JPH0797410B2 - 画像処理方法 - Google Patents
画像処理方法Info
- Publication number
- JPH0797410B2 JPH0797410B2 JP1006903A JP690389A JPH0797410B2 JP H0797410 B2 JPH0797410 B2 JP H0797410B2 JP 1006903 A JP1006903 A JP 1006903A JP 690389 A JP690389 A JP 690389A JP H0797410 B2 JPH0797410 B2 JP H0797410B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- differential
- contour
- point
- inspected
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、被検査物の欠け、クラック、汚れなどの欠陥
の有無を検査する外観検査装置の画像処理方法に関する
ものである。
の有無を検査する外観検査装置の画像処理方法に関する
ものである。
［従来の技術］ 従来、被検査物の欠け、クラック、汚れなどの欠陥を検
査する欠陥検査装置は、被検査物を撮影するTVカメラか
らの画像信号をA/D変換して得られる画像データを、原
画像データとして原画像メモリに記憶し、原画像メモリ
から読み出されたデータを適当に演算処理して被検査物
の輪郭を認識し、被検査物の欠け、クラック、汚れなど
の欠陥を認識するようになっている。
査する欠陥検査装置は、被検査物を撮影するTVカメラか
らの画像信号をA/D変換して得られる画像データを、原
画像データとして原画像メモリに記憶し、原画像メモリ
から読み出されたデータを適当に演算処理して被検査物
の輪郭を認識し、被検査物の欠け、クラック、汚れなど
の欠陥を認識するようになっている。
すなわち、TVカメラにより被検査物を撮影して画像デー
タとして取り込んだ場合、予め設定された被検査物の準
備位置と、検査する被検査物の実際の位置とがずれてい
る場合が多く、このような場合、被検査物の位置ずれを
補正するために、被検査物の輪郭（または、被検査物内
の基準位置となる模様、凹凸などの輪郭）を正確にとら
えて欠陥検査領域を認識し、この欠陥検査領域内に欠陥
が存在するかどうかを判定するようになっていた。
タとして取り込んだ場合、予め設定された被検査物の準
備位置と、検査する被検査物の実際の位置とがずれてい
る場合が多く、このような場合、被検査物の位置ずれを
補正するために、被検査物の輪郭（または、被検査物内
の基準位置となる模様、凹凸などの輪郭）を正確にとら
えて欠陥検査領域を認識し、この欠陥検査領域内に欠陥
が存在するかどうかを判定するようになっていた。
例えば、特開昭62−88946号に示されるように、複数の
照明手段を用いて輪郭抽出を確実に行うための画像処理
方法が提案されており、被検査物を複数の照明手段によ
って照明（明照明、暗照明）し、各照明状態でTVカメラ
にてそれぞれ撮影された複数の被検査物画像を論理演算
（論理和）して被検査物の輪郭を認識し、欠陥検査領域
を設定するようになっていた。
照明手段を用いて輪郭抽出を確実に行うための画像処理
方法が提案されており、被検査物を複数の照明手段によ
って照明（明照明、暗照明）し、各照明状態でTVカメラ
にてそれぞれ撮影された複数の被検査物画像を論理演算
（論理和）して被検査物の輪郭を認識し、欠陥検査領域
を設定するようになっていた。
［発明が解決しようとする課題］ しかしながら、上述のような従来例の画像処理方法によ
って被検査物の輪郭を認識するものあっては、TVカメラ
で撮影された被検査物画像の輪郭部周辺に、異物やノイ
ズが存在する場合については何ら考慮されておらず、輪
郭部周辺に異物やノイズが存在すると、複数の照明手段
および論理演算をどのように変化させても被検査物の輪
郭が正確に抽出できなくなるという問題があった。
って被検査物の輪郭を認識するものあっては、TVカメラ
で撮影された被検査物画像の輪郭部周辺に、異物やノイ
ズが存在する場合については何ら考慮されておらず、輪
郭部周辺に異物やノイズが存在すると、複数の照明手段
および論理演算をどのように変化させても被検査物の輪
郭が正確に抽出できなくなるという問題があった。
本発明は上記の点に鑑みて為されたものであり、その目
的とするところは、TVカメラで撮影された被検査物の原
画像の輪郭部周辺に異物やノイズが存在する場合にあっ
ても、被検査物の輪郭線を探索して被検査物を正確に認
識することができ、しかも、被検査物の輪郭線探索の基
準点を１つの探索ラインで正確かつ簡単に認識すること
ができる画像処理方法を提供することにある。
的とするところは、TVカメラで撮影された被検査物の原
画像の輪郭部周辺に異物やノイズが存在する場合にあっ
ても、被検査物の輪郭線を探索して被検査物を正確に認
識することができ、しかも、被検査物の輪郭線探索の基
準点を１つの探索ラインで正確かつ簡単に認識すること
ができる画像処理方法を提供することにある。
［課題を解決するための手段］ 本発明の請求項１の画像処理方法は、TVカメラで撮影さ
れた被検査物の原画像を演算処理して微分絶対値画像、
微分方向値画像、エッジ画像を求め、各画像に基づいて
被検査物の輪郭線を探索して被検査物の輪郭を認識する
ようにした画像処理方法において、エッジ画像上の任意
の探索開始点から被検査物方向に探索ラインを設定して
エッジフラッグが存在する点を求めて輪郭検査対象点と
し、上記輪郭検査対象点を中心としてＮ×Ｍ画素よりな
る適当な局所並列ウインドウを設定するとともに、上記
局所並列ウインドウの各行についてエッジフラッグの有
無をチェックして総ての行にエッジフラッグが有る場合
に該局所並列ウインドウを輪郭線検査対象領域とし、上
記輪郭線検査対象領域の各エッジフラッグに対応する微
分絶対値を微分画像から抽出するとともに、抽出された
微分絶対値のうち予め設定された微分しきい値よりも大
きいものについて加算して微分絶対値の総和を求め、上
記微分絶対値の総和が予め設定された総和しきい値より
も大きいときに、前記輪郭検査対象点を被検査物の輪郭
線上の点と認識するようにしたものである。
れた被検査物の原画像を演算処理して微分絶対値画像、
微分方向値画像、エッジ画像を求め、各画像に基づいて
被検査物の輪郭線を探索して被検査物の輪郭を認識する
ようにした画像処理方法において、エッジ画像上の任意
の探索開始点から被検査物方向に探索ラインを設定して
エッジフラッグが存在する点を求めて輪郭検査対象点と
し、上記輪郭検査対象点を中心としてＮ×Ｍ画素よりな
る適当な局所並列ウインドウを設定するとともに、上記
局所並列ウインドウの各行についてエッジフラッグの有
無をチェックして総ての行にエッジフラッグが有る場合
に該局所並列ウインドウを輪郭線検査対象領域とし、上
記輪郭線検査対象領域の各エッジフラッグに対応する微
分絶対値を微分画像から抽出するとともに、抽出された
微分絶対値のうち予め設定された微分しきい値よりも大
きいものについて加算して微分絶対値の総和を求め、上
記微分絶対値の総和が予め設定された総和しきい値より
も大きいときに、前記輪郭検査対象点を被検査物の輪郭
線上の点と認識するようにしたものである。
また、請求項２の画像処理方法は、微分絶対値画像上の
任意の探索開始点から被検査物方向に探索ラインを設定
して微分絶対値が予め設定された微分しきい値より大き
い点を求めて輪郭検査対象点とし、上記輪郭検査対象点
に対応する微分方向値を微分方向値画像から抽出し、抽
出された微分方向値が予め設定された微分方向しきい値
範囲内に存在するとき、前記輪郭検査対象点を被検査物
の輪郭線上の点と認識するようにしたものである。
任意の探索開始点から被検査物方向に探索ラインを設定
して微分絶対値が予め設定された微分しきい値より大き
い点を求めて輪郭検査対象点とし、上記輪郭検査対象点
に対応する微分方向値を微分方向値画像から抽出し、抽
出された微分方向値が予め設定された微分方向しきい値
範囲内に存在するとき、前記輪郭検査対象点を被検査物
の輪郭線上の点と認識するようにしたものである。
さらにまた、請求項３の画像処理方法には、エッジ画像
上の任意の探索開始点から被検査物方向に探索ラインを
設定してエッジフラッグが存在する点を求めて輪郭検査
対象点とし、上記輪郭検査対象点に対応する微分絶対値
を微分絶対値画像より抽出するとともに、抽出された微
分絶対値が予め設定された微分しきい値よりも大きいと
きに輪郭検査対象点に対応する微分方向値を微分方向値
画像から抽出し、上記微分方向値が予め設定された微分
方向値範囲内にあるとき、前記輪郭検査対象点を被検査
物の輪郭線上の点と認識するようにしたものである。
上の任意の探索開始点から被検査物方向に探索ラインを
設定してエッジフラッグが存在する点を求めて輪郭検査
対象点とし、上記輪郭検査対象点に対応する微分絶対値
を微分絶対値画像より抽出するとともに、抽出された微
分絶対値が予め設定された微分しきい値よりも大きいと
きに輪郭検査対象点に対応する微分方向値を微分方向値
画像から抽出し、上記微分方向値が予め設定された微分
方向値範囲内にあるとき、前記輪郭検査対象点を被検査
物の輪郭線上の点と認識するようにしたものである。
さらにまた、請求項４の画像処理方法は、エッジ画像上
の任意の探索開始点から被検査物方向に探索ラインを設
定してエッジフラッグが存在する点を求めて輪郭検査対
象点とし、上記輪郭検査対象点に対応する微分絶対値を
微分絶対画値像より抽出するとともに、抽出された微分
絶対値が予め設定された微分しきい値よりも大きいとき
に輪郭検査対象点に対応する微分方向値を微分方向値画
像から抽出し、原画像上の輪郭検査対象点に対応する点
から微分方向値に対して垂直方向にｎ画素それぞれ離れ
た点を濃度検査点として両濃度検査点の濃度を原画像か
ら抽出し、一方の濃度検査点の濃度が被検査物に対する
濃度しきい値よりも大きく、かつ他方の濃度検査点の濃
度が背景に対する濃度しきい値よりも小さいとき、前記
輪郭検査対象点を被検査物の輪郭線上の点と認識するよ
うにしたものである。
の任意の探索開始点から被検査物方向に探索ラインを設
定してエッジフラッグが存在する点を求めて輪郭検査対
象点とし、上記輪郭検査対象点に対応する微分絶対値を
微分絶対画値像より抽出するとともに、抽出された微分
絶対値が予め設定された微分しきい値よりも大きいとき
に輪郭検査対象点に対応する微分方向値を微分方向値画
像から抽出し、原画像上の輪郭検査対象点に対応する点
から微分方向値に対して垂直方向にｎ画素それぞれ離れ
た点を濃度検査点として両濃度検査点の濃度を原画像か
ら抽出し、一方の濃度検査点の濃度が被検査物に対する
濃度しきい値よりも大きく、かつ他方の濃度検査点の濃
度が背景に対する濃度しきい値よりも小さいとき、前記
輪郭検査対象点を被検査物の輪郭線上の点と認識するよ
うにしたものである。
［作 用］ 本発明は上述のように構成されており、請求項１の画像
処理方法にあっては、被検査物の輪郭線上の点を探索し
て被検査物の輪郭を認識する画像処理方法において、エ
ッジ画像上で被検査物方向に設定される探索ラインによ
ってエッジフラッグが存在する点を求め、この輪郭検査
対象点を中心として設定された局所並列ウインドウの各
行についてエッジフラッグの有無をチェックし、総ての
行にエッジフラッグが有る場合に該局所並列ウインドウ
を輪郭線検査対象領域とし、また、輪郭線検査対象領域
の各エッジフラッグに対応する微分絶対値のうち予め設
定された微分しきい値よりも大きいものについて加算し
て微分絶対値の総和を求め、上記微分絶対値の総和が予
め設定された総和しきい値よりも大きいときに、前記輪
郭検査対象点を被検査物の輪郭線上の点と認識するよう
にしており、TVカメラで撮影された被検査物の原画像の
輪郭部周辺に異物やノイズが存在する場合にあっても、
被検査物の輪郭線を探索して被検査物を正確に認識する
ことができ、しかも、被検査物の輪郭線探索の基準点を
１つの探索ラインで正確かつ簡単に認識することができ
るようになっている。
処理方法にあっては、被検査物の輪郭線上の点を探索し
て被検査物の輪郭を認識する画像処理方法において、エ
ッジ画像上で被検査物方向に設定される探索ラインによ
ってエッジフラッグが存在する点を求め、この輪郭検査
対象点を中心として設定された局所並列ウインドウの各
行についてエッジフラッグの有無をチェックし、総ての
行にエッジフラッグが有る場合に該局所並列ウインドウ
を輪郭線検査対象領域とし、また、輪郭線検査対象領域
の各エッジフラッグに対応する微分絶対値のうち予め設
定された微分しきい値よりも大きいものについて加算し
て微分絶対値の総和を求め、上記微分絶対値の総和が予
め設定された総和しきい値よりも大きいときに、前記輪
郭検査対象点を被検査物の輪郭線上の点と認識するよう
にしており、TVカメラで撮影された被検査物の原画像の
輪郭部周辺に異物やノイズが存在する場合にあっても、
被検査物の輪郭線を探索して被検査物を正確に認識する
ことができ、しかも、被検査物の輪郭線探索の基準点を
１つの探索ラインで正確かつ簡単に認識することができ
るようになっている。
また、請求項２の画像処理方法は、微分絶対値画像上で
設定される探索ラインによって微分絶対値が予め設定さ
れた微分しきい値より大きい点を求め、この輪郭検査対
象点に対応する微分方向値が予め設定された微分方向し
きい値範囲内に存在するとき、前記輪郭検査対象点を被
検査物の輪郭線上の点と認識するようにしたものであ
り、被検査物の輪郭線探索の基準点を正確かつ簡単に認
識することができるようになっている。
設定される探索ラインによって微分絶対値が予め設定さ
れた微分しきい値より大きい点を求め、この輪郭検査対
象点に対応する微分方向値が予め設定された微分方向し
きい値範囲内に存在するとき、前記輪郭検査対象点を被
検査物の輪郭線上の点と認識するようにしたものであ
り、被検査物の輪郭線探索の基準点を正確かつ簡単に認
識することができるようになっている。
さらにまた、請求項３の画像処理方法は、エッジ画像上
で設定される探索ラインによってエッジフラッグが存在
する点を求め、この輪郭検査対象点に対応する微分絶対
値が予め設定された微分しきい値よりも大きく、しかも
その点に対応する微分方向値が予め設定された微分方向
値範囲内にあるとき、前記輪郭検査対象点を被検査物の
輪郭線上の点と認識するようにしたものであり、被検査
物の輪郭線探索の基準点を正確かつ簡単に認識すること
ができるようになっている。
で設定される探索ラインによってエッジフラッグが存在
する点を求め、この輪郭検査対象点に対応する微分絶対
値が予め設定された微分しきい値よりも大きく、しかも
その点に対応する微分方向値が予め設定された微分方向
値範囲内にあるとき、前記輪郭検査対象点を被検査物の
輪郭線上の点と認識するようにしたものであり、被検査
物の輪郭線探索の基準点を正確かつ簡単に認識すること
ができるようになっている。
更にまた請求項４の画像処理方法は、エッジ画像上の任
意の探索開始点から被検査物方向に探索ラインを設定し
てエッジフラッグが存在する点を求めて輪郭検査対象点
とし、上記輪郭検査対象点に対応する微分絶対値を微分
絶対値画像より抽出するとともに、抽出された微分絶対
値が予め設定された微分しきい値よりも大きいときに輪
郭検査対象点に対応する微分方向値を微分方向値画像か
ら抽出し、原画像上の輪郭検査対象点に対応する点から
微分方向値に対して垂直方向にｎ画素それぞれ離れた点
を濃度検査点として両濃度検査点の濃度を原画像から抽
出し、一方の濃度検査点の濃度が被検査物に対する濃度
しきい値よりも大きく、かつ他方の濃度検査点の濃度が
背景に対する濃度しきい値よりも小さいとき、前記輪郭
検査対象点を被検査物の輪郭線上の点と認識するように
したものであり、被検査物の輪郭線探索の基準点を正確
かつ簡単に認識することができるようになっている。
意の探索開始点から被検査物方向に探索ラインを設定し
てエッジフラッグが存在する点を求めて輪郭検査対象点
とし、上記輪郭検査対象点に対応する微分絶対値を微分
絶対値画像より抽出するとともに、抽出された微分絶対
値が予め設定された微分しきい値よりも大きいときに輪
郭検査対象点に対応する微分方向値を微分方向値画像か
ら抽出し、原画像上の輪郭検査対象点に対応する点から
微分方向値に対して垂直方向にｎ画素それぞれ離れた点
を濃度検査点として両濃度検査点の濃度を原画像から抽
出し、一方の濃度検査点の濃度が被検査物に対する濃度
しきい値よりも大きく、かつ他方の濃度検査点の濃度が
背景に対する濃度しきい値よりも小さいとき、前記輪郭
検査対象点を被検査物の輪郭線上の点と認識するように
したものであり、被検査物の輪郭線探索の基準点を正確
かつ簡単に認識することができるようになっている。
［実施例］ 第１図および第２図は本発明に係る外観検査装置の概略
構成を示すもので、照明ランフLaにて斜め方向から照明
された被検査物Ｏを撮影するTVカメラ１と、上記TVカメ
ラ１から出力される画像信号をA/D変換するA/D変換器２
と、A/D変換された画像データを前処理する前処理回路
３と、前処理された画像データを被検査物Ｏの原画像と
して記憶する原画像メモリ４と、原画像の各画素に対応
して演算される微分絶対値を記憶する微分絶対値画像メ
モリ５と、演算された微分方向値を記憶する微分方向値
画像メモリ６、原画像の濃度（明るさ）の変化点を線画
として抽出したエッジフラッグを記憶するエッジ画像メ
モリ７と、原画像を演算処理して各メモリ５〜７に所定
のデータを記憶させるとともに、各メモリ４〜７に記憶
されているデータに基づいて被検査物Ｏの輪郭線を探索
し，被検査物Ｏの輪郭を認識して被検査物Ｏの欠陥の有
無をチェックするマイクロプロセッサ（あるいはマイク
ロコンピュータ）８とで形成されている。
構成を示すもので、照明ランフLaにて斜め方向から照明
された被検査物Ｏを撮影するTVカメラ１と、上記TVカメ
ラ１から出力される画像信号をA/D変換するA/D変換器２
と、A/D変換された画像データを前処理する前処理回路
３と、前処理された画像データを被検査物Ｏの原画像と
して記憶する原画像メモリ４と、原画像の各画素に対応
して演算される微分絶対値を記憶する微分絶対値画像メ
モリ５と、演算された微分方向値を記憶する微分方向値
画像メモリ６、原画像の濃度（明るさ）の変化点を線画
として抽出したエッジフラッグを記憶するエッジ画像メ
モリ７と、原画像を演算処理して各メモリ５〜７に所定
のデータを記憶させるとともに、各メモリ４〜７に記憶
されているデータに基づいて被検査物Ｏの輪郭線を探索
し，被検査物Ｏの輪郭を認識して被検査物Ｏの欠陥の有
無をチェックするマイクロプロセッサ（あるいはマイク
ロコンピュータ）８とで形成されている。
以下、上述の外観検査装置の被検査物Ｏの輪郭認識およ
び欠陥検出について具体的に説明する。
び欠陥検出について具体的に説明する。
第３図および第４図は動作説明図であり、まず、テレビ
カメラTV1にて撮影された第３図（ａ）に示すような被
検査物Ｏの原画像f1を、マイクロプロセッサ８で演算処
理し、第３図（ｂ）に示すようなエッジ画像f4に変換す
る処理が必要であり、この処理は以下のように行なわれ
る。
カメラTV1にて撮影された第３図（ａ）に示すような被
検査物Ｏの原画像f1を、マイクロプロセッサ８で演算処
理し、第３図（ｂ）に示すようなエッジ画像f4に変換す
る処理が必要であり、この処理は以下のように行なわれ
る。
まず、被検査物Ｏを含む空間領域を撮像して得られた原
画像f1は濃淡画像であって、第３図（ａ）に示すよう
に、被検査物Ｏ、欠陥X1、異物X2を含む画像となってい
る。ここに、各画素はたとえば濃度が８ビットで表わさ
れて256階調に設定される。この濃淡画像から被検査物
Ｏの輪郭線等のエッジを抽出する処理は、「エッジの部
分は濃度変化が大きい部分に対応している」という考え
方を基本にしている。したがって、濃度を微分すること
によってエッジの抽出を行なうのが一般的である。微分
処理は、第４図に示すように、濃淡画像を３×３画素の
局所並列ウインドウＷに分割して行なう。つまり、注目
する画素Ｅと、その画素Ｅの周囲の８画素Ａ〜D,F〜Ｉ
とで局所並列ウインドウＷを形成し、局所並列ウインド
ウＷ内の画素Ａ〜Ｉの濃度の縦方向の濃度変化ΔＶと横
方向の濃度変化Ｈとを次式によって求め、 ΔＶ＝（Ａ＋Ｂ＋Ｃ）−（Ｇ＋Ｈ＋Ｉ） ΔＨ＝（Ａ＋Ｄ＋Ｇ）−（Ｃ＋Ｆ＋Ｉ） さらに、微分絶対値|eE|と微分方向値∠eEとを次式によ
って求めるのである。
画像f1は濃淡画像であって、第３図（ａ）に示すよう
に、被検査物Ｏ、欠陥X1、異物X2を含む画像となってい
る。ここに、各画素はたとえば濃度が８ビットで表わさ
れて256階調に設定される。この濃淡画像から被検査物
Ｏの輪郭線等のエッジを抽出する処理は、「エッジの部
分は濃度変化が大きい部分に対応している」という考え
方を基本にしている。したがって、濃度を微分すること
によってエッジの抽出を行なうのが一般的である。微分
処理は、第４図に示すように、濃淡画像を３×３画素の
局所並列ウインドウＷに分割して行なう。つまり、注目
する画素Ｅと、その画素Ｅの周囲の８画素Ａ〜D,F〜Ｉ
とで局所並列ウインドウＷを形成し、局所並列ウインド
ウＷ内の画素Ａ〜Ｉの濃度の縦方向の濃度変化ΔＶと横
方向の濃度変化Ｈとを次式によって求め、 ΔＶ＝（Ａ＋Ｂ＋Ｃ）−（Ｇ＋Ｈ＋Ｉ） ΔＨ＝（Ａ＋Ｄ＋Ｇ）−（Ｃ＋Ｆ＋Ｉ） さらに、微分絶対値|eE|と微分方向値∠eEとを次式によ
って求めるのである。
ただし、Ａ〜Ｉは対応する画素の濃度を示している。以
上の演算を原画像f1の全画素について行なうことによ
り、被検査物Ｏの輪郭や欠陥X1、異物X2等が存在してい
るような濃度変化が大きい部分と、その変化の方向とを
抽出することができ、微分絶対値画像f2（６ビット）、
微分方向値画像f3（４ビット）としてそれぞれ微分絶対
値画像メモリ５および微分方向値画像メモリ６に記憶さ
れる。
上の演算を原画像f1の全画素について行なうことによ
り、被検査物Ｏの輪郭や欠陥X1、異物X2等が存在してい
るような濃度変化が大きい部分と、その変化の方向とを
抽出することができ、微分絶対値画像f2（６ビット）、
微分方向値画像f3（４ビット）としてそれぞれ微分絶対
値画像メモリ５および微分方向値画像メモリ６に記憶さ
れる。
次に細線化処理が行なわれる。細線化処理は、微分絶対
値が大きいほど濃度変化が大きいことを表わしている点
に着目して行なわれる。すなわち、各画素の微分絶対値
を周囲の画素の微分絶対値と比較し、周囲の画素よりも
大きくなるものを連結していくことにより、１画素の幅
を有したエッジが抽出されるのである。つまり、画面上
の各画素の位置をＸ−Ｙ座標で表わし、微分絶対値をＺ
軸に取れば、微分絶対値を表わす曲面が形成されること
になるのであり、細線化処理は、この曲面における稜線
を求めることに相当する。この段階ではノイズ等による
エッジも含まれているから、適宜しきい値を設定し、し
きい値以上の値のみを採用してノイズ成分を除去する。
値が大きいほど濃度変化が大きいことを表わしている点
に着目して行なわれる。すなわち、各画素の微分絶対値
を周囲の画素の微分絶対値と比較し、周囲の画素よりも
大きくなるものを連結していくことにより、１画素の幅
を有したエッジが抽出されるのである。つまり、画面上
の各画素の位置をＸ−Ｙ座標で表わし、微分絶対値をＺ
軸に取れば、微分絶対値を表わす曲面が形成されること
になるのであり、細線化処理は、この曲面における稜線
を求めることに相当する。この段階ではノイズ等による
エッジも含まれているから、適宜しきい値を設定し、し
きい値以上の値のみを採用してノイズ成分を除去する。
細線化処理で得られたエッジ画像f4は、原画像f1のコン
トラストが不十分であるときや、ノイズが多いようなと
きには、不連続線になりやすい。そこで、エッジ延長処
理を行なう。エッジ延長処理は、不連続線の端点から始
めて、注目する画素とその周囲の画素とを比較し、次式
で表わされる評価関数ｆ（eJ）がもっとも大きくなる方
向にエッジを延長し、他の線の端点に衝突するまでこれ
を続けるものである。
トラストが不十分であるときや、ノイズが多いようなと
きには、不連続線になりやすい。そこで、エッジ延長処
理を行なう。エッジ延長処理は、不連続線の端点から始
めて、注目する画素とその周囲の画素とを比較し、次式
で表わされる評価関数ｆ（eJ）がもっとも大きくなる方
向にエッジを延長し、他の線の端点に衝突するまでこれ
を続けるものである。
ここに、eOは中心画素の微分データであり、eJは隣接画
素の微分データであって、Ｊ＝1,2,……、８である。
素の微分データであって、Ｊ＝1,2,……、８である。
以上の処理により、第３図（ｂ）に示すように、被検査
物Ｏ、欠陥X1、異物X2等の輪郭線l0〜l2が閉曲線のパタ
ーンとなった１ビット（“1"をエッジフラッグと称す
る）のエッジ画像f4が得られ、エッジ画像メモリ７に記
憶される。
物Ｏ、欠陥X1、異物X2等の輪郭線l0〜l2が閉曲線のパタ
ーンとなった１ビット（“1"をエッジフラッグと称す
る）のエッジ画像f4が得られ、エッジ画像メモリ７に記
憶される。
ところで、上述の外観検査装置において、前述したよう
に輪郭線探索の出発点となる基準点Ｑを正確に設定する
必要があり、以下、本発明に係る基準点Ｑを設定するた
めの画像処理方法について説明する。
に輪郭線探索の出発点となる基準点Ｑを正確に設定する
必要があり、以下、本発明に係る基準点Ｑを設定するた
めの画像処理方法について説明する。
第５図は、請求項１の画像処理方法のフローチャート、
第６乃至第９図は動作説明図であり、第６図はTVカメラ
１にて撮影された原画像であり、各画像メモリ４〜７に
は、第７図に示すように各画素（xn,yn）に対応して原
画像データf1（xn,yn）、微分絶対値画像データf2（xn,
yn）、微分方向値画像データf3（xn,yn）、エッジ画像
データf4（xn,yn）が対応（アドレスコードが同一）し
て記憶されている。
第６乃至第９図は動作説明図であり、第６図はTVカメラ
１にて撮影された原画像であり、各画像メモリ４〜７に
は、第７図に示すように各画素（xn,yn）に対応して原
画像データf1（xn,yn）、微分絶対値画像データf2（xn,
yn）、微分方向値画像データf3（xn,yn）、エッジ画像
データf4（xn,yn）が対応（アドレスコードが同一）し
て記憶されている。
まず最初に、エッジ画像f4上の任意の探索開始点Ｐ（x
p,yp）を設定するとともに、この探索開始点Ｐ（xp,y
p）から被検査物方向に探索ラインａを設定してエッジ
フラッグ（f4（x,y）＝１）が存在する点を求めて輪郭
検査対象点Ｑ（xq,yq）とする。次に、上記輪郭検査対
象点Ｑ（xq,yq）を中心として第８図に示すようにＮ×
Ｍ画素（実施例では７×５画素）よりなる適当な局所並
列ウインドウＷを設定するとともに、第９図に示すよう
に、上記局所並列ウインドウＷの各行について走査b1〜
b7してエッジフラッグの有無をチェックする。ここに、
第８図（ａ）に示すように、総ての行にエッジフラッグ
が有る場合に該局所並列ウインドウＷを輪郭線検査対象
領域とする。なお、第８図（ｂ）に示すように、探索ラ
インａ上にエッジフラッグがあっても、局所並列ウイン
ドウＷの総ての行にエッジフラッグがない場合には、上
記処理を繰り返して輪郭線検査対象領域を探索する。
p,yp）を設定するとともに、この探索開始点Ｐ（xp,y
p）から被検査物方向に探索ラインａを設定してエッジ
フラッグ（f4（x,y）＝１）が存在する点を求めて輪郭
検査対象点Ｑ（xq,yq）とする。次に、上記輪郭検査対
象点Ｑ（xq,yq）を中心として第８図に示すようにＮ×
Ｍ画素（実施例では７×５画素）よりなる適当な局所並
列ウインドウＷを設定するとともに、第９図に示すよう
に、上記局所並列ウインドウＷの各行について走査b1〜
b7してエッジフラッグの有無をチェックする。ここに、
第８図（ａ）に示すように、総ての行にエッジフラッグ
が有る場合に該局所並列ウインドウＷを輪郭線検査対象
領域とする。なお、第８図（ｂ）に示すように、探索ラ
インａ上にエッジフラッグがあっても、局所並列ウイン
ドウＷの総ての行にエッジフラッグがない場合には、上
記処理を繰り返して輪郭線検査対象領域を探索する。
次に、上述のようにして求められた輪郭線検査対象領域
の各エッジフラッグに対応する微分絶対値f2（xq,yq）
を微分絶対値画像f2から抽出するとともに、抽出された
微分絶対値f2（xq,yq）のうち予め設定された微分しき
い値L2よりも大きいもの（f2（xq,yq）＞L2）について
加算して微分絶対値の総和Ｓを求める。
の各エッジフラッグに対応する微分絶対値f2（xq,yq）
を微分絶対値画像f2から抽出するとともに、抽出された
微分絶対値f2（xq,yq）のうち予め設定された微分しき
い値L2よりも大きいもの（f2（xq,yq）＞L2）について
加算して微分絶対値の総和Ｓを求める。
次に、上記微分絶対値の総和Ｓが予め設定された総和し
きい値L2sよりも大きい（Ｓ＞L2s）ときに、前記輪郭検
査対象点Ｑ（xq,yq）を被検査物Ｏの輪郭線l0上の点と
判定する。なお、微分絶対値の総和Ｓが総和しきい値L2
sよりも小さい場合には、輪郭検査対象点Ｑ（xq,yq）を
被検査物Ｏの輪郭線上の点でないと判定して、上述の処
理を繰り返して基準点を探索する。また、予め設定され
た探索範囲内に上記基準点条件を満たす点がない場合に
は、被検査物Ｏが存在しないと判定する。
きい値L2sよりも大きい（Ｓ＞L2s）ときに、前記輪郭検
査対象点Ｑ（xq,yq）を被検査物Ｏの輪郭線l0上の点と
判定する。なお、微分絶対値の総和Ｓが総和しきい値L2
sよりも小さい場合には、輪郭検査対象点Ｑ（xq,yq）を
被検査物Ｏの輪郭線上の点でないと判定して、上述の処
理を繰り返して基準点を探索する。また、予め設定され
た探索範囲内に上記基準点条件を満たす点がない場合に
は、被検査物Ｏが存在しないと判定する。
ここに、本実施例にあっては、正確に輪郭線l0上の基準
点抽出を行うために、まず、被検査物Ｏのエッジが直線
的でかつ連続性があるという特徴に着目し、局所並列ウ
インドウＷによってエッジフラッグが総ての行に存在す
るかどうかを判定し、異物、ノイズX2のエッジに基づい
た輪郭線検査領域が設定されないようにしている。次
に、異物、ノイズX2のエッジの微分絶対値が被検査物Ｏ
のエッジの微分絶対値よりも一般的に小さい点に着目し
て微分しきい値L2をその中間に設定することにより、異
物、ノイズX2のエッジの微分絶対値を無視するようにな
っている。さらに、異物、ノイズX2のエッジの微分絶対
値が微分しきい値L2を越える数は少なく、その総和Ｓは
小さくなるという点に着目して、微分しきい値L2よりも
大きい微分絶対値の総和Ｓは、総和しきい値L2sよりも
大きくなければならないという条件を付加しており、以
上の３条件を満足する点を被検査物Ｏの輪郭線上の点と
判定することにより、異物、ノイズX2に影響されること
なく輪郭線探索の基準点を１つの探索ラインａで正確か
つ簡単に認識することができる。
点抽出を行うために、まず、被検査物Ｏのエッジが直線
的でかつ連続性があるという特徴に着目し、局所並列ウ
インドウＷによってエッジフラッグが総ての行に存在す
るかどうかを判定し、異物、ノイズX2のエッジに基づい
た輪郭線検査領域が設定されないようにしている。次
に、異物、ノイズX2のエッジの微分絶対値が被検査物Ｏ
のエッジの微分絶対値よりも一般的に小さい点に着目し
て微分しきい値L2をその中間に設定することにより、異
物、ノイズX2のエッジの微分絶対値を無視するようにな
っている。さらに、異物、ノイズX2のエッジの微分絶対
値が微分しきい値L2を越える数は少なく、その総和Ｓは
小さくなるという点に着目して、微分しきい値L2よりも
大きい微分絶対値の総和Ｓは、総和しきい値L2sよりも
大きくなければならないという条件を付加しており、以
上の３条件を満足する点を被検査物Ｏの輪郭線上の点と
判定することにより、異物、ノイズX2に影響されること
なく輪郭線探索の基準点を１つの探索ラインａで正確か
つ簡単に認識することができる。
第10図は、請求項２の画像処理方法のフローチャート、
第11図は同上の動作説明図であり、まず、第11図に示す
ように、微分絶対値画像f2上の任意の探索開始点Ｐ（f2
（xp,yp））から被検査物方向に探索ラインａを設定
し、第15図に示すように、探索ラインａ上の各画素Ri
（ｉ＝1,2,3,…………）で微分絶対値f2（xp,yp）が予
め設定された微分しきい値L2より大きい点を求めて輪郭
検査対象点Ｑ（xq,yq）とする。次に、輪郭検査対象点
Ｑ（xq,yq）に対応する微分方向値f3（xq,yq）を微分方
向値画像f3から抽出し、抽出された微分方向値f3（xq,y
q）が予め設定された微分方向しきい値［L3a,L3b］範囲
内に存在するかどうかを判定（L3a＜f3（xq,yq）＜L
3b）し、この判定条件を満足した場合には、この輪郭検
査対象点Ｑ（xq,yq）を被検査物Ｏの輪郭線l0上の点と
判定（アドレスコードを格納）する。なお、上記判定条
件を満足しない場合には、輪郭検査対象点Ｑ（xq,yq）
を輪郭線l0上の点でないと判定し、次の探索ラインａ上
の次の画素Riに対して上述の基準点探索処理を繰り返し
て行い、予め設定された探索範囲内に判定条件を満たす
点がなければ被検査物Ｏが存在しないと判定する。ま
た、微分方向しきい値範囲は、被検査物Ｏの輪郭線の微
分方向値を正確に調査し、微分方向しきい値範囲を絞り
込んで設定されるようになっている。
第11図は同上の動作説明図であり、まず、第11図に示す
ように、微分絶対値画像f2上の任意の探索開始点Ｐ（f2
（xp,yp））から被検査物方向に探索ラインａを設定
し、第15図に示すように、探索ラインａ上の各画素Ri
（ｉ＝1,2,3,…………）で微分絶対値f2（xp,yp）が予
め設定された微分しきい値L2より大きい点を求めて輪郭
検査対象点Ｑ（xq,yq）とする。次に、輪郭検査対象点
Ｑ（xq,yq）に対応する微分方向値f3（xq,yq）を微分方
向値画像f3から抽出し、抽出された微分方向値f3（xq,y
q）が予め設定された微分方向しきい値［L3a,L3b］範囲
内に存在するかどうかを判定（L3a＜f3（xq,yq）＜L
3b）し、この判定条件を満足した場合には、この輪郭検
査対象点Ｑ（xq,yq）を被検査物Ｏの輪郭線l0上の点と
判定（アドレスコードを格納）する。なお、上記判定条
件を満足しない場合には、輪郭検査対象点Ｑ（xq,yq）
を輪郭線l0上の点でないと判定し、次の探索ラインａ上
の次の画素Riに対して上述の基準点探索処理を繰り返し
て行い、予め設定された探索範囲内に判定条件を満たす
点がなければ被検査物Ｏが存在しないと判定する。ま
た、微分方向しきい値範囲は、被検査物Ｏの輪郭線の微
分方向値を正確に調査し、微分方向しきい値範囲を絞り
込んで設定されるようになっている。
第12図は請求項３の画像処理方法の動作を示すフローチ
ャートであり、まず、エッジ画像f4上の任意の探索開始
点Ｐから被検査物方向に探索ラインａを設定してエッジ
フラッグ（f4（x,y）＝１）が存在する点を求めて輪郭
検査対象点Ｑ（xq,yq）とする。次に、この輪郭検査対
象点Ｑ（xq,yq）に対応する微分絶対値f2（xq,yq）を微
分絶対値画像f2より抽出するとともに、抽出された微分
絶対値f2（xq,yq）が予め設定された微分しきい値L2よ
りも大きいときに輪郭検査対象点Ｑ（xq,yq）に対応す
る微分方向値f3（xq,yq）を微分方向値画像f3から抽出
し、上記微分方向値f3（xq,yq）が予め設定された微分
方向値範囲内（L3a＞f3（xq,yq）＞L3b）にあるとき、
この輪郭検査対象点Ｑ（xq,yq）を被検査物Ｏの輪郭線l
0上の点と判定（アドレスコードを格納）する。なお、
上記２つの判定条件を同時に満たさない場合には、輪郭
線l0上の点でないと判定して、上述の探索処理を繰り返
して行い、予め設定された探索範囲内に判定条件を満た
す点がなければ被検査物Ｏが存在しないと判定する。
ャートであり、まず、エッジ画像f4上の任意の探索開始
点Ｐから被検査物方向に探索ラインａを設定してエッジ
フラッグ（f4（x,y）＝１）が存在する点を求めて輪郭
検査対象点Ｑ（xq,yq）とする。次に、この輪郭検査対
象点Ｑ（xq,yq）に対応する微分絶対値f2（xq,yq）を微
分絶対値画像f2より抽出するとともに、抽出された微分
絶対値f2（xq,yq）が予め設定された微分しきい値L2よ
りも大きいときに輪郭検査対象点Ｑ（xq,yq）に対応す
る微分方向値f3（xq,yq）を微分方向値画像f3から抽出
し、上記微分方向値f3（xq,yq）が予め設定された微分
方向値範囲内（L3a＞f3（xq,yq）＞L3b）にあるとき、
この輪郭検査対象点Ｑ（xq,yq）を被検査物Ｏの輪郭線l
0上の点と判定（アドレスコードを格納）する。なお、
上記２つの判定条件を同時に満たさない場合には、輪郭
線l0上の点でないと判定して、上述の探索処理を繰り返
して行い、予め設定された探索範囲内に判定条件を満た
す点がなければ被検査物Ｏが存在しないと判定する。
第13図（ａ）は上記実施例の動作を具体的に説明する図
であり、黒色の背景B1,B2の間に白色の被検査物Ｏが存
在し、背景B2側に異物やノイズX2が多数存在しており、
輪郭線l02を探索により認識したい場合において、探索
点をB2側に設定すると、異物やノイズX2を誤認識し易く
なるので、探索開始点Ｐを背景B1側に設定するのが望ま
しい。このように探索開始点を背景B1側に設定して、さ
らに、被検査物ＯのエッジQ1（xq1,yq1）、Q2（xq2,y
q2）の微分絶対値は異物、ノイズX2の微分絶対値よりも
十分大きく、かつ微分しきい値L2を越えており第１の判
定条件を満足しているものとする。いま、輪郭線l01上
の点Q1（xq1,yq1）に対応する微分方向値f3（xq1,yq1）
が“4"、輪郭線l02上の点Q2（xq2,yq2）に対応する微分
方向値f3（xq2,yq2）が“12"である場合において、第２
の判定条件である微分方向値範囲を“10〜14"に設定し
ておけば、輪郭線l01上の点Q1（xq1,yq1）は第２の判定
条件を満足しないので、両判定条件を満足する輪郭線l
02上の点Q2（xq2,yq2）が被検査物Ｏの輪郭線探索の基
準点と判定され、微分方向値を考慮することにより適正
な基準点を認識できることになる。なお、本実施例は、
第13図（ｂ）に示すように、内側の輪郭線l02上の点を
認識する場合にも有効である。
であり、黒色の背景B1,B2の間に白色の被検査物Ｏが存
在し、背景B2側に異物やノイズX2が多数存在しており、
輪郭線l02を探索により認識したい場合において、探索
点をB2側に設定すると、異物やノイズX2を誤認識し易く
なるので、探索開始点Ｐを背景B1側に設定するのが望ま
しい。このように探索開始点を背景B1側に設定して、さ
らに、被検査物ＯのエッジQ1（xq1,yq1）、Q2（xq2,y
q2）の微分絶対値は異物、ノイズX2の微分絶対値よりも
十分大きく、かつ微分しきい値L2を越えており第１の判
定条件を満足しているものとする。いま、輪郭線l01上
の点Q1（xq1,yq1）に対応する微分方向値f3（xq1,yq1）
が“4"、輪郭線l02上の点Q2（xq2,yq2）に対応する微分
方向値f3（xq2,yq2）が“12"である場合において、第２
の判定条件である微分方向値範囲を“10〜14"に設定し
ておけば、輪郭線l01上の点Q1（xq1,yq1）は第２の判定
条件を満足しないので、両判定条件を満足する輪郭線l
02上の点Q2（xq2,yq2）が被検査物Ｏの輪郭線探索の基
準点と判定され、微分方向値を考慮することにより適正
な基準点を認識できることになる。なお、本実施例は、
第13図（ｂ）に示すように、内側の輪郭線l02上の点を
認識する場合にも有効である。
第14図は、請求項４の画像処理方法のフローチャートで
あり、請求項３の場合と同様に探索ラインａ上でエッジ
フラッグが存在する点Ｑ（xq,yq）の微分方向値f3（xq,
yq）を抽出し、第15図に示すように、原画像f1上の輪郭
検査対象点Ｑ（xq,yq）に対応する点から微分方向値f3
（xq,yq）に対して垂直方向にｎ画素それぞれ離れた点
を濃度検査点R1（xq−n,yq−ｎ）、R2（xq＋n,xq＋ｎ）
として設定し、これらの濃度検査点R1（xq−n,yq−
ｎ）、R2（xq＋n,xq＋ｎ）の濃度を抽出し、一方の濃度
検査点R1（xq−n,yq−ｎ）あるいはR2（xq＋n,xq＋ｎ）
の濃度が被検査Ｏ物に対する濃度しきい値L10よりも大
きく、かつ他方の濃度検査点R2（xq＋n,yq＋ｎ）あるい
はR1（xq−n,xq−ｎ）の濃度が背景Ｂに対する濃度しき
い値L1Bよりも小さいとき、前記輪郭検査対象点Ｑ（xq,
yq）を輪郭線上の点と判定してアドレスコードを格納
し、輪郭線探索の基準点と認識して輪郭線探索を開始す
るようにしたものである。なお、上記判定条件を満足し
ない場合には、輪郭線l0上の点でないと判定し、上記基
準点探索処理を繰り返して行い、探索範囲内に判定条件
を満足する点がないときには被検査物Ｏが存在しないと
判定する。
あり、請求項３の場合と同様に探索ラインａ上でエッジ
フラッグが存在する点Ｑ（xq,yq）の微分方向値f3（xq,
yq）を抽出し、第15図に示すように、原画像f1上の輪郭
検査対象点Ｑ（xq,yq）に対応する点から微分方向値f3
（xq,yq）に対して垂直方向にｎ画素それぞれ離れた点
を濃度検査点R1（xq−n,yq−ｎ）、R2（xq＋n,xq＋ｎ）
として設定し、これらの濃度検査点R1（xq−n,yq−
ｎ）、R2（xq＋n,xq＋ｎ）の濃度を抽出し、一方の濃度
検査点R1（xq−n,yq−ｎ）あるいはR2（xq＋n,xq＋ｎ）
の濃度が被検査Ｏ物に対する濃度しきい値L10よりも大
きく、かつ他方の濃度検査点R2（xq＋n,yq＋ｎ）あるい
はR1（xq−n,xq−ｎ）の濃度が背景Ｂに対する濃度しき
い値L1Bよりも小さいとき、前記輪郭検査対象点Ｑ（xq,
yq）を輪郭線上の点と判定してアドレスコードを格納
し、輪郭線探索の基準点と認識して輪郭線探索を開始す
るようにしたものである。なお、上記判定条件を満足し
ない場合には、輪郭線l0上の点でないと判定し、上記基
準点探索処理を繰り返して行い、探索範囲内に判定条件
を満足する点がないときには被検査物Ｏが存在しないと
判定する。
いま、被検査物Ｏの濃度が背景Ｂの濃度に比べて十分に
大きく、異物、ノイズX2の濃度がその中間にあるとすれ
ば、濃度しきい値L1Oを十分大きく設定するとともに、
濃度しきい値L1Bを十分小さく設定すれば、異物、ノイ
ズX2のエッジを被検査物Ｏの輪郭線と誤判定することが
なく、被検査物Ｏの輪郭線上の基準点を正確に認識でき
ることになる。なお、異物、ノイズX2の濃度は、一般的
に被検査物Ｏの濃度よりも十分小さく、背景Ｂの濃度よ
りも十分大きいので、両濃度しきい値L1O,L1Bは比較的
容易に設定できることになる。
大きく、異物、ノイズX2の濃度がその中間にあるとすれ
ば、濃度しきい値L1Oを十分大きく設定するとともに、
濃度しきい値L1Bを十分小さく設定すれば、異物、ノイ
ズX2のエッジを被検査物Ｏの輪郭線と誤判定することが
なく、被検査物Ｏの輪郭線上の基準点を正確に認識でき
ることになる。なお、異物、ノイズX2の濃度は、一般的
に被検査物Ｏの濃度よりも十分小さく、背景Ｂの濃度よ
りも十分大きいので、両濃度しきい値L1O,L1Bは比較的
容易に設定できることになる。
［発明の効果］ 本発明は上述のように構成されており、TVカメラで撮影
された被検査物の原画像の輪郭部周辺に異物やノイズが
存在する場合にあっても、被検査物の輪郭線を探索して
被検査物を正確に認識することができ、しかも、被検査
物の輪郭線探索の基準点を１つの探索ラインで正確かつ
簡単に認識することができるという効果がある。
された被検査物の原画像の輪郭部周辺に異物やノイズが
存在する場合にあっても、被検査物の輪郭線を探索して
被検査物を正確に認識することができ、しかも、被検査
物の輪郭線探索の基準点を１つの探索ラインで正確かつ
簡単に認識することができるという効果がある。
第１図は本発明に係る外観検査装置の概略構成図、第２
図は同上のブロック回路図、第３図および第４図は同上
の動作説明図であり、第３図（ａ）〜（ｃ）は原画像、
エッジ画像、欠陥部のエッジ画像の一例を示す説明図、
第４図は局所並列ウインドウを示す説明図、第５図乃至
第９図は請求項１の発明の動作説明図、第10図および第
11図は請求項２の発明の一実施例を示す動作説明図、第
12図および第13図は請求項３の発明の動作説明図、第14
図、第15図は請求項４の発明の動作説明図である。 １はTVカメラ、２はA/D変換器、３は前処理回路、４は
原画像メモリ、５は微分絶対値画像メモリ、６は微分方
向値画像メモリ、７はエッジ画像メモリ、８はマイクロ
プロセッサである。
図は同上のブロック回路図、第３図および第４図は同上
の動作説明図であり、第３図（ａ）〜（ｃ）は原画像、
エッジ画像、欠陥部のエッジ画像の一例を示す説明図、
第４図は局所並列ウインドウを示す説明図、第５図乃至
第９図は請求項１の発明の動作説明図、第10図および第
11図は請求項２の発明の一実施例を示す動作説明図、第
12図および第13図は請求項３の発明の動作説明図、第14
図、第15図は請求項４の発明の動作説明図である。 １はTVカメラ、２はA/D変換器、３は前処理回路、４は
原画像メモリ、５は微分絶対値画像メモリ、６は微分方
向値画像メモリ、７はエッジ画像メモリ、８はマイクロ
プロセッサである。
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−9769（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−126455（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−9775（ＪＰ，Ａ)
Claims (4)
- 【請求項１】TVカメラで撮影された被検査物の原画像を
演算処理して微分絶対値画像、微分方向値画像、エッジ
画像を求め、各画像に基づいて被検査物の輪郭線を探索
して被検査物の輪郭を認識するようにした画像処理方法
において、エッジ画像上の任意の探索開始点から被検査
物方向に探索ラインを設定してエッジフラッグが存在す
る点を求めて輪郭検査対象点とし、上記輪郭検査対象点
を中心としてＮ×Ｍ画素よりなる適当な局所並列ウイン
ドウを設定するとともに、上記局所並列ウインドウの各
行についてエッジフラッグの有無をチェックして総ての
行にエッジフラッグが有る場合に該局所並列ウインドウ
を輪郭線検査対象領域とし、上記輪郭検査対象領域の各
エッジフラッグに対応する微分絶対値を微分画像から抽
出するとともに、抽出された微分絶対値のうち予め設定
された微分しきい値よりも大きいものについて加算して
微分絶対値の総和を求め、上記微分絶対値の総和が予め
設定された総和しきい値よりも大きいときに、前記輪郭
検査対象点を被検査物の輪郭線上の点と認識するように
したことを特徴とする画像処理方法。 - 【請求項２】TVカメラで撮影された被検査物の原画像を
演算処理して微分絶対値画像、微分方向値画像、エッジ
画像を求め、各画像に基づいて被検査物の輪郭線を探索
して被検査物の輪郭を認識するようにした画像処理方法
において、微分絶対値画像上の任意の探索開始点から被
検査物方向に探索ラインを設定して微分絶対値が予め設
定された微分しきい値より大きい点を求め輪郭検査対象
点とし、上記輪郭検査対象点に対応する微分方向値を微
分方向値画像から抽出し、抽出された微分方向値が予め
設定された微分方向しきい値範囲内に存在するとき、前
記輪郭検査対象点を被検査物の輪郭線上の点と認識する
ようにしたことを特徴とする画像処理方法。 - 【請求項３】TVカメラで撮影された被検査物の原画像を
演算処理して微分絶対値画像、微分方向値画像、エッジ
画像を求め、各画像に基づいて被検査物の輪郭線を探索
して被検査物の輪郭を認識するようにした画像処理方法
において、エッジ画像上の任意の探索開始点から被検査
物方向に探索ラインを設定してエッジフラッグが存在す
る点を求めて輪郭検査対象点とし、上記輪郭検査対象点
に対応する微分絶対値を微分絶対値画像より抽出すると
ともに、抽出された微分絶対値が予め設定された微分し
きい値よりも大きいときに輪郭検査対象点に対応する微
分方向値を微分方向値画像から抽出し、上記微分方向値
が予め設定された微分方向値範囲内にあるとき、前記輪
郭検査対象点を被検査物の輪郭線上の点と認識するよう
にしたことを特徴とする画像処理方法。 - 【請求項４】TVカメラで撮影された被検査物の原画像を
演算処理して微分絶対値画像、微分方向値画像、エッジ
画像を求め、各画像に基づいて被検査物の輪郭線を探索
して被検査物の輪郭を認識するようにした画像処理方法
において、エッジ画像上の任意の探索開始点から被検査
物方向に探索ラインを設定してエッジフラッグが存在す
る点を求めて輪郭検査対象点とし、上記輪郭検査対象点
に対応する微分絶対値を微分絶対値画像より抽出すると
ともに、抽出された微分絶対値が予め設定された微分し
きい値よりも大きいときに輪郭検査対象点に対応する微
分方向値を微分方向値画像から抽出し、原画像上の輪郭
検査対象点に対応する点から微分方向値に対して垂直方
向にｎ画素それぞれ離れた点を濃度検査点として両濃度
検査点の濃度を原画像から抽出し、一方の濃度検査点の
濃度が被検査物に対する濃度しきい値より大きく、かつ
他方の濃度検査点の濃度が背景に対する濃度しきい値よ
りも小さいとき、前記輪郭検査対象点を被検査物の輪郭
線上の点と認識するようにしたことを特徴とする画像処
理方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1006903A JPH0797410B2 (ja) | 1989-01-14 | 1989-01-14 | 画像処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1006903A JPH0797410B2 (ja) | 1989-01-14 | 1989-01-14 | 画像処理方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02187651A JPH02187651A (ja) | 1990-07-23 |
| JPH0797410B2 true JPH0797410B2 (ja) | 1995-10-18 |
Family
ID=11651198
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1006903A Expired - Lifetime JPH0797410B2 (ja) | 1989-01-14 | 1989-01-14 | 画像処理方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0797410B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2827756B2 (ja) * | 1992-05-15 | 1998-11-25 | 三菱電機株式会社 | 欠陥検査装置 |
| DE19836071A1 (de) * | 1998-08-10 | 2000-02-17 | Schlafhorst & Co W | Verfahren zur Erkennung von Fadenresten auf Spinnkopshülsen |
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-
1989
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