JPH07236227A - 過電流保護装置 - Google Patents

過電流保護装置

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JPH07236227A
JPH07236227A JP24326592A JP24326592A JPH07236227A JP H07236227 A JPH07236227 A JP H07236227A JP 24326592 A JP24326592 A JP 24326592A JP 24326592 A JP24326592 A JP 24326592A JP H07236227 A JPH07236227 A JP H07236227A
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circuit
type
terminal
resistor
mos semiconductor
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JP24326592A
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Masaya Maruo
昌也 圓尾
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 ラッシュカレントや過電流を小さく抑えて流
し、短時間で過電流状態が終われば、その後、正常電流
を流し、まだ過電流状態が続く時は、過電流を遮断す
る。 【構成】 内部抵抗の小さい回路と、内部抵抗の中ぐら
いの回路と、内部抵抗の大きい回路を並列に接続して、
正常電流は内部抵抗の小さい回路に流し、過電流は内部
抵抗の大きい回路に流し、ある時間以上、過電流が流れ
る時は、過電流を遮断する過電流保護装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、負荷である回路を過電
流から保護する過電流保護装置とブレーカに関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】負荷に直列に接続して、過電流から負荷
を保護する装置として、ヒューズやブレーカ等が使用さ
れている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ヒューズやブレーカ
は、電源投入時のラッシュカレントを、そのまま負荷に
流す。また、負荷回路の1部分が故障して、過電流が流
れる場合、短時間であっても、過電流がそのまま負荷回
路を流れる。ラッシュカレントや過電流が流れると、そ
の度に、正常な回路部品にストレスを与え、部品を劣化
させる。それが、新たな負荷回路の故障の原因になると
いう問題点があった。
【0004】本発明は、電源投入時のラッシュカレント
が流れようとする場合、負荷回路に直列に接続した過電
流保護装置の内部抵抗を大きくして、ラッシュカレント
を小さく抑えて流し、ラッシュカレント状態が終わる
と、過電流保護装置の内部抵抗を小さくして、正常電流
を流し、そして、同様に、過電流が流れようとする場
合、過電流保護装置の内部抵抗を大きくして、過電流を
小さく抑えて流し、短時間で過電流状態が終われば、そ
の後、正常電流を流し、まだ過電流状態が続く時は、過
電流保護装置の内部回路を遮断して、過電流を遮断する
過電流保護装置と、遮断したその過電流保護装置の両端
に発生する電圧により、作動し回路を開くブレーカを提
供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の過電流保護装置は、内部抵抗の小さい回路
と、内部抵抗の中ぐらいの回路と、内部抵抗の大きい回
路とを並列に接続して、大きい過電流が流れる場合は、
内部抵抗の小さい回路と中ぐらいの回路を遮断して、内
部抵抗の大きい回路に流し、そして、正常電流は、内部
抵抗の小さい回路に流すようにしたものである。また、
過電流を遮断した過電流保護装置の両端に発生する電圧
により、過電流保護装置に直列に接続したブレーカを作
動させて、回路を開き、電源を切るようにしたものであ
る。
【0006】内部抵抗の小さい回路と、内部抵抗の中ぐ
らいの回路は、N型とP型のディプレッション形MOS
半導体で構成したもので、この回路の両端に電圧がかか
ると電流は流れ始め、ある決められた大きさの電流が流
れると遮断するものである。
【0007】内部抵抗の大きい回路は、P型エンハンス
メント形MOS半導体のドレインに抵抗を接続したもの
で、この回路の両端に、ある大きさ以上の電圧がかかる
と電流は流れるが、ある時間以上電流が流れると、遮断
するものである。
【0008】
【実施例】本発明の過電流保護装置の実施例について、
図により説明する。先ず、内部抵抗の小さい回路を図5
により説明する。N型ディプレッション形MOS半導体
(以下、N型DMOSと略す)1のソースとP型ディプ
レッション形MOS半導体(以下、P型DMOSと略
す)2のソースを接続し、N型DMOS1のゲートに抵
抗3,4を接続し、抵抗3の他端はN型DMOS1のド
レインに接続し、抵抗4の他端は端子Cに接続し、P型
DMOS2のゲートに抵抗6,7,8を接続し、抵抗6
の他端はツェナー・ダイオード5のアノードに接続し、
ツェナー・ダイオード5のカソードと、抵抗7の他端は
N型DMOS1のドレインに接続し、抵抗8の他端はP
型DMOS2のドレインに接続する。そして、N型DM
OS1のドレインを端子Aとし、P型DMOS2のドレ
インを端子Bとして、3端子A,B,Cをこの回路と他
の回路とを結ぶための端子とする。また、破線で四角に
囲ったこの回路を回路1とする。
【0009】この回路の特性を図6により説明する。端
子B,Cを接続して端子BCとし、今、この回路の両端
に端子Aがプラス、端子BCがマイナスの電圧VA,BC
かける。この回路はP型DMOS2のゲートが抵抗7を
通じてN型DMOS1のドレインに接続し、N型DMO
S1のゲートが抵抗4を通じてP型DMOS2のドレイ
ンに接続することにより、N型DMOS1における電圧
降下が、P型DMOS2のゲート電圧になり、P型DM
OS2における電圧降下がN型DMOS1のゲート電圧
になる。
【0010】従って、電圧VA,BCを0Vから20Vまで
徐々に上げた場合、電流IA,BCは、2〜3Vで約5Aま
で立ち上がり、2〜3V以上では、N型DMOS1、P
型DMOS2のゲート電圧が大きくなるために、電流I
A,BCは徐々に減少し遮断される。そして、電圧VA,BC
20Vから0Vまで徐々に下げた場合、N型DMOS1
のゲートは抵抗3を通じてN型DMOS1のドレインに
接続し、P型DMOS2のゲートは抵抗8を通じてP型
DMOS2のドレインに接続しているので、電圧を立ち
上げる時、電流が遮断した電圧で、電流IA,BCは流れ始
める可逆特性を示す。抵抗3,4、また、抵抗7,8の
抵抗値の割合を変えることにより、図6の実線と破線の
ように、電流が遮断される電圧を調整することができ
る。例えば、抵抗8=5KΩ、抵抗7=5KΩの時、電
圧VA,BC=15V(実線)で遮断し、抵抗8=5KΩ、
抵抗7=50Ωの時、電圧VA,BC=5V(破線)で遮断
する。また、遮断する電圧より大きいツェナー電圧のツ
ェナー・ダイオード5と低抵抗の抵抗6によって、遮断
する電圧より大きい電圧VA,BCでは、P型DMOS2の
ゲートが低抵抗の抵抗6でN型DMOS1のドレインに
接続されるので、確実に電流を遮断することができる。
【0011】次に、内部抵抗の中ぐらいの回路を図7に
より説明する。N型DMOS10のソースに抵抗11を接続
し、抵抗11の他端はP型DMOS12のソースに接続し、
N型DMOS10のゲートに抵抗13,14を接続し、抵抗13
の他端はN型DMOS10のドレインに接続し、抵抗14の
他端はツェナー・ダイオード15のカソードに接続し、ツ
ェナー・ダイオード15のアノードは端子Fに接続し、P
型DMOS12のゲートに抵抗18,19を接続し、抵抗18の
他端はツェナー・ダイオード17のアノードに接続し、ツ
ェナー・ダイオード17のカソードは、N型DMOS10の
ドレインに接続し、抵抗19の他端はP型DMOS12のド
レインに接続し、N型DMOS10のゲートとP型DMO
S12のゲートの間にコンデンサー16を接続する。そし
て、N型DMOS10のドレインを端子Dとし、P型DM
OS12のドレインを端子Eとし、ツェナー・ダイオード
15のカソードを端子Gとして、4端子D,E,F,Gを
この回路と他の回路とを結ぶための端子とする。また、
破線で四角に囲った回路を回路2とする。
【0012】この回路の特性を図8により説明する。端
子E,Fを接続して端子EFとし、今、この回路の両端
に端子Dがプラス、端子EFがマイナスの電圧VD,EF
かける。この回路も、先の内部抵抗が小さい回路と同様
に、N型DMOS10と抵抗11における電圧降下が、P型
DMOS12のゲート電圧になり、P型DMOS12と抵抗
11における電圧降下がN型DMOS10のゲート電圧にな
る。
【0013】従って、電圧VD,EFを0Vから100Vま
で徐々に上げた場合、電圧VD,EFがツェナー・ダイオー
ド15,17のツェナー電圧になるまで、電流ID,EFは大き
くなるが、電圧VD,EFがツェナー電圧以上になると、ツ
ェナー・ダイオード15,17が導通して、N型DMOS1
0、P型DMOS12のゲート電圧が大きくなるために、
電流ID,EFは徐々に減少し遮断される。N型DMOS10
のソースとP型DMOS12のソースの間に抵抗11を接続
しているために、電流ID,EFは直線的に、徐々に立ち上
がり、徐々に減少する。そして、電圧VD,EFを100V
から0Vまで徐々に下げた場合、図5の回路1と同様
に、電圧を立ち上げる時、電流が遮断した電圧で電流I
D,EFは流れ始める可逆特性を示す。ツェナー・ダイオー
ド15,17のツェナー電圧を変えることにより、図8の実
線と破線のように、電流の大きさ、電流が遮断される電
圧を調整することができる。例えば、ツェナー・ダイオ
ード15,17のツェナー電圧が24Vの時、電圧VD,EF
27〜29Vで電流ID,EF=5.5A(実線)になり、
電圧VD,EF=58Vで遮断し、ツェナー電圧が12Vの
時、電圧VD,EF=13〜15Vで電流ID,EF=2.8A
(破線)になり、電圧V D,EF=29Vで遮断する。N型
DMOS10のゲートとP型DMOS12のゲートの間にコ
ンデンサー16を接続することにより、電圧VD,EFが急に
立ち上がったり、下がったりした時、電流ID,EFを少し
緩やかに流したり、遮断したりできる。また、抵抗11の
抵抗値を変えることにより、電流ID,EFの大きさを調整
することができる。
【0014】次に、内部抵抗の大きい回路を図9により
説明する。P型エンハンスメント形MOS半導体(以
下、P型EMOSと略す)20のドレインに抵抗21を接続
し、抵抗21の他端を端子Iとし、P型EMOS20のゲー
トにツェナー・ダイオード24のアノードと抵抗25とN型
DMOS27のドレインを接続し、ツェナー・ダイオード
24のカソードと抵抗25の他端はP型EMOS20のソース
に接続し、N型DMOS27のソースはP型DMOS28の
ソースに接続し、P型DMOS28のドレインに抵抗29を
接続し、抵抗29の他端は端子Iに接続し、N型DMOS
27のゲートに抵抗26を接続し、抵抗26の他端はP型DM
OS28のドレインに接続し、P型DMOS28のゲートに
抵抗22とコンデンサー23を接続し、抵抗22の他端はP型
EMOS20のソースに接続し、コンデンサー23の他端は
端子Iに接続する。そして、P型EMOS20のソースを
端子Hとし、P型EMOS20のドレインを端子Jとし
て、3端子H,I,Jをこの回路と他の回路とを結ぶた
めの端子とする。また、破線で四角に囲った回路を回路
3とする。
【0015】この回路の特性を説明する。今、この回路
の両端に端子Hがプラス、端子Iがマイナスの電圧V
H,Iをかける。仮に、抵抗25の抵抗値を400Ω、抵抗2
9の抵抗値を100Ωと設定すると、抵抗25における電
圧降下は電圧VH,Iの約80%の大きさになり、そし
て、その電圧降下がP型EMOS20のゲート電圧になる
ために、電圧VH,Iが0Vから徐々に大きくなる場合、
最初、電流IH,Iは流れず、電圧VH,IがP型EMOS20
のシュレッショルド電圧の約125%以上の大きさにな
ると、P型EMOS20はONになり、電流IH,Iは流れ
始め、その後、電圧VH,Iが大きくなると電流IH,Iも大
きくなる。ツェナー・ダイオード24はP型EMOS20の
ゲート電圧がある電圧以上になるのを防ぎ、抵抗29はツ
ェナー・ダイオード24に過大な電流が流れるのを防ぐた
めのものである。
【0016】抵抗25とN型DMOS27における電圧降下
がP型DMOS28のゲート電圧になり、P型DMOS28
における電圧降下がN型DMOS27のゲート電圧になる
ように、N型DMOS27とP型DMOS28が接続されて
いるために、抵抗29に大きな電流が流れると、N型DM
OS27とP型DMOS28が抵抗29を流れる電流を遮断
し、それにより、P型EMOS20のゲート電圧が0Vに
なって、P型EMOS20がOFFになり、電流IH,I
遮断される。しかし、P型DMOS28のゲートは、コン
デンサー23により端子Iに接続しているため、大きな電
圧VH,Iがかかっても、コンデンサー23の充電電圧があ
る大きさになるまでの短時間は、N型DMOS27とP型
DMOS28は抵抗29を流れる電流を遮断しないので、電
流IH,Iを流すことができる。そして、コンデンサー23
の充電電圧がある大きさ以上になると、N型DMOS27
とP型DMOS28は抵抗29を流れる電流を遮断し、電流
H, Iは遮断される。また、抵抗21の抵抗値を変えるこ
とにより、短時間流すことのできる電流IH,Iの大きさ
を調整することができる。そして、抵抗22の抵抗値とコ
ンデンサー23の容量を変えることにより、電流IH,I
流すことができる時間を調整することができる。
【0017】次に、回路1(内部抵抗の小さい回路)
と、回路2(内部抵抗の中ぐらいの回路)と、回路3
(内部抵抗の大きい回路)とを並列に接続した過電流保
護装置を図1により説明する。回路1の端子Aと、回路
2の端子Dと、回路3の端子Hを端子Kに接続し、回路
1の端子Bと、回路2の端子Eと、回路3の端子Iをコ
イル31に接続し、コイル31の他端を端子Lに接続し、回
路1の端子Cと、回路2の端子Fを端子Lに接続し、回
路2の端子Gをダイオード32のアノードに接続し、ダイ
オード32のカソードを回路3の端子Jに接続する。
【0018】この過電流保護装置の特性を説明する。こ
の過電流保護装置に端子Kがプラス、端子Lがマイナス
の電圧VK,Lをかける。この過電流保護装置に直列に負
荷回路を接続する。その負荷回路のみに220Vの電圧
をかけた時、図4に示すように、220Aのラッシュカ
レントが流れ、100μSECで5Aの定常電流(正常
電流)になるラッシュカレント特性、あるいは、110
Aのラッシュカレントが流れ、200μSECで5Aの
定常電流(正常電流)になるラッシュカレント特性をも
った負荷回路とする。
【0019】今、この過電流保護装置と負荷回路を直列
に接続したものに、220Vの電圧をかけた時、15A
のラッシュカレントが流れ、3mSECで5Aの正常電
流になるラッシュカレント特性になる。図2に電流I
K,Lのラッシュ特性を、図3に電圧VK,Lのラッシュ特性
を示す。電圧がかかった瞬間は、端子Kと端子Lの間に
ほぼ220Vの電圧がかかるので、回路1と回路2は遮
断し、電流IK,Lは回路3を流れ、回路3の抵抗21によ
って、ラッシュカレントは15Aに抑えられる。約1m
SECで電流IK,Lは約4Aになり、電圧VK,Lは約50
Vになる。電圧VK,Lが約50Vになると、回路2が可
逆特性により導通し、電流ID,Eが流れる。約2.5m
SECで電流IK,Lは約5Aになり、電圧VK,Lが約15
Vになる。電圧VK,Lが約15Vになると、回路1が可
逆特性により導通し、電流IA,Bが流れる。約3mSE
Cで電流IK,Lは正常電流(定常電流)の5Aになり、
電圧VK ,Lが約1Vになる。
【0020】電圧がかかった瞬間、ラッシュカレントは
回路1も回路2も流れようとするが、コイル31が、急に
立ち上がる電流を抑止し、コイル31の両端に発生する電
圧により、回路1のN型DMOS1はゲート電圧が下が
って、OFFになり、回路1は遮断する。同様に、回路
2のN型DMOS10もゲート電圧が下がって、OFFに
なり、回路2は遮断する。このように、コイル31によ
り、電圧がかかった瞬間に回路1も回路2も遮断するこ
とができる。
【0021】また、負荷回路の故障で、過電流保護装置
にVK,L=10〜50Vの電圧が連続してかる場合、回
路1はすぐ遮断するが、回路2はすぐには遮断しない。
しかし、回路2の端子Gは、ダイオード32を通じて回路
3の端子Jに接続しているので、電圧VK,Lにより、回
路3のコンデンサー23がある電圧に充電されて、回路3
が遮断すると、端子Jの電圧が、端子Iの電圧になり、
そして、回路2のN型DMOS10のゲート電圧が端子I
の電圧にまで下がって、N型DMOS10はOFFにな
り、回路2は遮断する。端子G,J間にダイオード32を
接続することにより、VK,L=10〜50Vおいて、回
路3と回路2を同時に遮断することができる。
【0022】次に、過電流保護装置とブレーカを組み合
わせて使用する実施例を図10により説明する。交流回
路にブレーカ51を接続し、交流を全波整流した直流回
路に過電流保護装置を接続する。ブレーカ51は、電流
で回路を開くコイルLI1と電圧で回路を開くコイルL
V1の2個のコイルを持っている。コイルLI1は交流
回路に接続するが、コイルLV1は、直流回路の過電流
保護装置の端子K,L間に接続する。このように接続す
ると、過電流が流れて過電流保護装置が遮断した時、端
子K,L間にかかる直流の電源電圧により、コイルLV
1が作動してブレーカを切ることができる。また、直流
回路にブレーカと過電流保護装置を接続して、同様に、
使用することもできる。
【0023】また、過電流保護装置とブレーカを組み合
わせて使用する別の実施例を図11により説明する。ブ
レーカ52と、2個の過電流保護装置を逆直列に接続し
たものを交流回路に接続する。ブレーカ52は、電流で
回路を開くコイルLI2と電圧で回路を開くコイルLV
2の2個のコイルを持っている。コイルLI2とコイル
LV2は交流回路に接続するが、コイルLV2は、2個
逆直列に接続した過電流保護装置の両端の端子K,K’
間に接続する。このように接続すると、過電流が流れて
過電流保護装置が遮断した時、端子K,K’間にかかる
交流の電源電圧により、コイルLV2が作動してブレー
カを切ることができる。
【0024】
【発明の効果】本発明は、以上に説明したように構成さ
れているので、以下に記載のするような効果を示す。負
荷回路に直列にこの過電流保護装置を接続すると、ラッ
シュカレントを1/10 〜 1/20に小さくでき、過
電流を1/2 〜 1/20に小さくできる。そして、回
路2の抵抗11と回路3の抵抗21の抵抗値を変えることに
より、ラッシュカレント、過電流の大きさを調整するこ
とができる。また、回路3のコンデンサー23の容量を変
えることにより、負荷回路に合わせて遮断時間を調整す
ることができる。
【0025】この過電流保護装置とブレーカを組み合わ
せて使用することにより、負荷回路に合った遮断速度で
過電流を遮断し、そして、続けてブレーカを作動させて
電源を切ることができるので、ブレーカのみで負荷回路
を保護する場合に較べ、負荷回路をより正確に保護する
事ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】過電流保護装置の実施例を示す回路図である。
【図2】図1の過電流保護装置のラッシュカレントの特
性図である。
【図3】図1の過電流保護装置にラッシュカレントが流
れる時、過電流保護装置の両端にかかる電圧の特性図で
ある。
【図4】過電流保護装置を使用しない時の、負荷回路の
ラッシュカレントの特性図である。
【図5】内部抵抗の小さい回路1の回路図である。
【図6】図5の回路1の電圧電流可逆特性図である。
【図7】内部抵抗の中ぐらいの回路2の回路図である。
【図8】図7の回路2の電圧電流可逆特性図である。
【図9】内部抵抗の大きい回路3の回路図である。
【図10】過電流保護装置とブレーカを組み合わせて使
用する実施例を示す図である。
【図11】過電流保護装置とブレーカを組み合わせて使
用する別の実施例を示す図である。
【符号の説明】
1,10,27 N型DMOS 2,12,28 P型DMOS 20 P型EMOS 5,15,17,24 ツェナー・ダイオード 16,23 コンデンサー 31 コイル 32 ダイオード
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成4年9月14日
【手続補正1】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図10
【補正方法】変更
【補正内容】
【図10】
【手続補正2】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図11
【補正方法】変更
【補正内容】
【図11】

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 回路1(内部抵抗の小さい回路)と、回
    路2(内部抵抗の中ぐらいの回路)と、回路3(内部抵
    抗の大きい回路)を並列に接続した過電流保護装置。
  2. 【請求項2】 回路1の端子Aと、回路2の端子Dと、
    回路3の端子Hを端子Kに接続し、回路1の端子Bと、
    回路2の端子Eと、回路3の端子Iをコイル31に接続
    し、コイル31の他端を端子Lに接続し、回路1の端子C
    と、回路2の端子Fを端子Lに接続し、回路2の端子G
    をダイオード32のアノードに接続し、ダイオード32のカ
    ソードを回路3の端子Jに接続した請求項1記載の過電
    流保護装置。
  3. 【請求項3】 N型ディプレッション形MOS半導体1
    のソースとP型ディプレッション形MOS半導体2のソ
    ースを接続し、N型ディプレッション形MOS半導体1
    のゲートに抵抗3,4を接続し、抵抗3の他端はN型デ
    ィプレッション形MOS半導体1のドレインに接続し、
    抵抗4の他端は端子Cに接続し、P型ディプレッション
    形MOS半導体2のゲートに抵抗6,7,8を接続し、
    抵抗6の他端はツェナー・ダイオード5のアノードに接
    続し、ツェナー・ダイオード5のカソードと、抵抗7の
    他端はN型ディプレッション形MOS半導体1のドレイ
    ンに接続し、抵抗8の他端はP型ディプレッション形M
    OS半導体2のドレインに接続し、そして、N型ディプ
    レッション形MOS半導体1のドレインをプラスの端子
    Aとし、P型ディプレッション形MOS半導体2のドレ
    インをマイナスの端子Bとした請求項1記載の回路1。
  4. 【請求項4】 N型ディプレッション形MOS半導体10
    のソースに抵抗11を接続し、抵抗11の他端はP型ディプ
    レッション形MOS半導体12のソースに接続し、N型デ
    ィプレッション形MOS半導体10のゲートに抵抗13,14
    を接続し、抵抗13の他端はN型ディプレッション形MO
    S半導体10のドレインに接続し、抵抗14の他端はツェナ
    ー・ダイオード15のカソードに接続し、ツェナー・ダイ
    オード15のアノードは端子Fに接続し、P型ディプレッ
    ション形MOS半導体12のゲートに抵抗18,19を接続
    し、抵抗18の他端はツェナー・ダイオード17のアノード
    に接続し、ツェナー・ダイオード17のカソードは、N型
    ディプレッション形MOS半導体10のドレインに接続
    し、抵抗19の他端はP型ディプレッション形MOS半導
    体12のドレインに接続し、N型ディプレッション形MO
    S半導体10のゲートとP型ディプレッション形MOS半
    導体12のゲートの間にコンデンサー16を接続し、そし
    て、N型ディプレッション形MOS半導体10のドレイン
    をプラスの端子Dとし、P型ディプレッション形MOS
    半導体12のドレインをマイナスの端子Eとし、ツェナー
    ・ダイオード15のカソードを端子Gとした請求項1記載
    の回路2。
  5. 【請求項5】 P型エンハンスメント形MOS半導体20
    のドレインに抵抗21を接続し、抵抗21の他端を端子Iと
    し、P型エンハンスメント形MOS半導体20のゲートに
    ツェナー・ダイオード24のアノードと抵抗25とN型ディ
    プレッション形MOS半導体27のドレインを接続し、ツ
    ェナー・ダイオード24のカソードと抵抗25の他端はP型
    エンハンスメント形MOS半導体20のソースに接続し、
    N型ディプレッション形MOS半導体27のソースはP型
    ディプレッション形MOS半導体28のソースに接続し、
    P型ディプレッション形MOS半導体28のドレインに抵
    抗29を接続し、抵抗29の他端は端子Iに接続し、N型デ
    ィプレッション形MOS半導体27のゲートに抵抗26を接
    続し、抵抗26の他端はP型ディプレッション形MOS半
    導体28のドレインに接続し、P型ディプレッション形M
    OS半導体28のゲートに抵抗22とコンデンサー23を接続
    し、抵抗22の他端はP型エンハンスメント形MOS半導
    体20のソースに接続し、コンデンサー23の他端は端子I
    に接続し、そして、P型エンハンスメント形MOS半導
    体20のソースをプラスの端子Hとし、端子Iをマイナス
    の端子とし、P型エンハンスメント形MOS半導体20の
    ドレインを端子Jとした請求項1記載の回路3。
  6. 【請求項6】 交流回路にブレーカを接続し、交流を全
    波整流した直流回路に過電流保護装置を接続し、電流で
    回路を開くコイルは交流回路に接続し、電圧で回路を開
    くコイルは、直流回路の過電流保護装置の端子K,L間
    に接続したブレーカと過電流保護装置。
  7. 【請求項7】 交流電流で作動するコイルと直流電圧で
    作動するコイルの2個のコイルをもった請求項6記載の
    ブレーカ。
  8. 【請求項8】 交流回路にブレーカと、2個の過電流保
    護装置を逆直列に接続したものを接続し、電流で回路を
    開くコイルは交流回路に接続し、電圧で回路を開くコイ
    ルは、2個逆直列に接続した過電流保護装置の両端の端
    子K,K’間に接続したブレーカと過電流保護装置。
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