JPH08130265A - 半導体装置及びそれを用いた電子装置 - Google Patents

半導体装置及びそれを用いた電子装置

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JPH08130265A
JPH08130265A JP6266490A JP26649094A JPH08130265A JP H08130265 A JPH08130265 A JP H08130265A JP 6266490 A JP6266490 A JP 6266490A JP 26649094 A JP26649094 A JP 26649094A JP H08130265 A JPH08130265 A JP H08130265A
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JP6266490A
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Atsushi Nakamura
淳 中村
Toshio Kanno
利夫 管野
Masayuki Fujimaki
政之 藤巻
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 配線基板に実装して電子装置を組み立てる場
合に、電気的特性の劣化を防止すると共に、実装すべき
配線基板の配線レイアウトを簡単にする半導体装置を提
供する。 【構成】 パッケージ2の長辺側の第1の側面3から、
アドレス信号用のリードA0〜A9及び電源用のリード
Vss、Vccが引き出され、第1の側面3と直交する
第2の側面4から、入出力信号用のリードI/O1〜I
/O4及び電源用のリードVssが引き出され、第2の
側面4と対向する第3の側面5から、制御信号用のリー
ドRAS、CAS、OE、WE及び電源用のリードVc
cが引き出されている。すなわち、パッケージ2の第
1、第2及び第3の各側面3、4、5からは、機能が同
じリードごとに区別されて引き出されている。従って、
機能の異なるリード同士は同一側面からは引き出されて
いない。なお、電源用のリードVss、Vccは、第1
の側面3、第2の側面4及び第3の側面5のいずれかか
らも任意に引き出し可能になっている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置及びそれを
用いた電子装置に関し、特に、複数個のメモリ用半導体
装置を配線基板上に実装してメモリモジュールのような
電子装置を組み立てる場合に適用して有効な技術に関す
る。
【0002】
【従来の技術】DRAM(Dynamic Rando
m Access Memory)のような高速動作が
要求されるメモリ用ICの半導体チップを封止するパッ
ケージ構造として、SOP(Small Outlin
e Package)が知られている。例えば日経マグ
ロウヒル社発行、「日経マイクロデバイス」、1988
年5月号、P35〜P53には、このようなSOPの一
種であるSOJ(Small Outline J−l
eaded Package)を4M(Mega)DR
AMのパッケージとして用いることが記載されている。
【0003】又、最近になってSOPにおいて、さらに
パッケージの薄型化を図るようにした構造として、TS
OP(Thin Small Outline Pac
kage)が開発されている。このTSOPを有するメ
モリ用ICは、樹脂等からなる薄い長方形状のパッケー
ジの相対向する長辺側の2つの側面から各々リード群が
引き出されている。
【0004】これらリード群には、一例として4Mのメ
モリ用ICの場合で示すと、アドレス信号用のリード、
入出力信号用のリード、制御信号用のリード、電源用の
リードが含まれている。
【0005】このようなメモリ用ICは単体で使用され
る他に、複数個を配線基板に実装することによりメモリ
モジュール(電子装置)を組み立てて、このメモリモジ
ュールを単位としてコンピュータのような情報処理装置
に組み込まれることが多い。メモリモジュールを組み立
てる場合は、予め直線状の配線等が形成された多層構造
の配線基板を用いて、この配線基板上に複数個例えば4
個のメモリ用ICを互いに平行になるように配置して、
リード群の各リードを対応する配線のランド部(フット
プリント部)に半田付けすることにより、実装すること
が行われる。このようにして組み立てられたメモリモジ
ュールは、配線基板の端部に設けられた複数の接栓を通
じて、電気的な接続が行われる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】前記のように従来のメ
モリ用ICは、パッケージの相対向する長辺側の2つの
側面から各々リード群が引き出されており、各側面から
はそれぞれ機能の異なるアドレス信号用のリード、入出
力信号用のリード、制御信号用のリード及び電源用のリ
ードが混在して取り出されている。このため、そのよう
なリード配置に基づいて、配線基板に複数個のメモリ用
ICを実装してメモリモジュールを組み立てる場合に
は、、全ての素子のアドレス信号用のリードが共通に接
続される配線と、制御信号用のリード等の他のリードが
接続される配線等とを平行に形成した配線基板を用いて
いる。
【0007】ここでアドレス信号用のリードには高い周
波数の信号が流れるため、このアドレス信号用のリード
の配線と制御信号用のリード等の他のリードの配線等と
が平行に配置されることは、クロストーク等の信号間相
互干渉が生じて、電気的特性が劣化するという問題があ
る。
【0008】又、従来のようなリード配置のメモリ用I
Cでは、これを複数個用いてメモリモジュールを組み立
てる場合に、配線基板上で全ての素子のアドレス信号用
のリードに共通に接続される配線は、アドレス信号用の
リード以外のリードに対するランド部を迂回する必要が
あるので、配線レイアウトが複雑になるという問題があ
る。
【0009】このため、設計効率が悪くなり、CAD設
計、レイアウトチェック等を行う場合、支障が生ずる。
【0010】本発明の目的は、配線基板に実装して電子
装置を組み立てる場合に、電気的特性の劣化を防止する
と共に、実装すべき配線基板の配線レイアウトを簡単に
する半導体装置を提供することにある。
【0011】本発明の他の目的は、半導体装置の電気的
特性の劣化を防止すると共に、半導体装置を実装すべき
配線基板の配線レイアウトを簡単にする電子装置を提供
することにある。
【0012】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述及び添付図面から明らかにな
るであろう。
【0013】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば下
記の通りである。
【0014】(1)本発明の半導体装置は、半導体チッ
プを封止した方形状のパッケージの側面から複数のリー
ドが引き出されている半導体装置において、前記方形状
のパッケージの第1の側面からアドレス信号用のリード
が引き出され、第1の側面と直交する第2の側面から入
出力信号用のリードが引き出され、第2の側面と対向す
る第3の側面から制御信号用のリードが引き出されてい
る。
【0015】(2)本発明の電子装置は、方形状のパッ
ケージの第1の側面からアドレス信号用のリードが引き
出され、第1の側面と直交する第2の側面から入出力信
号用のリードが引き出され、第2の側面と対向する第3
の側面から制御信号用のリードが引き出されてなる半導
体装置が複数個用いられて、予め前記アドレス信号用の
リードの数に対応した数の配線が互いに平行に形成され
た配線基板上に、前記第1の側面が互いに平行になるよ
うに配置され、前記複数個の半導体装置のアドレス信号
用のリードは対応する配線に接続されている。
【0016】
【作用】上述した(1)の手段によれば、本発明の半導
体装置は、半導体チップを封止した方形状のパッケージ
の側面から複数のリードが引き出されている半導体装置
において、前記方形状のパッケージの第1の側面からア
ドレス信号用のリードが引き出され、第1の側面と直交
する第2の側面から入出力信号用のリードが引き出さ
れ、第2の側面と対向する第3の側面から制御信号用の
リードが引き出されているので、配線基板に実装して電
子装置を組み立てる場合に、電気的特性の劣化を防止す
ると共に、実装すべき配線基板の配線レイアウトを簡単
にすることができる。
【0017】上述した(2)の手段によれば、本発明の
電子装置は、方形状のパッケージの第1の側面からアド
レス信号用のリードが引き出され、第1の側面と直交す
る第2の側面から入出力信号用のリードが引き出され、
第2の側面と対向する第3の側面から制御信号用のリー
ドが引き出されてなる半導体装置が複数個用いられて、
予め前記アドレス信号用のリードの数に対応した数の配
線が互いに平行に形成された配線基板上に、前記第1の
側面が互いに平行になるように配置されて、前記複数個
の半導体装置のアドレス信号用のリードは対応する配線
に接続されているので、半導体装置の電気的特性の劣化
を防止すると共に、半導体装置を実装すべき配線基板の
配線レイアウトを簡単にすることができる
【0018】
【実施例】以下図面を参照して本発明の実施例を説明す
る。
【0019】(実施例1)図1は本発明の実施例1によ
る半導体装置を示す上面図で、メモリ用ICに適用した
例を示している。本実施例のメモリ用IC1は、TSO
Pを構成し半導体チップを封止している長方形状のパッ
ケージ2の長辺側の第1の側面3からは、アドレス信号
用のリードA0〜A9及び電源用のリードVss、Vc
cの12本が引き出されている。又、第1の側面3と直
交する第2の側面4からは、入出力信号用のリードI/
O1〜I/O4及び電源用のリードVssの5本が引き
出されている。さらに、第2の側面4と対向する第3の
側面5からは、制御信号用のリードRAS、CAS、O
E、WE及び電源用のリードVccの5本が引き出され
ている。
【0020】すなわち、パッケージ2の第1の側面3か
らはアドレス信号用のリードA0〜A9が引き出され、
第2の側面4からは入出力信号用のリードI/O1〜I
/O4が引き出され、第3の側面5からは制御信号用の
リードRAS、CAS、OE、WEが引き出されてい
て、各側面3、4、5からは、機能が同じリードごとに
区別されて引き出されている。従って、機能の異なるリ
ード同士は同一側面からは引き出されていない。なお、
電源用のリードVss、Vccは、第1の側面3、第2
の側面4及び第3の側面5のいずれかからも任意に引き
出し可能になっており、必ずしも図1で示された側面か
ら引き出す必要はない。各リードピッチは一例として
1.27mmに設定され、パッケージ2の幅寸法は7.
62mm(300mil)に設定されている。
【0021】ここで、本実施例のメモリ用IC1は、パ
ッケージ2によって封止される半導体チップは従来のも
のと同じ設計仕様になっているものを用いることがで
き、リード配置が図1のようになるリードフレームを用
いることにより、半導体チップの電極パッドとワイヤボ
ンディングされるリード側の位置を変更するだけで製造
することができる。次に、本実施例のメモリ用IC1を
用いてメモリモジュールを組み立てる方法を説明する。
【0022】まず、図2に示すように、多層構造の配線
基板6を用意する。この配線基板6には、予め、メモリ
用IC1の第1の側面3に設けられている10本のアド
レス信号用のリードA0〜A9に対応して、10本の直
線状の配線7A〜7Jが長さ方向に沿って互いに平行に
形成されており、各配線7A〜7Jの途中位置には、1
0本のアドレス信号用のリードA0〜A9を各々半田付
けするためのランド部7a〜7jが形成されている。
又、電源用のリードVss、Vccを半田付けするため
のランド8a、8bが形成されており、各ランド部8
a、8bはスルーホール配線8A、8Bに接続されてい
る。
【0023】配線基板6の他の位置には、メモリ用IC
1の第2の側面4に設けられている5本の入出力信号用
のリードI/O1〜I/O4及び電源用のリードVss
に対応して、5個のランド部9a〜9eが形成されてお
り、この内ランド部9eはスルーホール配線9Eに接続
されている。又、他のランド部9a〜9dは各々配線1
0a〜10dを通じて、配線基板6の下端部に形成され
ている複数の接栓12に接続されている。
【0024】配線基板6のその他の位置には、メモリ用
IC1の第3の側面5に設けられている5本の制御信号
用のリードRAS、CAS、OE、WE及び電源用のリ
ードVccに対応して、5個のランド部11a〜11e
が形成されており、各々スルーホール配線11A〜11
Eに接続されている。なお、図2では、1個のメモリ用
IC1に対応した配線、ランド部、スルーホール配線の
みについて説明しているが、他のメモリ用IC1に対応
する配線、ランド部、スルーホール配線についても同様
なパターンに形成されている。
【0025】まず、図1のメモリ用IC1を複数個例え
ば4個用いて、図3に示すように、配線基板6上に各々
の第1の側面3が平行となるように配置して、アドレス
信号用のリードA0〜A9及び電源用のリードVss、
Vcc、入出力信号用のリードI/O1〜I/O4及び
電源用のリードVss、制御信号用のリードRAS、C
AS、OE、WE及び電源用のリードVccと、対応し
た各ランド部との位置合わせを行う。各リード及び各ラ
ンド部の少なくとも一方には、予め半田が付着されてい
るものとする。
【0026】次に、配線基板6をリフロー処理等を行っ
て、加熱処理することにより、位置合わせされた各リー
ドと各ランド部同士を半田付けする。これによって、図
3に示すように、4個のメモリ用IC1が配線基板6上
に表面実装されて組み立てられた電子装置としてのメモ
リモジュール13が得られる。このようにして得られた
メモリモジュール13は、接栓12を通じてコンピュー
タのような情報処理装置に組み込まれる。
【0027】このような本実施例のメモリ用IC1によ
れば、次のような効果が得られる。
【0028】半導体チップを封止している長方形状のパ
ッケージ2の長辺側の第1の側面3からアドレス信号用
のリードA0〜A9が引き出され、第1の側面3と直交
する第2の側面4から入出力信号用のリードI/O1〜
I/O4が引き出だされ、第2の側面4と対向する第3
の側面5から制御信号用のリードRAS、CAS、O
E、WEが引き出されているので、各リードは機能が同
じもの同士ごとに区別されてパッケージ2の異なる側面
から引き出されている。これにより、特に他のリードに
対して影響を及ぼし易いアドレス信号用のリードA0〜
A9を1つの側面からまとめて引き出すことができるの
で、配線基板6に実装する場合に、これらのリードが接
続される配線7A〜7Jを互いに平行に配置することが
できるようになる。従って、配線基板6に実装してメモ
リモジュール13を組み立てる場合、アドレス信号用の
リードA0〜A9の配線7A〜7Jと、制御信号用のリ
ードRAS、CAS、OE、WE等の他のリードの配線
とが平行に配置されることはなくなり、両者は直交する
ように配置されるので、クロストーク等の信号間相互干
渉が生じないため、電気的特性の劣化を防止することが
できる。
【0029】又、本実施例のメモリ用IC1によれば、
メモリモジュール13を組み立てる場合に、配線基板6
上で全ての素子のアドレス信号用のリードA0〜A9に
接続される配線7A〜7Jは、図2から明らかなよう
に、アドレス信号用のリードA0〜A9以外のリードに
対するランド部9a〜9e、11a〜11e等を迂回す
る必要がないので、配線レイアウトを簡単にすることが
できる。例えば、配線ピッチを従来の2倍にすることが
できる。これにより、より微細な配線パターンに適用可
能となり、又、同一配線幅の場合は、配線基板の面積を
縮小することができる。従って、設計効率が良くなり、
CAD設計、レイアウトチェック等を行う場合、支障が
生じなくなる。
【0030】さらに、本実施例のメモリ用IC1によっ
て組み立てられたメモリモジュール13によれば、同様
に、メモリ用IC1の電気的特性の劣化を防止すること
ができると共に、配線基板6の配線レイアウトを簡単に
できる。
【0031】(実施例2)図4は本発明の実施例2によ
るメモリ用IC14によって組み立てられたメモリモジ
ュール15を示す側面図である。本実施例のメモリ用I
C14は、パッケージ2の第1の側面3から引き出され
ている少なくともアドレス信号用のリードA0〜A9の
10本を、パッケージ2の上方に引き出した構造になっ
ており、このメモリ用IC14を4個用いて、前記各リ
ードを共通のフレキシブル配線基板16に接続するよう
にしたものである。
【0032】このような実施例2によるメモリ用IC1
4及びこれらメモリ用IC14によって組み立てられた
メモリモジュール15によっても、構造が異なるだけ
で、実施例1と同様な効果を得ることができる。
【0033】(実施例3)図5は本発明の実施例3によ
るメモリ用IC17によって組み立てられたメモリモジ
ュール18を示す側面図である。本実施例のメモリ用I
C17は、パッケージ2の第1の側面3から引き出され
ている少なくともアドレス信号用のリードA0〜A9の
10本によって、複数のメモリ用IC17の各パッケー
ジ2を一体に結合するようにしたもので、これらメモリ
用IC17を4個用いて、各々を配線基板6に実装する
ようにしたものである。このようなメモリ用IC17
は、パッケージ2をトランスファモールドによって形成
した後、アドレス信号用のリードA0〜A9のみを分離
せずにそのまま残しておくことにより製造することがで
きる。
【0034】このような実施例3によるメモリ用IC1
7及びこれらメモリ用IC17によって組み立てられた
メモリモジュール18によっても、構造が異なるだけ
で、実施例1と同様な効果を得ることができる。
【0035】以上、本発明者によってなされた発明を、
前記実施例に基づき具体的に説明したが、本発明は、前
記実施例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱し
ない範囲において種々変更可能であることは勿論であ
る。
【0036】例えば、前記実施例でアドレス信号用のリ
ードは10本を引き出した例で説明したが、このアドレ
ス信号用のリードの数は、メモリ用ICの目的、用途あ
るいは容量等に応じて適宜変更可能である。
【0037】又、パッケージ2の第1乃至第3の側面の
いずれかからも電源用のリードを引き出した例で説明し
たが、電源用のリードに関しては任意の側面から引き出
すことができる。
【0038】さらに、入出力信号用のリードを引き出す
側面と、制御信号用のリードを引き出す側面とは入れ替
えるようにしても良い。さらに又、メモリモジュールを
組み立てるメモリ用ICの数は任意に選択できる。
【0039】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野であるメモリ
用半導体装置の技術に適用した場合について説明した
が、それに限定されるものではない。本発明は、少なく
ともパッケージの側面から機能の異なる複数のリードが
引き出されている条件のものには適用できる。
【0040】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、下
記の通りである。
【0041】配線基板に実装して電子装置を組み立てる
場合に、電気的特性の劣化を防止すると共に、実装すべ
き配線基板の配線レイアウトを簡単にすることができ
る。
【0042】半導体装置の電気的特性の劣化を防止する
と共に、半導体装置を実装すべき配線基板の配線レイア
ウトを簡単にすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例1による半導体装置を示す上面
図である。
【図2】本発明の実施例1による半導体装置を用いてメ
モリモジュールを組み立てる場合に用いられる配線基板
を示す上面図である。
【図3】本発明の実施例1による半導体装置を用いて組
み立てられたメモリジュールを示す上面図である。
【図4】本発明の実施例2による半導体装置を用いて組
み立てられたメモリモジュールを示す側面図である。
【図5】本発明の実施例3による半導体装置を用いて組
み立てられたメモリモジュールを示す側面図である。
【符号の説明】
1,14,17…メモリ用IC、2…パッケージ、3…
パッケージの第1の側面、4…パッケージの第2の側
面、5…パッケージの第3の側面、6…配線基板、7A
〜7J,10a〜10d…配線、7a〜7j,8a,8
b,0a〜9e,11a〜11e…配線のランド部、8
A,8B,9E,11A〜11E…スルーホール配線、
12…接栓、13,15,18…メモリモジュール、1
6…フレキシブル配線基板、A0〜A9…アドレス信号
用のリード、I/O1〜I/O4…出力信号用のリー
ド、RAS,CAS,OE,WE…制御信号用のリー
ド。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体チップを封止した方形状のパッケ
    ージの側面から複数のリードが引き出されている半導体
    装置において、前記方形状のパッケージの第1の側面か
    らアドレス信号用のリードを引き出し、第1の側面と直
    交する第2の側面から入出力信号用のリードを引き出
    し、第2の側面と対向する第3の側面から制御信号用の
    リードを引き出してなることを特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】 前記パッケージの第1の側面乃至第3の
    側面の任意の側面から電源用のリードを引き出してなる
    ことを特徴とする請求項1記載の半導体装置。
  3. 【請求項3】 前記方形状のパッケージは長方形状から
    なり、この長方形状のパッケージの長辺側を第1の側面
    とすることを特徴とする請求項1又は請求項2記載の半
    導体装置。
  4. 【請求項4】 方形状のパッケージの第1の側面からア
    ドレス信号用のリードを引き出し、第1の側面と直交す
    る第2の側面から入出力信号用のリードを引き出し、第
    2の側面と対向する第3の側面から制御信号用のリード
    を引き出してなる半導体装置を複数個用いて、予め前記
    アドレス信号用のリードの数に対応した数の配線が互い
    に平行に形成された配線基板上に、前記第1の側面が互
    いに平行になるように配置し、前記複数個の半導体装置
    のアドレス信号用のリードを対応する配線に接続してな
    ることを特徴とする電子装置。
  5. 【請求項5】 前記複数個の半導体装置のアドレス信号
    用のリードの各々は、対応する配線に予め形成されてい
    るランド部に接続されてなることを特徴とする請求項4
    記載の電子装置。
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