JPH0581430A - エツジ検出方法 - Google Patents
エツジ検出方法Info
- Publication number
- JPH0581430A JPH0581430A JP3341356A JP34135691A JPH0581430A JP H0581430 A JPH0581430 A JP H0581430A JP 3341356 A JP3341356 A JP 3341356A JP 34135691 A JP34135691 A JP 34135691A JP H0581430 A JPH0581430 A JP H0581430A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- edge
- sum
- differential
- differential values
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
上記画像上のワーク11を横切り、且つその幅よりも大
きい領域に複数のマスク121 〜124 を設定する。そ
の光量が最大のマスク12を始点とする。この始点から
少なくとも一方側へ検索し、微分値がしきい値以上であ
る点を求める。この点を交差する一方のワーク11のエ
ッジとする。このエッジから外側に複数の画素領域を含
む大きさの複数のマスク13を設定する。上記エッジに
沿って所定の方向コードをもつ画素があるしきい値を越
える位置までマスク13を移動させる。この画素の連な
りを他方のワーク11のエッジとする。
Description
求めるエッジ検出方法に関するものである。
特開平2−171875号公報で提案されている多値画
像の輪郭検出方法がある。この多値画像の輪郭検出方法
では、メモリに記憶された画像の輪郭を求めるための基
準点を中心としてN行N列(Nは3以上の奇数)の画素
の輝度のうち最下行の輝度の和と最上行の輝度の和との
差Yd及び最右列の輝度の和と最左列の輝度の和との差
Xdを用い、Yd,Xdを要素とする方向ベクトルの大
きさ、つまりYd2 +Xd2 の平方根を求め、この方向
ベクトルの大きさがあるしきい値以上であれば、輪郭が
存在するとする。そして、上記輪郭の検出は、まず3×
3画素から始め、これにより求めた方向ベクトルの大き
さがしきい値を越えない場合には、Nの値を増加して方
向ベクトルの大きさを求め直すというものである。
なエッジ検出方法では、まずある領域の輝度より方向ベ
トルを求め、しきい値を越えない場合には、領域を拡大
して再び演算を行わなければならない。このため、処理
時間が長くなるという欠点がある。例えば、2つの交差
しているワークのエッジを求めるといったような場合に
は、上記演算をやり直す処理を何回も繰り返さなければ
ならないということが起こる可能性が高く、上記エッジ
検出方法は適当な方法であるとは言えない。
あり、その目的とするところは、高速かつ安定してエッ
ジ検出が行えるエッジ検出方法を提供することにある。
達成するために、2つの交差するワークの画像を撮像
し、上記画像上のワークを横切り、且つその幅よりも大
きい領域に複数のマスクを設定し、その光量が最大のマ
スクを始点として少なくとも一方側へ検索し、微分値が
しきい値以上である点を求め、これを交差する一方のワ
ークのエッジとし、このエッジから外側に複数の画素領
域を含む大きさの複数のマスクを設定し、上記エッジに
沿って所定の方向コードをもつ画素があるしきい値を越
える位置までマスクを移動させ、この画素の連なりを他
方のワークのエッジとしている。
の任意の点を始点とし、所定方向に複数ドット検索し、
微分方向コード値が所定範囲内の画素の微分値の和を求
める操作を、検索の開始点をずらしながら繰り返し、今
回の検索位置で求められた微分値の和が前回の検索位置
での微分値の和よりも大きい場合は、上記操作を継続
し、小さい場合には前回の検索位置をエッジとする方法
を、上記請求項1の発明における最初に一方のワークの
エッジを検出する方法の代わりに用いてもよい。
防止できるようにするために、ワークの画像を撮像し、
上記画像上の任意の点を始点とし、所定方向に複数ドッ
ト検索し、微分方向コード値が所定範囲内の画素の微分
値の和を求める操作を、検索の開始点をずらしながら繰
り返し、今回の検索位置で求められた微分値の和と、予
め設定された微分値の総和のしきい値とを比較し、微分
値の和が上記微分値の総和のしきい値よりも大きいと
き、今回の検索位置で求められた微分値の和と前回の検
索位置での微分値の和との比較を行い、今回の検索位置
で求められた微分値の和が前回の検索位置での微分値の
和よりも大きい場合は、上記操作を継続し、小さい場合
には前回の検索位置をエッジとする方法を、請求項2の
発明の代わりに用いることが好ましい。
で、画像ノイズによるエッジの誤検出を防止できるよう
にすると共に、今回の検索位置で求められた微分値の和
と、予め設定された微分値の総和のしきい値とを比較し
た場合に、微分値の和が上記微分値の総和のしきい値よ
りも小さくなることがないときにも、確実にエッジを検
出することができるようにするために、請求項4に示す
ように、ワークの画像を撮像し、上記画像上の任意の点
を始点とし、所定方向に複数ドット検索し、微分方向コ
ード値が所定範囲内の画素の微分値の和を求める操作
を、検索の開始点をずらしながら繰り返し、今回の検索
位置で求められた微分値の和と、予め設定された微分値
の総和のしきい値とを比較し、微分値の和が上記微分値
の総和のしきい値よりも大きいとき、その検索位置をエ
ッジとするようにしてもよい。
検出を防止できるようにすると共に、今回の検索位置で
求められた微分値の和と、予め設定された微分値の総和
のしきい値とを比較し、微分値の和が上記微分値の総和
のしきい値よりも小さくなることがない場合にも、確実
にエッジを検出することができるようにする他の方法と
して、請求項5に示すように、ワークの画像を撮像し、
上記画像上の任意の点を始点とし、所定方向に複数ドッ
ト検索し、微分方向コード値が所定範囲内の画素の微分
値の和を求める操作を、検索の開始点をずらしながら繰
り返し、この操作を予め設定された検索範囲内全体で行
い、各検索位置毎の微分値の和で最大のものを求め、そ
の最大の微分値の和を持つ検索位置をエッジとするよう
にしてもよい。
マスクを用い一方のワークのエッジを求め、さらにその
一方のワークのエッジに沿って方向コードによりマスク
を移動させるだけで、他方のワークのエッジを検出する
ことができ、高速にエッジ検出を行える。また、この方
法によればエッジ検出を濃淡画像処理によって求めるこ
とになるので、照明状況やワーク形状に左右されること
がなく、安定してエッジ検出が行える。
本実施例では、第2図に示すように、検査対象物をテレ
ビカメラ等の画像入力装置1により撮像し、各画素の濃
度をA/D変換部2においてデジタル信号に変換した
後、前処理部3において以下の前処理を行うことによ
り、A/D変換部2より得られる原画像のほかに、微分
画像、微分方向コード画像、エッジ画像を得る。
行う。本アルゴリズムでは、画像処理の第1段階として
3×3画素の局所並列ウインドウを用いて空間微分処理
を行う。この処理の概念を図3に示す。注目する画像E
と、その画素Eの周囲の8画素A〜D,F〜Iからなる
3×3画素の局所並列ウインドウWを入力画像としての
原画像に設定する。ここで、A〜Iは各画素の8ビット
濃度値である。上記画素Eの縦方向・横方向の濃度変化
を夫々ΔV,ΔHとすると、 ΔV=(A+B+C)−(G+H+I) …(1) ΔH=(A+D+G)−(C+F+I) …(2) となる。この画素Eの微分絶対値|e|E は、 |e|E =(ΔV2 +ΔH2)1/2…(3) となる。また、画素Eの微分方向値∠eE は、 ∠eE =tan-1(ΔV/ΔH+π/2) …(4) となる。
のデータを同時に取り出し、上記演算を行い、その結果
を画素Eのデータとする。以上の計算を256×256
画素の全画面について行うことによって、画面内の物体
の輪郭や欠陥などの濃度変化の大きい部分と、その変化
の方向を抽出することができる。なお、(3)式の|e
|E をすべての画素について濃度(明るさ)で表した画
像を微分画像と呼び、(4)式の∠eE をコード化して
表した画像を微分方向コード画像と呼ぶ。
を行う。図4(a)が微分絶対値の画像の例である。こ
の画像における山の高い部分は原画像での濃度変化が大
きいことを示している。濃度変化が緩やかな部分では、
これらの山のすそ野が広がり輪郭線が太くなってしま
う。そこで、図4(b)に示すように、これらの山の稜
線のみを抽出する。この処理が稜線抽出処理である。
し、周囲画素の微分絶対値よりも大きなものを稜線とす
る。ここまでの処理により、微分絶対値画像中の値の大
小にかかわらず、すべての稜線が抽出される。従って、
この稜線の中にはノイズなどによる不要な小さな山(図
4(b)中a,c)まで含まれているので、図4(b)
のように、予め定められたしきい値SLによりスライス
することにより、a,cを取り除く。従って、最終的に
はb,b’の太線のみが抽出される。
稜線(以下、エッジと呼ぶ)が抽出されるが、この稜線
は図4(b)に示すように不連続になりやすい。そこ
で、次にエッジ延長処理と呼ばれる処理を行い、A点か
らB点を図4(b)中の点線で示すように接続する。こ
の処理では次の評価関数f(ej )を算出する。 f(ej )=|ej |・cos(∠ej −∠e0 ) ・cos((j−1)π/4−∠e0 ) …(5) ここで、e0 :中心画素濃度(図3のE)の微分データ ej :隣接画素(図3のEを除くA〜I)の微分データ この評価関数の値が大きいほど、その方向のエッジを伸
ばしやすいことを意味している。
点を始点として隣接画像に対し、順次(5)式の評価関
数を算出し、その最大値を示す方向へ延長して行き、B
点でもともとのエッジと衝突したならば処理を止める。
このとき得られるエッジは、原画像上の明るさの変化点
を線画で表したものである。ここで、原画像から明るさ
の変化点を輪郭として抽出した線画像を、エッジ画像と
呼ぶ。
向コード画像、エッジ画像が得られる。これらの画像の
構成を図5を用いて説明する。図5において、4枚の画
像上のアドレスは共通とし、任意の点P(x,y)と設
定する。原画像f1 は入力された濃淡画像で、通常8ビ
ット(256階調)の明るさのレベルで表される。点P
での明るさaは、 a=f1 (x,y) (0≦a≦255) とおく。
ば6ビットとすると、点Pでの微分値bは、 b=f2 (x,y) (0≦a≦63) と表される。微分方向コード画像f3 における微分方向
を例えば16方向でコード化すれば、点Pにおける微分
方向コードcは、 c=f3 (x,y) (0≦a≦15) と書ける。
るさの変化点を線画として抽出した1ビットの画像であ
るので、線画の部分が "1”,背景が "0”となってい
る。そこで、 "1”である画素をエッジフラッグと呼
び、点Pがエッジフラッグであるとき、 f4 (x,y)=1 となり、背景であるとき、 f4 (x,y)=0 と表される。
てエッジ検出を行う方法について以下に説明する。な
お、本実施例の場合には、特に2つのワーク11が交差
する場合を例として以下に説明する。本実施例では、図
1に示すように、上記2つのワーク11の交差部を含む
画像上に、ワーク11を横切り、且つその幅よりも大き
い領域に複数のマスク12を設定する。なお、、図1の
場合には4つのマスク121 〜124 を設定している。
そして、夫々のマスク121 〜24 の平均光量を求め、
一番平均光量が高いマスク12の中心を第1のエッジ検
出の始点とする。つまり、これはワーク11の内部に第
1のエッジ検出のための始点を設定するための処理であ
り、ワーク11は光源からの光を正反射し、輝度が高く
なっているので、ワーク11内部に第1のエッジ検出の
始点を設定することができる。
フラグが図6に示すように同一yアドレス上に予め設定
しておいた画素以上存在する点を求め、この点を第1の
エッジとする。ここで、図6における1がエッジフラッ
グで、0が背景であり、この場合にはしきい値を3とし
てあり、yiがエッジのアドレスとなる。なお、上述の
場合には始点から両側に検索を行っているので、第1の
エッジは2つ得られる。但し、上記検索は一方側だけで
あってもよい。さらに、上述の場合にはエッジフラグが
同一yアドレス上に予め設定しておいた画素以上存在す
る点を第1のエッジとして、第1のエッジの検出確度を
高くしてあるが、設定するマスク12によっては微分値
がしきい値以上である点を第1のエッジとしてもよい。
×m画素の大きさのマスク13を設定し、このマスク1
3をエッジフラッグに沿って図中の矢印で示す第2のエ
ッジ検索方向へ移動させる。この際には、n×m画素領
域を1画素ずつラスタ走査を行って、所定範囲の微分方
向値がある画素を微分方向コード画像(図5におけるf
3 )上から読み出し、その画素の総数sumを求める。
そして、画素総数sumがしきい値SL1 よりも大きけ
れば(sum>SL1 )、エッジが存在するとし、n×
m画素領域の第2エッジ検索方向側のxアドレスをエッ
ジのアドレスとする。なお、図1の場合にはxiがエッ
ジのアドレスとなっている。上記エッジ検出方法をまと
めたフローチャートを図7に示す。
速且つ安定してエッジ検出を行える。つまり、上述のよ
うに2つの交差するワークのエッジを検出する場合に、
マスクを用い第1のエッジを求め、さらにこの第1のエ
ッジに沿って方向コードによりマスクを移動させるだけ
で、上記ワーク11と交差するワーク11のエッジを検
出することができるので、高速にエッジ検出を行える。
また、白黒の2値化画像の場合には、ワーク11への照
明が均一でないことやワーク11の形状が一定しないこ
となどから、照明状況やワーク形状により2値化処理し
てもエッジ検出精度が安定しない。しかし、本実施例の
場合にはエッジ検出を濃淡画像処理によって求めること
になるので、照明状況やワーク形状に左右されることが
なく、安定してエッジ検出が行える。
実施例を示す。本実施例では、図8に示すように、ワー
ク11を撮像した画像上の任意の点を始点Pとし、図中
に下向き矢印で示す第1検索方向に複数ドット(aドッ
ト)検索し、微分方向コード画像(f3 )から微分方向
値を読み出し、この微分方向値が予め定めた所定範囲内
にある画素を求める。そして、その画素に関して微分画
像(図5中のf2 )から微分絶対値を読み出して加算す
る。この微分絶対値の総数SUMとする。
向に1ドット検索開始点を移動し、上述の場合と同様の
処理を行う。そして、この場合には、前回の処理結果
(SUMold )と今回の処理結果(SUMnew )とを比
較する。この際に、前回の処理結果(SUMold )より
も今回の処理結果(SUMnew )の方が大きい、つまり
SUMnew >SUMold である場合、続けて第2検索方
向に1ドット検索開始点を移動し、上記処理を繰り返
す。
りも今回の処理結果(SUMnew )の方が小さい、つま
りSUMnew ≦SUMold であるとき、前回の処理結果
(SUMold)の検索開始位置をエッジとする。上記処
理をまとめたフローチャートを図9に示す。本実施例は
実施例1における第1のエッジを検出する方法として用
いることができ、この第1のエッジの検出後は実施例1
で説明した方法を採用して、交差するワーク11のエッ
ジを検出することができる。
さらに他の実施例を示す。上述の実施例2の場合には、
支点Pから常に前回の処理結果(SUMold )と今回の
処理結果(SUM new )とを比較する処理を行っていた
が、このようにすると、図11に示すように画像ノイズ
Nがある場合に、実際のエッジが図中のPE であるにも
かかわらず、画像ノイズNをエッジとして検出する恐れ
がある。
絶対値の総数SUMを求めた後に次の操作を行う。つま
り、微分絶対値の総数SUMを、予め設定された微分絶
対値の総和のしきい値THD(図11中の横線で示す)
と比較する。そして、微分絶対値の総数SUMが微分絶
対値の総和のしきい値THDよりも大きい、つまりはS
UM>THDである場合に、実施例2で説明した前回の
処理結果(SUMold )と今回の処理結果(SU
Mnew )とを比較し、エッジを検出する処理を行う。な
お、本実施例の処理をまとめると、図10に示すフロー
チャートのようになる。
Mの小さい場合にはエッジの判定処理が行われず、図1
1のような画像ノイズNの影響を無くすことができる。 (実施例4)図12及び図13に本発明のさらに他の実
施例を示す。上記実施例2及び実施例3においては、前
回の処理結果(SUMold )と今回の処理結果(SUM
new )とを比較した場合に、図13に示すように、前回
の処理結果(SUMold )よりも今回の処理結果(SU
Mnew )の方が大きい状態が継続する場合、エッジの検
出を行えないということが起こる。
に、実施例2で説明した微分絶対値の総数SUMを求め
た後に、微分絶対値の総数SUMを、予め設定された微
分絶対値の総和のしきい値THD(図13中の横線で示
す)と比較し、微分絶対値の総数SUMが微分絶対値の
総和のしきい値THDよりも大きい、つまりはSUM>
THDが成立した場合に、その検索位置をエッジとす
る。なお、この場合にSUM>THDが成立しない場合
には、図8中の第2検索方向に1ドット検索開始点を移
動し、上記処理を繰り返す。
画像ノイズによるエッジの誤検出を起こさず、かつ図1
3に示すように、前回の処理結果(SUMold )よりも
今回の処理結果(SUMnew )の方が大きい状態が継続
する場合にも、エッジの検出を行える。 (実施例5)図14に本発明のさらに別の実施例を示
す。本実施例は、画像ノイズによるエッジの誤検出を起
こさず、かつ図13に示すように、前回の処理結果(S
UMol d )よりも今回の処理結果(SUMnew)の方が
大きい状態が継続する場合にもエッジの検出を行えるよ
うにした他の実施例である。
対値の総数SUMを求める処理を、図8中の第2検索方
向に1ドット検索開始点を移動しながら繰り返す。な
お、この操作を予め設定された検索範囲内全体で行う。
そして、各検索位置における微分絶対値の総数SUM
が、各検索位置毎に、SUM1,SUM2,SUM3,
…SUMnであるとすると、微分絶対値の総数SUMの
内で最大のものSUM(MAX ) を求め、このSUM(MAX)
が得られた検索位置をエッジとする。
像ノイズが存在しても、微分絶対値の総数SUMが、画
像ノイズの総和よりも大きいものとすれば、安定にエッ
ジを検出することができる。
交差するワークの画像を撮像し、上記画像上のワークを
横切り、且つその幅よりも大きい領域に複数のマスクを
設定し、その光量が最大のマスクを始点として少なくと
も一方側へ検索し、微分値がしきい値以上である点を求
め、これを交差する一方のワークのエッジとし、このエ
ッジから外側に複数の画素領域を含む大きさの複数のマ
スクを設定し、上記エッジに沿って所定の方向コードを
もつ画素があるしきい値を越える位置までマスクを移動
させ、この画素の連なりを他方のワークのエッジとして
いるので、マスクを用い一方のワークのエッジを求め、
さらにその一方のワークのエッジに沿って方向コードに
よりマスクを移動させるだけで、他方のワークのエッジ
を検出することができ、高速にエッジ検出を行える。ま
た、この方法によればエッジ検出を濃淡画像処理によっ
て求めることになるので、照明状況やワーク形状に左右
されることがなく、安定してエッジ検出が行える。
像を撮像し、上記画像上の任意の点を始点とし、所定方
向に複数ドット検索し、微分方向コード値が所定範囲内
の画素の微分値の和を求める操作を、検索の開始点をず
らしながら繰り返し、今回の検索位置で求められた微分
値の和が前回の検索位置での微分値の和よりも大きい場
合は、上記操作を継続し、小さい場合には前回の検索位
置をエッジとする方法を用いて、上記請求項1の発明に
おける最初に一方のワークのエッジを検出する方法こと
が可能である。
画像を撮像し、上記画像上の任意の点を始点とし、所定
方向に複数ドット検索し、微分方向コード値が所定範囲
内の画素の微分値の和を求める操作を、検索の開始点を
ずらしながら繰り返し、今回の検索位置で求められた微
分値の和と、予め設定された微分値の総和のしきい値と
を比較し、微分値の和が上記微分値の総和のしきい値よ
りも大きいとき、今回の検索位置で求められた微分値の
和と前回の検索位置での微分値の和との比較を行い、今
回の検索位置で求められた微分値の和が前回の検索位置
での微分値の和よりも大きい場合は、上記操作を継続
し、小さい場合には前回の検索位置をエッジとすれば、
微分値の総和のしきい値よりも小さい微分値の和はエッ
ジの検出のための対象から外すことができ、このため微
分値の総和のしきい値よりも小さい画像ノイズによるエ
ッジの誤検出を防止できる。
クの画像を撮像し、上記画像上の任意の点を始点とし、
所定方向に複数ドット検索し、微分方向コード値が所定
範囲内の画素の微分値の和を求める操作を、検索の開始
点をずらしながら繰り返し、今回の検索位置で求められ
た微分値の和と、予め設定された微分値の総和のしきい
値とを比較し、微分値の和が上記微分値の総和のしきい
値よりも大きいとき、その検索位置をエッジとすれば、
微分値の総和のしきい値よりも小さい微分値の和はエッ
ジの検出のための対象から外すことができ、このため微
分値の総和のしきい値よりも小さい画像ノイズによるエ
ッジの誤検出を防止でき、また今回の検索位置で求めら
れた微分値の和と、予め設定された微分値の総和のしき
い値とを比較した場合に、微分値の和が上記微分値の総
和のしきい値よりも小さくなることがないときにも、必
ずエッジの検出が行える。
像を撮像し、上記画像上の任意の点を始点とし、所定方
向に複数ドット検索し、微分方向コード値が所定範囲内
の画素の微分値の和を求める操作を、検索の開始点をず
らしながら繰り返し、この操作を予め設定された検索範
囲内全体で行い、各検索位置毎の微分値の和で最大のも
のを求め、その最大の微分値の和を持つ検索位置をエッ
ジとすれば、どのような画像ノイズが存在しても、微分
絶対値の総数が、画像ノイズの総和よりも大きいもので
あれば、画像ノイズによる誤検出が起こらず、且つ確実
にエッジを検出することができる。
図である。
ブロック図である。
処理の説明図である。
る。
である。
ートである。
ーチャートである。
ートである。
ートである。
ートである。
Claims (5)
- 【請求項1】 2つの交差するワークのエッジを検出す
るエッジ検出方法であって、2つの交差するワークの画
像を撮像し、上記画像上のワークを横切り、且つその幅
よりも大きい領域に複数のマスクを設定し、その光量が
最大のマスクを始点として少なくとも一方側へ検索し、
微分値がしきい値以上である点を求め、これを交差する
一方のワークのエッジとし、このエッジから外側に複数
の画素領域を含む大きさの複数のマスクを設定し、上記
エッジに沿って所定の方向コードをもつ画素があるしき
い値を越える位置までマスクを移動させ、この画素の連
なりを他方のワークのエッジとして成ることを特徴とす
るエッジ検出方法。 - 【請求項2】 ワークのエッジを検出するエッジ検出方
法であって、ワークの画像を撮像し、上記画像上の任意
の点を始点とし、所定方向に複数ドット検索し、微分方
向コード値が所定範囲内の画素の微分値の和を求める操
作を、検索の開始点をずらしながら繰り返し、今回の検
索位置で求められた微分値の和が前回の検索位置での微
分値の和よりも大きい場合は、上記操作を継続し、小さ
い場合には前回の検索位置をエッジとして成ることを特
徴とするエッジ検出方法。 - 【請求項3】 ワークのエッジを検出するエッジ検出方
法であって、ワークの画像を撮像し、上記画像上の任意
の点を始点とし、所定方向に複数ドット検索し、微分方
向コード値が所定範囲内の画素の微分値の和を求める操
作を、検索の開始点をずらしながら繰り返し、今回の検
索位置で求められた微分値の和と、予め設定された微分
値の総和のしきい値とを比較し、微分値の和が上記微分
値の総和のしきい値よりも大きいとき、今回の検索位置
で求められた微分値の和と前回の検索位置での微分値の
和との比較を行い、今回の検索位置で求められた微分値
の和が前回の検索位置での微分値の和よりも大きい場合
は、上記操作を継続し、小さい場合には前回の検索位置
をエッジとして成ることを特徴とするエッジ検出方法。 - 【請求項4】 ワークのエッジを検出するエッジ検出方
法であって、ワークの画像を撮像し、上記画像上の任意
の点を始点とし、所定方向に複数ドット検索し、微分方
向コード値が所定範囲内の画素の微分値の和を求める操
作を、検索の開始点をずらしながら繰り返し、今回の検
索位置で求められた微分値の和と、予め設定された微分
値の総和のしきい値とを比較し、微分値の和が上記微分
値の総和のしきい値よりも大きいとき、その検索位置を
エッジとして成ることを特徴とするエッジ検出方法。 - 【請求項5】 ワークのエッジを検出するエッジ検出方
法であって、ワークの画像を撮像し、上記画像上の任意
の点を始点とし、所定方向に複数ドット検索し、微分方
向コード値が所定範囲内の画素の微分値の和を求める操
作を、検索の開始点をずらしながら繰り返し、この操作
を予め設定された検索範囲内全体で行い、各検索位置毎
の微分値の和で最大のものを求め、その最大の微分値の
和を持つ検索位置をエッジとして成ることを特徴とする
エッジ検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3341356A JP2654294B2 (ja) | 1991-07-25 | 1991-12-24 | エッジ検出方法 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18499691 | 1991-07-25 | ||
JP3-184996 | 1991-07-25 | ||
JP3341356A JP2654294B2 (ja) | 1991-07-25 | 1991-12-24 | エッジ検出方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0581430A true JPH0581430A (ja) | 1993-04-02 |
JP2654294B2 JP2654294B2 (ja) | 1997-09-17 |
Family
ID=26502837
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3341356A Expired - Lifetime JP2654294B2 (ja) | 1991-07-25 | 1991-12-24 | エッジ検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2654294B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0970875A (ja) * | 1995-09-05 | 1997-03-18 | Mabuchi:Kk | 合成樹脂体の製造方法 |
JPH0970874A (ja) * | 1995-09-05 | 1997-03-18 | Mabuchi:Kk | 合成樹脂体の製造方法 |
KR100467565B1 (ko) * | 1997-07-24 | 2005-04-06 | 삼성전자주식회사 | 화상 시스템의 국부 이치화 방법. |
-
1991
- 1991-12-24 JP JP3341356A patent/JP2654294B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0970875A (ja) * | 1995-09-05 | 1997-03-18 | Mabuchi:Kk | 合成樹脂体の製造方法 |
JPH0970874A (ja) * | 1995-09-05 | 1997-03-18 | Mabuchi:Kk | 合成樹脂体の製造方法 |
KR100467565B1 (ko) * | 1997-07-24 | 2005-04-06 | 삼성전자주식회사 | 화상 시스템의 국부 이치화 방법. |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2654294B2 (ja) | 1997-09-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5048096A (en) | Bi-tonal image non-text matter removal with run length and connected component analysis | |
US7212672B2 (en) | Image processing apparatus and image processing method | |
JP4230880B2 (ja) | 欠陥検査方法 | |
JP3890844B2 (ja) | 外観検査方法 | |
JPH0581430A (ja) | エツジ検出方法 | |
JPH0718812B2 (ja) | 異物検出方法 | |
JP2710527B2 (ja) | 周期性パターンの検査装置 | |
JP3127598B2 (ja) | 画像中の濃度変動構成画素抽出方法および濃度変動塊判定方法 | |
JPH0718811B2 (ja) | 欠陥検査方法 | |
JPH06109446A (ja) | 配線パターン検査装置 | |
JP3234636B2 (ja) | 欠陥検査装置 | |
JPH09161056A (ja) | 円形容器内面検査方法 | |
JP2710685B2 (ja) | 外観検査による欠陥検出方法 | |
JP2501150B2 (ja) | レ―ザ溶接方法 | |
JPH0797410B2 (ja) | 画像処理方法 | |
JPH0332723B2 (ja) | ||
JP3109237B2 (ja) | 画像中の線分構成画素抽出方法および線分判定方法 | |
JP3232235B2 (ja) | 画像処理方法 | |
JPH07280746A (ja) | 金属板表面疵抽出装置 | |
JPH08272980A (ja) | 閉領域抽出装置 | |
JPH05143733A (ja) | 輪郭抽出装置 | |
JPH05266250A (ja) | 文字列検出装置 | |
JPH041282B2 (ja) | ||
JPH1097634A (ja) | 物体の認識方法 | |
JPS63226791A (ja) | 文字の特徴抽出装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19970506 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080523 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090523 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090523 Year of fee payment: 12 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090523 Year of fee payment: 12 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100523 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100523 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110523 Year of fee payment: 14 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120523 Year of fee payment: 15 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120523 Year of fee payment: 15 |