JPH01165907A - 反射像歪の測定方法 - Google Patents
反射像歪の測定方法Info
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- JPH01165907A JPH01165907A JP32271087A JP32271087A JPH01165907A JP H01165907 A JPH01165907 A JP H01165907A JP 32271087 A JP32271087 A JP 32271087A JP 32271087 A JP32271087 A JP 32271087A JP H01165907 A JPH01165907 A JP H01165907A
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野コ
本発明は反射像歪測定方法に関するものである。
［従来の技術］
従来、ガラス反射像歪の評価には、景色・屋内照明灯・
格子パターンボート等に対し、適当な距離・角度にガラ
スを位置し、目視あるいは写真撮影により歪量の大小・
分布等を定性的に判定していた。しかし、この方法ては
反射像歪の大小が距離・角度て変化したり、判定の着目
点が、判定者によって異なる等、定量的判定かてきなか
った。
格子パターンボート等に対し、適当な距離・角度にガラ
スを位置し、目視あるいは写真撮影により歪量の大小・
分布等を定性的に判定していた。しかし、この方法ては
反射像歪の大小が距離・角度て変化したり、判定の着目
点が、判定者によって異なる等、定量的判定かてきなか
った。
［発明が解決しようとする問題点］
本発明は前述の目視による定性的判定を定量化し、自動
測定する事を目的とするものである。
測定する事を目的とするものである。
［問題点を解決するだめの手段む
本発明は前述の問題を解決すべくなされたものてあり、
カラス等の鏡面を有する物体表面における周囲、景色の
反射像歪の測定方法において、景色に代えて直線格子パ
ターンを使用し、鏡面物体・格子パターン・観測点の相
互位置を一定に保った状態てその表面反射格子像の曲率
を求め、反射像歪の有無・大小・分布を測定することを
特徴とする反射像歪測定方法を提供するものである。
カラス等の鏡面を有する物体表面における周囲、景色の
反射像歪の測定方法において、景色に代えて直線格子パ
ターンを使用し、鏡面物体・格子パターン・観測点の相
互位置を一定に保った状態てその表面反射格子像の曲率
を求め、反射像歪の有無・大小・分布を測定することを
特徴とする反射像歪測定方法を提供するものである。
以下、本発明を実施例に従って説明する。第１図は本発
明の基本構成であり、ｌは鏡面を有する例えばガラスの
ような物体、２はスクリーン、３はレーザースキャナー
、４はビデオカメラ、５は画像処理装置、６はホストコ
ンピュータ、７はデイスプレィ、８はプリンター、９は
キーボード、１０は鏡面物体支持台を示している。
明の基本構成であり、ｌは鏡面を有する例えばガラスの
ような物体、２はスクリーン、３はレーザースキャナー
、４はビデオカメラ、５は画像処理装置、６はホストコ
ンピュータ、７はデイスプレィ、８はプリンター、９は
キーボード、１０は鏡面物体支持台を示している。
第２図は鏡面物体ｌ、スクリーン２、レーサースキャナ
３、カメラ４の位置関係を示している。鏡面物体１の中
心部分の面法線１１とスクリーン２をほぼ直交させ、か
つ、スクリーン２の中心付近の開口部に置かれたカメラ
４の光軸と面法線１１をほぼ一致させる。鏡面物体１と
スクリーン２・カメラ４との距離を所定の距離例えば２
ｍとする。レーザースキャナ３はスクリーン２に格子パ
ターンを歪なく投影てきる位置に置く。
３、カメラ４の位置関係を示している。鏡面物体１の中
心部分の面法線１１とスクリーン２をほぼ直交させ、か
つ、スクリーン２の中心付近の開口部に置かれたカメラ
４の光軸と面法線１１をほぼ一致させる。鏡面物体１と
スクリーン２・カメラ４との距離を所定の距離例えば２
ｍとする。レーザースキャナ３はスクリーン２に格子パ
ターンを歪なく投影てきる位置に置く。
次に測定方法について説明する。スキャナー３によりス
クリーン２上へ直線格子パターン１１を投影する。投影
パターンは鏡面物体１により反射され、反射像かビデオ
カメラ４によって撮像される。撮像された反射像は、画
像処理装置５てＳ／Ｎ比の改善、線巾の縮小等の画像処
理か行われた後、線の中心部の位置データかホストコン
ピュータ６へ送られ反射像各部の曲率が計算される。計
算された曲率は、デイスプレィ７、プリンター８に出力
される。キーボード９は、これら一連の測定の開始や測
定条件の入力等を行う為に用いられる。
クリーン２上へ直線格子パターン１１を投影する。投影
パターンは鏡面物体１により反射され、反射像かビデオ
カメラ４によって撮像される。撮像された反射像は、画
像処理装置５てＳ／Ｎ比の改善、線巾の縮小等の画像処
理か行われた後、線の中心部の位置データかホストコン
ピュータ６へ送られ反射像各部の曲率が計算される。計
算された曲率は、デイスプレィ７、プリンター８に出力
される。キーボード９は、これら一連の測定の開始や測
定条件の入力等を行う為に用いられる。
本発明において格子パターン１１の発生方法は、上記実
施例の他にスクリーン２とレーザースキャナ３に代えて
パターンを直接、ボード上に描いたものを用いても良い
。あるいはボード」−に発光素子、光ファイバーを配列
させたもの又はＣＲ７表示管でも良い。また、レーザー
スキャナ３に代えて、スライドプロジェクタ−１ＯＨＰ
等によりパターンを順次投影しても良く、パターンを描
くものとして、スライド、フィルムの他に液晶素子を用
いることも可能である。
施例の他にスクリーン２とレーザースキャナ３に代えて
パターンを直接、ボード上に描いたものを用いても良い
。あるいはボード」−に発光素子、光ファイバーを配列
させたもの又はＣＲ７表示管でも良い。また、レーザー
スキャナ３に代えて、スライドプロジェクタ−１ＯＨＰ
等によりパターンを順次投影しても良く、パターンを描
くものとして、スライド、フィルムの他に液晶素子を用
いることも可能である。
更に、また、用いるパターンは直線に限らず、画像処理
上都合のよいものであれば、パターンの一部を塗りつぶ
した市松模様やドツト等でも良い。画像の入力方法につ
いてはビデオカメラ４に代えて写真機を用い、フィルム
又は印画紙上の像について、ドラムスキャナー等により
像をデジタイズして画像データを作成するようにしても
良い。
上都合のよいものであれば、パターンの一部を塗りつぶ
した市松模様やドツト等でも良い。画像の入力方法につ
いてはビデオカメラ４に代えて写真機を用い、フィルム
又は印画紙上の像について、ドラムスキャナー等により
像をデジタイズして画像データを作成するようにしても
良い。
さらに、レーサースキャナ３をスクリーン２に投影せず
、鏡面物体ｌへ投影し、その反射光をスクリーン２へ受
けて、スクリーン２上の像を撮像する方法を用いても良
い。
、鏡面物体ｌへ投影し、その反射光をスクリーン２へ受
けて、スクリーン２上の像を撮像する方法を用いても良
い。
なお、鏡面物体１の鏡面か予め所定の形状を持っており
、反射像がこの鏡面物体の形状により生ずる固有の歪と
格子パターンの反射像歪とか重複しているときは、計測
された曲率から前記の固有の歪に起因する曲率を差し引
くことにより、鏡面物体の反射像歪を測定することかで
きる。
、反射像がこの鏡面物体の形状により生ずる固有の歪と
格子パターンの反射像歪とか重複しているときは、計測
された曲率から前記の固有の歪に起因する曲率を差し引
くことにより、鏡面物体の反射像歪を測定することかで
きる。
［発明の効果］
本発明は前述の様に、従来定性的に行われていた反射像
歪判定において、反射像歪の有る部位、大きさを定量的
に測定するととかてきる様になり、製造工程上の品質管
理、製法改善の評価の定量化を可能とする。あるいは取
り付は応力による鏡面物体の形状歪か反射歪として現わ
れる事を利用する事により取付は状況の評価かできると
いう効果を有する。
歪判定において、反射像歪の有る部位、大きさを定量的
に測定するととかてきる様になり、製造工程上の品質管
理、製法改善の評価の定量化を可能とする。あるいは取
り付は応力による鏡面物体の形状歪か反射歪として現わ
れる事を利用する事により取付は状況の評価かできると
いう効果を有する。
第１図は本発明装置の一実施例を示す斜視図、第２図は
この装置の部分側面図を示す。 図において、１は鏡面物体、２はスクリーン、３はレー
ザースキャナー、４はビデオカメラ、５は画像処理装置
。 １１廚ノ（°クーン 第２ 図
この装置の部分側面図を示す。 図において、１は鏡面物体、２はスクリーン、３はレー
ザースキャナー、４はビデオカメラ、５は画像処理装置
。 １１廚ノ（°クーン 第２ 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、ガラス等の鏡面を有する物体表面における反射像歪
の測定方法において、鏡面物体に相対して所定の格子パ
ターンを配置し、該格子パターンの鏡面における表面反
射格子像の曲率を計測することにより、反射像歪を測定
することを特徴とする反射像歪の測定方法。 ２、平面スクリーン格子にパターンを投影し、鏡面にお
けるその反射像をビデオカメラで入力して格子線の曲率
を画像処理により計測することを特徴とする特許請求の
範囲第１項記載の反射像歪の測定方法。 ３、反射像が鏡面物体の本来の表面形状により固有の歪
を有しており、格子パターンの反射像歪がこの固有の歪
と重複して生じるとき は、計測された曲率から鏡面物体の固有の曲率を差し引
いた曲率により測定することを特徴とする特許請求の範
囲第１項記載の反射像歪の測定方法。 ４、スクリーンへ投影する格子パターンが単一又は複数
の水平・垂直・斜めな直線であり、それぞれを同時又は
分割して投影できる様光源としてレーザースキャナを用
いた特許請求の範囲第２項記載の反射像歪の測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62322710A JPH0797024B2 (ja) | 1987-12-22 | 1987-12-22 | 反射像歪の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62322710A JPH0797024B2 (ja) | 1987-12-22 | 1987-12-22 | 反射像歪の測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01165907A true JPH01165907A (ja) | 1989-06-29 |
| JPH0797024B2 JPH0797024B2 (ja) | 1995-10-18 |
Family
ID=18146755
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62322710A Expired - Fee Related JPH0797024B2 (ja) | 1987-12-22 | 1987-12-22 | 反射像歪の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0797024B2 (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007034848A1 (ja) * | 2005-09-15 | 2007-03-29 | Jfe Steel Corporation | 面歪の測定装置及び方法 |
| EP1821064A1 (de) * | 2006-02-15 | 2007-08-22 | Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. | Verfahren und Vorrichtung zum Erfassen einer Kontur einer reflektierenden Oberfläche |
| EP1837623A1 (de) * | 2006-03-17 | 2007-09-26 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung der Oberflächenform einer teilspiegelnden Oberfläche |
| JP2008039767A (ja) * | 2006-08-01 | 2008-02-21 | Mitsubishi Electric Research Laboratories Inc | 反射性物体の表面の形状を検知する方法及びシステム |
| JP2008089566A (ja) * | 2006-09-08 | 2008-04-17 | Jfe Steel Kk | 面歪の測定装置及び方法 |
| JP2008224341A (ja) * | 2007-03-12 | 2008-09-25 | Jfe Steel Kk | 面歪の測定装置及び方法 |
| EP1717568A3 (de) * | 2005-04-26 | 2009-07-29 | Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. | Verfahren zur Vermessung eines solarthermischen Konzentrators |
| JP2013015324A (ja) * | 2011-06-30 | 2013-01-24 | Toshiba Corp | 映像表示装置、映像表示方法およびプログラム |
| JP2013076667A (ja) * | 2011-09-30 | 2013-04-25 | Toshiba Corp | キャリブレーション方法および映像表示装置 |
| JP2016218025A (ja) * | 2015-05-26 | 2016-12-22 | 富士フイルム株式会社 | 検査方法及び装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5875531A (ja) * | 1981-10-28 | 1983-05-07 | 株式会社トプコン | 曲率測定装置 |
| JPS59231403A (ja) * | 1983-06-14 | 1984-12-26 | Sanwa Seiki Kk | 非接触型３次元測定器 |
-
1987
- 1987-12-22 JP JP62322710A patent/JPH0797024B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US7869061B2 (en) | 2005-09-15 | 2011-01-11 | Jfe Steel Corporation | Surface-distortion measuring device and method |
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| JP2016218025A (ja) * | 2015-05-26 | 2016-12-22 | 富士フイルム株式会社 | 検査方法及び装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0797024B2 (ja) | 1995-10-18 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |