JPH0690208B2 - 自動分析装置 - Google Patents
自動分析装置Info
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- JPH0690208B2 JPH0690208B2 JP62080040A JP8004087A JPH0690208B2 JP H0690208 B2 JPH0690208 B2 JP H0690208B2 JP 62080040 A JP62080040 A JP 62080040A JP 8004087 A JP8004087 A JP 8004087A JP H0690208 B2 JPH0690208 B2 JP H0690208B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は自動分析装置に係り、特に標準試料により分析
装置の較正を行い、その較正結果すなわち検量線に基づ
いて被検試料中の分析項目の濃度を求めるに好適な自動
分析装置に関する。
装置の較正を行い、その較正結果すなわち検量線に基づ
いて被検試料中の分析項目の濃度を求めるに好適な自動
分析装置に関する。
現在、病院等における臨床検査で使用されている自動分
析装置には比色測定またはイオン選択電極（以下ISEと
略す）等を利用して被検試料中に含まれる分析項目の濃
度を求めるものが多い。また、いずれの測定法の場合に
も、分析項目毎に１種類または複数の標準試料を用いて
分析装置の較正を行い、その較正結果に基づいて被検試
料中に含まれる分析項目の濃度を求める方式となつてい
る。このような自動分析装置においては通常標準試料に
よる較正が正しく行われていることを前提に被検試料中
の分析項目の濃度を得ている。しかし、上記較正におい
て何らかの異常、例えば標準試料または比色分析のため
の試薬の劣化や、ロツト変化による不良等があると、正
しい較正ができないため、分析結果としても正しい値が
得られないことになる。このため自動分析装置において
は、正しい較正ができたかどうかを速やかにかつ正確に
確認するということが重要な課題となる。
析装置には比色測定またはイオン選択電極（以下ISEと
略す）等を利用して被検試料中に含まれる分析項目の濃
度を求めるものが多い。また、いずれの測定法の場合に
も、分析項目毎に１種類または複数の標準試料を用いて
分析装置の較正を行い、その較正結果に基づいて被検試
料中に含まれる分析項目の濃度を求める方式となつてい
る。このような自動分析装置においては通常標準試料に
よる較正が正しく行われていることを前提に被検試料中
の分析項目の濃度を得ている。しかし、上記較正におい
て何らかの異常、例えば標準試料または比色分析のため
の試薬の劣化や、ロツト変化による不良等があると、正
しい較正ができないため、分析結果としても正しい値が
得られないことになる。このため自動分析装置において
は、正しい較正ができたかどうかを速やかにかつ正確に
確認するということが重要な課題となる。
このため従来は較正用の標準試料測定結果として、分析
装置内部の演算により求めた較正用プラメータとして、
比色法ならば吸光度値をまたISE法ならば起電力値等をC
RTまたはプリンタ上に出力していた。このことを比色の
場合について以下に説明する。比色の場合の濃度計算式
（以下検量線と略す）は次のようになる。
装置内部の演算により求めた較正用プラメータとして、
比色法ならば吸光度値をまたISE法ならば起電力値等をC
RTまたはプリンタ上に出力していた。このことを比色の
場合について以下に説明する。比色の場合の濃度計算式
（以下検量線と略す）は次のようになる。
Ｙ＝Ｋ（Ax−Ab）＋Cb …（１） ここでY:被検試料の濃度 K:入力または標準試料測定により求まる値 Ax:被検試料測定時の吸光度値 Ab:標準試料（ブランク）測定時の吸光度値 Cb:標準試料（ブランク）の既知濃度 また上記（１）式において標準試料測定により求めるＫ
の計算は次のようになる。
の計算は次のようになる。
ここで、CS:標準試料（スタンダード）の既知濃度 AS:標準試料（スタンダード）の測定時の吸光度値 上記計算式（１），（２）は自動分析装置においては通
常分析項目毎に行われている。そしてこの場合、標準試
料測定結果としてCRTまたはプリンタに出力しているの
は上記（１）（２）式におけるAb,ASおよびＫの値であ
る。ここでＫは入力値の場合もある。この場合には標準
試料測定はAbの１種類となる。上記（１）（２）式から
もわかるようにAb,ASおよびＫが求まると、検量線
（１）は完全に確定する。
常分析項目毎に行われている。そしてこの場合、標準試
料測定結果としてCRTまたはプリンタに出力しているの
は上記（１）（２）式におけるAb,ASおよびＫの値であ
る。ここでＫは入力値の場合もある。この場合には標準
試料測定はAbの１種類となる。上記（１）（２）式から
もわかるようにAb,ASおよびＫが求まると、検量線
（１）は完全に確定する。
次にISE法の場合についても同様に検量線の確定に必要
なパラメータを求めることができる。
なパラメータを求めることができる。
従来は、以上述べたようなCRTまたはプリンタに出力さ
れた較正用パラメータを分析装置のオペレータがチエツ
クすることにより、較正が正しく行われたか否かを判断
していた。
れた較正用パラメータを分析装置のオペレータがチエツ
クすることにより、較正が正しく行われたか否かを判断
していた。
しかしながら、上記従来の技術では、分析装置の検量線
に作成する際に、ブランクおよび濃度が既知の標準試料
に対して１回測定するだけで、較正が正しく行われたか
否かを判断していたため、その結果が各オペレータ間の
判断力の差に左右されやすく、また同一オペレータであ
っても日毎に判断力に差が生じて、較正結果を正確に判
断するのは容易なことではなかった。
に作成する際に、ブランクおよび濃度が既知の標準試料
に対して１回測定するだけで、較正が正しく行われたか
否かを判断していたため、その結果が各オペレータ間の
判断力の差に左右されやすく、また同一オペレータであ
っても日毎に判断力に差が生じて、較正結果を正確に判
断するのは容易なことではなかった。
また、較正結果に異常が生じても、その異常が標準試料
や試薬の劣化によるのか、または分析装置自体の不良に
よるのかの判断が難しく、結果的に較正に手間っどって
しまうという問題もあった。
や試薬の劣化によるのか、または分析装置自体の不良に
よるのかの判断が難しく、結果的に較正に手間っどって
しまうという問題もあった。
本発明の目的は、ブランクおよび濃度が既知の標準試料
による較正が正しく行われたか否かをだれでも正確に判
断することができ、しかも較正結果に異常が生じた場合
にその異常原因が容易に突き止められ、較正を短時間で
行うことができる自動分析装置を提供することである。
による較正が正しく行われたか否かをだれでも正確に判
断することができ、しかも較正結果に異常が生じた場合
にその異常原因が容易に突き止められ、較正を短時間で
行うことができる自動分析装置を提供することである。
上記目的を達成するために、本発明は、分析項目毎にブ
ランクおよび濃度が既知の標準試料を測定して分析装置
の検量線を作成し、被検試料中に含まれる分析項目の濃
度を前記検量線に基づいて求める自動分析装置におい
て、前記ブランクおよび標準試料を測定する度に、前記
ブランクの測定結果と前記標準試料の測定結果を該当分
析項目に対応させて時系列的に記憶するとともに、記憶
すべき測定結果を、今回より複数回遡った時点から今回
までに測定した測定結果に限定して記憶する記憶手段
と、ある分析項目が指定されたとき、その分析項目に対
応したブランクと標準試料の測定結果を前記記憶手段か
ら取り込んで、ブランクと標準試料の測定結果を時系列
的に同時に表示する表示手段と、を設けたことを特徴と
している。
ランクおよび濃度が既知の標準試料を測定して分析装置
の検量線を作成し、被検試料中に含まれる分析項目の濃
度を前記検量線に基づいて求める自動分析装置におい
て、前記ブランクおよび標準試料を測定する度に、前記
ブランクの測定結果と前記標準試料の測定結果を該当分
析項目に対応させて時系列的に記憶するとともに、記憶
すべき測定結果を、今回より複数回遡った時点から今回
までに測定した測定結果に限定して記憶する記憶手段
と、ある分析項目が指定されたとき、その分析項目に対
応したブランクと標準試料の測定結果を前記記憶手段か
ら取り込んで、ブランクと標準試料の測定結果を時系列
的に同時に表示する表示手段と、を設けたことを特徴と
している。
上記構成によれば、ブランクの測定結果と標準試料の測
定結果が得られた都度、それらの測定結果が記録手段内
に該当分析項目に対応させて時系列的に記憶されてい
く。そして、ある分析項目がオペレータによって指定さ
れたとき、記憶手段に記憶したブランクと標準試料の測
定結果のうちから、指定された分析項目に対応する測定
結果が時系列的に同時に表示される。その結果、オペレ
ータは今回の測定結果とそれ以前の測定結果とを目視で
比較できるので、今回の測定結果による較正が正しいか
否かを、だれでも正確に判断することができる。
定結果が得られた都度、それらの測定結果が記録手段内
に該当分析項目に対応させて時系列的に記憶されてい
く。そして、ある分析項目がオペレータによって指定さ
れたとき、記憶手段に記憶したブランクと標準試料の測
定結果のうちから、指定された分析項目に対応する測定
結果が時系列的に同時に表示される。その結果、オペレ
ータは今回の測定結果とそれ以前の測定結果とを目視で
比較できるので、今回の測定結果による較正が正しいか
否かを、だれでも正確に判断することができる。
また、ブランクと標準試料の２つの測定結果は時系列的
に同時に表示されるため、万一、検量線に異常が生じた
場合、オペレータはブランクと標準試料の測定結果の変
動を観察することにより、その異常が試薬の不良による
のか、標準試料の不良によるのか、または分析装置自体
の不良によるのかの判断を容易に行うことができる。
に同時に表示されるため、万一、検量線に異常が生じた
場合、オペレータはブランクと標準試料の測定結果の変
動を観察することにより、その異常が試薬の不良による
のか、標準試料の不良によるのか、または分析装置自体
の不良によるのかの判断を容易に行うことができる。
以下、本発明を実施例に基づき説明する。第２図は本発
明が適用されている自動分析装置（以下分析機と略す）
の構成図である。まずこの図に従つて分析機の具体的な
動作について説明する。この分析機は多項目少数検体用
であり、少数の分注器を用いて、次々と異なる試薬を分
注する試薬ピペッテイング方法を採用している。
明が適用されている自動分析装置（以下分析機と略す）
の構成図である。まずこの図に従つて分析機の具体的な
動作について説明する。この分析機は多項目少数検体用
であり、少数の分注器を用いて、次々と異なる試薬を分
注する試薬ピペッテイング方法を採用している。
まず、多数の試料容器１を同心円上に設置したサンプル
テーブル２と、多数の反応容器３を同心円上に設置した
反応テーブル４とは隣接して設置してあり、これらはコ
ンピユータ19の指令により、間欠的に互いに関連するよ
うに運転するようになつている。この２個のテーブル２
と４の間の側方には検体サンプリングノズル５が設置し
てあり、ピペッタ6aの作動によつて吸引と吐出の動作を
反復するがその間にコンピユータ19の指令によつてサン
プリングノズル５が回動し、サンプルテーブル２上の試
料容器１中の試料から一定量を吸引して、反応テーブル
４上の反応容器３に吐出するようになつている。分注動
作を終了した後は、図示していない洗浄装置によつてサ
ンプリングノズル５の内外が洗浄されるようになつてい
る。
テーブル２と、多数の反応容器３を同心円上に設置した
反応テーブル４とは隣接して設置してあり、これらはコ
ンピユータ19の指令により、間欠的に互いに関連するよ
うに運転するようになつている。この２個のテーブル２
と４の間の側方には検体サンプリングノズル５が設置し
てあり、ピペッタ6aの作動によつて吸引と吐出の動作を
反復するがその間にコンピユータ19の指令によつてサン
プリングノズル５が回動し、サンプルテーブル２上の試
料容器１中の試料から一定量を吸引して、反応テーブル
４上の反応容器３に吐出するようになつている。分注動
作を終了した後は、図示していない洗浄装置によつてサ
ンプリングノズル５の内外が洗浄されるようになつてい
る。
反応テーブル４は、間欠的に所定角度ずつ回動するが、
その間に試薬ノズル７を取付けてある一対の移動機構8
a,8bが左右に移動し、試薬テーブル９内に収容してある
試薬容器10より所定量の試薬を採取して反応容器３に添
加するようになつている。なお反応テーブル４は、恒温
水循環器11に接続してある恒温槽12の中を回動するよう
にしてあるので、反応容器３は所定時間加温され、最後
に攪拌器13によつて攪拌されて反応を完結させるように
なつている。
その間に試薬ノズル７を取付けてある一対の移動機構8
a,8bが左右に移動し、試薬テーブル９内に収容してある
試薬容器10より所定量の試薬を採取して反応容器３に添
加するようになつている。なお反応テーブル４は、恒温
水循環器11に接続してある恒温槽12の中を回動するよう
にしてあるので、反応容器３は所定時間加温され、最後
に攪拌器13によつて攪拌されて反応を完結させるように
なつている。
このような反応容器３が所定の測定位置に回動されてく
ると、光源14からの光を透過させて、多波長光度計15に
導入される。その光は、多波長光度計15の凹面回析格子
16によつて分光され、スペクトル結線面に設置してある
複数込の受光素子17によつて輝線の光量が検出される。
この受光素子17は、試料液中の被検成分量に比例する吸
光度を検出し、その検出信号はA/D変換器18でデジタル
量に変換された後、コンピユータ19に送られ、プリンタ
20aやCRT20b等の出力装置に出力される。なおピペツタ6
bが作動して試薬ノズル７が試薬を吸引した後は、試薬
ノズル７は移動機構8a,8bによつて反応容器３まで移動
させられ、ここで試薬が分注された後、図示していない
洗浄装置により洗浄される。また反応容器３が洗浄器21
の位置までくると、洗浄機構23の作動により洗浄され、
再使用可能となる。
ると、光源14からの光を透過させて、多波長光度計15に
導入される。その光は、多波長光度計15の凹面回析格子
16によつて分光され、スペクトル結線面に設置してある
複数込の受光素子17によつて輝線の光量が検出される。
この受光素子17は、試料液中の被検成分量に比例する吸
光度を検出し、その検出信号はA/D変換器18でデジタル
量に変換された後、コンピユータ19に送られ、プリンタ
20aやCRT20b等の出力装置に出力される。なおピペツタ6
bが作動して試薬ノズル７が試薬を吸引した後は、試薬
ノズル７は移動機構8a,8bによつて反応容器３まで移動
させられ、ここで試薬が分注された後、図示していない
洗浄装置により洗浄される。また反応容器３が洗浄器21
の位置までくると、洗浄機構23の作動により洗浄され、
再使用可能となる。
ここで、本発明に関係する標準試料もサンプルテーブル
２上に設置してある。オペレータの指示により分析機の
較正が始まると、上記したのと同じようにして、被検試
料の代りに標準試料が反応容器３に吐出され順次測定さ
れる。そしてA/D変換器18デジタル量に変換された後、
コンピユータ19に送られると、ここで分析機の較正すな
わち検量線の作成が行われる。
２上に設置してある。オペレータの指示により分析機の
較正が始まると、上記したのと同じようにして、被検試
料の代りに標準試料が反応容器３に吐出され順次測定さ
れる。そしてA/D変換器18デジタル量に変換された後、
コンピユータ19に送られると、ここで分析機の較正すな
わち検量線の作成が行われる。
次に第３図であるが、この図は本分析機に組込まれてい
るコンピユータ周辺のブロツク図を示している。以下第
３図について説明する。
るコンピユータ周辺のブロツク図を示している。以下第
３図について説明する。
まず、キーボード41を押すことにより発生した信号はコ
ンピユータ19へ伝えられる。次にこの信号はROM42に貯
えられているプログラムに応じてCRT20bに表示された
り、RAM43へ貯えられたりする。次に分析が開始される
と、機構系45は機構制御部44を通して、コンピユータ19
により、ROM42に貯えられたプログラムに応じて制御さ
れる。また分析動作の過程で測定された較正用標準試料
や被検試料の吸光度データは、分析項目別にRAM43へ格
納された後、ROM42に貯えられているプログラムに従つ
て検量線演算または濃度演算が行われる。そして演算の
結果得られた検量線パラメータや濃度や値が分析項目毎
にCRT20bやプリンタ20aへ出力される。
ンピユータ19へ伝えられる。次にこの信号はROM42に貯
えられているプログラムに応じてCRT20bに表示された
り、RAM43へ貯えられたりする。次に分析が開始される
と、機構系45は機構制御部44を通して、コンピユータ19
により、ROM42に貯えられたプログラムに応じて制御さ
れる。また分析動作の過程で測定された較正用標準試料
や被検試料の吸光度データは、分析項目別にRAM43へ格
納された後、ROM42に貯えられているプログラムに従つ
て検量線演算または濃度演算が行われる。そして演算の
結果得られた検量線パラメータや濃度や値が分析項目毎
にCRT20bやプリンタ20aへ出力される。
次に本分析機における標準試料の測定結果をRAM43へ記
憶する方法について第４図（ａ），（ｂ）および第５図
に従い説明する。
憶する方法について第４図（ａ），（ｂ）および第５図
に従い説明する。
まず第４図（ａ）にある分析項目における標準試料測定
結果の格納エリアを示している。すなわち本エリアは標
準試料１の測定データ20回分が格納されているテーブル
40と標準試料２の測定データ20回分が格納されているテ
ーブル41から構成されている。また第４図（ｂ）は分析
項目毎に標準試料測定データを格納するためのテーブル
42を示している。すなわち本テーブルは第４図（ａ）に
おける全データを１つとして計20項目分の標準試料測定
データを格納可能である。ここで第４図（ａ）および第
４図（ｂ）のいずれの場合のテーブルも第３図のRAM43
に含まれている。
結果の格納エリアを示している。すなわち本エリアは標
準試料１の測定データ20回分が格納されているテーブル
40と標準試料２の測定データ20回分が格納されているテ
ーブル41から構成されている。また第４図（ｂ）は分析
項目毎に標準試料測定データを格納するためのテーブル
42を示している。すなわち本テーブルは第４図（ａ）に
おける全データを１つとして計20項目分の標準試料測定
データを格納可能である。ここで第４図（ａ）および第
４図（ｂ）のいずれの場合のテーブルも第３図のRAM43
に含まれている。
第５図はある分析項目における標準試料測定結果を第４
図（ａ）のテーブル40またはテーブル41へ格納する場合
のフローチヤートである。まず、標準試料測定回数20回
以上か否かの判定50を行い、20回未満ならば今回測定値
を第４図（ａ）における所定エリアへの格納51を行つた
後、標準試料測定回数の更新52を行う。次に標準試料側
定回数が20回以上の場合は、まず標準試料測定の２回目
から20回目までのデータについて順次１つ前のエリアへ
移す処理53と54を実施した後、今回測定値を20回目測定
データのエリアへの格納55を行う。
図（ａ）のテーブル40またはテーブル41へ格納する場合
のフローチヤートである。まず、標準試料測定回数20回
以上か否かの判定50を行い、20回未満ならば今回測定値
を第４図（ａ）における所定エリアへの格納51を行つた
後、標準試料測定回数の更新52を行う。次に標準試料側
定回数が20回以上の場合は、まず標準試料測定の２回目
から20回目までのデータについて順次１つ前のエリアへ
移す処理53と54を実施した後、今回測定値を20回目測定
データのエリアへの格納55を行う。
次に本発明における標準試料測定結果をCRT画面上に表
示する方法について第１図および第６図を用いて説明す
る。
示する方法について第１図および第６図を用いて説明す
る。
第１図は標準試料測定結果を過去20回分について測定順
に表示する画面である。この図において縦軸は吸光度を
示し、横軸に測定回数を示している。ここで吸光度の単
位は１万倍された値になつている。
に表示する画面である。この図において縦軸は吸光度を
示し、横軸に測定回数を示している。ここで吸光度の単
位は１万倍された値になつている。
まず初めに、表示させたい分析項目の項目番号を項目番
号入力部30へ入力する。本画面では項目番号入力部30へ
入力すると、その項目番号に対応した分析項目名を表示
するようになつている。次に標準試料１（通常ブランク
という）の測定データを表示するためにスケール１入力
部31への入力を行う。ここでは本画面における縦軸すな
わち吸光度の下限値および上限値を決める。同様に標準
試料２（通常スタンダードという）の測定データを表示
するためにスケール２入力部32への入力を行う。スケー
ル１の入力と同じく、下限値および上限値を決める。以
下の入力が終了すると、第４図（ａ）（ｂ）のように格
納されている標準試料測定データを指定された分析項目
について検索し、各測定回数に対応して、第１図におけ
るグラフが２種類の標準試料についてプロツトされる。
またこの図で印字要求入力部33に入力することにより、
プロツトされている全測定データがプリンタに印字され
る。
号入力部30へ入力する。本画面では項目番号入力部30へ
入力すると、その項目番号に対応した分析項目名を表示
するようになつている。次に標準試料１（通常ブランク
という）の測定データを表示するためにスケール１入力
部31への入力を行う。ここでは本画面における縦軸すな
わち吸光度の下限値および上限値を決める。同様に標準
試料２（通常スタンダードという）の測定データを表示
するためにスケール２入力部32への入力を行う。スケー
ル１の入力と同じく、下限値および上限値を決める。以
下の入力が終了すると、第４図（ａ）（ｂ）のように格
納されている標準試料測定データを指定された分析項目
について検索し、各測定回数に対応して、第１図におけ
るグラフが２種類の標準試料についてプロツトされる。
またこの図で印字要求入力部33に入力することにより、
プロツトされている全測定データがプリンタに印字され
る。
次に第６図のフローチヤートに従い標準試料測定結果の
プロツト方法を説明する。まずはじめに標準試料１の測
定データの有無チエツク60を行う。もし標準試料１の測
定データがあれば、測定済全データのプロツトが終るの
で61および62を繰り返す。次に標準試料２についても、
上述した標準試料１の場合と同じようにしてプロツトさ
れる。ここである分析項目については１種類の標準試料
のみで較正可能ならば、表示は片方の標準試料のみとな
る。
プロツト方法を説明する。まずはじめに標準試料１の測
定データの有無チエツク60を行う。もし標準試料１の測
定データがあれば、測定済全データのプロツトが終るの
で61および62を繰り返す。次に標準試料２についても、
上述した標準試料１の場合と同じようにしてプロツトさ
れる。ここである分析項目については１種類の標準試料
のみで較正可能ならば、表示は片方の標準試料のみとな
る。
次に第７図であるが、この図は第１図における標準試料
測定結果の表示において、標準試料１に対するスケール
入力部31の値を変更した場合の表示図を表わしている。
この図からわかるように標準試料１の測定結果が拡大し
て表示されている。このように各々の標準試料について
測定結果の表示を任意に拡大または縮小できるので、全
測定データについての詳細な検討を行うことができる。
測定結果の表示において、標準試料１に対するスケール
入力部31の値を変更した場合の表示図を表わしている。
この図からわかるように標準試料１の測定結果が拡大し
て表示されている。このように各々の標準試料について
測定結果の表示を任意に拡大または縮小できるので、全
測定データについての詳細な検討を行うことができる。
次に今回の標準試料測定値が異常だつた場合の表示の方
法について第７図および第８図を用いて説明する。まず
第８図であるが、この図は今回測定値が異常かどうかの
チエツク処理を示すフローチヤートである。この図で
は、まず、今回測定値と前回測定値の差の計算70を行っ
た後、その差とリミツタ値との比較71を行う。もしリミ
ツタ値より小さい場合は、今回を含めて過去６回分につ
いて測定値の大きさの変化チエツク72,73を行う。もし
測定値の大きさがランダムに変化しているならば、第７
図の表示画面の所定位置に正常のマーク（０またはＸ）
をプロツトする。もし判定71でリミツタ値より大きいか
または判定73で全て同一方向に変化している場合には、
第７図のように異常マーク34を所定位置にプロツトす
る。
法について第７図および第８図を用いて説明する。まず
第８図であるが、この図は今回測定値が異常かどうかの
チエツク処理を示すフローチヤートである。この図で
は、まず、今回測定値と前回測定値の差の計算70を行っ
た後、その差とリミツタ値との比較71を行う。もしリミ
ツタ値より小さい場合は、今回を含めて過去６回分につ
いて測定値の大きさの変化チエツク72,73を行う。もし
測定値の大きさがランダムに変化しているならば、第７
図の表示画面の所定位置に正常のマーク（０またはＸ）
をプロツトする。もし判定71でリミツタ値より大きいか
または判定73で全て同一方向に変化している場合には、
第７図のように異常マーク34を所定位置にプロツトす
る。
以上述べたように本実施例によれば、標準試料測定結果
を過去にわたつて表示可能なため、今回測定値と過去に
測定した値とを比較することにより、今回測定値の良否
を正確に判断できる。また測定結果表示のためのスケー
ルを変えることにより表示の拡大または縮小表示が可能
となり、わずかの異常も検出可能となる。また今回測定
値が異常の場合には、異常マークを所定位置へプロツト
することにより、速やかに異常を確認できる。
を過去にわたつて表示可能なため、今回測定値と過去に
測定した値とを比較することにより、今回測定値の良否
を正確に判断できる。また測定結果表示のためのスケー
ルを変えることにより表示の拡大または縮小表示が可能
となり、わずかの異常も検出可能となる。また今回測定
値が異常の場合には、異常マークを所定位置へプロツト
することにより、速やかに異常を確認できる。
本実施例では表示する標準試料の数は分析項目当り１ま
たは２種類であるが、これは２種類に限られるのではな
く、測定方法によつては３種類以上にすることも可能で
ある。つまり分析機の較正に３種類以上の標準試料を使
う場合等には有効となる。また本実施例では比色法の場
合について述べたが、本発明はこれに限られるのではな
く、ISE法やその他の分析法の場合にも適用できる。そ
してこの場合には第１図において、プロツトする標準試
料測定結果の内容と縦軸における表示単位が変わること
になる。
たは２種類であるが、これは２種類に限られるのではな
く、測定方法によつては３種類以上にすることも可能で
ある。つまり分析機の較正に３種類以上の標準試料を使
う場合等には有効となる。また本実施例では比色法の場
合について述べたが、本発明はこれに限られるのではな
く、ISE法やその他の分析法の場合にも適用できる。そ
してこの場合には第１図において、プロツトする標準試
料測定結果の内容と縦軸における表示単位が変わること
になる。
また本発明では標準試料測定結果データを内部メモリで
あるRAMへ記憶しているが、これを外部メモリ、例えば
フロツピーデイスク等に記憶すれば、更に長期にわたつ
て標準試料測定結果を記憶でき、このため、より長期に
わたる監視が可能となる。
あるRAMへ記憶しているが、これを外部メモリ、例えば
フロツピーデイスク等に記憶すれば、更に長期にわたつ
て標準試料測定結果を記憶でき、このため、より長期に
わたる監視が可能となる。
以上説明したように、本発明によれば、測定結果が時系
列的に同時に表示されるので、オペレータは今回の測定
結果とそれ以前の測定結果とを目視で比較することがで
き、今回の測定結果による較正が正しいか否かをだれで
も正確に判断することができる。
列的に同時に表示されるので、オペレータは今回の測定
結果とそれ以前の測定結果とを目視で比較することがで
き、今回の測定結果による較正が正しいか否かをだれで
も正確に判断することができる。
また、ブランクと標準試料の測定結果が時系列的に同時
に表示されるので、検量線に異常が発生した場合、その
異常が試薬の不良によるのか、標準試料の不良によるの
か、または分析装置自体の不良によるのかの判断を容易
に行うことができる。その結果、異常発生の原因が直ち
に分かり、その対応措置を迅速にとることにより、較正
を短時間で行うことが可能となる。
に表示されるので、検量線に異常が発生した場合、その
異常が試薬の不良によるのか、標準試料の不良によるの
か、または分析装置自体の不良によるのかの判断を容易
に行うことができる。その結果、異常発生の原因が直ち
に分かり、その対応措置を迅速にとることにより、較正
を短時間で行うことが可能となる。
第１図は本発明における標準試料測定結果表示図、第２
図は本発明が適用される自動分析装置の構成図、第３図
はコンピユータ周辺のブロツク図、第４図は標準試料測
定データ格納テーブル図、第５図は標準試料測定データ
の格納フローチヤート図、第６図は標準試料測定結果表
示フローチヤート図、第７図は標準試料測定結果表示図
の拡大図、第８図は今回測定値のチエツク方法図であ
る。 ２……サンプルテーブル、３……反応容器、４……反応
テーブル、９……試薬テーブル、10……試料容器、15…
…多波長光度計、19……コンピユータ、20b……CRT、42
……ROM、43……RAM、30……項目番号入力部、31,32…
…スケール入力部、40,41……標準試料測定データ格納
テーブル。
図は本発明が適用される自動分析装置の構成図、第３図
はコンピユータ周辺のブロツク図、第４図は標準試料測
定データ格納テーブル図、第５図は標準試料測定データ
の格納フローチヤート図、第６図は標準試料測定結果表
示フローチヤート図、第７図は標準試料測定結果表示図
の拡大図、第８図は今回測定値のチエツク方法図であ
る。 ２……サンプルテーブル、３……反応容器、４……反応
テーブル、９……試薬テーブル、10……試料容器、15…
…多波長光度計、19……コンピユータ、20b……CRT、42
……ROM、43……RAM、30……項目番号入力部、31,32…
…スケール入力部、40,41……標準試料測定データ格納
テーブル。
Claims (3)
- 【請求項１】分析項目毎にブランクおよび濃度が既知の
標準試料を測定して分析装置の検量線を作成し、被検試
料中に含まれる分析項目の濃度を前記検量線に基づいて
求める自動分析装置において、 前記ブランクおよび標準試料を測定する度に、前記ブラ
ンクの測定結果と前記標準試料の測定結果を該当分析項
目に対応させて時系列的に記憶するとともに、記憶すべ
き測定結果を、今回より複数回遡った時点から今回まで
に測定した測定結果に限定して記憶する記憶手段と、 ある分析項目が指定されたとき、その分析項目に対応し
たブランクと標準試料の測定結果を前記記憶手段から取
り込んで、ブランクと標準試料の測定結果を時系列的に
同時に表示する表示手段と、 を設けたことを特徴とする自動分析装置。 - 【請求項２】特許請求の範囲第１項記載の装置におい
て、 前記表示手段は、測定結果の下限値または上限値がブラ
ンクまたは標準試料毎に任意に設定されたときは、当該
ブランクまたは標準試料の測定結果の表示範囲を前記下
限値および上限値に対応させて拡大または縮小すること
を特徴とする自動分析装置。 - 【請求項３】特許請求の範囲第１項記載の装置におい
て、 前記表示手段は、今回の測定結果がそれ以前の測定結果
と比較して何らかの異常がある場合、その異常である旨
を表示することを特徴とする自動分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62080040A JPH0690208B2 (ja) | 1987-04-01 | 1987-04-01 | 自動分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62080040A JPH0690208B2 (ja) | 1987-04-01 | 1987-04-01 | 自動分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63246674A JPS63246674A (ja) | 1988-10-13 |
| JPH0690208B2 true JPH0690208B2 (ja) | 1994-11-14 |
Family
ID=13707133
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62080040A Expired - Lifetime JPH0690208B2 (ja) | 1987-04-01 | 1987-04-01 | 自動分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0690208B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007240181A (ja) * | 2006-03-06 | 2007-09-20 | Hitachi High-Tech Science Systems Corp | 医用分析装置 |
| US10205522B2 (en) | 2015-06-18 | 2019-02-12 | Futurewei Technologies, Inc. | Cascaded waveform modulation with an embedded control signal for high-performance mobile fronthaul |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CA2082934C (en) * | 1990-05-15 | 2003-08-05 | Walter B. Dandliker | Phthalocyanatopolyethylene glycol, and phthalocyanato saccharides as fluorescent digoxin reagents |
| JP2617238B2 (ja) * | 1990-09-06 | 1997-06-04 | 株式会社島津製作所 | 自動分析装置 |
| DE4121089A1 (de) * | 1991-06-26 | 1993-01-07 | Boehringer Mannheim Gmbh | Analysesystem zur automatischen analyse von koerperfluessigkeiten |
| JPH05133849A (ja) * | 1991-11-14 | 1993-05-28 | Nippon Steel Corp | 分析値時系列補正方法 |
| JP3438607B2 (ja) * | 1998-09-25 | 2003-08-18 | 株式会社日立製作所 | 自動分析装置 |
| JP3840450B2 (ja) * | 2002-12-02 | 2006-11-01 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 分析装置 |
| JP4835660B2 (ja) * | 2008-07-31 | 2011-12-14 | アイシン精機株式会社 | 微量物質検出方法及び異常検知装置 |
| JP5686710B2 (ja) * | 2011-09-21 | 2015-03-18 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| JP7064365B2 (ja) * | 2018-03-29 | 2022-05-10 | シスメックス株式会社 | 検体分析装置のモニタリングデータの生成装置、検体分析装置、検体分析装置のモニタリングデータ生成システム、前記システムの構築方法、検体分析装置のモニタリングデータの生成方法及び検体分析装置のモニタリング方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61116661A (ja) * | 1984-11-12 | 1986-06-04 | Hitachi Ltd | 臨床検査システムにおけるリアルタイム前回値比較方式 |
| JPH0680417B2 (ja) * | 1985-06-26 | 1994-10-12 | 株式会社島津製作所 | 検量線を使用する成分分析方法 |
-
1987
- 1987-04-01 JP JP62080040A patent/JPH0690208B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007240181A (ja) * | 2006-03-06 | 2007-09-20 | Hitachi High-Tech Science Systems Corp | 医用分析装置 |
| US10205522B2 (en) | 2015-06-18 | 2019-02-12 | Futurewei Technologies, Inc. | Cascaded waveform modulation with an embedded control signal for high-performance mobile fronthaul |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63246674A (ja) | 1988-10-13 |
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