JP5320216B2 - 画像処理装置、画像処理システムおよび画像処理方法 - Google Patents
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Description
さらに、請求項1,9の発明によれば、エッジ候補(複数のエッジ候補画素)に隣接する2組の隣接画素群のうち、2次微分値の符号が異なる組み合わせが多い隣接画素群を第2のエッジ候補とすることによって、検出対象エッジのエッジ座標を高速に求めることができる。
実施形態1に係る画像処理システム1は、図2に示す対象物Aの検出対象エッジBの座標を検出する装置である。
実施形態2では、エッジ座標算出部36が実施形態1とは異なる手法で検出対象エッジBのエッジ座標を算出する場合について説明する。
実施形態3では、エッジ座標算出部36が実施形態1,2とは異なる手法で検出対象エッジBのエッジ座標を算出する場合について説明する。
2 撮像装置
21 濃淡画像
3 画像処理装置
32 ノイズ低減部
33 エッジ候補検出部
34 検査領域設定部
35 2次微分値算出部
36 エッジ座標算出部
6 エッジ抽出フィルタ
A 対象物
B 検出対象エッジ
L1 エッジ候補
L2 第2のエッジ候補
La,Lb 隣接画素群
M 検査領域
Claims (9)
- 対象物が撮像された濃淡画像を用いて当該対象物の検出対象エッジを検出する画像処理装置であって、
前記濃淡画像内において前記検出対象エッジに関連するエッジ候補を画素単位で検出するエッジ候補検出部と、
前記濃淡画像に前記エッジ候補および当該エッジ候補に対して当該エッジ候補の延長方向と交差する方向の両側に位置する複数の画素を含む検査領域を設定する検査領域設定部と、
前記検査領域内の各画素に対してエッジ抽出フィルタを用いて濃度値の2次微分値を求める2次微分値算出部と、
前記2次微分値算出部で算出された前記2次微分値を用いて前記検出対象エッジのエッジ座標をサブピクセル単位で求めるエッジ座標算出部とを備え、
前記エッジ候補検出部は、前記エッジ候補の濃度勾配方向と交差する方向に並んだ複数のエッジ候補画素を前記エッジ候補として検出し、
前記エッジ座標算出部は、前記エッジ候補に隣接し前記複数のエッジ候補画素が並んだ方向に複数の隣接画素が並ぶ2組の隣接画素群のそれぞれについて隣接同士の前記エッジ候補画素と前記隣接画素との組み合わせの中から前記2次微分値の符号が異なる組み合わせを計数し、前記2組の隣接画素群のうち前記2次微分値の符号が異なる組み合わせが多い隣接画素群を第2のエッジ候補とし、前記複数のエッジ候補画素の2次微分値と前記第2のエッジ候補となる隣接画素群の2次微分値とを用いて前記エッジ座標をサブピクセル単位で求める
ことを特徴とする画像処理装置。 - 前記エッジ抽出フィルタは、ラプラシアンフィルタであることを特徴とする請求項1記載の画像処理装置。
- 前記エッジ座標算出部は、前記エッジ候補の各エッジ候補画素の2次微分値の総和の絶対値と前記第2のエッジ候補の各隣接画素の2次微分値の総和の絶対値との比率で前記エッジ候補と前記第2のエッジ候補との間を分割する位置の座標を前記エッジ座標として求めることを特徴とする請求項1または2記載の画像処理装置。
- 前記エッジ座標算出部は、前記エッジ候補において前記第2のエッジ候補との間で前記2次微分値の符号が異なるエッジ候補画素のみの当該2次微分値の総和の絶対値と、前記第2のエッジ候補において前記エッジ候補との間で前記2次微分値の符号が異なる隣接画素のみの当該2次微分値の総和の絶対値との比率で前記エッジ候補と前記第2のエッジ候補との間を分割する位置の座標を前記エッジ座標として求めることを特徴とする請求項1または2記載の画像処理装置。
- 前記エッジ候補検出部は、各画素における濃度勾配方向を示す微分方向値が規定範囲内の画素を追跡して前記エッジ候補を検出することを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 前記濃淡画像に対して膨張収縮処理を行ってノイズを低減するノイズ低減部を備え、
前記エッジ候補検出部は、前記膨張収縮処理が行われた濃淡画像を用いて前記エッジ候補を検出し、
前記2次微分値算出部は、前記膨張収縮処理が行われた濃淡画像の前記検査領域内の各画素に対して前記エッジ抽出フィルタを用いて濃度値の2次微分値を求める
ことを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の画像処理装置。 - 前記ラプラシアンフィルタは、8方向フィルタであることを特徴とする請求項2記載の画像処理装置。
- 請求項1〜7のいずれか1項に記載の画像処理装置と、
前記対象物を撮像し当該対象物が撮像された濃淡画像を前記画像処理装置に出力する撮像装置と
を備えることを特徴とする画像処理システム。 - 対象物の検出対象エッジを検出する画像処理方法であって、
前記対象物を撮像する第1のステップと、
前記対象物が撮像された濃淡画像内において前記検出対象エッジに関連するエッジ候補を画素単位で検出する第2のステップと、
前記濃淡画像に前記エッジ候補および当該エッジ候補に対して当該エッジ候補の延長方向と交差する方向の両側に位置する複数の画素を含む検査領域を設定する第3のステップと、
前記検査領域内の各画素に対してエッジ抽出フィルタを用いて濃度値の2次微分値を求める第4のステップと、
前記2次微分値を用いて前記検出対象エッジのエッジ座標をサブピクセル単位で求める第5のステップとを有し、
前記第2のステップにおいて、前記エッジ候補の濃度勾配方向と交差する方向に並んだ複数のエッジ候補画素を前記エッジ候補として検出し、
前記第5のステップにおいて、前記エッジ候補に隣接し前記複数のエッジ候補画素が並んだ方向に複数の隣接画素が並ぶ2組の隣接画素群のそれぞれについて隣接同士の前記エッジ候補画素と前記隣接画素との組み合わせの中から前記2次微分値の符号が異なる組み合わせを計数し、前記2組の隣接画素群のうち前記2次微分値の符号が異なる組み合わせが多い隣接画素群を第2のエッジ候補とし、前記複数のエッジ候補画素の2次微分値と前記第2のエッジ候補となる隣接画素群の2次微分値とを用いて前記エッジ座標をサブピクセル単位で求める
ことを特徴とする画像処理方法。
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