JPH07105620B2 - チップ状電子部品の自動選別供給装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、チップ抵抗器等のチッ
プ状電子部品が正常であるか否かについて選別し、正常
であるチップ状電子部品をテーピング等の次工程へ供給
するために用いるチップ状電子部品の自動選別供給装置
に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、この種のチップ状電子部品の自動
選別供給装置としては、例えば、特開昭６４−３８３２
０号公報、実開平１−１０９０１６号公報等に記載され
ているような構成が知られている。

【０００３】この従来のチップ状電子部品の自動選別供
給装置の概略について説明すると、チップ状電子部品が
パーツフィーダの吐出圧力により直線状の供給路に連続
的に供給されると、先頭のチップ状電子部品を第１のス
トッパの前進により停止させる。この先頭のチップ状電
子部品に間歇回転する搬送ディスクの収納溝が対向する
と、２番目のチップ状電子部品を第２のストッパの前進
により停止させ、第１のストッパの後退により先頭のチ
ップ状電子部品を解放する。この解放したチップ状電子
部品はエアの噴出、若しくは真空装置による吸引により
搬送ディスクの収納溝に供給する。供給後、第１のスト
ッパを前進させるとともに、第２のストッパを後退さ
せ、２番目のチップ状電子部品を解放してパーツフィー
ダの吐出圧力により前進させ、第１のストッパにより停
止させる。以下、上記動作を繰り返すことにより、チッ
プ状電子部品を間歇回転する搬送ディスクの収納溝に順
次供給することができる。そして、搬送ディスクの間歇
回転により収納溝に供給されたチップ状電子部品を搬送
する途中で、その抵抗値等の電気的特性を測定し、所望
の電気的特性を有する正常なチップ状電子部品のみをテ
ーピング等の次工程へ供給する。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような従来例の構成では、搬送ディスクを必要とし、こ
の搬送ディスクは高価であるばかりでなく、損傷、消耗
等による交換サイクルが速いため、非経済的であり、し
かも、稼働効率が劣る。また、搬送ディスクの交換の際
に厳格な調整精度が要求されるため、交換に伴うトラブ
ルが発生しやすい。また、チップ状電子部品を直線状の
供給路から間歇回転する搬送ディスクの収納溝に移し替
えるため、例えば、前工程で割れたチップ状電子部品が
供給路内に供給されると、この分割片とその次のチップ
状電子部品の前側部が共に搬送ディスクの収納溝に挿入
され、チップ状電子部品の後側部は供給路内に残され
る。すなわち、分割片の次のチップ状電子部品は搬送デ
ィスクの収納溝と供給路に跨った状態となる。この状態
で搬送ディスクを回転させると、収納溝と供給路に跨っ
ているチップ状電子部品が破壊されることは勿論のこ
と、搬送ディスクや供給路等を損傷するおそれがある。
このような供給トラブルはチップ状電子部品の割れの場
合に限らず、寸法、形状等の不良の場合にも生じる。そ
こで、このような供給トラブルを回避するため、センサ
によりチップ状電子部品の供給状態を検出し、搬送ディ
スクの回転を停止し、分割片等の除去作業を行う必要が
あり、稼働効率が劣る。この問題を解消するため、本出
願人は、先に特開平４−１０１９２３号公報に記載され
ているように供給トラブルを検出すると、供給トラブル
の原因となっているチップ状電子部品の分割片等を吸引
路に強制的に吸引して排出するようにした構成を提供し
た。このような構成を備えると、稼働効率の低下を防止
することはできるが、構成が複雑となるばかりでなく、
高価となる。また、搬送ディスクの収納溝に収納された
チップ状電子部品は、搬送ディスクの間歇回転により搬
送され、停止された直後に慣性力と遠心力が作用して収
納溝内で振れるため、誤測定等を招きやすい。更に、チ
ップ状電子部品を搬送ディスクの収納溝に分離させて収
納し、搬送するため、搬送速度に劣り、しかも、装置全
体の搬送工程が長く、構成が複雑となり、高価となる。

【０００５】本発明は、上記のような従来の問題を解決
するものであり、高価な搬送ディスクを不要とし、チッ
プ状電子部品を移し替えることなく、直線的に搬送する
間に正常なチップ状電子部品と正常でないチップ状電子
部品の選別を行うようにし、しかも、チップ状電子部品
の電気的特性を測定するための端子によりストッパを兼
用するようにし、したがって、構成の簡素化、低コスト
化、消耗部品および交換サイクルの飛躍的減少、誤測定
の防止、生産性向上、ランニングコストの低減等を図る
ことができるようにしたチップ状電子部品の自動選別供
給装置を提供することを目的とするものである。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明の技術的手段は、チップ状電子部品を直線状に
供給するための供給路と、この供給路の途中で進退可能
に設けられ、前進位置で上記供給路内を移送されるチッ
プ状電子部品を停止させ、後退位置でチップ状電子部品
を解放するストッパと、このストッパを進退させる手段
と、上記ストッパに対するチップ状電子部品の供給方向
の上流側で進退可能に設けられ、前進位置でチップ状電
子部品を停止させ、後退位置でチップ状電子部品を解放
し、上記チップ状電子部品の停止状態でその電気的特定
を測定するための測定端子と、この測定端子を少なくと
も上記ストッパが後退し、測定後のチップ状電子部品を
解放しているときにその後側のチップ状電子部品を停止
し得るように進退させる手段と、上記ストッパに対する
チップ状電子部品の供給方向の下流側で上記供給路に連
通するように形成された排出口と、この排出口の閉塞位
置と開放位置とに進退可能に設けられた排出ゲートと、
上記ストッパから解放されたチップ状電子部品の選別デ
ータが正常でない場合に上記排出ゲートを後退させるよ
うに進退させる手段と、上記ストッパから開放されたチ
ップ状電子部品を、上記排出口が閉じている場合には下
流側に吸引し、上記排出口が開放されている場合にはこ
の排出口から吸引する吸引手段とを備えたものである。

【０００７】または上記技術的手段に、ストッパにより
停止される先頭のチップ状電子部品の有無を確認する検
出手段を備えたものである。

【０００８】または上記各技術的手段に、測定端子に対
するチップ状電子部品の供給方向の上流側でチップ状電
子部品の表裏を検出する手段を備えたものである。

【０００９】そして、上記各技術的手段において、吸引
手段が、一つの真空ポンプと、この真空ポンプによる吸
引を供給路側と排出口側とに切り替える切り替え手段と
を備えるようにし、また、隣接する２個のチップ状電子
部品の両側の電極にそれぞれ一対の測定端子を接触さ
せ、４端子測定回路を、隣接する２個のチップ状電子部
品の互いに接触する電極に接触され、電流の流れる測定
端子が各内部定電流源のＯｖ側で共通接続されるように
構成するのが好ましい。

【００１０】

【作用】本発明は、上記構成により、チップ状電子部品
が供給路を直線状で連続的に供給されると、ストッパの
前進によりチップ状電子部品を停止させ、測定端子を前
進させて上流側のチップ状電子部品を停止状態に保持す
るとともに、その電気的特性を測定する。この間、スト
ッパにより停止されていたチップ状電子部品が正常であ
る場合には、ストッパの後退により解放されたチップ状
電子部品を吸引手段により下流側に吸引し、次工程へ供
給する。一方、ストッパにより停止されていたチップ状
電子部品が正常でない場合には、排出ゲートを後退させ
て排出口を開放し、ストッパの後退により解放されたチ
ップ状電子部品を吸引手段により吸引して排出口から排
出する。このようにしてチップ状電子部品を選別する
と、ストッパを前進させ、測定端子を後退させ、測定端
子により電気的特性が測定されたチップ状電子部品を解
放して前進させ、ストッパにより停止させる。このよう
に高価な搬送ディスクを不要とし、チップ状電子部品を
移し替えることなく、直線的に搬送する間に正常なチッ
プ状電子部品と正常でないチップ状電子部品とを選別し
て供給することができ、しかも、測定端子によりストッ
パを兼用することができる。

【００１１】また、ストッパにより停止される先頭のチ
ップ状電子部品の有無を検出手段により確認することに
より、不存在により選別データが得られていないチップ
状電子部品を次工程へ供給するおそれがなくなる。

【００１２】また、測定端子に対するチップ状電子部品
の供給方向の上流側でチップ状電子部品の表裏を検出手
段により検出するようにすれば、チップ状電子部品を直
線的に搬送する間にその表裏と電気的特性の選別を一度
に行うことができる。

【００１３】

【実施例】以下、本発明の一実施例について図面を参照
しながら説明する。図１ないし図７は本発明の一実施例
におけるチップ状電子部品の自動選別供給装置を示し、
図１は上面案内部材を除去した一部平面図、図２は図１
の中央部縦断面図、図３は図２のＡ−Ａ線に沿う断面
図、図４は図１の要部の拡大図、図５は図３のＢ部拡大
図、図６はチップ状電子部品の排出動作説明用で図２と
同様の断面図、図７は測定回路図である。

【００１４】本実施例においては、図１ないし図７に示
すように、チップ状電子部品として、チップ抵抗器Ｒを
用い、その表裏を検出するとともに、抵抗値を測定して
正常なチップ抵抗器Ｒと正常でないチップ抵抗器Ｒを選
別し、正常なチップ抵抗器Ｒをテーピング工程へ供給す
る場合について説明する。チップ抵抗器Ｒはセラミック
（アルミナ）から成る抵抗素体ｒ１の短辺側の両側に電
極ｒ２が設けられている。

【００１５】基台１上に絶縁材製の底面案内部材２が設
けられ、底面案内部材２上で互いに所望の間隔を置いて
絶縁材製の側面案内部材３、４が設けられ、これら側面
案内部材３、４上に跨って絶縁材製の上面案内部材５が
設けられ、これら底面案内部材２、側面案内部材３、４
および上面案内部材５に囲まれて直線状の供給路６が形
成されている。すなわち、直進フィーダが構成されてい
る。供給路６にはパーツフィーダ（図示省略）からその
吐出圧力と後述する真空ポンプ（図示省略）によるチッ
プ抵抗器Ｒの供給方向の下流側からの吸引力により矢印
Ｘで示すようにチップ抵抗器Ｒが一方の電極ｒ２側を先
頭にして直線状で連続的に供給される。

【００１６】供給路６の途中にストッパ７が設けられ
る。ストッパ７は大径部と小径部とから成り、大径部と
小径部が基台１と底面案内部材２に連通して垂直方向に
形成された大径穴８と小径穴９に摺動可能に挿入されて
いる。ストッパ７の大径部と底面案内部材２との間には
ストッパ７の小径部の外周において圧縮ばね１０が介在
され、この圧縮ばね１０の弾性によりストッパ７が後方
へ加圧され、その先端が小径穴９内に後退され、供給路
６が開放されている。そして、ストッパ７が駆動装置
（図示省略）により圧縮ばね１０の弾性に抗して押圧さ
れると前進し、先端が供給路６内に突出して供給路６を
遮断し、先頭のチップ抵抗器Ｒの電極ｒ２の端面に係合
し、停止させることができる。これとは逆に、ストッパ
７に対する押圧力が解放されると、ストッパ７が圧縮ば
ね１０の弾性により後退し、先頭のチップ抵抗器Ｒを解
放することができる。

【００１７】ストッパ７に対するチップ抵抗器Ｒの供給
方向の上流側にはストッパ７で停止されるチップ抵抗器
Ｒの有無を検出するためのファイバセンサ１１の一側が
上面案内部材５に垂直方向に形成された穴１２に挿入さ
れて固定されている。ファイバセンサ１１の他側は投、
受光器（図示省略）に対向されている。そして、投光器
からファイバセンサ１１を介して投光し、供給路６内に
チップ抵抗器Ｒが供給されていると、この反射光をファ
イバセンサ１１を介して受光器で受光し、チップ抵抗器
Ｒが供給されていることを検出することができる。

【００１８】ストッパ７およびファイバセンサ１１に対
するチップ抵抗器Ｒの供給方向の上流側で第１ないし第
８の計４組の測定端子１３ないし２０が設けられる。各
測定端子１３ないし２０は、先端側が細く形成され、先
端に尖鋭部２１が形成され、基部側に段部２２が形成さ
れ、少なくとも各対向面にポリテトラフルオロエチレン
等から成る絶縁材製シートが被覆されて互いに絶縁され
ている。底面案内部材２には供給路６の下側に位置して
長穴２３が形成され、この長穴２３は供給路６内を供給
されるチップ抵抗器Ｒが落下しないような幅に設定され
ている。第１、第３、第５、第７の測定端子１３、１
５、１７、１９と第２、第４、第６、第８の測定端子１
４、１６、１８、２０とがチップ抵抗器Ｒの供給方向に
沿って両側にそれぞれ直列に並べられ、各測定端子１３
ないし２０の先端部が長穴２３に進退可能に挿入されて
いる。第１と第２の測定端子１３と１４および第３と第
４の測定端子１５と１６の各尖鋭部２１がストッパ７に
より停止されたチップ抵抗器Ｒの次、すなわち、２番目
のチップ抵抗器Ｒにおける前側（下流側）および後側
（上流側）に位置する電極ｒ２に対応し、第５と第６の
測定端子１７と１８および第７と第８の測定端子１９と
２０の各尖鋭部２１が３番目のチップ抵抗器Ｒにおける
前側（下流側）および後側（上流側）に位置する電極ｒ
２に対応し、第１ないし第４の測定端子１３ないし１６
による４端子測定法により２番目のチップ抵抗器Ｒの電
気的特性である抵抗値を測定し、第５ないし第８の測定
端子１７ないし２０による４端子測定法により３番目の
チップ抵抗器Ｒの抵抗値を測定するように設定されてい
る。すなわち、図７から明らかなように、２番目のチッ
プ抵抗器Ｒの前後の電極ｒ２に接触する測定端子１３と
１５が電圧計２４に接続され、３番目のチップ抵抗器Ｒ
の前後の電極ｒ２に接触する測定端子１７と１９が電圧
計２５に接続され、他方の測定端子１４と１６、１８と
２０がそれぞれ各内部定電流源２６、２７に接続され、
かつ２番目と３番目の隣接する２個のチップ抵抗器Ｒの
互いに接触する電極ｒ２に接触する測定端子１６と１８
が内部定電流源２６、２７のＯｖ側で共通接続されてい
る。これにより測定端子１４、１６間および２０、１８
間に測定電流が流れるだけであるので、電圧計２４、２
５により測定端子１３、１５間および１７、１９間の電
圧降下、すなわち、２番目と３番目のチップ抵抗器Ｒの
抵抗値を正確に測定することができる。各測定端子１３
ないし２０はホルダ２８に前進、後退可能に支持され、
各測定端子１３ないし２０の段部２２とホルダ２８の下
端内面との間に衝撃吸収用のばね２９が介在されてい
る。そして、ホルダ２８および測定端子１３〜２０が駆
動装置（図示省略）により前進され、若しくは後退さ
れ、前進により尖鋭部２１が２番目と３番目のチップ抵
抗器Ｒの電極ｒ２を押圧し、これら２番目と３番目のチ
ップ抵抗器Ｒを上面案内部材５に対して押圧して停止さ
せるとともに、上記のように２番目と３番目のチップ抵
抗器Ｒの抵抗値を測定することができる。このとき、衝
撃吸収用のばね２９によりチップ抵抗器Ｒの損傷を防止
することができる。

【００１９】測定端子１３〜２０に対するチップ抵抗器
Ｒの供給方向の上流側には供給路６に沿って供給される
チップ抵抗器Ｒの表裏を検出するためのファイバセンサ
３０の一側が上面案内部材５に垂直方向に形成された穴
３１に挿入されて固定されている。ファイバセンサ３０
の他側は投、受光器（図示省略）に対向されている。そ
して、投光器からファイバセンサ３０を介して投光し、
供給路６内に供給されていると、この反射光をファイバ
センサ３０を介して受光器で受光する。このとき、チッ
プ抵抗器Ｒの表面は黒色の絶縁コーティングが施され、
裏面はセラミック（アルミナ）の地肌が露出しているの
で、その表裏面の性状の差異により表裏を検出すること
ができる。

【００２０】ストッパ７に対するチップ抵抗器Ｒの供給
方向の下流側で底面案内部材２に供給路６に連通するよ
うに排出口３２が形成され、基台１に排出口３２に連通
する垂直方向の穴３３が形成され、穴３３に排出ゲート
３４が摺動可能に支持されている。そして、駆動装置
（図示省略）により排出ゲート３４が前進されることに
より、排出口３２が閉塞され、排出ゲート３４が後退さ
れることにより、排出口３２が開放されるようになって
いる。基台１には吸引穴３５が形成されている。吸引穴
３５はその一側が底面案内部材２の下面に沿うように形
成されて排出口３２に連通され、他側が垂直方向に形成
されている。吸引穴３５の垂直部に吸引パイプ３６の一
端が挿入されて固定されている。

【００２１】供給路６は下流側から真空ポンプにより吸
引され、供給路６における排出口３２部は真空ポンプに
より排出口２５から吸引される。上記真空ポンプは一つ
で共用され、電磁弁により切り替えられて使用される。
チップ抵抗器Ｒにおけるファイバセンサ３０による検出
データ、測定端子１３ないし２０による測定データは、
チップ抵抗器Ｒが先頭に位置し、ストッパ７から解放さ
れるまで選別データとして制御装置（図示省略）に記憶
される。ファイバセンサ３０によりチップ抵抗器Ｒの表
裏を検出し、測定端子１３ないし２０によりチップ抵抗
器Ｒの抵抗値を測定した結果、チップ抵抗器Ｒが正常向
きであるとともに、正常値である場合、すなわち、正常
である場合、制御装置は排出ゲート３４を排出口３２の
閉塞状態に前進させるように駆動装置を制御し、真空ポ
ンプによる吸引が供給路６側になるように電磁弁を切り
替え制御するとともに、ストッパ７の押圧力を解放する
ように駆動装置を制御する。一方、検出、測定の結果、
チップ抵抗器Ｒが逆向きであり、または規格外であり、
または割れて分割されている場合、すなわち、正常でな
い場合、制御装置は排出ゲート３４を排出口３２の開放
状態に後退させるように駆動装置を制御し、真空ポンプ
による吸引が排出口３２側になるように電磁弁を切り替
え制御するとともに、ストッパ７の押圧力を解放するよ
うに駆動装置を制御する。したがって、ストッパ７から
解放されたチップ抵抗器Ｒは、正常である場合、真空ポ
ンプによる吸引により供給路６内を直線状に吸引されて
矢印Ｙで示すように次のテーピング工程へ供給され、正
常でない場合、真空ポンプによる吸引により矢印Ｚで示
すように排出口３２から吸引穴３５、吸引パイプ３６を
経て供給路６外へ排出される。また、運転開始、チップ
抵抗器Ｒの変更、供給トラブル等によりファイバセンサ
１１を介してチップ抵抗器Ｒを検出することができなか
った場合には、表裏の検出、抵抗値の測定が行われてお
らず、選別データが得られていないので、先頭から４番
目までのチップ抵抗器Ｒは、正常でない場合と同様に、
矢印Ｚで示すように排出口３２から吸引穴３５、吸引パ
イプ３６を経て供給路６外へ排出される。

【００２２】以上の構成において、以下、その動作につ
いて説明する。パーツフィーダの吐出圧力と真空ポンプ
の駆動による吸引力によりチップ抵抗器Ｒが直線状の供
給路６に連続して直列状に供給される。供給路６内のチ
ップ抵抗器Ｒの有無についてはファイバセンサ１１と前
工程パーツフィーダ下限センサにより確認する。先頭の
チップ抵抗器Ｒが圧縮ばね１０の弾性に抗して供給路６
の遮断位置に前進されているストッパ７により停止され
る。先頭のチップ抵抗器Ｒの存在をファイバセンサ１１
を介して検出すると、上記のように第１ないし第８の測
定端子１３ないし２０を同時に上昇させ、各尖鋭部２１
を２番目と３番目のチップ抵抗器Ｒの電極ｒ２に当接さ
せ、これらのチップ抵抗器Ｒを上面案内部材５に押し付
けて停止状態に保持する。そして、上記のように各チッ
プ抵抗器Ｒの抵抗値を測定する。また、ファイバセンサ
３０を介して４番目のチップ抵抗器Ｒの表裏を検出す
る。上記のように測定端子１３ないし２０により２番目
と３番目のチップ抵抗器Ｒを停止状態に保持すると、ス
トッパ７等の駆動を制御するが、運転開始時において、
先頭のチップ抵抗器Ｒについてはその表裏の検出および
抵抗値の測定を行っておらず、選別データがないので、
上記のチップ抵抗器Ｒが供給されていなかった場合と同
様に、排出ゲート３４を後退させて排出口３２を開放
し、真空ポンプによる吸引を供給路６側から排出口３２
側に切り替え、ストッパ７を圧縮ばね１０の弾性により
供給路６の開放位置に後退させ、先頭のチップ抵抗器Ｒ
を解放する。これにより先頭のチップ抵抗器Ｒを排出口
３２、吸引穴３５および吸引パイプ３６を経て供給路６
外へ排出する。

【００２３】排出後、ファイバセンサ１１を介して先頭
のチップ抵抗器Ｒが通過したことを確認すると、ストッ
パ７を圧縮ばね１０の弾性に抗して供給路６の遮断位置
に前進させ、第１ないし第８の測定端子１３ないし２０
を同時に後退させ、２番目と３番目のチップ抵抗器Ｒを
解放し、２番目以降のチップ抵抗器Ｒを１個分前進さ
せ、２番目のチップ抵抗器Ｒをストッパ７により停止さ
せる。２番目のチップ抵抗器Ｒの存在をファイバセンサ
１１を介して検出すると、第１ないし第８の測定端子１
３ないし２０を同時に上昇させ、各尖鋭部２１を３番目
と４番目のチップ抵抗器Ｒの電極ｒ２に当接させ、これ
らのチップ抵抗器Ｒを上面案内部材５に押し付けて停止
状態に保持する。そして、上記のように各チップ抵抗器
Ｒの抵抗値を測定する。また、ファイバセンサ３０を介
して５番目のチップ抵抗器Ｒの表裏を検出する。２番目
のチップ抵抗器Ｒがあらかじめファイバセンサ３０を介
して正常向きであると検出されるとともに、２番目のチ
ップ抵抗器Ｒの抵抗値が所定の抵抗値であり、選別デー
タが正常である場合には、上記のように測定端子１３な
いし２０により３番目と４番目のチップ抵抗器Ｒを停止
状態に保持すると、排出ゲート３４を前進させて閉じ、
真空ポンプによる吸引を排出口３２側から供給路６側へ
切り替え、ストッパ７を圧縮ばね１０の弾性により供給
路６の開放位置に後退させ、２番目のチップ抵抗器Ｒを
解放する。これにより２番目のチップ抵抗器Ｒを供給路
６内で前進させ、次のテーピング工程へ供給する。一
方、２番目のチップ抵抗器Ｒの選別データが正常でない
場合には、上記のように測定端子１３ないし２０により
３番目と４番目のチップ抵抗器Ｒを停止状態に保持する
と、排出ゲート３４を後退させ、排出口３２を開放させ
た状態に保持するとともに、真空ポンプによる吸引を排
出口３２側に保持し、ストッパ７を圧縮ばね１０の弾性
により供給路６の開放位置に後退させ、先頭のチップ抵
抗器Ｒを解放する。これにより２番目のチップ抵抗器Ｒ
を排出口３２、吸引穴３５および吸引パイプ３６を経て
供給路６外へ排出する。

【００２４】以下、上記と同様の動作を繰り返すことに
より、正常なチップ抵抗器Ｒと正常でないチップ抵抗器
Ｒとを選別し、正常なチップ抵抗器Ｒのみを次のテーピ
ング工程へ供給し、正常でないチップ抵抗器Ｒを排出す
ることができる。

【００２５】なお、上記実施例では、パーツフィーダか
ら供給路６に供給される先頭のチップ抵抗器Ｒからファ
イバセンサ３０を介して表裏を検出するようにしている
が、４番目のチップ抵抗器Ｒからその表裏を検出する場
合には、３番目のチップ抵抗器Ｒまでは排出口３２から
排出することになる。また、表裏が逆向きであることに
より排出口３２から排出されたチップ抵抗器Ｒについて
は、排出後、パーツフィーダに戻すこともできる。ま
た、排出口３２等を複数箇所に設け、異なる選別データ
ごとに振り分けて排出することもでき、また、排出口３
２が１箇所である場合には、排出後、選別データごとに
振り分けることもできる。また、排出口３２から正常で
ないチップ抵抗器Ｒを排出した後、一旦、排出ゲート３
４により排出口３２を閉塞するとともに、真空ポンプに
よる吸引を供給路６側に切り替え、常に正常なチップ抵
抗器Ｒの供給状態に設定するようにしてもよい。また、
上記実施例では、ファイバセンサ１１を介して投、受光
する反射型に構成してチップ抵抗器Ｒの有無を確認する
場合について説明したが、ファイバセンサ１１を介して
投光し、チップ抵抗器Ｒの反対側で受光する透過型に構
成してチップ抵抗器Ｒの有無を確認することもできる。
しかし、上記のように反射型に構成し、底面案内部材２
にチップ抵抗器Ｒにおける素体ｒ１の裏面と同じ白色セ
ラミック材を用いることにより、チップ抵抗器Ｒの有無
に加えてその表裏をも確認することができる。更にはフ
ァイバセンサ３０等のチップ抵抗器Ｒの検出手段はなく
てもよく、テーピング等の次工程の直前に検出して選別
するようにしてもよい。本発明は、このほか、その基本
的技術思想を逸脱しない範囲で種々設計変更することが
できる。

【００２６】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、チ
ップ状電子部品が供給路を直線状で連続的に供給される
と、ストッパの前進によりチップ状電子部品を停止さ
せ、測定端子を前進させて上流側のチップ状電子部品を
停止状態に保持するとともに、その電気的特性を測定す
る。この間、ストッパにより停止されていたチップ状電
子部品が正常である場合には、ストッパの後退により解
放されたチップ状電子部品を吸引手段により下流側に吸
引し、次工程へ供給する。一方、ストッパにより停止さ
れていたチップ状電子部品が正常でない場合には、排出
ゲートを後退させて排出口を開放し、ストッパの後退に
より解放されたチップ状電子部品を吸引手段により吸引
して排出口から排出する。このようにしてチップ状電子
部品を選別すると、ストッパを前進させ、測定端子を後
退させ、測定端子により電気的特性が測定されたチップ
状電子部品を解放して前進させ、ストッパにより停止さ
せる。このように高価な搬送ディスクを不要とし、チッ
プ状電子部品を移し替えることなく、直線的に搬送する
間に正常なチップ状電子部品と正常でないチップ状電子
部品とを選別して供給することができ、しかも、測定端
子によりストッパを兼用することができる。したがっ
て、構成の簡素化、低コスト化、消耗部品および交換サ
イクルの飛躍的減少、生産性向上、ランニングコストの
低減等を図ることができるとともに、チップ状電子部品
の振れをなくして誤測定の防止を図ることができる。

【００２７】また、ストッパにより停止される先頭のチ
ップ状電子部品の有無を検出手段により確認することに
より、不存在により選別データが得られていないチップ
状電子部品を次工程へ供給するおそれがなくなる。した
がって、正常なチップ状電子部品のみを次工程へ確実に
供給することができる。

【００２８】また、測定端子に対するチップ状電子部品
の供給方向の上流側でチップ状電子部品の表裏を検出手
段により検出するようにすれば、チップ状電子部品を直
線的に搬送する間にその表裏と電気的特性の選別を一度
に行うことができる。したがって、選別作業を狭いスペ
ースで効率的に行うことができ、更に一層、経済性を向
上させることができる。

【００２９】また、一つの真空ポンプを切り替えて正常
なチップ状電子部品と正常でないチップ状電子部品を吸
引することにより、経済性を向上させることができる。

【００３０】また、４端子測定法により隣接する２個の
チップ状電子部品の電気的特性を同時に測定し、各チッ
プ状電子部品の電気的特性を２回繰り返して測定するこ
とにより、正確に、かつ精度良く測定することができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例におけるチップ状電子部品の
自動選別供給装置を示し、上面案内部材を除去した一部
平面図

【図２】同自動選別供給装置を示し、図１の中央縦断面
図

【図３】同自動選別供給装置を示し、図２のＡ−Ａ線に
沿う断面図

【図４】同自動選別供給装置を示し、図１の要部の拡大
図

【図５】同自動選別供給装置を示し、図３のＢ部拡大図

【図６】同自動選別供給装置を示し、チップ状電子部品
の排出動作説明用で図２と同様の断面図

【図７】同自動選別供給装置に用いる測定回路の一例を
示す回路図

【符号の説明】

６ 供給路 ７ ストッパ １１ ファイバセンサ １３ 測定端子 １４ 測定端子 １５ 測定端子 １６ 測定端子 １７ 測定端子 １８ 測定端子 １９ 測定端子 ２０ 測定端子 ３０ ファイバセンサ ３２ 排出口 ３４ 排出ゲート Ｒ チップ抵抗器（チップ状電子部品）

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 チップ状電子部品を直線状に供給するた
   めの供給路と、この供給路の途中で進退可能に設けら
   れ、前進位置で上記供給路内を移送されるチップ状電子
   部品を停止させ、後退位置でチップ状電子部品を解放す
   るストッパと、このストッパを進退させる手段と、上記
   ストッパに対するチップ状電子部品の供給方向の上流側
   で進退可能に設けられ、前進位置でチップ状電子部品を
   停止させ、後退位置でチップ状電子部品を解放し、上記
   チップ状電子部品の停止状態でその電気的特定を測定す
   るための測定端子と、この測定端子を少なくとも上記ス
   トッパが後退し、測定後のチップ状電子部品を解放して
   いるときにその後側のチップ状電子部品を停止し得るよ
   うに進退させる手段と、上記ストッパに対するチップ状
   電子部品の供給方向の下流側で上記供給路に連通するよ
   うに形成された排出口と、この排出口の閉塞位置と開放
   位置とに進退可能に設けられた排出ゲートと、上記スト
   ッパから解放されたチップ状電子部品の選別データが正
   常でない場合に上記排出ゲートを後退させるように進退
   させる手段と、上記ストッパから開放されたチップ状電
   子部品を、上記排出口が閉じている場合には下流側に吸
   引し、上記排出口が開放されている場合にはこの排出口
   から吸引する吸引手段とを備えたチップ状電子部品の自
   動選別供給装置。
2. 【請求項２】 ストッパにより停止される先頭のチップ
   状電子部品の有無を確認する検出手段を備えた請求項１
   記載のチップ状電子部品の自動選別供給装置。
3. 【請求項３】 測定端子に対するチップ状電子部品の供
   給方向の上流側でチップ状電子部品の表裏を検出する手
   段を備えた請求項１または２記載のチップ状電子部品の
   自動選別供給装置。
4. 【請求項４】 吸引手段が、一つの真空ポンプと、この
   真空ポンプによる吸引を供給路側と排出口側とに切り替
   える切り替え手段とを備えた請求項１ないし３のいずれ
   かに記載のチップ状電子部品の自動選別供給装置。
5. 【請求項５】 隣接する２個のチップ状電子部品の両側
   の電極にそれぞれ一対の測定端子が接触され、４端子測
   定回路が、隣接する２個のチップ状電子部品の互いに接
   触する電極に接触され、電流の流れる測定端子を各内部
   定電流源のＯｖ側で共通接続するように構成された請求
   項１ないし４のいずれかに記載のチップ状電子部品の自
   動選別供給装置。