JP2001503138A - 光ファイバシステム構成要素をテストするための装置および方法 - Google Patents
光ファイバシステム構成要素をテストするための装置および方法Info
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Abstract
(57)【要約】
光スイッチアセンブリは光ソースおよび検出器を少なくとも1つの光ファイバ装置に選択的に接続する。アセンブリは第1および第2のグループの光路、ならびに第1および第2の光スイッチを含む。第1の光スイッチは光ソースを第1のグループの光路の一方端に選択的に接続し、第2の光スイッチは検出器を第2のグループの光路の一方端に接続する。アセンブリはさらに複数個の接合部を含み、各々はそれに関連するリード線を有し、1本または複数のリード線が光ファイバ装置に接続される。接合部は第1のグループの光路の他方端および第2のグループの光路の他方端をリード線に接続して、光ファイバ装置のテストを容易にする。
Description
【発明の詳細な説明】
光ファイバシステム構成要素をテストするための装置および方法 関連出願
本願は、本明細書に引用により援用する、1997年3月21日提出の来国仮
出願第60/040,875号の優先権を主張するものである。本願は、本明細
書に引用により援用する、1996年10月1日提出の米国出願第08/725
,651号の一部継続出願である。発明の背景 発明の分野
本発明はスイッチアセンブリに関し、より具体的には、光ファイバ、デバイス
、および/または光ファイバ結合器などの光ファイバデバイスをテストするため
に使用されるスイッチアセンブリおよび/または光スイッチに関する。本発明は
、光ファイバデバイスを、関連するいくつかの、多くの、および/またはすべて
の光特性について、十分に、正確に、かつ信頼性高くテストするものである。関連技術の背景
典型的には、光ファイバデバイスの光特性を判定するためのテストは製造後に
行なわれる。たとえば、デバイスの実際の減衰を判定するために減衰器をテスト
してもよく、選択された波長および偏光での結合比を判定するために光ファイバ
結合器をテストしてもよい。
現在、光ファイバデバイスをテストするのに利用できる技術および/またはス
イッチアセンブリは種々ある。例として、図1Aおよび1Bは、本明細書に引用
により援用する、Philip C.Longhurstへの、英国特許出願第2235043A
に開示された、あるテストアセンブリを示している。図1Aにおける、光測定シ
ステムは、システムの光源17および18ならびに検出器22を用いて得られる
光ファイバリボン16に接続されたマルチファイバコネクタ15の各ファイバの
挿入損失を次々に測定する。マルチチャネル光スイッチ1は光源17および18
に接続される。1×2双方向性スプリッタ2は、各スイッチチャネル4と、テス
トされるコネクタ15と係合する標準的なマルチファイバコネクタ3の各ファイ
バ8との間に光学的に結合される。光ファイバ5は、チャネル4に6で融着接続
され、かつ10で融着接続される光ファイバ9によりコネクタ3に接続される光
ファイバリボン7のファイバ8の1つに接続される。
図1Bは、光測定システムを、標準のマルチファイバコネクタ3とテストされ
るマルチファイバコネクタ15との係合により相互接続される1対の光ファイバ
間の反射減衰量をモニタおよび記録するために使用するときの様子を示したもの
である。この反射減衰量テストを行なうために、アダプタ21および広域検出器
22(図1Aに示す)を、光ファイバリボン16の端部から切り離し取除く。光
ファイバリボン16の自山端を屈折率整合ゲル23に浸すが、ここからは光の反
射は生じない。次に反射減衰量についてのテストを、光源17および18ならび
にさらなる検出器19および20を用いて行なう。
このように、Longhurst引例では、テスト手順は複雑で煩わしいものである。
さらに、光ファイバデバイスのすべての所望の特性のテストは、異なるテスト手
順間で、さらなる接続を設けたり、および/または操作を行なったり、および/
またはさらなるテスト機器を必要としたりしない限りは不可能である。このよう
に、Longhurst引例のテストシステムは、非効率的であり、十分におよび/また
は適切に自動化されていない。
図2は、もう1つの先行技術によるスイッチアセンブリを示したものである。
具体的には、本明細書に引用により援用する、1994年11月1日発行の、Be
llcore Generic Requirements for Fiber Optic Branching Components,Bellcor
e,GR-1209-COREに記載された、伝送測定設備である。ソーススイッチ112を用
いて、スイッチ106を介して選択されたソース104の一方から、環境試験室
110の被テスト装置(DUT)108のいずれかに向けて光を発射させる。検
出器スイッチ114は、いずれかのDUT108を、伝送されたパワーおよび反
射されたパワーを測定するパワーメータ118に接続する。結合器116は、D
UT108が反射した光パワーを、検出のためにスイッチ114のポート(r)
に導く。スイッチ112および114のポート(m)に位置する基準ファイバ1
20を用いて、時間に伴うソースパワーの変化について修正を行なう。
反射率基準122はスイッチ112のポート(r)に位置しており、測定した光
パワーから反射率を計算するのに用いられる。
挿入損失は、基準ファイバ120を通して伝送されたパワーを、DUT108
を通して伝送されたパワーから減算することによって計算される。反射率は、反
射率基準122によって反射されたパワーを、DUT108によって反射された
パワーから減算することによって計算される。スイッチ、パワーメータ、および
環境試験室は、GPIBインターフェイスを介してコンピュータ制御される。し
かしながら、このスイッチアセンブリ(光ファイバデバイスの環境試験のために
使用することが提案されている)を用いて、十分なデータを集めおよび/または
とらえて、適切なおよび/または十分な光ファイバデバイスのテストのために所
定のデバイス特性を計算/判定するのに必要な全伝送行列を定めることはできな
いことがわかっている。たとえば、このスイッチアセンブリは、光ファイバデバ
イスの指向性および/または近端クロストーク測定値を得るまたは収集すること
ができない。
したがって、光ファイバデバイスを、関連する光特性のうちいくつか、ほとん
ど、および/またはすべてについて十分に、正確に、かつ信頼性高くテストする
ことができるテストアセンブリを提供することが望ましい。
光ファイバ双円錐テーパ(FBT)結合器といった光ファイバデバイスを、十
分に、正確にかつ信頼性高くテストすることができるテストアセンブリを提供す
ることもまた望ましい。
光ファイバデバイスを、テスト構成および/またはテスト機器を変更または交
換することなく、十分に、正確に、迅速に、かつ信頼性高くテストすることがで
きるテストアセンブリを提供することもまた望ましい。
光ファイバデバイスを、テスト動作中にテスト装置と被テスト装置(DUT)
との間の接続の変更または交換を必要とせずに、十分に、正確に、迅速にかつ信
頼性高くテストすることができるテストアセンブリを提供することもまた望まし
い。
別の被テスト装置にも接続しおよび/またはこの別の被テスト装置から切り離
し、および/またはこの別の被テスト装置を同時にテストする一方で、テスト構
成および/またはテスト機器を変更または交換することなく、十分に、正確に、
迅速にかつ信頼性高く光ファイバデバイスをテストすることができるテストアセ
ンブリを提供することもまた望ましい。発明の概要
本発明の特徴および利点は、光ファイバデバイスを関連するすべての光特性に
ついて十分に、正確にかつ信頼性高くテストすることができるテストアセンブリ
を提供することにある。
本発明の他の特徴および利点は、光ファイバ双円錐テーパ(FBT)結合器の
ような光ファイバデバイスを十分に、正確に、かつ信頼性高くテストすることが
できるテストアセンブリを提供することにある。
本発明のさらに他の特徴および利点は、光ファイバデバイスを、テスト構成お
よび/またはテスト機器を変更または交換することなく、十分に、正確にかつ信
頼性高くテストすることができるテストアセンブリを提供することにある。
本発明のさらに他の特徴および利点は、光ファイバデバイスを、テスト装置と
被テスト装置(DUT)との間の接続をテスト動作中に変更または交換すること
なく、十分に、正確にかつ信頼性高くテストすることができるテストアセンブリ
を提供することにある。
本発明のさらに他の特徴および利点は、別の被テスト装置にも接続したり、お
よび/またはこの別の被テスト装置から切り離したり、および/またはこの別の
被テスト装置を同時にテストしたりする一方で、テスト構成および/またはテス
ト機器を変更または交換することなく、光ファイバデバイスを十分に、正確に、
迅速にかつ信頼性高くテストすることができるテストアセンブリを提供すること
にある。
本発明は一部、光ファイバデバイスのテスト中、光ファイバデバイスの十分か
つ適切なテストが可能になる前に、テストプログラム中にテスト機器および/ま
たは光ファイバデバイスは手動による介入を必要とするという問題の理解または
認識に基づくものである。これには、個人によるテストプログラムの実行または
実現により多大なる努力をさらに行なうことを必要とするため、光ファイバデバ
イスのテストの全体のプロセスにおいて多くの非効率性が生まれる。
有利なことに、予め定められたテストプログラムに従い、テスト機器、および
/またはテスト機器と被テスト装置との間の接続の交換を行なわなくとも、光フ
ァイバデバイスを十分にテストすることができることがわかっている。さらに、
テスト装置を被テスト装置に効率的かつ効果的に接続するスイッチアセンブリを
設計できることがわかっている。
本発明のある実施例に従うと、光スイッチアセンブリは、光ソースおよび検出
器を、少なくとも1つの光ファイバデバイスに選択的に接続する。このアセンブ
リは、第1および第2群の光路と、第1および第2の光スイッチとを含む。第1
の光スイッチは、光ソースを第1群の光路の1つの一方の端部に選択的に接続し
、第2の光スイッチは検出器を第2群の光路の1つの一方の端部に選択的に接続
する。このアセンブリはまた、複数の接合部を含み、各接合部は関連のリード線
を有し、1つ以上のリード線が光ファイバデバイスに接続される。各接合部は、
第1群の光路の1つの他方の端部および第2群の光路の1つの他方の端部をリー
ド線に接続して光ファイバデバイスのテストを容易に行なえるようにする。
本発明の他の実施例に従うと、光スイッチアセンブリは、光ソースおよび検出
器を、少なくともnのリード線を有する少なくとも1つの光ファイバデバイスに
選択的に接続する。このアセンブリは、光ファイバデバイスのnのリード線にそ
れぞれ接続される少なくともnの接合部を有する接合装置を含む。このアセンブ
リはまた、光ソースをnの接合部の各々に選択的に接続し、かつ検出器をnの接
合部各々に選択的に接続する光スイッチを含む。
2つのデバイスを実質的に同時にテストするため、1つのデバイスを、別のデ
バイスが光スイッチアセンブリに接続されている/光スイッチアセンブリから切
り離されている一方でテストするため、1つのデバイスで2つのテストを実質的
に同時に行なうため、などの目的のための、光スイッチアセンブリを使用するた
めの方法もまた提供される。
上記、および以下で明らかになる他の目的および利点は、本明細書の一部をな
す添付の図面を参照しつつ本明細書においてより十分に記載およびクレームされ
る構成および動作の詳細において記載され、先の図面においては同じ構成要素に
ついては同じ参照番号を用いている。図面の簡単な説明
図1Aは、標準的なマルチファイバコネクタとテストされるマルチファイバコ
ネクタとを係合させることによって相互接続する1対の光ファイバ間の挿入損失
をモニタおよび記録するために使用するように構成された、先行技術による光測
定システムを示す。
図1Bは、図1Aに示した先行技術による光測定システムの図であり、標準の
マルチファイバコネクタおよびテストされるマルチファイバコネクタを係合させ
ることによって相互接続する1対の光ファイバ間の反射減衰量をモニタおよび記
録するために使用するように構成されている。
図2は、Bellcore Generic Requirements for Fiber Optic Branching Compon
entsに記載された、先行技術による伝送測定設備を示したものである。
図3Aは、光テスト装置の概略図である。
図3Bは、被テスト装置(DUT)として示されている1×2FBT結合器を
示したものである。
図4は、このテスト手順の第1ステップにおいてテスト装置を光スイッチアセ
ンブリに接続する様子を示している。
図5は、テスト手順における次のステップで基準パワー値を得る様子を示して
いる。
図6は、基準反射率値を得る次のステップを示している。
図7は、テスト手順における次のステップにおいて、被テスト装置のリード線
1からリード線2への光パワー分布値を得る様子を示している。
図8は、テスト手順の次のステップにおいて、被テスト装置のリード線1から
リード線3に伝送される光パワーを判定する様子を示している。
図9は、テスト手順の次のステップにおいて、リード線1から伝送され、テス
ト装置によって反射され被テスト装置のリード線1に戻される光パワーを判定す
る様子を示している。
図10は、テスト手順の次のステップにおいて、被テスト装置のリード線2か
らリード線1に伝送される光パワーを判定する様子を示す。
図11は、テスト手順の次のステップにおいて、被テスト装置のリード線2か
らリード線3に伝送される光パワーを判定する様子を示す。
図12は、テスト手順の次のステップにおいて、被テスト装置のリード線3か
らリード線2に伝送される光パワーを判定する様子を示す。
図13は、テストされる複数の1×2FBT結合器に接続されるものとして示
された光テスト装置の概略図である。
図14は、テストされる1×4FBT結合器に接続されるものとして示された
、図13に示した光テスト装置の概略図である。発明の好ましい実施例の説明
本発明は、光ファイバ、デバイス、および/または、実質的に同様の光応答、
特性および/またはインジケータをもたらす結合器、スイッチ、波分割マルチプ
レクサ(WDM)、フィルタ、減衰器、偏光子、導波路、センサ、広帯域光ファ
イバ結合器、光ファイバコネクタ、光ファイバ増幅器、光ファイバセンサなどの
光ファイバ装置(以降「光ファイバデバイス」と呼ぶ)において使用され、かつ
これらの効率的で、正確で、迅速かつ信頼性の高いテストをもたらすものである
。WDMなどのこうした種々の光ファイバデバイスは、ガラス、クリスタル、金
属、プラスチック、セラミックなどの異なる材料から構成することができる。
本発明は、光ファイバデバイスをすべての関連する光特性について十分に、正
確にかつ信頼性高くテストするものである。本発明は、たとえば、本明細書に引
用により援用する、標準の、既に発表されているBellcore(Bell Commnunicatio
ns Research)仕様1209および/または1221といった産業標準仕様に従
って結合器、スイッチ、WDMなどの光ファイバデバイスの光特性のテストを容
易にするおよび/または行なう。
本明細書において記載される方法および/または装置の主な利点は、光ファイ
バデバイスをすべての関連する光特性について自動的にかつ迅速にテストするこ
とができるということである。この方法および/または装置の主な用途はまた、
受動光ファイバ構成要素製造業者のための、製造後のテストにある。この方法お
よび/または装置は、光ファイバデバイスを、高度に自動化された態様で迅速に
、信頼性高くかつ正確にテストするであろう。
この方法について説明するために、1×2FBT結合器の標準Bellcore 12
09光テストを概念として示す。単一光ファイバおよび/またはデバイスのテス
トを含む他の光ファイバデバイスのテストも(テストされる特定の光デバイスに
基づいて追加および/または省略され得るいくつかのステップという例外を除い
て)同様である。この説明においては、光ファイバデバイスのリード線およびテ
スト装置接続の数は、明確にするために最小にしてある。リード線の数が異なる
他の光ファイバデバイスのテストについても同様である。テスト装置がより多く
の接続を備えていれば、より多くの数のリード線を備えるデバイス、および/ま
たはより多くの数のデバイスをテストすることができるであろう。
図3Aは光テスト装置24の概略図を示す。これは、(ソースとして示す)1
組の光ソース26、たとえばレーザ、LED等と、それらのソース26の光特性
を選択および制御するための手段、たとえば偏光子、波長フィルタ等とを含む。
光テスト装置24はまた、(検出器として示す)1組の光検出器28と、テスト
される光特性を測定するための検出器28を選択および制御するための手段とを
含む。
(ソースおよび検出器の下の大きい箱として示す)光スイッチアセンブリ30
が、ソース26および検出器28を以下により詳細に述べる被テスト装置に接続
するために含まれる。光スイッチアセンブリ30は、(スイッチAおよびスイッ
チBとして示す)2個の1×N光スイッチ32、34と、各々が光路(たとえば
、光ファイバ、導波路、自由空間など)によって両方の光スイッチ32、34に
接続される(小さい箱1−6として示す)1組の1×2光方向性結合器36、3
8、40、42、44および46とを含む。
光結合器36、38、40、42、44および46に取付けられた(1×2結
合器の下の細い黒色の垂直線として示す)1組のポート48、50、52、54、
56および58が、外部の装置を光スイッチアセンブリ30に接続するために用い
られる。各光結合器36、38、40、42、44および46は各ポート48、
50、52、54、56および58を、ソース26から入力を導くスイッチA3
2と検出器28へと出力を導くスイッチB34との両方に接続する。
この接続構成によって、各ポート48、50、52、54、56および58に
はソース26からの入力と検出器28への出力との両方として同時に作用する能
力が与えられる。(ポート4の下の黒い水平線54として示す)基準光反射器6
0は参照番号54で示すポート4に永続的に取付けられてもよく、基準光反射率
測定の基準として用いられる。(ポート5およびポート6の下の黒い線56、5
8として示す)光パッチケーブル62は参照番号56で示すポート5と参照番号
58で示すポート6とを永続的に接続してもよく、ソース26の光パワーを較正
および測定するために用いられる。
図3Bは(被テスト装置またはDUTとして示す)テストされるべき1×2F
BT結合器64の図を示す。この装置を適切にテストするためには、各リード線
から全リード線66、68および/または70への光パワーの分布を測定するこ
とが必要である。
図4は、このテスト手順の第1のステップが被テスト装置64を光スイッチア
センブリ30に接続することであることを示す。これを達成するために、被テス
ト装置64のリード線66、68、70がそれぞれポート48、50、52に接
続するよう好ましくは融着接続される。融着接続の代わりに、ここに説明する他
の接続形態、たとえば、光コネクタ、機械的接続、自由空間接続、導波路等の使
用が可能である。明確にするため、議論する光接続をより太い黒色の線で強調す
る。
図5は、テスト手順の次のステップが基準光パワーおよび反射率の値を得るこ
とであることを示す。基準光パワー値を判定するために、スイッチA32はソー
ス26を光路または通信ライン72および光方向性結合器5(参照番号44)に
よってポート5(参照番号56)に接続し、光パッチケーブル62はポート5(
参照番号56)をポート6(参照番号58)に接続する。スイッチB34は検出
器28を光路74および光方向性結合器6(参照番号46)によってポート6(
参照番号58)に接続する。ソース26は今や検出器28に接続されており、ソ
ース26の光パワー測定が検出器28によって行なわれることができ、後に参照
するために記憶され得る。パッチケーブル62はどのような適切なデバイスお
よび/または光路(たとえば自由空間)、および/またはポート5(参照番号5
6)とポート6(参照番号58)との間を接続するおよび/またはその間に光学
的に接続を与える手段であってもよい。
図6は基準光反射率値を判定する次のステップを示す。図6において、基準光
反射率値を判定するために、スイッチA32がソース26を光路76および光方
向性結合器4(参照番号42)によってポート4(参照番号54)に接続する。
基準光反射器60がポート4(参照番号54)に接続され、予め定められた量の
光パワーを反射してポート4(参照番号54)に戻す。スイッチB34はポート
4(参照番号54)を光路78および光方向性結合器42によって検出器28に
接続する。ソース26の光反射率測定はここで検出器28によって行なうことが
でき、後の参照のために記憶され得る。
図7は、被テスト装置64の各リード線66、68、70に対する光パワー分
布値を得るための、このテスト手順の次のステップである。リード線1(参照番
号66)からリード線2(参照番号68)に伝達される光パワーを判定するため
に、スイッチA32はソース26を光方向性結合器36および光路80によって
ポート1(参照番号48)に接続する。さらに、スイッチB34がポート2(参
照番号50)を光方向性結合器38および光路82によって検出器28に接続す
る。リード線1(参照番号66)からリード線2(参照番号68)への全光測定
がここで行なわれ得る。
たとえば、テストシステムによって行なわれる光測定のタイプには、引用によ
りここに援用するBellcore1209および1221に説明される1つ以上の光テ
ストが含まれ得る。
図8は、被テスト装置64の各リード線66、68、70に対する光パワー分
布値を得るための、このテスト手順における次のステップである。リード線1(
参照番号66)からリード線3(参照番号70)に伝達される光パワーを判定す
るために、スイッチA32はソース26を光方向性結合器36および光路80に
よってポート1(参照番号48)に接続する。さらに、スイッチB34がポート
3(参照番号52)を光方向性結合器40および光路84によって検出器28に
接続する。リード線1(参照番号66)からリード線3(参照番号70)への
全光測定がここで行なわれ得る。
図9は、被テスト装置64の各リード線66、68、70に対する光パワー分
布値を得るための、このテスト手順における次のステップである。リード線1(
参照番号66)から伝達され、反射されてリード線1に戻る光パワーを判定する
ために、スイッチA32はソース26を光方向性結合器36および光路80によ
ってポート1(参照番号48)に接続する。さらに、スイッチB34がポート1
(参照番号48)を光方向性結合器36および光路86によって検出器28に接
続する。リード線1(参照番号66)からの、テスト装置によって反射されてリ
ード線1に戻る全光測定がここで行なわれ得る。
図10は、被テスト装置64の各リード線66、68、70に対する光パワー
分布値を得るための、このテスト手順における次のステップである。リード線2
(参照番号68)からリード線1(参照番号66)に伝達される光パワーを判定
するために、スイッチA32はソース26を光方向性結合器38および光路88
によってポート2(参照番号50)に接続する。さらに、スイッチB34がポー
ト1(参照番号48)を光方向性結合器36および光路86によって検出器28
に接続する。リード線2(参照番号68)からリード線1(参照番号66)への
全光測定がここで行なわれ得る。
図11は、被テスト装置64の各リード線66、68、70に対する光パワー
分布値を得るための、このテスト手順における次のステップである。リード線2
(参照番号68)からリード線3(参照番号70)に伝達される光パワーを判定
するために、スイッチA32がソース26を光方向性結合器38および光路88
によってポート2(参照番号50)に接続する。さらに、スイッチB34がポー
ト3(参照番号52)を光方向性結合器40および光路84によって検出器28
に接続する。リード線2(参照番号68)からリード線3(参照番号70)への
全光測定がここで行なわれ得る。リード線2から伝達され、テスト装置によって
反射されてリード線2に戻る光パワーの判定は図9に示すものと同様である。
図12は、被テスト装置64の各リード線66、68、70に対する光パワー
分布値を得るための、このテスト手順における次のステップである。リード線3
(参照番号70)からリード線2(参照番号68)に伝達される光パワーを判定
するために、スイッチA32がソース26を光方向性結合器40および光路90
によってポート3(参照番号52)に接続する。さらに、スイッチB34がポー
ト2(参照番号50)を光方向性結合器38および光路82によって検出器28
に接続する。リード線3(参照番号70)からリード線2(参照番号68)への
全光測定がここで行なわれ得る。
リード線3から伝達され、テスト装置によって反射されてリード線3に戻る光
パワーの判定は図9に示すものと同様であり、リード線3からリード線1に伝達
される光パワーの判定は図8に示すものと同様である。
この時点で、各リード線から他のすべてのリード線への全光分布測定が行なわ
れた。これらの光測定および初期基準測定を用いて、たとえば関連のあるすべて
のBellcore1209および/または1221光計算が行なわれ得る。
以下の図面は、より多数の装置および/またはより多数のリード線を備える装
置をテストするために用いられ得るテスト装置の例を示す。
図13はテストされているべき多数の1×2FBT結合器に接続された光テス
ト装置の概略図を示す。効率を高めるため、1個以上の装置が他の装置が接続お
よび/または分離される間にテストされる。たとえば、光スイッチアセンブリ3
0は、(スイッチAおよびスイッチBとして示す)2個の1×N光スイッチ32
、34と、各々が両方の光スイッチ32、34に接続される(小さい箱1−9と
して示す)1組の1×2光方向性結合器36、38、40、42、44、46、
92、94および96とを含む。ここで、さらなる3個の光方向性結合器92、
94、96が含まれている。
光方向性結合器36、38、40、42、44、46、92、94、96に取
付けられた(1×2結合器の下の細い黒色の垂直線として示す)1組のポート4
8、50、52、54、56、58、98、100、102が、外部の装置を光
スイッチアセンブリ30に接続するために用いられる。各光方向性結合器36、
38、40、42、44、46、92、94、96は各ポート48、50、52
、54、56、58、98、100、102を、ソース26から入力を導くスイ
ッチA32と検出器28へと出力を導くスイッチB34との両方に接続する。被
テスト装置64のリード線66、68、70はそれぞれポート48、50、52
に
対して好ましくは融着接続される。さらに、被テスト装置64がテストされてい
る間、被テスト装置104は光スイッチアセンブリ30に接続され、および/ま
たは光スイッチアセンブリ30から分離され得る。より特定的には、被テスト装
置104のリード線106、108、110が、被テスト装置64の後のテスト
のために、または被テスト装置64との同時のテストのために、それぞれポート
54、56、58に融着接続され得る。
図14は、テストされるべき1×4FBT結合器に接続された、図13に示す
光テスト装置の概略図を示す。光スイッチアセンブリ30は、(スイッチAおよ
びスイッチBとして示す)2個の1×N光スイッチ32、34と、各々が両方の
光スイッチ32、34に接続される(小さい箱1−9として示す)1組の1×2
光方向性結合器36、38、40、42、44、46、92、94および96と
を含む。ここで、さらなる3個の光方向性結合器92、94、96が含まれる。
光方向性結合器36、38、40、42、44、46、92、94、96に取
付けられた(1×2結合器の下の細い黒色の垂直線として示す)1組のポート4
8、50、52、54、56、58、98、100、102が、外部の装置を光
スイッチアセンブリ30に接続するために用いられる。各光結合器36、38、
40、42、44、46、92、94、96は各ポート48、50、52、54
、56、58、98、100、102を、ソース26から入力を導くスイッチA
32と検出器28へと出力を導くスイッチB34との両方に接続する。被テスト
装置64のリード線66、68、70、112、114はそれぞれポート48、
50、52、54、56に融着接続され得る。被テスト装置のリード線をポート
に接続する他の標準的な方法も用いられてよい。たとえば、融着接続の代わりに
、光コネクタ、機械的接続、自由空間接続、導波路等が用いられてもよい。
したがって、図14に示す光テスト装置は、予め定められたテストステップを
完了するために、テストプロセスの間にさまざまな接続ステップを必要とせずに
、1×4FBT結合器を含む被テスト装置を自動的にテストすることができる。
上の例は主に1×2FBT結合器のテストを例示したが、どのようなサイズお
よび/または数のFBT結合器、光ファイバ装置、テスト装置、ソース、検出器
および/またはテストを必要とする他の装置がここに説明された光テスト装置と
ともに用いられてもよい。同様に、どのようなサイズおよび/または数の光方向
性結合器が用いられてもよい。さらに、どのような数および/またはサイズの光
スイッチが用いられてもよい。ここに説明されたソースおよび検出器は適切な装
置のどのようなものであってもよい。FBT結合器はまた他のどのような適切な
スイッチ機構と置き換えられてもよい。
たとえば、2組以上の光スイッチが2個以上の被テスト装置を実質的に同時に
テストするために、および/または2つ以上のテストを実質的に同時に行なうた
めに用いられてもよい。たとえば、被テスト装置64のリード線66が光スイッ
チ32およびソース26に接続され、リード線68が検出器28に関連したスイ
ッチ34に接続され、リード線70が付加的な光スイッチおよび検出器に接続さ
れていれば、テストシステムは被テスト装置64のリード線68および70に対
して2つのテスト手順を同時に行なうことができる。
同様に、多数組のソースおよび関連の光スイッチと多数組の検出器および関連
の光スイッチとを使用すると、多数の被テスト装置が実質的に同時にテストされ
得るか、および/または被テスト装置が必要に応じて多数のソースおよび/また
は検出器を必要とする。たとえば、エルビウムでドープされたファイバ増幅器の
ようないくつかの2×2被テスト装置はテスト手順を行なうために2つの異なっ
た同時のソースと2つの異なつた同時の検出器とを必要とする。
別個のものであるここに説明する全スイッチがもちろん、付加的な入力/出力
を有する単一のスイッチ装置へと結合されてもよい。たとえば、スイッチ32、
34は同様の機能を与える単一のスイッチアセンブリへと結合可能である。光結
合器36、38、40、42、44、46、92、94、96もまた必要とされ
る量の入力/出力ポートおよび/または同様の機能を備えた単一の光結合器/ス
イッチへと結合可能である。すなわち、上の例はスイッチ装置の論理的な分離を
与えるのみであり、他の機能的に類似したスイッチ装置が企図されるか、または
ここに説明する光スイッチ装置の範喘内にある。さらに、結合器は同様の機能を
与えるどのような標準的接合部および/またはスイッチであってもよい。また、
結合器および/または接合部および/またはスイッチが1×nのようなどのよう
な寸法であってもよい。たとえば、標準的な1×n光スイッチが結合器36、3
8、40、42、44または46の代わりに用いられれば逆反射を測定可能にす
るために1×2光方向性結合器がソース26と光スイッチ32、34との間で必
要とされ得る。
ここに説明するソースおよび検出器構成要素は予め定められたテスト機能を行
なうためのどのような適切な装置を含んでもよい。したがって、光ファイバ装置
のテストのためにソースがレーザであってもよいが、他の装置をテストするため
には、ソースは予め定められた回路、半導体装置、導体等の精度をテストするた
めに用いられる別のテスティング/ポーリング装置を含み得る。さらに、ソース
および検出器構成要素は別個のソースおよび検出器構成要素として同様および/
または同時の機能を与える単一の装置であってもよい。したがって、さまざまな
テスト装置および/または被テスト装置がここに説明されたスイッチ装置ととも
に用いられ得る。
ソース、検出器および被テスト光ファイバ装置がここに説明するスイッチアセ
ンブリのさまざまな異なる部分/ポートに接続され得る。すなわち、ここに説明
された例で用いられる特定の構成がさまざまな必要を満たすように変更可能であ
る。たとえば、ソースおよび検出器の位置が交換され得る。同様に、テストを必
要とするリード線の数と実行される特定のテストプログラムとに依存して、検出
器および/またはソースを光ファイバ装置と切換えることも可能である。
ソースおよび/または検出器のようなさらなるテスト装置も用いられ得る。こ
の場合、さらなるソースおよび/または検出器はその最大のおよび/または同時
の利用のために従来の態様および/またはここに説明した態様で接続され得る。
たとえば、付加的なソースが付加的なソースを各ポートへと選択的に接続する付
加的な光スイッチに接続されてもよい。同様に、付加的な検出器が付加的な検出
器を各ポートに選択的に接続する付加的な光スイッチに接続されてもよい。
ソース、検出器および/または被テスト装置を含む、スイッチアセンブリにお
ける何らかの構成要素を接続する標準的な手段が用いられ得る。たとえば、融着
接続、光コネクタ、機械的接続、自由空間接続、導波路等が構成要素を接続する
ために用いられ得る。
ここに説明したスイッチアセンブリの利点を考慮すると、コンピュータ、マイ
クロプロセッサ等によって実行される標準的な自動化プログラムが光ファイバ装
置を十分にテストするために組合されておよび/または継続的に用いられ得る。
すなわち、この発明は、テスト手順の全体の組合せを完了する前にテストのセッ
トアップおよび/または接続を変更することを必要とせずにさまざまなテスト手
順を実行させる。
この発明の多くの特徴および利点は詳細な説明から明らかであり、この発明の
真の趣旨および範疇内に含まれるこの発明のこのようなすべての特徴および利点
に添付の請求の範囲が及ぶことが意図される。さらに、数多くの変更および変化
が当業者には容易に想起されるので、この発明を例示され説明された構成および
動作そのものに限定することは望ましくなく、したがって、適切な変更および均
等物のすべてが発明の範囲内にある。
【手続補正書】
【提出日】平成11年5月24日(1999.5.24)
【補正内容】請求の範囲:
1.第1および第2のテスト装置を少なくとも1つの被テスト装置に選択的に接
続するためのスイッチアセンブリであって、
第1および第2のグループの光路を含み、各光路は第1および第2の端部を有
し、さらに
第1のテスト装置を1つの第1のグループの光路の第1の端部に選択的に接続
する第1のスイッチと、
第2のテスト装置を1つの第2のグループの光路の第1の端部に選択的に接続
する第2のスイッチと、
複数個の接合部とを含み、各々はリード線を有し、少なくとも1本のリード線
は前記少なくとも1つの被テスト装置に接続され、前記複数個の接合部は第1の
グループからの対応する光路の第2の端部および第2のグループからの対応する
光路の第2の端部を前記少なくとも1本のリード線に接続する、スイッチアセン
ブリ。
2.前記複数個の接合部の少なくとも1つは受動光ファイバ方向性結合器である
、請求項1に記載のスイッチアセンブリ。
3.前記第1および第2のスイッチの少なくとも1つは光ファイバスイッチであ
る、請求項1に記載のスイッチアセンブリ。
4.前記第1および第2のグループの光路の少なくとも1つは光ファイバである
、請求項1に記載のスイッチアセンブリ。
5.前記第1のテスト装置は光源であり、前記第2のテスト装置は検出器である
、請求項1に記載のスイッチアセンブリ。
6.第1および第2のテスト装置の少なくとも1つは少なくとも1つの被テスト
装置に少なくとも2つのテスト手順を行ない、前記少なくとも2つのテスト手順
を完了する前にテスト構成を変更する必要はない、請求項1に記載のスイッチア
センブリ。
7.前記少なくとも1つの被テスト装置は、波長分割マルチプレクサ、広帯域光
ファイバ結合器、結合器、スイッチ、フィルタ、減衰器、導波路、光ファイバセ
ンサ、センサ、光ファイバ結合器、光ファイバ、光コネクタ、光ファイバコネク
タ、光増幅器、光ファイバ増幅器、光スイッチ、光ファイバスイッチ、および偏
光子のうちの少なくとも1つを含む、請求項1に記載のスイッチアセンブリ。
8.前記複数個の接合部の1つは基準反射器に接続される、請求項1に記載のス
イッチアセンブリ。
9.前記複数個の接合部の2つは互いに少なくとも機械的にまたは光学的に接続
されて、前記第1および第2のテスト装置の少なくとも1つに対して基準測定を
少なくとも較正するまたは得る、請求項8に記載のスイッチアセンブリ。
10.前記複数個の接合部は、基準反射器に接続される第1の接合部と、光学的
に互いに接続される第2および第3の接合部と、被テスト装置の各ポートに対す
るさらなる接合部とを含む、請求項1に記載のスイッチアセンブリ。
11.前記複数個の接合部の2つは互いに光学的に接続されて、前記第1および
第2のテスト装置の少なくとも1つに対して基準測定を少なくとも較正するまた
は得る、請求項1に記載のスイッチアセンブリ。
12.光ソースおよび検出器を少なくとも1つの光ファイバ装置に選択的に接続
するための光スイッチアセンブリであって、
第1および第2のグループの光路を含み、各光路は第1および第2の端部を有
し、さらに
光ソースを1つの第1のグループの光路の第1の端部に選択的に接続する第1
の光スイッチと、
検出器を1つの第2のグループの光路の第1の端部に選択的に接続する第2の
光スイッチと、
複数個の接合部とを含み、各々はリード線を有し、少なくとも1本のリード線
は前記少なくとも1つの光ファイバ装置に接続され、前記複数個の接合部は第1
のグループからの対応する光路の第2の端部および第2のグループからの対応す
る光路の第2の端部を前記少なくとも1本のリード線に接続する、光スイッチア
センブリ。
13.前記第1および第2のグループの光路の少なくとも1つは光ファイバであ
る、請求項12に記載の光スイッチアセンブリ。
14.前記光ソースおよび検出器はともに前記少なくとも1つの光ファイバ装置
に少なくとも2つのテスト手順を行なうよう構成され、前記少なくとも2つのテ
スト手順を完了する前にテスト構成を変更する必要はない、請求項12に記載の
光スイッチアセンブリ。
15.少なくとも1つの被テスト装置は、波長分割マルチプレクサ、広帯域光フ
ァイバ結合器、結合器、スイッチ、フィルタ、減衰器、導波路、光ファイバセン
サ、センサ、光ファイバ結合器、光ファイバ、光コネクタ、光ファイバコネクタ
、光増幅器、光ファイバ増幅器、光スイッチ、光ファイバスイッチ、および偏光
子のうちの少なくとも1つを含む、請求項12に記載のスイッチアセンブリ。
16.前記複数個の接合部の1つは基準反射器に接続される、請求項12に記載
のスイッチアセンブリ。
17.前記複数個の接合部の2つは互いに光学的に接続されて、第1および第2
のテスト装置の少なくとも1つに対して基準測定を少なくとも較正するまたは得
る、請求項12に記載のスイッチアセンブリ。
18.前記複数個の接合部は、基準反射器に接続される第1の接合部と、互いに
光学的に接続される第2および第3の接合部と、被テスト装置の各ポートに対す
るさらなる接合部とを含む、請求項12に記載のスイッチアセンブリ。
19.前記複数個の接合部の2つは互いに光学的に接続されて、前記第1および
第2のテスト装置の少なくとも1つに対して基準測定を少なくとも較正するまた
は得る、請求項12に記載のスイッチアセンブリ。
20.前記複数個の接合部は、基準反射器に接続される第1の接合部と、互いに
光学的に接続される第2および第3の接合部と、被テスト装置の各ポートに対す
るさらなる接合部とを含む、請求項12に記載のスイッチアセンブリ。
21.光ソースおよび検出器を少なくとも1つの光ファイバ装置に選択的に接続
するための光スイッチアセンブリであって、
第1および第2のグループの光路を含み、各光路は第1および第2の端部を有
し、さらに
光ソースを1つの第1のグループの光路の第1の端部に選択的に接続し、かつ
検出器を1つの第2のグループの光路の第1の端部に選択的に接続する光スイッ
チと、
前記少なくとも1つの光ファイバ装置に接続される少なくとも1本のリード線
を有する接合装置とを含み、前記接合装置は第1のグループからの対応する光路
の第2の端部および第2のグループからの対応する光路の第2の端部を前記少な
くとも1本のリード線に接続する、光スイッチアセンブリ。
22.前記光ソースおよび検出器はともに前記少なくとも1つの光ファイバ装置
に少なくとも2つのテスト手順を行なうよう構成され、前記少なくとも2つのテ
スト手順を完了する前にテスト構成を変更する必要はない、請求項21に記載の
光スイッチアセンブリ。
23.前記少なくとも1つの光ファイバ装置は、波長分割マルチプレクサ、広帯
域光ファイバ結合器、結合器、スイッチ、フィルタ、減衰器、導波路、光ファイ
バセンサ、センサ、光ファイバ結合器、光ファイバ、光コネクタ、光ファイバコ
ネクタ、光増幅器、光ファイバ増幅器、光スイッチ、光ファイバスイッチ、およ
び偏光子の少なくとも1つを含む、請求項21に記載のスイッチアセンブリ。
24.前記接合装置は基準反射器に光学的に接続される別のリード線を含む、請
求項21に記載のスイッチアセンブリ。
25.前記接合装置は光学的に互いに接続されて、少なくとも光ソースまたは検
出器に対する基準測定を少なくとも較正するまたは得る、第1および第2のリー
ド線を含む、請求項24に記載のスイッチアセンブリ。
26.前記接合装置は基準反射器に光学的に接続される第1の接合部と、互いに
光学的に接続される第2および第3の接合部と、被テスト装置の各ポートに対す
る別の接合部とを含む、請求項21に記載のスイッチアセンブリ。
27.前記接合装置の2つは、互いに光学的に接続されて少なくとも光ソースま
たは検出器に対する基準測定を少なくとも較正するまたは得る、第1および第2
の接合部を含む、請求項21に記載のスイッチアセンブリ。
28.光ソースおよび検出器を少なくとも1つの光ファイバ装置に選択的に接続
するための光スイッチアセンブリであって、
第1および第2のグループの光路手段を含み、各光路手段は第1および第2の
端部を有し、さらに
前記光ソースを1つの第1のグループの光路手段の第1の端部に選択的に接続
するための、かつ前記検出器を1つの第2のグループの光路手段の第1の端部に
選択的に接続するための光スイッチ手段と、
前記少なくとも1つの光ファイバ装置に接続される少なくとも1本のリード線
を有する接合装置とを含み、前記接合装置は第1のグループからの対応する光路
手段の第2の端部および第2のグループからの対応する光路手段の第2の端部を
前記少なくとも1本のリード線に接続する、光スイッチアセンブリ。
29.スイッチアセンブリを用いて、光ソースおよび検出器を少なくとも1つの
光ファイバ装置に選択的に接続する方法であって、前記方法は、
(a) 前記光ソースを1つの第1のグループの光路の第1の端部に選択的に
接続する、
(b) 前記検出器を1つの第2のグループの光路の第1の端部に選択的に接
続する、
(c) 1つの第1のグループの光路の第2の端部を接合部に接続する、
(d) 1つの第2のグループの光路の第2の端部を接合部に接続する、
(e) 前記少なくとも1つの光ファイバ装置を前記接合部に接続する、
少なくとも非順次、順次、または逐次独立ステップを含む、方法。
30.少なくとも2つのテスト手順を完了する前にテスト構成を変更する必要な
く、前記少なくとも1つの光ファイバ装置に前記少なくとも2つのテスト手順を
行なうステップをさらに含む、請求項29に記載の方法。
31.さらに、
(1) 前記接合部を基準反射器に接続するステップと、
(2) 前記基準反射器を用いて基準テストを行なうステップとを含む、請求
項29に記載の方法。
32.前記接合部は第1および第2の接合部を含み、前記方法は、前記第1およ
び第2の接合部を互いに接続し、前記第1および第2の接合部を用いて少なくと
も前記光ソースまたは検出器を較正するステップをさらに含む、請求項31に記
載の方法。
33.光ファイバ装置の各ポートを前記接合部の別の接合部に接続するステップ
をさらに含む、請求項31に記載の方法。
34.前記接合部は第1および第2の接合部を含み、前記方法は、前記第1およ
び第2の接合部を互いに光学的に接続し、前記第1および第2の接合部を用いて
少なくとも光ソースまたは検出器を較正するステップをさらに含む、請求項29
に記載の方法。
35.前記接合部は第1、第2および第3の接合部を含み、前記方法は、
(1) 前記第1の接合物を基準反射器に接続し、前記基準反射器を用いて基
準テストを行なうステップと、
(2) 前記第2および第3の接合部を互いに光学的に接続し、前記第2およ
び第3の接合部を用いて少なくとも光ソースまたは検出器を較正するステップと
、
(3) 前記少なくとも1つの光ファイバ装置の各ポートを前記接合部の別の
接合部に接続するステップとをさらに含む、請求項29に記載の方法。
36.光ソースおよび検出器を、少なくともn本のリード線を有する少なくとも
1つの光ファイバ装置に選択的に接続するための光スイッチアセンブリであって
、
前記少なくとも1つの光ファイバ装置の前記少なくともn本のリード線にそれ
ぞれ接続される少なくともn個の接合部を有する接合装置と、
前記光ソースを各前記n個の接合部に選択的に接続し、かつ前記検出器を各n
個の接合部に選択的に接続する光スイッチとを含む、光スイッチアセンブリ。
37.第1および第2のテスト装置を少なくとも1つの被テスト装置に選択的に
接続するためのスイッチアセンブリであって、
第1および第2のグループの光路を含み、各光路は第1および第2の端部を有
し、さらに
第1のテスト装置を1つの第1のグループの光路の第1の端部に選択的に接続
する第1のスイッチと、
第2のテスト装置を1つの第2のグループの光路の第1の端部に選択的に接続
する第2のスイッチと、
複数個の接合部とを含み、各々はリード線を有し、各リード線は各接合部を前
記少なくとも1つの被テスト装置の対応する別のポートに接続し、前記複数個の
接合部は第1のグループからの対応する光路の第2の端部および第2のグループ
からの対応する光路の第2の端部を少なくとも1本のリード線に接続する、スイ
ッチアセンブリ。
38.スイッチアセンブリを用いて、光ソースおよび検出器を少なくとも1つの
光ファイバ装置に選択的に接続する方法であって、前記方法は、
(a) 前記光ソースを1つの第1のグループの光路の第1の端部に選択的に
接続する、
(b) 前記検出器を1つの第2のグループの光路の第1の端部に選択的に接
続する、
(c) 1つの第1のグループの光路の第2の端部を接合部に接続する、
(d) 1つの第2のグループの光路の第2の端部を接合部に接続する、
(e) 光ファイバ装置の各ポートを前記接合部の別の接合部に接続する、
少なくとも非順次、順次、または逐次独立ステップを含む、方法。
39.光ソースおよび検出器を少なくとも3本のリード線を有する少なくとも1
つの光ファイバ装置に選択的に接続するための光スイッチアセンブリであって、
前記少なくとも1つの光ファイバ装置の前記少なくとも3本のリード線にそれ
ぞれ接続される少なくとも3個の接合部を有する接合装置と、
光ソースを前記少なくとも3個の接合部の各々に選択的に接続し、かつ検出器
を前記少なくとも3個の接合部の各々に選択的に接続する光スイッチとを含む、
光スイッチアセンブリ。
40.光ソースおよび検出器を少なくともn本のリード線を有する少なくとも1
つの光ファイバ結合器に選択的に接続するための光スイッチアセンブリであって
、
前記少なくとも1つの光ファイバ結合器の前記少なくともn本のリード線にそ
れぞれ接続される少なくともn個の接合部を有する接合装置と、
光ソースを前記n個の接合部の各々に選択的に接続し、かつ検出器を前記n個
の接合部の各々に選択的に接続する光スイッチとを含む、光スイッチアセンブリ
。
41.前記少なくとも1つの光ファイバ結合器はそれぞれ第1および第2のn本
のリード線を有するに第1および第2の光ファイバ結合器を含み、
前記n個の接合部は前記第1および第2の光ファイバ結合器の第1および第2
のn本のリード線にそれぞれ接続される第1および第2のn個の接合部を含み、
前記光スイッチは光ソースを前記第1および第2の光結合器の第1および第2
のn個の接合部の各々に選択的に接続し、かつ検出器を前記第1および第2の光
結合器の第1および第2のn個の接合部の各々に選択的に接続する、請求項40
に記載の光スイッチアセンブリ。
42.光ソースおよび検出器を、少なくともn本のリード線を有する少なくとも
1つの光ファイバ装置に選択的に接続するための光スイッチアセンブリであって
、
第1および第2のn本のリード線を有するに少なくとも第1および第2の光フ
ァイバ装置と、
前記第1および第2の光ファイバ装置の前記第1および第2のn本のリード線
にそれぞれ接続される少なくとも第1および第2のn個の接合部と、
光ソースを前記第1および第2の光装置の第1および第2のn個の接合部の各
々に選択的に接続し、かつ検出器を前記第1および第2の光装置の第1および第
2のn個の接合部の各々に選択的に接続する、少なくとも1つの光スイッチとを
含む、光スイッチアセンブリ。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(31)優先権主張番号 08/884,655
(32)優先日 平成9年6月27日(1997.6.27)
(33)優先権主張国 米国(US)
(81)指定国 EP(AT,BE,CH,DE,
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U,MC,NL,PT,SE),OA(BF,BJ,CF
,CG,CI,CM,GA,GN,ML,MR,NE,
SN,TD,TG),AP(GH,KE,LS,MW,S
D,SZ,UG,ZW),EA(AM,AZ,BY,KG
,KZ,MD,RU,TJ,TM),AL,AM,AT
,AU,AZ,BA,BB,BG,BR,BY,CA,
CH,CN,CU,CZ,DE,DK,EE,ES,F
I,GB,GE,GH,HU,ID,IL,IS,JP
,KE,KG,KP,KR,KZ,LC,LK,LR,
LS,LT,LU,LV,MD,MG,MK,MN,M
W,MX,NO,NZ,PL,PT,RO,RU,SD
,SE,SG,SI,SK,SL,TJ,TM,TR,
TT,UA,UG,UZ,VN,YU,ZW
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1.第1および第2のテスト装置を少なくとも1つの被テスト装置に選択的に接 続するためのスイッチセンブリであって、 第1および第2のグループの光路を含み、各光路は第1および第2の端部を有 し、さらに 第1のテスト装置を1つの第1のグループの光路の第1の端部に選択的に接続 する第1のスイッチと、 第2のテスト装置を1つの第2のグループの光路の第1の端部に選択的に接続 する第2のスイッチと、 複数個の接合部とを含み、各々はリード線を有し、少なくとも1本のリード線 は前記少なくとも1つの被テスト装置に接続され、前記複数個の接合部は第1の グループからの対応する光路の第2の端部および第2のグループからの対応する 光路の第2の端部を前記少なくとも1本のリード線に接続する、スイッチアセン ブリ。 2.前記複数個の接合部の少なくとも1つは受動光ファイバ方向性結合器である 、請求項1に記載のスイッチアセンブリ。 3.前記第1および第2のスイッチの少なくとも1つは光ファイバスイッチであ る、請求項1に記載のスイッチアセンブリ。 4.前記第1および第2のグループの光路の少なくとも1つは光ファイバである 、請求項1に記載のスイッチアセンブリ。 5.前記第1のテスト装置は光源であり、前記第2のテスト装置は検出器である 、請求項1に記載のスイッチアセンブリ。 6.第1および第2のテスト装置の少なくとも1つは少なくとも1つの被テスト 装置に少なくとも2つのテスト手順を行ない、前記少なくとも2つのテスト手順 を完了する前にテスト構成を変更する必要はない、請求項1に記載のスイッチア センブリ。 7.前記少なくとも1つの被テスト装置は、波長分割マルチプレクサ、広帯域光 ファイバ結合器、結合器、スイッチ、フィルタ、減衰器、導波路、光ファイバセ ンサ、センサ、光ファイバ結合器、光ファイバ、光コネクタ、光ファイバコネク タ、光増幅器、光ファイバ増幅器、光スイッチ、光ファイバスイッチ、および偏 光子のうちの少なくとも1つを含む、請求項1に記載のスイッチアセンブリ。 8.前記複数個の接合部の1つは基準反射器に接続される、請求項1に記載のス イッチアセンブリ。 9.前記複数個の接合部の2つは互いに少なくとも機械的にまたは光学的に接続 されて、前記第1および第2のテスト装置の少なくとも1つに対して基準測定を 少なくとも較正するまたは得る、請求項8に記載のスイッチアセンブリ。 10.前記複数個の接合部は、基準反射器に接続される第1の接合部と、光学的 に互いに接続される第2および第3の接合部と、被テスト装置の各ポートに対す るさらなる接合部とを含む、請求項1に記載のスイッチアセンブリ。 11.前記複数個の接合部の2つは互いに光学的に接続されて、前記第1および 第2のテスト装置の少なくとも1つに対して基準測定を少なくとも較正するまた は得る、請求項1に記載のスイッチアセンブリ。 12.光ソースおよび検出器を少なくとも1つの光ファイバ装置に選択的に接続 するための光スイッチアセンブリであって、 第1および第2のグループの光路を含み、各光路は第1および第2の端部を有 し、さらに 光ソースを1つの第1のグループの光路の第1の端部に選択的に接続する第1 の光スイッチと、 検出器を1つの第2のグループの光路の第1の端部に選択的に接続する第2の 光スイッチと、 複数個の接合部とを含み、各々はリード線を有し、少なくとも1本のリード線 は前記少なくとも1つの光ファイバ装置に接続され、前記複数個の接合部は第1 のグループからの対応する光路の第2の端部および第2のグループからの対応す る光路の第2の端部を前記少なくとも1本のリード線に接続する、光スイッチア センブリ。 13.前記第1および第2のグループの光路の少なくとも1つは光ファイバであ る、請求項12に記載の光スイッチアセンブリ。 14.前記光ソースおよび検出器はともに前記少なくとも1つの光ファイバ装置 に少なくとも2つのテスト手順を行なうよう構成され、前記少なくとも2つのテ スト手順を完了する前にテスト構成を変更する必要はない、請求項12に記載の 光スイッチアセンブリ。 15.少なくとも1つの被テスト装置は、波長分割マルチプレクサ、広帯域光フ ァイバ結合器、結合器、スイッチ、フィルタ、減衰器、導波路、光ファイバセン サ、センサ、光ファイバ結合器、光ファイバ、光コネクタ、光ファイバコネクタ 、光増幅器、光ファイバ増幅器、光スイッチ、光ファイバスイッチ、および偏光 子のうちの少なくとも1つを含む、請求項12に記載のスイッチアセンブリ。 16.前記複数個の接合部の1つは基準反射器に接続される、請求項12に記載 のスイッチアセンブリ。 17.前記複数個の接合部の2つは互いに光学的に接続されて、第1および第2 のテスト装置の少なくとも1つに対して基準測定を少なくとも較正するまたは得 る、請求項12に記載のスイッチアセンブリ。 18.前記複数個の接合部は、基準反射器に接続される第1の接合部と、互いに 光学的に接続される第2および第3の接合部と、被テスト装置の各ポートに対す るさらなる接合部とを含む、請求項12に記載のスイッチアセンブリ。 19.前記複数個の接合部の2つは互いに光学的に接続されて、前記第1および 第2のテスト装置の少なくとも1つに対して基準測定を少なくとも較正するまた は得る、請求項12に記載のスイッチアセンブリ。 20.前記複数個の接合部は、基準反射器に接続される第1の接合部と、互いに 光学的に接続される第2および第3の接合部と、被テスト装置の各ポートに対す るさらなる接合部とを含む、請求項12に記載のスイッチアセンブリ。 21.光ソースおよび検出器を少なくとも1つの光ファイバ装置に選択的に接続 するための光スイッチアセンブリであって、 第1および第2のグループの光路を含み、各光路は第1および第2の端部を有 し、さらに 光ソースを1つの第1のグループの光路の第1の端部に選択的に接続し、かつ 検出器を1つの第2のグループの光路の第1の端部に選択的に接続する光スイッ チと、 前記少なくとも1つの光ファイバ装置に接続される少なくとも1本のリード線 を有する接合装置とを含み、前記接合装置は第1のグループからの対応する光路 の第2の端部および第2のグループからの対応する光路の第2の端部を前記少な くとも1本のリード線に接続する、光スイッチアセンブリ。 22.前記光ソースおよび検出器はともに前記少なくとも1つの光ファイバ装置 に少なくとも2つのテスト手順を行なうよう構成され、前記少なくとも2つのテ スト手順を完了する前にテスト構成を変更する必要はない、請求項21に記載の 光スイッチアセンブリ。 23.前記少なくとも1つの光ファイバ装置は、波長分割マルチプレクサ、広帯 域光ファイバ結合器、結合器、スイッチ、フィルタ、減衰器、導波路、光ファイ バセンサ、センサ、光ファイバ結合器、光ファイバ、光コネクタ、光ファイバコ ネクタ、光増幅器、光ファイバ増幅器、光スイッチ、光ファイバスイッチ、およ び偏光子の少なくとも1つを含む、請求項21に記載のスイッチアセンブリ。 24.前記接合装置は基準反射器に光学的に接続される別のリード線を含む、請 求項21に記載のスイッチアセンブリ。 25.前記接合装置は光学的に互いに接続されて、少なくとも光ソースまたは検 出器に対する基準測定を少なくとも較正するまたは得る、第1および第2のリー ド線を含む、請求項24に記載のスイッチアセンブリ。 26.前記接合装置は基準反射器に光学的に接続される第1の接合部と、互いに 光学的に接続される第2および第3の接合部と、被テスト装置の各ポートに対す る別の接合部とを含む、請求項21に記載のスイッチアセンブリ。 27.前記接合装置の2つは、互いに光学的に接続されて少なくとも光ソースま たは検出器に対する基準測定を少なくとも較正するまたは得る、第1および第2 の接合部を含む、請求項21に記載のスイッチアセンブリ。 28.光ソースおよび検出器を少なくとも1つの光ファイバ装置に選択的に接続 するための光スイッチアセンブリであって、 第1および第2のグループの光路手段を含み、各光路手段は第1および第2の 端部を有し、さらに 前記光ソースを1つの第1のグループの光路手段の第1の端部に選択的に接続 するための、かつ前記検出器を1つの第2のグループの光路手段の第1の端部に 選択的に接続するための光スイッチ手段と、 前記少なくとも1つの光ファイバ装置に接続される少なくとも1本のリード線 を有する接合装置とを含み、前記接合装置は第1のグループからの対応する光路 手段の第2の端部および第2のグループからの対応する光路手段の第2の端部を 前記少なくとも1本のリード線に接続する、光スイッチアセンブリ。 29.スイッチアセンブリを用いて、光ソースおよび検出器を少なくとも1つの 光ファイバ装置に選択的に接続する方法であって、前記方法は、 (a) 前記光ソースを1つの第1のグループの光路の第1の端部に選択的に 接続する、 (b) 前記検出器を1つの第2のグループの光路の第1の端部に選択的に接 続する、 (c) 1つの第1のグループの光路の第2の端部を接合部に接続する、 (d) 1つの第2のグループの光路の第2の端部を接合部に接続する、 (e) 前記少なくとも1つの光ファイバ装置を前記接合部に接続する、 少なくとも非順次、順次、または逐次独立ステップを含む、方法。 30.少なくとも2つのテスト手順を完了する前にテスト構成を変更する必要な く、前記少なくとも1つの光ファイバ装置に前記少なくとも2つのテスト手順を 行なうステップをさらに含む、請求項29に記載の方法。 31.さらに、 (1) 前記接合部を基準反射器に接続するステップと、 (2) 前記基準反射器を用いて基準テストを行なうステップとを含む、請求 項29に記載の方法。 32.前記接合部は第1および第2の接合部を含み、前記方法は、前記第1およ び第2の接合部を互いに接続し、前記第1および第2の接合部を用いて少なくと も前記光ソースまたは検出器を較正するステップをさらに含む、請求項31に記 載の方法。 33.光ファイバ装置の各ポートを前記接合部の別の接合部に接続するステップ をさらに含む、請求項31に記載の方法。 34.前記接合部は第1および第2の接合部を含み、前記方法は、前記第1およ び第2の接合部を互いに光学的に接続し、前記第1および第2の接合部を用いて 少なくとも光ソースまたは検出器を較正するステップをさらに含む、請求項29 に記載の方法。 35.前記接合部は第1、第2および第3の接合部を含み、前記方法は、 (1) 前記第1の接合物を基準反射器に接続し、前記基準反射器を用いて基 準テストを行なうステップと、 (2) 前記第2および第3の接合部を互いに光学的に接続し、前記第2およ び第3の接合部を用いて少なくとも光ソースまたは検出器を較正するステップと 、 (3) 前記少なくとも1つの光ファイバ装置の各ポートを前記接合部の別の 接合部に接続するステップとをさらに含む、請求項29に記載の方法。 36.光ソースおよび検出器を、少なくともn本のリードを有する少なくとも1 つの光ファイバ装置に選択的に接続するための光スイッチアセンブリであって、 前記少なくとも1つの光ファイバ装置の前記少なくともn本のリード線にそれ ぞれ接続される少なくともn個の接合部を有する接合装置と、 前記光ソースを各前記n個の接合部に選択的に接続し、かつ前記検出器を各n 個の接合部に選択的に接続する光スイッチとを含む、光スイッチアセンブリ。
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