JP2617238B2 - 自動分析装置 - Google Patents
自動分析装置Info
- Publication number
- JP2617238B2 JP2617238B2 JP2237908A JP23790890A JP2617238B2 JP 2617238 B2 JP2617238 B2 JP 2617238B2 JP 2237908 A JP2237908 A JP 2237908A JP 23790890 A JP23790890 A JP 23790890A JP 2617238 B2 JP2617238 B2 JP 2617238B2
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- Japan
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- automatic
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- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は自動試料供給装置を備え、多数の試料を順次
自動的に分析し行く装置に関する。
自動的に分析し行く装置に関する。
（従来の技術） 吸光分析ではブランク試料について測定を行って、ゼ
ロ補正を行い、被測定試料の測定を行う。一般に標準試
料と被測定試料の比較測定を行う場合が多い。多数の試
料についてこれらの測定を自動的に行うためには多数の
試料を保持された自動試料供給装置を用い、自動的に試
料を切換えては測定を実行して行くが、その際、ブラン
ク試料或は標準試料と被測定試料とをどのような順序で
自動試料供給装置に装荷するかは予め分析装置によって
決められている。例えば測定順序の一番初め位置にブラ
ンク試料或は標準試料をセットし、以後の場所に被測定
試料をセットすると云う構成が多い。このような構成で
は試料供給装置の最初の場所に被測定試料をセットする
と、その試料をブランク試料或は標準試料として測定動
作が実行されるため分析結果が無意味なものとなる。他
方分析では試料の変質が速やかに進行するため先に被測
定試料の測定を行いたい場合とか、標準試料と被測定試
料を交互に測定したい場合とか、幾つかの試料毎に標準
試料を変えたい場合等、色々な場合があって、測定順序
が固定されていると分析操作が面倒になり、自動分析装
置であるがために却って手動的な分析装置よりも操作が
繁雑になると云う問題があった。
ロ補正を行い、被測定試料の測定を行う。一般に標準試
料と被測定試料の比較測定を行う場合が多い。多数の試
料についてこれらの測定を自動的に行うためには多数の
試料を保持された自動試料供給装置を用い、自動的に試
料を切換えては測定を実行して行くが、その際、ブラン
ク試料或は標準試料と被測定試料とをどのような順序で
自動試料供給装置に装荷するかは予め分析装置によって
決められている。例えば測定順序の一番初め位置にブラ
ンク試料或は標準試料をセットし、以後の場所に被測定
試料をセットすると云う構成が多い。このような構成で
は試料供給装置の最初の場所に被測定試料をセットする
と、その試料をブランク試料或は標準試料として測定動
作が実行されるため分析結果が無意味なものとなる。他
方分析では試料の変質が速やかに進行するため先に被測
定試料の測定を行いたい場合とか、標準試料と被測定試
料を交互に測定したい場合とか、幾つかの試料毎に標準
試料を変えたい場合等、色々な場合があって、測定順序
が固定されていると分析操作が面倒になり、自動分析装
置であるがために却って手動的な分析装置よりも操作が
繁雑になると云う問題があった。
（発明が解決しようとする課題） 本発明は、自動分析装置でブランク試料とか標準試料
と被測定試料の測定順序を任意に設定することが可能な
自動分析装置を提供しようとするものである。
と被測定試料の測定順序を任意に設定することが可能な
自動分析装置を提供しようとするものである。
（課題を解決するための手段） ブランク或いは標準試料と被測定試料とを自動試料供
給装置を用いて順次測定を実行し、ブランク或いは標準
試料と被測定試料との測定データを比較して分析を行う
自動分析装置であって、自動試料供給装置は２以上の試
料を載置する試料バレットを有し、試料バレットの各試
料位置に対して識別番号が定められ、前記試料位置の１
乃至複数の任意位置をブランク或いは標準試料の位置と
して前記識別番号により設定する手段と、各試料の測定
結果を格納するメモリと、２つの測定結果の間のデータ
処理に関して被測定試料とブランク或いは標準試料の各
識別番号を指定する手段と、設定或いは指定すべき事項
と設定或いは指定対象試料の自動試料供給装置上の番号
を対話式に表示する表示手段を備えた。
給装置を用いて順次測定を実行し、ブランク或いは標準
試料と被測定試料との測定データを比較して分析を行う
自動分析装置であって、自動試料供給装置は２以上の試
料を載置する試料バレットを有し、試料バレットの各試
料位置に対して識別番号が定められ、前記試料位置の１
乃至複数の任意位置をブランク或いは標準試料の位置と
して前記識別番号により設定する手段と、各試料の測定
結果を格納するメモリと、２つの測定結果の間のデータ
処理に関して被測定試料とブランク或いは標準試料の各
識別番号を指定する手段と、設定或いは指定すべき事項
と設定或いは指定対象試料の自動試料供給装置上の番号
を対話式に表示する表示手段を備えた。
（作用） 本発明によれば被測定試料かブランク試料かは自動試
料供給装置上の位置によって予め決まっているのではな
く、番号指定により任意位置にある試料をブランク試料
或は標準試料とすることができる。ブランク或は標準試
料は複数指定できる上、二つの測定データの間でデータ
処理を行う場合の被測定試料と標準試料の番号が指定で
きるので、多数の被測定試料を群に分け、群毎に異る標
準試料を用いる場合とか、二個対になっている試料間の
比較測定と云うようなことも簡単に実行でき、上述した
設定が表示画面で対話式に行えるので、設定操作が容易
にできる。
料供給装置上の位置によって予め決まっているのではな
く、番号指定により任意位置にある試料をブランク試料
或は標準試料とすることができる。ブランク或は標準試
料は複数指定できる上、二つの測定データの間でデータ
処理を行う場合の被測定試料と標準試料の番号が指定で
きるので、多数の被測定試料を群に分け、群毎に異る標
準試料を用いる場合とか、二個対になっている試料間の
比較測定と云うようなことも簡単に実行でき、上述した
設定が表示画面で対話式に行えるので、設定操作が容易
にできる。
（実施例） 第１図は本発明の一実施例装置のブロック図である。
１は自動試料供給装置の試料バレットで、多数の試料容
器S1,S2,…がセットされている。２は試料パレット駆動
装置、３は試料供給ポンプで、４は吸入ノズルであり、
吸入ノズルは一定位置で上下に駆動され、５はその上下
駆動装置である。６は試料の溶液が流通せしめられるフ
ローセルであり、分光光度計７の試料室内に設置されて
いる。８は測定回路、９は測定データを格納するメモリ
である。10はキーボードで種々な入力操作を行う。11は
CRT表示装置、12は装置全体を制御している制御装置で
ある。
１は自動試料供給装置の試料バレットで、多数の試料容
器S1,S2,…がセットされている。２は試料パレット駆動
装置、３は試料供給ポンプで、４は吸入ノズルであり、
吸入ノズルは一定位置で上下に駆動され、５はその上下
駆動装置である。６は試料の溶液が流通せしめられるフ
ローセルであり、分光光度計７の試料室内に設置されて
いる。８は測定回路、９は測定データを格納するメモリ
である。10はキーボードで種々な入力操作を行う。11は
CRT表示装置、12は装置全体を制御している制御装置で
ある。
第２図はCRT11の表示画面の一例である。表示画面な
オペレータに対話形式で操作の指示或は選択を指示する
もので、第２図Ａでは「ブランク（或は標準試料）の指
定方法を選択して下さい。」と云うメッセージと選択枝
として1.任意番号入力、2.繰返しパターン入力が示され
ている。オペレータがキーボード10により１を選択する
と表示画面は第２図Ｂのようになり自動試料供給装置の
パレット上の試料座番号を記入する複数の空欄が表示さ
れ、オペレータがその空欄に任意の試料座番号を１乃至
複数記入する。記入が終ると表示画面は第２図Ｃに変
る。こゝではブランク試料の番号（バレット上の番号）
とそのブランク試料によってゼロ補正される試料番号
（パレット上の番号）を（ブランク番号）×（試料番号
a1,a2…）と云う形で指定する。この設定画面におい
て、二つ対になった試料の比較測定の設定も可能であ
る。しかしこのような一定パターンの測定は第２図Ａの
画面における選択で“2"を選択しても設定できる。第２
図Ａで２を選択すると表示画面は第２図Ｄのようにな
り、試料容器（）本毎に最初の一本と云う表示画面の空
欄に本数を記入する。二つ対の試料の場合なら空欄には
“2"が記入される。そうすると、パレット上の奇数番目
が標準試料となる。
オペレータに対話形式で操作の指示或は選択を指示する
もので、第２図Ａでは「ブランク（或は標準試料）の指
定方法を選択して下さい。」と云うメッセージと選択枝
として1.任意番号入力、2.繰返しパターン入力が示され
ている。オペレータがキーボード10により１を選択する
と表示画面は第２図Ｂのようになり自動試料供給装置の
パレット上の試料座番号を記入する複数の空欄が表示さ
れ、オペレータがその空欄に任意の試料座番号を１乃至
複数記入する。記入が終ると表示画面は第２図Ｃに変
る。こゝではブランク試料の番号（バレット上の番号）
とそのブランク試料によってゼロ補正される試料番号
（パレット上の番号）を（ブランク番号）×（試料番号
a1,a2…）と云う形で指定する。この設定画面におい
て、二つ対になった試料の比較測定の設定も可能であ
る。しかしこのような一定パターンの測定は第２図Ａの
画面における選択で“2"を選択しても設定できる。第２
図Ａで２を選択すると表示画面は第２図Ｄのようにな
り、試料容器（）本毎に最初の一本と云う表示画面の空
欄に本数を記入する。二つ対の試料の場合なら空欄には
“2"が記入される。そうすると、パレット上の奇数番目
が標準試料となる。
第３図は制御装置の動作の要部のフローチャートであ
る。測定は自動試料供給装置のパレット上の試料番号の
順に順次行われて行く。或る番号の試料がブランク試料
として指定されているときはその測定値がメモリに格納
される。即ち或る試料の測定を終る（イ）と、ブランク
か否かチェック（ロ）され、ブランク試料なら（YES）
で吸光度値をメモリに格納（ハ）し、被測定試料なら
（NO）で、（イ）で求まった吸光度値から、その試料と
組合されるべき番号のブランク試料即ち前述第２図Ｃで
指定されたブランク試料の吸光度値をメモリから読出
し、（イ）のステップで求まった被測定試料の吸光度値
から引算し、その結果をメモリの測定結果格納スペース
に格納（ニ）して、自動試料供給装置のパレットを一試
料分駆動（ホ）して動作は（イ）に戻る。
る。測定は自動試料供給装置のパレット上の試料番号の
順に順次行われて行く。或る番号の試料がブランク試料
として指定されているときはその測定値がメモリに格納
される。即ち或る試料の測定を終る（イ）と、ブランク
か否かチェック（ロ）され、ブランク試料なら（YES）
で吸光度値をメモリに格納（ハ）し、被測定試料なら
（NO）で、（イ）で求まった吸光度値から、その試料と
組合されるべき番号のブランク試料即ち前述第２図Ｃで
指定されたブランク試料の吸光度値をメモリから読出
し、（イ）のステップで求まった被測定試料の吸光度値
から引算し、その結果をメモリの測定結果格納スペース
に格納（ニ）して、自動試料供給装置のパレットを一試
料分駆動（ホ）して動作は（イ）に戻る。
（発明の効果） 本発明によれば、被測定試料とブランク或は標準試料
の自動試料供給装置上の配列順序を一定に拘束されない
から、先に被測定試料の測定をすませ、後でブランクの
測定をするとか、途中で標準試料を変えるとか、二個対
になった試料の比較測定等の種々なモードの測定を選択
可能になった。
の自動試料供給装置上の配列順序を一定に拘束されない
から、先に被測定試料の測定をすませ、後でブランクの
測定をするとか、途中で標準試料を変えるとか、二個対
になった試料の比較測定等の種々なモードの測定を選択
可能になった。
第１図は本発明の一実施例装置のブロック図、第２図は
表示画面の変化を示す図、第３図は制御装置の動作のフ
ローチャートである。 １……自動試料供給装置のパレット、S1,S2……試料容
器、２……パレット駆動装置、３……ポンプ、５……ノ
ズル上下機構、６……フローセル、７……分光光度計、
８……測定回路、９……メモリ、10……キーボード、11
……CRT＜12……制御装置。
表示画面の変化を示す図、第３図は制御装置の動作のフ
ローチャートである。 １……自動試料供給装置のパレット、S1,S2……試料容
器、２……パレット駆動装置、３……ポンプ、５……ノ
ズル上下機構、６……フローセル、７……分光光度計、
８……測定回路、９……メモリ、10……キーボード、11
……CRT＜12……制御装置。
Claims (1)
- 【請求項１】ブランク或いは標準試料と被測定試料とを
自動試料供給装置を用いて順次測定を実行し、ブランク
或いは標準試料と被測定試料との測定データを比較して
分析を行う自動分析装置であって、自動試料供給装置は
２以上の試料を載置する試料バレットを有し、試料バレ
ットの各試料位置に対して識別番号が定められ、前記試
料位置の１乃至複数の任意位置をブランク或いは標準試
料の位置として前記識別番号により設定する手段と、各
試料の測定結果を格納するメモリと、２つの測定結果の
間のデータ処理に関して被測定試料とブランク或いは標
準試料の各識別番号を指定する手段と、設定或いは指定
すべき事項と設定或いは指定対象試料の自動試料供給装
置上の番号を対話式に表示する表示手段を備えた自動分
析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2237908A JP2617238B2 (ja) | 1990-09-06 | 1990-09-06 | 自動分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2237908A JP2617238B2 (ja) | 1990-09-06 | 1990-09-06 | 自動分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04116463A JPH04116463A (ja) | 1992-04-16 |
| JP2617238B2 true JP2617238B2 (ja) | 1997-06-04 |
Family
ID=17022220
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2237908A Expired - Lifetime JP2617238B2 (ja) | 1990-09-06 | 1990-09-06 | 自動分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2617238B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3525513B2 (ja) * | 1994-09-30 | 2004-05-10 | 株式会社島津製作所 | 分析装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57168164A (en) * | 1981-04-10 | 1982-10-16 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | Automatic sampling apparatus |
| JPH0690208B2 (ja) * | 1987-04-01 | 1994-11-14 | 株式会社日立製作所 | 自動分析装置 |
-
1990
- 1990-09-06 JP JP2237908A patent/JP2617238B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04116463A (ja) | 1992-04-16 |
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