JPH07131066A - 発光ダイオード - Google Patents

発光ダイオード

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JPH07131066A
JPH07131066A JP29454793A JP29454793A JPH07131066A JP H07131066 A JPH07131066 A JP H07131066A JP 29454793 A JP29454793 A JP 29454793A JP 29454793 A JP29454793 A JP 29454793A JP H07131066 A JPH07131066 A JP H07131066A
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JP
Japan
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light emitting
light
substrate
emitting layer
emitting diode
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Pending
Application number
JP29454793A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroaki Yamazaki
浩昭 山崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH07131066A publication Critical patent/JPH07131066A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/20Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/58Optical field-shaping elements
    • H01L33/60Reflective elements

Landscapes

  • Led Device Packages (AREA)
  • Led Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 LEDから射出される光の光量の低下を防止
する一方で指向性を改善する。 【構成】 LEDの基板1の表面から発光層4を含む深
さ位置までテーパ状の溝6を形成し、このテーパ状溝6
の発光層に対向される側の面に反射膜9を形成する。発
光層4で発光された光のうち、表面方向に向けられた光
はそのまま射出され、横方向に向けられた光はテーパ状
溝6の斜面から射出された後、対向する斜面の反射膜9
によって反射され、LEDの表面側に向けられる。これ
により、光の殆ど全てを表面方向に射出させ、LEDの
発光の指向性を改善する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は発光ダイオード(以下、
LEDと略称する)に関し、特に発光の指向性を改善し
たLEDに関する。
【0002】
【従来の技術】従来の一般的なLEDの一例を図4に示
す。図は化合物半導体で構成されるLEDであり、21
はp型GaAs基板、22はp型GaAlAsエピタキ
シャル層、23はp型GaAlAs活性層、24はn型
GaAlAsエピタキシャル層である。また、25は表
面電極、26は裏面電極、27はシリコン酸化膜であ
る。このLEDではpn接合が構成されるn型GaAl
Asエピタキシャル層24が発光層として構成され、こ
の発光層24から光が発光される。また、この発光層2
4が含まれる領域はエッチング処理によってメサ型に形
成されており、発光層24で発光された光をその表面及
びメサ部の斜面から射出するように構成される。
【0003】しかしながら、このLEDでは、発光され
た光は素子の表面からは垂直上方に向けて射出され、メ
サ部の斜面からは斜め方向に向けて射出されるため、全
体として拡散状態となり、特定の指向性を得ることはで
きない。このため、この種のLEDを例えばフォトイン
タラプタ等の指向性が要求される光学装置の発光素子と
して構成する場合に、反射鏡や集光レンズ等を付設して
その指向性を改善する必要があり、この種の光学装置の
特に発光部の構造が複雑化されるという問題がある。
【0004】そこで、従来では、図5に示すLEDが提
案されている。このLEDは、特開平1−110781
号公報に記載されているものであり、基板31にダブル
ヘテロ接合層32,33を形成するとともに、この層3
2,33に環状のU溝34を形成して溝内に発光領域a
を形成し、かつ基板側と接合層表面側に電極35,36
を形成したものである。37は絶縁膜である。このLE
Dでは、発光領域aで発光された光を基板31側に向け
て射出させるように構成することで、基板31の底面か
ら垂直方向に向けて光を射出することが可能となり、発
光の指向性を改善することが可能となる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この図
5に示すLEDでは、基板31を通して光を射出してい
るため、基板31の光透過率によって射出される光量が
低下され易い。また、発光領域で発光された光の一部は
広がりながら基板31を通過するために、これらの光は
基板の側面方向に向けられることになり、基板31の底
面から垂直方向に射出される光量が低減され易いという
問題がある。本発明の目的は、発光された光の指向性を
改善する一方で射出される光の光量の低下を防止したL
EDを提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、基板の表面か
ら発光層を含む深さ位置までテーパ状の溝を形成し、こ
のテーパ状溝の発光層に対向される側の面に反射膜を形
成した構成とする。例えば、平面形状が環状をした断面
形状がV字状の溝を形成し、このV溝により形成される
斜面のうち、発光層側の斜面にシリコン酸化膜等の光透
過性の膜を形成し、これと対向する側の斜面にアルミニ
ウム膜等の光反射膜を形成する。また、基板の裏面を研
磨して基板厚さを薄くし、或いは基板の裏面に光反射体
を配設することが好ましい。
【0007】
【作用】本発明によれば、発光層で発光された光のう
ち、横方向に向けられた光はテーパ状溝の斜面から射出
された後、対向する斜面の反射膜によって反射され、L
EDの表面側に向けられ、光の殆ど全てを表面方向に射
出させ、LEDの発光の指向性を改善する。
【0008】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。図1(a)および(b)は本発明の一実施例の平面
図とその断面図である。同図において、1は薄く形成さ
れたp型GaAs基板、2はp型GaAlAsエピタキ
シャル層、3はp型GaAlAs活性層、4はn型Ga
AlAsエピタキシャル層であり、多層構造が形成され
る。また、その上面には層間絶縁膜としてのシリコン酸
化膜5が形成される。そして、この多層構造の表面には
円環状のV溝6が形成され、このV溝6によって発光層
としてのn型GaAlAsエピタキシャル層4がメサ型
に形成される。
【0009】そして、前記V溝6の発光層4側の斜面か
らその表面にわたってシリコン酸化膜7が形成され、か
つ上面位置には前記発光層4に電気接続される表面電極
8が形成される。また、前記V溝6の外側の斜面にはア
ルミニウム膜により反射膜9が形成される。なお、前記
p型GaAs基板1の裏面には裏面電極10が形成され
る。そして、この実施例では前記裏面電極10を金属ロ
ウ材11によりリードフレーム12に接合し、LEDを
このリードフレーム12に搭載している。
【0010】この構成のLEDによれば、発光層4で発
光された光のうち、表面方向に向けて発光される光はそ
のままシリコン酸化膜5を透過して真直に射出される。
また、基板の平面方向に沿って横方向に向けて発光され
る光は、V溝6の斜面のシリコン酸化膜7を透過したの
ち、この斜面に対向される反対側の斜面に設けた反射膜
9に投射され、ここで反射される。このとき、V溝6の
各斜面の傾斜角度を適宜に設定しておくことにより、反
射膜9で反射された光をLEDの表面方向に向けて反射
させることができる。
【0011】更に、発光層4からは基板1に向けて発光
される光も存在するが、基板1が薄く形成されているた
めに、この光は光量低下が少ない状態で基板1を透過
し、その上でロウ材11やリードフレーム12の搭載面
で反射されてLEDの表面側に向けられる。したがっ
て、このLEDでは、発光層4からの光は全てLEDの
表面方向に向けて射出されることになり、指向性が改善
されるとともに、光量の低下が抑制され、効率の高い発
光素子として利用することができる。
【0012】図2は前記LEDの製造方法を工程順に示
す断面図である。先ず、図2(a)のように、通常の厚
さに形成されたp型GaAs基板1上にp型GaAlA
sエピタキシャル層2を20μm程度、p型GaAlA
s活性層3を1〜2μm程度、n型GaAlAsエピタ
キシャル層4を30μm程度の厚さに順次積層する。更
に、このn型GaAlAsエピタキシャル層4の表面に
スパッタ法によりシリコン酸化膜5を2000Å程度の
厚さに形成する。
【0013】次いで、図2(b)のように、フォトレジ
ストPR1をマスクにして等方性エッチングを行い、前
記n型GaAlAsエピタキシャル層4からp型GaA
lAs活性層3に到る深さのV溝6を平面形状が円環状
となるように形成する。そして、前記フォトレジストP
R1を除去した後、図2(c)のように、スパッタ法に
より全面にシリコン酸化膜7を1000Åの厚さに形成
し、かつフォトレジストPR2をマスクにしてV溝6の
外側斜面のシリコン酸化膜7をエッチング除去する。こ
のとき、表面側のシリコン酸化膜5を部分的にエッチン
グし、コンタクトホール5aを開設する。
【0014】次いで、前記フォトレジストPR2を除去
した後、図2(d)のように、全面にアルミニウム膜を
1〜3μm程度の厚さに形成し、かつフォトレジストP
R3をマスクにしてアルミニウム膜を選択エッチングす
ることで、V溝6の外側斜面とコンタクトホール5aの
各領域にのみアルミニウム膜を残し、反射膜9と表面電
極8とを形成する。その後、前記基板1が数μm程度の
厚さになるまでその裏面側を研磨し、かつ裏面にアルミ
ニウムをスパッタ法により形成し、これを前記V溝6に
対応する円環状にエッチングして裏面電極10を形成
し、これにより、図1のLEDが完成される。
【0015】図3は本発明の第2実施例を示しており、
この実施例ではp型GaAlAs活性層を形成していな
い例である。また、基板1は特に薄く形成してはいない
が、前記活性層を有していない分、発光層4に対する基
板側の厚さを低減することができる。そして、基板1の
裏面の全面にアルミニウム膜で裏面電極10Aを形成し
ているため、発光層4から基板1に透過されてくる光の
殆ど全てをこの裏面電極10Aで反射させて表面側に向
けることが可能となり、指向性の改善と光量の低下防止
をそれぞれ好適に行うことができる。なお、V溝は、断
面がテーパ状をしていれば、U溝或いは他の形状の溝で
あってもよい。また、平面形状は矩形、多角形等、種々
の形状が採用できる。
【0016】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、LEDの
基板の表面から発光層を含む深さ位置までテーパ状の溝
を形成し、このテーパ状溝の発光層に対向される側の面
に反射膜を形成しているので、発光層で発光された光の
うち、特に横方向に向けられた光はテーパ状溝の斜面か
ら射出された後、対向する斜面の反射膜によって反射さ
れ、LEDの表面側に向けられるため、発光された光を
LEDの表面方向に集め、その指向性を改善することが
できる効果がある。また、基板の裏面側に反射体を配置
することで、発光された光のうち、裏面側に向けられた
光を反射体で反射させて表面側に向けることができ、指
向性を更に改善する。更に、発光層に対して基板側の厚
さを薄くすることで、裏面側を透過する際の光の光量低
下を抑制し、発光される光の光量の減少を抑制すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のLEDの一実施例の平面図と断面図で
ある。
【図2】図1のLEDを製造工程順に示す断面図であ
る。
【図3】本発明の第二実施例の断面図である。
【図4】従来のLEDの一例の断面図である。
【図5】従来のLEDの改善例の断面図である。
【符号の説明】
1 p型GaAs基板 2 p型GaAlAsエピタキシャル層 3 p型GaAlAs活性層 4 n型GaAlAsエピタキシャル層(発光層) 6 V溝 7 シリコン酸化膜 8 表面電極 9 反射膜 10 裏面電極

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板上に半導体層を多層に形成し、その
    多層半導体層の表面側に発光層を設けた発光ダイオード
    において、その表面から前記発光層を含む深さ位置まで
    テーパ状の溝を形成し、このテーパ状溝の前記発光層に
    対向される側の面に反射膜を形成したことを特徴とする
    発光ダイオード。
  2. 【請求項2】 平面形状が環状をしたV溝を形成し、こ
    のV溝により形成される斜面のうち、発光層側の斜面に
    光透過性の膜を形成し、これと対向する側の斜面に光反
    射膜を形成してなる請求項1の発光ダイオード。
  3. 【請求項3】 基板の裏面を研磨して基板厚さを薄くし
    てなる請求項1または2の発光ダイオード。
  4. 【請求項4】 基板の裏面に光反射体を配設してなる請
    求項1ないし3のいずれかの発光ダイオード。
JP29454793A 1993-10-30 1993-10-30 発光ダイオード Pending JPH07131066A (ja)

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