JPH0740369B2 - 偏光分離型ホログラムヘッド - Google Patents
偏光分離型ホログラムヘッドInfo
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- JPH0740369B2 JPH0740369B2 JP1278852A JP27885289A JPH0740369B2 JP H0740369 B2 JPH0740369 B2 JP H0740369B2 JP 1278852 A JP1278852 A JP 1278852A JP 27885289 A JP27885289 A JP 27885289A JP H0740369 B2 JPH0740369 B2 JP H0740369B2
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- light
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- hologram
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Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、光ディスクの情報信号やフォーカス又はトラ
ッキング等のサーボ信号を検出する光ヘッドに関し、特
に、偏光を利用して信号を検出する光磁気ヘッドあるい
は情報信号を濃淡パターン又はビットパターンで記録す
る光ヘッドに用いることができる。
ッキング等のサーボ信号を検出する光ヘッドに関し、特
に、偏光を利用して信号を検出する光磁気ヘッドあるい
は情報信号を濃淡パターン又はビットパターンで記録す
る光ヘッドに用いることができる。
従来の技術 光ビームの偏光を利用して情報担体に記録されている情
報信号を検出する方法としては、従来より、偏光ビーム
スプリッタやヴォラストンプリズムを用いる方法が知ら
れている。これらの技術を用いて例えば光磁気ディスク
の信号検出を行なう方式は特開昭62−78755号公報に示
されているので、その詳細な説明は省略する。
報信号を検出する方法としては、従来より、偏光ビーム
スプリッタやヴォラストンプリズムを用いる方法が知ら
れている。これらの技術を用いて例えば光磁気ディスク
の信号検出を行なう方式は特開昭62−78755号公報に示
されているので、その詳細な説明は省略する。
偏光ホログラムを用いてサーボ信号を検出する技術は、
例えば特開昭62−97141号公報等でよく知られている。
例えば特開昭62−97141号公報等でよく知られている。
しかし、かかる偏光性ホログラムを用いても、機能の複
合化は十分達成できない。特に偏光を検出するために
は、偏光ビームスプリッタやヴォラストンプリズム等の
偏光分離素子と組合せる必要があった。
合化は十分達成できない。特に偏光を検出するために
は、偏光ビームスプリッタやヴォラストンプリズム等の
偏光分離素子と組合せる必要があった。
発明が解決しようとする課題 上記した従来例からも明らかなように、従来の偏光分離
のための素子は、ただ偏光分離のみを行なう素子であ
り、他の機能との複合化は通常困難であった。一機能一
素子型の光ヘッドでは部品点数も多くなり調整も複雑で
あり光ヘッドの小型化や簡略化を行なう為には、機能の
複合化が必要である。
のための素子は、ただ偏光分離のみを行なう素子であ
り、他の機能との複合化は通常困難であった。一機能一
素子型の光ヘッドでは部品点数も多くなり調整も複雑で
あり光ヘッドの小型化や簡略化を行なう為には、機能の
複合化が必要である。
本発明は、かかる点に鑑み、機能の複合化を図ることの
できる偏光型ホログラムヘッドを提供することを目的と
する。
できる偏光型ホログラムヘッドを提供することを目的と
する。
本発明の他の目的は偏光性ホログラムによる偏光分離を
利用することで、従来必要であった波長板やヴォラスト
ンプリズム，偏光ビームスプリッター等の機能を一素子
化して簡略化でき、コストの低減及び組立工程の簡略化
を図ることにある。
利用することで、従来必要であった波長板やヴォラスト
ンプリズム，偏光ビームスプリッター等の機能を一素子
化して簡略化でき、コストの低減及び組立工程の簡略化
を図ることにある。
課題を解決するための手段 本発明は、上記目的を達成するために放射光源と、この
放射光源より出射する光ビームを受け情報記録担体上に
光ビームを収束させる光学手段とこの光学手段と、放射
光源の間に位置するビームスプリッタと、情報担体で反
射されこのビームスプリッタで分岐さ、れた光ビームを
透過または反射させる偏光性ホログラムと、この偏光性
ホログラムを出射した偏光面が互に交互する０次光と＋
１次回折光及び−１次回折光の光を受光する複数の光検
出器とを備えた構成としたものである。
放射光源より出射する光ビームを受け情報記録担体上に
光ビームを収束させる光学手段とこの光学手段と、放射
光源の間に位置するビームスプリッタと、情報担体で反
射されこのビームスプリッタで分岐さ、れた光ビームを
透過または反射させる偏光性ホログラムと、この偏光性
ホログラムを出射した偏光面が互に交互する０次光と＋
１次回折光及び−１次回折光の光を受光する複数の光検
出器とを備えた構成としたものである。
作用 本発明は上記構成とすることによって、偏光性ホログラ
ムによる偏光分離を利用し、光ヘッドの構成を簡略化で
きるようにしたものである。
ムによる偏光分離を利用し、光ヘッドの構成を簡略化で
きるようにしたものである。
実 施 例 以下、本発明の実施例を、図面を参照して説明する。
第１図は本発明の第１の実施例の基本的な構成例であ
る。放射光源として半導体レーザ１を用いた例を示して
いる。半導体レーザ１を出射した光ビームは、ビームス
プリッタ４を透過し、対物レンズ２に入射する。対物レ
ンズ２で収束光とされた光ビームは情報担体である光デ
ィスク３に入射される。ディスク３で反射された光ビー
ムは、再び対物レンズ２を透過してビームスプリッタ４
で反射される。第１図では半導体レーザ１から出射され
た光がビームスプリッタ４を最初に透過するようにして
いるが光学系設計に応じては半導体レーザ１から出射さ
れた光がイームスプリッタ４で最初に反射されるように
しても良い。
る。放射光源として半導体レーザ１を用いた例を示して
いる。半導体レーザ１を出射した光ビームは、ビームス
プリッタ４を透過し、対物レンズ２に入射する。対物レ
ンズ２で収束光とされた光ビームは情報担体である光デ
ィスク３に入射される。ディスク３で反射された光ビー
ムは、再び対物レンズ２を透過してビームスプリッタ４
で反射される。第１図では半導体レーザ１から出射され
た光がビームスプリッタ４を最初に透過するようにして
いるが光学系設計に応じては半導体レーザ１から出射さ
れた光がイームスプリッタ４で最初に反射されるように
しても良い。
対物レンズ２を透過してビームスプリッタ４で反射され
た光ビームは、偏光性ホログラム５に入射される。
た光ビームは、偏光性ホログラム５に入射される。
一般に、偏光性ホログラムでは、ホログラムを形成する
回折要素の格子方向に対し垂直な方向に偏光したＰ偏波
が０次光に、回折要素の格子方向に水平な方向に偏光し
たＳ偏光が＋１次回折光及び−１次回折光に分岐され
る。
回折要素の格子方向に対し垂直な方向に偏光したＰ偏波
が０次光に、回折要素の格子方向に水平な方向に偏光し
たＳ偏光が＋１次回折光及び−１次回折光に分岐され
る。
本実施例では偏光性ホログラム５として第２図あるいは
第３図に示すようなゾーンプレートの一部を用いてお
り、従って偏光性ホログラム５では、＋１次回折光及び
−１次回折光にＳ偏波が、０次光にＰ偏波が分岐され
る。これらの光ビームをそれぞれ光信号デテクター7,8,
6で受ける。
第３図に示すようなゾーンプレートの一部を用いてお
り、従って偏光性ホログラム５では、＋１次回折光及び
−１次回折光にＳ偏波が、０次光にＰ偏波が分岐され
る。これらの光ビームをそれぞれ光信号デテクター7,8,
6で受ける。
第１図（ａ）の構成で半導体レーザー１がパワー不足で
ある時には、ビームスプリッター４に平行光が入射する
ように単レンズ51,52をそれぞれ半導体レーザー１とビ
ームスプリッター４の間，ビームスプリッター４と偏光
性ホログラム５の間に配して第１図（ｂ）に示す構成と
しても良い。偏光偏グレーティングの作成方法としては
例えば第２図（ａ），（ｂ）に平面図及び断面図を示す
ように比較的浅い溝形状のグレーティングを異方性材料
に形成する方法と、第３図（ａ），（ｂ）に平面図及び
断面図を示すように比較的深い溝形状のグレーティング
をエッチングもしくはプレスで形成する方法がよく知ら
れている。
ある時には、ビームスプリッター４に平行光が入射する
ように単レンズ51,52をそれぞれ半導体レーザー１とビ
ームスプリッター４の間，ビームスプリッター４と偏光
性ホログラム５の間に配して第１図（ｂ）に示す構成と
しても良い。偏光偏グレーティングの作成方法としては
例えば第２図（ａ），（ｂ）に平面図及び断面図を示す
ように比較的浅い溝形状のグレーティングを異方性材料
に形成する方法と、第３図（ａ），（ｂ）に平面図及び
断面図を示すように比較的深い溝形状のグレーティング
をエッチングもしくはプレスで形成する方法がよく知ら
れている。
同じプロセスを用いて偏光性ホログラムを形成すること
が可能である。
が可能である。
光ディスクが、光磁気方式の信号を記録再生を行うもの
であれば、この偏光性ホログラム５により分岐されたＰ
偏波とＳ偏波の差信号を検出することで光磁気信号を再
生することができる。
であれば、この偏光性ホログラム５により分岐されたＰ
偏波とＳ偏波の差信号を検出することで光磁気信号を再
生することができる。
また、偏光性ホログラム５としてゾーンプレートの一部
を用いているので、第１図に示すように＋１次及び−１
次回折光の光軸方向に対する焦点位置がそれぞれ異なっ
ており、これらの回折光からフォーカス誤差信号及びト
ラッキング誤差信号を得ることができる。
を用いているので、第１図に示すように＋１次及び−１
次回折光の光軸方向に対する焦点位置がそれぞれ異なっ
ており、これらの回折光からフォーカス誤差信号及びト
ラッキング誤差信号を得ることができる。
次に第４図を用いてその様子を説明する。図面を簡略化
するため第４図では偏光性ホログラム５と光信号デテク
ター7,8,6のみを図示する。
するため第４図では偏光性ホログラム５と光信号デテク
ター7,8,6のみを図示する。
第４図（ａ）は、第１図のディスク３の位置が対物レン
ズ２から離れる方向にある場合であり、同図（ｂ）はデ
ィスク３が対物レンズ２の焦点位置にある場合、同図
（ｃ）はディスク３が対物レンズ２に近づく方向の場合
である。デテクター7,8,6は各々（ａ），（ｂ），
（ｃ）の右端に示すような形状であるとすると、フォー
カス誤差信号は、 （７−２）−（８−２） ……式（１） または {(7-1)+(7-3)+(8-2)}-{(7-2)+(8-1)+(8-3)} ……式
（２） のデテクター出力の演算を行なうことにより得ることが
できる（例えば特開昭61−258339号公報，特開昭61−33
30号公報，特開昭60−59545号公報等参照）。
ズ２から離れる方向にある場合であり、同図（ｂ）はデ
ィスク３が対物レンズ２の焦点位置にある場合、同図
（ｃ）はディスク３が対物レンズ２に近づく方向の場合
である。デテクター7,8,6は各々（ａ），（ｂ），
（ｃ）の右端に示すような形状であるとすると、フォー
カス誤差信号は、 （７−２）−（８−２） ……式（１） または {(7-1)+(7-3)+(8-2)}-{(7-2)+(8-1)+(8-3)} ……式
（２） のデテクター出力の演算を行なうことにより得ることが
できる（例えば特開昭61−258339号公報，特開昭61−33
30号公報，特開昭60−59545号公報等参照）。
また、光磁気記録されている情報信号は、 {(7-1)+(7-2)+(7-3)}+{(8-1)+(8-2)+(8-3)}-(6) ……式
（３） のデテクター出力の演算から得られる。通常のビット型
記録されている情報信号または濃淡パターン記録されて
いる情報信号は、 {(7-1)+(7-2)+(7-3)}+{(8-1)+(8-2)+(8-3)}+(6) ……式
（４） のデテクター出力の演算から得ることができる。
（３） のデテクター出力の演算から得られる。通常のビット型
記録されている情報信号または濃淡パターン記録されて
いる情報信号は、 {(7-1)+(7-2)+(7-3)}+{(8-1)+(8-2)+(8-3)}+(6) ……式
（４） のデテクター出力の演算から得ることができる。
またデテクター７及び８の三分厚の線がディスク３に記
録されたトラックと平行な場合には、トラッキングの為
のファーフィールドトラッキング誤差信号を得る事がで
きる。ファーフィールドトラッキング信号を得る方法に
ついては例えば米国特許第4491940号明細書に詳述して
あるので説明は省略する。第４図に於て、ファーフィー
ルドドトラッキング信号は例えば {(7-1)+(8-3)}-{(7-3)+(8-1)} ……式（５） から得ることもできるが、偏光性ホログラムを分割して
ファーフィールドの信号を分けて取り出すことも可能で
ある。
録されたトラックと平行な場合には、トラッキングの為
のファーフィールドトラッキング誤差信号を得る事がで
きる。ファーフィールドトラッキング信号を得る方法に
ついては例えば米国特許第4491940号明細書に詳述して
あるので説明は省略する。第４図に於て、ファーフィー
ルドドトラッキング信号は例えば {(7-1)+(8-3)}-{(7-3)+(8-1)} ……式（５） から得ることもできるが、偏光性ホログラムを分割して
ファーフィールドの信号を分けて取り出すことも可能で
ある。
第５図はこのような例を示すものであり、第５図（ａ）
に示すように光ビーム10は多分割された偏光性ホログラ
ム12〜16上に照射される。また、光ビーム10内にはディ
スク３上に記録されたトラックの位置に対応したトラッ
キング信号11が部分的に明部又は暗部を形成している
（明部か暗部かはトラックが凹状か凸状かによって異な
る）。
に示すように光ビーム10は多分割された偏光性ホログラ
ム12〜16上に照射される。また、光ビーム10内にはディ
スク３上に記録されたトラックの位置に対応したトラッ
キング信号11が部分的に明部又は暗部を形成している
（明部か暗部かはトラックが凹状か凸状かによって異な
る）。
この偏光性ホログラムにより光磁気信号等の偏光性信号
と、フォーカス誤差とファールドトラッキングの誤差信
号を同時に得ることができる。即ち、偏光性ホログラム
12,14,16は第５図（ｂ）に示すように同じ偏光性ホログ
ラムであり、この偏光性ホログラムによる＋１次及び−
１次回折光はそれぞれデテクター7,8に入射されて光ビ
ーム21,22を形成する。ただし、光ビーム21,22のうち斜
線部は後述するようにするように偏光性ホログラム13,1
5による回折をうけるため、別のデテクターに入射され
る。
と、フォーカス誤差とファールドトラッキングの誤差信
号を同時に得ることができる。即ち、偏光性ホログラム
12,14,16は第５図（ｂ）に示すように同じ偏光性ホログ
ラムであり、この偏光性ホログラムによる＋１次及び−
１次回折光はそれぞれデテクター7,8に入射されて光ビ
ーム21,22を形成する。ただし、光ビーム21,22のうち斜
線部は後述するようにするように偏光性ホログラム13,1
5による回折をうけるため、別のデテクターに入射され
る。
偏光性ホログラム13を通る光ビームは、＋１次及び−１
次回折光がそれぞれデテクター17及び18に入射される。
偏光性ホログラム15を通る光ビームは、＋１次及び−１
次回折光がそれぞれデテクター19、及び20に入射され
る。従って、フォーカス誤差信号は、第４図で説明した
ように式（１），式（２）に基づき三分割デテクター７
及び８の各デテクターの出力を演算することにより得ら
れる。トラッキング誤差信号は、 ｛（17）＋（18）｝−｛（19）＋（20）｝……式（６） のデテクター出力を演算することにより得ることがで
き、また、光磁気信号は式（３）に基づき＋１次回折光
及び−１次回折光を受けるデテクター出力を全て加算し
０次光を受けるデテクター６の出力との差をとることに
よって得ることができる。
次回折光がそれぞれデテクター17及び18に入射される。
偏光性ホログラム15を通る光ビームは、＋１次及び−１
次回折光がそれぞれデテクター19、及び20に入射され
る。従って、フォーカス誤差信号は、第４図で説明した
ように式（１），式（２）に基づき三分割デテクター７
及び８の各デテクターの出力を演算することにより得ら
れる。トラッキング誤差信号は、 ｛（17）＋（18）｝−｛（19）＋（20）｝……式（６） のデテクター出力を演算することにより得ることがで
き、また、光磁気信号は式（３）に基づき＋１次回折光
及び−１次回折光を受けるデテクター出力を全て加算し
０次光を受けるデテクター６の出力との差をとることに
よって得ることができる。
このよう、フォーカス誤差信号はデテクター７及び８の
出力を演算して得られるものであるので、光ビーム21,2
2には偏光性ホログラム13,15に対応する部分の光がない
（斜線部）がこの部分がフォーカス誤差信号へ与える影
響は殆んど無く、むしろトラッキング誤差信号のフォー
カス誤差信号への干渉が減少するので好ましい結果を与
える。
出力を演算して得られるものであるので、光ビーム21,2
2には偏光性ホログラム13,15に対応する部分の光がない
（斜線部）がこの部分がフォーカス誤差信号へ与える影
響は殆んど無く、むしろトラッキング誤差信号のフォー
カス誤差信号への干渉が減少するので好ましい結果を与
える。
トラッキング誤差信号を得るための偏光性ホログラムに
よる＋１次及び−１次回折方向と、フォーカス誤差信号
を得るための偏光性ホログラムによる＋１次及び−１次
回折方向とのなす角度はできるだけ小さく設計する方が
望ましい。これは第５図（ｂ）に示すように光磁気信号
を得る時のアナライジィングの角度が偏光性ホログラム
12,14,16と13と15で各々異るからである。この角度をで
きる限り小さくする方法として、偏光性ホログラム13,1
4のキャリア周波数を変化させる方法がある。偏光性ホ
ログラムのキャリア周波数を変化させると、偏光性ホロ
グラムで回折される光ビームの回折角を変化させること
ができる。
よる＋１次及び−１次回折方向と、フォーカス誤差信号
を得るための偏光性ホログラムによる＋１次及び−１次
回折方向とのなす角度はできるだけ小さく設計する方が
望ましい。これは第５図（ｂ）に示すように光磁気信号
を得る時のアナライジィングの角度が偏光性ホログラム
12,14,16と13と15で各々異るからである。この角度をで
きる限り小さくする方法として、偏光性ホログラム13,1
4のキャリア周波数を変化させる方法がある。偏光性ホ
ログラムのキャリア周波数を変化させると、偏光性ホロ
グラムで回折される光ビームの回折角を変化させること
ができる。
第５図（ｂ）では角度的には誇張して示してあるが、偏
光性がホログラムのキャリア周波数はどの偏光性ホログ
ラム12〜16もほぼ同じである。
光性がホログラムのキャリア周波数はどの偏光性ホログ
ラム12〜16もほぼ同じである。
第６図に偏光性ホログラムのキャリア周波数を変えた場
合の例を示す。偏光性ホログラム23に対応するデテクタ
ー25,26及び偏光性ホログラム24に対応するデテクター2
7,28がある。第６図（ｂ）に示すように両ホログラム2
3,24のキャリア周波数は、フォーカス誤差信号用の偏光
性ホログラム12,14,16よりも大きくなっており、図のよ
うに配することでアナライジィングの角度の差を小さく
することができる。
合の例を示す。偏光性ホログラム23に対応するデテクタ
ー25,26及び偏光性ホログラム24に対応するデテクター2
7,28がある。第６図（ｂ）に示すように両ホログラム2
3,24のキャリア周波数は、フォーカス誤差信号用の偏光
性ホログラム12,14,16よりも大きくなっており、図のよ
うに配することでアナライジィングの角度の差を小さく
することができる。
さらに、一方の偏光性ホログラムのキャリア周波数を大
きくするとアナライジィング角度を完全に一致させるこ
とも可能である。第７図にそのような偏光性ホログラム
に対応するデテクター29及び30を示す。このようにすれ
ば多分割した偏光性ホログラムによるアナライジィング
角度を変えることなく光磁気信号の検出を行なうことが
できる。
きくするとアナライジィング角度を完全に一致させるこ
とも可能である。第７図にそのような偏光性ホログラム
に対応するデテクター29及び30を示す。このようにすれ
ば多分割した偏光性ホログラムによるアナライジィング
角度を変えることなく光磁気信号の検出を行なうことが
できる。
第１図から第７図までは同じフォーカシング誤差検出方
式の例を示したが、第８図（ａ），（ｂ）に示すような
偏光性ホログラム５′,5″を用いて非点収差を発生させ
る方式のデテクター31を用いることもできる。
式の例を示したが、第８図（ａ），（ｂ）に示すような
偏光性ホログラム５′,5″を用いて非点収差を発生させ
る方式のデテクター31を用いることもできる。
偏光性ホログラムには、非点収差を発生させるようなシ
リンドリカルレンズの作用をもたせている。この時±１
次回折光には、非点収差が発生して、その最小錯乱円
（minimum confusion circle）近傍にデテクターを挿入
することで非点収差方式のフォーカシング動作を行なう
ことができる。
リンドリカルレンズの作用をもたせている。この時±１
次回折光には、非点収差が発生して、その最小錯乱円
（minimum confusion circle）近傍にデテクターを挿入
することで非点収差方式のフォーカシング動作を行なう
ことができる。
また、第６図（ｃ）に示すような偏光性ホログラム５
を用いてダブルナイフエッジ方式のデテクター32を用い
ることも可能である（特開昭61−120352号公報参照）。
を用いてダブルナイフエッジ方式のデテクター32を用い
ることも可能である（特開昭61−120352号公報参照）。
例えば特開昭61−120352号公報に開示されているよう
に、デテクター上に焦点状態の異る半円ビームを位置さ
せることができる。この場合の偏光性ホログラムは光軸
上の上半分と下半分とで異る焦点を与える偏光性ホログ
ラムでかつ＋１次光にブレーズした設計とする必要があ
る。この時０次光と＋１次光との回折効率を若干変化す
るが、これは各々のデテクターに接続されるバッファー
のアンプのゲインを調整する事でバランスさせることが
できる。
に、デテクター上に焦点状態の異る半円ビームを位置さ
せることができる。この場合の偏光性ホログラムは光軸
上の上半分と下半分とで異る焦点を与える偏光性ホログ
ラムでかつ＋１次光にブレーズした設計とする必要があ
る。この時０次光と＋１次光との回折効率を若干変化す
るが、これは各々のデテクターに接続されるバッファー
のアンプのゲインを調整する事でバランスさせることが
できる。
第９図は、本発明を実現する際に用いる回路構成を示
す。左端のカッコ内の番号は第２図及び第３図で示した
図面内のデテクターの番号でここでは各々のデテクター
から出力が入力されることを示している。34〜38はバッ
ファーアンプであり主として入力信号のインピーダンス
の変換を行なっている。バッファーアンプ34,35の出力
は、差動アンプ39で減算されフォーカス誤差信号43が得
られる。バッファーアンプ36,37の出力は差動アンプ40
で減算されファーフィールドトラッキング誤差信号が得
られる。バッファーアンプ34〜37の出力は、加算アンプ
41で加算され、バファーアンプ38の出力との減算を差動
アンプ42で行い光磁気信号45が得られる情報担体が通常
の位相パターンもしくは濃淡パターンである場合には、
アンプ41の出力とアンプ38の出力は加算されて従来と同
じく情報信号を得ることもできる。
す。左端のカッコ内の番号は第２図及び第３図で示した
図面内のデテクターの番号でここでは各々のデテクター
から出力が入力されることを示している。34〜38はバッ
ファーアンプであり主として入力信号のインピーダンス
の変換を行なっている。バッファーアンプ34,35の出力
は、差動アンプ39で減算されフォーカス誤差信号43が得
られる。バッファーアンプ36,37の出力は差動アンプ40
で減算されファーフィールドトラッキング誤差信号が得
られる。バッファーアンプ34〜37の出力は、加算アンプ
41で加算され、バファーアンプ38の出力との減算を差動
アンプ42で行い光磁気信号45が得られる情報担体が通常
の位相パターンもしくは濃淡パターンである場合には、
アンプ41の出力とアンプ38の出力は加算されて従来と同
じく情報信号を得ることもできる。
発明の効果 以上のように、本発明の偏光性ホログラムによれば、光
磁気信号の検出を簡単にかつ従来の方法では困難であっ
た機能の複合化を図ることができる。
磁気信号の検出を簡単にかつ従来の方法では困難であっ
た機能の複合化を図ることができる。
また本発明では、ホログラムによる偏光分離を利用する
ことで、従来必要であった波長板やヴォラストンプリズ
ム，偏光ビームスプリッター等の機能を一素子化して簡
略化でき、コストの低減及び組立工程の簡易化を図るこ
とができる。
ことで、従来必要であった波長板やヴォラストンプリズ
ム，偏光ビームスプリッター等の機能を一素子化して簡
略化でき、コストの低減及び組立工程の簡易化を図るこ
とができる。
第１図は本発明の一実施例の偏光分離型ホログラムヘッ
ドの基本的な光学系の構成を示すブロック図、第２図，
第３図は偏光性ホログラムの平面図及び断面図、第４図
はそのフォーカス誤差信号と光磁気信号を得る基本的な
デテクター構成と動作を示す模式図、第５図はその多分
割偏光性ホログラムからフォーカス誤差信号とトラッキ
ング誤差信号及び光磁気信号を得る偏光性ホログラム及
びデテクター構成例を示す模式図、第６図はその光磁気
信号を得るアナライジィング角度の差を少くする偏光性
ホログラム及びデテクター構成例を示す模式図、第７図
はその改良したデテクター構成例を示す模式図、第８図
はそのフォーカス誤差信号を得る偏光性ホログラム及び
デテクター構成の実施例を示す模式図、第９図はその回
路構成例を示す回路図である。 １……半導体レーザ、２……対物レーズ、３……ディス
ク、４……ビームスプリッタ、5,12,13,14,15,16,23,24
……ホログラム、6,7,8,17,18,19,20,25,26,27,28,29,3
0,31,32……デテクター、34〜38……アンプ、39,40,42
……差動アンプ、41,47……加算器。
ドの基本的な光学系の構成を示すブロック図、第２図，
第３図は偏光性ホログラムの平面図及び断面図、第４図
はそのフォーカス誤差信号と光磁気信号を得る基本的な
デテクター構成と動作を示す模式図、第５図はその多分
割偏光性ホログラムからフォーカス誤差信号とトラッキ
ング誤差信号及び光磁気信号を得る偏光性ホログラム及
びデテクター構成例を示す模式図、第６図はその光磁気
信号を得るアナライジィング角度の差を少くする偏光性
ホログラム及びデテクター構成例を示す模式図、第７図
はその改良したデテクター構成例を示す模式図、第８図
はそのフォーカス誤差信号を得る偏光性ホログラム及び
デテクター構成の実施例を示す模式図、第９図はその回
路構成例を示す回路図である。 １……半導体レーザ、２……対物レーズ、３……ディス
ク、４……ビームスプリッタ、5,12,13,14,15,16,23,24
……ホログラム、6,7,8,17,18,19,20,25,26,27,28,29,3
0,31,32……デテクター、34〜38……アンプ、39,40,42
……差動アンプ、41,47……加算器。
Claims (7)
- 【請求項１】放射光源と、前記放射光源より出射する光
ビームを受け情報記録担体上に光ビームを収束させる光
学手段と、前記光学手段と前記放射光源の間に位置する
ビームスプリッタと、前記情報担体で反射され前記ビー
ムスプリッタで分岐された光ビームを透過または反射す
るとともに透過または反射した０次光の偏光方向と＋１
次回折光及び−１次回折光の偏光方向が直交する働きを
有する偏光ホログラムと、前記０次光と前記＋１次回折
光と前記−１次回折光を受光する複数の光検出器とを備
えた偏光分離型ホログラムヘッド。 - 【請求項２】偏光ホログラムは、情報担体と光ビームを
収束させる光学手段との間の距離が不適切な場合に光検
出器上に＋１次回折光と−１次回折光とを異る大きさの
光ビームとして入射させ、前記情報担体と前記光ビーム
を収束させる前記光学手段との間の距離が適切な場合は
前記光検出器上に、＋１次回折光と−１次回折光とをほ
ぼ同じ大きさの光ビームとして入射させるように構成さ
れている請求項１記載の偏光分離型ホログラムヘッド。 - 【請求項３】偏光ホログラムは、情報担体と光ビームを
収束させる光学手段との間の距離が不適切な場合に光検
出器上に＋１次回折光と−１次回折光とを異なる形状の
光ビームとして入射させ、前記情報担体と前記光ビーム
を収束させる前記光学手段との間の距離が適切な場合は
前記光検出器上に、＋１次回折光と−１次回折光とをほ
ぼ同じ形状の光ビームとして入射させるように構成され
ている請求項１記載の偏光分離型ホログラムヘッド。 - 【請求項４】少なくとも３つの異なるパターンを有する
部分から成る偏光ホログラムと、それぞれ対応する＋１
次回折光と−１次回折光及び０次回折光を入射させる光
検出器とを有し、前記偏光ホログラムの異るパターンの
うち２つの部分は情報担体上のトラックによる回折信号
を主として含む光ビームを受け、残る前記偏光ホログラ
ムの部分で前記情報担体と前記光ビームを収束させる光
学手段との間の距離が不適切な場合に前記光検出器上に
＋１次回折光と−１次回折光とを異る大きさの光ビーム
として入射させ、前記情報担体と前記光ビームを収束さ
せる光学手段との間の距離が適切な場合に前記光検出器
上に＋１次回折光と一１次回折光とをほぼ同じ大きさの
光ビームとして入射させるように構成した請求項１記載
の偏光分離型ホログラムヘッド。 - 【請求項５】少なくとも３つの異なるパターンを有する
部分から成る偏光ホログラムと、それぞれ対応する＋１
次回折光と−１次回折光及び０次回折光を入射させる光
検出器とを有し、前記偏光ホログラムの異るパターンの
うち２つの部分は情報担体上のトラックによる回折信号
を主として含む光ビームを受け、残る前記偏光ホログラ
ムの部分で前記情報担体と前記光ビームを収束させる光
学手段との間の距離が不適切な場合に前記光検出器上に
＋１次回折光と−１次回折光とを異る形状の光ビームと
して入射させ、前記情報担体を前記光ビームを収束させ
る光学手段との間の距離が適切な場合に前記光検出器上
に＋１次回折光と−１次回折光とをほぼ同じ形状の光ビ
ームとして入射させるように構成した請求項１記載の偏
光分離型ホログラムヘッド。 - 【請求項６】０次回折光が入射される光検出器の出力
と、＋１次回折光が入射される光検出器の出力の和との
差動信号を作成する回路を有する請求項１〜５のいずれ
かに記載の偏光分離型ホログラムヘッド。 - 【請求項７】少くとも２つの異るキャリア周波数を有す
る少くとも３つの異るパターンから成る偏光性ホログラ
ム及び光検出器からなる請求項４又は５記載の偏光分離
型ホログラムヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1278852A JPH0740369B2 (ja) | 1988-10-28 | 1989-10-25 | 偏光分離型ホログラムヘッド |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27354588 | 1988-10-28 | ||
| JP63-273545 | 1988-10-28 | ||
| JP1278852A JPH0740369B2 (ja) | 1988-10-28 | 1989-10-25 | 偏光分離型ホログラムヘッド |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02192031A JPH02192031A (ja) | 1990-07-27 |
| JPH0740369B2 true JPH0740369B2 (ja) | 1995-05-01 |
Family
ID=26550703
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1278852A Expired - Fee Related JPH0740369B2 (ja) | 1988-10-28 | 1989-10-25 | 偏光分離型ホログラムヘッド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0740369B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3548259B2 (ja) * | 1994-04-07 | 2004-07-28 | ペンタックス株式会社 | 光磁気ヘッド装置 |
| JPH08221789A (ja) * | 1995-02-14 | 1996-08-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光情報処理装置 |
| JPH0950653A (ja) * | 1995-08-04 | 1997-02-18 | Asahi Optical Co Ltd | 光磁気ヘッド装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63201924A (ja) * | 1987-02-18 | 1988-08-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光情報ピツクアツプ装置 |
-
1989
- 1989-10-25 JP JP1278852A patent/JPH0740369B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02192031A (ja) | 1990-07-27 |
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|---|---|---|---|
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