JPH0797024B2 - 反射像歪の測定方法 - Google Patents
反射像歪の測定方法Info
- Publication number
- JPH0797024B2 JPH0797024B2 JP62322710A JP32271087A JPH0797024B2 JP H0797024 B2 JPH0797024 B2 JP H0797024B2 JP 62322710 A JP62322710 A JP 62322710A JP 32271087 A JP32271087 A JP 32271087A JP H0797024 B2 JPH0797024 B2 JP H0797024B2
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- Japan
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- distortion
- measuring
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Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は反射像歪測定方法に関するものである。
[従来の技術] 従来、ガラス反射像歪の評価には、景色・屋内照明灯・
格子パターンボード灯に対し、適当な距離・角度にガラ
スを位置し、目視あるいは写真撮影により歪量の大小・
分布等を定性的に判定していた。しかし、この方法では
反射像歪の大小が距離・角度で変化したり、判定の着目
点が、判定者によって異なる等、定量的判定ができなか
った。
格子パターンボード灯に対し、適当な距離・角度にガラ
スを位置し、目視あるいは写真撮影により歪量の大小・
分布等を定性的に判定していた。しかし、この方法では
反射像歪の大小が距離・角度で変化したり、判定の着目
点が、判定者によって異なる等、定量的判定ができなか
った。
[発明が解決しようとする問題点] 本発明は前述の目視による定性的判定を定量化し、自動
測定する事を目的とするものである。
測定する事を目的とするものである。
[問題点を解決するための手段] 本発明は前述の問題を解決すべくなされたものであり、
ガラス等の鏡面を有する物体表面における周囲、景色の
反射像歪の測定方法において、景色に代えて直線格子パ
ターンを使用し、鏡面物体・格子パターン・観測点の相
互位置を一定に保った状態でその表面反射格子像を撮像
し、この格子像の格子線の曲率を求め、反射像歪の有無
・大小・分布を測定することを特徴とする反射像歪測定
方法を提供するものである。
ガラス等の鏡面を有する物体表面における周囲、景色の
反射像歪の測定方法において、景色に代えて直線格子パ
ターンを使用し、鏡面物体・格子パターン・観測点の相
互位置を一定に保った状態でその表面反射格子像を撮像
し、この格子像の格子線の曲率を求め、反射像歪の有無
・大小・分布を測定することを特徴とする反射像歪測定
方法を提供するものである。
以下、本発明を実施例に従って説明する。第1図は本発
明の基本構成であり、1は鏡面を有する例えばガラスの
ような物体、2はスクリーン、3はレーザースキャナ
ー、4はビデオカメラ、5は画像処理装置、6はホスト
コンピュータ、7はディスプレイ、8はプリンター、9
はキーボード、10は鏡面物体支持台を示している。
明の基本構成であり、1は鏡面を有する例えばガラスの
ような物体、2はスクリーン、3はレーザースキャナ
ー、4はビデオカメラ、5は画像処理装置、6はホスト
コンピュータ、7はディスプレイ、8はプリンター、9
はキーボード、10は鏡面物体支持台を示している。
第2図は鏡面物体1、スクリーン2、レーザースキャナ
3、カメラ4の位置関係を示している。鏡面物体1の中
心部分の面法線12とスクリーン2をほぼ直交させ、か
つ、スクリーン2の中心付近の開口部に置かれたカメラ
4の光軸と面法線12をほぼ一致させる。鏡面物体1とス
クリーン2・カメラ4との距離を所定の距離例えば2mと
する。レーザースキャナ3はスクリーン2に格子パター
ンを歪なく投影できる位置に置く。
3、カメラ4の位置関係を示している。鏡面物体1の中
心部分の面法線12とスクリーン2をほぼ直交させ、か
つ、スクリーン2の中心付近の開口部に置かれたカメラ
4の光軸と面法線12をほぼ一致させる。鏡面物体1とス
クリーン2・カメラ4との距離を所定の距離例えば2mと
する。レーザースキャナ3はスクリーン2に格子パター
ンを歪なく投影できる位置に置く。
次に測定方法について説明する。スキャナー3によりス
クリーン2上へ直線格子パターン11を投影する。投影パ
ターンは鏡面物体1により反射され、反射像がビデオカ
メラ4によって撮像される。撮像された反射像は、画像
処理装置5でS/N比の改善、線巾の縮小等の画像処理が
行われた後、線の中心部の位置データがホストコンピュ
ータ6へ送られ反射像各部の曲率が計算される。計算さ
れた曲率は、ディスプレイ7、プリンター8に出力され
る。キーボード9は、これら一連の測定の開始や測定条
件の入力等を行う為に用いられる。
クリーン2上へ直線格子パターン11を投影する。投影パ
ターンは鏡面物体1により反射され、反射像がビデオカ
メラ4によって撮像される。撮像された反射像は、画像
処理装置5でS/N比の改善、線巾の縮小等の画像処理が
行われた後、線の中心部の位置データがホストコンピュ
ータ6へ送られ反射像各部の曲率が計算される。計算さ
れた曲率は、ディスプレイ7、プリンター8に出力され
る。キーボード9は、これら一連の測定の開始や測定条
件の入力等を行う為に用いられる。
本発明において格子パターン11の発生方法は、上記実施
例の他にスクリーン2とレーザースキャナ3に代えてパ
ターンを直接、ボード上に描いたものを用いても良い。
あるいはボード上に発光素子、光ファイバーを配列させ
たもの又はCRT表示管でも良い。また、レーザースキャ
ナ3に代えて、スライドプロジェクター、OHP等により
パターンを順次投影しても良く、パターンを描くものと
して、スライド、フィルムの他に液晶素子を用いること
も可能である。
例の他にスクリーン2とレーザースキャナ3に代えてパ
ターンを直接、ボード上に描いたものを用いても良い。
あるいはボード上に発光素子、光ファイバーを配列させ
たもの又はCRT表示管でも良い。また、レーザースキャ
ナ3に代えて、スライドプロジェクター、OHP等により
パターンを順次投影しても良く、パターンを描くものと
して、スライド、フィルムの他に液晶素子を用いること
も可能である。
更に、また、用いるパターンは直接に限らず、画像処理
上都合のよいものであれば、パターンの一部を塗りつぶ
した市松模様やドット等でも良い。画像の入力方法につ
いてはビデオカメラ4に代えて写真機を用い、フィルム
又は印画紙上の像について、ドラムスキャナー等により
像をデジタイズして画像データを作成するようにしても
良い。
上都合のよいものであれば、パターンの一部を塗りつぶ
した市松模様やドット等でも良い。画像の入力方法につ
いてはビデオカメラ4に代えて写真機を用い、フィルム
又は印画紙上の像について、ドラムスキャナー等により
像をデジタイズして画像データを作成するようにしても
良い。
さらに、レーザースキャナ3をスクリーン2に投影せ
ず、鏡面物体1へ投影し、その反射光をスクリーン2へ
受けて、スクリーン2上の像を撮像する方法を用いても
良い。
ず、鏡面物体1へ投影し、その反射光をスクリーン2へ
受けて、スクリーン2上の像を撮像する方法を用いても
良い。
なお、鏡面物体1の鏡面が予め所定の形状を持ってお
り、反射像がこの鏡面物体の形状により生ずる固有の歪
と格子パターンの反射像歪とが重複しているときは、計
測された曲率から前記の固有の歪に起因する曲率を差し
引くことにより、鏡面物体の反射像歪を測定することが
できる。
り、反射像がこの鏡面物体の形状により生ずる固有の歪
と格子パターンの反射像歪とが重複しているときは、計
測された曲率から前記の固有の歪に起因する曲率を差し
引くことにより、鏡面物体の反射像歪を測定することが
できる。
[発明の効果] 本発明は前述の様に、従来安定的に行われていた反射像
歪判定において、反射像歪の有る部位、大きさを定量的
に測定することができる様になり、製造工程上の品質管
理、製法改善の評価の定量化を可能とする。あるいは取
り付け応力による鏡面物体の形状歪が反射歪として現わ
れる事を利用する事により取付け状況の評価ができると
いう効果を有する。
歪判定において、反射像歪の有る部位、大きさを定量的
に測定することができる様になり、製造工程上の品質管
理、製法改善の評価の定量化を可能とする。あるいは取
り付け応力による鏡面物体の形状歪が反射歪として現わ
れる事を利用する事により取付け状況の評価ができると
いう効果を有する。
第1図は本発明装置の一実施例を示す斜視図、第2図は
この装置の部分側面図を示す。 図において、1は鏡面物体、2はスクリーン、3はレー
ザースキャナー、4はビデオカメラ、5は画像処理装
置。
この装置の部分側面図を示す。 図において、1は鏡面物体、2はスクリーン、3はレー
ザースキャナー、4はビデオカメラ、5は画像処理装
置。
Claims (4)
- 【請求項1】ガラス等の鏡面を有する物体表面における
反射像歪の測定方法において、鏡面物体に相対して所定
の格子パターンを配置し、核格子パターンの鏡面におけ
る表面反射格子像を撮像し、この格子像の格子線の曲率
を計測することにより、反射像歪を測定することを特徴
とする反射像歪の測定方法。 - 【請求項2】平面スクリーン格子にパターンを投影し、
鏡面におけるその反射像をビデオカメラで入力して格子
線の曲率を画像処理により計測することを特徴とする特
許請求の範囲第1項記載の反射像歪の測定方法。 - 【請求項3】反射像が鏡面物体の本来の表面形状により
固有の歪を有しており、格子パターンの反射像歪がこの
固有の歪と重複して生じるときは、計測された曲率から
鏡面物体の固有の曲率を差し引いた曲率により測定する
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の反射像歪
の測定方法。 - 【請求項4】スクリーンへ投影する格子パターンが単一
又は複数の水平・垂直・斜めな直線であり、それぞれを
同時又は分割して投影できる様光源としてレーザースキ
ャナを用いた特許請求の範囲第2項記載の反射像歪の測
定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62322710A JPH0797024B2 (ja) | 1987-12-22 | 1987-12-22 | 反射像歪の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62322710A JPH0797024B2 (ja) | 1987-12-22 | 1987-12-22 | 反射像歪の測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01165907A JPH01165907A (ja) | 1989-06-29 |
JPH0797024B2 true JPH0797024B2 (ja) | 1995-10-18 |
Family
ID=18146755
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62322710A Expired - Fee Related JPH0797024B2 (ja) | 1987-12-22 | 1987-12-22 | 反射像歪の測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0797024B2 (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102005019367A1 (de) * | 2005-04-26 | 2006-11-09 | Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. | Verfahren zur Vermessung eines solarthermischen Konzentrators |
JP4730836B2 (ja) * | 2005-09-15 | 2011-07-20 | Jfeスチール株式会社 | 面歪の測定装置及び方法 |
DE102006006876A1 (de) * | 2006-02-15 | 2007-08-16 | Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. | Verfahren und Vorrichtung zum Erfassen einer Kontur einer reflektierenden Oberfläche |
DE102006012432B3 (de) * | 2006-03-17 | 2007-10-18 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Verfahren zur Erfassung der Oberflächenform einer teilspiegelnden Oberfläche |
US7711182B2 (en) * | 2006-08-01 | 2010-05-04 | Mitsubishi Electric Research Laboratories, Inc. | Method and system for sensing 3D shapes of objects with specular and hybrid specular-diffuse surfaces |
JP4957291B2 (ja) * | 2006-09-08 | 2012-06-20 | Jfeスチール株式会社 | 面歪の測定装置及び方法 |
JP4998711B2 (ja) * | 2007-03-12 | 2012-08-15 | Jfeスチール株式会社 | 面歪の測定装置及び方法 |
JP5453352B2 (ja) * | 2011-06-30 | 2014-03-26 | 株式会社東芝 | 映像表示装置、映像表示方法およびプログラム |
JP5185424B1 (ja) * | 2011-09-30 | 2013-04-17 | 株式会社東芝 | キャリブレーション方法および映像表示装置 |
JP6420205B2 (ja) * | 2015-05-26 | 2018-11-07 | 富士フイルム株式会社 | 検査方法及び装置 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5875531A (ja) * | 1981-10-28 | 1983-05-07 | 株式会社トプコン | 曲率測定装置 |
JPS59231403A (ja) * | 1983-06-14 | 1984-12-26 | Sanwa Seiki Kk | 非接触型3次元測定器 |
-
1987
- 1987-12-22 JP JP62322710A patent/JPH0797024B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH01165907A (ja) | 1989-06-29 |
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Legal Events
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