JPH0520711A - 光ピツクアツプ - Google Patents
光ピツクアツプInfo
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- JPH0520711A JPH0520711A JP3198360A JP19836091A JPH0520711A JP H0520711 A JPH0520711 A JP H0520711A JP 3198360 A JP3198360 A JP 3198360A JP 19836091 A JP19836091 A JP 19836091A JP H0520711 A JPH0520711 A JP H0520711A
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- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
- Y02E60/10—Energy storage using batteries
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
- Diffracting Gratings Or Hologram Optical Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 メインビ−ム検出用の光検出器にサブビ−ム
の信号が入らないようにして、適正な情報の記録再生を
する。 【構成】 非照射物体からの反射光を回折させ±1次回
折光を光検出器に導くホログラム光学素子(6) に、メイ
ンビ−ムが通過する第1の領域(8a)と2本のサブビ−ム
のみがそれぞれ通過する第2、第3の領域(8b 、8c) の
3つの領域に分離されているとともに、第1の領域(8a)
に対して第2、第3の領域(8b 、8c) は異なるレンズ作
用を有するように干渉縞を形成する。 【効果】 メインビ−ム検出用の光検出器にサブビ−ム
のビ−ムスポットが入らないようになり、情報信号のノ
イズが少なくなりまたフォ−カスエラ−信号にオフセッ
トが生じないようになる。
の信号が入らないようにして、適正な情報の記録再生を
する。 【構成】 非照射物体からの反射光を回折させ±1次回
折光を光検出器に導くホログラム光学素子(6) に、メイ
ンビ−ムが通過する第1の領域(8a)と2本のサブビ−ム
のみがそれぞれ通過する第2、第3の領域(8b 、8c) の
3つの領域に分離されているとともに、第1の領域(8a)
に対して第2、第3の領域(8b 、8c) は異なるレンズ作
用を有するように干渉縞を形成する。 【効果】 メインビ−ム検出用の光検出器にサブビ−ム
のビ−ムスポットが入らないようになり、情報信号のノ
イズが少なくなりまたフォ−カスエラ−信号にオフセッ
トが生じないようになる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光ディスク等の光学式
情報記録媒体に対して情報の記録および/または再生を
行う情報記録再生装置に用いる光ピックアップに関す
る。
情報記録媒体に対して情報の記録および/または再生を
行う情報記録再生装置に用いる光ピックアップに関す
る。
【0002】
【従来の技術】光ピックアップは、光ディスク等に適正
に情報の記録、再生を行うためには照射するビ−ムスポ
ットの焦点検出をしながら光ディスク等に合焦状態のビ
−ムスポットを照射することが要求される。このための
焦点検出装置として、光源と収束光学系との間にホログ
ラム素子を配置し、光源からの出射光をホログラム素子
に入射させてその0次光を収束光学系を経て被照射物体
に投射し、その反射光を収束光学系を経て再びホログラ
ム素子に入射させて、その+1次回折光、あるいは±1
次回折光を光検出器で受光し、その出力に基づいて収束
光学系の被照射物体に対する焦点状態を検出するように
したものがある。
に情報の記録、再生を行うためには照射するビ−ムスポ
ットの焦点検出をしながら光ディスク等に合焦状態のビ
−ムスポットを照射することが要求される。このための
焦点検出装置として、光源と収束光学系との間にホログ
ラム素子を配置し、光源からの出射光をホログラム素子
に入射させてその0次光を収束光学系を経て被照射物体
に投射し、その反射光を収束光学系を経て再びホログラ
ム素子に入射させて、その+1次回折光、あるいは±1
次回折光を光検出器で受光し、その出力に基づいて収束
光学系の被照射物体に対する焦点状態を検出するように
したものがある。
【0003】しかし、上記のような焦点検出装置を設け
た光ピックアップでは、小型化を図るために光源と光検
出器とを接近させると、ホログラム素子での回折角が小
さいために、往路(光源から被照射物体に至る光路)で
発生する+1次回折光または−1次回折光が被照射物体
で反射(以下の光路は復路となる)して迷光として光検
出器に入射する。これがため光検出器において、焦点状
態を高精度で検出できないという問題がある。一方、こ
の問題を解決するために、ホログラム素子に開口制限
(絞り)を設けると、絞りという新たな部品が必要にな
ると共に、ホログラムパタ−ンと絞りとを精度よく位置
合わせする組立作業の必要が生じ、コストアップを招く
という問題がある。
た光ピックアップでは、小型化を図るために光源と光検
出器とを接近させると、ホログラム素子での回折角が小
さいために、往路(光源から被照射物体に至る光路)で
発生する+1次回折光または−1次回折光が被照射物体
で反射(以下の光路は復路となる)して迷光として光検
出器に入射する。これがため光検出器において、焦点状
態を高精度で検出できないという問題がある。一方、こ
の問題を解決するために、ホログラム素子に開口制限
(絞り)を設けると、絞りという新たな部品が必要にな
ると共に、ホログラムパタ−ンと絞りとを精度よく位置
合わせする組立作業の必要が生じ、コストアップを招く
という問題がある。
【0004】そこで、本出願人は特願平3-21492 号にお
いて、図8および図9に示すような光ピックアップを提
案している。この光ピックアップは、半導体基板50にマ
ウントされたレ−ザダイオ−ド51からの出射光の光路を
境とする両側に光検出部52、53を形成し、レ−ザダイオ
−ド51から基板50面に対して平行な方向に出射される光
を、立ち上げミラ−54で反射させる。その後、一方面に
グレ−ティングを形成し他方面に光検出用ホログラムパ
タ−ン領域とホログラムより成る絞り領域を形成したホ
ログラム素子55および対物レンズ56を経て、被照射物体
である記録媒体57に光ビ−ムを投射するようにしてあ
る。次に、記録媒体57での反射光は、再び対物レンズ56
を経てホログラム素子55に入射させ、ここで互いに逆方
向のパワ−を生じる±1次回折光を発生させて、これら
±1次回折光を光検出部52、53で受光するようにしてあ
る。このようにして、コストアップを招くことなく、被
照射物体に対するビ−ムスポットの焦点状態を常に高精
度で検出できるようにした。
いて、図8および図9に示すような光ピックアップを提
案している。この光ピックアップは、半導体基板50にマ
ウントされたレ−ザダイオ−ド51からの出射光の光路を
境とする両側に光検出部52、53を形成し、レ−ザダイオ
−ド51から基板50面に対して平行な方向に出射される光
を、立ち上げミラ−54で反射させる。その後、一方面に
グレ−ティングを形成し他方面に光検出用ホログラムパ
タ−ン領域とホログラムより成る絞り領域を形成したホ
ログラム素子55および対物レンズ56を経て、被照射物体
である記録媒体57に光ビ−ムを投射するようにしてあ
る。次に、記録媒体57での反射光は、再び対物レンズ56
を経てホログラム素子55に入射させ、ここで互いに逆方
向のパワ−を生じる±1次回折光を発生させて、これら
±1次回折光を光検出部52、53で受光するようにしてあ
る。このようにして、コストアップを招くことなく、被
照射物体に対するビ−ムスポットの焦点状態を常に高精
度で検出できるようにした。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、本出願
人が提案した上記従来例は、ホログラム素子55によって
生じる±1次光が互いに異なるパワ−が生じるようにな
っている。そこで、例えば+1次光には負のパワ−(凹
レンズの作用)が、−1次光には正のパワ−(凸レンズ
の作用)が生じているとした時、被照射物体から光検出
部52、53への結像倍率は、+1次光では大きくなり、−
1次光では小さくなる。ところで、光検出部52は3ビ−
ムの各+1次回折光を受光するように3つの光検出器52
a 、52b 、52c を有し、中央のメインビ−ムを受光する
光検出器52b はホログラム素子55での回折方向に分割線
を有する3分割した受光領域52d 、52e、52f を有して
いる。光検出部53についても同様である。
人が提案した上記従来例は、ホログラム素子55によって
生じる±1次光が互いに異なるパワ−が生じるようにな
っている。そこで、例えば+1次光には負のパワ−(凹
レンズの作用)が、−1次光には正のパワ−(凸レンズ
の作用)が生じているとした時、被照射物体から光検出
部52、53への結像倍率は、+1次光では大きくなり、−
1次光では小さくなる。ところで、光検出部52は3ビ−
ムの各+1次回折光を受光するように3つの光検出器52
a 、52b 、52c を有し、中央のメインビ−ムを受光する
光検出器52b はホログラム素子55での回折方向に分割線
を有する3分割した受光領域52d 、52e、52f を有して
いる。光検出部53についても同様である。
【0006】したがって、光検出部52、53に光ビ−ムが
照射され、それぞれの光検出器で受光する場合、+1次
光の光検出器上のメインビ−ムのスポット58a とサブビ
−ムのスポット58b 、58c の間隔に比較し、−1次光の
光検出器上のメインビ−ムのスポット59a とサブビ−ム
のスポット59b 、59c の間隔は狭くなってしまう。この
ように−1次光の光検出器上のビ−ムスポット間の間隔
が狭くなっていると、サブビ−ムのスポット59b 、59c
がメインビ−ム検出用の光検出器53d 、53e 、53f に入
ってしまい、サブビ−ムの信号がノイズとなって情報信
号(RF信号)に入ってしまうという不具合がある。ま
た、フォ−カスエラ−信号(FoE 信号) はメインビ−ム
のみを用いて検出するが、ここにもサブビ−ムの信号が
入ってしまいFoE 信号オフセットが生じてしまうという
不具合がある。
照射され、それぞれの光検出器で受光する場合、+1次
光の光検出器上のメインビ−ムのスポット58a とサブビ
−ムのスポット58b 、58c の間隔に比較し、−1次光の
光検出器上のメインビ−ムのスポット59a とサブビ−ム
のスポット59b 、59c の間隔は狭くなってしまう。この
ように−1次光の光検出器上のビ−ムスポット間の間隔
が狭くなっていると、サブビ−ムのスポット59b 、59c
がメインビ−ム検出用の光検出器53d 、53e 、53f に入
ってしまい、サブビ−ムの信号がノイズとなって情報信
号(RF信号)に入ってしまうという不具合がある。ま
た、フォ−カスエラ−信号(FoE 信号) はメインビ−ム
のみを用いて検出するが、ここにもサブビ−ムの信号が
入ってしまいFoE 信号オフセットが生じてしまうという
不具合がある。
【0007】こうした不具合を解決する方法としては、
収束光学系の結像倍率を上げるか、メインビ−ムとサブ
ビ−ムの光軸の傾きを大きくする(つまり記録媒体上の
スポット間隔を広げる)ことによって、光検出器上のメ
インビ−ムとサブビ−ムとのスポット間隔を広げるとい
う方法が考えられる。しかし、収束光学系の結像倍率を
上げるという方法は、物像点間距離が長くなり光学系の
大型化ひいては光ピックアップの大型化を招いてしまう
とともに、光源側のNAが小さくなりカップリング効率
の低下を招いてしまうという問題がある。一方、記録媒
体上のスポット間隔を広げるという方法は、光ピックア
ップ組み立て上の取りつけ精度が厳しくなってしまうと
いう問題がある。
収束光学系の結像倍率を上げるか、メインビ−ムとサブ
ビ−ムの光軸の傾きを大きくする(つまり記録媒体上の
スポット間隔を広げる)ことによって、光検出器上のメ
インビ−ムとサブビ−ムとのスポット間隔を広げるとい
う方法が考えられる。しかし、収束光学系の結像倍率を
上げるという方法は、物像点間距離が長くなり光学系の
大型化ひいては光ピックアップの大型化を招いてしまう
とともに、光源側のNAが小さくなりカップリング効率
の低下を招いてしまうという問題がある。一方、記録媒
体上のスポット間隔を広げるという方法は、光ピックア
ップ組み立て上の取りつけ精度が厳しくなってしまうと
いう問題がある。
【0008】本発明は、上記不具合を解決すべく提案さ
れるもので、光検出器で3ビ−ムを受光してRF信号等
を検出する際に、メインビ−ム検出用の光検出器にサブ
ビ−ムの信号が入ってしまうことがないようにして、R
F信号のノイズを少なくし、また、FoE 信号にオフセッ
トが生じないようにして適正な情報の記録再生ができる
光ピックアップを提供することを目的としたものであ
る。
れるもので、光検出器で3ビ−ムを受光してRF信号等
を検出する際に、メインビ−ム検出用の光検出器にサブ
ビ−ムの信号が入ってしまうことがないようにして、R
F信号のノイズを少なくし、また、FoE 信号にオフセッ
トが生じないようにして適正な情報の記録再生ができる
光ピックアップを提供することを目的としたものであ
る。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、光源からの出射光を被照射物体へ投射する
収束光学系と、収束光学系と光源との間の光路中に配設
され、光源からの出射光を情報読み取り用メインビ−ム
と2つのトラッキングエラ−検出用サブビ−ムとに分離
するグレ−ティングと、グレ−ティングと収束光学系と
の間の光路中に配設され、被照射物体からの反射光を回
折させ±1次回折光を光検出器に導くホログラム光学素
子と、メインビ−ムとサブビ−ムをそれぞれ受光する光
検出器とを具え、ホログラム光学素子に少なくともメイ
ンビ−ムが通過する領域を包含する第1の領域と、一方
のサブビ−ムのみが通過する第2の領域と、他方のサブ
ビ−ムのみが通過する領域を包含する第3の領域との少
なくとも3つの領域に分離されているとともに、第1の
領域に対して第2の領域、第3の領域は異なるレンズ作
用を有するように干渉縞を形成した光ピックアップとし
た。また、上記の光ピックアップにおいて、ホログラム
素子の第1の領域は所定のレンズパワ−を有する干渉縞
とし、第2の領域、第3の領域は0に近いレンズパワ−
を有する干渉縞とした。
するために、光源からの出射光を被照射物体へ投射する
収束光学系と、収束光学系と光源との間の光路中に配設
され、光源からの出射光を情報読み取り用メインビ−ム
と2つのトラッキングエラ−検出用サブビ−ムとに分離
するグレ−ティングと、グレ−ティングと収束光学系と
の間の光路中に配設され、被照射物体からの反射光を回
折させ±1次回折光を光検出器に導くホログラム光学素
子と、メインビ−ムとサブビ−ムをそれぞれ受光する光
検出器とを具え、ホログラム光学素子に少なくともメイ
ンビ−ムが通過する領域を包含する第1の領域と、一方
のサブビ−ムのみが通過する第2の領域と、他方のサブ
ビ−ムのみが通過する領域を包含する第3の領域との少
なくとも3つの領域に分離されているとともに、第1の
領域に対して第2の領域、第3の領域は異なるレンズ作
用を有するように干渉縞を形成した光ピックアップとし
た。また、上記の光ピックアップにおいて、ホログラム
素子の第1の領域は所定のレンズパワ−を有する干渉縞
とし、第2の領域、第3の領域は0に近いレンズパワ−
を有する干渉縞とした。
【0010】
【作用】このようにホログラムパタ−ン領域が、メイン
ビ−ムが通過する領域と、サブビ−ムのみが通過する領
域に分離しているとともに、メインビ−ムが通過する領
域のレンズ作用に対してサブビ−ムのみが通過する領域
のレンズ作用を異なるよに構成して、メインビ−ム検出
用の光検出器にサブビ−ムのビ−ムスポットが入らない
ようにしている。したがって、情報信号のノイズが少な
くなり、またフォ−カスエラ−信号にオフセットが生じ
なくなる。
ビ−ムが通過する領域と、サブビ−ムのみが通過する領
域に分離しているとともに、メインビ−ムが通過する領
域のレンズ作用に対してサブビ−ムのみが通過する領域
のレンズ作用を異なるよに構成して、メインビ−ム検出
用の光検出器にサブビ−ムのビ−ムスポットが入らない
ようにしている。したがって、情報信号のノイズが少な
くなり、またフォ−カスエラ−信号にオフセットが生じ
なくなる。
【0011】
【実施例】以下、図面を参照しながら本発明の実施例を
説明していく。図1〜図4は本発明の第1実施例を示し
たもので、図1は光ピックアップの概要図で、図2はレ
−ザダイオ−ドと光検出部の配置状態を示した平面図
で、図3はホログラム素子のグレ−ティング面とホログ
ラム面を示したもので、図4はホログラム素子と光検出
部の関係を示す斜視図である。半導体基板1に、レ−ザ
−ダイオ−ド2と、レ−ザダイオ−ド2からの出射光の
光路を境とする両側に設けられた光検出部3、4を配設
している(図1、図2)。半導体基板1のレ−ザダイオ
−ド2の近傍には、立ち上げミラ−5を設け、レ−ザダ
イオ−ド2から半導体基板1面に対して平行な方向に出
射した光を、半導体基板1面に対して垂直方向に設けら
れているホログラム素子6に入射させるようにしている
(図4)。
説明していく。図1〜図4は本発明の第1実施例を示し
たもので、図1は光ピックアップの概要図で、図2はレ
−ザダイオ−ドと光検出部の配置状態を示した平面図
で、図3はホログラム素子のグレ−ティング面とホログ
ラム面を示したもので、図4はホログラム素子と光検出
部の関係を示す斜視図である。半導体基板1に、レ−ザ
−ダイオ−ド2と、レ−ザダイオ−ド2からの出射光の
光路を境とする両側に設けられた光検出部3、4を配設
している(図1、図2)。半導体基板1のレ−ザダイオ
−ド2の近傍には、立ち上げミラ−5を設け、レ−ザダ
イオ−ド2から半導体基板1面に対して平行な方向に出
射した光を、半導体基板1面に対して垂直方向に設けら
れているホログラム素子6に入射させるようにしている
(図4)。
【0012】ホログラム素子6の半導体基板1に対向す
る面には、グレ−ティング面6aを形成し、該グレ−ティ
ング面6aの反対側面にはホログラム面6bを形成してい
る。また、ホログラム素子6のグレ−ティング面6aに
は、そのほぼ中央位置に3ビ−ム形成用のグレ−ティン
グ7が形成されている(図3A)。そこで、グレ−ティ
ング面6aに入射した光は、グレ−ティング7により1つ
のメインビ−ムと2つのサブビ−ムの3ビ−ムに分けら
れる。なお、本実施例ではグレ−ティング面6aとホログ
ラム面6bとを一つのホログラム素子6に一体に形成して
いるが、独立して設けた構成であってもよい。ホログラ
ム面6bには、そのほぼ中央位置に回折光を発生できるよ
うに3分割されたホログラムパタ−ン領域8a、8b、8cが
形成されており( 図3B)、グレ−ティング7(図3
A)で3ビ−ムに分けられた光は、ホログラムパタ−ン
領域8a、8b、8cを0次光で透過するようになっている。
ホログラム素子6を透過した透過光は、透過光の進行方
向に設けてある対物レンズ9に入射し、光ディスク等の
被照射物体10に収束して投射するようになっている(図
1)。
る面には、グレ−ティング面6aを形成し、該グレ−ティ
ング面6aの反対側面にはホログラム面6bを形成してい
る。また、ホログラム素子6のグレ−ティング面6aに
は、そのほぼ中央位置に3ビ−ム形成用のグレ−ティン
グ7が形成されている(図3A)。そこで、グレ−ティ
ング面6aに入射した光は、グレ−ティング7により1つ
のメインビ−ムと2つのサブビ−ムの3ビ−ムに分けら
れる。なお、本実施例ではグレ−ティング面6aとホログ
ラム面6bとを一つのホログラム素子6に一体に形成して
いるが、独立して設けた構成であってもよい。ホログラ
ム面6bには、そのほぼ中央位置に回折光を発生できるよ
うに3分割されたホログラムパタ−ン領域8a、8b、8cが
形成されており( 図3B)、グレ−ティング7(図3
A)で3ビ−ムに分けられた光は、ホログラムパタ−ン
領域8a、8b、8cを0次光で透過するようになっている。
ホログラム素子6を透過した透過光は、透過光の進行方
向に設けてある対物レンズ9に入射し、光ディスク等の
被照射物体10に収束して投射するようになっている(図
1)。
【0013】被照射物体10で反射した反射光は、再び対
物レンズ9を経た後、ホログラム素子6に入射する。ホ
ログラム素子6では、互いに逆方向のパワ−を生じる±
1次回折光を発生させて、これら±1次回折光を半導体
基板1に設けられている光検出部3、4で受光するよう
になっている(図1)。図2、図3、図4にしたがい、
被照射物体10からの反射光がホログラム素子6を経て光
検出部3、4で受光される状態を詳細に説明する。先
ず、記録媒体10からの反射光のうちメインビ−ムは、ホ
ログラム面6bに入射してメインビ−ム通過領域11を通過
することにより、ホログラムパタ−ン領域8aで回折され
る(図1、図3B)。
物レンズ9を経た後、ホログラム素子6に入射する。ホ
ログラム素子6では、互いに逆方向のパワ−を生じる±
1次回折光を発生させて、これら±1次回折光を半導体
基板1に設けられている光検出部3、4で受光するよう
になっている(図1)。図2、図3、図4にしたがい、
被照射物体10からの反射光がホログラム素子6を経て光
検出部3、4で受光される状態を詳細に説明する。先
ず、記録媒体10からの反射光のうちメインビ−ムは、ホ
ログラム面6bに入射してメインビ−ム通過領域11を通過
することにより、ホログラムパタ−ン領域8aで回折され
る(図1、図3B)。
【0014】図2に示すごとく、光検出部4は3ビ−ム
の各+1次回折光を受光するように3つの光検出器4a、
4b、4cをもって構成すると共に、中央のメインビ−ムを
受光する光検出器4bは、ホログラム素子6での回折方向
に分割線を有する3分割した受光領域4d、4e、4fをもっ
て構成する。同様に、光検出部3は3ビ−ムの各−1次
回折光を受光するように3つの光検出器3a、3b、3cをも
って構成すると共に、中央のメインビ−ムを受光する光
検出器3bは、ホログラム素子6での回折方向に分割線を
有する3分割した受光領域3d、3e、3fをもって構成す
る。上記のようにしてホログラムパタ−ン領域8a(図3
B)で回折された+1次回折光は光検出部4の光検出器
4d、4e、4fへ導かれて受光され、また−1次回折光は光
検出部3の光検出器3d、3e、3fへ導かれて受光される
(図2)。ホログラムパタ−ン領域8aは、+1次回折光
に負のパワ−、−1次回折光に正のパワ−を与えるよう
に構成されている。
の各+1次回折光を受光するように3つの光検出器4a、
4b、4cをもって構成すると共に、中央のメインビ−ムを
受光する光検出器4bは、ホログラム素子6での回折方向
に分割線を有する3分割した受光領域4d、4e、4fをもっ
て構成する。同様に、光検出部3は3ビ−ムの各−1次
回折光を受光するように3つの光検出器3a、3b、3cをも
って構成すると共に、中央のメインビ−ムを受光する光
検出器3bは、ホログラム素子6での回折方向に分割線を
有する3分割した受光領域3d、3e、3fをもって構成す
る。上記のようにしてホログラムパタ−ン領域8a(図3
B)で回折された+1次回折光は光検出部4の光検出器
4d、4e、4fへ導かれて受光され、また−1次回折光は光
検出部3の光検出器3d、3e、3fへ導かれて受光される
(図2)。ホログラムパタ−ン領域8aは、+1次回折光
に負のパワ−、−1次回折光に正のパワ−を与えるよう
に構成されている。
【0015】ここで、フォ−カスエラ−信号(FoE信号)
を検出する方法について説明する。メインビ−ムの+1
次回折光を受光する光検出部4における光検出器4bの受
光領域4d、4e、4fの出力をB1、B2、B3とし、−1次回折
光を受光する光検出部3における光検出器3bの受光領域
3d、3e、3fの出力をB4、B5、B6としたとき、 FoE=(B1+B3+B5)−(B2+B4+B6) により検出される。
を検出する方法について説明する。メインビ−ムの+1
次回折光を受光する光検出部4における光検出器4bの受
光領域4d、4e、4fの出力をB1、B2、B3とし、−1次回折
光を受光する光検出部3における光検出器3bの受光領域
3d、3e、3fの出力をB4、B5、B6としたとき、 FoE=(B1+B3+B5)−(B2+B4+B6) により検出される。
【0016】次に、サブビ−ムでホログラムパタ−ン領
域8a(図3B)に入射したものは、メインビ−ムと同様
にサブビ−ム通過領域12、13を通過することにより、ホ
ログラムパタ−ン領域8aで回折され、+1次回折光は光
検出部4の光検出器4a、4cへ導かれ、−1次回折光は光
検出部3の光検出器3a、3cへ導かれる(図2)。この場
合、前記のようにホログラムパタ−ン領域8aは、+1次
回折光に負のパワ−、−1次回折光に正のパワ−を与え
るように構成されているので、被照射物体10から光検出
器4a〜4b、3a〜3bへの結像倍率は+1次回折光では大き
くなり、−1次回折光では小さくなる。したがって、サ
ブビ−ムの光検出部3、4上でのビ−ムスポットは、図
2に示すように+1次回折光側のビ−ムスポット14a 、
14b は、メインビ−ムのビ−ムスポット14c から離れ
る。また、−1次回折光側のビ−ムスポット15a 、15b
は、メインビ−ムのビ−ムスポット15c に近ずく。
域8a(図3B)に入射したものは、メインビ−ムと同様
にサブビ−ム通過領域12、13を通過することにより、ホ
ログラムパタ−ン領域8aで回折され、+1次回折光は光
検出部4の光検出器4a、4cへ導かれ、−1次回折光は光
検出部3の光検出器3a、3cへ導かれる(図2)。この場
合、前記のようにホログラムパタ−ン領域8aは、+1次
回折光に負のパワ−、−1次回折光に正のパワ−を与え
るように構成されているので、被照射物体10から光検出
器4a〜4b、3a〜3bへの結像倍率は+1次回折光では大き
くなり、−1次回折光では小さくなる。したがって、サ
ブビ−ムの光検出部3、4上でのビ−ムスポットは、図
2に示すように+1次回折光側のビ−ムスポット14a 、
14b は、メインビ−ムのビ−ムスポット14c から離れ
る。また、−1次回折光側のビ−ムスポット15a 、15b
は、メインビ−ムのビ−ムスポット15c に近ずく。
【0017】なお、前記のごとくホログラムパタ−ン領
域8aは、+1次回折光に負のパワ−(凹レンズの作
用)、−1次回折光に正のパワ−(凸レンズの作用)を
与えるように構成されているので、光検出器4a、4cで受
光されるビ−ムスポット14a 、14b に対して、光検出器
3a、3cで受光されるビ−ムスポット15a 、15b は、反転
した状態となる(図4)。この斜視図においては、メイ
ンビ−ムのビ−ムスポット14c 、15c と一部サブビ−ム
のビ−ムスポット14a のみが照射されている状態を示
し、他のサブビ−ムのビ−ムスポットについては図示を
省略している。したがって、光検出器3b上でのメインビ
−ムのビ−ムスポット15c に近ずく光検出器3a、3c上で
のサブビ−ムのビ−ムスポット15a 、15b は、反転して
欠落した部分だけ離れた状態になり、光検出器3bに入り
込むことがない(図2)。
域8aは、+1次回折光に負のパワ−(凹レンズの作
用)、−1次回折光に正のパワ−(凸レンズの作用)を
与えるように構成されているので、光検出器4a、4cで受
光されるビ−ムスポット14a 、14b に対して、光検出器
3a、3cで受光されるビ−ムスポット15a 、15b は、反転
した状態となる(図4)。この斜視図においては、メイ
ンビ−ムのビ−ムスポット14c 、15c と一部サブビ−ム
のビ−ムスポット14a のみが照射されている状態を示
し、他のサブビ−ムのビ−ムスポットについては図示を
省略している。したがって、光検出器3b上でのメインビ
−ムのビ−ムスポット15c に近ずく光検出器3a、3c上で
のサブビ−ムのビ−ムスポット15a 、15b は、反転して
欠落した部分だけ離れた状態になり、光検出器3bに入り
込むことがない(図2)。
【0018】次に、サブビ−ムでホログラムパタ−ン領
域8b、8c(図3B)に入射したものは、サブビ−ム通過
領域12、13を通過することにより、ホログラムパタ−ン
領域8b、8cで回折され、+1次回折光は光検出部4の光
検出器4a、4cへ導かれ、−1次回折光は光検出部3の光
検出器3a、3cへ導かれる(図2)。ホログラムパタ−ン
領域8b、8cは、メインビ−ムが通過するホログラムパタ
−ン領域8aより回折角が小さくパワ−を持たない回折格
子として構成されている。つまり、メインビ−ム用のホ
ログラムパタ−ン領域8aは所定のレンズパワ−を有する
ように形成し、サブビ−ム用のホログラムパタ−ン領域
8b、8cはレンズパワ−を持たない。したがって、ホログ
ラムパタ−ン領域8b、8cに入射した+1次回折光、−1
次回折光とともに同じ結像倍率で光検出器3a,3c,4a,
4c上で結像する。そこでホログラムパタ−ン領域8bに入
射した光ビ−ムの±1次回折光は、光検出器4a、3a上で
ビ−ムスポット14d 、15d となる。また、ホログラムパ
タ−ン領域8cに入射した光ビ−ムの±1次回折光は、光
検出器4c、3c上でビ−ムスポット14e 、15eとなる(図
2)。なお、ビームスポット14d ,15d ,14e ,15eは
ほぼ光検出器4a、3a、4c、3c上で結像するので点状のビ
ームスポットとなる。
域8b、8c(図3B)に入射したものは、サブビ−ム通過
領域12、13を通過することにより、ホログラムパタ−ン
領域8b、8cで回折され、+1次回折光は光検出部4の光
検出器4a、4cへ導かれ、−1次回折光は光検出部3の光
検出器3a、3cへ導かれる(図2)。ホログラムパタ−ン
領域8b、8cは、メインビ−ムが通過するホログラムパタ
−ン領域8aより回折角が小さくパワ−を持たない回折格
子として構成されている。つまり、メインビ−ム用のホ
ログラムパタ−ン領域8aは所定のレンズパワ−を有する
ように形成し、サブビ−ム用のホログラムパタ−ン領域
8b、8cはレンズパワ−を持たない。したがって、ホログ
ラムパタ−ン領域8b、8cに入射した+1次回折光、−1
次回折光とともに同じ結像倍率で光検出器3a,3c,4a,
4c上で結像する。そこでホログラムパタ−ン領域8bに入
射した光ビ−ムの±1次回折光は、光検出器4a、3a上で
ビ−ムスポット14d 、15d となる。また、ホログラムパ
タ−ン領域8cに入射した光ビ−ムの±1次回折光は、光
検出器4c、3c上でビ−ムスポット14e 、15eとなる(図
2)。なお、ビームスポット14d ,15d ,14e ,15eは
ほぼ光検出器4a、3a、4c、3c上で結像するので点状のビ
ームスポットとなる。
【0019】ここで、トラッキングエラ−信号(TrE信
号) を検出する方法について説明する。2本のサブビ−
ムの+1次光を受光する光検出部4における光検出器4
a、4cは、ビ−ムスポット14a 、14d 、14b 、14e を受
光し、−1次回折光を受光する光検出部3における光検
出器3a、3cは、ビ−ムスポット15a 、15d 、15b 、15e
を受光する。光検出器4a、4c、3a、3cの出力をそれぞれ
C1、C2、C3、C4とすると、TrE は3ビ−ム法により TrE=(C1+C3)−(C2+C4) により検出する。
号) を検出する方法について説明する。2本のサブビ−
ムの+1次光を受光する光検出部4における光検出器4
a、4cは、ビ−ムスポット14a 、14d 、14b 、14e を受
光し、−1次回折光を受光する光検出部3における光検
出器3a、3cは、ビ−ムスポット15a 、15d 、15b 、15e
を受光する。光検出器4a、4c、3a、3cの出力をそれぞれ
C1、C2、C3、C4とすると、TrE は3ビ−ム法により TrE=(C1+C3)−(C2+C4) により検出する。
【0020】図5〜図7は本発明の第2実施例を示した
もので、第1実施例と対応する部分には同一符号を付し
た。半導体基板1に、レ−ザ−ダイオ−ド2と、レ−ザ
ダイオ−ド2からの出射光の光路を境とする両側に設け
られた光検出部3、4を配設している(図5、図6)。
半導体基板1のレ−ザダイオ−ド2の近傍には、立ち上
げミラ−5を設け、レ−ザダイオ−ド2から半導体基板
1面に対して平行な方向に出射した光を、半導体基板1
面に対して垂直方向に設けられているホログラム素子6
に入射させるようにしている(図5)。
もので、第1実施例と対応する部分には同一符号を付し
た。半導体基板1に、レ−ザ−ダイオ−ド2と、レ−ザ
ダイオ−ド2からの出射光の光路を境とする両側に設け
られた光検出部3、4を配設している(図5、図6)。
半導体基板1のレ−ザダイオ−ド2の近傍には、立ち上
げミラ−5を設け、レ−ザダイオ−ド2から半導体基板
1面に対して平行な方向に出射した光を、半導体基板1
面に対して垂直方向に設けられているホログラム素子6
に入射させるようにしている(図5)。
【0021】ホログラム素子6の半導体基板1に対向す
る面には、グレ−ティング面6aを形成し、該グレ−ティ
ング面6aの反対側面にはホログラム面6bを形成してい
る。また、ホログラム素子6のグレ−ティング面6aに
は、そのほぼ中央位置に3ビ−ム形成用のグレ−ティン
グ7が形成されている(図7A)。そこで、グレ−ティ
ング面6aに入射した光は、グレ−ティング7により1つ
のメインビ−ムと2つのサブビ−ムの3ビ−ムに分けら
れる。ホログラム面6bには、そのほぼ中央位置に回折光
を発生できるように3分割されたホログラムパタ−ン領
域8a、8b、8cが形成されており( 図7B)、グレ−ティ
ング7(図7A)で3ビ−ムに分けられた光は、ホログ
ラムパタ−ン領域8a、8b、8cを0次光で透過するように
なっている。ホログラム素子6を透過した透過光は、透
過光の進行方向に設けてある対物レンズ9に入射し、光
ディスク等の被照射物体10に収束して投射するようにな
っている(図5)。
る面には、グレ−ティング面6aを形成し、該グレ−ティ
ング面6aの反対側面にはホログラム面6bを形成してい
る。また、ホログラム素子6のグレ−ティング面6aに
は、そのほぼ中央位置に3ビ−ム形成用のグレ−ティン
グ7が形成されている(図7A)。そこで、グレ−ティ
ング面6aに入射した光は、グレ−ティング7により1つ
のメインビ−ムと2つのサブビ−ムの3ビ−ムに分けら
れる。ホログラム面6bには、そのほぼ中央位置に回折光
を発生できるように3分割されたホログラムパタ−ン領
域8a、8b、8cが形成されており( 図7B)、グレ−ティ
ング7(図7A)で3ビ−ムに分けられた光は、ホログ
ラムパタ−ン領域8a、8b、8cを0次光で透過するように
なっている。ホログラム素子6を透過した透過光は、透
過光の進行方向に設けてある対物レンズ9に入射し、光
ディスク等の被照射物体10に収束して投射するようにな
っている(図5)。
【0022】被照射物体10で反射した反射光は、再び対
物レンズ9を経た後、ホログラム素子6に入射する。ホ
ログラム素子6では、互いに逆方向のパワ−を生じる±
1次回折光を発生させて、これら±1次回折光を半導体
基板1に設けられている光検出部3、4で受光するよう
になっている(図5)。上記のようにしてホログラムパ
タ−ン領域8a(図7B)で回折された+1次回折光は光
検出部4の光検出器4d、4e、4fへ導かれて受光され、ま
た−1次回折光は光検出部3の光検出器3d、3e、3fへ導
かれて受光される(図6)。ホログラムパタ−ン領域8a
は、+1次回折光に負のパワ−、−1次回折光に正のパ
ワ−を与えるように構成されている。ここで、フォ−カ
スエラ−信号(FoE信号) を検出する方法について説明す
る。メインビ−ムの+1次回折光を受光する光検出部4
における光検出器4bの受光領域4d、4e、4fの出力をD1、
D2、D3とし、−1次回折光を受光する光検出部3におけ
る光検出器3bの受光領域3d、3e、3fの出力をD4、D5、D6
としたとき、 FoE=(D1+D3+D5)−(D2+D4+D6) により検出される。
物レンズ9を経た後、ホログラム素子6に入射する。ホ
ログラム素子6では、互いに逆方向のパワ−を生じる±
1次回折光を発生させて、これら±1次回折光を半導体
基板1に設けられている光検出部3、4で受光するよう
になっている(図5)。上記のようにしてホログラムパ
タ−ン領域8a(図7B)で回折された+1次回折光は光
検出部4の光検出器4d、4e、4fへ導かれて受光され、ま
た−1次回折光は光検出部3の光検出器3d、3e、3fへ導
かれて受光される(図6)。ホログラムパタ−ン領域8a
は、+1次回折光に負のパワ−、−1次回折光に正のパ
ワ−を与えるように構成されている。ここで、フォ−カ
スエラ−信号(FoE信号) を検出する方法について説明す
る。メインビ−ムの+1次回折光を受光する光検出部4
における光検出器4bの受光領域4d、4e、4fの出力をD1、
D2、D3とし、−1次回折光を受光する光検出部3におけ
る光検出器3bの受光領域3d、3e、3fの出力をD4、D5、D6
としたとき、 FoE=(D1+D3+D5)−(D2+D4+D6) により検出される。
【0023】次に、サブビ−ムでホログラムパタ−ン領
域8a(図7B)に入射したものは、メインビ−ムと同様
にサブビ−ム通過領域12、13を通過することにより、ホ
ログラムパタ−ン領域8aで回折され、+1次回折光は光
検出部4の光検出器4a、4cへ導かれ、−1次回折光は光
検出部3の光検出器3a、3cへ導かれる(図6)。この場
合、前記のようにホログラムパタ−ン領域8aは、+1次
回折光に負のパワ−、−1次回折光に正のパワ−を与え
るように構成されているので、被照射物体10から光検出
器4a〜4b、3a〜3bへの結像倍率は+1次回折光では大き
くなり、−1次回折光では小さくなる。したがって、サ
ブビ−ムの光検出部3、4上でのビ−ムスポットは、図
6に示すように+1次回折光側のビ−ムスポット14a 、
14b は、メインビ−ムのビ−ムスポット14c から離れ
る。また、−1次回折光側のビ−ムスポット15a 、15b
は、メインビ−ムのビ−ムスポット15c に近ずく。次
に、サブビ−ムでホログラムパタ−ン領域8b、8c(図7
B)に入射したものは、サブビ−ム通過領域12、13を通
過することにより、ホログラムパタ−ン領域8b、8cで回
折され、+1次回折光は光検出部4の光検出器4a、4cへ
導かれ、−1次回折光は光検出部3の光検出器3a、3cへ
導かれる(図6)。
域8a(図7B)に入射したものは、メインビ−ムと同様
にサブビ−ム通過領域12、13を通過することにより、ホ
ログラムパタ−ン領域8aで回折され、+1次回折光は光
検出部4の光検出器4a、4cへ導かれ、−1次回折光は光
検出部3の光検出器3a、3cへ導かれる(図6)。この場
合、前記のようにホログラムパタ−ン領域8aは、+1次
回折光に負のパワ−、−1次回折光に正のパワ−を与え
るように構成されているので、被照射物体10から光検出
器4a〜4b、3a〜3bへの結像倍率は+1次回折光では大き
くなり、−1次回折光では小さくなる。したがって、サ
ブビ−ムの光検出部3、4上でのビ−ムスポットは、図
6に示すように+1次回折光側のビ−ムスポット14a 、
14b は、メインビ−ムのビ−ムスポット14c から離れ
る。また、−1次回折光側のビ−ムスポット15a 、15b
は、メインビ−ムのビ−ムスポット15c に近ずく。次
に、サブビ−ムでホログラムパタ−ン領域8b、8c(図7
B)に入射したものは、サブビ−ム通過領域12、13を通
過することにより、ホログラムパタ−ン領域8b、8cで回
折され、+1次回折光は光検出部4の光検出器4a、4cへ
導かれ、−1次回折光は光検出部3の光検出器3a、3cへ
導かれる(図6)。
【0024】この時、ホログラムパターン8b,8cは、ホ
ログラムパターン8aより回折角が大きくパワーが小さい
(+1次が正、−1次が負のパワー)回折格子になって
いるので、+1次回折光、−1次回折光の結像倍率(収
束光学系の結像倍率)の差がほとんどない。したがっ
て、メインビームとサブビームのビームスポットの間隔
は、±1次回折光でほとんど変わらない。よって、ホロ
グラム8bの領域に入射した光の±1次回折光は光検出器
4a,3a上でビームスポット14d ,15d となり、ホログラ
ム8cの領域に入射した光の±1次回折光は光検出器4c,
3c上でスポット14e ,15e となる。ここで、トラッキン
グエラ−信号(TrE信号) を検出する方法について説明す
る。2本のサブビ−ムの+1次光を受光する光検出部4
における光検出器4a、4cは、ビ−ムスポット14a 、14d
、14b 、14e を受光し、−1次回折光を受光する光検
出部3における光検出器3a、3cは、ビ−ムスポット15a
、15d 、15b 、15e を受光する。光検出器4a、4c、3
a、3cの出力をそれぞれE1、E2、E3、E4とすると、TrE
は3ビ−ム法により TrE=(E1+E3)−(E2+E4) により検出する。
ログラムパターン8aより回折角が大きくパワーが小さい
(+1次が正、−1次が負のパワー)回折格子になって
いるので、+1次回折光、−1次回折光の結像倍率(収
束光学系の結像倍率)の差がほとんどない。したがっ
て、メインビームとサブビームのビームスポットの間隔
は、±1次回折光でほとんど変わらない。よって、ホロ
グラム8bの領域に入射した光の±1次回折光は光検出器
4a,3a上でビームスポット14d ,15d となり、ホログラ
ム8cの領域に入射した光の±1次回折光は光検出器4c,
3c上でスポット14e ,15e となる。ここで、トラッキン
グエラ−信号(TrE信号) を検出する方法について説明す
る。2本のサブビ−ムの+1次光を受光する光検出部4
における光検出器4a、4cは、ビ−ムスポット14a 、14d
、14b 、14e を受光し、−1次回折光を受光する光検
出部3における光検出器3a、3cは、ビ−ムスポット15a
、15d 、15b 、15e を受光する。光検出器4a、4c、3
a、3cの出力をそれぞれE1、E2、E3、E4とすると、TrE
は3ビ−ム法により TrE=(E1+E3)−(E2+E4) により検出する。
【0025】本発明は、以上の実施例に限定されるもの
ではなく、幾多の変更、変形が可能である。例えば、以
上の実施例ではビ−ムサイズ法により各種の信号検出を
行う場合を示しているが、非点収差法による信号検出を
行う場合にも本実施例を適用できる。つまり、本実施例
ではメインビ−ム用のホログラムパタ−ン領域8a(図
3)を+1次回折光、−1次回折光を生じるように構成
しているが、非点収差法による場合はメインビ−ム用の
ホログラムパタ−ン領域8aのレンズ作用を光検出器の分
割線と直交する方向にレンズパワ−を持たせるように構
成して信号検出を行わせるようにすればよい。なお、Fo
E 信号等各種信号の検出方法は、ビ−ムサイズ法とほぼ
同様である。
ではなく、幾多の変更、変形が可能である。例えば、以
上の実施例ではビ−ムサイズ法により各種の信号検出を
行う場合を示しているが、非点収差法による信号検出を
行う場合にも本実施例を適用できる。つまり、本実施例
ではメインビ−ム用のホログラムパタ−ン領域8a(図
3)を+1次回折光、−1次回折光を生じるように構成
しているが、非点収差法による場合はメインビ−ム用の
ホログラムパタ−ン領域8aのレンズ作用を光検出器の分
割線と直交する方向にレンズパワ−を持たせるように構
成して信号検出を行わせるようにすればよい。なお、Fo
E 信号等各種信号の検出方法は、ビ−ムサイズ法とほぼ
同様である。
【発明の効果】このように本発明によれば、被照射物体
からの反射光が通過するホログラムパタ−ン領域が、メ
インビ−ムが通過する領域と、サブビ−ムのみが通過す
る領域に分離しているとともに、メインビ−ムが通過す
る領域は±1次回折光は互いに逆方向のパワ−を有し、
サブビ−ムのみが通過する領域はパワ−を有しない構成
となっているので、−1次回折光としてのサブビ−ムの
ビ−ムスポットはメインビ−ムのビ−ムスポットを受光
する光検出器から離れるようになり、メインビ−ム検出
用の光検出器にサブビ−ムのビ−ムスポットが入らない
ようになる。したがって、情報信号のノイズが少なくな
り、またフォ−カスエラ−信号にオフセットが生じなく
なり、適正な情報の記録再生ができるようになる。
からの反射光が通過するホログラムパタ−ン領域が、メ
インビ−ムが通過する領域と、サブビ−ムのみが通過す
る領域に分離しているとともに、メインビ−ムが通過す
る領域は±1次回折光は互いに逆方向のパワ−を有し、
サブビ−ムのみが通過する領域はパワ−を有しない構成
となっているので、−1次回折光としてのサブビ−ムの
ビ−ムスポットはメインビ−ムのビ−ムスポットを受光
する光検出器から離れるようになり、メインビ−ム検出
用の光検出器にサブビ−ムのビ−ムスポットが入らない
ようになる。したがって、情報信号のノイズが少なくな
り、またフォ−カスエラ−信号にオフセットが生じなく
なり、適正な情報の記録再生ができるようになる。
【図1】本発明の第1実施例に係る光ピックアップの概
要図である。
要図である。
【図2】図1のレ−ザダイオ−ドおよび光検出器の平面
図である。
図である。
【図3】図1のホログラム素子の構成を示す平面図、底
面図である。
面図である。
【図4】ホログラム素子と光検出部の関係を示す斜視図
である。
である。
【図5】本発明の第2実施例に係る光ピックアップの概
要図である。
要図である。
【図6】図5のレーザダイオードおよび光検出器の平面
図である。
図である。
【図7】図5のホログラム素子の構成を示す平面図、底
面図である。
面図である。
【図8】従来例に係る光ピックアップの概要図である。
【図9】図8のレ−ザダイオ−ドおよび光検出器の配置
を示す平面図、断面図である。
を示す平面図、断面図である。
1 半導体基板
2 レーザダイオード
3 光検出部
4 光検出部
5 立ち上げミラー
6 ホログラム素子
6a グレ−ティング面
6b ホログラム面
8a ホログラムパタ−ン領域
8b ホログラムパタ−ン領域(サブビ−ム用)
8c ホログラムパタ−ン領域(サブビ−ム用)
11 メインビ−ム通過領域
12 サブビ−ム通過領域
13 サブビ−ム通過領域
14a ビームスポット(サブビ−ム)
14c ビームスポット(サブビ−ム)
15c ビームスポット(メインビーム)
Claims (2)
- 【請求項1】 光源からの出射光を被照射物体へ投射す
る収束光学系と、収束光学系と光源との間の光路中に配
設され、光源からの出射光を情報読み取り用メインビ−
ムと2つのトラッキングエラ−検出用サブビ−ムとに分
離するグレ−ティングと、グレ−ティングと収束光学系
との間の光路中に配設され、被照射物体からの反射光を
回折させ±1次回折光を光検出器に導くホログラム光学
素子と、メインビ−ムとサブビ−ムをそれぞれ受光する
光検出器とを具え、ホログラム光学素子に少なくともメ
インビ−ムが通過する領域を包含する第1の領域と、一
方のサブビ−ムのみが通過する第2の領域と、他方のサ
ブビ−ムのみが通過する領域を包含する第3の領域との
少なくとも3つの領域に分離されているとともに、第1
の領域に対して第2の領域、第3の領域は異なるレンズ
作用を有するように干渉縞を形成したことを特徴とする
光ピックアップ。 - 【請求項2】 ホログラム素子の第1の領域は所定のレ
ンズパワ−を有する干渉縞とし、第2の領域、第3の領
域は0に近いレンズパワ−を有する干渉縞としたことを
特徴とする請求項1記載の光ピックアップ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3198360A JPH0520711A (ja) | 1991-07-15 | 1991-07-15 | 光ピツクアツプ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3198360A JPH0520711A (ja) | 1991-07-15 | 1991-07-15 | 光ピツクアツプ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0520711A true JPH0520711A (ja) | 1993-01-29 |
Family
ID=16389817
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3198360A Withdrawn JPH0520711A (ja) | 1991-07-15 | 1991-07-15 | 光ピツクアツプ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0520711A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5648946A (en) * | 1992-04-28 | 1997-07-15 | Olympus Optical Co., Ltd. | Optical pick-up apparatus with holographic optical element to diffract both forward and return light beams |
KR100463424B1 (ko) * | 2002-10-04 | 2004-12-23 | 삼성전기주식회사 | 광 픽업장치의 광검출기 |
US7042819B2 (en) | 2001-06-29 | 2006-05-09 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical pickup apparatus |
US7369479B2 (en) | 2004-01-08 | 2008-05-06 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical miniaturized module, optical pickup device, and optical disk device provided with light source and photodetector |
CN100421159C (zh) * | 2005-01-17 | 2008-09-24 | 三星电子株式会社 | 光学拾取装置及其聚焦控制方法 |
-
1991
- 1991-07-15 JP JP3198360A patent/JPH0520711A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5648946A (en) * | 1992-04-28 | 1997-07-15 | Olympus Optical Co., Ltd. | Optical pick-up apparatus with holographic optical element to diffract both forward and return light beams |
US7042819B2 (en) | 2001-06-29 | 2006-05-09 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical pickup apparatus |
KR100463424B1 (ko) * | 2002-10-04 | 2004-12-23 | 삼성전기주식회사 | 광 픽업장치의 광검출기 |
US7369479B2 (en) | 2004-01-08 | 2008-05-06 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical miniaturized module, optical pickup device, and optical disk device provided with light source and photodetector |
CN100421159C (zh) * | 2005-01-17 | 2008-09-24 | 三星电子株式会社 | 光学拾取装置及其聚焦控制方法 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19981008 |