JPH0676328A

JPH0676328A - フォーカスサーボ制御装置

Info

Publication number: JPH0676328A
Application number: JP23046592A
Authority: JP
Inventors: Masanobu Nakamura; 政信中村; Shigeaki Wachi; 滋明和智
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1992-08-28
Filing date: 1992-08-28
Publication date: 1994-03-18

Abstract

(57)【要約】【構成】光量差検出回路２０は、光磁気ディスク１の
ミラー面とピットでの反射光量の差を検出する。オフセ
ット電圧発生回路３０は、反射光量差が最大になるよう
なオフセット電圧を発生する。加算回路４０は、フォー
カスエラー信号にオフセット電圧を加算し、このオフセ
ット電圧が加算されたフォーカスエラー信号により、対
物レンズ４をその光軸方向に移動するアクチュエータを
駆動する。この結果、常に反射光量差が最大になるよう
なオフセット電圧が加算されたフォーカスエラー信号が
０となるように、フォーカスサーボ制御が行われる。【効果】例えば温度変化や経年変化等に起因して光路
長等が変化し、対物レンズを合焦点位置に駆動制御する
最適なオフセット電圧に変動が生じても、最適なオフセ
ット電圧を常に得ることができ、対物レンズを合焦点位
置にサーボ制御することができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、フォーカスサーボ制御
装置に関し、特に光ディスクにデータを記録し、あるい
はデータを再生する光ディスク装置の光ピックアップに
用いられるフォーカスサーボ制御装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】例えば所謂コンパクトディスク（ＣＤ）
からデータを再生するＣＤプレーヤや、光磁気ディスク
にデータを記録し、またデータを再生する光磁気ディス
ク装置等の光ディスク装置では、データの記録（書込）
あるいは再生（読出）に光ピックアップが用いられる。

【０００３】光ピックアップは、レーザ光源からの出射
光（レーザビーム）を、対物レンズにより収束して光デ
ィスクの記録面に照射し、この記録面で反射された反射
光の光量の変化（ＣＤ）、あるいは偏光面の回転（光磁
気ディスク）を検出して、データの再生を行うようにな
っている。

【０００４】光ディスクを回転すると、例えば成形時の
熱歪みによる反りやうねり、ターンテーブルに載せたと
きの重量による撓み等によって、光ディスクに所謂面振
れが発生する。光ピックアップでは、このディスク面振
れの影響を除去するために対物レンズをその光軸方向
（例えば上下）に動かして、対物レンズと記録面の距離
が対物レンズの焦点深度内に収まるように、フォーカス
サーボ制御が行われる。具体的には、例えば所謂非点収
差法やナイフ・エッジ法等により、反射光に基づいて、
対物レンズの合焦点位置からのずれを表す所謂フォーカ
スエラー信号を検出し、対物レンズを上下に移動するア
クチュエータをこのフォーカスエラー信号が０となるよ
うに駆動制御して、サーボ制御を行っている。

【０００５】ところで、フォーカスサーボ制御装置、例
えば非点収差法を用いたものでは、フォーカスエラー信
号を検出するための所謂４分割ディテクタの中心と、こ
のディテクタ上に形成されるビームスポット（ファーフ
ィールドパターン）の中心とを完全に一致させることは
製造上難しく、また分割された各領域の光電気変換効率
が異なることから、対物レンズが合焦点位置に位置して
も、フォーカスエラー信号が０とならないことがある。
そこで、フォーカスエラー信号にオフセット電圧を加算
してアクチュエータを駆動し、合焦点位置でオフセット
電圧が加算されたフォーカスエラー信号、すなわちアク
チュエータを駆動する駆動電流を０とするような構成と
なっている。また、例えばナイフ・エッジ法を用いたフ
ォーカスサーボ制御装置でも、２分割されたディテクタ
が用いられ、合焦点位置で駆動電流が０となるように、
フォーカスエラー信号にオフセット電圧を加算する構成
となっている。そして、これらのオフセット電圧は製造
段階で調整され、オフセット電圧が最適に調整された装
置が出荷される。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】このように、従来のフ
ォーカスサーボ制御装置は、オフセット電圧が最適にな
るように調整された後に出荷されるようになっている
が、使用中の温度変化（例えば温度上昇）や経年変化等
に起因して光路長や光電気変換効率に変動が生じ、これ
により最適なオフセット電圧が出荷時とは異なる値とな
る。また、オフセット電圧自体も増幅器の増幅率の温度
変化等により変動する。この結果、対物レンズが合焦点
位置からずれた位置にサーボ制御され、例えば、データ
の読出時には、外乱に対してサーボが不安定になった
り、所謂ＲＦ信号のレベルが低下してエラーレイトが悪
化する等の問題が生ずる。また、例えば、データの書込
時には、書込パワーが不足して形成されるピット径が広
がり、読出時にエラーが増大する等の問題が生ずる。

【０００７】本発明は、このような実情に鑑みてなされ
たものであり、例えば温度変化や経年変化等により光路
長等が変化しても、対物レンズを合焦点位置にサーボ制
御することができるフォーカスサーボ制御装置の提供を
目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明に係るフォーカスサーボ制御装置は、対物レ
ンズによりレーザ光源からの出射光を収束して光ディス
クに照射し、該光ディスクからの反射光に基づいて上記
対物レンズを合焦点位置に制御するフォーカスサーボ制
御装置において、上記光ディスクのミラー面とピットで
の反射光量の差を検出する光量差検出手段と、該光量差
検出手段からの反射光量差に基づいて、該反射光量差が
最大になるようなオフセット電圧を発生するオフセット
電圧発生手段と、上記光ディスクからの反射光に基づい
て、フォーカスエラー信号を検出するフォーカスエラー
信号検出手段と、該フォーカスエラー信号検出手段から
のフォーカスエラー信号に上記オフセット電圧発生手段
からのオフセット電圧を加算する加算手段とを備え、該
加算手段からのオフセット電圧が加算されたフォーカス
エラー信号により、上記対物レンズをその光軸方向に駆
動制御することを特徴とする。

【０００９】また、前記オフセット電圧発生手段が、前
記光量差検出手段からの反射光量差の複数の平均値を求
め、該平均値が最大となるようなオフセット電圧を発生
することを特徴とする。

【００１０】

【作用】本発明を適用したフォーカスサーボ制御装置で
は、光ディスクのミラー面とピットでの反射光量の差を
検出し、この反射光量差に基づいて、反射光量差が最大
になるようなオフセット電圧を発生する。そして、光デ
ィスクからの反射光に基づいて検出されるフォーカスエ
ラー信号にこのオフセット電圧を加算し、オフセット電
圧が加算されたフォーカスエラー信号により、対物レン
ズをその光軸方向に駆動制御する。

【００１１】また、反射光量差の複数の平均値を求め、
この平均値が最大となるようなオフセット電圧を発生す
る。そして、光ディスクからの反射光に基づいて検出さ
れるフォーカスエラー信号にこのオフセット電圧を加算
し、オフセット電圧が加算されたフォーカスエラー信号
により、対物レンズをその光軸方向に駆動制御する。

【００１２】

【実施例】以下、本発明に係るフォーカスサーボ制御装
置の一実施例を図面を参照しながら説明する。この実施
例は、本発明を例えば光磁気ディスク装置のフォーカス
サーボ制御装置に適用したものであり、図１は、このフ
ォーカスサーボ制御装置の回路系の構成を示すものであ
り、図２は、光学系の構成を示す図である。

【００１３】先ず、光学系について説明する。この光学
系は、図２に示すように、例えば半導体レーザからなる
レーザ光源２と、該レーザ光源２の出射光を平行光にす
るコリメータレンズ３と、該コリメータレンズ３からの
出射光を収束して、光磁気ディスク１の記録面に照射す
る対物レンズ４と、上記コリメータレンズ３と対物レン
ズ４の間に配設され、上記記録面で反射された反射光を
分離するビームスプリッタ５と、該ビームスプリッタ５
で分離された反射光の位相補償を行う位相補償板６と、
該位相補償板６からの位相補償された反射光の偏光面を
回転する１／２波長板７と、該１／２波長板７で偏光面
が回転された反射光を収束する収束レンズ８と、例えば
所謂非点収差法によりフォーカスエラー信号を生成する
ためのシリンドリカルレンズ９と、該シリンドリカルレ
ンズ９を介して入射される反射光の各偏光成分（Ｐ、
Ｓ）を分離する偏光ビームスプリッタ１０と、該偏光ビ
ームスプリッタ１０で分離された一方の偏光成分の光量
を検出するディテクタ１１と、上記偏光ビームスプリッ
タ１０で分離された他方の偏光成分の光量を検出すると
共に、フォーカスエラー信号を生成するための４分割さ
れたディテクタ１２とを備える。

【００１４】そして、レーザ光源２からの出射光は、コ
リメータレンズ３で平行光された後、ビームスプリッタ
５を介して対物レンズ４に入射され、この対物レンズ４
で収束されて、ビームスポットが記録面に結像するよう
に光磁気ディスク１に照射される。そして、光磁気ディ
スク１の記録面において所謂カー効果により偏光面が回
転された反射光は、再び対物レンズ４に入射された後、
ビームスプリッタ５で分離される。この分離された反射
光は、位相補償板６にて位相補償が施され、この位相補
償された反射光は、１／２波長板７において例えばＰ偏
光軸に対して４５度回転された後、収束レンズ８及びシ
リンドリカルレンズ９を介して偏光ビームスプリッタ１
０に入射される。反射光はこの偏光ビームスプリッタ１
０により偏光面の違いによりＰ偏光成分とＳ偏光成分に
分離されて、それぞれ成分のレベルがディテクタ１１、
１２において検出されるようになっている。

【００１５】ここで、ディテクタ１２で検出されるフォ
ーカスエラー信号について説明する。ディテクタ１２の
受光面に結像するレーザビームのスポット（ファーフィ
ールドパターン）は、シリンドリカルレンズ９により、
例えば図３Ａに示すように、対物レンズ４が合焦点位置
より遠いときは左上がりの楕円になり、例えば図３Ｂに
示すように合焦点位置に位置するときは円になり、例え
ば図３Ｃに示すように、合焦点位置より近いときは右上
がりの楕円となる。そこで、ディテクタ１２の４分割さ
れた各領域１２Ａ、１２Ｂ、１２Ｃ、１２Ｄでそれぞれ
検出されるレベルをＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄとすると、フォーカ
スエラー信号ＦＥは下記式１により求められる。

【００１６】ＦＥ＝（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）・・・式１

【００１７】そして、上記１式により求められるフォー
カスエラー信号ＦＥは、このフォーカスサーボ制御装置
の回路系に供給される。なお、再生信号である光磁気信
号（ＭＯ信号）は、ディテクタ１１の出力とディテクタ
１２の出力（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）との差分により求められ
る。

【００１８】一方、所謂トラッキングサーボ制御は、例
えば所謂サンプルサーボ方式の場合、光磁気ディスク１
の各記録トラックに離散的に形成された所謂ウォブルピ
ットを用いて行われる。具体的には、サンプルサーボを
採用した光磁気ディスク１には、例えば図４に示すよう
に、記録トラックにサーボ領域５０が離散的に設けら
れ、このサーボ領域５０には、所謂シーク時の位置情報
である例えばグレーコードのピット５１ａ、５１ｂと、
一対のウォブルピット５２ａ、５２ｂと、クロックを再
生するためのクロックピット５３が設けられている。そ
して、各ウォブルピット５２ａ、５２ｂでの反射光量の
差を所謂トラッキングエラー信号とし、このトラッキン
グエラー信号をデータ領域６０においても連続するよう
にサンプルホールドすると共に、その値が０となるよう
に対物レンズ４をディスクの半径方向に移動し、トラッ
キングサーボ制御を行うようにようになっている。

【００１９】つぎに、フォーカスサーボ制御装置の回路
系について説明する。この回路系は、図１に示すよう
に、上記光磁気ディスク１のミラー面とピットでの反射
光量の差を検出する光量差検出回路２０と、該光量差検
出回路２０からの反射光量差に基づいて、該反射光量差
が最大になるようなオフセット電圧を発生するオフセッ
ト電圧発生回路３０と、上記式１により求められるフォ
ーカスエラー信号ＦＥに上記オフセット電圧発生回路３
０からのオフセット電圧を加算する加算回路４０とを備
えている。

【００２０】上記光量差検出回路２０は、同じく図１に
示すように、上記ディテクタ１１、１２の各出力を加算
して増幅する増幅器２１と、該増幅器２１の出力をディ
ジタル信号に変換するアナログ／ディジタル（以下Ａ／
Ｄという）変換器２２と、該Ａ／Ｄ変換器２２の出力に
基づいて、ミラー面とピットでの反射光量の差を検出す
るタイミング制御回路２３と、該タイミング制御回路２
３の出力に基づいて、クロックを再生する所謂フェイズ
・ロックド・ループ（以下ＰＬＬという）２４とから構
成される。

【００２１】そして、増幅器２１は、ディテクタ１１の
出力とディテクタ１２の出力（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）を加算
して増幅する。Ａ／Ｄ変換器２２は、増幅器２１の出力
をディジタル信号に変換する。タイミング制御回路２３
は、Ａ／Ｄ変換器２２の出力に基づいて、例えば上述の
図４に示す一対のウォブルピット５２ａ、５２ｂとミラ
ー面５４での各反射光量Ｗ₁、Ｗ₂、Ｍを検出すると共
に、下記２式により、反射光量差Ｄを求める。そして、
この反射光量差Ｄをオフセット電圧発生回路３０に供給
する。

【００２２】Ｄ＝（Ｗ₁＋Ｗ₂）／２−Ｍ・・・式２

【００２３】ところで、上記２式により得られる反射光
量差Ｄは、トラッキングのずれに無関係であって、対物
レンズ４が合焦点位置に位置するときに最大となる。な
お、上述のトラッキングエラー信号は、Ｗ₁−Ｗ₂とな
る。

【００２４】ＰＬＬ２４は、Ａ／Ｄ変換器２２の出力に
基づいて、クロックを再生すると共に、Ａ／Ｄ変換器２
２に対するサンプリングクロックを発生する。

【００２５】オフセット電圧発生回路３０は、上述の図
１に示すように、上記タイミング制御回路２３からの反
射光量差Ｄに基づいて、該反射光量差Ｄが最大になるよ
うなオフセット電圧を発生する例えばマイクロコンピュ
ータ（以下ＭＰＵという）３１と、該ＭＰＵ３１からの
オフセット電圧をアナログ信号に変換するＤ／Ａ変換器
３２とから構成され、ＭＰＵ３１は、タイミング制御回
路２３から供給される反射光量差Ｄに基づいて、反射光
量差Ｄが最大になるようなオフセット電圧（データ）を
発生すると共に、タイミング制御回路２３及び加算回路
４０を制御する。Ｄ／Ａ変換器３２は、このオフセット
電圧をアナログ信号に変換して、加算回路４０に供給す
る。

【００２６】加算回路４０は、同じく図１に示すよう
に、上記サーボ領域５０にて得られるフォーカスエラー
信号ＦＥを標本化して保持するサンプル・ホールド（以
下Ｓ＆Ｈという）回路４１と、該Ｓ＆Ｈ回路４１からの
フォーカスエラー信号ＦＥを増幅する増幅器４２と、該
増幅器４２からのフォーカスエラー信号ＦＥの位相補償
を行う位相補償回路４３と、該位相補償回路４３からの
フォーカスエラー信号ＦＥのレベルを調節するアッテネ
ータ（以下ＡＴＴという）４４と、該ＡＴＴ４４からの
フォーカスエラー信号ＦＥと上記Ｄ／Ａ変換器３２から
のオフセット電圧を加算する加算器４５と、該加算器４
５から出力を増幅して、対物レンズ４のアクチュエータ
を駆動する増幅器４６とから構成される。

【００２７】そして、Ｓ＆Ｈ回路４１は、ＭＰＵ３１の
制御のもとに、サーボ領域５０のミラー面５４にて離散
的に得られるフォーカスエラー信号ＦＥをサンプルホー
ルドして、上述の図４に示すデータ領域６０においても
連続するフォーカスエラー信号ＦＥを生成する。

【００２８】増幅器４２は、サーボ制御におけるループ
ゲインを制御するものであり、Ｓ＆Ｈ回路４１から供給
されるフォーカスエラー信号ＦＥを増幅する。

【００２９】位相補償回路４３は、サーボ制御における
位相補償を行うものであり、増幅器４２で増幅されたフ
ォーカスエラー信号ＦＥの位相補償を行い、ＡＴＴ４４
は、この位相補償されたフォーカスエラー信号ＦＥのレ
ベルを調節する。

【００３０】加算器４５は、ＡＴＴ４４から供給される
フォーカスエラー信号ＦＥとＤ／Ａ変換器３２から供給
されるオフセット電圧を加算して、対物レンズ４のアク
チュエータを駆動する駆動電流を生成し、増幅器４６
は、駆動電流を増幅して、アクチュエータを駆動する。

【００３１】かくして、オフセット電圧が加算されたフ
ォーカスエラー信号が０となるようなフォーカスサーボ
制御が行われ、対物レンズ４が合焦点位置に駆動制御さ
れる。そして、このフォーカスサーボ制御装置では、上
述したように、光磁気ディスク１のミラー面５４とウォ
ブルピット５２ａ、５２ｂでの反射光量の差Ｄを検出
し、この反射光量差Ｄに基づいて、オフセット電圧が、
反射光量差Ｄが常に最大となるような値にすることによ
り、従来の技術で述べたように最適なオフセット電圧が
温度変化変化や経年変化に起因して変動しても、オフセ
ット電圧を最適な値、すなわち対物レンズ４が合焦点位
置となるように制御することができる。

【００３２】ここで、ＭＰＵ３１におけるオフセット電
圧の制御動作について詳細に説明する。ＭＰＵ３１は、
例えば図５に示すフローチャートに従って、対物レンズ
４が合焦点位置に位置するような反射光量差Ｄが最大と
なるオフセット電圧を発生する。

【００３３】すなわち、ステップＳＴ１において、ＭＰ
Ｕ３１は、上記タイミング制御回路２３からの反射光量
差ＤのＮ回の平均値Ｘ₁を求め、ステップＳＴ２に進
む。

【００３４】ステップＳＴ２において、ＭＰＵ３１は、
現在のオフセット電圧ＹにΔＹを加算して、Ｄ／Ａ変換
器３２に供給し、ステップＳＴ３に進む。

【００３５】ステップＳＴ３において、ＭＰＵ３１は、
オフセット電圧をＹ＋ΔＹにした時の反射光量差ＤのＮ
回の平均値Ｘ₂を求め、ステップＳＴ４に進む。

【００３６】ステップＳＴ４において、ＭＰＵ３１は、
ステップＳＴ１で求めた平均値Ｘ₁と、ステップＳＴ３
で求めた平均値Ｘ₂とを比較し、Ｘ₁＞Ｘ₂のときはス
テップＳＴ５に進み、Ｘ₁＜Ｘ₂のときはステップＳＴ
６に進み、Ｘ₁＝Ｘ₂のときは終了する。

【００３７】ステップＳＴ５において、ＭＰＵ３１は、
オフセット電圧ＹからΔＹ／２を減算し、得られる値を
新たなオフセット電圧ＹとしてＤ／Ａ変換器３２に供給
した後、終了する。

【００３８】ステップＳＴ６において、ＭＰＵ３１は、
オフセット電圧ＹにΔＹ／２を加算し、得られる値を新
たなオフセット電圧ＹとしてＤ／Ａ変換器３２に供給し
た後、終了する。

【００３９】ＭＰＵ３１は、以上のような動作を周期的
に繰り返すことにより、例えば図６に示すように、オフ
セット電圧が、最初の値Ｙ₁から順にＹ₂（＝Ｙ₁＋Δ
Ｙ／２）、Ｙ₃（＝Ｙ₂＋ΔＹ／２）・・・と変化し、
最終的には、反射光量差Ｄが最大となる最適なオフセッ
ト電圧Ｙ_OPTを得ることができる。

【００４０】ところで、上述のように反射光量差Ｄの複
数の平均値Ｘを求め、この平均値Ｘが最大となるような
オフセット電圧を求めることにより、光磁気ディスク１
のミラー面５４の反射率に位置よるばらつき（反射率の
変動）があっても、その反射率の変動による影響を除去
することができる。また、オフセット電圧を変化させる
量ΔＹをデータ書込や読出に影響が出ないような微小な
値とすることにより、データ読出等の他の処理を中断さ
せることなく、すなわち反射光量差Ｄの検出を他の処理
と平行して行うことができる。また、オフセット電圧を
変化させていくステップ（ΔＹ／２）を、平均値Ｘ₁、
Ｘ₂を検出する２点間の距離（ΔＹ）に比して小さくす
ることにより、各平均値Ｘ₁、Ｘ₂の差分を精度良く検
出することができると共に、最適なオフセット電圧の検
出精度を高くすることができる。さらに、平均値を求め
る点を２点としているので、オフセット電圧を変化させ
ていく１回の処理を短時間に行うことができる。

【００４１】なお、上述の実施例では、また、オフセッ
ト電圧を、ＭＰＵ３１においてソフトウェアにより制御
して発生しているが、オフセット電圧発生回路３０をハ
ードウェアで構成するようにしてもよい。また、２点で
の反射光量差Ｄの平均値Ｘ₁、Ｘ₂を比較して、最適な
オフセット電圧を得るようにしているが、例えば、３点
での平均値を比較して、最大となる平均値に相当するオ
フセット電圧を新たなオフセット電圧とするような制御
により、最適なオフセット電圧を得るようにしてもよ
い。

【００４２】なお、本発明は上述の実施例に限定される
ものではなく、例えば所謂コンパクトディスクを再生す
るＣＤプレーヤ等の光ディスク装置に本発明を適用でき
ることは言うまでもない。また、フォーカスエラー信号
の検出方法としては、上述の非点収差法以外に、例えば
所謂ナイフ・エッジ法等を用いるようにしてもよい。ま
た、光ディスクのフォーマットとしては、上述のサンプ
ルサーボフォーマットの他に、例えば所謂コンティニュ
アス・コンポジット・サーボフォーマットとし、所謂セ
クタマーク等のピットを用いて反射光量差Ｄを検出する
ようにしてもよい。

【００４３】

【発明の効果】以上の説明でも明らかなように、本発明
に係るフォーカスサーボ制御装置では、光ディスクのミ
ラー面とピットでの反射光量の差を検出し、この反射光
量差に基づいて、反射光量差が最大になるようなオフセ
ット電圧を発生する。そして、光ディスクからの反射光
に基づいて検出されるフォーカスエラー信号にこのオフ
セット電圧を加算し、オフセット電圧が加算されたフォ
ーカスエラー信号により、対物レンズをその光軸方向に
駆動制御することにより、温度変化や経年変化等に起因
して例えば光路長等が変化し、対物レンズを合焦点位置
に駆動制御する最適なオフセット電圧に変動が生じて
も、最適なオフセット電圧を常に得ることができ、対物
レンズを合焦点位置にサーボ制御することができる。

【００４４】また、反射光量差の複数の平均値を求め、
この平均値が最大となるようなオフセット電圧を発生す
る。そして、光ディスクからの反射光に基づいて検出さ
れるフォーカスエラー信号にこのオフセット電圧を加算
し、オフセット電圧が加算されたフォーカスエラー信号
により、対物レンズをその光軸方向に駆動制御すること
により、光ディスクのミラー面に反射率の変動があって
も、この反射率の変動による影響を除去して、対物レン
ズを合焦点位置にサーボ制御することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を適用したフォーカスサーボ制御装置の
回路系の構成を示すブロック図である。

【図２】上記フォーカスサーボ制御装置の光学系の構成
を示す図である。

【図３】上記フォーカスサーボ制御装置を構成する４分
割ディテクタの受光面を模式的に示す図である。

【図４】光磁気ディスクのサーボ領域のピットフォーマ
ットを示す図である。

【図５】上記フォーカスサーボ制御装置を構成するＭＰ
Ｕの動作を説明するためのフローチャートである。

【図６】上記ＭＰＵの動作を説明するためのオフセット
電圧と反射光量差の関係を示す図である。

【符号の説明】

１・・・光磁気ディスク２・・・レーザ光源４・・・対物レンズ１２・・・ディテクタ２０・・・光量差検出回路３０・・・オフセット電圧発生回路３１・・・ＭＰＵ４０・・・加算回路４５・・・加算器

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】対物レンズによりレーザ光源からの出射
光を収束して光ディスクに照射し、該光ディスクからの
反射光に基づいて上記対物レンズを合焦点位置に制御す
るフォーカスサーボ制御装置において、上記光ディスクのミラー面とピットでの反射光量の差を
検出する光量差検出手段と、該光量差検出手段からの反射光量差に基づいて、該反射
光量差が最大になるようなオフセット電圧を発生するオ
フセット電圧発生手段と、上記光ディスクからの反射光に基づいて、フォーカスエ
ラー信号を検出するフォーカスエラー信号検出手段と、該フォーカスエラー信号検出手段からのフォーカスエラ
ー信号に上記オフセット電圧発生手段からのオフセット
電圧を加算する加算手段とを備え、該加算手段からのオフセット電圧が加算されたフォーカ
スエラー信号により、上記対物レンズをその光軸方向に
駆動制御することを特徴とするフォーカスサーボ制御装
置。
【請求項２】前記オフセット電圧発生手段が、前記光
量差検出手段からの反射光量差の複数の平均値を求め、
該平均値が最大となるようなオフセット電圧を発生する
ことを特徴とする前記請求項１記載のフォーカスサーボ
制御装置。