置１０４は光スイッチアセンブリ３０に接続され、および／または光スイッチアセンブリ３０から分離され得る。より特定的には、被テスト装置１０４のリード線１０６、１０８、１１０が、被テスト装置６４の後のテストのために、または被テスト装置６４との同時のテストのために、それぞれポート５４、５６、５８に融着接続され得る。図１４は、テストされるべき１×４ＦＢＴ結合器に接続された、図１３に示す光テスト装置の概略図を示す。光スイッチアセンブリ３０は、（スイッチＡおよびスイッチＢとして示す）２個の１×Ｎ光スイッチ３２、３４と、各々が両方の光スイッチ３２、３４に接続される（小さい箱１−９として示す）１組の１×２光方向性結合器３６、３８、４０、４２、４４、４６、９２、９４および９６とを含む。ここで、さらなる３個の光方向性結合器９２、９４、９６が含まれる。光方向性結合器３６、３８、４０、４２、４４、４６、９２、９４、９６に取付けられた（１×２結合器の下の細い黒色の垂直線として示す）１組のポート４８、５０、５２、５４、５６、５８、９８、１００、１０２が、外部の装置を光スイッチアセンブリ３０に接続するために用いられる。各光結合器３６、３８、４０、４２、４４、４６、９２、９４、９６は各ポート４８、５０、５２、５４、５６、５８、９８、１００、１０２を、ソース２６から入力を導くスイッチＡ３２と検出器２８へと出力を導くスイッチＢ３４との両方に接続する。被テスト装置６４のリード線６６、６８、７０、１１２、１１４はそれぞれポート４８、５０、５２、５４、５６に融着接続され得る。被テスト装置のリード線をポートに接続する他の標準的な方法も用いられてよい。たとえば、融着接続の代わりに、光コネクタ、機械的接続、自由空間接続、導波路等が用いられてもよい。したがって、図１４に示す光テスト装置は、予め定められたテストステップを完了するために、テストプロセスの間にさまざまな接続ステップを必要とせずに、１×４ＦＢＴ結合器を含む被テスト装置を自動的にテストすることができる。上の例は主に１×２ＦＢＴ結合器のテストを例示したが、どのようなサイズおよび／または数のＦＢＴ結合器、光ファイバ装置、テスト装置、ソース、検出器および／またはテストを必要とする他の装置がここに説明された光テスト装置とともに用いられてもよい。同様に、どのようなサイズおよび／または数の光方向性結合器が用いられてもよい。さらに、どのような数および／またはサイズの光スイッチが用いられてもよい。ここに説明されたソースおよび検出器は適切な装置のどのようなものであってもよい。ＦＢＴ結合器はまた他のどのような適切なスイッチ機構と置き換えられてもよい。たとえば、２組以上の光スイッチが２個以上の被テスト装置を実質的に同時にテストするために、および／または２つ以上のテストを実質的に同時に行なうために用いられてもよい。たとえば、被テスト装置６４のリード線６６が光スイッチ３２およびソース２６に接続され、リード線６８が検出器２８に関連したスイッチ３４に接続され、リード線７０が付加的な光スイッチおよび検出器に接続されていれば、テストシステムは被テスト装置６４のリード線６８および７０に対して２つのテスト手順を同時に行なうことができる。同様に、多数組のソースおよび関連の光スイッチと多数組の検出器および関連の光スイッチとを使用すると、多数の被テスト装置が実質的に同時にテストされ得るか、および／または被テスト装置が必要に応じて多数のソースおよび／または検出器を必要とする。たとえば、エルビウムでドープされたファイバ増幅器のようないくつかの２×２被テスト装置はテスト手順を行なうために２つの異なった同時のソースと２つの異なつた同時の検出器とを必要とする。別個のものであるここに説明する全スイッチがもちろん、付加的な入力／出力を有する単一のスイッチ装置へと結合されてもよい。たとえば、スイッチ３２、３４は同様の機能を与える単一のスイッチアセンブリへと結合可能である。光結合器３６、３８、４０、４２、４４、４６、９２、９４、９６もまた必要とされる量の入力／出力ポートおよび／または同様の機能を備えた単一の光結合器／スイッチへと結合可能である。すなわち、上の例はスイッチ装置の論理的な分離を与えるのみであり、他の機能的に類似したスイッチ装置が企図されるか、またはここに説明する光スイッチ装置の範喘内にある。さらに、結合器は同様の機能を与えるどのような標準的接合部および／またはスイッチであってもよい。また、結合器および／または接合部および／またはスイッチが１×ｎのようなどのような寸法であってもよい。たとえば、標準的な１×ｎ光スイッチが結合器３６、３８、４０、４２、４４または４６の代わりに用いられれば逆反射を測定可能にするために１×２光方向性結合器がソース２６と光スイッチ３２、３４との間で必要とされ得る。ここに説明するソースおよび検出器構成要素は予め定められたテスト機能を行なうためのどのような適切な装置を含んでもよい。したがって、光ファイバ装置のテストのためにソースがレーザであってもよいが、他の装置をテストするためには、ソースは予め定められた回路、半導体装置、導体等の精度をテストするために用いられる別のテスティング／ポーリング装置を含み得る。さらに、ソースおよび検出器構成要素は別個のソースおよび検出器構成要素として同様および／または同時の機能を与える単一の装置であってもよい。したがって、さまざまなテスト装置および／または被テスト装置がここに説明されたスイッチ装置とともに用いられ得る。ソース、検出器および被テスト光ファイバ装置がここに説明するスイッチアセンブリのさまざまな異なる部分／ポートに接続され得る。すなわち、ここに説明された例で用いられる特定の構成がさまざまな必要を満たすように変更可能である。たとえば、ソースおよび検出器の位置が交換され得る。同様に、テストを必要とするリード線の数と実行される特定のテストプログラムとに依存して、検出器および／またはソースを光ファイバ装置と切換えることも可能である。ソースおよび／または検出器のようなさらなるテスト装置も用いられ得る。この場合、さらなるソースおよび／または検出器はその最大のおよび／または同時の利用のために従来の態様および／またはここに説明した態様で接続され得る。たとえば、付加的なソースが付加的なソースを各ポートへと選択的に接続する付加的な光スイッチに接続されてもよい。同様に、付加的な検出器が付加的な検出器を各ポートに選択的に接続する付加的な光スイッチに接続されてもよい。ソース、検出器および／または被テスト装置を含む、スイッチアセンブリにおける何らかの構成要素を接続する標準的な手段が用いられ得る。たとえば、融着接続、光コネクタ、機械的接続、自由空間接続、導波路等が構成要素を接続するために用いられ得る。ここに説明したスイッチアセンブリの利点を考慮すると、コンピュータ、マイクロプロセッサ等によって実行される標準的な自動化プログラムが光ファイバ装置を十分にテストするために組合されておよび／または継続的に用いられ得る。すなわち、この発明は、テスト手順の全体の組合せを完了する前にテストのセットアップおよび／または接続を変更することを必要とせずにさまざまなテスト手順を実行させる。この発明の多くの特徴および利点は詳細な説明から明らかであり、この発明の真の趣旨および範疇内に含まれるこの発明のこのようなすべての特徴および利点に添付の請求の範囲が及ぶことが意図される。さらに、数多くの変更および変化が当業者には容易に想起されるので、この発明を例示され説明された構成および動作そのものに限定することは望ましくなく、したがって、適切な変更および均等物のすべてが発明の範囲内にある。

【手続補正書】【提出日】平成１１年５月２４日（１９９９．５．２４）【補正内容】請求の範囲：１．第１および第２のテスト装置を少なくとも１つの被テスト装置に選択的に接続するためのスイッチアセンブリであって、第１および第２のグループの光路を含み、各光路は第１および第２の端部を有し、さらに第１のテスト装置を１つの第１のグループの光路の第１の端部に選択的に接続する第１のスイッチと、第２のテスト装置を１つの第２のグループの光路の第１の端部に選択的に接続する第２のスイッチと、複数個の接合部とを含み、各々はリード線を有し、少なくとも１本のリード線は前記少なくとも１つの被テスト装置に接続され、前記複数個の接合部は第１のグループからの対応する光路の第２の端部および第２のグループからの対応する光路の第２の端部を前記少なくとも１本のリード線に接続する、スイッチアセンブリ。２．前記複数個の接合部の少なくとも１つは受動光ファイバ方向性結合器である、請求項１に記載のスイッチアセンブリ。３．前記第１および第２のスイッチの少なくとも１つは光ファイバスイッチである、請求項１に記載のスイッチアセンブリ。４．前記第１および第２のグループの光路の少なくとも１つは光ファイバである、請求項１に記載のスイッチアセンブリ。５．前記第１のテスト装置は光源であり、前記第２のテスト装置は検出器である、請求項１に記載のスイッチアセンブリ。６．第１および第２のテスト装置の少なくとも１つは少なくとも１つの被テスト装置に少なくとも２つのテスト手順を行ない、前記少なくとも２つのテスト手順を完了する前にテスト構成を変更する必要はない、請求項１に記載のスイッチアセンブリ。７．前記少なくとも１つの被テスト装置は、波長分割マルチプレクサ、広帯域光ファイバ結合器、結合器、スイッチ、フィルタ、減衰器、導波路、光ファイバセンサ、センサ、光ファイバ結合器、光ファイバ、光コネクタ、光ファイバコネクタ、光増幅器、光ファイバ増幅器、光スイッチ、光ファイバスイッチ、および偏光子のうちの少なくとも１つを含む、請求項１に記載のスイッチアセンブリ。８．前記複数個の接合部の１つは基準反射器に接続される、請求項１に記載のスイッチアセンブリ。９．前記複数個の接合部の２つは互いに少なくとも機械的にまたは光学的に接続されて、前記第１および第２のテスト装置の少なくとも１つに対して基準測定を少なくとも較正するまたは得る、請求項８に記載のスイッチアセンブリ。１０．前記複数個の接合部は、基準反射器に接続される第１の接合部と、光学的に互いに接続される第２および第３の接合部と、被テスト装置の各ポートに対するさらなる接合部とを含む、請求項１に記載のスイッチアセンブリ。１１．前記複数個の接合部の２つは互いに光学的に接続されて、前記第１および第２のテスト装置の少なくとも１つに対して基準測定を少なくとも較正するまたは得る、請求項１に記載のスイッチアセンブリ。１２．光ソースおよび検出器を少なくとも１つの光ファイバ装置に選択的に接続するための光スイッチアセンブリであって、第１および第２のグループの光路を含み、各光路は第１および第２の端部を有し、さらに光ソースを１つの第１のグループの光路の第１の端部に選択的に接続する第１の光スイッチと、検出器を１つの第２のグループの光路の第１の端部に選択的に接続する第２の光スイッチと、複数個の接合部とを含み、各々はリード線を有し、少なくとも１本のリード線は前記少なくとも１つの光ファイバ装置に接続され、前記複数個の接合部は第１のグループからの対応する光路の第２の端部および第２のグループからの対応する光路の第２の端部を前記少なくとも１本のリード線に接続する、光スイッチアセンブリ。１３．前記第１および第２のグループの光路の少なくとも１つは光ファイバである、請求項１２に記載の光スイッチアセンブリ。１４．前記光ソースおよび検出器はともに前記少なくとも１つの光ファイバ装置に少なくとも２つのテスト手順を行なうよう構成され、前記少なくとも２つのテスト手順を完了する前にテスト構成を変更する必要はない、請求項１２に記載の光スイッチアセンブリ。１５．少なくとも１つの被テスト装置は、波長分割マルチプレクサ、広帯域光ファイバ結合器、結合器、スイッチ、フィルタ、減衰器、導波路、光ファイバセンサ、センサ、光ファイバ結合器、光ファイバ、光コネクタ、光ファイバコネクタ、光増幅器、光ファイバ増幅器、光スイッチ、光ファイバスイッチ、および偏光子のうちの少なくとも１つを含む、請求項１２に記載のスイッチアセンブリ。１６．前記複数個の接合部の１つは基準反射器に接続される、請求項１２に記載のスイッチアセンブリ。１７．前記複数個の接合部の２つは互いに光学的に接続されて、第１および第２のテスト装置の少なくとも１つに対して基準測定を少なくとも較正するまたは得る、請求項１２に記載のスイッチアセンブリ。１８．前記複数個の接合部は、基準反射器に接続される第１の接合部と、互いに光学的に接続される第２および第３の接合部と、被テスト装置の各ポートに対するさらなる接合部とを含む、請求項１２に記載のスイッチアセンブリ。１９．前記複数個の接合部の２つは互いに光学的に接続されて、前記第１および第２のテスト装置の少なくとも１つに対して基準測定を少なくとも較正するまたは得る、請求項１２に記載のスイッチアセンブリ。２０．前記複数個の接合部は、基準反射器に接続される第１の接合部と、互いに光学的に接続される第２および第３の接合部と、被テスト装置の各ポートに対するさらなる接合部とを含む、請求項１２に記載のスイッチアセンブリ。２１．光ソースおよび検出器を少なくとも１つの光ファイバ装置に選択的に接続するための光スイッチアセンブリであって、第１および第２のグループの光路を含み、各光路は第１および第２の端部を有し、さらに光ソースを１つの第１のグループの光路の第１の端部に選択的に接続し、かつ検出器を１つの第２のグループの光路の第１の端部に選択的に接続する光スイッチと、前記少なくとも１つの光ファイバ装置に接続される少なくとも１本のリード線を有する接合装置とを含み、前記接合装置は第１のグループからの対応する光路の第２の端部および第２のグループからの対応する光路の第２の端部を前記少なくとも１本のリード線に接続する、光スイッチアセンブリ。２２．前記光ソースおよび検出器はともに前記少なくとも１つの光ファイバ装置に少なくとも２つのテスト手順を行なうよう構成され、前記少なくとも２つのテスト手順を完了する前にテスト構成を変更する必要はない、請求項２１に記載の光スイッチアセンブリ。２３．前記少なくとも１つの光ファイバ装置は、波長分割マルチプレクサ、広帯域光ファイバ結合器、結合器、スイッチ、フィルタ、減衰器、導波路、光ファイバセンサ、センサ、光ファイバ結合器、光ファイバ、光コネクタ、光ファイバコネクタ、光増幅器、光ファイバ増幅器、光スイッチ、光ファイバスイッチ、および偏光子の少なくとも１つを含む、請求項２１に記載のスイッチアセンブリ。２４．前記接合装置は基準反射器に光学的に接続される別のリード線を含む、請求項２１に記載のスイッチアセンブリ。２５．前記接合装置は光学的に互いに接続されて、少なくとも光ソースまたは検出器に対する基準測定を少なくとも較正するまたは得る、第１および第２のリード線を含む、請求項２４に記載のスイッチアセンブリ。２６．前記接合装置は基準反射器に光学的に接続される第１の接合部と、互いに光学的に接続される第２および第３の接合部と、被テスト装置の各ポートに対する別の接合部とを含む、請求項２１に記載のスイッチアセンブリ。２７．前記接合装置の２つは、互いに光学的に接続されて少なくとも光ソースまたは検出器に対する基準測定を少なくとも較正するまたは得る、第１および第２の接合部を含む、請求項２１に記載のスイッチアセンブリ。２８．光ソースおよび検出器を少なくとも１つの光ファイバ装置に選択的に接続するための光スイッチアセンブリであって、第１および第２のグループの光路手段を含み、各光路手段は第１および第２の端部を有し、さらに前記光ソースを１つの第１のグループの光路手段の第１の端部に選択的に接続するための、かつ前記検出器を１つの第２のグループの光路手段の第１の端部に選択的に接続するための光スイッチ手段と、前記少なくとも１つの光ファイバ装置に接続される少なくとも１本のリード線を有する接合装置とを含み、前記接合装置は第１のグループからの対応する光路手段の第２の端部および第２のグループからの対応する光路手段の第２の端部を前記少なくとも１本のリード線に接続する、光スイッチアセンブリ。２９．スイッチアセンブリを用いて、光ソースおよび検出器を少なくとも１つの光ファイバ装置に選択的に接続する方法であって、前記方法は、（ａ）前記光ソースを１つの第１のグループの光路の第１の端部に選択的に接続する、（ｂ）前記検出器を１つの第２のグループの光路の第１の端部に選択的に接続する、（ｃ）１つの第１のグループの光路の第２の端部を接合部に接続する、（ｄ）１つの第２のグループの光路の第２の端部を接合部に接続する、（ｅ）前記少なくとも１つの光ファイバ装置を前記接合部に接続する、少なくとも非順次、順次、または逐次独立ステップを含む、方法。３０．少なくとも２つのテスト手順を完了する前にテスト構成を変更する必要なく、前記少なくとも１つの光ファイバ装置に前記少なくとも２つのテスト手順を行なうステップをさらに含む、請求項２９に記載の方法。３１．さらに、（１）前記接合部を基準反射器に接続するステップと、（２）前記基準反射器を用いて基準テストを行なうステップとを含む、請求項２９に記載の方法。３２．前記接合部は第１および第２の接合部を含み、前記方法は、前記第１および第２の接合部を互いに接続し、前記第１および第２の接合部を用いて少なくとも前記光ソースまたは検出器を較正するステップをさらに含む、請求項３１に記載の方法。３３．光ファイバ装置の各ポートを前記接合部の別の接合部に接続するステップをさらに含む、請求項３１に記載の方法。３４．前記接合部は第１および第２の接合部を含み、前記方法は、前記第１および第２の接合部を互いに光学的に接続し、前記第１および第２の接合部を用いて少なくとも光ソースまたは検出器を較正するステップをさらに含む、請求項２９に記載の方法。３５．前記接合部は第１、第２および第３の接合部を含み、前記方法は、（１）前記第１の接合物を基準反射器に接続し、前記基準反射器を用いて基準テストを行なうステップと、（２）前記第２および第３の接合部を互いに光学的に接続し、前記第２および第３の接合部を用いて少なくとも光ソースまたは検出器を較正するステップと、（３）前記少なくとも１つの光ファイバ装置の各ポートを前記接合部の別の接合部に接続するステップとをさらに含む、請求項２９に記載の方法。３６．光ソースおよび検出器を、少なくともｎ本のリード線を有する少なくとも１つの光ファイバ装置に選択的に接続するための光スイッチアセンブリであって、前記少なくとも１つの光ファイバ装置の前記少なくともｎ本のリード線にそれぞれ接続される少なくともｎ個の接合部を有する接合装置と、前記光ソースを各前記ｎ個の接合部に選択的に接続し、かつ前記検出器を各ｎ個の接合部に選択的に接続する光スイッチとを含む、光スイッチアセンブリ。３７．第１および第２のテスト装置を少なくとも１つの被テスト装置に選択的に接続するためのスイッチアセンブリであって、第１および第２のグループの光路を含み、各光路は第１および第２の端部を有し、さらに第１のテスト装置を１つの第１のグループの光路の第１の端部に選択的に接続する第１のスイッチと、第２のテスト装置を１つの第２のグループの光路の第１の端部に選択的に接続する第２のスイッチと、複数個の接合部とを含み、各々はリード線を有し、各リード線は各接合部を前記少なくとも１つの被テスト装置の対応する別のポートに接続し、前記複数個の接合部は第１のグループからの対応する光路の第２の端部および第２のグループからの対応する光路の第２の端部を少なくとも１本のリード線に接続する、スイッチアセンブリ。３８．スイッチアセンブリを用いて、光ソースおよび検出器を少なくとも１つの光ファイバ装置に選択的に接続する方法であって、前記方法は、（ａ）前記光ソースを１つの第１のグループの光路の第１の端部に選択的に接続する、（ｂ）前記検出器を１つの第２のグループの光路の第１の端部に選択的に接続する、（ｃ）１つの第１のグループの光路の第２の端部を接合部に接続する、（ｄ）１つの第２のグループの光路の第２の端部を接合部に接続する、（ｅ）光ファイバ装置の各ポートを前記接合部の別の接合部に接続する、少なくとも非順次、順次、または逐次独立ステップを含む、方法。３９．光ソースおよび検出器を少なくとも３本のリード線を有する少なくとも１つの光ファイバ装置に選択的に接続するための光スイッチアセンブリであって、前記少なくとも１つの光ファイバ装置の前記少なくとも３本のリード線にそれぞれ接続される少なくとも３個の接合部を有する接合装置と、光ソースを前記少なくとも３個の接合部の各々に選択的に接続し、かつ検出器を前記少なくとも３個の接合部の各々に選択的に接続する光スイッチとを含む、光スイッチアセンブリ。４０．光ソースおよび検出器を少なくともｎ本のリード線を有する少なくとも１つの光ファイバ結合器に選択的に接続するための光スイッチアセンブリであって、前記少なくとも１つの光ファイバ結合器の前記少なくともｎ本のリード線にそれぞれ接続される少なくともｎ個の接合部を有する接合装置と、光ソースを前記ｎ個の接合部の各々に選択的に接続し、かつ検出器を前記ｎ個の接合部の各々に選択的に接続する光スイッチとを含む、光スイッチアセンブリ。４１．前記少なくとも１つの光ファイバ結合器はそれぞれ第１および第２のｎ本のリード線を有するに第１および第２の光ファイバ結合器を含み、前記ｎ個の接合部は前記第１および第２の光ファイバ結合器の第１および第２のｎ本のリード線にそれぞれ接続される第１および第２のｎ個の接合部を含み、前記光スイッチは光ソースを前記第１および第２の光結合器の第１および第２のｎ個の接合部の各々に選択的に接続し、かつ検出器を前記第１および第２の光結合器の第１および第２のｎ個の接合部の各々に選択的に接続する、請求項４０に記載の光スイッチアセンブリ。４２．光ソースおよび検出器を、少なくともｎ本のリード線を有する少なくとも１つの光ファイバ装置に選択的に接続するための光スイッチアセンブリであって、第１および第２のｎ本のリード線を有するに少なくとも第１および第２の光ファイバ装置と、前記第１および第２の光ファイバ装置の前記第１および第２のｎ本のリード線にそれぞれ接続される少なくとも第１および第２のｎ個の接合部と、光ソースを前記第１および第２の光装置の第１および第２のｎ個の接合部の各々に選択的に接続し、かつ検出器を前記第１および第２の光装置の第１および第２のｎ個の接合部の各々に選択的に接続する、少なくとも１つの光スイッチとを含む、光スイッチアセンブリ。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (31)優先権主張番号０８／８８４，６５５ (32)優先日平成９年６月27日(1997．6．27) (33)優先権主張国米国（ＵＳ） (81)指定国ＥＰ(ＡＴ，ＢＥ，ＣＨ，ＤＥ，ＤＫ，ＥＳ，ＦＩ，ＦＲ，ＧＢ，ＧＲ，ＩＥ，ＩＴ，ＬＵ，ＭＣ，ＮＬ，ＰＴ，ＳＥ)，ＯＡ(ＢＦ，ＢＪ，ＣＦ，ＣＧ，ＣＩ，ＣＭ，ＧＡ，ＧＮ，ＭＬ，ＭＲ，ＮＥ，ＳＮ，ＴＤ，ＴＧ)，ＡＰ(ＧＨ，ＫＥ，ＬＳ，ＭＷ，ＳＤ，ＳＺ，ＵＧ，ＺＷ)，ＥＡ(ＡＭ，ＡＺ，ＢＹ，ＫＧ，ＫＺ，ＭＤ，ＲＵ，ＴＪ，ＴＭ)，ＡＬ，ＡＭ，ＡＴ，ＡＵ，ＡＺ，ＢＡ，ＢＢ，ＢＧ，ＢＲ，ＢＹ，ＣＡ，ＣＨ，ＣＮ，ＣＵ，ＣＺ，ＤＥ，ＤＫ，ＥＥ，ＥＳ，ＦＩ，ＧＢ，ＧＥ，ＧＨ，ＨＵ，ＩＤ，ＩＬ，ＩＳ，ＪＰ，ＫＥ，ＫＧ，ＫＰ，ＫＲ，ＫＺ，ＬＣ，ＬＫ，ＬＲ，ＬＳ，ＬＴ，ＬＵ，ＬＶ，ＭＤ，ＭＧ，ＭＫ，ＭＮ，ＭＷ，ＭＸ，ＮＯ，ＮＺ，ＰＬ，ＰＴ，ＲＯ，ＲＵ，ＳＤ，ＳＥ，ＳＧ，ＳＩ，ＳＫ，ＳＬ，ＴＪ，ＴＭ，ＴＲ，ＴＴ，ＵＡ，ＵＧ，ＵＺ，ＶＮ，ＹＵ，ＺＷ

Claims

【特許請求の範囲】１．第１および第２のテスト装置を少なくとも１つの被テスト装置に選択的に接続するためのスイッチセンブリであって、第１および第２のグループの光路を含み、各光路は第１および第２の端部を有し、さらに第１のテスト装置を１つの第１のグループの光路の第１の端部に選択的に接続する第１のスイッチと、第２のテスト装置を１つの第２のグループの光路の第１の端部に選択的に接続する第２のスイッチと、複数個の接合部とを含み、各々はリード線を有し、少なくとも１本のリード線は前記少なくとも１つの被テスト装置に接続され、前記複数個の接合部は第１のグループからの対応する光路の第２の端部および第２のグループからの対応する光路の第２の端部を前記少なくとも１本のリード線に接続する、スイッチアセンブリ。２．前記複数個の接合部の少なくとも１つは受動光ファイバ方向性結合器である、請求項１に記載のスイッチアセンブリ。３．前記第１および第２のスイッチの少なくとも１つは光ファイバスイッチである、請求項１に記載のスイッチアセンブリ。４．前記第１および第２のグループの光路の少なくとも１つは光ファイバである、請求項１に記載のスイッチアセンブリ。５．前記第１のテスト装置は光源であり、前記第２のテスト装置は検出器である、請求項１に記載のスイッチアセンブリ。６．第１および第２のテスト装置の少なくとも１つは少なくとも１つの被テスト装置に少なくとも２つのテスト手順を行ない、前記少なくとも２つのテスト手順を完了する前にテスト構成を変更する必要はない、請求項１に記載のスイッチアセンブリ。７．前記少なくとも１つの被テスト装置は、波長分割マルチプレクサ、広帯域光ファイバ結合器、結合器、スイッチ、フィルタ、減衰器、導波路、光ファイバセンサ、センサ、光ファイバ結合器、光ファイバ、光コネクタ、光ファイバコネクタ、光増幅器、光ファイバ増幅器、光スイッチ、光ファイバスイッチ、および偏光子のうちの少なくとも１つを含む、請求項１に記載のスイッチアセンブリ。８．前記複数個の接合部の１つは基準反射器に接続される、請求項１に記載のスイッチアセンブリ。９．前記複数個の接合部の２つは互いに少なくとも機械的にまたは光学的に接続されて、前記第１および第２のテスト装置の少なくとも１つに対して基準測定を少なくとも較正するまたは得る、請求項８に記載のスイッチアセンブリ。１０．前記複数個の接合部は、基準反射器に接続される第１の接合部と、光学的に互いに接続される第２および第３の接合部と、被テスト装置の各ポートに対するさらなる接合部とを含む、請求項１に記載のスイッチアセンブリ。１１．前記複数個の接合部の２つは互いに光学的に接続されて、前記第１および第２のテスト装置の少なくとも１つに対して基準測定を少なくとも較正するまたは得る、請求項１に記載のスイッチアセンブリ。１２．光ソースおよび検出器を少なくとも１つの光ファイバ装置に選択的に接続するための光スイッチアセンブリであって、第１および第２のグループの光路を含み、各光路は第１および第２の端部を有し、さらに光ソースを１つの第１のグループの光路の第１の端部に選択的に接続する第１の光スイッチと、検出器を１つの第２のグループの光路の第１の端部に選択的に接続する第２の光スイッチと、複数個の接合部とを含み、各々はリード線を有し、少なくとも１本のリード線は前記少なくとも１つの光ファイバ装置に接続され、前記複数個の接合部は第１のグループからの対応する光路の第２の端部および第２のグループからの対応する光路の第２の端部を前記少なくとも１本のリード線に接続する、光スイッチアセンブリ。１３．前記第１および第２のグループの光路の少なくとも１つは光ファイバである、請求項１２に記載の光スイッチアセンブリ。１４．前記光ソースおよび検出器はともに前記少なくとも１つの光ファイバ装置に少なくとも２つのテスト手順を行なうよう構成され、前記少なくとも２つのテスト手順を完了する前にテスト構成を変更する必要はない、請求項１２に記載の光スイッチアセンブリ。１５．少なくとも１つの被テスト装置は、波長分割マルチプレクサ、広帯域光ファイバ結合器、結合器、スイッチ、フィルタ、減衰器、導波路、光ファイバセンサ、センサ、光ファイバ結合器、光ファイバ、光コネクタ、光ファイバコネクタ、光増幅器、光ファイバ増幅器、光スイッチ、光ファイバスイッチ、および偏光子のうちの少なくとも１つを含む、請求項１２に記載のスイッチアセンブリ。１６．前記複数個の接合部の１つは基準反射器に接続される、請求項１２に記載のスイッチアセンブリ。１７．前記複数個の接合部の２つは互いに光学的に接続されて、第１および第２のテスト装置の少なくとも１つに対して基準測定を少なくとも較正するまたは得る、請求項１２に記載のスイッチアセンブリ。１８．前記複数個の接合部は、基準反射器に接続される第１の接合部と、互いに光学的に接続される第２および第３の接合部と、被テスト装置の各ポートに対するさらなる接合部とを含む、請求項１２に記載のスイッチアセンブリ。１９．前記複数個の接合部の２つは互いに光学的に接続されて、前記第１および第２のテスト装置の少なくとも１つに対して基準測定を少なくとも較正するまたは得る、請求項１２に記載のスイッチアセンブリ。２０．前記複数個の接合部は、基準反射器に接続される第１の接合部と、互いに光学的に接続される第２および第３の接合部と、被テスト装置の各ポートに対するさらなる接合部とを含む、請求項１２に記載のスイッチアセンブリ。２１．光ソースおよび検出器を少なくとも１つの光ファイバ装置に選択的に接続するための光スイッチアセンブリであって、第１および第２のグループの光路を含み、各光路は第１および第２の端部を有し、さらに光ソースを１つの第１のグループの光路の第１の端部に選択的に接続し、かつ検出器を１つの第２のグループの光路の第１の端部に選択的に接続する光スイッチと、前記少なくとも１つの光ファイバ装置に接続される少なくとも１本のリード線を有する接合装置とを含み、前記接合装置は第１のグループからの対応する光路の第２の端部および第２のグループからの対応する光路の第２の端部を前記少なくとも１本のリード線に接続する、光スイッチアセンブリ。２２．前記光ソースおよび検出器はともに前記少なくとも１つの光ファイバ装置に少なくとも２つのテスト手順を行なうよう構成され、前記少なくとも２つのテスト手順を完了する前にテスト構成を変更する必要はない、請求項２１に記載の光スイッチアセンブリ。２３．前記少なくとも１つの光ファイバ装置は、波長分割マルチプレクサ、広帯域光ファイバ結合器、結合器、スイッチ、フィルタ、減衰器、導波路、光ファイバセンサ、センサ、光ファイバ結合器、光ファイバ、光コネクタ、光ファイバコネクタ、光増幅器、光ファイバ増幅器、光スイッチ、光ファイバスイッチ、および偏光子の少なくとも１つを含む、請求項２１に記載のスイッチアセンブリ。２４．前記接合装置は基準反射器に光学的に接続される別のリード線を含む、請求項２１に記載のスイッチアセンブリ。２５．前記接合装置は光学的に互いに接続されて、少なくとも光ソースまたは検出器に対する基準測定を少なくとも較正するまたは得る、第１および第２のリード線を含む、請求項２４に記載のスイッチアセンブリ。２６．前記接合装置は基準反射器に光学的に接続される第１の接合部と、互いに光学的に接続される第２および第３の接合部と、被テスト装置の各ポートに対する別の接合部とを含む、請求項２１に記載のスイッチアセンブリ。２７．前記接合装置の２つは、互いに光学的に接続されて少なくとも光ソースまたは検出器に対する基準測定を少なくとも較正するまたは得る、第１および第２の接合部を含む、請求項２１に記載のスイッチアセンブリ。２８．光ソースおよび検出器を少なくとも１つの光ファイバ装置に選択的に接続するための光スイッチアセンブリであって、第１および第２のグループの光路手段を含み、各光路手段は第１および第２の端部を有し、さらに前記光ソースを１つの第１のグループの光路手段の第１の端部に選択的に接続するための、かつ前記検出器を１つの第２のグループの光路手段の第１の端部に選択的に接続するための光スイッチ手段と、前記少なくとも１つの光ファイバ装置に接続される少なくとも１本のリード線を有する接合装置とを含み、前記接合装置は第１のグループからの対応する光路手段の第２の端部および第２のグループからの対応する光路手段の第２の端部を前記少なくとも１本のリード線に接続する、光スイッチアセンブリ。２９．スイッチアセンブリを用いて、光ソースおよび検出器を少なくとも１つの光ファイバ装置に選択的に接続する方法であって、前記方法は、（ａ）前記光ソースを１つの第１のグループの光路の第１の端部に選択的に接続する、（ｂ）前記検出器を１つの第２のグループの光路の第１の端部に選択的に接続する、（ｃ）１つの第１のグループの光路の第２の端部を接合部に接続する、（ｄ）１つの第２のグループの光路の第２の端部を接合部に接続する、（ｅ）前記少なくとも１つの光ファイバ装置を前記接合部に接続する、少なくとも非順次、順次、または逐次独立ステップを含む、方法。３０．少なくとも２つのテスト手順を完了する前にテスト構成を変更する必要なく、前記少なくとも１つの光ファイバ装置に前記少なくとも２つのテスト手順を行なうステップをさらに含む、請求項２９に記載の方法。３１．さらに、（１）前記接合部を基準反射器に接続するステップと、（２）前記基準反射器を用いて基準テストを行なうステップとを含む、請求項２９に記載の方法。３２．前記接合部は第１および第２の接合部を含み、前記方法は、前記第１および第２の接合部を互いに接続し、前記第１および第２の接合部を用いて少なくとも前記光ソースまたは検出器を較正するステップをさらに含む、請求項３１に記載の方法。３３．光ファイバ装置の各ポートを前記接合部の別の接合部に接続するステップをさらに含む、請求項３１に記載の方法。３４．前記接合部は第１および第２の接合部を含み、前記方法は、前記第１および第２の接合部を互いに光学的に接続し、前記第１および第２の接合部を用いて少なくとも光ソースまたは検出器を較正するステップをさらに含む、請求項２９に記載の方法。３５．前記接合部は第１、第２および第３の接合部を含み、前記方法は、（１）前記第１の接合物を基準反射器に接続し、前記基準反射器を用いて基準テストを行なうステップと、（２）前記第２および第３の接合部を互いに光学的に接続し、前記第２および第３の接合部を用いて少なくとも光ソースまたは検出器を較正するステップと、（３）前記少なくとも１つの光ファイバ装置の各ポートを前記接合部の別の接合部に接続するステップとをさらに含む、請求項２９に記載の方法。３６．光ソースおよび検出器を、少なくともｎ本のリードを有する少なくとも１つの光ファイバ装置に選択的に接続するための光スイッチアセンブリであって、前記少なくとも１つの光ファイバ装置の前記少なくともｎ本のリード線にそれぞれ接続される少なくともｎ個の接合部を有する接合装置と、前記光ソースを各前記ｎ個の接合部に選択的に接続し、かつ前記検出器を各ｎ個の接合部に選択的に接続する光スイッチとを含む、光スイッチアセンブリ。