JPH04294271A - クロマトグラフ/質量分析装置 - Google Patents
クロマトグラフ/質量分析装置Info
- Publication number
- JPH04294271A JPH04294271A JP5867691A JP5867691A JPH04294271A JP H04294271 A JPH04294271 A JP H04294271A JP 5867691 A JP5867691 A JP 5867691A JP 5867691 A JP5867691 A JP 5867691A JP H04294271 A JPH04294271 A JP H04294271A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- retention time
- time range
- target
- sim
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 77
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 claims description 56
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 36
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 11
- 238000004445 quantitative analysis Methods 0.000 abstract description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000002098 selective ion monitoring Methods 0.000 description 5
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 3
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 2
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 238000001819 mass spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ガスクロマトグラフや
液体クロマトグラフなどの各種のクロマトグラフと質量
分析計とを接続してなるクロマトグラフ/質量分析装置
に係り、特には選択イオンモニタ(SIM)法を適用す
る場合に必要となるSIM測定テーブル作成のための手
段に関する。
液体クロマトグラフなどの各種のクロマトグラフと質量
分析計とを接続してなるクロマトグラフ/質量分析装置
に係り、特には選択イオンモニタ(SIM)法を適用す
る場合に必要となるSIM測定テーブル作成のための手
段に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、ガスクロマトグラフや液体クロ
マトグラフなどの各種のクロマトグラフと質量分析計と
を接続してなるクロマトグラフ/質量分析装置において
、特定の成分の定量分析を行う場合には、選択イオンモ
ニタ(SIM)法が採用されることがある。この選択イ
オンモニタ法は、定量対象となる成分に対応する特定の
ターゲットイオンを予め選定しておき、質量分析計の加
速電圧をターゲットイオンの特有の質量数(m/z)に
対応する値に設定して、ターゲットイオンの経時的な強
度変化を示すクロマトグラムを測定するものである。な
お、その後は、上記のクロマトグラムについて、ピーク
面積(たとえばピーク高さ×半値幅)を算出して予め求
めた検量線に基づいて成分の含有量などを決定する。
マトグラフなどの各種のクロマトグラフと質量分析計と
を接続してなるクロマトグラフ/質量分析装置において
、特定の成分の定量分析を行う場合には、選択イオンモ
ニタ(SIM)法が採用されることがある。この選択イ
オンモニタ法は、定量対象となる成分に対応する特定の
ターゲットイオンを予め選定しておき、質量分析計の加
速電圧をターゲットイオンの特有の質量数(m/z)に
対応する値に設定して、ターゲットイオンの経時的な強
度変化を示すクロマトグラムを測定するものである。な
お、その後は、上記のクロマトグラムについて、ピーク
面積(たとえばピーク高さ×半値幅)を算出して予め求
めた検量線に基づいて成分の含有量などを決定する。
【0003】このように、選択イオンモニタ法は、イオ
ン種を予め限定してクロマトグラムを測定するので、共
存する妨害成分の影響を受け難く、しかも、各成分につ
いてデータの採取時間を長くとることができるのでS/
N比に優れ、測定感度が非常に高く、定量分析に適して
いる。
ン種を予め限定してクロマトグラムを測定するので、共
存する妨害成分の影響を受け難く、しかも、各成分につ
いてデータの採取時間を長くとることができるのでS/
N比に優れ、測定感度が非常に高く、定量分析に適して
いる。
【0004】ところで、上記のような選択イオンモニタ
法による定量分析を行う場合には、予め定量すべき対象
成分のターゲットイオンを特定するのに必要な同定テー
ブルと、これらのターゲットイオンの各クロマトグラム
の測定条件を決めるに必要なSIM測定テーブルとをそ
れぞれ作成する必要がある。
法による定量分析を行う場合には、予め定量すべき対象
成分のターゲットイオンを特定するのに必要な同定テー
ブルと、これらのターゲットイオンの各クロマトグラム
の測定条件を決めるに必要なSIM測定テーブルとをそ
れぞれ作成する必要がある。
【0005】上記の同定テーブルとSIM測定テーブル
は、従来、次のようにして作成している。
は、従来、次のようにして作成している。
【0006】たとえば、質量数がそれぞれ(m/z)1
,(m/z)2,(m/z)3の既知の各ターゲットイ
オンa〜cについて、図7に示すような各クロマトグラ
ムが観察される場合、これらのクロマトグラムを特定す
るために、ターゲットイオンa〜cの質量数(m/z)
1〜(m/z)3、各ターゲットイオンa〜cのクロマ
トグラムのピークトップ位置を示す標準保持時間t1〜
t3、およびクロマトグラムのピークトップのゆらぎ幅
を決める許容保持時間幅Δt1〜Δt3を予め決定し、
これらの質量数(m/z)1〜(m/z)3、標準保持
時間t1〜t3、許容保持時間幅Δt1〜Δt3を互い
に対応付けることにより同定テーブルを作成する。
,(m/z)2,(m/z)3の既知の各ターゲットイ
オンa〜cについて、図7に示すような各クロマトグラ
ムが観察される場合、これらのクロマトグラムを特定す
るために、ターゲットイオンa〜cの質量数(m/z)
1〜(m/z)3、各ターゲットイオンa〜cのクロマ
トグラムのピークトップ位置を示す標準保持時間t1〜
t3、およびクロマトグラムのピークトップのゆらぎ幅
を決める許容保持時間幅Δt1〜Δt3を予め決定し、
これらの質量数(m/z)1〜(m/z)3、標準保持
時間t1〜t3、許容保持時間幅Δt1〜Δt3を互い
に対応付けることにより同定テーブルを作成する。
【0007】また、クロマトグラムの測定条件を決める
ために、各ターゲットイオンa〜cの質量数(m/z)
1〜(m/z)3、および測定保持時間範囲R1〜R3
を決定し、さらに、測定保持時間範囲R1〜R3の重な
りの有無を調べ、測定保持時間範囲が互いに重なる場合
には(この例ではR1とR2とが重なっている)、これ
らの測定保持時間範囲をカバーする最小の時間範囲R0
を改めて測定保持時間範囲として決定し、これらの質量
数(m/z)と測定保持時間範囲R0、R3とを互いに
対応付けることによりSIM測定テーブルを作成する。
ために、各ターゲットイオンa〜cの質量数(m/z)
1〜(m/z)3、および測定保持時間範囲R1〜R3
を決定し、さらに、測定保持時間範囲R1〜R3の重な
りの有無を調べ、測定保持時間範囲が互いに重なる場合
には(この例ではR1とR2とが重なっている)、これ
らの測定保持時間範囲をカバーする最小の時間範囲R0
を改めて測定保持時間範囲として決定し、これらの質量
数(m/z)と測定保持時間範囲R0、R3とを互いに
対応付けることによりSIM測定テーブルを作成する。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来技術
では、同定テーブルとSIM測定テーブルとをそれぞれ
別個に作成しているので、テーブル作成に手間がかかる
ばかりでなく、SIM測定テーブルの作成に際しては、
さらに、測定保持時間範囲の重なりの有無を調べてその
範囲を再調整する必要があり、テーブル作成が煩雑にな
っていた。
では、同定テーブルとSIM測定テーブルとをそれぞれ
別個に作成しているので、テーブル作成に手間がかかる
ばかりでなく、SIM測定テーブルの作成に際しては、
さらに、測定保持時間範囲の重なりの有無を調べてその
範囲を再調整する必要があり、テーブル作成が煩雑にな
っていた。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述した課題
を解決するためになされたものであって、同定テーブル
を作成すると、これに伴ってSIM測定テーブルが自動
的に作成されるようにして、選択イオンモニタ(SIM
)法に基づく定量分析を効率良く行えるようにするもの
である。
を解決するためになされたものであって、同定テーブル
を作成すると、これに伴ってSIM測定テーブルが自動
的に作成されるようにして、選択イオンモニタ(SIM
)法に基づく定量分析を効率良く行えるようにするもの
である。
【0010】そのため、本発明では、定量すべき対象成
分を特定するのに必要なターゲットイオンの質量数、各
ターゲットイオンのクロマトグラムのピークトップ位置
を示す標準保持時間(ti、i=1,2,…)、および
クロマトグラムのピークトップのゆらぎ幅を決める許容
保持時間幅(Δti、i=1,2,…)をそれぞれ与え
る同定テーブルを備えたクロマトグラフ/質量分析装置
において、次の構成を採る。
分を特定するのに必要なターゲットイオンの質量数、各
ターゲットイオンのクロマトグラムのピークトップ位置
を示す標準保持時間(ti、i=1,2,…)、および
クロマトグラムのピークトップのゆらぎ幅を決める許容
保持時間幅(Δti、i=1,2,…)をそれぞれ与え
る同定テーブルを備えたクロマトグラフ/質量分析装置
において、次の構成を採る。
【0011】すなわち、本発明の装置では、図1の機能
ブロック図に示すように、同定テーブルに基づいて、許
容保持時間幅(Δti)に一定値(f)を掛けた測定保
持時間幅(f・Δti)を算出するとともに、この測定
保持時間幅(f・Δti)と前記標準保持時間(ti)
とから各ターゲットイオンについての測定保持時間範囲
(Ri=ti−f・Δti〜ti+f・Δti)を設定
する測定保持時間範囲設定手段1と、この測定保持時間
範囲設定手段1で設定された各測定保持時間範囲(Ri
)を各ターゲットイオンごとに時間軸上にプロットして
タイムチャートを作成するタイムチャート作成手段2と
、このタイムチャート作成手段2で作成されたタイムチ
ャートの測定保持時間範囲(Ri)が互いに重なるター
ゲットイオンどうしを一つのグループとし、各グループ
に含まれるターゲットイオンの測定保持時間範囲(Ri
)を全てカバーする最小の時間範囲を最適測定保持時間
範囲(Ti)として決定するとともに、各グループごと
にそのターゲットイオンの質量数と前記最適測定保持時
間範囲(Ti)とを互いに対応付けたSIM測定テーブ
ルを作成するSIM測定テーブル作成手段3とを備えて
いる。
ブロック図に示すように、同定テーブルに基づいて、許
容保持時間幅(Δti)に一定値(f)を掛けた測定保
持時間幅(f・Δti)を算出するとともに、この測定
保持時間幅(f・Δti)と前記標準保持時間(ti)
とから各ターゲットイオンについての測定保持時間範囲
(Ri=ti−f・Δti〜ti+f・Δti)を設定
する測定保持時間範囲設定手段1と、この測定保持時間
範囲設定手段1で設定された各測定保持時間範囲(Ri
)を各ターゲットイオンごとに時間軸上にプロットして
タイムチャートを作成するタイムチャート作成手段2と
、このタイムチャート作成手段2で作成されたタイムチ
ャートの測定保持時間範囲(Ri)が互いに重なるター
ゲットイオンどうしを一つのグループとし、各グループ
に含まれるターゲットイオンの測定保持時間範囲(Ri
)を全てカバーする最小の時間範囲を最適測定保持時間
範囲(Ti)として決定するとともに、各グループごと
にそのターゲットイオンの質量数と前記最適測定保持時
間範囲(Ti)とを互いに対応付けたSIM測定テーブ
ルを作成するSIM測定テーブル作成手段3とを備えて
いる。
【0012】
【作用】上記構成において、測定保持時間範囲設定手段
1は、同定テーブルに基づいて、各ターゲットイオンに
ついての測定保持時間範囲(Ri)を設定し、次いで、
タイムチャート作成手段2は、この各測定保持時間範囲
(Ri)を各ターゲットイオンごとに時間軸上にプロッ
トしてタイムチャートを作成する。続いて、最適測定保
持時間範囲作成手段3は、タイムチャート上の測定保持
時間範囲(Ri)が互いに重なるターゲットイオンどう
しを一つのグループとし、各グループに含まれるターゲ
ットイオンの測定保持時間範囲(Ri)を全てカバーす
る最小の時間範囲を最適測定保持時間範囲(Ti)とし
て決定してSIM測定テーブルを作成する。
1は、同定テーブルに基づいて、各ターゲットイオンに
ついての測定保持時間範囲(Ri)を設定し、次いで、
タイムチャート作成手段2は、この各測定保持時間範囲
(Ri)を各ターゲットイオンごとに時間軸上にプロッ
トしてタイムチャートを作成する。続いて、最適測定保
持時間範囲作成手段3は、タイムチャート上の測定保持
時間範囲(Ri)が互いに重なるターゲットイオンどう
しを一つのグループとし、各グループに含まれるターゲ
ットイオンの測定保持時間範囲(Ri)を全てカバーす
る最小の時間範囲を最適測定保持時間範囲(Ti)とし
て決定してSIM測定テーブルを作成する。
【0013】つまり、同定テーブルが一旦作成されると
、これに伴ってSIM測定テーブルが自動的に作成され
ることになる。
、これに伴ってSIM測定テーブルが自動的に作成され
ることになる。
【0014】
【実施例】図2は本発明の実施例に係るガスクロマトグ
ラフ/質量分析装置の全体を示すブロック図である。
ラフ/質量分析装置の全体を示すブロック図である。
【0015】同図において、符号10はガスクロマトグ
ラフ/質量分析装置の全体を示し、12はガスクロマト
グラフ、14は質量分析計、16はガスクロマトグラフ
12と質量分析計14の動作を制御するとともに、質量
分析計14で得られるデータを処理するCPU、18は
必要な制御プログラムや後述する同定テーブル、SIM
測定テーブル、および測定データが格納されるメモリ、
20は同定テーブルのパラメータ等を入力するためのキ
ーボード、22はメモリ18の内容を表示するCRTで
ある。
ラフ/質量分析装置の全体を示し、12はガスクロマト
グラフ、14は質量分析計、16はガスクロマトグラフ
12と質量分析計14の動作を制御するとともに、質量
分析計14で得られるデータを処理するCPU、18は
必要な制御プログラムや後述する同定テーブル、SIM
測定テーブル、および測定データが格納されるメモリ、
20は同定テーブルのパラメータ等を入力するためのキ
ーボード、22はメモリ18の内容を表示するCRTで
ある。
【0016】そして、図1の機能ブロック図に示した測
定保持時間範囲設定手段1、タイムチャート作成手段2
、およびSIM測定テーブル作成手段3は、本例ではC
PU16とメモリ18により実現される。
定保持時間範囲設定手段1、タイムチャート作成手段2
、およびSIM測定テーブル作成手段3は、本例ではC
PU16とメモリ18により実現される。
【0017】次に、上記構成のガスクロマトグラフ/質
量分析装置10によるSIM測定テーブルの作成動作に
ついて説明する。
量分析装置10によるSIM測定テーブルの作成動作に
ついて説明する。
【0018】いま、たとえば、7種の成分を定量するた
め、図3に示すような同定テーブルが作成されたものと
する。この同定テーブルの作成は、たとえば、所定の質
量範囲を繰り返し走査してその範囲内の全ての質量数の
マススペクトルを測定し、その結果に基づいて各成分ご
との時間変化を示すマスクロマトグラムを求める。そし
て、このマスクロマトグラムから、各成分a〜gに対応
するターゲットイオンの質量数(m/z)1〜(m/z
)7、各ターゲットイオンのクロマトグラムのピークト
ップ位置を示す標準保持時間(ti、i=1〜7)、お
よびクロマトグラムのピークトップのゆらぎ幅を決める
許容保持時間幅(Δti、i=1〜7)をそれぞれ決定
し、これらの各パラメータをキーボード20から入力す
ることにより行われる。 こうして作成された同定テーブルは、メモリ18に格納
される。
め、図3に示すような同定テーブルが作成されたものと
する。この同定テーブルの作成は、たとえば、所定の質
量範囲を繰り返し走査してその範囲内の全ての質量数の
マススペクトルを測定し、その結果に基づいて各成分ご
との時間変化を示すマスクロマトグラムを求める。そし
て、このマスクロマトグラムから、各成分a〜gに対応
するターゲットイオンの質量数(m/z)1〜(m/z
)7、各ターゲットイオンのクロマトグラムのピークト
ップ位置を示す標準保持時間(ti、i=1〜7)、お
よびクロマトグラムのピークトップのゆらぎ幅を決める
許容保持時間幅(Δti、i=1〜7)をそれぞれ決定
し、これらの各パラメータをキーボード20から入力す
ることにより行われる。 こうして作成された同定テーブルは、メモリ18に格納
される。
【0019】次に、CPU16は、メモリ18に記憶さ
れている同定テーブルに基づいて、許容保持時間幅(Δ
ti)に一定値(f)を掛けた測定保持時間幅(f・Δ
ti)を算出する。ここに(f)はピ−クの開始点と終
点が測定保持時間範囲内に入り、しかもピ−ク検出でき
る測定保持時間範囲を与える値である。
れている同定テーブルに基づいて、許容保持時間幅(Δ
ti)に一定値(f)を掛けた測定保持時間幅(f・Δ
ti)を算出する。ここに(f)はピ−クの開始点と終
点が測定保持時間範囲内に入り、しかもピ−ク検出でき
る測定保持時間範囲を与える値である。
【0020】続いて、この測定保持時間幅(f・Δti
)と標準保持時間(ti)とから各ターゲットイオンに
ついての測定保持時間範囲(Ri=ti−f・Δti〜
ti+f・Δti、i=1〜7)を設定する。
)と標準保持時間(ti)とから各ターゲットイオンに
ついての測定保持時間範囲(Ri=ti−f・Δti〜
ti+f・Δti、i=1〜7)を設定する。
【0021】次に、各測定保持時間範囲(Ri)を各タ
ーゲットイオンごとに(この例では質量数(m/z)1
〜(m/z)7ごとに)時間軸上にプロットして、図4
に示すようなタイムチャートを作成する。
ーゲットイオンごとに(この例では質量数(m/z)1
〜(m/z)7ごとに)時間軸上にプロットして、図4
に示すようなタイムチャートを作成する。
【0022】引き続いて、タイムチャート上の測定保持
時間範囲(Ri)が重なるターゲットイオンどうしを一
つのグループとする。この例では、R1,R2,R4が
重なるので1グループ、R3は重なるものがないので単
独で1グループ、R5,R6,R7が重なるので1グル
ープとなり、全部で3つのグループができる。
時間範囲(Ri)が重なるターゲットイオンどうしを一
つのグループとする。この例では、R1,R2,R4が
重なるので1グループ、R3は重なるものがないので単
独で1グループ、R5,R6,R7が重なるので1グル
ープとなり、全部で3つのグループができる。
【0023】そして、各グループごとに、そのグループ
に含まれるターゲットイオンの測定保持時間範囲(Ri
)を全てカバーする最小の時間範囲を最適測定保持時間
範囲(Ti)として決定する。したがって、この例では
、T1,T2,T3がそれぞれ最適測定保持時間範囲と
なる。ここで、T1=t1−f・Δti〜t4+f・Δ
t4、T2=t3−f・Δt3〜t3+f・Δt3、T
3=t5−f・Δt5〜t7+f・Δt7である。
に含まれるターゲットイオンの測定保持時間範囲(Ri
)を全てカバーする最小の時間範囲を最適測定保持時間
範囲(Ti)として決定する。したがって、この例では
、T1,T2,T3がそれぞれ最適測定保持時間範囲と
なる。ここで、T1=t1−f・Δti〜t4+f・Δ
t4、T2=t3−f・Δt3〜t3+f・Δt3、T
3=t5−f・Δt5〜t7+f・Δt7である。
【0024】こうして、最適測定保持時間範囲(Ti、
i=1〜3)が決定されると、各グループごとにそのタ
ーゲットイオンの質量数と最適測定保持時間範囲(Ti
)とを互いに対応付けて、図5に示すようなSIM測定
テーブルを作成する。こうしてCPU16により作成さ
れたSIM測定テーブルは、メモリ18に格納される。
i=1〜3)が決定されると、各グループごとにそのタ
ーゲットイオンの質量数と最適測定保持時間範囲(Ti
)とを互いに対応付けて、図5に示すようなSIM測定
テーブルを作成する。こうしてCPU16により作成さ
れたSIM測定テーブルは、メモリ18に格納される。
【0025】選択イオンモニタ法に基づいて各成分の定
量分析を行う場合には、CPU16は、図3に示す同定
テーブルと図5に示すSIM測定テーブルとを共に参照
して、たとえば、図6に示すように、ガスクロマトグラ
フで分離して得られる成分の保持時間が一つの最適測定
保持時間範囲T1内にあるときには、質量分析計の加速
電圧をターゲットイオンの各質量数(m/z)1,(m
/z)2,(m/z)4に対応する3つの値にそれぞれ
時分割(たとえば0.5sec単位)で切り換えて各タ
ーゲットイオンのクロマトグラムのデータを採取する。 他の最適保持時間範囲T2,T3についても同様である
。
量分析を行う場合には、CPU16は、図3に示す同定
テーブルと図5に示すSIM測定テーブルとを共に参照
して、たとえば、図6に示すように、ガスクロマトグラ
フで分離して得られる成分の保持時間が一つの最適測定
保持時間範囲T1内にあるときには、質量分析計の加速
電圧をターゲットイオンの各質量数(m/z)1,(m
/z)2,(m/z)4に対応する3つの値にそれぞれ
時分割(たとえば0.5sec単位)で切り換えて各タ
ーゲットイオンのクロマトグラムのデータを採取する。 他の最適保持時間範囲T2,T3についても同様である
。
【0026】なお、この実施例では、ガスクロマトグラ
フと質量分析計とを結合した装置について説明したが、
液体クロマトグラフやその他のクロマトグラフと質量分
析計とを結合した装置についても本発明を適用すること
ができるのは勿論である。
フと質量分析計とを結合した装置について説明したが、
液体クロマトグラフやその他のクロマトグラフと質量分
析計とを結合した装置についても本発明を適用すること
ができるのは勿論である。
【0027】
【発明の効果】本発明によれば、同定テーブルが一旦作
成されると、これに伴ってSIM測定テーブルが自動的
に作成されるので、従来のように、同定テーブルとSI
M測定テーブルとを個別に作成していた場合に比べてテ
ーブル作成の手間を大幅に削減することができる。
成されると、これに伴ってSIM測定テーブルが自動的
に作成されるので、従来のように、同定テーブルとSI
M測定テーブルとを個別に作成していた場合に比べてテ
ーブル作成の手間を大幅に削減することができる。
【図1】本発明のクロマトグラフ/質量分析装置の機能
ブロック図である。
ブロック図である。
【図2】本発明の実施例に係るガスクロマトグラフ/質
量分析装置の全体を示すブロック図である。
量分析装置の全体を示すブロック図である。
【図3】同定テーブルの内容を示す説明図である。
【図4】タイムチャート作成手段で作成されるタイムチ
ャートである。
ャートである。
【図5】SIM測定テーブル作成手段で作成されたSI
M測定テーブルの説明図である。
M測定テーブルの説明図である。
【図6】同定テーブルとSIM測定テーブルに基づいて
選択イオンモニタ法により定量分析を行う場合の説明図
である。
選択イオンモニタ法により定量分析を行う場合の説明図
である。
【図7】各成分のターゲットイオンに基づいて得られる
クロマトグラムである。
クロマトグラムである。
1…測定保持時間範囲設定手段、2…タイムチャート作
成手段、3…SIM測定テーブル作成手段、10…クロ
マトグラフ/質量分析装置、16…CPU、18…メモ
リ。
成手段、3…SIM測定テーブル作成手段、10…クロ
マトグラフ/質量分析装置、16…CPU、18…メモ
リ。
Claims (1)
- 【請求項1】 定量すべき対象成分を特定するのに必
要なターゲットイオンの質量数、前記各ターゲットイオ
ンのクロマトグラムのピークトップ位置を示す標準保持
時間(ti、i=1,2,…)、および前記クロマトグ
ラムのピークトップのゆらぎ幅を決める許容保持時間幅
(Δti、i=1,2,…)をそれぞれ与える同定テー
ブルを備えたクロマトグラフ/質量分析装置において、
前記同定テーブルに基づいて、前記許容保持時間幅(Δ
ti)に一定値(f)を掛けた測定保持時間幅(f・Δ
ti)を算出するとともに、この測定保持時間幅(f・
Δti)と前記標準保持時間(ti)とから各ターゲッ
トイオンについての測定保持時間範囲(Ri=ti−f
・Δti〜ti+f・Δti)を設定する測定保持時間
範囲設定手段(1)と、この測定保持時間範囲設定手段
(1)で設定された各測定保持時間範囲(Ri)を各タ
ーゲットイオンごとに時間軸上にプロットしてタイムチ
ャートを作成するタイムチャート作成手段(2)と、こ
のタイムチャート作成手段(2)で作成されたタイムチ
ャートの測定保持時間範囲(Ri)が互いに重なるター
ゲットイオンどうしを一つのグループとし、各グループ
に含まれるターゲットイオンの測定保持時間範囲(Ri
)を全てカバーする最小の時間範囲を最適測定保持時間
範囲(Ti)として決定するとともに、各グループごと
にそのターゲットイオンの質量数と前記最適測定保持時
間範囲(Ti)とを互いに対応付けたSIM測定テーブ
ルを作成するSIM測定テーブル作成手段(3)と、を
備えることを特徴とするクロマトグラフ/質量分析装置
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3058676A JPH0740016B2 (ja) | 1991-03-22 | 1991-03-22 | クロマトグラフ/質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3058676A JPH0740016B2 (ja) | 1991-03-22 | 1991-03-22 | クロマトグラフ/質量分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04294271A true JPH04294271A (ja) | 1992-10-19 |
JPH0740016B2 JPH0740016B2 (ja) | 1995-05-01 |
Family
ID=13091181
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3058676A Expired - Fee Related JPH0740016B2 (ja) | 1991-03-22 | 1991-03-22 | クロマトグラフ/質量分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0740016B2 (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007102201A1 (ja) * | 2006-03-07 | 2007-09-13 | Shimadzu Corporation | クロマトグラフ質量分析装置 |
JP2008128720A (ja) * | 2006-11-17 | 2008-06-05 | Shimadzu Corp | Gc/ms多成分一斉分析方法 |
JP2011141217A (ja) * | 2010-01-08 | 2011-07-21 | Shimadzu Corp | 分析装置制御システム及び該システム用プログラム |
JP2011141220A (ja) * | 2010-01-08 | 2011-07-21 | Shimadzu Corp | 分析装置制御システム及び該システム用プログラム |
JP2011232258A (ja) * | 2010-04-28 | 2011-11-17 | Institute Of Physical & Chemical Research | スケジューリング装置、スケジューリング方法、スケジューリングプログラム、記録媒体、および質量分析システム |
WO2015189696A1 (ja) * | 2014-06-12 | 2015-12-17 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | クロマトグラフ質量分析装置及びその制御方法 |
US9285381B2 (en) | 2012-07-18 | 2016-03-15 | Shimadzu Corporation | Analyzing apparatus control system and program for chromatograph measurements |
US9759734B2 (en) | 2012-07-18 | 2017-09-12 | Shimadzu Corporation | Analyzing apparatus control system and program for the same |
-
1991
- 1991-03-22 JP JP3058676A patent/JPH0740016B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2007102201A1 (ja) * | 2006-03-07 | 2009-07-23 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ質量分析装置 |
JP4697302B2 (ja) * | 2006-03-07 | 2011-06-08 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ質量分析装置 |
US8168942B2 (en) | 2006-03-07 | 2012-05-01 | Shimadzu Corporation | Chromatograph mass spectrometer |
WO2007102201A1 (ja) * | 2006-03-07 | 2007-09-13 | Shimadzu Corporation | クロマトグラフ質量分析装置 |
JP2008128720A (ja) * | 2006-11-17 | 2008-06-05 | Shimadzu Corp | Gc/ms多成分一斉分析方法 |
JP2011141217A (ja) * | 2010-01-08 | 2011-07-21 | Shimadzu Corp | 分析装置制御システム及び該システム用プログラム |
JP2011141220A (ja) * | 2010-01-08 | 2011-07-21 | Shimadzu Corp | 分析装置制御システム及び該システム用プログラム |
JP2011232258A (ja) * | 2010-04-28 | 2011-11-17 | Institute Of Physical & Chemical Research | スケジューリング装置、スケジューリング方法、スケジューリングプログラム、記録媒体、および質量分析システム |
US9285381B2 (en) | 2012-07-18 | 2016-03-15 | Shimadzu Corporation | Analyzing apparatus control system and program for chromatograph measurements |
US9759734B2 (en) | 2012-07-18 | 2017-09-12 | Shimadzu Corporation | Analyzing apparatus control system and program for the same |
WO2015189696A1 (ja) * | 2014-06-12 | 2015-12-17 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | クロマトグラフ質量分析装置及びその制御方法 |
JP2016001137A (ja) * | 2014-06-12 | 2016-01-07 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | クロマトグラフ質量分析装置及びその制御方法 |
GB2549354A (en) * | 2014-06-12 | 2017-10-18 | Hitachi High Tech Corp | Chromatograph mass spectrometer and control method therefor |
US9823228B2 (en) | 2014-06-12 | 2017-11-21 | Hitachi High-Technologies Corporation | Chromatograph mass spectrometer and control method therefor |
GB2549354B (en) * | 2014-06-12 | 2020-05-20 | Hitachi High Tech Corp | Chromatograph mass spectrometer and control method therefor |
DE112015002105B4 (de) | 2014-06-12 | 2022-05-19 | Hitachi High-Tech Corporation | Chromatograph-Massenspektrometer und Verfahren zu dessen Steuerung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0740016B2 (ja) | 1995-05-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN105492903B (zh) | 色谱质谱分析装置 | |
JP6791373B2 (ja) | クロマトグラフ質量分析データ処理装置及びクロマトグラフ質量分析データ処理用プログラム | |
CN104792897B (zh) | 液晶中n‑甲基吡咯烷酮含量的测定方法 | |
JPH04294271A (ja) | クロマトグラフ/質量分析装置 | |
JP4953175B2 (ja) | クロマトグラフ/質量分析装置における定量精度向上方法 | |
JP3683749B2 (ja) | 質量分析方法 | |
JP4057664B2 (ja) | クロマトグラフ/質量分析装置のデータ処理装置 | |
JP2005326397A (ja) | 磁気共鳴スペクトルの定量方法 | |
JP6226823B2 (ja) | クロマトグラフ質量分析装置及びその制御方法 | |
JPH08129001A (ja) | Sim法を用いたクロマトグラフ質量分析装置 | |
JP3600731B2 (ja) | 質量分析システム | |
CN108780073A (zh) | 色谱仪装置 | |
JPS6375659A (ja) | ガスクロマトグラフイ質量分析計を用いた定量分析方法 | |
JPH08102282A (ja) | 質量分析装置 | |
JPH11201960A (ja) | ガスクロマトグラフ | |
JPS5821144A (ja) | 高精度全自動icp分析法 | |
JP4461919B2 (ja) | クロマトグラフ質量分析測定方法及び装置 | |
JPH0352247A (ja) | 半導体試験装置 | |
JPS6382357A (ja) | マスクロマトグラフイ分析方法 | |
JPH09269319A (ja) | 定量分析用データ処理装置 | |
JPH04190158A (ja) | クロマトグラフによる定量分析方法および装置 | |
JP4429110B2 (ja) | 濃度測定装置 | |
JPS61181961A (ja) | クロマトグラフ用デ−タ処理装置 | |
JP2000310602A (ja) | 蛍光x線分析装置およびこれに使用する記録媒体 | |
JPH01302142A (ja) | 原子吸光光度計 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080501 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090501 Year of fee payment: 14 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100501 Year of fee payment: 15 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |